JP2014160598A

JP2014160598A - コネクタ検査装置

Info

Publication number: JP2014160598A
Application number: JP2013030885A
Authority: JP
Inventors: Shinichiro Iwata; 信一朗岩田; Akira Nishino; 彰西野
Original assignee: Sumitomo Wiring Systems Ltd
Current assignee: Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority date: 2013-02-20
Filing date: 2013-02-20
Publication date: 2014-09-04
Anticipated expiration: 2033-02-20
Also published as: JP6051921B2

Abstract

【課題】コネクタの検査において信頼できる判定結果を得ることができる技術を提供する。
【解決手段】コネクタ検査装置１００は、コネクタ９に対して近接離間する方向に進退可能に配置されたピンユニット２０を備える。ピンユニット２０は、端子９１との間の電気的導通の有無に基づいて端子９１の導通検査を行なう導通検査ピン２１と、ランス９２２の撓み空間９２３に進入する挿入検査ピン部２３１と、を備える。コネクタ検査装置１００は、さらに、ピンユニット２０を、コネクタ９に接近させる方向に弾性的に付勢する付勢部３０と、ピンユニット２０の進退方向に沿う位置を検知する位置検知部４０とを備える。
【選択図】図３

Description

本発明は、コネクタを検査する技術に関する。

例えば、自動車における電装品の配線に用いられるワイヤーハーネスにおいて、ワイヤーハーネス相互間の接続、ワイヤーハーネスと電装品との接続などには、コネクタが用いられる。コネクタは、一般に、合成樹脂材料などを用いて構成されるコネクタハウジングと、このコネクタハウジングに形成された端子収容室（所謂、キャビティ）に収容される端子（雌端子、または、雄端子）とを有している。この構成において、雌端子が収容されたコネクタ（雌コネクタ）と、雄端子が収容されたコネクタ（雄コネクタ）とのハウジング同士を嵌合させることによって、雄端子と雌端子とが位置合わせされ、電気的に接続された状態となる。

コネクタにおいては、例えば、そのハウジング内に、撓み変形できるランスが形成され、このランスが、正規位置で復元変形して、端子側に形成された孔に引っ掛かることにより、端子がコネクタハウジングから抜けないように抜け止めされる（所謂、ハウジングランス方式）。

ところで、コネクタにおいて、端子が半挿入状態にある場合（すなわち、端子とランスとが嵌合不良を来している場合）には、端子がハウジングから抜け出てしまう恐れがある。したがって、この嵌合不良の有無を厳格に検査する必要がある。

ランスの嵌合不良を検出する技術は、各種提案されている。例えば、特許文献１に開示のコネクタ検査装置は、検査対象となるコネクタに対して近接離間する方向に移動可能に設けられた検査部を備えている。この検査部は、検査対象となるコネクタのキャビティに入り込んで端子と電気的に接続可能な導通検査ピン（所謂、プローブピン）と、これと一体的に配設されたランス検査用部材とを備えている。このランス検査用部材は、樹脂により形成され、ランスの撓み空間に入り込んで、端子と嵌合不良を来しているランスと当接可能な形状となっている。この構成において、ランスが端子に適切に引っ掛かっている場合、ランスは撓み空間から待避した状態となっており、ランス検査用部材はランスの撓み空間に深く差し込まれる。その結果、プローブピンが端子と当接可能な位置まで差し込まれた状態となって電気的な導通が取られる。一方、ランスが嵌合不良を来している場合、ランスは撓み空間に突出した状態となっており、ランス検査用部材はランスに突き当たって撓み空間に深く進入することができない。その結果、プローブピンが端子と当接可能な位置まで届かず、電気的な導通が取られない。

上記に例示される類のコネクタ検査装置においては、プローブピンによって電気的な導通が取られた場合に、コネクタが良品であると判定される。端子が半挿入状態となっている場合、上述したとおり、ランス検査用部材がランスに突き当たってプローブピンが端子と当接可能な位置まで届かないために、プローブピンの電気的な導通が取られない。したがって、端子が半挿入状態にあるコネクタが良品でないとして正しく判定されることになる。

特開平１０−２８４２０７号公報

従来のコネクタ検査装置では、上述したとおり、プローブピンにおいて電気的な導通が取られるか否かによって、コネクタが良品であるか否かを判定する。ところが、この態様では、思わぬ誤判定を招く可能性がゼロではなかった。例えば、コネクタにおいてランスが端子に適切に引っ掛かっておらず、ランス検査用部材がランスの撓み空間に深く差し込まれないために、プローブピンが端子と当接可能な位置まで差し込まれていない状態となっている状況、すなわち、本来であればプローブピンの導通が確認され得ないこの状況において、例えば、プローブピンと端子との間に金属片などが混入しているために導通が取られてしまった場合、端子が半挿入状態にあるコネクタが、良品として誤判定されるおそれがある。

この発明は上記の課題に鑑みてなされたものであり、コネクタの検査において、信頼できる判定結果を得ることができる技術の提供を目的としている。

第１の態様は、ハウジング内に端子が収容されており、前記ハウジング内に設けられた撓み変形できるランスが、正規位置で復元変形して前記端子に引っ掛かることにより、前記端子の抜け止めがなされるコネクタを、検査するコネクタ検査装置であって、前記コネクタに対して近接離間する方向に進退可能に配置されたピンユニットと、前記ピンユニットを、前記コネクタに接近させる方向に弾性的に付勢する付勢部と、前記ピンユニットの進退方向に沿う位置を検知する位置検知部と、を備え、前記ピンユニットが、前記端子との間の電気的導通の有無に基づいて前記端子の導通検査を行なう導通検査ピンと、前記ランスの撓み空間に進入する挿入検査ピンと、を備える。

第２の態様は、第１の態様に係るコネクタ検査装置であって、前記挿入検査ピンが、金属により形成されている。

第３の態様は、第２の態様に係るコネクタ検査装置であって、前記ピンユニットが、前記導通検査ピンを複数備えるとともに、前記挿入検査ピンを複数備え、前記複数の挿入検査ピンが連結ブロックを介して一体的に形成されることにより１個の挿入検査ピンユニットを形成しており、前記ピンユニットが、前記複数の導通検査ピンと前記挿入検査ピンユニットとの間に配置され、前記複数の導通検査ピンと前記挿入検査ピンユニットとを電気的に絶縁する絶縁部材、をさらに備える。

第４の態様は、第１の態様に係るコネクタ検査装置であって、前記挿入検査ピンが、樹脂により形成されている。

第５の態様は、第１から第４のいずれかの態様に係るコネクタ検査装置であって、前記ピンユニットを支持し、前記ピンユニットの進退方向に進退可能に配置された支持部材、を備え、前記付勢部が、前記支持部材に当接してこれを前記コネクタに接近させる方向に付勢することによって、前記支持部材に支持されている前記ピンユニットを、前記コネクタに接近させる方向に付勢し、前記位置検知部が、前記支持部材の前記進退方向に沿う位置を検知することによって、前記ピンユニットの前記進退方向に沿う位置を検知する。

第６の態様は、第５の態様に係るコネクタ検査装置であって、前記ピンユニットを複数備え、前記複数のピンユニットが、共通の前記支持部材に支持される。

第１〜第６の態様によると、コネクタに対して進退可能に配置されたピンユニットの進退方向に沿う位置を検知する位置検知部を備える。この構成によると、導通検査ピンと端子との間に電気的な導通が取られるか否かの情報に加え、さらに、ピンユニットの位置が適切であるか否かの情報を加味して、コネクタを良否判定することができる。したがって、誤判定の可能性が低減され、信頼できる判定結果を得ることができる。

特に、第２の態様によると、挿入検査ピンが、金属により形成されている。この構成によると、例えば、ランスの撓み空間が狭い小型のコネクタに対応するべく、挿入検査ピンの形状を細くした場合であっても、挿入検査ピンに十分な強度をもたせることが可能となり、挿入検査ピンの変形や折れを十分に抑制できる。

特に、第３の態様によると、複数の導通検査ピンが、挿入検査ピンユニットを介して互いに導通することが回避され、これによって、導通検査の信頼性を担保できる。

特に、第６の態様によると、複数のピンユニットが共通の支持部材に支持される。この構成によると、複数のピンユニットの少なくとも１つに位置ずれが生じている場合に、これが支持部材の位置ずれとして検知される。したがって、例えば、複数のピンユニットの各々の位置を個別に検知する態様に比べて、効率的に、ピンユニットの位置ずれを検知することができる。

コネクタの概略断面図である。コネクタ検査装置の分解図である。コネクタ検査装置の縦断面図である。コネクタ検査装置の横断面図である。ピンユニットの分解図である。ピンユニットの平面図である。回路部の構成を示す模式図である。検査対象となるコネクタが良品である場合の検査態様を説明する図であり、コネクタ検査装置の一部を拡大して示した横断面図である。検査対象となるコネクタが良品である場合の検査態様を説明する図であり、コネクタ検査装置の一部を拡大して示した縦断面図である。検査対象となるコネクタが良品でない場合の検査態様を説明する図であり、コネクタ検査装置の一部を拡大して示した横断面図である。検査対象となるコネクタが良品でない場合の検査態様を説明する図であり、コネクタ検査装置の一部を拡大して示した縦断面図である。挿入検査ピンに変形がある状況を説明する図であり、コネクタ検査装置の一部を拡大して示した横断面図である。挿入検査ピンに変形がある状況を説明する図であり、コネクタ検査装置の一部を拡大して示した縦断面図である。

以下、添付の図面を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。以下の実施形態は、本発明を具体化した一例であって、本発明の技術的範囲を限定するものではない。

＜１．コネクタ９＞
はじめに、コネクタ検査装置１００が検査対象とするコネクタ９について、図１を参照しながら説明する。図１は、コネクタ９の概略断面図である。

コネクタ９は、例えば、ワイヤーハーネスの端末電線に接続された端子９１と、この端子９１を収容するハウジング９２とを備えている。

図示の例において、端子９１は、雄端子であり、相手側の雌端子（図示省略）と接続されるためのタブ９１１を有している。このタブ９１１は、雌端子の軸方向に平行に延びて相手側の雌端子と接続可能になっている。もっとも、コネクタ９が備える端子９１は、雌端子であってもよい。

ハウジング９２には、端子９１を収容する端子収容室（所謂、キャビティ）９２１と、撓み変形できるランス９２２と、このランス９２２の撓み空間９２３とが形成されている。

ランス９２２は、端子収容室９２１に収容された端子９１が抜けないようにロックするための部材である。すなわち、コネクタ９が良品である場合（すなわち、コネクタ９が、設計時に設定された寸法規格、組付規格、さらには形状規格を維持している場合）には、図１に示されるように、端子９１が端子収容室９２１内に入り込むとともに、ランス９２２が正規位置で復元変形して当該端子９１に引っ掛かった（係止した）状態となり、これによって、端子９１の抜け止めがなされる。この状態において、ランス９２２は、撓み空間９２３から退避した状態となる。

＜２．コネクタ検査装置の構成＞
コネクタ検査装置１００の構成について、図２〜図４を参照しながら説明する。図２は、コネクタ検査装置１００の分解図である。図３は、コネクタ検査装置１００の縦断面図である。図４は、コネクタ検査装置１００の横断面図である。以下において、コネクタ検査装置１００において、ホルダ１２が配設されている側を前側ともいい、レバー１４が配置されている側を後側ともいう。

コネクタ検査装置１００は、平面視略長方形に形成されたベース１１と、ベース１１の一端部（前端部）に固定されたホルダ１２と、ホルダ１２の後側においてホルダ１２に対して変位可能に設けられた検査部１３と、ベース１１の後端部に設けられたレバー１４とを備える。ベース１１は、コネクタ９に対する検査工程の作業場（作業台等）に対してネジ止め等により固定可能に構成されていることが好ましい。

＜２−１．ホルダ１２＞
ホルダ１２は、検査対象となるコネクタ９を保持して位置決めする。ホルダ１２は、具体的には、コネクタ９のハウジング９２を上下に挿抜可能な凹部１２１を備えており、この凹部１２１内に、検査対象となるコネクタ９のハウジング９２を収容することによって、これを保持できるように構成されている。

＜２−２．レバー１４＞
レバー１４は、ベース１１の後端部に、片持ち状態で、回動自在に設けられている。レバー１４は、検査部１３（具体的には、後述するブロック体１３１）の後方側の面に当接可能なカム面１４１を備える。レバー１４が、ベース１１に対する支持軸１４２の周りに回転操作されると、カム面１４１がブロック体１３１に当接し、ブロック体１３１をホルダ１２側（前方側）に押動する。

後に詳細に説明する検査部１３（具体的には、後述するブロック体１３１）は、ベース１１に設けられたレール１１１によってベース１１の長手方向（前後方向）に移動可能に案内されているとともに、ホルダ１２との間に配設されたコイルばね（図示省略）によって、レバー１４の方（後方）に付勢されている。つまり、検査部１３は、レバー１４が操作されない状態ではレバー１４の方（後方）に付勢されており、レバー１４が操作されると、これに押動されてホルダ１２に接近する方向（前方）に移動する。レバー１４が操作されない状態の検査部１３の位置（すなわち、ホルダ１２に保持されたコネクタ９から離間した検査部１３の位置）を、以下「セット位置」ともいい、レバー１４が操作された状態の検査部１３の位置（すなわち、図３、図４に示される位置であり、ホルダ１２に保持されたコネクタ９に接近した検査部１３の位置）を、以下「検査位置」ともいう。

＜２−３．検査部１３＞
検査部１３は、検査対象となるコネクタ９の端子収容室９２１の段数に対応した個数（図示の例では、３個）のピンユニット２０と、これら一群のピンユニット２０を支持する支持部材２００と、一群のピンユニット２０をコネクタ９に接近させる方向に弾性的に付勢する付勢部３０と、一群のピンユニット２０の位置を検知する位置検知部４０とを備える。

また、検査部１３は、これら各部２０，２００，３０，４０を支持するブロック体１３１を備える。ブロック体１３１は、概ね箱形に形成された樹脂成形品であり、その前端面には、各部２０，２００，３０，４０を収容する略矩形の収容凹部１３０が形成されている。ブロック体１３１の前端面には、ビスなどで固定される矩形の枠状のカバー部材１３２が取り付けられるようになっている。また、ブロック体１３１の後端面には、略直方体状の後方部材１３３が取り付けられるようになっている。カバー部材１３２と後方部材１３３とがそれぞれ取り付けられることによって、収容凹部１３０に収容された各部２０，２００，３０，４０が収容凹部１３０から離脱することが阻止される。

ブロック体１３１は、上述したとおり、ベース１１に設けられたレール１１１によってベース１１の長手方向に移動可能に案内されており、レバー１４の状態に応じて、ホルダ１２に保持されたコネクタ９から離間したセット位置と、当該コネクタ９に近接した検査位置との間を移動できるようになっている。つまり、検査部１３は、検査対象となるコネクタ９に対して近接離間する方向に進退可能に構成されている。

＜i．ピンユニット２０＞
ピンユニット２０の構成について、図２〜図４に加え、図５、図６を参照しながら説明する。図５は、ピンユニット２０の分解図である。図６は、ピンユニット２０の平面図である。

＜ａ．各部の構成＞
ピンユニット２０は、検査対象となるコネクタ９における各段の端子収容室９２１の個数に対応した個数（図示の例では、３個）の導通検査ピン（プローブピン）２１と、これら一群の導通検査ピン２１を一体的に担持する連結部２２と、連結部２２と連結された挿入検査ピンユニット２３と、一群の導通検査ピン２１と挿入検査ピンユニット２３とを電気的に絶縁する絶縁部材２４とを備える。

＜導通検査ピン２１＞
各導通検査ピン２１は、端子９１との間の電気的導通の有無に基づいて端子９１の導通検査を行なう。各導通検査ピン２１は、具体的には、例えば、長尺棒状のロッド部２１１と、ロッド部２１１の一方の端部（コネクタ９に対向する側の端部）に配設された接触部２１２とを備え、接触部２１２が端子９１に接触した状態で、電気的に閉状態となるように構成された導通プローブである。ロッド部２１１の他方の端部からは、例えば、電線（図示省略）が延出しており、この電線の他端は、導通検査の良否（すなわち、当該端子９１の電気的な導通状態）を判定する制御部（図示省略）と接続されている。

＜連結部２２＞
連結部２２は、一群の導通検査ピン２１を、互いの延在方向が平行となるような姿勢で、一体に保持する部材であり、樹脂などの絶縁材料により形成される。連結部２２は例えば長尺の板状部材であり、各導通検査ピン２１のロッド部２１１が、連結部２２の長尺方向と直交する方向に沿って圧入される。ただし、導通検査ピン２１のロッド部２１１には、フランジ２１１１が形成されており、これが連結部２２の前端面に当接することによって、導通検査ピン２１が連結部２２に対して後方に位置ずれを起こす、といった事態が生じないようになっている。

＜挿入検査ピンユニット２３＞
挿入検査ピンユニット２３は、ランス９２２の状態を検査する部材である。挿入検査ピンユニット２３は、ピンユニット２０が備える導通検査ピン２１の個数と同数個の挿入検査ピン部２３１と、当該一群の挿入検査ピン部２３１を一体的に保持する連結ブロック部２３２とを備える。すなわち、複数の挿入検査ピン部２３１が連結ブロック部２３２を介して一体的に形成されることにより、１個の挿入検査ピンユニット２３が形成されている。ここでは、挿入検査ピンユニット２３は、金属材料（具体的には、例えば、アルミニウムなど）により形成される。

一群の挿入検査ピン部２３１は、連結ブロック部２３２の前端面から、互いの延在方向が平行となるような姿勢で、間隔をあけて延出している。各挿入検査ピン部２３１は、コネクタ９のハウジング９２内において、ランス９２２の撓み空間９２３に進入して、ランス９２２の状態を検査する（具体的には、ランス９２２の係止不良を検出する）ためのプローブである。具体的には、各挿入検査ピン部２３１は、ハウジング９２内の撓み空間９２３内に入り込み、ランス９２２が係止不良となっている場合にのみ、当該ランス９２２に当接可能な外形および寸法に設定されている。つまり、挿入検査ピン部２３１は、嵌合不良を来しているランス９２２と当接可能に突出するように設けられる。ただし、挿入検査ピン部２３１は、導通検査ピン２１と一対一で対応付けられており、対応する導通検査ピン２１が当接される端子９１に係止されるランス９２２の撓み空間９２３に、進入するようになっている。

連結ブロック部２３２は、扁平な略直方体状に形成されており、内部に収容空間２３２０が形成される。収容空間２３２０は、連結ブロック部２３２の後端面に開口している。この収容空間２３２０には、一群の導通検査ピン２１のロッド部２１１に配設された絶縁部材２４が収容される。また、連結ブロック部２３２の前端面からは、上述したとおり、一群の挿入検査ピン部２３１が延出しており、この前端面には、各挿入検査ピン部２３１の基端部の隣に、収容空間２３２０と連通する貫通孔２３２１が形成される。各貫通孔２３２１は、各挿入検査ピン部２３１と対応して設けられ、当該挿入検査ピン部２３１と対応する導通検査ピン２１の接触部２１２が、当該貫通孔２３２１を介して、連結ブロック部２３２の前側に突き出た状態とされる。

上述したとおり、挿入検査ピンユニット２３は、金属により形成されており、各挿入検査ピン部２３１も、金属により形成されることになる。したがって、挿入検査ピン部２３１は、例えばこれが樹脂で形成される場合に比べて、強度が高い。このため、例えば、ランス９２２の撓み空間９２３が狭い小型のコネクタ９に対応するべく、挿入検査ピン部２３１の形状を細くした場合であっても、挿入検査ピン部２３１に十分な強度をもたせることが可能となり、挿入検査ピン部２３１の変形や折れを十分に抑制できる。また、挿入検査ピンユニット２３は、一群の挿入検査ピン部２３１の基端部に、これらよりも外形が大きい連結ブロック部２３２が設けられた形状となっており、この連結ブロック部２３２が設けられることによって、挿入検査ピンユニット２３全体としても十分な強度が担保されている。

＜絶縁部材２４＞
絶縁部材２４は、絶縁材料（具体的には、例えば、樹脂など）により形成される部材であり、ピンユニット２０が備える一群の導通検査ピン２１と挿入検査ピンユニット２３との間に配置されて、一群の導通検査ピン２１と挿入検査ピンユニット２３とを電気的に絶縁する。絶縁部材２４の外形は、収容空間２３２０と略同一形状とされ、その外周は、収容空間２３２０に収容可能なように、収容空間２３２０よりも一回り小さい寸法に形成される。また、絶縁部材２４の前後に沿う長さは、収容空間２３２０の前後に沿う長さよりも僅かに短い（具体的には、導通検査ピン２１のフランジ２１１１の厚み分だけ短い）寸法とされる。

絶縁部材２４には、その前端面から後端面に貫通して設けられた挿通孔２４１が、複数個形成される。各挿通孔２４１の内部には、導通検査ピン２１のロッド部２１１が挿通される。各挿通孔２４１は、連結ブロック部２３２の前端面に形成されている貫通孔２３２１と対応する位置に形成されており、挿通孔２４１内を挿通された導通検査ピン２１の接触部２１２は、上述したとおり、対応する貫通孔２３２１を介して、連結ブロック部２３２の前側に突き出た状態とされる。

＜ｂ．組立態様＞
ピンユニット２０の組立態様について、引き続き、図５、図６を参照しながら説明する。上述したとおり、ピンユニット２０が備える一群の導通検査ピン２１は、共通の連結部２２に圧入されることによって、当該連結部２２を介して一体に保持される。この一体に保持された一群の導通検査ピン２１の前側から、絶縁部材２４が配設される。具体的には、絶縁部材２４の各挿通孔２４１に、導通検査ピン２１のロッド部２１１におけるフランジ２１１１よりも前側の部分が挿通された状態となされる。

続いて、一群の導通検査ピン２１の前側から、挿入検査ピンユニット２３が配設されるとともに、挿入検査ピンユニット２３と連結部２２とが、連結部２２の長尺方向の端部において、ビス２２２などで互いに固定される。これによって、一群の導通検査ピン２１と挿入検査ピンユニット２３とが、その間に絶縁部材２４を挟み込んだ状態で、一体に保持されることになり、連結ブロック部２３２の各貫通孔２３２１から、導通検査ピン２１の接触部２１２が突き出た状態となる。これによって、ピンユニット２０が得られる。

このようにして得られるピンユニット２０において、導通検査ピン２１のフランジ２１１１は、連結部２２の前端面と絶縁部材２４の後端面との間に挟み込まれた状態となり、さらに、絶縁部材２４の前端面は、収容空間２３２０の前端面に当接した状態となる。つまり、挿入検査ピンユニット２３は、絶縁部材２４を介して、各導通検査ピン２１のフランジ２１１１を、連結部２２に押しあてる。したがって、各導通検査ピン２１が、連結部２２に対して前方に位置ずれを起こす、といった事態が生じないようになっている。

また、ピンユニット２０において、一群の導通検査ピン２１と挿入検査ピンユニット２３との間に、絶縁部材２４が挟み込まれた状態となっており、各導通検査ピン２１は、この絶縁部材２４によって、挿入検査ピンユニット２３と電気的に絶縁された状態となる。したがって、各導通検査ピン２１同士が、挿入検査ピンユニット２３を介して電気的に導通する、といった事態が生じないようになっている。これによって、導通検査の信頼性が担保される。

なお、ピンユニット２０において、収容空間２３２０の前後の深さを深くするとともにこれに応じて絶縁部材２４の前後に沿う長さを長くすれば、導通検査ピン２１のロッド部２１１が、絶縁部材２４の挿通孔２４１に挿通される部分の長さが長くなる。その結果、導通検査ピン２１を十分に絶縁することができるという利点が得られる。一方、収容空間２３２０の前後の深さを浅くするとともにこれに応じて絶縁部材２４の前後に沿う長さを短く抑えれば、収容空間２３２０を形成する加工が比較的簡単になるという利点が得られる。

＜ｃ．支持部材２００＞
再び図２〜図４を参照する。上述したとおり、検査部１３は、複数のピンユニット２０を備える。検査部１３が備える当該一群のピンユニット２０は、収容凹部１３０内で前後に変位可能に配置された支持部材２００に支持されており、これによって、ピンユニット２０が、ホルダ１２に保持されているコネクタ９に対して近接離間する方向に進退可能に配設される。

支持部材２００は、具体的には、例えば、平面視矩形状の薄板部材であり、その主面に、各ピンユニット２０が備える一群の導通検査ピン２１の各ロッド部２１１を挿通させる貫通孔２０１が形成されている。この貫通孔２０１に、検査部１３が備える一群のピンユニット２０の各々の各導通検査ピン２１のロッド部２１１（具体的には、ロッド部２１１における連結部２２の後方側に突き出る部分）が挿通されることによって、当該一群のピンユニット２０が、共通の支持部材２００に支持されることになる。ただし、貫通孔２０１の内径は、ロッド部２１１の外径よりも僅かに大きく形成されており、ロッド部２１１が、貫通孔２０１内で前後にスライド移動できるようになっている。

＜ii．付勢部３０＞
付勢部３０の構成について、引き続き図２〜図４を参照しながら説明する。付勢部３０は、検査部１３が備える一群のピンユニット２０を、ホルダ１２に保持されているコネクタ９に接近させる方向に、弾性的に付勢する。ただし、上述したとおり、検査部１３が備える一群のピンユニット２０は、収容凹部１３０内で前後に変位可能に配置された支持部材２００に支持されており、付勢部３０は、この支持部材２００に当接してこれを当該コネクタ９に接近させる方向に付勢することによって、支持部材２００に支持されている一群のピンユニット２０を、当該コネクタ９に接近させる方向に付勢する。

付勢部３０は、具体的には、例えば、複数（図示の例では、４個）の進退ロッド３１を含んで構成される。ここにおいて、各進退ロッド３１は、支持部材２００の後端面に一端が固定された軸部３１１と、軸部３１１に外嵌されたコイルバネ３１２とを備える。一群の進退ロッド３１の各軸部３１１は、例えば、平面視矩形状に形成されている支持部材２００の四隅の各々に設けられる。また、各コイルバネ３１２は、後方部材１３３の前端面と支持部材２００の後端面との間に、縮短状態で配設される。この構成によると、支持部材２００は、一群のコイルバネ３１２によって、前方に弾性的に付勢され、これによって、支持部材２００に支持された一群のピンユニット２０が、前方（すなわち、ホルダ１２に保持されたコネクタ９に接近する方向）に、弾性的に付勢されることになる。

例えば、支持部材２００に支持されている一群のピンユニット２０の全てにおいて、各挿入検査ピン部２３１がコネクタ９のハウジング９２内で何にも突き当たらずに撓み空間９２３内に真っ直ぐに挿入され得る状況を想定する。この状況においては、付勢部３０の付勢力を受けて支持部材２００が前方に付勢されることによって、支持部材２００の前端面が各ピンユニット２０の連結部２２の後端面に突き当たった状態となり、さらに、各ピンユニット２０の連結部２２の前端面の一部がカバー部材１３２の後端面に突き当たった状態となる（図３〜図４、図８〜図９に示される状態）。この状態における支持部材２００の位置を、以下「正常位置」ともいう。

一方、支持部材２００に支持されている一群のピンユニット２０の少なくとも１つにおいて、いずれかの挿入検査ピン部２３１が、コネクタ９のハウジング９２内で何かに突き当たった状態となると、挿入検査ピン部２３１がコネクタ９内に深く入り込むことができず、当該ピンユニット２０は、付勢部３０の弾性力に逆らって、上記の位置から後方に位置ずれを起こすことになる（つまり、ピンユニット２０の連結部２２の前端面とカバー部材１３２の後端面との間に隙間ができる）。その結果、支持部材２００は、正常位置よりも後方側に位置ずれを起こすことになる（図１０〜図１３に示される状態）。

＜iii．位置検知部４０＞
位置検知部４０は、検査部１３が備える一群のピンユニット２０の進退方向に沿う位置を検知する。ただし、上述したとおり、一群のピンユニット２０は、共通の支持部材２００に支持されており、位置検知部４０は、この支持部材２００の進退方向に沿う位置を検知することによって、ピンユニット２０の進退方向に沿う位置を検知する。

位置検知部４０は、具体的には、例えば、支持部材２００の位置を検知する位置検知スイッチ４１と、位置検知スイッチ４１と接続された回路部４２と、位置検知スイッチ４１の検出結果に基づいて一群のピンユニット２０の位置状態を判定する判定部４３とを備える。

位置検知スイッチ４１は、具体的には、例えば、接点を内蔵した直方体状の本体部４１１と、その上面から突出したボタン部４１２とを含む一般的なマイクロスイッチにより構成され（図１１、図１３参照）、例えば、通常状態で内部の接点がオフ状態となっており、ボタン部４１２が押圧されると当該押圧力が内部の接点に伝達されて当該接点がオン状態に切り替るようになっている。この位置検知スイッチ４１は、ボタン部４１２が、正常位置にある支持部材２００の下端面と対向する位置にくるように配設される。したがって、支持部材２００が正常位置にある状態では、ボタン部４１２が押圧されてオン状態が維持され、支持部材２００が正常位置よりも後方に位置ずれを起こすと、ボタン部４１２の押圧状態が解除されてオフ状態に切り替る。

回路部４２は、例えば、図７に示されるように、位置検知スイッチ４１、および、有無検知スイッチ５０が、導線等により直列に接続された構成とすることができる。ここで、有無検知スイッチ５０は、ホルダ１２にコネクタ９が保持されているか否かを検知するスイッチである。有無検知スイッチ５０は、具体的には、例えば、ホルダ１２に保持されるコネクタ９（図示の例では、当該コネクタ９に取り付けられたクランプ）に接触可能な位置に配置され、ホルダ１２にコネクタ９が保持された状態で、オン状態を維持し、ホルダ１２にコネクタ９が保持されていない状態となると、オフ状態に切り替るように設けられたスイッチである。

この回路部４２は、位置検知スイッチ４１と有無検知スイッチ５０との両方が電気的に閉状態となった場合に、全体として導通する。ただし、ここでは、例えば、位置検知スイッチ４１は、オフ状態（すなわち、支持部材２００が正常位置にない状態）で電気的に閉状態となるように設定され、有無検知スイッチ５０は、オン状態（すなわち、コネクタ９がホルダ１２に保持されている状態）で電気的に閉状態となるように設定される。つまり、回路部４２は、コネクタ９がホルダ１２に保持されており、かつ、支持部材２００が正常位置にない場合に、導通状態となる。

判定部４３は、回路部４２の導通の有無に応じて、一群のピンユニット２０の位置状態を判定する。すなわち、判定部４３は、回路部４２に対して直列に接続されており、コネクタ９がホルダ１２に保持されている状況において、回路部４２が非導通状態の場合に、一群のピンユニット２０の位置状態について肯定的な判定結果を出力し、回路部４２が導通状態の場合に、一群のピンユニット２０の位置状態について否定的な判定結果を出力する。つまり、判定部４３は、コネクタ９がホルダ１２に保持されている状況において、支持部材２００が正常位置にない場合に、一群のピンユニット２０の位置状態について否定的な判定結果を出力することになる。判定部４３は、具体的には、例えば、電源と電球、ブザー、あるいは、判定結果を表示できる液晶ディスプレイ等の表示装置などを用いて構成することができる。

＜３．検査の態様＞
コネクタ検査装置１００における検査の態様について説明する。コネクタ検査装置１００において、コネクタ９を検査する場合、まず、検査対象となるコネクタ９がホルダ１２に保持された状態とされる。続いて、レバー１４が操作されることによって、検査部１３がセット位置から検査位置に移動される。この状態において、検査部１３が備える一群のピンユニット２０は、付勢部３０からの付勢力を受けて、ホルダ１２に保持されているコネクタ９に接近する方向に弾性的に付勢される。

コネクタ検査装置１００は、この状態において、導通検査ピン２１の導通が確認され、かつ、判定部４３が一群のピンユニット２０の位置状態について肯定的な判定結果を出力した場合に、検査対象となるコネクタ９が良品であると判定する。この構成によると、以下に例示する様々な状況において、信頼できる判定結果を得ることができる。

＜ａ．コネクタ９が良品の場合＞
図８、図９を参照する。いま、検査対象となるコネクタ９が良品であるとする。この場合、ランス９２２が端子９１に引っ掛かった状態となっており、ランス９２２は、撓み空間９２３から退避した状態となっている。

上述したとおり、コネクタ検査装置１００において、検査部１３がセット位置から検査位置に移動されると、検査部１３が備える一群のピンユニット２０は、付勢部３０からの付勢力を受けて、ホルダ１２に保持されているコネクタ９に接近する方向に弾性的に付勢される。ここで、コネクタ９が良品の場合、各ピンユニット２０の各挿入検査ピン部２３１は、コネクタ９のハウジング９２内で何にも突き当たらずに撓み空間９２３内に真っ直ぐに挿入され、各ピンユニット２０は、連結部２２の前端面の一部がカバー部材１３２に突き当たった状態となる。その結果、支持部材２００は正常位置に配置される。この状態で、導通検査ピン２１の接触部２１２は、端子９１に接触し、電気的な導通が得られる。

つまり、コネクタ９が良品である場合、導通検査ピン２１の導通が確認されるとともに、判定部４３から一群のピンユニット２０の位置状態について肯定的な判定結果が出力されることになり、コネクタ検査装置１００は、検査対象となるコネクタ９が良品である旨の肯定的な判定結果を出力する。このように、コネクタ検査装置１００においては、半挿入状態となっている端子９１が存在しないコネクタ９を、良品として正しく判定することができる。

＜ｂ．コネクタ９が良品でない場合＞
図１０、図１１を参照する。いま、検査対象となるコネクタ９において、少なくとも１つの端子９１が半挿入状態となっているとする。この場合、半挿入状態となっている端子９１には、ランス９２２が引っ掛かった状態となっておらず、ランス９２２は、撓み空間９２３内に突出した状態となっている。

上述したとおり、コネクタ検査装置１００において、検査部１３がセット位置から検査位置に移動されると、検査部１３が備える一群のピンユニット２０は、付勢部３０からの付勢力を受けて、ホルダ１２に保持されているコネクタ９に接近する方向に弾性的に付勢される。ここで、コネクタ９に半挿入状態の端子９１がある場合、当該端子９１と対応するランス９２２の撓み空間９２３に挿入される挿入検査ピン部２３１は、当該撓み空間９２３内に突出しているランス９２２に突き当たり、撓み空間９２３内に深く入り込むことができず、当該ピンユニット２０は、付勢部３０の弾性力に逆らって、後方に位置ずれを起こすことになる。その結果、支持部材２００は正常位置よりも後方にずれた位置に配置される。この状態では、導通検査ピン２１の接触部２１２は、端子９１に接触できず、電気的な導通が得られない。

つまり、コネクタ９が良品でない場合、導通検査ピン２１の導通が確認されず、判定部４３から一群のピンユニット２０の位置状態について否定的な判定結果が出力されることになり、コネクタ検査装置１００は、否定的な判定結果を出力する。このように、コネクタ検査装置１００においては、半挿入状態となっている端子９１が存在するコネクタ９を、良品でないとして正しく判定することができる。

また、上記の例において、仮に、例えば、導通検査ピン２１と端子９１との間に金属片などが混入しているために、導通検査ピン２１の導通が確認されてしまったとしても、判定部４３から一群のピンユニット２０の位置状態について否定的な判定結果が出力されるので、コネクタ検査装置１００は、否定的な判定結果を出力する。したがって、コネクタ検査装置１００は、半挿入状態となっている端子９１が存在するコネクタ９を、良品として誤判定するおそれがない。

＜ｃ．ピンユニット２０に変形が生じている場合＞
図１２、図１３を参照する。いま、検査部１３が備える一群のピンユニット２０の少なくとも１つのピンユニット２０において、少なくとも１つの挿入検査ピン部２３１に、曲がりなどの変形が生じているとする。

上述したとおり、コネクタ検査装置１００において、検査部１３がセット位置から検査位置に移動されると、検査部１３が備える一群のピンユニット２０は、付勢部３０からの付勢力を受けて、ホルダ１２に保持されているコネクタ９に接近する方向に弾性的に付勢される。ここで、少なくとも１つの挿入検査ピン部２３１が曲がっている場合、この曲がった挿入検査ピン部２３１は、撓み空間９２３内に真っ直ぐに入り込むことができず、例えば、端子９１に突き当たる可能性がある。

一方、曲がった挿入検査ピン部２３１は、近傍の導通検査ピン２１に接触している可能性もある。ここでは、挿入検査ピン部２３１は金属により形成されているため、曲がった挿入検査ピンユニット２３が、途中で導通検査ピン２１に接触しつつ、先端で端子９１に接触してしまうと、導通検査ピン２１の接触部２１２が端子９１に接触していないにもかかわらず、挿入検査ピン部２３１を介して、導通検査ピン２１の電気的な導通が得られてしまう可能性がある。つまり、仮に、検査対象となるコネクタ９に、半挿入状態となっている端子９１が存在していたとしても、導通検査ピン２１の導通が確認されてしまう可能性がある。

ところが、このような状況においては、挿入検査ピン部２３１の先端が端子９１に突き当たった状態となっているため、当該ピンユニット２０は、付勢部３０の弾性力に逆らって、上記の位置から後方に位置ずれを起こすことになる。その結果、支持部材２００が正常位置よりも後方にずれた位置に配置される。つまり、このような状況においては、判定部４３から一群のピンユニット２０の位置状態について否定的な判定結果が出力されることになる。このため、コネクタ検査装置１００は、たとえ導通検査ピン２１による導通が確認されたとしても、否定的な判定結果を出力する。このように、コネクタ検査装置１００においては、半挿入状態となっている端子９１が存在するコネクタ９を、良品として誤判定するおそれがない。

＜４．効果＞
上記の実施の形態によると、コネクタ９に対して進退可能に配置されたピンユニット２０の進退方向に沿う位置を検知する位置検知部４０を備える。この構成によると、導通検査ピン２１と端子９１との間に電気的な導通が取られるか否かの情報に加え、さらに、ピンユニット２０の位置が適切であるか否かの情報を加味して、コネクタ９を良否判定することができる。したがって、誤判定の可能性が低減され、信頼できる判定結果を得ることができる。

また、上記の実施の形態によると、挿入検査ピンユニット２３が、金属により形成されている。この構成によると、例えば、ランス９２２の撓み空間９２３が狭い小型のコネクタ９に対応するべく、挿入検査ピン部２３１の形状を細くした場合であっても、挿入検査ピン部２３１に十分な強度をもたせることが可能となり、挿入検査ピン部２３１の変形や折れを十分に抑制できる。

また、上記の実施の形態によると、複数の導通検査ピン２１が挿入検査ピンユニット２３を介して互いに導通することが回避され、これによって、導通検査の信頼性を担保できる。

また、上記の実施の形態によると、複数のピンユニット２０が共通の支持部材２００に支持される。この構成によると、支持部材２００の位置を検知することによって、複数のピンユニット２０のいずれかにおける位置ずれを、効率的に検知することができる。例えば、各ピンユニット２０の位置を個別に検知する構成とした場合、ピンユニット２０の個数と同数個の位置検知スイッチ４１等を設ける必要があるところ、上記の実施の形態では、位置検知スイッチ４１等は１つですむため、スペース効率が向上するとともに、製造コストも抑えられる。

＜５．変形例＞
上述した実施の各形態は本発明の好ましい具体例を例示したものに過ぎず、本発明は上述した実施の形態に限定されない。

例えば、上記の実施の形態においては、挿入検査ピンユニット２３は金属により形成されているとしたが、挿入検査ピンユニット２３は必ずしも金属である必要がなく、例えば、樹脂により形成されてもよい。挿入検査ピンユニット２３を樹脂により形成する場合、絶縁部材２４は省略されるとともに、収容空間２３２０も形成されない。

例えば、導通検査ピン２１の先端に微小なゴミなどが付着している場合、コネクタ９が良品であり（すなわち、ランス９２２が端子９１に適切に引っ掛かっており）、挿入検査ピン部２３１がランス９２２の撓み空間９２３に深く差し込まれて導通検査ピン２１が端子９１と当接可能な位置まで差し込まれた状態となっているにもかかわらず、導通が確認されない可能性がある。仮に、位置検知部４０を備えないとすると、このような状況が生じた場合に、これをコネクタ検査装置側の不備として検知する術がなく、当該コネクタ検査装置にて検査されたコネクタの全てが、良品でないと判定され続けてしまう。これに対し、この変形例に係るコネクタ検査装置１００では、このような状況では、導通検査ピン２１の導通が確認されないにもかかわらず、判定部４３が一群のピンユニット２０の位置状態について肯定的な判定結果を出力することになるので、導通検査ピン２１の先端に微小なゴミが付着しているために導通が確認されていない可能性があると速やかに検知できる。

また、上記の実施の形態においては、検査部１３備える複数のピンユニット２０の全てが、共通の支持部材２００に支持されるとしたが、必ずしもこの構成である必要はない。例えば、複数個の支持部材２００を設け、各支持部材２００に１以上のピンユニット２０をそれぞれ支持させる構成としてもよい。この場合、複数の支持部材２００の各々に対応する位置検知スイッチ４１を設ければよい。

また、上記の実施の形態においては、支持部材２００の位置を検知することによって、これに支持されているピンユニット２０の位置を検知していたが、支持部材２００を設けずに、検査部１３が備える１以上のピンユニット２０の各位置を個別に検出する構成としてもよい。この場合、検査部１３が備える１以上のピンユニット２０の各々に対応する位置検知スイッチ４１を設ければよい。また、検査部１３が備える１以上のピンユニット２０の各々を付勢する付勢部３０を別個に設ければよい。

また、上記の実施の形態において、検査部１３が備えるピンユニット２０の個数は、いくつであってもよく、例えば１個であってもよい。また、上記の実施の形態において、１個のピンユニット２０が備える導通検査ピン２１の個数は、いくつであってもよく、例えば１個であってもよい。

また、検査部１３をホルダ１２に対して相対的に移動させる構成は、上記に例示したものに限られず、例えば、レバー１４とブロック体１３１とがリンク部材などにより連結された構成であってもよいし、ブロック体１３１をリニアモータなどにより駆動する構成であってもよい。また、ブロック体１３１に対してホルダ１２が移動される構成であってもよい。

９コネクタ
９１端子
９２ハウジング
９２２ランス
１２ホルダ
１３検査部
１４レバー
２０ピンユニット
２１導通検査ピン
２２連結部
２３挿入検査ピンユニット
２３１挿入検査ピン部
２４絶縁部材
２００支持部材
３０付勢部
４０位置検知部
４１位置検知スイッチ
４２回路部
４３判定部
１００コネクタ検査装置

Claims

ハウジング内に端子が収容されており、前記ハウジング内に設けられた撓み変形できるランスが、正規位置で復元変形して前記端子に引っ掛かることにより、前記端子の抜け止めがなされるコネクタを、検査するコネクタ検査装置であって、
前記コネクタに対して近接離間する方向に進退可能に配置されたピンユニットと、
前記ピンユニットを、前記コネクタに接近させる方向に弾性的に付勢する付勢部と、
前記ピンユニットの進退方向に沿う位置を検知する位置検知部と、
を備え、
前記ピンユニットが、
前記端子との間の電気的導通の有無に基づいて前記端子の導通検査を行なう導通検査ピンと、
前記ランスの撓み空間に進入する挿入検査ピンと、
を備える、コネクタ検査装置。
請求項１に記載のコネクタ検査装置であって、
前記挿入検査ピンが、金属により形成されている、
コネクタ検査装置。
請求項２に記載のコネクタ検査装置であって、
前記ピンユニットが、前記導通検査ピンを複数備えるとともに、前記挿入検査ピンを複数備え、
前記複数の挿入検査ピンが連結ブロックを介して一体的に形成されることにより１個の挿入検査ピンユニットを形成しており、
前記ピンユニットが、
前記複数の導通検査ピンと前記挿入検査ピンユニットとの間に配置され、前記複数の導通検査ピンと前記挿入検査ピンユニットとを電気的に絶縁する絶縁部材、
をさらに備える、コネクタ検査装置。
請求項１に記載のコネクタ検査装置であって、
前記挿入検査ピンが、樹脂により形成されている、
コネクタ検査装置。
請求項１から４のいずれかに記載のコネクタ検査装置であって、
前記ピンユニットを支持し、前記ピンユニットの進退方向に進退可能に配置された支持部材、
を備え、
前記付勢部が、前記支持部材に当接してこれを前記コネクタに接近させる方向に付勢することによって、前記支持部材に支持されている前記ピンユニットを、前記コネクタに接近させる方向に付勢し、
前記位置検知部が、前記支持部材の前記進退方向に沿う位置を検知することによって、前記ピンユニットの前記進退方向に沿う位置を検知する、
コネクタ検査装置。
請求項５に記載のコネクタ検査装置であって、
前記ピンユニットを複数備え、
前記複数のピンユニットが、共通の前記支持部材に支持される、
コネクタ検査装置。