JPH0773949A - コネクタ検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 端子金具の装着不良を確実に検出でき、しか
も、ランスに損傷を与えることがないようにする。 【構成】 プローブホルダ１７からコネクタ４０側に向
けてランスチェックピン３０が突出され、これは各ラン
ス４４の下側に設けられている撓み空間４２ａ内に進入
可能な位置にある。このチェックピン３０がランス４４
に当たると、右側に移動して装着不良検出スイッチ３８
が作動する。このスイッチ３８は常閉形で、端子金具４
３に接触する導通検査用プローブ１８と直列接続されて
いる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はコネクタハウジング内に
挿入した端子金具の装着不良を検出するためのコネクタ
検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】コネクタは、一般にプラスチック製のコ
ネクタハウジング内に、電線の先端に圧着した端子金具
を装着して構成され、その端子金具はコネクタハウジン
グに一体に設けたランス（弾性係止爪）によって抜け止
め状態にされる。端子金具をコネクタハウジング内に挿
入すると、ランスはいったん撓み用の空間に向かって撓
み、端子金具が「正規位置」まで挿入されると、弾性的
に復元して端子金具と係合するようになり、もって端子
金具の抜け止めが行われる。この種の抜け止め構造を採
用した場合、端子金具がランスを撓ませるところまで挿
入されると、ある程度の摩擦力が端子金具に作用するた
め、端子金具は疑似的に抜け止め状態となってしまい、
端子金具の挿入作業を行っている作業者は完全挿入に至
ったと勘違いして作業を途中で止めてしまうことがあ
る。

【０００３】しかし、端子金具がコネクタハウジングの
ランスと係合する「正規位置」まで完全に挿入されてい
ないと、使用中に端子金具の抜けが発生する可能性があ
るため、端子の装着不良は事前にチェックして修正する
必要がある。そこで、従来、端子金具の装着不良を検出
するための各種のコネクタ検査装置が開発されており、
その一例として実公昭６２−４７０９３号公報に記載さ
れたものがある。これは、コネクタを所定の位置に保持
するコネクタホルダを有すると共に、このコネクタホル
ダに保持されたコネクタのランスに対向してランスチェ
ックピンを突出状に設けた構成で、各ランスチェックピ
ンはランスの撓み空間に向かって延びており、端子金具
が装着不良状態にあるときに撓み空間内に位置するラン
スの先端に接触するようになっている。この構成によれ
ば、コネクタホルダにコネクタをセットしようとしたと
き、万一、端子金具に装着不良があってランスが撓み空
間内に位置しているときには、ランスチェックピンがラ
ンスの先端に当たってコネクタのセットができなくなる
ため、その装着不良を発見できるのである。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記構成で
は、端子金具に装着不良がある状態で、コネクタをコネ
クタホルダに無理矢理セットするとランスチェックピン
の先端がランスに強く当たり、プラスチック製のランス
を変形させてしまうことがあった。万一、このような変
形を生じさせると、コネクタはコネクタホルダにセット
されてしまうため、端子金具の装着不良を発見できなく
なり、その上、ランスに損傷を与えてコネクタを使用不
能にしてしまう。このようなランスの損傷は、特に、カ
ム機構等を用いてランスチェックピンをコネクタハウジ
ング内に強制的に進出させるようにした装置では発生し
易く、この点が検査の機械化の妨げになっていた。

【０００５】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、従って、端子金具の装着不良を確実に発見できて信
頼性が高い検査を行うことができ、しかもランスに損傷
を与えることを防止できるコネクタ検査装置を提供する
ことを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係るコネクタ検査装置は、検査されるコネ
クタを所定位置に保持するコネクタホルダと、このコネ
クタホルダに保持されたコネクタのランスに対向して突
出するように設けられ端子金具が装着不良状態にあると
きのランスに接触可能なランスチェックピンとを備え、
そのランスチェックピンを、その延長方向に沿って移動
可能にして弾性体にて先方側に付勢すると共に、そのラ
ンスチェックピンがランスに当接して後退したことを検
出する装着不良検出スイッチを設けたところに特徴を有
する（請求項１の発明）。

【０００７】また、上述のランスチェックピンに加え
て、正規位置に装着されている端子金具に接触する導通
検査用プローブを設けるようにしてもよい（請求項２の
発明）。更に、上述のように導通検査用プローブを設け
る場合、装着不良検出スイッチをランスチェックピンが
後退したときにオフ作動する常閉形スイッチとすると共
に、導通検査用プローブを上記装着不良検出スイッチを
直列に介して導通検査回路に接続する構成とすることが
できる（請求項３の発明）。

【０００８】

【作用】請求項１のコネクタ検査装置では、コネクタホ
ルダに保持されたコネクタにおいて、端子金具が正規位
置にあるときにはランスチェックピンがランスに接触せ
ず、装着不良検出スイッチは作動しない。しかし、端子
金具が装着不良状態にあると、ランスにランスチェック
ピンが当接して後退するため、これが装着不良検出スイ
ッチにて検出される。このとき、ランスチェックピンは
延長方向に沿って移動可能であり、弾性体にて先方側に
付勢されているから、ランスチェックピンがランスに無
理矢理押し付けられても、弾性体を圧縮しつつランスチ
ェックピンが後退するから、ランスには過剰な力が作用
しない。

【０００９】請求項２の構成とすると、コネクタホルダ
にセットされたコネクタの端子金具が正規位置にあると
き、これに導通検査用プローブが接触することになり、
導通検査も同時に行うことができる。また、端子金具が
ランスを撓ませる位置にすら挿入されていないときには
導通検査用プローブに接触しないから、これも検出でき
る。

【００１０】更に、請求項３の検査装置では、ランスチ
ェックピンが後退して装着不良検出スイッチがオフ作動
したとき、又は、端子金具が正規位置になく導通検査用
プローブがこれに接触しないときのいずれかの場合に、
導通検査回路から遮断される。従って、端子金具がラン
スを撓み変形させる位置まで挿入された装着不良と、ラ
ンスを撓ませるに至らない位置での装着不良との双方の
不良をオア条件で検出でき、しかも、１個の端子金具に
ついて１回路で済ませることができるようになる。

【００１１】

【発明の効果】以上述べたように、本発明のコネクタ検
査装置によれば、ランスチェックピンがランスに当接す
ると、ランスチェックピンが後退して装着不良検出スイ
ッチが作動するから、端子金具の装着不良を確実に検出
することができ、信頼性が高い。しかも、ランスには過
剰な力が作用しないから、ランスの損傷を確実に防止す
ることができる。

【００１２】特に、導通検査用プローブを設けた請求項
２のコネクタ検査装置によれば、ランスを撓ませるに至
らない位置での装着不良と端子金具の導通不良も同時に
検出することができるようになり、コネクタ及びワイヤ
ハーネスの検査を効率的に行うことができる。更に、請
求項３のコネクタ検査装置によれば、高機能でありなが
ら、回路数が減少するので構成が極めて簡単になる。

【００１３】

【実施例】＜第１実施例＞以下、本発明の第１実施例に
ついて図１ないし図５を参照して説明する。まず、本実
施例の検査装置１０を使用して検査されるコネクタ４０
の構造について説明する。コネクタハウジング４１はプ
ラスチック製で、全体として長方形状をなすように成形
され、内部に２段に分けて複数のキャビティ４２が形成
されている。各キャビティ４２は前後に貫通する形状
で、この中に端子金具４３が後側（図１左側）から挿入
され、その端子金具４３を抜け止め状態に固定するため
にランス４４がコネクタハウジング４１に一体に設けら
れている。

【００１４】ランス４４は先端近くに係止部を有する弾
性変形可能な突片状をなし、キャビティ４２内にはラン
ス４４の下側への弾性変形を許容するための撓み空間４
２ａが形成されている。また、端子金具４３は、この実
施例では図示しない相手方のコネクタの雄形端子金具と
対をなす雌形をなしており、電線４５が圧着された周知
の構造である。この端子金具４３がキャビティ４２内に
挿入されると、端子金具４３の先端がランス４４に当接
してこれを撓み空間４２ａ側に弾性変形させ、端子金具
４３がキャビティ４２の最奥部まで挿入されると、挿入
途中に弾性変形していたランス４４が端子金具４３の係
合孔（図示せず）に遭遇して元位置に復元し、その係合
孔に係止部が係合し、もってその端子金具４３が抜け止
め状態となる。なお、上述したランス４４の係合の様子
を表すため、図１のコネクタ４０の上段に描いた端子金
具４３については、「正規位置」にまで挿入されてラン
ス４４と完全係合した状態を示し、下段に描いた端子金
具４３については、「正規位置」には至らず、ランス４
４を撓み空間４２ａ側に弾性変形させたところまで挿入
された状態を示してある。

【００１５】次に、上記コネクタ４０を検査するための
検査装置１０について説明する。検査装置１０はコネク
タハウジング４１を上下から挟む寸法で対向する２枚の
基板１１を有し、これを利用してコネクタホルダ１２が
構成されている。下側の基板１１の左端部は下向きに屈
曲して下端に取付部１３が形成されると共に、その屈曲
部にロック爪１４がガイド部材１５に案内されて上下動
可能に保持されている。このロック爪１４の上端部はコ
ネクタ挿入側（図中左側）に斜面部１４ａが形成される
と共に圧縮スプリング１４ｂにて常時上方に付勢されて
いる。上記コネクタホルダ１２にコネクタ４０を図中左
側から挿入すると、ロック爪１４の斜面部１４ａに従っ
てロック爪１４が下方に押し下げられながらコネクタ４
０が進入し、完全挿入された状態でロック爪１４が上方
に復元してコネクタ４０の抜け止めが行われる。また、
ロック爪１４に取り付けたロック解除部１６を引き下げ
ると、ロック爪１４が引き下げられてコネクタ４０を抜
き出すことができるようになる。

【００１６】さて、上記基板１１間にはプローブホルダ
１７が設けられ、ここにコネクタ４０の各端子金具４３
に対応して導通検査用プローブ１８が設けられている。
これは、先端のプローブ本体１９をスプリング２０にて
常時先方側に付勢する構成であり、コネクタホルダ１２
に装着されたコネクタ４０の端子金具４３の先端に接触
してこれと電気的に導通するようになっている。なお、
そのプローブ本体１９の突出量は、コネクタホルダ１２
にセットされたコネクタ４０の端子金具４３が「正規位
置」（図１に描かれた２個のうち上段の端子金具４３の
位置）にある場合、及び、「正規位置」には至らないが
ランス４４を押し下げる位置（図１に描かれた２個のう
ち下段の端子金具４３の位置：以下これを「半挿入位
置」という）にある場合にはプローブ本体１９と端子金
具４３とが接触するが、端子金具４３が半挿入位置にも
至らないような位置（図５に描かれた２個のうち下段の
端子金具４３の位置：以下これを「未挿入位置」とい
う）にある場合には両者が接触しないような寸法に設定
されている。

【００１７】また、上記各導通検査用プローブ１８の下
には、ランスチェックピン３０がコネクタハウジング４
１の各ランス４４に対応して設けられている。これは、
プローブホルダ１７からコネクタ４０側に向けて突出す
る形態で、コネクタ４０がコネクタホルダ１２に装着さ
れるときに、各ランス４４の下側に設けられている撓み
空間４２ａ内に進入可能な位置にあり、その基端部は図
２に示すような構造となっている。これを詳述するに、
チェックピン本体３１の基端部はプローブホルダ１７に
取り付けた導電性のガイド筒３２に絶縁筒３３を介して
その延長方向に沿って移動可能に保持され、その絶縁筒
３３内に設けた接点鍔部３１ａと絶縁スペーサ３４との
間に設けた弾性体に相当する圧縮スプリング３５によっ
て常時左方向（ランスチェックピン３０の先方側）に付
勢されている。このチェックピン本体３１の端部には抜
け止め鍔部３１ｂが形成され、これが絶縁ホルダ３６に
設けた電極筒３７に電気的に接触した状態にある。これ
らの構造は装着不良検出スイッチ３８を構成し、チェッ
クピン本体３１が図２に示す状態にあるときには、ガイ
ド筒３２と電極筒３７とがチェックピン本体３１を介し
て電気的に導通状態となり、その状態からチェックピン
本体３１が図中右方向に押されると、チェックピン本体
３１の接点鍔部３１ａがガイド筒３２から離れて電気的
に非道通状態となる。すなわち、この装着不良検出スイ
ッチ３８は常閉形スイッチとして構成されている。

【００１８】そして、この装着不良検出スイッチ３８に
は前記導通検査用プローブ１８が直列接続されて導通検
査回路３９に接続されており、１つの端子金具４３につ
いての電気的接続関係を示すと図３のようになる。ここ
で、導通検査回路３９は、ワイヤハーネスとして組み上
げられた状態のコネクタ４０の各キャビティ４２に正し
い端子金具４３が挿入されているか否かを検査するもの
で、内部に導通検査用の電源を備え、ワイヤハーネスの
両端にある２つのコネクタ４０の所定の端子金具４３間
に電流が流れるか否かに基づき検査を行う周知の構成で
ある。

【００１９】次に、本実施例の作用を説明する。予め、
各電線４５の先端に圧着された端子金具４３がコネクタ
ハウジング４１の所定のキャビティ４２に奥一杯まで挿
入され、併せて、多数の電線４５をテーピング等によっ
て束ねてワイヤハーネスとして組み上げられた状態で次
のように端子金具４３の装着不良検査及び導通検査が行
われる。ここで、検査すべきワイヤハーネスは所定の検
査板上に載せられ、そのコネクタ４０が前記コネクタ検
査装置１０のコネクタホルダ１２内にセットされる。

【００２０】まず、コネクタ４０がコネクタホルダ１２
にセットされると、コネクタハウジング４１の後縁部に
ロック爪１４が係合してコネクタ４０は図４に示すよう
に抜け止め状態となる。このとき、図４の上段に示すも
ののように、コネクタ４０の端子金具４３がコネクタハ
ウジング４１のランス４４と係合する「正規位置」にあ
れば、ランス４４の下方の撓み空間４２ａは開放した状
態にあるから、ここにランスチェックピン３０の先端部
が進入する。従って、チェックピン本体３１は移動する
ことなく装着不良検出スイッチ３８はオン状態を維持す
る。また、これと同時に、同図に示すように導通検査用
プローブ１８の先端が端子金具４３に接触することにな
り、端子金具４３から装着不良検出スイッチ３８を直列
に介した電気回路が構成されるため、導通検査回路３９
によってこの端子金具４３が「正規位置」にあり、しか
も、所定のキャビティ４２内に装着されていることが確
認される。

【００２１】しかし、同図の下段に示すもののように端
子金具４３がランス４４と係合しない「半挿入位置」に
あるときには、その端子金具４３によってランス４４が
撓み空間４２ａ内に押し下げられている。このため、ラ
ンス４４にランスチェックピン３０の先端が当接し、チ
ェックピン本体３１が圧縮スプリング３５を圧縮しなが
ら右側に押し込められるため、チェックピン本体３１の
接点鍔部３１ａがガイド筒３２から離れて装着不良検出
スイッチ３８がオフ状態になる。この「半挿入位置」で
は導通検査用プローブ１８の先端も端子金具４３に当接
するため、導通検査用プローブ１８と端子金具４３とは
電気的に導通状態になるが、これと直列に接続されてい
る装着不良検出スイッチ３８がオフするため、導通検査
回路３９の入力側３９ａが電気的に浮いた状態になり、
導通検査回路３９によってこの端子金具４３部分におい
て異常があることが検出される。そして、上述のように
ランス４４が撓み空間４２ａ内に押し下げられている場
合にはランスチェックピン３０の先端がランス４４に当
接する。このため、コネクタ４０をコネクタホルダ１２
にセットする際の挿入抵抗が増大するが、これに構わず
コネクタ４０をコネクタホルダ１２にセットすれば良
い。チェックピン本体３１が圧縮スプリング３５を圧縮
しながら右側に押し込められることになるため、過剰な
圧力がランス４４に作用することがなく、ランス４４の
損傷は確実に防止できるからである。

【００２２】また、仮に、端子金具４３の挿入深さが図
５の下段に示したもののように「半挿入位置」よりも浅
い「未挿入位置」にあると、ランス４４は端子金具４３
が「正規位置」にある場合と同様に撓み空間４２ａより
も上に位置しているため、その撓み空間４２ａ内にラン
スチェックピン３０の先端が進入し、装着不良検出スイ
ッチ３８がオン状態を維持してしまう。しかし、端子金
具４３が「未挿入位置」にあるときには、端子金具４３
に導通検査用プローブ１８も接触しないため、導通検査
用プローブ１８と端子金具４３との電気的導通もとれ
ず、やはり、導通検査回路３９の入力側３９ａが電気的
に浮いた状態になり、導通検査回路３９によってこの端
子金具４３部分において異常があることが検出される。

【００２３】ちなみに、端子金具４３の位置と検査結果
との関係を整理して示すと次表のようになり、端子金具
４３が「正規位置」にある場合以外は、異常が検出され
ることが明らかである。 端子金具４３の位置 端子金具４３と導通 装着不良検出 検査結果 検査用プローブ１８ スイッチ３８ 「正規位置」 導通 オン 正常 「半挿入位置」 導通 オフ 異常 「未挿入位置」 非導通 オン 異常 このように本実施例によれば、ランスチェックピン３０
がランス４４に当接可能な状況で、コネクタ４０をコネ
クタホルダ１２に無理矢理にセットしたとしても、チェ
ックピン本体３１がその延長方向に移動可能であるか
ら、ランス４４から逃げるようにして後退し、ランス４
４に過剰が圧力が作用することはなく、ランス４４の損
傷に至ることを確実に防止することができる。また、プ
ローブホルダ１７に導通検査用プローブ１８を併せて設
けているから、コネクタホルダ１２にコネクタ４０をセ
ットするという１つの作業によって、ランス４４の位置
確認、すなわち端子金具４３が「正規位置」にあるか否
かの確認と、端子金具４３が所定のキャビティ４２に装
着されているか否かの確認とを同時的に行うことがで
き、検査作業が合理的となって能率化できる。

【００２４】しかも、特に本実施例では、装着不良検出
スイッチ３８を常閉形に構成し、これを導通検査用プロ
ーブ１８と直列接続したから、装着不良検出スイッチ３
８がオフ作動した場合（端子金具４３が「半挿入位置」
にある場合）、又は、導通検査用プローブ１８が端子金
具４３に接触しない場合（端子金具４３が「非挿入位
置」にある場合）に、導通検査回路３９の入力側３９ａ
が電気的に浮いた状態になり、それらの異常が簡単に検
出できる。仮に、本実施例のような直列接続回路を構成
しない場合には、装着不良検出スイッチ３８から２本、
導通検査用プローブ１８から１本のリード線を導出して
導通検査回路３９に接続し、更に、その導通検査回路３
９の内部にて両者のオア条件をとって不良検出を行うと
いう回路構成が必要になり、リード線の本数が極めて多
くなる上に、回路構成も複雑になる。これに対して本実
施例によれば、リード線の本数は１／３になり、導通検
査回路３９の回路構成も相当に簡単で低コスト化できる
という利点が得られる。

【００２５】＜第２実施例＞図６は本発明の第２実施例
を示したものである。前記第１実施例との基本的な相違
は、ランスチェックピン３０群をコネクタ４０側に向け
て機械的に移動させる構成としたところにある。その他
の構成は第１実施例と同様であるから、重複説明を省略
するために同一部分に同一符号を付し、異なるところの
みを詳述する。ランスチェックピン３０群及び導通検査
用プローブ１８群を保持するプローブホルダ１７は基板
５１上を図中左右方向に移動可能に設けられ、基板５１
に回動可能に設けたカムハンドル５２を回動操作するこ
とにより移動するようになっている。ここに設けたラン
スチェックピン３０及び導通検査用プローブ１８は、前
記実施例と同一の構成である。

【００２６】一方、基板５１の図中左端部にはコネクタ
ホルダ５３が固定して設けられている。これは、Ｕ字形
の支持ブロック５４とこれに着脱可能に取り付けたやは
りＵ字形をなすバックプレート５５とからなり、両者間
に上方が開放するコネクタ固定溝５６が形成されてい
る。このコネクタ固定溝５６には、コネクタハウジング
４１の外面から突出する突条（図示せず）が上方から嵌
め込まれ、もって両突条を上下に案内してコネクタハウ
ジング４１を支持ブロック５４間に挟んだ位置決め状態
に保持することができ、その状態でコネクタハウジング
４１は左右方向に移動不能となる。

【００２７】この構成では、まず、コネクタ４０を摘
み、これをコネクタホルダ５３に上から嵌め込むように
してセットする。そして、カムハンドル５２を回動操作
してプローブホルダ１７を図中左側に進出させると、ラ
ンスチェックピン３０及び導通検査用プローブ１８がコ
ネクタ４０側に進出し、前記実施例と同様にランスチェ
ックピン３０が先端がランス４４の下の撓み空間４２ａ
内に進入し、導通検査用プローブ１８が端子金具４３に
向かって移動する。これにて、前記第１実施例と同様
に、ランス４４の位置に基づいて端子金具４３の装着チ
ェックが行われると共に、導通検査用プローブ１８にて
端子金具４３の接続チェックが行われ、前記実施例と同
様な作用効果が得られる。

【００２８】なお、本発明は、上記各実施例に限定され
るものではなく、例えば次のような変形が可能である。

【００２９】前記実施例では、装着不良検出スイッチ３
８はチェックピン本体３１が押されたときに開放する常
閉形として構成したが、これに限らず、チェックピン本
体３１が押されたときに閉じる常開形として構成するこ
ともでき、その場合には、図７の構造が採用できる。同
図において、チェックピン本体３１は左右方向に移動可
能で圧縮スプリング６１にて常時左方向に付勢され、導
電材製のガイド筒６２内に固定した絶縁筒６３を介して
チェックピン本体３１と同軸に接点軸６４が固定されて
いる。常時は、チェックピン本体３１と接点軸６４とは
離れているが、チェックピン本体３１が押されて右方向
に移動すると、チェックピン本体３１の右端部と接点軸
６４の左端部とが接触し、ガイド筒６２、チェックピン
本体３１及び接点軸６４とを順に介する電気回路が構成
される。この構造を装着不良検出スイッチとして採用し
たときには、そのスイッチが閉じたときに端子金具の装
着不良があると判断すべきことは勿論である。

【００３０】その他、装着不良検出スイッチとしては、
機械的に接点を閉じるタイプのものに限らず、チェック
ピンの移動により光路を遮蔽或いは開放させることによ
りスイッチングを行う光電スイッチを使用しても良い、
或いは、圧力による抵抗値変化を利用した圧力スイッチ
を使用しても良い等、要旨を逸脱しない範囲内で種々変
更して実施することができるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施例に係るコネクタ検査装置の
全体を示す断面図

【図２】ランスチェックピンの要部を示す断面図

【図３】要部の電気回路図

【図４】コネクタの検査の様子を示す断面図

【図５】図４とは異なるコネクタの検査の様子を示す断
面図

【図６】本発明の第２実施例を示す断面図

【図７】ランスチェックピンの変形例を示す断面図

【符号の説明】

１２…コネクタホルダ １８…導通検査用プローブ ３０…ランスチェックピン ３１…チェックピン本体 ３５…圧縮スプリング ３８…装着不良検出スイッチ ３９…導通検査回路 ４０…コネクタ ４２…キャビティ ４２ａ…撓み空間 ４３…端子金具 ４４…ランス ４５…電線

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高荷 敦 三重県四日市市西末広町１番14号 住友電 装株式会社内

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 コネクタハウジングに挿入した端子金具
   を前記コネクタハウジングに一体成形したランスにて抜
   け止め状態としたコネクタを検査する装置であって、 検査される前記コネクタを所定位置に保持するコネクタ
   ホルダと、 このコネクタホルダに保持されたコネクタの前記ランス
   に対向して突出するように設けられ前記端子金具が装着
   不良状態にあるときのランスに接触可能なランスチェッ
   クピンとを備え、 前記ランスチェックピンは、その延長方向に沿って移動
   可能であって弾性体にて先方側に付勢されると共に、そ
   のランスチェックピンが前記ランスに当接して後退した
   ことを検出する装着不良検出スイッチが設けられている
   ことを特徴とするコネクタ検査装置。
2. 【請求項２】 コネクタホルダに保持されたコネクタの
   正規位置に装着されている端子金具に接触する導通検査
   用プローブが設けられていることを特徴とする請求項１
   記載のコネクタ検査装置。
3. 【請求項３】 装着不良検出スイッチはランスチェック
   ピンが後退したときにオフ作動する常閉形スイッチであ
   って、導通検査用プローブはこの装着不良検出スイッチ
   を直列に介して導通検査回路に接続されていることを特
   徴とする請求項２記載のコネクタ検査装置。