CN214953641U - 一种电连接器测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种电连接器测试装置，该测试装置包括基座、压盖、限位座、测试电路板、探针、安放座，以及压盖。其中，测试电路板通过安放座压合配置于基座上，限位座安装在基座上且位于测试电路板的下方，探针则配置在测试电路板上且夹于测试电路板和安放座之间。在检测时，待测电路板把带有电连接器的部分放置于安放座上，压盖能够把电连接器压接在探针上。本申请的电连接器测试装置，其探针大致为呈L形的杆状体，探针成对相向布置于测试电路板上，电连接器能够被压接于成对布置的探针之间，让电连接器通过探针电连接于测试电路板上。本申请的电连接器测试装置，其探针不仅结构简单而且能够可靠的和电连接器相连接，具有很好的实用性。

Description

一种电连接器测试装置

技术领域

本实用新型涉及连接器测试装置技术领域，尤其涉及一种电连接器测试装置。

背景技术

电路板大都设置有用以和其他电路或者装置连接的电连接器，电连接器能够良好的工作会直接影响该电路板所对应电子产品的正常工作。因此，电路板上的电连接器需要进行相应的测试，以保证其能够正常工作。

现有技术中，这类用于检测电连接器测试装置，大都采用探针来电连接于待测电路板。这种探针包括针管和针头，针管和针头之间设置有弹簧。工作时，通过针管和针头的压缩接触，来实现电连接。但是这类探针不仅结构复杂成本高，而且针管和针头长期反复压缩接触，会导致弹簧失效，同时针管和针头之间也会相互磨损，最终导致探针损坏。

因此，目前急需一种结构简单且能够长期可靠工作的电连接器测试装置。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于克服上述现有技术的不足，而提供一种电连接器测试装置。

为了达到上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：

一种电连接器测试装置，包括基座和压盖，所述基座上配置有测试电路板，该测试电路板设置有用以电接触的接触部，测试装置还包括至少一对相向布置的探针，该探针包括横向延伸的第一段，以及连接于所述第一段且向下延伸的第二段，且每一所述探针分别通过所述第一段电连接于所述接触部；所述压盖能够让待测电路板的电连接器，压接于一对所述第二段之间，以使所述电连接器电连接于所述测试电路板。

进一步地，测试装置还包括设置有限位孔的限位座，该限位座配置于所述基座且位于所述测试电路板的下方，所述第二段插置于所述限位孔。

进一步地，所述基座设置有安装槽，所述限位座安装且限位于所述安装槽。

进一步地，测试装置还包括设置有安放槽的安放座，所述安放槽用以限位所述待测电路板；所述安放座配置于所述基座，且使所述第一段夹于所述测试电路板和所述安放座之间。

进一步地，所述安放座设置有上下贯穿所述安放槽的通孔，所述电连接器能够穿过所述通孔以电连接于所述探针。

进一步地，所述压盖铰接于所述基座，所述压盖设置有压头，所述压盖向下铰接并压合于所述基座，能够带动所述压头压接于所述待测电路板且对应所述电连接器的位置。

进一步地，所述探针为大致呈L形的导电杆状体，所述第二段大致垂直于所述第一段。

进一步地，所述第一段和所述第二段为圆弧过渡。

进一步地，所述测试电路板设置有数量和所述探针相一致且一一对应的所述接触部，所述接触部为设置于所述测试电路板的条形导电区域。

进一步地，所述测试电路板设置有上下贯穿其的过孔，该过孔位于相向布置的所述探针之间，所述过孔用以供所述第二段向下延伸穿过。

由于采用了以上技术方案，本实用新型具有以下有益效果：

1.本实用新型的电连接器测试装置，电连接器测试装置的通过成对设置的探针，且该探针具有横向布置的第一段，以及竖向布置的第二段。当待测电路板的电连接器受到压盖的作用时，能够让电连接器压接于一对第二段之间，实现电连接器和测试电路板的连接。这种结构的测试装置，不仅保证电连接器可以和测试电路板的可靠连接，同时可以大大简化探针的结构，具有很好的实用性。

2.本实用新型的电连接器测试装置，包括设置有限位孔的限位座，可以有效保证探针安装位置的准确性。具体的，探针向下延伸的第二段分别插置于不同的限位座，限位孔可以对探针进行有效的限位，不仅可以保证探针安装位置的准确性，同时还可以保证测试装置的长期测试过程中，探针仍处于准确的位置。

3.本实用新型的电连接器测试装置，其探针的第一段和第二段为圆弧过段，可以保证电连接器可以顺畅的压置于一对第二段之间。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅涉及本实用新型的一些实施例，而非对本实用新型的限制。

图1是本实用新型一实施例，电连接器测试装置的轴侧结构示意图；

图2是本实用新型一实施例，电连接器测试装置的分解示意图；

图3是本实用新型一实施例，测试电路板、待测电路板，以及探针的分解示意图；

图4是本实用新型一实施例，电连接器测试装置的剖面结构示意图；

图5是本实用新型一实施例，测试电路板、限位座，以及探针的局部分解示意图；

图6是本实用新型一实施例，探针的轴侧结构示意图；

附图标记：

1.基座；2.安装槽；3.压盖；4.压头；5.限位座；6.测试电路板；7.探针；8.安放座；9.安放槽；10.通孔；11.待测电路板；12.电连接器；13.限位孔；14-过孔；15.接触部；16.第一段；17.第二段。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型做进一步详细说明。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以各种不同的配置来布置和设计。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

除非另作定义，本专利文件中所使用的技术术语或者科学术语应当为本实用新型所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本实用新型专利说明书以及权利要求书中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同，并不排除其他元件或者物件。“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变，其仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面结合附图，对本实用新型的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例中的特征可以相互组合。

如图1和图2所示，本实施例提供一种电连接器测试装置，包括基座1、压盖3、限位座5、测试电路板6、探针7、安放座8，以及压盖3。其中，测试电路板6通过安放座8压合配置于基座1上，限位座5安装在基座1上且位于测试电路板6的下方，探针7则配置在测试电路板6上且夹于测试电路板6和安放座8之间。在检测时，待测电路板11把带有电连接器12的部分放置于安放座8上，压盖3能够把电连接器12压接在探针7，实现测试电连接器12和测试电路板6的电连接。具体结构如下：

如图2至图6所示，在本实施例中，基座1设置有一和限位座5相适配的安装槽2，限位座5安装于该安装槽2，且限位座5的上表面齐平于安装槽2边缘，另限位座5设置有多个限位孔13，该限位孔13和探针7相适配。如图5所示，测试电路板6设置有多对相向布置的接触部15，该接触部15为设置于测试电路板6的条形导电金属区，另测试电路板6设置有上下贯穿的过孔14，该过孔14位于成对布置的接触部15之间且对应于限位座5的位置。

如图3和图6所示，测试装置包括数量和接触部15相一致的探针7，探针7为金属材质且大致呈L形的杆状几何体。探针7包括横向延伸的第一段16，以及连接于第一段16且向下延伸的第二段17。其中，第一段16支撑且电连接于接触部15，第二段17穿过过孔14且分别一一插置于限位孔13。探针7通过上述方式，成对的支撑且电连接于测试电路板6，同时探针7的第二段17插置于限位孔13。需要说明的是，在本实施例中，探针7的横截面呈矩形，限位孔13也为横截面是矩形的孔，限位孔13不仅能够限制探针7相对限位座5移动，且限位孔13还能够限制探针7相对限位座5旋转活动。当然，在另一实施例中，探针7横截面可以为其他形状的杆状件，限位孔13也可以其他形状的孔，只要保证限位孔13能够限制探针7相对限位座5移动和旋转即可，在此不再赘述。

如图3和图4所示，在本实施例中，安放座8设置有安放槽9和通孔10，通孔10上下贯穿安放槽9。安放座8通过螺钉安装于基座1上，且让测试电路板6牢固的夹于基座1和安放座8之间。此外，探针7的第一段16也牢固的夹于测试电路板6和安放座8之间。需要说明的是，通孔10对应于测试电路板6上的过孔14。安放槽9的形状和待测电路板11具有电连接器12部分相匹配，安放槽9可以有效限位待测电路和安放座8的位置，保证电连接器12位置的准确。

如图4所示，在本实施例中，待测电路板11的底部设置有电连接器12，压盖3铰接于基座1上压盖3设置有压头4，该压头4为设于压盖3的一凸块。当压盖3向下铰接并压合于基座1时，压头4能够压接于待测电路板11上对应电连接器12的位置，能够迫使电连接器12下活动穿过通孔10和过孔14，并压接于一对第二段17之间，让电连接器12通过探针7电连接于测试电路板6。需要说明的是，如图6所示，一对探针7其第二段17之间的间距L略小于电连接器12的宽度，这样可以让电连接器12稳定的压接于一对第二段17之间，保证了电连接器12可以可靠的电连接于探针7上。另外，在本实施例中，第一段16和第二段17为圆弧过渡，该结构可以辅助电连接器12由一对第二段17的上方，压接于一对第二段17之间。

此外，需要说明的是，在本实施例中，第二段17大致垂直于第一段16。当然，在另一实施例中，第一段16和第二段17之间可为钝角，让成对的探针7其一对第二段17之间大致呈V字形，该结构的探针7也可以有效保证电连接器12和探针7之间电连接的可靠性。

通过上述实施例，本案的电连接器测试装置，其探针7相比现有技术不仅具有简单的结构，可以有效降低探针7成本，而且本案的探针7还可以和待测电路板11上的电连接器12实现可靠的电连接，具有很好的实用性。此外，本案的电连接器测试装置，在长期测试过程中，也不会出现探针7被严重磨损导致不能使用的情况。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种电连接器测试装置，包括基座(1)和压盖(3)，所述基座(1)上配置有测试电路板(6)，该测试电路板(6)设置有用以电接触的接触部(15)，其特征在于，测试装置还包括至少一对相向布置的探针(7)，该探针(7)包括横向延伸的第一段(16)，以及连接于所述第一段(16)且向下延伸的第二段(17)，且每一所述探针(7)分别通过所述第一段(16)电连接于所述接触部(15)；所述压盖(3)能够让待测电路板(11)的电连接器(12)，压接于一对所述第二段(17)之间，以使所述电连接器(12)电连接于所述测试电路板(6)。

2.根据权利要求1所述的电连接器(12)测试装置，其特征在于，测试装置还包括设置有限位孔(13)的限位座(5)，该限位座(5)配置于所述基座(1)上且位于所述测试电路板(6)的下方，所述第二段(17)插置于所述限位孔(13)。

3.根据权利要求2所述的电连接器测试装置，其特征在于，所述基座(1)设置有安装槽(2)，所述限位座(5)安装且限位于所述安装槽(2)。

4.根据权利要求1或2所述的电连接器测试装置，其特征在于，测试装置还包括设置有安放槽(9)的安放座(8)，所述安放槽(9)用以限位所述待测电路板(11)；所述安放座(8)配置于所述基座(1)，且使所述第一段(16)夹于所述测试电路板(6)和所述安放座(8)之间。

5.根据权利要求4所述的电连接器测试装置，其特征在于，所述安放座(8)设置有上下贯穿所述安放槽(9)的通孔(10)，所述电连接器(12)能够穿过所述通孔(10)以电连接于所述探针(7)。

6.根据权利要求1所述的电连接器测试装置，其特征在于，所述压盖(3)铰接于所述基座(1)，所述压盖(3)设置有压头(4)，所述压盖(3)向下铰接并压合于所述基座(1)，能够带动所述压头(4)压接于所述待测电路板(11)且对应所述电连接器(12)的位置。

7.根据权利要求1所述的电连接器测试装置，其特征在于，所述探针(7)为大致呈L形的导电杆状体，所述第二段(17)大致垂直于所述第一段(16)。

8.根据权利要求1所述的电连接器测试装置，其特征在于，所述第一段(16)和所述第二段(17)为圆弧过渡。

9.根据权利要求1所述的电连接器测试装置，其特征在于，所述测试电路板(6)设置有数量和所述探针(7)相一致且一一对应的所述接触部(15)，所述接触部(15)为设置于所述测试电路板(6)的条形导电区域。

10.根据权利要求1所述的电连接器测试装置，其特征在于，所述测试电路板(6)设置有上下贯穿其的过孔(14)，该过孔(14)位于相向布置的所述探针(7)之间，所述过孔(14)用以供所述第二段(17)向下延伸穿过。

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