JP2940401B2 - コネクタ検査装置 - Google Patents

コネクタ検査装置

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JP2940401B2 JP6152974A JP15297494A JP2940401B2 JP 2940401 B2 JP2940401 B2 JP 2940401B2 JP 6152974 A JP6152974 A JP 6152974A JP 15297494 A JP15297494 A JP 15297494A JP 2940401 B2 JP2940401 B2 JP 2940401B2
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/68Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board
    • G01R31/69Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board of terminals at the end of a cable or a wire harness; of plugs; of sockets, e.g. wall sockets or power sockets in appliances

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、端子金具が挿入された
コネクタをその端子金具とプローブとの間の電気的導通
の有無に基づいて検査するコネクタ検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】この種のコネクタ検査装置としては、例
えば特公平4−40669号公報に記載されたものが知
られている。これは、基台にコネクタホルダを固定して
設けると共にプローブホルダをコネクタホルダに対して
接近及び離間方向に移動可能に設け、そのプローブホル
ダには複数本のプローブを配設した構成である。
【0003】このコネクタ検査装置では、キャビティ内
に端子金具が挿入されてワイヤーハーネスを構成してい
るコネクタをコネクタホルダに装着し、プローブホルダ
をコネクタホルダ側へ移動させると、プローブがコネク
タハウジングのキャビティ内に進入してその内部の端子
金具に接触するようになっている。このときに、端子金
具が正しいキャビティに挿入されていればその端子金具
とプローブとの間には正しい電気的導通が生じるのであ
るが、端子金具が正しいキャビティに挿入されていない
場合には端子金具とプローブとの間の電気的導通は所定
の状態にはならない。このことから、端子金具が正しい
キャビティに挿入されているか否かが判断され、ワイヤ
ーハーネスの導通検査が行われるのである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記構成では、プロー
ブの先端がコネクタハウジングのキャビティ内に進入
し、プローブがキャビティ内の端子金具のうち相手側の
端子金具と接触する接触舌片に接触することになる。と
ころが、この種の端子金具では、相手側の端子金具との
間に安定した電気接触状態を確保するために、接触舌片
に例えば金メッキを施しているものがある。このため、
上述のようにプローブの先端が端子金具の接触舌片に接
触してしまうものではプローブがメッキ部分に傷を付け
てしまうことがあり、電気接触状態の信頼性に問題を生
ずるおそれがあった。
【0005】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は、導通検査のためにプローブを接触させ
ながら、端子金具の接触部に傷を付けることを防止でき
るコネクタ検査装置を提供するところにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明のコネクタ検査装
置は、コネクタハウジングのキャビティに端子金具が挿
入され、そのキャビティに隣接するランス撓み空間に向
かって撓み可能なランスにて端子金具を抜け止め状態と
したコネクタを、その端子金具とプローブとの間の電気
的導通の有無に基づいて検査する装置であって、コネク
タを保持するコネクタホルダと、このコネクタホルダに
保持されたコネクタに対向して設けられコネクタの各端
子金具に対応するプローブを備えたプローブホルダと、
コネクタホルダ及びプローブホルダの一方又は双方を互
いに接近する方向に移動させるプローブ駆動機構とを備
え、コネクタホルダとプローブホルダとはプローブの延
長方向と端子金具の延長方向とが互いに交差するように
設けられ、プローブ駆動機構の作動によりプローブがラ
ンス撓み空間内を斜めに通過して端子金具の側部に接触
するように構成したところに特徴を有する。
【0007】
【作用】上記構成のコネクタ検査装置では、検査すべき
コネクタをコネクタホルダにセットしてプローブ駆動機
構を作動させる。これにより、コネクタホルダ及びプロ
ーブホルダの一方又は双方が互いに接近する方向に移動
されるが、コネクタホルダとプローブホルダとはプロー
ブの延長方向と端子金具の延長方向とが互いに交差する
ように設けられているから、プローブがコネクタハウジ
ングのランス撓み空間内に進入され、プローブがランス
撓み空間内を斜めに通過して端子金具の側部に接触する
ことになる。
【0008】
【発明の効果】以上述べたように、本発明のコネクタ検
査装置によれば、プローブの先端は端子金具の側部に接
触するので、端子金具のうち相手方の端子金具に接触が
予定されている接触部には接触することなく導通検査を
行うことができる。この結果、端子金具の接触部に傷を
付けることを確実に防止して電気的導通状態の信頼性を
高めることができるという優れた効果が得られる。
【0009】
【実施例】以下、本発明を具体化した一実施例について
図面を参照して説明する。 <コネクタの概説>まず、本実施例のコネクタ検査装置
10によって検査されるコネクタ1について説明する。
これは、ほぼ直方体状をなす合成樹脂製のコネクタハウ
ジング2を備え、その内部に形成された複数のキャビテ
ィ3にそれぞれ雌型の端子金具4を収容した周知の構造
であり、端子金具4はキャビティ3の後方から挿入され
てキャビティ3内部にコネクタハウジング2と一体に設
けられたランス5によって抜け止めされる。電線6に接
続された端子金具4がキャビティ3内に後方から挿入さ
れると、ランス5はキャビティ3と隣接して形成された
ランス撓み空間7側に一時的に撓んでその通過を許容
し、端子金具4が正規位置に納まるとランス5が端子金
具4と係合するようになっている。なお、コネクタハウ
ジング2の前面側において、キャビティ3とランス撓み
空間7とは区画枠8にて区画されている。また、端子金
具4の先端側には図示しない相手方の雄端子金具のタブ
部と接触する接触舌片が形成されており、ここに金メッ
キが施されている。
【0010】<コネクタ検査装置>さて、本実施例のコ
ネクタ検査装置10は、図1に示すように基台11上の
図示右側にコネクタホルダ12を有する。コネクタホル
ダ12は上記コネクタ1を保持するためのものであり、
合成樹脂材料からなる前後両方向及び上方に開放したU
字形断面をなすホルダ本体13と、その後端面に固着し
たU字形のストッパプレート14とから構成される。ホ
ルダ本体13は、基台11の上面にその長手方向に沿っ
て突設した2条のレール15を跨いだ状態で基台11に
固定されており、その上方及び前後両方向に開放した空
間はコネクタ保持部16となっており、そのコネクタ保
持部16を構成する互いに平行な左右両側壁の間隔はコ
ネクタ1のコネクタハウジング2の幅とほぼ同じ寸法と
されると共に、前記レール15に対して斜めになる方向
に延びている。この結果、このコネクタ保持部16内に
上方から挿入されて保持されるコネクタ1は、斜め前方
に向いた形態に保持されることになる。なお、コネクタ
保持部16の後部にはコネクタハウジング2の後端面に
設けられている突条2aを挿入する溝部16aが形成さ
れ、この溝部16aと前記ストッパプレート14との間
にコネクタハウジング2の突条2aを嵌合することによ
ってコネクタハウジング2を前後移動が阻止された状態
で保持できるようになっている。また、そのコネクタ1
の保持状態で、コネクタハウジング2はコネクタ保持部
16から前方に突出すると共に、コネクタハウジング2
のキャビティ3とこれに対応するランス撓み空間7とは
横並び状態となる。
【0011】一方、基台11上には上記コネクタホルダ
12と対向してプローブホルダ17が設けられている。
このプローブホルダ17は前記レール15に沿ってコネ
クタホルダ12に接近及び離間する方向にスライド移動
自在に支持されると共に、コネクタホルダ12との間に
レール15に沿った2本のガイドシャフト18が設けら
れている。そして、その各ガイドシャフト18にはそれ
ぞれ圧縮スプリング19が装着されており、プローブホ
ルダ17がコネクタホルダ12に近接する方向に移動す
ると、これが圧縮されるようになっている。
【0012】プローブホルダ17には、コネクタホルダ
12側の面に凹部20が形成され、ここにコネクタホル
ダ12に保持されたコネクタハウジング2の先端側が進
入できるようになっている。そして、その図3及び図4
に示すように、凹部20の奥壁部20aは段付き状にな
っており、凹部20内に進入したコネクタハウジング2
の先方側稜部に対応する部分は深くされている。
【0013】このプローブホルダ17には、その移動方
向に沿って延びる複数本のプローブ21が検査すべきコ
ネクタ1の各端子金具4に対応して設けられており、そ
の先端がコネクタホルダ12側に向いている。各プロー
ブ21は、プローブホルダ17に固定したスリーブ22
内にプローブピン23を軸方向に移動自在に挿入して構
成されており、プローブピン23はスリーブ22内に設
けた図示しないコイルスプリングによって常に突出方向
に付勢されると共に、それぞれ電線が接続されており、
これらが図示しないワイヤーハーネスの導通検査回路に
接続されている。この導通検査回路にはワイヤーハーネ
スとして組み上げられたコネクタ1の電線6も接続され
るようになっており、端子金具4とプローブピン23と
の間の電気的導通の有無が検出され、それに基づいて接
続の適否がランプの点灯やブザーの鳴動等により報知さ
れるようになっている。
【0014】そして、基台11のうちコネクタホルダ1
2とは反対側でプローブホルダ17を挟む位置にカムハ
ンドル24が支軸25を中心に回動操作可能に設けら
れ、ハンドル部24aを握って回動操作すると、その回
動角度に応じてカム部24bがプローブホルダ17を押
圧するようになっている。このカムハンドル24はプロ
ーブホルダ17をコネクタホルダ12に接近する方向に
移動させるプローブ駆動機構を構成する。
【0015】<実施例の作用>次に、本実施例の作用を
説明する。ワイヤハーネスとして組み立てられたコネク
タ1を検査する場合、まず、そのコネクタ1をコネクタ
検査装置10のコネクタ保持部16に上方からセットし
て保持させる。すると、コネクタ1は図3に示すように
プローブホルダ17に対して斜めに向かい合うことにな
り、またコネクタハウジング2のランス撓み空間7はキ
ャビティ3の左側(図3で下側)に位置することにな
る。
【0016】次いで、カムハンドル24のハンドル部2
4aを握って上方に回動させると、これが支軸25を中
心に回動するため、カム部24bがプローブホルダ17
を押圧するようになり、これが図3中右方向に移動して
プローブホルダ17の凹部20内にコネクタ1のコネク
タハウジング2が進入するようになる。
【0017】すると、プローブ21のプローブピン23
の先端部がコネクタハウジング2のランス撓み空間7内
に斜めに進入するようになる(図3参照)。そして、プ
ローブピン23の先端部がランス撓み空間7内を斜めに
横切って、キャビティ3内に至り、ここで端子金具4に
遭遇してその側面部に接触することになり(図4参
照)、これと電気的な導通が得られて導通検査回路にて
導通検査が行われる。
【0018】<実施例の効果>このように本実施例のコ
ネクタ検査装置10によれば、プローブピン23は端子
金具4に対して、その側部から接触することになるか
ら、相手方の端子金具との接触が予定されていて金メッ
キが施されている接触舌片にはプローブピン23は接触
することがない。このため、端子金具4の接触舌片に金
メッキが施されていても、ここに傷を付けてしまうこと
を確実に防止することができ、コネクタとしての電気接
触状態の信頼性を十分に高めることができる。しかも、
プローブを端子金具の接触舌片に押し当てる従来の検査
装置では、コネクタ及びプローブ側双方の加工誤差によ
ってはプローブが端子金具の接触舌片に強く当たってこ
れを変形させてしまうこともあった。しかし、本実施例
のコネクタ検査装置10によれば、プローブピン23は
相手方の端子金具との接触が予定されている接触舌片に
は接触しないため、これを変形させてしまうおそれは全
くなく、検査が原因となってコネクタの接触舌片を損傷
させてしまうという不合理な事態を確実に防止できる。
また、従来の検査装置では、万一、プローブピンが変形
して収縮変位ができなくなった場合にも、やはり端子金
具の接触舌片を変形させてしまうことがあったが、本実
施例によれば、かかる事態も生じない。もちろん、プロ
ーブを使用せず、例えば実際の雄形端子を検査用端子と
して利用してコネクタの雌形端子に接触させる従来のコ
ネクタ検査装置と比較しても、同様に、接触舌片のメッ
キ部の摩耗・剥がれや接触舌片自体の変形を確実に防止
することができるので、端子金具の機能維持を図ること
ができる。加えて、本実施例では、単に、基台11のコ
ネクタホルダ12に斜めにコネクタ1をセットしてカム
ハンドル24を回動操作すればよいから、検査のための
必要な動作が単純であり、検査作業の作業効率にも優れ
る。
【0019】<他の実施例>本発明は上記記述及び図面
によって説明した実施例に限定されるものではなく、例
えば次のような実施態様も本発明の技術的範囲に含まれ
る。 (1)上記実施例では、コネクタホルダ12を移動させ
る構成としたが、これに限らず、逆に、カムハンドルを
回動操作すると、コネクタホルダがプローブホルダ側に
移動したり、双方が移動したりする構成であってもよ
く、要するところ、プローブ駆動機構の作動によりプロ
ーブがランス撓み空間内を斜めに通過して端子金具の側
部に接触するように構成されていればよい。
【0020】(2)前記実施例ではプローブピン23を
丸軸のピン形状のものとしたが、これに限らず、例えば
細い帯状導電板を使用してもよい。この場合には、その
帯状導電板の先端部を端子金具の側面側に向けて折り返
して先端が太くなる形状とすることが好ましい。
【0021】その他、本願発明は上記記述及び図面によ
って説明した実施例に限定されるものではなく、端子金
具に金メッキが施されていないコネクタの検査に適用す
る等、要旨を逸脱しない範囲内で種々変更して実施する
ことができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す全体の斜視図
【図2】同じく平面図
【図3】検査途中であってプローブピンがランス撓み空
間内に進入した状態を示す拡大横断面図
【図4】検査途中であってプローブピンがランス撓み空
間内から端子金具に接触した状態を示す拡大横断面図
【符号の説明】
2…コネクタハウジング 4…端子金具 5…ランス 7…ランス撓み空間 10…コネクタ検査装置 11…基台 12…コネクタホルダ 16…コネクタ保持部 17…プローブホルダ 19…圧縮スプリング 21…プローブ 23…プローブピン 24…カムハンドル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−140160(JP,A) 特開 平6−88850(JP,A) 特開 平6−123753(JP,A) 特開 平7−120524(JP,A) 特開 平7−38978(JP,A) 特開 平7−220847(JP,A) 特開 平7−226277(JP,A) 実開 昭59−180687(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01R 31/04

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 コネクタハウジングのキャビティに端子
    金具が挿入され、そのキャビティに隣接するランス撓み
    空間に向かって撓み可能なランスにて前記端子金具を抜
    け止め状態としたコネクタを、その端子金具とプローブ
    との間の電気的導通の有無に基づいて検査する装置であ
    って、 前記コネクタを保持するコネクタホルダと、このコネク
    タホルダに保持されたコネクタに対向して設けられ前記
    コネクタの各端子金具に対応するプローブを備えたプロ
    ーブホルダと、前記コネクタホルダ及び前記プローブホ
    ルダの一方又は双方を互いに接近する方向に移動させる
    プローブ駆動機構とを備え、前記コネクタホルダと前記
    プローブホルダとは前記プローブの延長方向と前記端子
    金具の延長方向とが互いに交差するように設けられ、前
    記プローブ駆動機構の作動により前記プローブがランス
    撓み空間内を斜めに通過して前記端子金具の側部に接触
    するように構成されていることを特徴とするコネクタ検
    査装置。
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