CN215986366U - 一种主板全面电性能测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及主板检测技术领域，具体地说，涉及一种主板全面电性能测试装置，包括测试器，测试器包括固定座，固定座包括固定板，固定板开设有固定槽，固定槽设有定位柱，固定板连接有测试体，测试体包括连接体，连接体设有上压杆，上压杆连接有下压杆，连接体设有连接杆，连接杆连接有压合盖，压合盖设有多个探针。本实用新型的优点是及时发现功能性问题从而避免批量返工报废。

Description

一种主板全面电性能测试装置

技术领域

本实用新型涉及主板检测技术领域，具体地说，涉及一种主板全面电性能测试装置。

背景技术

主板加工完成后需要进行电性能检测，常规方法只能判断部分电性能网络的功能是否有效和元器件质量，并且主板常规电性能检验缺点是对于与元器件兼容性配合的判断不充分，功能覆盖不全面，部分功能漏失要到整机功能检验时才能识别，时效性差，发现问题后需要拆解整机，人工成本和物料报废成本高，因此需要一种能在主板状态时完成整机电性能检验并及时发现功能性问题，从而避免批量返工，报废，并且新物料导入时可以直接在装置上进行测试，避免组装拆卸报废的主板测试装置。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种主板全面电性能测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供一种主板全面电性能测试装置，包括测试器，所述测试器包括固定座，所述固定座包括固定板，所述固定板上表面中部开设有固定槽，所述固定槽内设有定位柱，所述固定板一侧顶部连接有测试体，所述测试体包括连接体，所述连接体底部设有上压杆，所述上压杆连接有底部与所述固定板顶部相连接的下压杆，所述连接体一侧设有连接杆，所述连接杆底部连接有压合盖，所述压合盖底部设有多个探针。

作为本技术方案的进一步改进，所述固定板顶部设有功能物料，所述功能物料连接有排线。

作为本技术方案的进一步改进，所述固定板上表面开设有固定口，所述固定口内通过螺栓连接有防滑板，所述防滑板底部与所述功能物料顶部相接触。

作为本技术方案的进一步改进，所述固定槽开设有贯穿其表面的连接口，所述连接口内连接有接触体。

作为本技术方案的进一步改进，所述固定板一侧开设有凹槽，所述固定板凹槽内设有滑动体，所述下压杆底部设有立方体，所述下压杆立方体相应开设有贯穿其表面的滑动口，所述滑动体与所述滑动口滑动连接。

作为本技术方案的进一步改进，所述探针表面设有卡接环，所述压合盖底部相应开设有卡接槽，所述卡接环与所述卡接槽卡接配合。

作为本技术方案的进一步改进，所述压合盖底部设有限位柱。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果：

1、该主板全面电性能测试装置中，，通过设有接触体可从边缘处对待测主板进行固定，避免主板的晃动，通过设有滑动连接的滑动体、滑动口便于连接体根据不同规格主板进行相应调节。

2、该主板全面电性能测试装置中，通过卡接配合的卡接环、卡接槽可避免探针在插入拔出时的脱落，通过设有限位柱与待测主板接触避免探针插入太深导致主板测试点的损坏。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型的测试器结构示意图；

图3为本实用新型的固定座结构示意图；

图4为本实用新型的测试体结构示意图；

图5为本实用新型的压合盖截面结构示意图；

图6为本实用新型的测试流程图。

图中各个标号意义为：

100、测试器；

110、固定座；

111、固定板；112、固定槽；113、定位柱；114、滑动体；115、连接口；116、接触体；117、功能物料；118、排线；119、固定口；1191、防滑板；

120、测试体；

121、连接体；122、上压杆；123、下压杆；124、滑动口；125、连接杆；126、压合盖；127、探针；1271、卡接环；128、卡接槽；129、限位柱。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

实施例1

请参阅图1-图5所示，本实施例提供一种主板全面电性能测试装置，包括测试器100，测试器100包括固定座110，固定座110包括固定板111，固定板111上表面中部开设有固定槽112，固定槽112为方体结构凹槽，固定槽112内设有定位柱113，固定板111一侧顶部连接有测试体120，测试体120包括连接体121，连接体121底部设有上压杆122，上压杆122连接有底部与固定板111顶部相连接的下压杆123，连接体121一侧设有连接杆125，连接杆125底部连接有压合盖126，压合盖126底部设有多个探针127。

进一步的为了模拟实际使用功能特性，固定板111顶部设有功能物料117，功能物料117连接有排线118，通过设有排线118整合功能物料117可模拟实际使用功能特性。

进一步的为了便于管理，固定板111上表面开设有固定口119，固定口119为内有螺纹的圆柱结构凹槽，固定口119内通过螺栓连接有防滑板1191，防滑板1191底部与功能物料117顶部相接触，通过设有固定口119以及防滑板1191可对功能物料117进行固定便于对功能物料117的管理。

再进一步的为了避免主板晃动，固定槽112开设有贯穿其表面的连接口115，连接口115内连接有接触体116，接触体116为“工”字型结构，通过设有接触体116可从边缘处对待测主板进行固定，避免主板的晃动。

更进一步的为了可根据不同规格主板进行相应调节，固定板111一侧开设有凹槽，固定板111凹槽内设有滑动体114，滑动体114为立方体，下压杆123底部设有立方体，下压杆123立方体相应开设有贯穿其表面的滑动口124，滑动口124为方形穿口，滑动体114与滑动口124滑动连接，通过设有滑动连接的滑动体114、滑动口124便于连接体121根据不同规格主板进行相应调节。

此外为了避免探针127脱落，探针127表面设有卡接环1271，压合盖126底部相应开设有卡接槽128，卡接槽128为圆柱结构凹槽，卡接环1271与卡接槽128卡接配合，通过卡接配合的卡接环1271、卡接槽128可避免探针127在插入拔出时的脱落。

具体的为了避免主板损坏，压合盖126底部设有限位柱129，通过设有限位柱129与待测主板接触避免探针127插入太深导致主板测试点的损坏。

本实施例的一种主板全面电性能测试装置在具体使用时将待测主板放入固定槽112内，放入时使得固定槽112的定位柱113穿过主板的孔位并且在连接口115内移动接触体116使得接触体116一端与主板相接触从而完成对主板的固定后，沿着滑动体114滑动并且沿着下压杆123上升使得探针127处于主板待测PIN点时使得连接体121沿着下压杆123向下移动将探针127插入主板待测PIN点内进行测试。

实施例2

请参阅图6所示，通过将功能物料117的排线118插入待测主板上并使得探针127与主板待测PIN点接触，装置通过探针127对主板测试点供电和提供部分数据传输功能并且保证测试过程中电压持续稳定，测试时由测试软件自动对软件版本测试、背光测试、LCD、扫描头检测、血糖模块、CTP划线、Speaker、MIC测试、SIM卡测试、按键测试、WIFI和蓝牙模块进行相应测试，通过本装置使得对主板电性能检验的全面性和实效性大大加强，成品物料变更时作为可靠的验证工具节省了验证周期，自动检测功能有效的避免了误检和漏检的问题，全面保证的主板在整机组装前的可靠性，大大降低了返工和报废成本。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (7)

1.一种主板全面电性能测试装置，其特征在于：包括测试器(100)，所述测试器(100)包括固定座(110)，所述固定座(110)包括固定板(111)，所述固定板(111)上表面中部开设有固定槽(112)，所述固定槽(112)内设有定位柱(113)，所述固定板(111)一侧顶部连接有测试体(120)，所述测试体(120)包括连接体(121)，所述连接体(121)底部设有上压杆(122)，所述上压杆(122)连接有底部与所述固定板(111)顶部相连接的下压杆(123)，所述连接体(121)一侧设有连接杆(125)，所述连接杆(125)底部连接有压合盖(126)，所述压合盖(126)底部设有多个探针(127)。

2.根据权利要求1所述的主板全面电性能测试装置，其特征在于：所述固定板(111)顶部设有功能物料(117)，所述功能物料(117)连接有排线(118)。

3.根据权利要求2所述的主板全面电性能测试装置，其特征在于：所述固定板(111)上表面开设有固定口(119)，所述固定口(119)内通过螺栓连接有防滑板(1191)，所述防滑板(1191)底部与所述功能物料(117)顶部相接触。

4.根据权利要求1所述的主板全面电性能测试装置，其特征在于：所述固定槽(112)开设有贯穿其表面的连接口(115)，所述连接口(115)内连接有接触体(116)。

5.根据权利要求1所述的主板全面电性能测试装置，其特征在于：所述固定板(111)一侧开设有凹槽，所述固定板(111)凹槽内设有滑动体(114)，所述下压杆(123)底部设有立方体，所述下压杆(123)立方体相应开设有贯穿其表面的滑动口(124)，所述滑动体(114)与所述滑动口(124)滑动连接。

6.根据权利要求1所述的主板全面电性能测试装置，其特征在于：所述探针(127)表面设有卡接环(1271)，所述压合盖(126)底部相应开设有卡接槽(128)，所述卡接环(1271)与所述卡接槽(128)卡接配合。

7.根据权利要求1所述的主板全面电性能测试装置，其特征在于：所述压合盖(126)底部设有限位柱(129)。

Images