KR102021084B1 - 피검사체의 단자부 테스트 장치 - Google Patents

피검사체의 단자부 테스트 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명에 따른 피검사체의 단자부 테스트 장치는, 케이싱; 탄성 변형되는 단자부를 구비하는 피검사체가 안착되고, 상기 케이싱에 삽입되도록 형성되는 피검사체 트레이; 및 상기 케이싱에 수용되고, 상기 피검사체를 향하는 방향으로 이동되면서 상기 단자부를 테스트하도록 형성되는 테스트 베이스를 포함하며, 상기 테스트 베이스는, 상기 단자부를 향하여 이동 시, 일 단부가 상기 단자부와 접촉 가능하도록 형성되는 접촉 핀; 및 상기 접촉 핀과 전기 연결되어 상기 접촉 핀의 일 단부와 상기 단자부의 상호 접촉을 감지하고, 상기 접촉 핀이 상기 단자부에 지지될 때 상기 접촉 핀의 타 단부가 접촉되는 것을 감지하도록 형성되는 테스터 보드를 포함한다. 이에 의하면, 단자부의 존재 여부 및 오조립 상태가 신속하고 정확하게 판별될 수 있다.

Description

피검사체의 단자부 테스트 장치{APPARATUS FOR TESTING TERMINAL OF OBJECT TO BE INSPIRED}
본 발명은 피검사체에 단자부가 정위치에 형성되어 있는지 여부를 테스트하는 피검사체의 단자부 테스트 장치에 관한 것이다.
커넥터는 전기 기구와 케이블 간 또는 케이블과 케이블 간의 전기 회로를 구성하기 위한 접속 기구를 의미하며, 전기를 이용하는 다양한 제품 및 산업 분야에서 널리 활용되고 있다.
일반적으로 커넥터는 절연 재질의 몸체에 전기 전도성의 단자 부재가 결합되어 있는 구성을 갖는다. 이러한 커넥터를 제조하는 과정은, 몸체에 단자 부재를 각각 제조하고 이들을 서로 조립한 뒤, 조립 상태가 양호한지 및 전류 흐름이 형성되는지를 테스트하는 과정을 거치게 된다.
이와 관련하여, 종래 기술인 특허문헌 1은 자동차용 커넥터의 통전 여부(불량 여부)를 검사하는 커넥터 검사 장치를 개시하고 있다. 구체적으로, 특허문헌 1은 커넥터 내부의 단자 부재를 향하여 검사용 핀을 삽입 또는 이동시켜, 단자 부재와 접촉시켜 통전 상태가 되는지를 감지하는 구성을 개시하고 있다.
다만, 검사용 핀을 이동시켜 접촉 및 통전을 감지하는 종래 구성의 경우, 단자 부재의 통전 상태를 확인하는 것은 가능하나, 단자 부재가 몸체의 정확한 위치에 조립되어 있는지를 확인하는 데에는 한계가 있다. 이에, 단자 부재의 통전 상태뿐만 아니라 오조립 여부에 대한 검사를 수행할 수 있고, 나아가, 이러한 검사를 신속하게 수행할 수 있는 방안이 요구된다.
KR 10-1601108 B1 (2016.03.02. 등록)
본 발명의 일 목적은 일 방향으로 이동되면서 피검사체 내부에 조립되는 단자부와의 접촉을 감지하고 타 방향으로 가압 또는 상대 이동되는 것이 감지되어 단자부와의 접촉 위치를 감지하도록 구성되는 피검사체의 단자부 테스트 장치를 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 다른 일 목적은 피검사체 내부에 조립되는 단자부가 존재하는지 및 정위치에 조립되었는지를 한번에 검사하여 피검사체의 불량 여부를 판별하도록 구성되는 피검사체의 단자부 테스트 장치를 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 피검사체의 단자부 테스트 장치는, 케이싱; 탄성 변형되는 단자부를 구비하는 피검사체가 안착되고, 상기 케이싱에 삽입되도록 형성되는 피검사체 트레이; 및 상기 케이싱에 수용되고, 상기 피검사체를 향하는 방향으로 이동되면서 상기 단자부를 테스트하도록 형성되는 테스트 베이스를 포함하며, 상기 테스트 베이스는, 상기 단자부를 향하여 이동 시, 일 단부가 상기 단자부와 접촉 가능하도록 형성되는 접촉 핀; 상기 접촉 핀과 전기 연결되어 상기 접촉 핀의 일 단부와 상기 단자부의 상호 접촉을 감지하고, 상기 접촉 핀이 상기 단자부에 지지될 때 상기 접촉 핀의 타 단부가 접촉되는 것을 감지하도록 형성되는 테스터 보드; 및 상기 접촉 핀을 종방향으로 슬라이딩 가능하게 수용하는 슬라이딩 홀을 구비하는 베이스 블록을 더 포함한다.
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상기 접촉 핀은, 상기 종방향으로 연장되는 몸체부; 상기 슬라이딩 홀과 이격되는 위치에 상기 몸체부의 외주면에서 돌출되도록 형성되는 걸림부; 및 양 단부가 상기 걸림부 및 상기 슬라이딩 홀의 둘레에 각각 지지되고, 상기 몸체부를 감싸도록 형성되어 상기 종방향으로 탄성 변형되는 탄성 부재를 포함할 수 있다.
상기 탄성 부재의 탄성력은, 상기 단자부가 기설정된 위치를 이탈하여 조립되어 상기 접촉 핀의 일 단부를 지지하는 상태에서의 상기 단자부에 의해 형성되는 탄성력보다 작을 수 있다.
상기 접촉 핀의 일 단부와 타 단부 사이에는 상기 테스터 보드와 전기 연결되는 패스 전극이 형성되고, 상기 피검사체 트레이는, 상기 단자부를 경유하여 상기 접촉 핀의 일 단부와 전기 연결되는 그라운드 패드를 구비하고, 상기 테스터 보드는, 상기 접촉 핀의 타 단부와 접촉 가능한 위치에 형성되는 단락 패드를 구비할 수 있다.
본 발명의 다른 일 목적을 달성하기 위하여, 상기 테스터 보드는, 상기 접촉 핀의 일 단부와 상기 단자부의 상호 접촉이 감지되고, 상기 접촉 핀의 타 단부가 접촉되는 것이 감지되지 않는 조건을 만족하는 경우 테스트 통과 신호를 표시하도록 형성되는 표시부를 포함할 수 있다.
상기 테스트 베이스는, 상기 피검사체를 향하여 돌출되는 상기 접촉 핀을 수용하고 상기 베이스 블록과 상기 피검사체 트레이 사이에서 상기 베이스 블록을 지지하도록 형성되는 베이스 플레이트를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 일 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 피검사체의 단자부 테스트 장치는, 케이싱; 탄성 변형되는 단자부를 구비하는 피검사체가 안착되고, 상기 케이싱에 삽입되도록 형성되는 피검사체 트레이; 및 상기 케이싱에 수용되어 상기 단자부를 테스트하도록 형성되는 테스트 베이스를 포함하며, 상기 테스트 베이스는, 상기 피검사체를 향하여 전진하도록 형성되는 베이스 블록; 상기 베이스 블록에 연결되어 전진하고, 상기 단자부에 기설정된 힘 이상으로 지지되는 경우 상기 베이스 블록에 대하여 후퇴되도록 형성되는 접촉 핀; 및 기설정된 변위의 상기 전진 시 상기 접촉 핀과 상기 단자부의 상호 접촉이 감지되지 않거나, 기설정된 변위 이상의 상기 후퇴가 감지되는 경우 피검사체를 불량으로 판정하도록 형성되는 테스터 보드를 포함한다.
이상에서 설명한 해결 수단에 의해 구성되는 본 발명에 의하면, 다음과 같은 효과가 있다.
본 발명에 따른 피검사체의 단자부 테스트 장치는 접촉 핀이 일 단부와 타 단부 측으로 각각 접촉을 감지함으로써 단자부의 정위치 조립 여부를 판별한다. 이에 의하면, 피검사체 내부에 단자부가 존재하는지 여부는 물론, 일 방향 및 타 방향으로 단자부의 위치가 잘못 조립되는 경우가 모두 판별될 수 있어, 정밀하게 피검사체의 조립 상태가 테스트될 수 있다.
본 발명에 따른 피검사체의 단자부 테스트 장치는 접촉 핀의 일 단부와 단자부가 접촉과 접촉 핀의 타 단부와 테스트 보드의 미접촉 조건이 모두 만족되는 경우 피검사체를 테스트에 통과한 것으로 판별한다. 이에 따라, 단자부의 존재 여부 및 위치와 관련하여 불량인 경우의 수를 다양하게 반영한 테스트가 한 차례의 스트로크로 수행될 수 있어, 테스트 시간 및 비용이 절감될 수 있다.
도 1a 내지 1c는 본 발명에 따른 피검사체의 단자부 테스트 장치를 동작 단계에 따라 도시한 사시도들이다.
도 2a는 도 1a 내지 1c에 도시된 피검사체 트레이에 피검사체가 안착되는 상태를 보인 사시도이다.
도 2b는 도 2a에 도시된 피검사체의 정면도이다.
도 3은 도 1b에 도시된 라인 A-A'를 따라 취한 단면을 보인 도면이다.
도 4는 도 1c에 도시된 라인 B-B'를 따라 취한 단면을 보인 도면이다.
도 5는 도 4에 도시된 영역 D를 확대하여 보인 도면이다.
도 6은 도 5에 도시된 접촉 핀의 사시도이다.
아래에서는 첨부한 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서 전체에서 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 직접적으로 연결되어 있는 경우뿐 아니라 중간에 다른 부분을 개재하여 연결되어 있는 경우도 포함한다. 나아가, 본원 명세서 전체에서, 어떤 부재가 다른 부재 "상에" 위치하고 있다고 할 때, 이는 어떤 부재가 다른 부재에 접해 있는 경우뿐 아니라 두 부재 사이에 또 다른 부재가 존재하는 경우도 포함한다.
본 발명에 따른 피검사체의 단자부 테스트 장치는, 피검사체에 단자부가 정위치에 조립되었는지 여부를 검사하기 위한 것이다. 피검사체는, 예를 들면, 자동차용의 전기 연결을 위한 커넥터일 수 있다. 단자부는 피검사체의 내부에서 탄성 변형되도록 조립되는 것일 수 있고, 전기 전도성의 금속 재질로 형성될 수 있다.
도 1a 내지 1c는 본 발명에 따른 피검사체의 단자부 테스트 장치(10)를 동작 단계에 따라 도시한 사시도들이다. 또한, 도 2a는 도 1a 내지 1c에 도시된 피검사체 트레이(200)에 피검사체(C)가 안착되는 상태를 보인 사시도이고, 도 2b는 도 2a에 도시된 피검사체(C)의 정면도이다.
도 1a 내지 1c를 참조하면 본 발명에 따른 피검사체의 단자부 테스트 장치(10)는 케이싱(100), 피검사체 트레이(200) 및 테스트 베이스(300)를 포함한다. 케이싱(100)은 본 발명의 외관을 형성하며, 피검사체 트레이(200) 및 테스트 베이스(300)가 장착되는 공간을 제공할 수 있다.
피검사체 트레이(200)는 피검사체(C)가 안착되고 케이싱(100)에 삽입되도록 형성된다. 도 2a를 참조하면, 피검사체 트레이(200)에는 복수 개의 피검사체(C)가 종방향으로 삽입되어 장착될 수 있다. 도 1a 및 1b에 도시한 것과 같이, 피검사체 트레이(200)는 케이싱(100) 내에서 횡방향으로 이동되어 장착 및 탈착될 수 있다.
테스트 베이스(300)는 케이싱(100) 내에 수용되고, 피검사체(C)를 향하는 방향으로 이동되면서 피검사체(C)의 단자부(P)를 테스트하도록 구성된다. 도 1b 및 1c에 도시한 것과 같이, 테스트 베이스(300)는 피검사체 트레이(200)의 상부에 위치될 수 있다. 아울러, 피검사체 트레이(200)는 피검사체(C)를 향하여 종방향으로 이동되는 동작과 함께 피검사체(C)의 단자부(P)를 테스트하도록 구성될 수 있다.
도 1c에 도시한 것과 같이, 케이싱(100)은 케이싱(100)의 내벽에서 리세스되도록 형성되는 가이드 홈(101)을 포함할 수 있다. 아울러, 도 2a에 도시한 것과 같이, 피검사체 트레이(200)는 가이드 홈(101)에 삽입되어 슬라이딩 또는 구름 이동될 수 있도록 횡방향으로 돌출되게 형성되는 가이드 돌기(201)를 포함할 수 있다. 가이드 홈(101)과 가이드 돌기(201)에 의해, 피검사체 트레이(200)는 기설정된 경로를 따라 정확하게 횡방향으로 이동될 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 피검사체의 단자부 테스트 장치(10)는 베이스 구동부(400)를 더 포함할 수 있다. 베이스 구동부(400)는 테스트 베이스(300)와 결합되고, 테스트 베이스(300)를 종방향으로 왕복 이동시키는 동력을 제공할 수 있다.
한편, 도 2b를 참조하면, 피검사체(C)는 복수 개의 단자부(P)를 구비한다. 피검사체(C)는 단자부(P)마다 도선이 연결되는 케이블의 단부에 결합되는 커넥터일 수 있다. 도 2a 및 2b를 기준으로, 피검사체(C)에는 상하방향으로 피검사체(C)에 대응되게 형성되는 연결핀 등이 결합되어 단자부(P)와 접촉 및 전기 연결을 이룰 수 있다. 단자부(P)는 탄성 변형이 가능한 전기 전도성 재질의 부재로 형성될 수 있고, 예를 들면, 금속으로 이루어질 수 있다. 단자부(P)는 상하 방향(종방향)으로의 가압에 의해 탄성 변형이 가능하도록 피검사체(C)에 조립될 수 있다.
본 발명에 따른 피검사체의 단자부 테스트 장치(10)는, 단자부(P)가 피검사체(C) 내에 올바르게 조립이 되어 있는지를 테스트하기 위한 것이다. 도 2b를 참조하면, 피검사체(C) 내부에서 단자부(P)는, 정위치에 조립되는 경우(Pa), 부품 자체의 불량 또는 조립 불량 등의 이유로 정위치보다 하측에 위치되는 경우(Pb), 나아가, 피검사체(C)에 걸리는 등의 이유로 정위치보다 상측에 위치되는 경우(Pc)가 있을 수 있다. 또한 본 발명에서, 단자부(P) 자체가 누락되어 피검사체(C) 내부에 조립되지 않은 경우는, 정위치보다 하측에 위치되는 경우와 동일하게 취급될 수 있다.
이하에서는 도 3 내지 6을 더 참조하여, 본 발명에 따른 피검사체의 단자부 테스트 장치(10)의 구체적인 구성 및 동작에 대해 설명한다.
도 3은 도 1b에 도시된 라인 A-A'를 따라 취한 단면을 보인 도면이고, 도 4는 도 1c에 도시된 라인 B-B'를 따라 취한 단면을 보인 도면이다. 또한, 도 5는 도 4에 도시된 영역 D를 확대하여 보인 도면이고, 도 6은 도 5에 도시된 접촉 핀(310)의 사시도이다.
본 발명에 구비되는 테스트 베이스(300)는 접촉 핀(310) 및 테스터 보드(320)를 포함한다. 접촉 핀(310)은 단자부(P)와 직접적인 접촉 여부를 감지하는 전극의 역할을 수행할 수 있다. 테스트 베이스(300)가 피검사체(C)를 향하여 이동될 때, 복수 개의 접촉 핀(310)은 복수 개의 단자부(P)를 향하여 이동되어 단자부(P)를 향하는 일 단부가 각각 단자부(P)와 접촉 가능하도록 형성된다.
한편, 테스터 보드(320)는 접촉 핀(310)과 전기적으로 연결되도록 구성될 수 있다. 그리고, 테스터 보드(320)는 각 접촉 핀(310)에 의한 각 단자부(P)의 테스트 결과를 판별 및 표시하는 역할을 수행할 수 있다. 구체적으로, 테스터 보드(320)는, 접촉 핀(310)의 일 단부와 단자부(P)의 상호 접촉을 감지하도록 형성된다. 즉, 테스터 보드(320)는 접촉 핀(310)의 일 단부와 단자부(P)가 상호 접촉 됨에 따라 전류가 통전되는 것을 감지하도록 형성될 수 있다. 테스터 보드(320)는 회로가 형성된 인쇄회로기판(PCB) 등으로 이루어질 수 있다.
또한, 본 발명의 테스터 보드(320)는 접촉 핀(310)의 타 단부와 서로 접촉될 수 있다. 구체적으로, 접촉 핀(310)과 테스터 보드(320)는 서로 이격된 상태에서 종방향으로 이동될 수 있고, 접촉 핀(310)의 일 단부가 단자부(P)와 접촉되어 지지될 때 서로 이격된 거리가 가까워질 수 있다. 이때, 접촉 핀(310)의 일 단부와 단자부(P)가 접촉되어 지지되는 위치가 정위치보다 상측인 경우 접촉 핀(310)의 타 단부와 테스터 보드(320)가 서로 접촉될 수 있다. 그리고, 테스터 보드(320)는 접촉 핀(310)의 타 단부가 접촉되는 경우 통전에 의한 신호를 감지할 수 있다.
본 발명에 따른 피검사체의 단자부 테스트 장치(10)는 접촉 핀(310)이 일 단부와 타 단부 측으로 각각 접촉을 감지함으로써 단자부(P)의 정위치 조립 여부를 판별할 수 있다. 이에 의하면, 피검사체(C) 내부에 단자부(P)가 존재하는지 여부를 판별할 수 있을 뿐만 아니라, 정위치보다 하측에 단자부(P)가 위치되는 경우 및 정위치보다 상측에 단자부(P)가 위치되는 경우가 모두 판별될 수 있다. 따라서, 피검사체(C)의 단자부(P)의 조립 불량에 대한 다양한 경우의 수가 테스트될 수 있다.
한편, 접촉 핀(310)과 테스터 보드(320) 사이의 거리가 가변되는 구성을 위해, 본 발명에 구비되는 테스트 베이스(300)는 베이스 블록(330)을 더 포함할 수 있다. 도 3 내지 5에 도시한 것과 같이, 베이스 블록(330)은 테스터 보드(320)의 하부에 결합될 수 있다. 아울러, 접촉 핀(310)과 테스터 보드(320)의 상호 이격 및 접촉을 구현하도록, 베이스 블록(330)은 슬라이딩 홀(331) 및 중공부(332)를 구비할 수 있다.
슬라이딩 홀(331)은 베이스 블록(330)을 종방향으로 관통하도록 형성되어, 접촉 핀(310)을 종방향으로 슬라이딩 가능하게 수용할 수 있다. 또한, 중공부(332)는 베이스 블록(330)의 테스터 보드(320)와 마주보는 면에서 리세스되도록 형성될 수 있다. 접촉 핀(310)이 테스터 보드(320) 및 베이스 블록(330)에 대해 상대 이동(슬라이딩)됨으로써, 중공부(332) 내부에서 접촉 핀(310)의 타 단부는 테스터 보드(320)와 이격되거나 접촉될 수 있다.
한편, 도 6에 도시한 것과 같이, 접촉 핀(310)은 몸체부(311), 걸림부(312) 및 탄성 부재(313)를 포함할 수 있다. 몸체부(311)는 종방향으로 연장되는 원통형으로 형성될 수 있고, 걸림부(312)는 몸체부(311)의 외주면에서 돌출되도록 형성될 수 있다. 아울러, 탄성 부재(313)는 슬라이딩 홀(331)의 둘레와 걸림부(312)에 각각 양 단부가 지지되도록 개재될 수 있다. 탄성 부재(313)는 몸체부(311)를 감싸는 코일 스프링을 구비할 수 있고, 종방향으로 압축 시 탄성 변형되면서 탄성력(복원력)을 가질 수 있다.
이때, 탄성 부재(313)의 탄성력은, 단자부(P)가 기설정된 위치(정위치)를 이탈하여 조립되어 접촉 핀(310)의 일 단부를 지지하는 상태에서 단자부(P)에 의해 형성되는 탄성력보다는 작도록 설계될 수 있다. 즉, 단자부(P)가 정위치를 이탈한 위치에 오조립되어 있는 경우에는, 탄성 부재(313)가 압축되면서 접촉 핀(310)과 테스터 보드(320)가 서로 가까워질 수 있다.
이하에서는, 본 발명에 구비되는 접촉 핀(310), 단자부(P) 및 테스터 보드(320)의 접촉 및 전기 연결 상태에 따라, 테스터 보드(320)에서 단자부(P)의 조립 상태가 판별되는 실시예를 설명한다.
도 6을 참조하면, 접촉 핀(310)은 패스 전극(314)을 더 포함할 수 있다. 패스 전극(314)은 접촉 핀(310)의 일 단부와 타 단부 사이에 위치될 수 있고, 테스터 보드(320)와 전기적으로 연결되어 있도록 구성될 수 있다. 아울러, 도 5에 도시한 것과 같이, 피검사체 트레이(200)는 그라운드 패드(202)를 구비할 수 있다. 그라운드 패드(202)는, 피검사체 트레이(200)에 장착된 피검사체(C)의 단자부(P)를 경유하여 접촉 핀(310)의 일 단부와 전기 연결되어 있을 수 있다. 나아가, 본 발명의 테스터 보드(320)의 표면에는 접촉 핀(310)의 타 단부와 접촉 가능한 위치에 형성되는 단락 패드(321)가 형성될 수 있다. 단락 패드(321)는 베이스 블록(330)의 중공부(332)에 노출되고, 복수 개의 접촉 핀(310)의 타 단부에 대응되는 위치에 복수 개 형성될 수 있다.
도 5 및 6을 참조하면, 본 발명의 테스터 보드(320)는, 접촉 핀(310)의 일 단부(제1 전극, 310x))과 단자부(P)가 상호 접촉되는 경우, 그라운드 패드(202)로부터 단자부(P), 제1 전극(310x), 몸체부(311) 및 패스 전극(314)을 경유하는 전기 신호를 감지할 수 있다. 이러한 제1 전극(310x)과 단자부(P)의 접촉에 의해 전기 신호가 감지되는 제1 조건은, 단자부(P)의 조립 상태에 대한 테스트 통과 조건 중 하나가 될 수 있다.
아울러, 본 발명의 테스터 보드(320)는, 접촉 핀(310)의 타 단부(제2 전극, 310y)와 테스터 보드(320, 더 구체적으로는, 단락 패드(321))가 상호 접촉되는 경우, 그라운드 패드(202)로부터 단자부(P), 제1 전극(310x), 몸체부(311), 제2 전극(310y) 및 단락 패드(321)를 경유하는 전기 신호를 감지할 수 있다. 이러한 제2 전극(310y)과 테스터 보드(320)의 접촉에 의해 전기 신호가 감지되는 제2 조건은, 단자부(P)의 조립 상태에 대한 테스트 미통과 조건이 될 수 있다. 즉, 제2 조건이 만족되지 않는 것이 테스트 통과 조건 중 나머지 하나일 수 있다.
여기서, 본 발명의 테스터 보드(320)는, 위 제1 조건이 만족되고, 또한, 제2 조건이 만족되지 않는 경우, 테스트 통과 신호를 표시하도록 형성되는 표시부(322)를 포함할 수 있다. 도 5에 도시한 것과 같이, 표시부(322)는 각 접촉 핀(310)에 대응되도록 테스터 보드(320)에 설치되는 복수 개의 LED 소자로 이루어져, 각 단자부(P) 별로 테스트 통과 여부를 시각적으로 나타낼 수 있다.
다른 한편으로, 본 발명의 테스트 베이스(300)는 베이스 플레이트(340)를 더 포함할 수 있다. 도 3 내지 5를 참조하면, 베이스 플레이트(340)는 베이스 블록(330)과 피검사체 트레이(200) 사이에 위치될 수 있고, 복수 개의 베이스 블록(330)을 하부에서 지지할 수 있다. 또한, 베이스 플레이트(340)는 피검사체(C)를 향하여 돌출되는 접촉 핀(310)을 수용하도록 형성되는 관통홀(341)을 구비할 수 있다. 관통홀(341)은 슬라이딩 홀(331)과 연통될 수 있고, 내부에서 접촉 핀(310)이 가이드될 수 있다.
이하에서 본 발명에 따른 피검사체의 단자부 테스트 장치(10)를 이용한 전체적인 동작 과정을 부연하여 설명한다. 테스트가 실시될 복수 개의 피검사체(C)는 피검사체 트레이(200)에 장착될 수 있다. 피검사체 트레이(200)는 횡방향으로 슬라이딩되어 테스트 베이스(300)의 하부와 마주보도록 위치될 수 있다. 테스트 베이스(300)는, 피검사체(C)가 하측에 위치된 상태에서, 피검사체(C)를 향하여 전진(종방향으로 하강)될 수 있다.
테스트 베이스(300)가 전진되면서, 테스트 베이스(300)를 구성하는 베이스 블록(330)과 접촉 핀(310)이 함께 전진될 수 있다. 다만 접촉 핀(310)은 단자부(P)에 기설정된 힘 이상으로 지지되는 경우 베이스 블록(330)에 대하여 후퇴(상대적으로 종방향으로 상승)될 수 있다.
본 발명의 테스터 보드(320)는 기설정된 변위의 전진 시 접촉 핀(310)과 단자부(P)의 상호 접촉을 감지하고, 또한, 기설정된 변위 이상의 상대적인 후퇴를 감지할 수 있다. 테스터 보드(320)에 의해, 단자부(P)와 접촉 핀(310)이 상호 접촉되지 않는 경우, 또는, 접촉 핀(310)과 테스터 보드(320)의 접촉을 감지하는 등의 방식으로 접촉 핀(310)의 상대적인 후퇴가 감지되는 경우가 발생되면, 본 발명에 따른 피검사체의 단자부 테스트 장치(10)는 피검사체(C)를 불량으로 판정할 수 있다.
앞서 도 2b를 참조하여 설명한 단자부(P)의 조립 위치의 경우 중에서, 접촉 핀(310)과 단자부(P)의 접촉이 감지되지 않는 조건에 의해 단자부(P) 자체가 누락된 경우 또는 단자부가 정위치보다 하측에 위치되는 경우(Pb)가 검출될 수 있다. 그리고, 접촉 핀(310)과 테스터 보드(320)가 서로 접촉되는 것이 감지되는 조건에 의해 단자부가 정위치보다 상측에 위치되는 경우(Pa)가 검출될 수 있다. 나아가, 접촉 핀(310)과 단자부(P)의 접촉이 감지되고, 또한, 접촉 핀(310)과 테스터 보드(320)의 접촉은 감지되지 않는 경우가 단자부가 정위치에 위치되어 있는 경우(Pa)로 판별되어 테스트 통과로 처리될 수 있다. 본 발명의 테스터 보드(320)는, 하나의 피검사체(C)에 조립된 복수 개의 단자부(P)가 모두 정위치에 조립되어 있는 경우에만, 하나의 피검사체(C)가 테스트를 통과한 것으로 표시할 수 있다.
본 발명에 따른 피검사체의 단자부 테스트 장치(10)는, 접촉 핀(310)의 일 단부(310x)와 단자부(P)가 접촉과, 접촉 핀(310)의 타 단부(310y)와 테스터 보드(320)의 미접촉 조건이 모두 만족되는 경우 피검사체(C)를 테스트에 통과한 것으로 판별할 수 있다. 이에 따라, 단자부(P)의 존재 여부 및 위치와 관련하여 불량인 경우의 수를 다양하게 반영한 테스트가 한 차례 테스트 베이스(300)를 이동시키는 스트로크(stroke) 동작에 의해 수행될 수 있다. 따라서, 단자부(P)의 다양한 불량 유형에 대한 테스트 시간 및 비용이 절감될 수 있는 이점이 있다.
이상에서 설명한 본 발명의 설명은 예시를 위한 것이며, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.
또한, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 청구범위에 의하여 나타내어지며, 청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
C: 피검사체
P, Pa, Pb, Pc: 단자부
10: 피검사체의 단자부 테스트 장치
100: 케이싱
101: 가이드 홈
200: 피검사체 트레이
201: 가이드 돌기
202: 그라운드 패드
300: 테스트 베이스
310: 접촉 핀
310x: 제1 전극
310y: 제2 전극
311: 몸체부
312: 걸림부
313: 탄성 부재
314: 패스 전극
320: 테스터 보드
321: 단락 패드
322: 표시부
330: 베이스 블록
331: 슬라이딩 홀
332: 중공부
340: 베이스 플레이트
341: 관통홀
400: 베이스 구동부

Claims (8)

  1. 케이싱;
    탄성 변형되는 단자부를 구비하는 피검사체가 안착되고, 상기 케이싱에 삽입되도록 형성되는 피검사체 트레이; 및
    상기 케이싱에 수용되고, 상기 피검사체를 향하는 방향으로 이동되면서 상기 단자부를 테스트하도록 형성되는 테스트 베이스를 포함하며,
    상기 테스트 베이스는,
    상기 단자부를 향하여 이동 시, 일 단부가 상기 단자부와 접촉 가능하도록 형성되는 접촉 핀;
    상기 접촉 핀과 전기 연결되어 상기 접촉 핀의 일 단부와 상기 단자부의 상호 접촉을 감지하고, 상기 접촉 핀이 상기 단자부에 지지될 때 상기 접촉 핀의 타 단부가 접촉되는 것을 감지하도록 형성되는 테스터 보드; 및
    상기 접촉 핀을 종방향으로 슬라이딩 가능하게 수용하는 슬라이딩 홀을 구비하는 베이스 블록을 포함하는, 피검사체의 단자부 테스트 장치.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서,
    상기 접촉 핀은,
    상기 종방향으로 연장되는 몸체부;
    상기 슬라이딩 홀과 이격되는 위치에 상기 몸체부의 외주면에서 돌출되도록 형성되는 걸림부; 및
    양 단부가 상기 걸림부 및 상기 슬라이딩 홀의 둘레에 각각 지지되고, 상기 몸체부를 감싸도록 형성되어 상기 종방향으로 탄성 변형되는 탄성 부재를 포함하는, 피검사체의 단자부 테스트 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 탄성 부재의 탄성력은, 상기 단자부가 기설정된 위치를 이탈하여 조립되어 상기 접촉 핀의 일 단부를 지지하는 상태에서의 상기 단자부에 의해 형성되는 탄성력보다 작은 것을 특징으로 하는, 피검사체의 단자부 테스트 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 접촉 핀의 일 단부와 타 단부 사이에는 상기 테스터 보드와 전기 연결되는 패스 전극이 형성되고,
    상기 피검사체 트레이는, 상기 단자부를 경유하여 상기 접촉 핀의 일 단부와 전기 연결되는 그라운드 패드를 구비하고,
    상기 테스터 보드는, 상기 접촉 핀의 타 단부와 접촉 가능한 위치에 형성되는 단락 패드를 구비하는, 피검사체의 단자부 테스트 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 테스터 보드는, 상기 접촉 핀의 일 단부와 상기 단자부의 상호 접촉이 감지되고, 상기 접촉 핀의 타 단부가 접촉되는 것이 감지되지 않는 조건을 만족하는 경우 테스트 통과 신호를 표시하도록 형성되는 표시부를 포함하는, 피검사체의 단자부 테스트 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 테스트 베이스는, 상기 피검사체를 향하여 돌출되는 상기 접촉 핀을 수용하고 상기 베이스 블록과 상기 피검사체 트레이 사이에서 상기 베이스 블록을 지지하도록 형성되는 베이스 플레이트를 더 포함하는, 피검사체의 단자부 테스트 장치.
  8. 케이싱;
    탄성 변형되는 단자부를 구비하는 피검사체가 안착되고, 상기 케이싱에 삽입되도록 형성되는 피검사체 트레이; 및
    상기 케이싱에 수용되어 상기 단자부를 테스트하도록 형성되는 테스트 베이스를 포함하며,
    상기 테스트 베이스는,
    상기 피검사체를 향하여 전진하도록 형성되는 베이스 블록;
    상기 베이스 블록에 연결되어 전진하고, 상기 단자부에 기설정된 힘 이상으로 지지되는 경우 상기 베이스 블록에 대하여 후퇴되도록 형성되는 접촉 핀; 및
    기설정된 변위의 상기 전진 시 상기 접촉 핀과 상기 단자부의 상호 접촉이 감지되지 않거나, 기설정된 변위 이상의 상기 후퇴가 감지되는 경우 피검사체를 불량으로 판정하도록 형성되는 테스터 보드를 포함하는, 피검사체의 단자부 테스트 장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102649680B1 (ko) * 2024-01-02 2024-03-20 (주)밸류플러스 Ssd 테스트 설비의 신속진단 장치

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09281181A (ja) * 1996-04-17 1997-10-31 Matsushita Electron Corp 半導体装置の検査装置
JP2014199220A (ja) * 2013-03-29 2014-10-23 富士通セミコンダクター株式会社 テストボード及び試験装置
KR101601108B1 (ko) 2015-12-31 2016-03-08 주식회사 신안오토테크 커넥터용 검사 장치

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09281181A (ja) * 1996-04-17 1997-10-31 Matsushita Electron Corp 半導体装置の検査装置
JP2014199220A (ja) * 2013-03-29 2014-10-23 富士通セミコンダクター株式会社 テストボード及び試験装置
KR101601108B1 (ko) 2015-12-31 2016-03-08 주식회사 신안오토테크 커넥터용 검사 장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102649680B1 (ko) * 2024-01-02 2024-03-20 (주)밸류플러스 Ssd 테스트 설비의 신속진단 장치

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