CN221078864U - 一种找点测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请涉及测试装置技术领域，特别涉及一种找点测试装置。通过在承载平台上设置有对接盘，进而当测试治具放置在承载平台上时，测试治具底部的连接盘插接在对接盘上，测试治具上的探针与对接盘电性连接，在承载平台一侧设置有若干个接线插座，接线插座电性连接于对接盘，测试器通过连接线连接有若干个接线插口，进而接线插口可插接于接线插座上，进而实现接线插座与测试器电性连接，在测试器设置有测试笔，在测试时，通过测试笔依次点接触于测试治具上的探针，进而实现检测测试治具上的探针与测试治具底部的连接盘之间是否导通，实现对测试治具进行检测，确保测试治具上的探针与连接盘之间导通，避免后续电路板测试的结果误判，提高检测质量。

Description

一种找点测试装置

技术领域

本申请涉及测试装置技术领域，特别涉及一种找点测试装置。

背景技术

现有电路板的测试通常是采用一种以电路板为模型而设计的、用于开、短路以及阻值测试的一种专用的测试治具。现有的测试治具通过设置有密集的探针，测试治具的底面设置连接盘，测试治具内部通过导线将每个探针与连接盘上的触点对应连接，将测试治具安装在测试机上时，测试治具的连接盘插装于测试机上，然后通过探针接触电路板的触点，进而通过测试机判断电路板是否有性能缺陷。

然而，在测试治具生产时，可能存在探针与导线接触不良，或者某个导线断裂导致对应探针无法导通的情况，最终影响测试，导致电路板测试的结果误判。为此，需要设计一种测试装置来对测试治具进行探针导通测试。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本申请提供一种找点测试装置，包括用于放置测试治具的承载平台和测试器，在所述承载平台上设置有对接盘，在所述承载平台一侧设置有若干个接线插座，所述接线插座电性连接于所述对接盘，所述测试器通过连接线连接有若干个可插接于所述接线插座的接线插口，所述测试器设置有测试笔。

优选的，在所述承载平台上设置有定位销。

优选的，所述承载平台开设有凹槽，所述对接盘置于所述凹槽内，且所述对接盘通过导线连接于所述接线插座。

优选的，在所述承载平台上位于所述凹槽的四周设置有定位柱和定位孔。

优选的，还包括安装座，所述接线插座呈矩形阵列设置在所述安装座上。

由上可知，应用本申请提供的可以得到以下有益效果：通过在承载平台上设置有对接盘，进而当测试治具放置在承载平台上时，测试治具底部的连接盘插接在对接盘上，测试治具上的探针与对接盘电性连接，在承载平台一侧设置有若干个接线插座，接线插座电性连接于对接盘，测试器通过连接线连接有若干个接线插口，进而接线插口可插接于接线插座上，进而实现接线插座与测试器电性连接，在测试器设置有测试笔，在测试时，通过测试笔依次点接触于测试治具上的探针，进而实现检测测试治具上的探针与测试治具底部的连接盘之间是否导通，实现对测试治具进行检测，确保测试治具上的探针与连接盘之间导通，避免后续电路板测试的结果误判，提高检测质量。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对本申请实施例或现有技术的描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一部分实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例找点测试装置俯视图图；

图2为本申请实施例找点测试装置结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

实施例

为了解决上述技术问题，本实施例提供一种找点测试装置，如图1-2所示，包括用于放置测试治具的承载平台10和测试器40，在承载平台10上设置有对接盘20，进而当测试治具放置在承载平台10上时，测试治具底部的连接盘插接在对接盘20上，测试治具上的探针与对接盘20电性连接，在承载平台10一侧设置有若干个接线插座30，接线插座30电性连接于对接盘20，测试器40通过连接线51连接有若干个接线插口52，进而接线插口52可插接于接线插座30上，进而实现接线插座30与测试器40电性连接，在测试器40设置有测试笔60，在测试时，通过测试笔60依次点接触于测试治具上的探针，进而实现检测测试治具上的探针与测试治具底部的连接盘之间是否导通，并通过测试器40显示导通结果，确保测试治具上的探针与连接盘之间导通，避免后续电路板测试的结果误判，提高检测质量。

在上述方案中，每个接线插口52对应插装一个接线插座30，再通过连接线51将测试器40与每个接线插口52进行连接，进而通过接线插口52和接线插座30使得对接盘20与测试器40电性连接，当测试治具放置在承载平台10上时，测试治具底部的连接盘插接在对接盘20上，进而使得测试器40与测试治具上的连接盘连接，测试时，通过测试器40上的测试笔60进行找点接触，使得测试笔60依次点接触于测试治具上的探针，当测试治具上的探针与测试治具底部的连接盘处于连接状态，即可形成导通回路，进而测试器40可以检测到测试治具是否合格，达到检测的目的

在上述方案中，在承载平台10开设有凹槽12，对接盘20置于凹槽12内，且对接盘20上的每个触点通过导线连接于接线插座30，由于对接盘20上的触点较多，因此形成有多个接线插座30。其中，本实施例还包括安装座31，接线插座30呈矩形阵列设置在安装座31上，进而方便接线插口52依次插接在接线插座30上。

进一步的，在承载平台10上设置有定位销11，当测试治具放置在承载平台10上时，测试治具底部的孔位与定位销11定位配合，进而确保测试治具底部的连接盘能够准确插接在对接盘20上。

进一步的，在承载平台10上位于凹槽12的四周设置有定位柱13和定位孔14。在测试治具底部位于连接盘的四周同样设置有定位柱和定位孔，进而使得连接盘能够准确插接于对接盘20，进一步提高对接的位置准确性。

综上所述，本申请方案通过在承载平台上设置有对接盘，进而当测试治具放置在承载平台上时，测试治具底部的连接盘插接在对接盘上，测试治具上的探针与对接盘电性连接，在承载平台一侧设置有若干个接线插座，接线插座电性连接于对接盘，测试器通过连接线连接有若干个接线插口，进而接线插口可插接于接线插座上，进而实现接线插座与测试器电性连接，在测试器设置有测试笔，在测试时，通过测试笔依次点接触于测试治具上的探针，进而实现检测测试治具上的探针与测试治具底部的连接盘之间是否导通，实现对测试治具进行检测，确保测试治具上的探针与连接盘之间导通，避免后续电路板测试的结果误判，提高检测质量。

以上所述的实施方式，并不构成对该技术方案保护范围的限定。任何在上述实施方式的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在该技术方案的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种找点测试装置，其特征在于：包括用于放置测试治具的承载平台(10)和测试器(40)，在所述承载平台(10)上设置有对接盘(20)，在所述承载平台(10)一侧设置有若干个接线插座(30)，所述接线插座(30)电性连接于所述对接盘(20)，所述测试器(40)通过连接线(51)连接有若干个可插接于所述接线插座(30)的接线插口(52)，所述测试器(40)设置有测试笔(60)。

2.根据权利要求1所述的找点测试装置，其特征在于：在所述承载平台(10)上设置有定位销(11)。

3.根据权利要求1所述的找点测试装置，其特征在于：所述承载平台(10)开设有凹槽(12)，所述对接盘(20)置于所述凹槽(12)内，且所述对接盘(20)通过导线连接于所述接线插座(30)。

4.根据权利要求3所述的找点测试装置，其特征在于：在所述承载平台(10)上位于所述凹槽(12)的四周设置有定位柱(13)和定位孔(14)。

5.根据权利要求1所述的找点测试装置，其特征在于：还包括安装座(31)，所述接线插座(30)呈矩形阵列设置在所述安装座(31)上。