JP2797945B2 - コネクタ検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はコネクタハウジング内に
挿入した端子金具の装着不良を検出するためのコネクタ
検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】コネクタは、一般にプラスチック製のコ
ネクタハウジング内に、電線の先端に圧着した端子金具
を装着して構成され、その端子金具はコネクタハウジン
グに一体に設けたランス（弾性係止爪）によって抜け止
め状態にされる。端子金具をコネクタハウジング内に挿
入すると、ランスはいったん撓み用の空間に向かって撓
み、端子金具が「正規位置」まで挿入されると、弾性的
に復元して端子金具と係合するようになり、もって端子
金具の抜け止めが行われる。この種の抜け止め構造を採
用した場合、端子金具がランスを撓ませるところまで挿
入されると、ある程度の摩擦力が端子金具に作用するた
め、端子金具は疑似的に抜け止め状態となってしまい、
端子金具の挿入作業を行っている作業者は完全挿入に至
ったと勘違いして作業を途中で止めてしまうことがあ
る。

【０００３】しかし、端子金具がコネクタハウジングの
ランスと係合する「正規位置」まで完全に挿入されてい
ないと、使用中に端子金具の抜けが発生する可能性があ
るため、端子の装着不良は事前にチェックして修正する
必要がある。そこで、近時、端子金具の装着不良を検出
するための各種のコネクタ検査装置が種々開発されてお
り、本出願人も図７に示す構成を開発して既に出願した
（特願平５−２８１７１６）。これは、コネクタ６０の
ランス６１に対向してランスチェックピン５１を突出状
に設けた構成で、各ランスチェックピン５１は、コネク
タハウジング６２に形成したランス撓み空間６３内に挿
入されるようになっている。端子金具６５が「正規位
置」まで完全に挿入されている状態にあるときには、図
７の上段に示すように、ランス撓み空間６３内に挿入し
たランスチェックピン５１はランス６１に突き当たるこ
となくその下に潜り込むまで進入するようになってお
り、また、端子金具６５が装着不良状態にあるときに
は、図７の下段に示すように、撓み変形してランス撓み
空間６３内に位置しているランス６１の先端にランスチ
ェックピン５１が突き当たるようになっている。この構
成によれば、端子金具６５に装着不良があってランス６
１がランス撓み空間６３内に位置しているときには、ラ
ンスチェックピン５１がランス６１の先端に突き当たっ
てランス６１の下に潜り込む位置まで移動するのが不能
となるため、これによって、端子金具６５の装着不良を
発見することができるのである。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】コネクタ６０において
は、成形上の理由から、端子金具６５が「正規位置」に
完全挿入されていてランス６１がランス撓み空間６３か
ら最も退避している位置にあっても、そのランス６１は
ランス撓み空間６３の内壁面よりも内側へ僅かに突き出
た状態となっている。これに合わせて、ランスチェック
ピン５１の先端部分５１ａは、ランス６１の下へ潜り込
めるようにランス撓み空間６３の内部寸法よりも薄くな
っており、従って、このランスチェックピン５１の先端
部分５１ａとランス撓み空間６３との間には隙間が空い
ている。

【０００５】このため、ランスチェックピン５１がラン
ス撓み空間６３内に挿入されるときにランスチェックピ
ン５１の先端部分５１ａが曲がり変形した状態でランス
撓み空間６３内を進んだり、あるいは、ランスチェック
ピン５１が斜め方向に進入したりするという恐れがあ
る。このようになると、図８に示すように、端子金具６
５が「正規位置」まで完全に挿入されていてランス６１
がランス撓み空間６３から最も退避した位置にあって
も、そのランス６１の僅かに突き出ている部分にランス
チェックピン５１の先端部分５１ａが突き当たることと
なる。この結果、端子金具６５が「正規位置」にあるに
も拘わらず、ランスチェックピン５１はランス６１の下
に潜り込む位置まで到達できず、これに基づいて、端子
金具６５が装着不良状態であるとの誤った判断がなされ
ることも有り得る。

【０００６】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、従って、端子金具の装着状態の良・不良を確実に判
別できて信頼性が高い検査を行うことのできるコネクタ
検査装置を提供することを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１に係るコネクタ検査装置は、前記ランス撓
み空間に対し進入可能に設けられ、前記端子金具が正規
挿入された状態では前記ランス撓み空間の内部空間より
も薄い先端部を前記ランスの撓み領域内に潜り込ませる
ことにより前記ランス撓み空間への進入を許容され、且
つ前記端子金具が挿入不良状態にあって前記ランスがそ
の撓み領域内に位置するときにはそのランスに突き当た
ることによってそれ以上の進入を規制されるランスチェ
ックピンと、このランスチェックピンの前記ランスへの
突き当たりの有無を判別する検出手段とを備えてなり、
前記ランスチェックピンには、その先端側であって前記
ランスの撓み領域から外れる位置に配され、前記ランス
撓み空間の内壁への当接によりそのランスチェックピン
をそのランス撓み空間内において適正姿勢に保持する案
内部と、この案内部における先端側部分であって前記端
子金具から前記ランスの両側に延出するスタビライザと
対応する領域を切欠した形態とすることにより、その案
内部との干渉を回避させる逃がし部とが設けられている
構成としたところに特徴を有する。

【０００８】請求項２に係るコネクタ検査装置は、検査
すべき前記コネクタを収容するセット部を備えたチェッ
カーハウジングと、このチェッカーハウジングにコネク
タに接離する方向に移動可能に設けられたスライダと、
このスライダに前記ランス撓み空間への進入を可能に設
けられ、前記端子金具が正規挿入された状態では前記ラ
ンス撓み空間の内部空間よりも薄い先端部を前記ランス
の撓み領域内に潜り込ませることにより前記ランス撓み
空間への進入を許容され、且つ前記端子金具が挿入不良
状態にあって前記ランスがその撓み領域内に位置すると
きにはそのランスに突き当たることによってそれ以上の
進入を規制されるランスチェックピンと、このランスチ
ェックピンの前記ランスへの突き当たりの有無を判別す
る検出手段とを備えてなり、前記ランスチェックピンに
は、その先端側であって前記ランスの撓み領域から外れ
る位置に配され、前記ランス撓み空間の内壁への当接に
よりそのランスチェックピンをそのランス撓み空間内に
おいて適正姿勢に保持する案内部と、この案内部におけ
る先端側部分であって前記端子金具から前記ランスの両
側に延出するスタビライザと対応する領域を切欠した形
態とすることにより、その案内部との干渉を回避させる
逃がし部とが設けられている構成としたところに特徴を
有する。

【０００９】請求項３に係るコネクタ検査装置は、検査
すべき前記コネクタを保持するコネクタホルダと、この
コネクタホルダに対向して設けられたチェッカーハウジ
ングと、前記コネクタホルダ及びチェッカーハウジング
のいずれか一方又は双方を互いに接近する方向に往復移
動させる駆動機構と、前記チェッカーハウジングにコネ
クタに接離する方向に移動可能に設けられたスライダ
と、このスライダに前記ランス撓み空間への進入を可能
に設けられ、前記端子金具が正規挿入された状態では前
記ランス撓み空間の内部空間よりも薄い先端部を前記ラ
ンスの撓み領域内に潜り込ませることにより前記ランス
撓み空間への進入を許容され、且つ前記端子金具が挿入
不良状態にあって前記ランスがその撓み領域内に位置す
るときにはそのランスに突き当たることによってそれ以
上の進入を規制されるランスチェックピンと、このラン
スチェックピンの前記ランスへの突き当たりの有無を判
別する検出手段とを備えてなり、前記ランスチェックピ
ンには、その先端側であって前記ランスの撓み領域から
外れる位置に配され、前記ランス撓み空間の内壁への当
接によりそのランスチェックピンをそのランス撓み空間
内において適正姿勢に保持する案内部と、この案内部に
おける先端側部分であって前記端子金具から前記ランス
の両側に延出するスタビライザと対応する領域を切欠し
た形態とすることにより、その案内部との干渉を回避さ
せる逃がし部とが設けられている構成としたところに特
徴を有する。

【００１０】請求項４に係るコネクタ検査装置は、請求
項２または３に係る発明において、前記検出手段は、前
記ランスチェックピンと一体的に移動可能に設けられ前
記コネクタハウジングの正規位置に収納されて抜け止め
状態とされた前記端子金具に接触可能な電気接触子を備
えており、この電気接触子は、ワイヤハーネスの導通検
査回路に接続されている構成としたところに特徴を有す
る。

【００１１】

【００１２】

【作用】端子金具がコネクタハウジング内の正規位置ま
で挿入されていると、コネクタハウジングのランスは端
子金具と係合した状態にあってランス撓み空間から退避
した状態にある。端子金具が正規位置まで至らない不完
全な挿入位置にあると、ランスは端子金具と係合せずに
ランス撓み空間側へ撓み変形した状態にある。

【００１３】請求項１のコネクタ検査装置では、端子金
具が正規位置まで挿入されてランスがランス撓み空間か
ら退避している状態のコネクタに対しては、ランス撓み
空間内に挿入されたランスチェックピンがランスに突き
当たることなく深く進入する。検出手段においては、こ
の深く進入したランスチェックピンの位置に基づいてラ
ンスチェックピンがランスに突き当たっていないとの判
断がなされ、これによって、端子金具が正規位置まで完
全に装着されていることが検出される。これに対し、端
子金具が不完全な挿入位置にあってランスがランス撓み
空間側に撓んでいる状態のコネクタに対しては、ランス
チェックピンがランスに突き当たることによってランス
チェックピンがそれ以上深く進入することが阻止され
る。検出手段においては、この進入の浅いランスチェッ
クピンの位置に基づいてランスチェックピンがランスに
突き当たっているとの判断がなされ、これによって、端
子金具が不良挿入状態にあることが検出される。

【００１４】請求項２のコネクタ検査装置では、検査す
べきコネクタをチェッカーハウジングのセット部に収容
し、スライダを移動させてランスチェックピンをコネク
タのランス撓み空間内に挿入させて検査を行う。端子金
具が正規位置まで挿入されてランスがランス撓み空間か
ら退避している状態のコネクタに対しては、請求項１の
コネクタ検査装置と同様に、ランスチェックピンがラン
スに突き当たることなく深く進入し、検出手段において
は、この深く進入したランスチェックピンの位置に基づ
いてランスチェックピンがランスに突き当たっていない
との判断がなされ、これによって、端子金具が正規位置
まで完全に装着されていることが検出される。これに対
し、端子金具が不完全な挿入位置にあってランスがラン
ス撓み空間側に撓んでいる状態のコネクタに対しては、
ランスチェックピンがランスに突き当たることにより、
ランスチェックピンがそれ以上深く進入することが阻止
されると共にスライダのコネクタ側への移動が不能とな
る。検出手段においては、この進入の浅いランスチェッ
クピンの位置に基づいてランスチェックピンがランスに
突き当たっているとの判断がなされ、これによって、端
子金具が不良挿入状態にあることが検出される。

【００１５】また、請求項３のコネクタ検査装置では、
検査すべきコネクタをコネクタホルダにセットし、駆動
機構によりチェッカーハウジングとコネクタホルダとが
互いに接近する方向に移動させ、ランスチェックピンを
コネクタのランス撓み空間内に挿入させて検査を行う。
端子金具が正規位置まで挿入されてランスがランス撓み
空間から退避している状態のコネクタに対しては、請求
項１及び請求項２のコネクタ検査装置と同様に、ランス
チェックピンがランスに突き当たることなく深く進入
し、検出手段においては、この深く進入したランスチェ
ックピンの位置に基づいてランスチェックピンがランス
に突き当たっていないとの判断がなされ、これによっ
て、端子金具が正規位置まで完全に装着されていること
が検出される。これに対し、端子金具が不完全な挿入位
置にあってランスがランス撓み空間側に撓んでいる状態
のコネクタに対しては、ランスチェックピンがランスに
突き当たることにより、ランスチェックピンがそれ以上
深く進入することが阻止されると共に、このランスチェ
ックピン及びスライダがチェッカーハウジングに対して
相対的に後退することとなる。検出手段においては、こ
の進入の浅いランスチェックピンの位置に基づいてラン
スチェックピンがランスに突き当たっているとの判断が
なされ、これにより、端子金具が不良挿入状態にあるこ
とが検出される。

【００１６】上記請求項１乃至請求項３のいずれのコネ
クタ検査装置にあっても、ランス撓み空間内に挿入され
るランスチェックピンは、その案内部をランス撓み空間
の内壁に当接させることによって適正姿勢に保持された
状態でランス撓み空間内を進入することとなる。即ち、
ランスチェックピンに曲げ変形が生じていたりランスチ
ェックピンがランス撓み空間内に斜め方向に挿入された
場合でも、ランス撓み空間内ではその変形や方向が矯正
され、その結果、ランスチェックピンは適正姿勢を保っ
てランス撓み空間内を進入する。

【００１７】請求項４の発明では、ランスチェックピン
がランスに突き当たらずに深く進入したときには検出手
段に具備された電気接触子が端子金具に接触して導通状
態になり、これによって、端子金具が正規位置まで完全
に挿入されていることが検出される。これに対し、ラン
スチェックピンがランスに突き当たったときには電気接
触子は端子金具に接触しないために導通状態にはなら
ず、これによって、端子金具が不良挿入状態であること
が検出される。また、電気接触子がワイヤハーネスの導
通検査回路に接続されているため、ワイヤハーネスとし
ての導通検査と端子金具の装着位置検査とを同時に行う
ことができる。

【００１８】

【００１９】

【発明の効果】以上述べたように、本発明のコネクタ検
査装置によれば、ランスチェックピンに曲げ変形が生じ
ていたりランスチェックピンがランス撓み空間内に斜め
方向に挿入された場合でも、ランスチェックピンは適正
姿勢を保ってランス撓み空間内を進入するから、ランス
チェックピンがその変形や斜め進入に起因してランス撓
み空間から退避しているランスに突き当たるという事態
が生じることを確実に回避することができる。この結
果、端子金具が正規位置に挿入されているにも拘わらず
不良挿入状態であるとの誤った判断がなされる恐れがな
くなり、信頼性の高い検査を行うことができる。

【００２０】

【実施例】

＜実施例１＞以下、本発明を具体化した実施例１につい
て図１乃至図５を参照して説明する。まず、本実施例の
検査装置１０を使用して検査されるコネクタ３０の構造
について説明する。コネクタハウジング３１は樹脂製
で、全体として長方形状をなすように成形され、内部に
２段に分けて複数のキャビティ３２が形成されている。
各キャビティ３２は前後に貫通する形状で、この中には
端子金具３３が後側（図１右側）から挿入されるように
なっている。端子金具３３は、この実施例では図示しな
い相手方のコネクタの雄形端子金具と対をなす雌形をな
しており、電線３５が圧着された周知の構造である。

【００２１】コネクタハウジング３１には、端子金具３
３を抜け止め状態に固定するためのランス３４がコネク
タハウジング３１と一体に設けられている。ランス３４
は、先端近くにキャビティ３２側へ突出する係止部３４
ａを有する弾性変形可能な突片状をなしている。また、
キャビティ３２内にはランス３４の下側への弾性変形を
許容するためのランス撓み空間３２ａが型抜き空間を利
用して形成されている。このランス撓み空間３２ａはコ
ネクタハウジング３１の前端面に開口しており、その上
側の内壁面と下側の内壁面とが互いに平行に形成されて
いる。ランス３４が詳しくは後述するように「正規位
置」まで挿入されている端子金具３３を抜止め状態に保
持している状態においては、そのランス３４の下面はラ
ンス撓み空間３２ａの下側の内壁面と平行をなし、且
つ、ランス３４の下面部がランス撓み空間３２ａの上側
の内壁面よりも図４において下方に出っ張っている。

【００２２】端子金具３３がキャビティ３２内に挿入さ
れると、挿入途中においては、端子金具３３の先端がラ
ンス３４に当接してこのランス３４を押し下げてランス
撓み空間３２ａ内に大きく突出するように弾性変形させ
る。そして、端子金具３３がキャビティ３２の最奥部ま
で挿入されると、挿入途中に弾性変形していたランス３
４は、その係止部３４ａが端子金具３３の係合孔４３ａ
に遭遇することにより、ランス撓み空間３２ａから上方
へ退避した元位置に復元し、その係合孔４３ａに係止部
３４ａが係合し、もってその端子金具３３が抜け止め状
態となる。なお、上述したランス３４の係合の様子を表
すため、図３の上段に描いた端子金具３３については、
「正規位置」にまで挿入されてランス３４と完全係合し
た状態を示し、図３の下段に描いた端子金具３３につい
ては、「正規位置」には至らず、ランス３４をランス撓
み空間３２ａ側に弾性変形させた「不完全挿入位置」ま
で挿入された状態を示してある。

【００２３】次に、上記コネクタ３０を検査するための
検査装置１０について説明する。検査装置１０は樹脂製
のチェッカーハウジング１１に組み付けられている。こ
のチェッカーハウジング１１の内部は隔壁１１ａによっ
て複数の小室に区分され、コネクタハウジング３１の各
キャビティ３２に対応する同数のキャビティ１２が形成
されると共に、それらの各キャビティ１２の先端側に検
査すべきコネクタ３０のコネクタハウジング３１を収容
するセット部に相当する角形のフード部１３が形成され
ている。

【００２４】各キャビティ１２内には、滑り性に優れた
樹脂製のスライダ１４が内部をスライド移動可能に設け
られ、これに一体成形したランスチェックピン１５が隔
壁１１ａに形成した透孔１１ｂからフード部１３内に向
けて突出している。スライダ１４は、キャビティ１２内
に収納した付勢手段に相当する弱い圧縮スプリング１６
によって図１中右方に常時付勢されており、フード部１
３にコネクタ３０がセットされていない状態では、図１
に示すようにスライダ１４に突設したストッパ１４ａが
隔壁１１ａに当接してランスチェックピン１５がフード
部１３内に一杯に突出した状態を維持しており、このラ
ンスチェックピン１５はフード部１３にセットしたコネ
クタハウジング３１のうちランス撓み空間３２ａ内に進
入可能な位置にある。

【００２５】上述したランスチェックピン１５は、ラン
ス撓み空間３２ａ内に挿入されると、その上下両側の内
壁面に当接しつつ進入するようになっている。このラン
スチェックピン１５の先端部１５ａは、ランス３４が
「正規位置」にある端子金具３３を抜止め保持している
状態でも前述したように僅かにランス撓み空間３２ａ内
に出っ張っているのに合わせて、上面側を切除すること
によって厚さが薄くなっており、これによって、ランス
チェックピン１５がその先端部１５ａをランス３４の下
側に潜り込ませるように嵌入させる位置まで進入し得る
ようになっている。かかる構成により、端子金具３３が
「不完全挿入位置」にあってランス３４がランス撓み空
間３２ａ内に突出するように撓んだ状態にあるときに
は、ランスチェックピン１５の先端がランス３４の先端
に突き当たるようになっている。

【００２６】さらに、本実施例のランスチェックピン１
５には、その先端部１５ａが支障なくランス３４の下に
潜り込むようにするための手段が設けられている。以
下、その構成を説明する。ランスチェックピン１５の先
端部１５ａの上面、即ち、ランス３４の下面と対応する
側の面には、ランス３４と対応する幅方向中央部分を除
く両側縁に沿ってランスチェックピン１５の長さ方向と
平行な細長い壁状の案内部１５ｂ，１５ｂが形成されて
いる。この案内部１５ｂの上面はランスチェックピン１
５の先端部よりも後側部分の上面と面一に連続していて
ランス撓み空間３２ａの上側の内壁面に当接するように
なっている。また、案内部１５ｂの先端は、ランスチェ
ックピン１５の先端から所定長さ分だけ除去されたよう
にようなっており、この部分は、端子金具３３にランス
３４の両側に沿って延出するように設けられているスタ
ビライザ３３ａと案内部１５ｂとが干渉することを回避
するための逃がし部１５ｃとなっている。

【００２７】また、スライダ１４には導電性の金属棒に
て形成した電気接触子１７が例えば圧入によって固定さ
れている。この電気接触子１７はランスチェックピン１
５と平行に延びていて、その突出寸法はランスチェック
ピン１５よりも短くされている。この電気接触子１７の
先端部の位置は、フード部１３にコネクタハウジング３
１がセットされた状態において、端子金具３３が「正規
位置」にあってランス３４の下にランスチェックピン１
５の先端部１５ａが潜り込んだときに、電気接触子１７
が端子金具３３の先端に接触するよう設定されている。

【００２８】なお、各電気接触子１７はリード線１８を
介して図示しない導通検査回路に接続されている。この
導通検査回路は、ワイヤハーネスとして組み上げられた
状態のコネクタ３０の各キャビティ３２に正しい端子金
具３３が挿入されているか否かを検査するもので、内部
に導通検査用の電源を備え、ワイヤハーネスの両端にあ
る２つのコネクタの所定の端子金具間に電流が流れるか
否かに基づき検査を行う周知の構成である。

【００２９】次に、本実施例の作用を説明する。予め、
各電線３５の先端に圧着された端子金具３３がコネクタ
ハウジング３１の所定のキャビティ３２に挿入され、併
せて、多数の電線３５をテーピング等によって束ねてワ
イヤハーネスとして組み上げられた状態で次のように端
子金具３３の装着不良検査及び導通検査が行われる。こ
こで、検査すべきワイヤハーネスは所定の検査板上に載
せられ、そのコネクタ３０が前記コネクタ検査装置１０
のチェッカーハウジング１２のフード部１３にセットさ
れる（図３参照）。

【００３０】このとき、図３の上段に示すもののよう
に、コネクタ３０の端子金具３３がコネクタハウジング
３１のランス３４と係合する「正規位置」にあれば、ラ
ンス３４が上方へ退避してランス撓み空間３２ａ内に僅
かに出っ張った状態となってランス３４の下方のランス
撓み空間３２ａは開放した状態にある。従って、コネク
タ３０のセットに伴ってランス撓み空間３２ａ内に挿入
されたランスチェックピン１５はランス３４に突き当た
ることがなく、ランスチェックピン１５の先端部１５ａ
は、その両案内部１５ｂ，１５ｂで両側からランス３４
を挟むようにしつつそのランス３４の下に潜り込むよう
に進入する。これに伴い、スライダ１４は付勢手段１６
の付勢力によってランスチェックピン１５がチェッカー
ハウジング１１のフード部１３内に一杯に突出する状態
に進出される。この結果、スライダ１４と一体的に移動
する電気接触子１７もコネクタ３０側に最大量突出する
ことになり、従って、その先端が端子金具３３の先端に
接触することになってこれと導通する。これにより、導
通検査回路によってこの端子金具３３が「正規位置」に
あり、しかも、所定のキャビティ３２内に装着されてい
ることが確認される。

【００３１】これに対し、図３の下段に示すもののよう
に端子金具３３がランス３４と係合しない「不完全挿入
位置」にあるときには、その端子金具３３によって押し
下げられたランス３４がランス撓み空間３２ａ内に大き
く突出した状態にある。従って、コネクタ３０をチェッ
カーハウジング１１のフード部１３にセットしたとき、
ランス撓み空間３２ａ内に挿入されたランスチェックピ
ン１５の先端部１５ａは、ランス３４の下に潜り込むよ
り前にそのランス３４の先端に突き当たることとなる。
このため、コネクタ３０をセットする途中でランスチェ
ックピン１５はランス撓み空間３２ａ内への進入を阻止
され、スライダ１４が圧縮スプリング１６を圧縮しなが
らチェッカーハウジング１１に対して図３中左側へ相対
的に押し込められる。従って、このスライダ１４に一体
的に設けられている電気接触子１７も左側に押し下げら
れて端子金具３３に接触することができなくなり、端子
金具３３との導通が得られなくなるため、導通検査回路
によってこの端子金具３３部分において異常があること
が検出される。

【００３２】なお、上述のようにランス３４がランス撓
み空間３２ａ内に押し下げられている場合には、ランス
チェックピン１５の先端がランス３４に当接してコネク
タ３０をチェッカーハウジング１１のフード部１３にセ
ットする際の挿入抵抗が増大するが、これに構わずにセ
ットすれば良い。ランスチェックピン１５が圧縮スプリ
ング１６を圧縮しながら左側に押し込められることにな
るため、過剰な圧力がランス３４に作用することがな
く、ランス３４の損傷は確実に防止できるからである。

【００３３】上記のように検査を行うのに際して、コネ
クタ３０のランス撓み空間３２ａ内に挿入されるランス
チェックピン１５の先端部１５ａが上方へ曲げ変形して
いたり、あるいは、斜め上向きに傾いてランス撓み空間
３２ａ内に挿入される場合がある。しかし、このような
場合でも、ランス撓み空間３２ａ内にランスチェックピ
ン１５が挿入されると、その案内部１５ｂの上面がその
ランスチェックピン１５の長さ方向における一定長さに
亘ってランス撓み空間３２ａの上側の内壁面に当接し、
これに伴って、ランスチェックピン１５の下面がランス
撓み空間３２ａの下側の内壁面に当接することとなるた
め、これによって、ランスチェックピン１５は適正な姿
勢に矯正されて同姿勢を保ちつつランス撓み空間３２ａ
内を進入することができる。従って、ランスチェックピ
ン１５の先端部１５ａが上向きになったままでランス３
４に接近した場合のように、端子金具３３が「正規位
置」にあってランス３４がランス撓み空間３２ａに僅か
しか出っ張っていない状態であるにも拘わらずその僅か
に出っ張ったランス３４の先端にランスチェックピン１
５が突き当たってそれ以上の進出を阻止されてしまう、
という事態は確実に回避される。

【００３４】このように本実施例によれば、端子金具３
３が「正規位置」にあるときにはランスチェックピン１
５の先端部１５ａが確実にランス３４の下に潜り込む位
置まで進入できるから、端子金具３３が「正規位置」に
あるときに誤って「不完全挿入位置」にあるとの判断が
なされるのが防止され、信頼性の高い検査を行うことが
できる。

【００３５】なお、本実施例では、ランスチェックピン
１５の先端部１５ａには逃がし部１５ｃが設けられてい
るため、ランスチェックピン１５の先端部１５ａがラン
ス３４の下に潜り込んだときに、ランスチェックピン１
５の案内部１５ｂが端子金具３３のスタビライザ３３ａ
と干渉することがなく、案内部１５ｂとスタビライザ３
３ａとの干渉に起因してランスチェックピン１５の進入
が妨げられるのが防止されている。

【００３６】また、本実施例では、各電気接触子１７を
ワイヤハーネスの導通検査回路に接続する構成としてい
るから、コネクタ３０をチェッカーハウジング１１にセ
ットするという１つの作業によって、ランス３４の位置
確認、すなわち端子金具３３が「正規位置」にあるか否
かの確認と、端子金具３３が所定のキャビティ３２に装
着されているか否かの確認とを同時的に行うことがで
き、検査作業が合理的となって能率化できる。

【００３７】更に、本実施例では、チェッカーハウジン
グ１１の各キャビティ１２にスライダ１４を配置し、こ
こにランスチェックピン１５と電気接触子１７とを一体
的にユニット化する構成としたから、検査すべきコネク
タ３０の極数に応じた数の同一のユニットを設ければ良
く、コネクタ３０の種類の変更に対して柔軟に対処する
ことができる。また、故障発生時には、そのユニットを
交換すれば良く、メンテナンス性にも優れる。

【００３８】＜実施例２＞図６は本発明を具体化した実
施例２を示したものである。前記実施例１との基本的な
相違は、チェッカーハウジング１１をコネクタ３０側に
向けて機械的に移動させる構成としたところにある。そ
の他の構成は実施例１と同様であるから、重複説明を省
略するために同一部分に同一符号を付し、異なるところ
のみを詳述する。チェッカーハウジング１１は基板４１
上を図中左右方向に移動可能に設けられ、基板４１に軸
４２ａを中心に回動可能に設けたカムハンドル４２を回
動操作することにより移動するようになっている。ここ
に設けたランスチェックピン１５及び電気接触子１７は
前記実施例と同一の構成である。

【００３９】一方、基板４１の図中左端部にはコネクタ
ホルダ４３が固定して設けられている。これは、Ｕ字形
の支持ブロック４４とこれに着脱可能に取り付けたやは
りＵ字形をなすバックプレート４５とからなり、両者間
に上方が開放するコネクタ固定溝４６が形成されてい
る。このコネクタ固定溝４６には、コネクタハウジング
３１の外面から突出する突条（図示せず）が上方から嵌
め込まれ、もって両突条を上下に案内してコネクタハウ
ジング３１を支持ブロック４４間に挟んだ位置決め状態
に保持することができ、その状態でコネクタハウジング
３１は左右方向に移動不能となる。

【００４０】この構成では、まず、コネクタ３０を摘
み、これをコネクタホルダ４３に上から嵌め込むように
してセットする。そして、カムハンドル４２を矢印方向
に回動操作してチェッカーハウジング１１を図中右側に
進出させると、ランスチェックピン１５及び電気接触子
１７がコネクタ３０側に進出し、前記実施例と同様にラ
ンスチェックピン１５が先端がランス３４の下のランス
撓み空間３２ａ内に進入し、電気接触子１７が端子金具
３３に向かって移動する。これにて、前記実施例１と同
様に、端子金具３３の装着チェックと端子金具３３の接
続チェックが行われる。

【００４１】本実施例においても、前記実施例１と同様
に、ランスチェックピン１５の先端部１５ａには、ラン
ス撓み空間３２ａ内においてランスチェックピン１５を
適正姿勢に保持するための案内部１５ｂが設けられてい
る。従って、端子金具３３が「正規位置」にあるときに
はランスチェックピン１５の先端部１５ａが確実にラン
ス３４の下に潜り込む位置まで進入できるから、端子金
具３３が「正規位置」にあるときに誤って「不完全挿入
位置」にあるとの判断がなされるのが防止され、信頼性
の高い検査を行うことができる。

【００４２】なお、図６に示した実施例２では、チェッ
カーハウジング１１側をカムハンドル４２の回動操作に
よって移動させる構成としたが、これとは逆に、チェッ
カーハウジング１１は固定してコネクタ３０を保持した
コネクタホルダ４３を移動させる構成としても良く、更
には、両者を同時に近接する方向に移動させる構成とし
てもよい。

【００４３】また、上記各実施例においては、ランスチ
ェックピン１５の位置によりそのランス３４への突き当
たりの有無を判別する検出手段として、ランスチェック
ピン１５と一体的に移動可能に設けられて「正規位置」
の端子金具３３に接触可能な電気接触子１７を用いた
が、本出願の請求項にいう「検出手段」は、この電気接
触子１７に限定するものではなく、他の手段を含むもの
である。

【００４４】その他、本発明は上記実施例に限定される
ものではなく、例えばランスチェックピン１５の先端部
の逃がし部１５ｃは端子金具の形状に対応して必要に応
じて形成すればよい等、要旨を逸脱しない範囲内で種々
変更して実施することができるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例１に係るコネクタ検査装置を示
す断面図

【図２】コネクタのランスとランスチェックピンの部分
拡大斜視図

【図３】コネクタをセットした状態で示す同検査装置の
断面図

【図４】図３の上段側におけるランスとランスチェック
ピンとの位置関係をあらわした拡大断面図

【図５】図４のＡ−Ａ断面図

【図６】本発明の第２実施例を示すコネクタ検査装置の
断面図

【図７】比較のために示す他のコネクタ検査装置の断面
図

【図８】図７の部分拡大断面図

【符号の説明】

１０…コネクタ検査装置 １１…チェッカーハウジング １２…キャビティ １３…フード部（セット部） １４…スライダ １５…ランスチェックピン １７…電気接触子 ３０…コネクタ ３２ａ…ランス撓み空間 ３３…端子金具 ３４…ランス ３５…電線

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−140160（ＪＰ，Ａ) 実開 平３−50768（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭58−175474（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) H01R 43/00 H01R 13/42 H01R 13/64 G01R 31/04

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 コネクタハウジングにキャビティとラン
   ス撓み空間とこのランス撓み空間の内壁から突出するラ
   ンスとが形成され、前記キャビティに端子金具が挿入さ
   れるのに伴い前記ランスが前記ランス撓み空間側へ撓み
   変形した後に正規位置に至った端子金具に係合すべく戻
   り変形してその端子金具を抜止め状態とするコネクタを
   検査する装置であって、 前記ランス撓み空間に対し進入可能に設けられ、前記端
   子金具が正規挿入された状態では前記ランス撓み空間の
   内部空間よりも薄い先端部を前記ランスの撓み領域内に
   潜り込ませることにより前記ランス撓み空間への進入を
   許容され、且つ前記端子金具が挿入不良状態にあって前
   記ランスがその撓み領域内に位置するときにはそのラン
   スに突き当たることによってそれ以上の進入を規制され
   るランスチェックピンと、 このランスチェックピンの前記ランスへの突き当たりの
   有無を判別する検出手段とを備えてなり、 前記ランスチェックピンには、 その先端側であって前記ランスの撓み領域から外れる位
   置に配され、前記ランス撓み空間の内壁への当接により
   そのランスチェックピンをそのランス撓み空間内におい
   て適正姿勢に保持する案内部と、 この案内部における先端側部分であって前記端子金具か
   ら前記ランスの両側に延出するスタビライザと対応する
   領域を切欠した形態とすることにより、その案内部との
   干渉を回避させる逃がし部とが設けられていることを特
   徴とするコネクタ検査装置。
2. 【請求項２】 コネクタハウジングにキャビティとラン
   ス撓み空間とこのランス撓み空間の内壁から突出するラ
   ンスとが形成され、前記キャビティに端子金具が挿入さ
   れるのに伴い前記ランスが前記ランス撓み空間側へ撓み
   変形した後に正規位置に至った端子金具に係合すべく戻
   り変形してその端子金具を抜止め状態とするコネクタを
   検査する装置であって、 検査すべき前記コネクタを収容するセット部を備えたチ
   ェッカーハウジングと、 このチェッカーハウジングにコネクタに接離する方向に
   移動可能に設けられたスライダと、 このスライダに前記ランス撓み空間への進入を可能に設
   けられ、前記端子金具が正規挿入された状態では前記ラ
   ンス撓み空間の内部空間よりも薄い先端部を前記ランス
   の撓み領域内に潜り込ませることにより前記ランス撓み
   空間への進入を許容され、且つ前記端子金具が挿入不良
   状態にあって前記ランスがその撓み領域内に位置すると
   きにはそのランスに突き当たることによってそれ以上の
   進入を規制されるランスチェックピンと、 このランスチェックピンの前記ランスへの突き当たりの
   有無を判別する検出手段とを備えてなり、 前記ランスチェックピンには、 その先端側であって前記ランスの撓み領域から外れる位
   置に配され、前記ランス撓み空間の内壁への当接により
   そのランスチェックピンをそのランス撓み空間内におい
   て適正姿勢に保持する案内部と、 この案内部における先端側部分であって前記端子金具か
   ら前記ランスの両側に延出するスタビライザと対応する
   領域を切欠した形態とすることにより、その案内部との
   干渉を回避させる逃がし部とが設けられていることを特
   徴とするコネクタ検査装置。
3. 【請求項３】 コネクタハウジングにキャビティとラン
   ス撓み空間とこのランス撓み空間の内壁から突出するラ
   ンスとが形成され、前記キャビティに端子金具が挿入さ
   れるのに伴い前記ランスが前記ランス撓み空間側へ撓み
   変形した後に正規位置に至った端子金具に係合すべく戻
   り変形してその端子金具を抜止め状態とするコネクタを
   検査する装置であって、 検査すべき前記コネクタを保持するコネクタホルダと、 このコネクタホルダに対向して設けられたチェッカーハ
   ウジングと、 前記コネクタホルダ及びチェッカーハウジングのいずれ
   か一方又は双方を互いに接近する方向に往復移動させる
   駆動機構と、 前記チェッカーハウジングにコネクタに接離する方向に
   移動可能に設けられたスライダと、 このスライダに前記ランス撓み空間への進入を可能に設
   けられ、前記端子金具が正規挿入された状態では前記ラ
   ンス撓み空間の内部空間よりも薄い先端部を前記ランス
   の撓み領域内に潜り込ませることにより前記ランス撓み
   空間への進入を許容され、且つ前記端子金具が挿入不良
   状態にあって前記ランスがその撓み領域内に位置すると
   きにはそのランスに突き当たることによってそれ以上の
   進入を規制されるランスチェックピンと、 このランスチェックピンの前記ランスへの突き当たりの
   有無を判別する検出手段とを備えてなり、 前記ランスチェックピンには、 その先端側であって前記ランスの撓み領域から外れる位
   置に配され、前記ランス撓み空間の内壁への当接により
   そのランスチェックピンをそのランス撓み空間内におい
   て適正姿勢に保持する案内部と、 この案内部における先端側部分であって前記端子金具か
   ら前記ランスの両側に延出するスタビライザと対応する
   領域を切欠した形態とすることにより、その案内部との
   干渉を回避させる逃がし部とが設けられていることを特
   徴とするコネクタ検査装置。
4. 【請求項４】 前記検出手段は、前記ランスチェックピ
   ンと一体的に移動可能に設けられ前記コネクタハウジン
   グの正規位置に収納されて抜け止め状態とされた前記端
   子金具に接触可能な電気接触子を備えており、この電気
   接触子は、ワイヤハーネスの導通検査回路に接続されて
   いることを特徴とする請求項２又は３記載のコネクタ検
   査装置。