JPH08313581A - 端子半挿入検知用コネクタ - Google Patents
端子半挿入検知用コネクタInfo
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- JPH08313581A JPH08313581A JP7122498A JP12249895A JPH08313581A JP H08313581 A JPH08313581 A JP H08313581A JP 7122498 A JP7122498 A JP 7122498A JP 12249895 A JP12249895 A JP 12249895A JP H08313581 A JPH08313581 A JP H08313581A
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R43/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
- H01R43/20—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors for assembling or disassembling contact members with insulating base, case or sleeve
- H01R43/22—Hand tools
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/40—Securing contact members in or to a base or case; Insulating of contact members
- H01R13/42—Securing in a demountable manner
- H01R13/422—Securing in resilient one-piece base or case, e.g. by friction; One-piece base or case formed with resilient locking means
- H01R13/4223—Securing in resilient one-piece base or case, e.g. by friction; One-piece base or case formed with resilient locking means comprising integral flexible contact retaining fingers
Abstract
(57)【要約】
【目的】コネクタ検査具で端子の半挿入検知と導通検知
とを行わせる際の端子半挿入検知精度を向上させる。 【構成】 コネクタハウジング２の端子収容室６に臨む
可撓係止ランス９の撓み空間側に、検査ピン３の端子半
挿入検知用突出部４が挿入されるガイド溝５を形成し
た。ガイド溝５の開口部に案内用の拾い面７を形成し
た。可撓係止ランス９の先端部に、ガイド溝５に沿う真
直部１３を長く突出形成した。真直部１３はガイド溝５
から可撓係止ランス撓み反対方向に離間している。
とを行わせる際の端子半挿入検知精度を向上させる。 【構成】 コネクタハウジング２の端子収容室６に臨む
可撓係止ランス９の撓み空間側に、検査ピン３の端子半
挿入検知用突出部４が挿入されるガイド溝５を形成し
た。ガイド溝５の開口部に案内用の拾い面７を形成し
た。可撓係止ランス９の先端部に、ガイド溝５に沿う真
直部１３を長く突出形成した。真直部１３はガイド溝５
から可撓係止ランス撓み反対方向に離間している。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、コネクタ検査具で端子
の半挿入検知と導通検知とを行わせる際の端子半挿入検
知精度を向上させた端子半挿入検知用コネクタに関する
ものである。
の半挿入検知と導通検知とを行わせる際の端子半挿入検
知精度を向上させた端子半挿入検知用コネクタに関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】図９は先に本出願人が特願平６−１０８
２９号で提案したコネクタ検査具でコネクタの導通検査
を行う状態を示すものである。該コネクタ検査具４１
は、レバー４２の操作でスライド可能な検査器本体４３
と、該検査器本体４３に対向するコネクタ収容室４４を
有するコネクタ支持体４５とを具備する。該コネクタ支
持体４５は、案内杆４６に巻装されたコイルばね４７に
より検査器本体４３側に付勢され、コネクタ支持体４５
内に上方からコネクタ４８を収容した状態で、検査器本
体４３で加圧することで、コイルばね４７に抗して後退
する。
２９号で提案したコネクタ検査具でコネクタの導通検査
を行う状態を示すものである。該コネクタ検査具４１
は、レバー４２の操作でスライド可能な検査器本体４３
と、該検査器本体４３に対向するコネクタ収容室４４を
有するコネクタ支持体４５とを具備する。該コネクタ支
持体４５は、案内杆４６に巻装されたコイルばね４７に
より検査器本体４３側に付勢され、コネクタ支持体４５
内に上方からコネクタ４８を収容した状態で、検査器本
体４３で加圧することで、コイルばね４７に抗して後退
する。
【０００３】図１０に示す如く検査器本体４３内には複
数の検査用端子４９が設けられ、検査用端子４９内に導
電金属製の検査ピン５０がコイルばね５１の付勢のもと
で摺動自在に設けられている。該検査ピン５０は前方の
検査室５２内に突出している。
数の検査用端子４９が設けられ、検査用端子４９内に導
電金属製の検査ピン５０がコイルばね５１の付勢のもと
で摺動自在に設けられている。該検査ピン５０は前方の
検査室５２内に突出している。
【０００４】該検査ピン５０の軸部５３の先端には、導
通接触面５４ａを有する頭部５４と、該頭部５４から前
方に突出した端子半挿入検知用突出部５５とが形成され
ている。該検知用突出部５５はコネクタハウジング５６
の可撓係止ランス５７の撓み空間５８内に挿入される。
そして端子５９が半挿入（不完全挿入）である場合に
は、係止ランス５７1 が撓み空間内５８に位置するか
ら、検知用突出部５５が係止ランス５７1 に当接して端
子５９と導通接触面５４ａとの接触が得られず、端子５
９の半挿入が検知される。前記検査用端子４９はリード
線６０（図９）を介して図示しないチェッカーに接続さ
れている。
通接触面５４ａを有する頭部５４と、該頭部５４から前
方に突出した端子半挿入検知用突出部５５とが形成され
ている。該検知用突出部５５はコネクタハウジング５６
の可撓係止ランス５７の撓み空間５８内に挿入される。
そして端子５９が半挿入（不完全挿入）である場合に
は、係止ランス５７1 が撓み空間内５８に位置するか
ら、検知用突出部５５が係止ランス５７1 に当接して端
子５９と導通接触面５４ａとの接触が得られず、端子５
９の半挿入が検知される。前記検査用端子４９はリード
線６０（図９）を介して図示しないチェッカーに接続さ
れている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のコネクタの導通検査においては、図１１の如くコネ
クタ４８がコネクタ支持体４５内の収容室４４との間の
ガタ等によって傾いてセットされた場合や、可撓係止ラ
ンス５７が自然にへたりを生じた場合に、端子５９が正
規位置に挿入されていても、検査ピン５０の検知用突出
部５５が係止ランス５７の先端に当接して、端子５９の
導通を検査できなくなるという懸念があった。
来のコネクタの導通検査においては、図１１の如くコネ
クタ４８がコネクタ支持体４５内の収容室４４との間の
ガタ等によって傾いてセットされた場合や、可撓係止ラ
ンス５７が自然にへたりを生じた場合に、端子５９が正
規位置に挿入されていても、検査ピン５０の検知用突出
部５５が係止ランス５７の先端に当接して、端子５９の
導通を検査できなくなるという懸念があった。
【０００６】本発明は、上記した点に鑑み、コネクタが
傾いてセットされた場合等にも正確に端子の半挿入検査
及び導通検査を行うことのできる構造を提供することを
目的とする。
傾いてセットされた場合等にも正確に端子の半挿入検査
及び導通検査を行うことのできる構造を提供することを
目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、コネクタハウジングの端子収容室に臨む
可撓係止ランスの撓み空間側に、検査ピンの端子半挿入
検知用突出部が挿入されるガイド溝を形成して成る構造
を基本とする。そして前記ガイド溝の開口部に、前記端
子半挿入検知用突出部に対する案内用の拾い面を形成し
た構造も有効である。また、前記検査ピンが前記端子半
挿入検知用突出部の基部側に導通検知部を有し、該端子
半挿入検知用突出部が前記撓み空間内に挿入されると同
時に、該導通検知部が前記端子収容室内の端子に接触す
る構造において、前記ガイド溝を備える構造も可能であ
る。さらに、前記可撓係止ランスの先端部に、前記ガイ
ド溝に沿う真直部が長く突出形成された構造や、前記真
直部が前記ガイド溝から可撓係止ランス撓み反対方向に
離間している構造も有効である。
に、本発明は、コネクタハウジングの端子収容室に臨む
可撓係止ランスの撓み空間側に、検査ピンの端子半挿入
検知用突出部が挿入されるガイド溝を形成して成る構造
を基本とする。そして前記ガイド溝の開口部に、前記端
子半挿入検知用突出部に対する案内用の拾い面を形成し
た構造も有効である。また、前記検査ピンが前記端子半
挿入検知用突出部の基部側に導通検知部を有し、該端子
半挿入検知用突出部が前記撓み空間内に挿入されると同
時に、該導通検知部が前記端子収容室内の端子に接触す
る構造において、前記ガイド溝を備える構造も可能であ
る。さらに、前記可撓係止ランスの先端部に、前記ガイ
ド溝に沿う真直部が長く突出形成された構造や、前記真
直部が前記ガイド溝から可撓係止ランス撓み反対方向に
離間している構造も有効である。
【０００８】
【作用】検査ピンの端子半挿入検知用突出部はガイド溝
の軌道に沿ってコネクタハウジング内の規定位置に挿入
される。またガイド溝の開口部の拾い面はコネクタが傾
いた場合でも端子半挿入検知用突出部を確実にガイド溝
内に案内する。また可撓係止ランスの先端方の真直部
は、端子半挿入時に十分前方において端子半挿入検知用
突出部に当接し、検査ピンの導通検知部と端子との距離
が十分確保され、導通誤検知が防止される。また該真直
部がガイド溝から離間したことで、可撓係止ランスのへ
たりに伴う係止ランス先端と端子半挿入検知用突出部と
の誤接触が防止される。
の軌道に沿ってコネクタハウジング内の規定位置に挿入
される。またガイド溝の開口部の拾い面はコネクタが傾
いた場合でも端子半挿入検知用突出部を確実にガイド溝
内に案内する。また可撓係止ランスの先端方の真直部
は、端子半挿入時に十分前方において端子半挿入検知用
突出部に当接し、検査ピンの導通検知部と端子との距離
が十分確保され、導通誤検知が防止される。また該真直
部がガイド溝から離間したことで、可撓係止ランスのへ
たりに伴う係止ランス先端と端子半挿入検知用突出部と
の誤接触が防止される。
【０００９】
【実施例】図１〜４は本発明に係る端子半挿入検知用コ
ネクタの一実施例を示すものである。この例は雄コネク
タ１についてのものであり、図１〜３の如く合成樹脂製
の雄コネクタハウジング２には、従来の技術で説明した
検査ピン３の端子半挿入検知用突出部４に対するガイド
溝５が各端子収容室６に対応して複数形成されている。
ネクタの一実施例を示すものである。この例は雄コネク
タ１についてのものであり、図１〜３の如く合成樹脂製
の雄コネクタハウジング２には、従来の技術で説明した
検査ピン３の端子半挿入検知用突出部４に対するガイド
溝５が各端子収容室６に対応して複数形成されている。
【００１０】該ガイド溝５は図１の如くコネクタハウジ
ング２の前端から矩形状に切欠形成され、端子収容室６
の上部ないし上側において左右に対向する凹溝５ａを有
して、長手方向（コネクタ嵌合方向）に真直（ストレー
ト）に延びている。該ガイド溝５は検査ピン３のストロ
ークの範囲で真直に形成されている。
ング２の前端から矩形状に切欠形成され、端子収容室６
の上部ないし上側において左右に対向する凹溝５ａを有
して、長手方向（コネクタ嵌合方向）に真直（ストレー
ト）に延びている。該ガイド溝５は検査ピン３のストロ
ークの範囲で真直に形成されている。
【００１１】該ガイド溝５の開口部５ｂには図１〜３の
如く検査ピン案内用のテーパ状の拾い面７が上下左右に
形成されている。また該開口部５ｂには端子停止用の凸
部１０が左右に対向して設けられている。ガイド溝５は
凸部１０の上側に開口しており、該凸部１０は端子半挿
入検知用突出部４に対する案内役を果たしている。前記
凹溝５ａは端子収容室６の上部の両側壁に切欠形成され
ている。
如く検査ピン案内用のテーパ状の拾い面７が上下左右に
形成されている。また該開口部５ｂには端子停止用の凸
部１０が左右に対向して設けられている。ガイド溝５は
凸部１０の上側に開口しており、該凸部１０は端子半挿
入検知用突出部４に対する案内役を果たしている。前記
凹溝５ａは端子収容室６の上部の両側壁に切欠形成され
ている。
【００１２】該ガイド溝５は図２の如く端子収容室６に
ガイド溝５の横幅Ｌよりも狭い連通空間８を介して連通
している。該連通空間８は端子収容室６の一部を構成
し、該連通空間８のあたりに図２〜３の如く可撓係止ラ
ンス９が位置している。該可撓係止ランス９はハウジン
グ上壁１１ないし中間の隔壁１２の後部寄りから斜め前
方に向けて突出形成され、先端方（前半部）の上部に、
ガイド溝５と平行に長手方向（前方）に突出延長した真
直部１３を有する。該真直部１３は上向きの真直面１３
ａを有する。
ガイド溝５の横幅Ｌよりも狭い連通空間８を介して連通
している。該連通空間８は端子収容室６の一部を構成
し、該連通空間８のあたりに図２〜３の如く可撓係止ラ
ンス９が位置している。該可撓係止ランス９はハウジン
グ上壁１１ないし中間の隔壁１２の後部寄りから斜め前
方に向けて突出形成され、先端方（前半部）の上部に、
ガイド溝５と平行に長手方向（前方）に突出延長した真
直部１３を有する。該真直部１３は上向きの真直面１３
ａを有する。
【００１３】該真直部１３に沿ってガイド溝５が、真直
部１３とランス傾斜部１４との境界をやや過ぎた付近ま
で延びている。該真直部１３の真直面１３ａはガイド溝
５の底面５ｃ（図３）よりも若干の隙間Ｓを存して下側
すなわち係止ランス撓み反対方向にやや離間して位置し
ている。該真直部１３の下側にはランス傾斜部１４との
境界付近に、雌端子１５（図４）に対する係止突部１６
が形成されている。
部１３とランス傾斜部１４との境界をやや過ぎた付近ま
で延びている。該真直部１３の真直面１３ａはガイド溝
５の底面５ｃ（図３）よりも若干の隙間Ｓを存して下側
すなわち係止ランス撓み反対方向にやや離間して位置し
ている。該真直部１３の下側にはランス傾斜部１４との
境界付近に、雌端子１５（図４）に対する係止突部１６
が形成されている。
【００１４】図４の如く検査ピン３の端子半挿入検知用
突出部４はガイド溝５の軌道に沿ってコネクタハウジン
グ内に真直に挿入され、検査ピン３の段部すなわち導通
検知部１７はガイド溝５より下側の連通空間８あたりに
挿入される。そして該検知用突出部４は完全挿入の雌端
子１５に対する係止ランス９の上側に若干の隙間Ｓを存
して位置し、係止ランス９は雌端子１５の電気接触部１
８の上面よりも真直面１３ａを下側に位置させた状態
で、電気接触部１８の後段部に係止突部１６を係合させ
る。本例で検知用突出部４は絶縁材料で形成されている
ので、端子１５と接触しても何ら短絡の心配はない。な
お検知用突出部４を導電金属で形成する場合は端子１５
との間に隙間を設けて非接触とすることは勿論である。
突出部４はガイド溝５の軌道に沿ってコネクタハウジン
グ内に真直に挿入され、検査ピン３の段部すなわち導通
検知部１７はガイド溝５より下側の連通空間８あたりに
挿入される。そして該検知用突出部４は完全挿入の雌端
子１５に対する係止ランス９の上側に若干の隙間Ｓを存
して位置し、係止ランス９は雌端子１５の電気接触部１
８の上面よりも真直面１３ａを下側に位置させた状態
で、電気接触部１８の後段部に係止突部１６を係合させ
る。本例で検知用突出部４は絶縁材料で形成されている
ので、端子１５と接触しても何ら短絡の心配はない。な
お検知用突出部４を導電金属で形成する場合は端子１５
との間に隙間を設けて非接触とすることは勿論である。
【００１５】また導通検知部１７は電気接触部１８の先
端に接触する。前記隙間Ｓにより係止ランス９の撓み方
向へのへたりが吸収され、検査ピン３との干渉が防止さ
れる。また従来同様に半挿入（不完全挿入）の端子１５
1 に対する係止ランス９1 は撓み空間１９（図３）内に
撓んで位置し、検知用突出部４1 が係止ランス９1 の先
端に当接して、導通検査の結果、不導通となって端子半
挿入が検出される。
端に接触する。前記隙間Ｓにより係止ランス９の撓み方
向へのへたりが吸収され、検査ピン３との干渉が防止さ
れる。また従来同様に半挿入（不完全挿入）の端子１５
1 に対する係止ランス９1 は撓み空間１９（図３）内に
撓んで位置し、検知用突出部４1 が係止ランス９1 の先
端に当接して、導通検査の結果、不導通となって端子半
挿入が検出される。
【００１６】導通検査に際してコネクタ１が斜めにセッ
トされた場合でも、検査ピン３の端子半挿入検知用突出
部４がガイド溝５の拾い面７に案内され、それと共に、
上下左右に傾き可能なある程度の自由度を持った検査ピ
ン３がガイド溝５内にスムーズに挿入され、ないしはコ
ネクタ１自体が正常な姿勢に矯正されて、検知用突出部
４と係止ランス９との干渉や検知用突部４による係止ン
ス９のこじり等を生じることなく、確実な検知が可能と
なる。
トされた場合でも、検査ピン３の端子半挿入検知用突出
部４がガイド溝５の拾い面７に案内され、それと共に、
上下左右に傾き可能なある程度の自由度を持った検査ピ
ン３がガイド溝５内にスムーズに挿入され、ないしはコ
ネクタ１自体が正常な姿勢に矯正されて、検知用突出部
４と係止ランス９との干渉や検知用突部４による係止ン
ス９のこじり等を生じることなく、確実な検知が可能と
なる。
【００１７】図５は上記雄コネクタ１に対して用いられ
る検査ピンの一例を示すものであり、雌端子１５との短
絡を防止するために端子半挿入検知用突出部４は絶縁材
料で形成され、該検知用突出部４を突出させた頭部１７
すなわち導通検知部は導電材料で形成される。あるいは
本出願人が特願平６−３１６４２３号で提案した如くに
絶縁性の頭部１７に鎖線の如く導電性の軸部２０を挿通
させた構造としてもよい。また、検知用突出部４を導電
金属で導通検知部１７と一体に成形した場合は検知用突
出部４の表面に絶縁処理を施しておく。
る検査ピンの一例を示すものであり、雌端子１５との短
絡を防止するために端子半挿入検知用突出部４は絶縁材
料で形成され、該検知用突出部４を突出させた頭部１７
すなわち導通検知部は導電材料で形成される。あるいは
本出願人が特願平６−３１６４２３号で提案した如くに
絶縁性の頭部１７に鎖線の如く導電性の軸部２０を挿通
させた構造としてもよい。また、検知用突出部４を導電
金属で導通検知部１７と一体に成形した場合は検知用突
出部４の表面に絶縁処理を施しておく。
【００１８】図６〜８は導通検査コネクタとしての雌コ
ネクタ２１の実施例を示すものである。合成樹脂製の雌
コネクタハウジング２２は前半部に前記雄コネクタハウ
ジング２（図１）に対する嵌合室２３とロックアーム２
５（図１）に対する係合部２４とを有し、後半部に検査
ピン２６の端子半挿入検知用突出部２７に対するガイド
溝２８と、ガイド溝２８に連通した端子収容室２９とを
有する。
ネクタ２１の実施例を示すものである。合成樹脂製の雌
コネクタハウジング２２は前半部に前記雄コネクタハウ
ジング２（図１）に対する嵌合室２３とロックアーム２
５（図１）に対する係合部２４とを有し、後半部に検査
ピン２６の端子半挿入検知用突出部２７に対するガイド
溝２８と、ガイド溝２８に連通した端子収容室２９とを
有する。
【００１９】該ガイド溝２８は前例同様に矩形状の開口
部３０を有して後方に真直に延び、該開口部３０には検
査ピン案内用の拾い面３１が形成されている。図６の如
くガイド溝２８を構成する左右一対の凹溝２８ａの下側
には一対の凸部３２が開口端から端子収容室２９の長手
方向中間部にかけて延長形成され、該凸部３２によりガ
イド溝２８と下側の端子収容室２９とが区画されてい
る。また雌コネクタハウジング２内の可撓係止ランス３
３（図７）は先端方に、ガイド溝２８のやや下側におい
てガイド溝２８と平行な真直部３４（真直面３４ａ）を
有する。
部３０を有して後方に真直に延び、該開口部３０には検
査ピン案内用の拾い面３１が形成されている。図６の如
くガイド溝２８を構成する左右一対の凹溝２８ａの下側
には一対の凸部３２が開口端から端子収容室２９の長手
方向中間部にかけて延長形成され、該凸部３２によりガ
イド溝２８と下側の端子収容室２９とが区画されてい
る。また雌コネクタハウジング２内の可撓係止ランス３
３（図７）は先端方に、ガイド溝２８のやや下側におい
てガイド溝２８と平行な真直部３４（真直面３４ａ）を
有する。
【００２０】ガイド溝２８は真直部３４を過ぎてランス
傾斜部３８にかけて延長形成されてる。コネクタハウジ
ング２内に雄端子３５を収容する構造上、ガイド溝２８
の長さは雄コネクタハウジング２（図３）のガイド溝５
よりも短く形成されているが、係止ランス３３の先端部
に真直部３４が長く突出形成されているので、検査ピン
２６のストロークが従来のコネクタよりも長く設定さ
れ、すなわち図８の如く検査ピン２６1 の導通検知部３
６1 と端子３５1 の先端部３５ａとの距離が十分離間し
た状態で、係止ランス３３1 の先端と検知用突出部２７
1 との当接が行われるので、検出誤差を生じる心配がな
く、検査精度が良い。
傾斜部３８にかけて延長形成されてる。コネクタハウジ
ング２内に雄端子３５を収容する構造上、ガイド溝２８
の長さは雄コネクタハウジング２（図３）のガイド溝５
よりも短く形成されているが、係止ランス３３の先端部
に真直部３４が長く突出形成されているので、検査ピン
２６のストロークが従来のコネクタよりも長く設定さ
れ、すなわち図８の如く検査ピン２６1 の導通検知部３
６1 と端子３５1 の先端部３５ａとの距離が十分離間し
た状態で、係止ランス３３1 の先端と検知用突出部２７
1 との当接が行われるので、検出誤差を生じる心配がな
く、検査精度が良い。
【００２１】該係止ランス３３により中間の凹部３５ｂ
を係止された雄端子３５の先端タブ部３５ａは嵌合室２
３内に突出し、該タブ部３５ａの先端に導電性の検査ピ
ン２６の導通検知部３６が接触する。該検査ピン２６は
導電材料で一体に形成され、ガイド溝２８に挿通可能な
端子半挿入検知用突出部２７と、該検知用突出部２７の
突出基部においてガイド溝２８の開口部３０に対する中
間段部３７と、先端タブ部３５ａに対する導通検知部と
しての接触用段部３６とを有する。なお該導通検知部３
６のみを導電材で形成し、他を絶縁材で形成することも
可能である。
を係止された雄端子３５の先端タブ部３５ａは嵌合室２
３内に突出し、該タブ部３５ａの先端に導電性の検査ピ
ン２６の導通検知部３６が接触する。該検査ピン２６は
導電材料で一体に形成され、ガイド溝２８に挿通可能な
端子半挿入検知用突出部２７と、該検知用突出部２７の
突出基部においてガイド溝２８の開口部３０に対する中
間段部３７と、先端タブ部３５ａに対する導通検知部と
しての接触用段部３６とを有する。なお該導通検知部３
６のみを導電材で形成し、他を絶縁材で形成することも
可能である。
【００２２】
【発明の効果】以上の如くに、本発明によれば、検査ピ
ンの端子半挿入検知用突出部がガイド溝の軌道に沿って
コネクタハウジング内に真直に挿入されるから、例えコ
ネクタが傾いて検査具にセットされた場合でも、端子半
挿入検知用突出部がコネクタハウジングの可撓係止ラン
スを撓ませたり、こじって破損させたりすることなく、
正確な半挿入検知及び導通検知を行うことができる。ま
た、可撓係止ランスの先端方に真直部が突出形成される
ことにより、端子半挿入時に真直部に端子半挿入検知用
突出部が当接した際に、検査ピンの導通検知部と端子と
の距離が十分確保されるから、導通誤検知が防止され、
正確な検査が行われる。さらに、該真直部がガイド溝か
ら可撓係止ランス撓み反対方向に離間した構造により、
可撓係止ランスのへたりに伴う係止ランス先端と端子半
挿入検知用突出部との誤接触が防止され、一層正確な検
査が可能となる。
ンの端子半挿入検知用突出部がガイド溝の軌道に沿って
コネクタハウジング内に真直に挿入されるから、例えコ
ネクタが傾いて検査具にセットされた場合でも、端子半
挿入検知用突出部がコネクタハウジングの可撓係止ラン
スを撓ませたり、こじって破損させたりすることなく、
正確な半挿入検知及び導通検知を行うことができる。ま
た、可撓係止ランスの先端方に真直部が突出形成される
ことにより、端子半挿入時に真直部に端子半挿入検知用
突出部が当接した際に、検査ピンの導通検知部と端子と
の距離が十分確保されるから、導通誤検知が防止され、
正確な検査が行われる。さらに、該真直部がガイド溝か
ら可撓係止ランス撓み反対方向に離間した構造により、
可撓係止ランスのへたりに伴う係止ランス先端と端子半
挿入検知用突出部との誤接触が防止され、一層正確な検
査が可能となる。
【図１】本発明に係る端子半挿入検知用コネクタの一実
施例としての雄コネクタハウジングを示す斜視図であ
る。
施例としての雄コネクタハウジングを示す斜視図であ
る。
【図２】同じく雄コネクタハウジングの要部正面図であ
る。
る。
【図３】図２のＡ−Ａ断面図（縦断面図）である。
【図４】コネクタの検査状態を示す縦断面図である。
【図５】検査ピンの一例を示す斜視図である。
【図６】他の一実施例としての雌コネクタハウジングを
示す斜視図である。
示す斜視図である。
【図７】同じく縦断面図である。
【図８】コネクタの検査状態を示す縦断面図である。
【図９】検査具にコネクタをセットする状態の斜視図で
ある。
ある。
【図１０】従来のコネクタによる検査状態を示す縦断面
図である。
図である。
【図１１】従来の課題を示す要部縦断面図である。
２，２２ コネクタハウジング ３，２６ 検査ピン ４，２７ 端子半挿入検知用突出部 ５，２８ ガイド溝 ６，２９ 端子収容室 ７，３１ 拾い面 ９，３３ 可撓係止ランス １５，３５ 端子 １７，３６ 導通検知部 １３，３４ 真直部 １９ 撓み空間
Claims (5)
- 【請求項１】 コネクタハウジングの端子収容室に臨む
可撓係止ランスの撓み空間側に、検査ピンの端子半挿入
検知用突出部が挿入されるガイド溝を形成して成ること
を特徴とする端子半挿入検知用コネクタ。 - 【請求項２】 前記ガイド溝の開口部に、前記端子半挿
入検知用突出部に対する案内用の拾い面を形成したこと
を特徴とする請求項１記載の端子半挿入検知用コネク
タ。 - 【請求項３】 前記検査ピンが前記端子半挿入検知用突
出部の基部側に導通検知部を有し、該端子半挿入検知用
突出部が前記撓み空間内に挿入されると同時に、該導通
検知部が前記端子収容室内の端子に接触する構造におい
て、前記ガイド溝を備えることを特徴とする請求項１又
は２記載の端子半挿入検知用コネクタ。 - 【請求項４】 前記可撓係止ランスの先端部に、前記ガ
イド溝に沿う真直部が長く突出形成されたことを特徴と
する請求項１〜３の何れかに記載の端子半挿入検知用コ
ネクタ。 - 【請求項５】 前記真直部が前記ガイド溝から可撓係止
ランス撓み反対方向に離間していることを特徴とする請
求項４記載の端子半挿入検知用コネクタ。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12249895A JP3253050B2 (ja) | 1995-05-22 | 1995-05-22 | 端子半挿入検知用コネクタ |
| US08/649,204 US5839914A (en) | 1995-05-22 | 1996-05-17 | Connector for detecting incomplete insertion of terminal |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12249895A JP3253050B2 (ja) | 1995-05-22 | 1995-05-22 | 端子半挿入検知用コネクタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08313581A true JPH08313581A (ja) | 1996-11-29 |
| JP3253050B2 JP3253050B2 (ja) | 2002-02-04 |
Family
ID=14837338
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12249895A Expired - Fee Related JP3253050B2 (ja) | 1995-05-22 | 1995-05-22 | 端子半挿入検知用コネクタ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5839914A (ja) |
| JP (1) | JP3253050B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012028030A (ja) * | 2010-07-20 | 2012-02-09 | Yazaki Corp | コネクタ検査システム |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2746968B1 (fr) * | 1996-03-29 | 1998-06-12 | Framatome Connectors France | Module de connexion a contacts demontables et bloc de connexion en faisant application |
| JP3211735B2 (ja) * | 1997-07-29 | 2001-09-25 | 住友電装株式会社 | 雌型コネクタ |
| JP3794608B2 (ja) * | 1999-12-01 | 2006-07-05 | 矢崎総業株式会社 | コネクタ導通検査具 |
| JP3804040B2 (ja) * | 1999-12-07 | 2006-08-02 | 矢崎総業株式会社 | フロントホルダを有するコネクタ装置 |
| JP3601773B2 (ja) * | 1999-12-08 | 2004-12-15 | 矢崎総業株式会社 | 端子 |
| JP3635629B2 (ja) * | 2000-03-14 | 2005-04-06 | 矢崎総業株式会社 | コネクタ |
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Citations (3)
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| JPH07113836A (ja) * | 1993-08-24 | 1995-05-02 | Yazaki Corp | コネクタ検査具 |
| JPH07254449A (ja) * | 1994-03-14 | 1995-10-03 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | コネクタ及びコネクタ検査装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6247093A (ja) * | 1985-08-26 | 1987-02-28 | 日本電気株式会社 | 拡大表示制御回路 |
| JPS6436149A (en) * | 1987-07-30 | 1989-02-07 | Nec Corp | Packet multiplexing system |
| JP2700117B2 (ja) * | 1992-07-28 | 1998-01-19 | 矢崎総業株式会社 | コネクタの端子挿入構造 |
| JP2797928B2 (ja) * | 1993-10-15 | 1998-09-17 | 住友電装株式会社 | コネクタ検査装置 |
| JP2567958Y2 (ja) * | 1993-12-07 | 1998-04-08 | 住友電装株式会社 | コネクタ |
-
1995
- 1995-05-22 JP JP12249895A patent/JP3253050B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-05-17 US US08/649,204 patent/US5839914A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0455765U (ja) * | 1990-09-21 | 1992-05-13 | ||
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3253050B2 (ja) | 2002-02-04 |
| US5839914A (en) | 1998-11-24 |
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