JP2004037164A - コネクタ検査装置 - Google Patents

コネクタ検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2004037164A
JP2004037164A JP2002192473A JP2002192473A JP2004037164A JP 2004037164 A JP2004037164 A JP 2004037164A JP 2002192473 A JP2002192473 A JP 2002192473A JP 2002192473 A JP2002192473 A JP 2002192473A JP 2004037164 A JP2004037164 A JP 2004037164A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
connector
detection pin
housing
terminal fitting
inspection unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Abandoned
Application number
JP2002192473A
Other languages
English (en)
Inventor
Hitoshi Okumura
奥村 均
Yukihiro Fukatsu
深津 幸弘
Shinya Fujita
藤田 伸也
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Original Assignee
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Wiring Systems Ltd filed Critical Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority to JP2002192473A priority Critical patent/JP2004037164A/ja
Publication of JP2004037164A publication Critical patent/JP2004037164A/ja
Abandoned legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)

Abstract

【課題】端子金具の導通検査を確実に行うことができるようにする。
【解決手段】ベース46上には、コネクタ10を収容するコネクタホルダー48と、検査ユニット52が配されている。検査ユニット52はコネクタホルダー48に対して接離可能に設けられ、検査ユニット52内に設けられた検知ピン56は検査ユニット52が接近したときにコネクタハウジング11のピン挿通孔19内を進入し雌端子金具30のランス係止突部36に接触する。一方、検査ユニット52には調整板60が移動可能に設けられるとともに、各検知ピン56に対応して矯正孔61が貫通して形成され、検知ピン56は矯正孔61を通過する過程でアライメント調整がなされる。
【選択図】 図4

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はコネクタ検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
コネクタ検査装置としては、特公平4−40669号、特公平7−27000号等に開示されているものがある。その一例を図8及び図9を参照して説明する。
【0003】
これは、基台1に固定したコネクタホルダー2と、コネクタホルダー2に対して接離移動する検査ユニット3とを備えて構成される。コネクタハウジング7の複数のキャビティ8内に端子金具9を挿入してなるコネクタ6をコネクタホルダー2にセットし、レバー5の操作により検査ユニット3をコネクタ6に接近させると、複数のプローブ4が、それぞれコネクタハウジング7の前面の開口から所定のキャビティ8内に進入して端子金具9に当接する。そして、端子金具9とプローブ4との間の導通により、端子金具9が正規のキャビティ8内に挿入されているか否かが検査されるのである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
上記検査装置では、検査ユニット3の各プローブ4はキャビティ8内へ進入させる関係上、前方へ向けて片持ち状に長く突出しているため、芯ぶれを生じることがありうる。芯ぶれが大きい場合には、キャビティ8内への進入に支障を来し検査機能を低下させてしまう。特に、最近のようにコネクタの小型化が進むと、キャビティの入り口も狭く、芯ぶれ対策は重要な課題となる。また、キャビティの入り口が狭くなれば、これに伴ってプローブも細くなるため、芯ぶれをより生じやすくなる。
【0005】
本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、端子金具の挿入状態の検査を確実に行うことができるコネクタ検査装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するための手段として、請求項1の発明は、ベースの一側に検査対象となるコネクタを収容可能なコネクタホルダーが配され、他側には前記コネクタホルダーに対向して検査ユニットが配され、かつこの検査ユニットには前記コネクタのハウジング内に挿入された端子金具と導通を得る検知ピンが設けられ、検査時にはこの検出ピンが前記ハウジングの前面より進入して前記端子金具に接触することで検査回路が形成されるようになっているコネクタ検査装置であって、前記コネクタホルダーあるいは前記検査ユニットのいずれか一方には、前記検知ピンに対応した矯正孔を有する調整板が前記ハウジングの前面側に位置するように設けられ、前記検知ピンがハウジング内へ進入する際には前記検知ピンが前記矯正孔を通過することで、検知ピンの進入方向を矯正可能となっていることを特徴とするものである。
【0007】
請求項2の発明は、請求項1記載のものにおいて、前記端子金具は相手側端子金具と導通可能な本体部を有し、かつこの本体部の外面には前記ハウジング内に形成されたランスに対して係止可能な突部が突出形成される一方、前記ハウジングの前面でかつ前記相手側端子金具が進入する端子挿入孔と隣接し前記突部に対応した位置には、ピン挿通孔が開設されたコネクタに対し、前記検知ピンは前記ピン挿通孔を通して前記ハウジング内へ進入可能となっていることを特徴とするものである。
【0008】
請求項3の発明は、請求項1又は2記載のものにおいて、前記検査ユニットは前記コネクタホルダーに対し接離する方向に相対移動可能となっており、検査ユニットの相対的な接近動作に伴って前記検知ピンが前記ハウジング内へ進入可能となっているものにおいて、前記調整板は前記検査ユニット側において戻しばねを介して進退可能とされるとともに、同調整板は常には前記検知ピンの先端部が前記矯正孔に臨む位置に保持され、前記検知ピンが前記ハウジング内へ進入するときには、前記ハウジングの前面に突き当てられ前記戻しばねを圧縮させつつ後退することによって前記検知ピンを前記矯正孔から突出させることを特徴とするものである。
【0009】
【発明の作用及び効果】
<請求項1の発明>
コネクタの検査を行う場合には、ハウジング内に端子金具が挿入された状態にあるコネクタをコネクタホルダーへセットする。この状態で、検査ユニットの検知ピンをハウジングの前面から進入させる。これにより、検知ピンが端子金具に接触し導通検査がなされる。
【0010】
ところで、請求項1の発明によれば、検知ピンがハウジング内に進入するときには調整板の矯正孔を通過し、その通過過程で検知ピンの進入方向が矯正されるため、検知ピンの振れを規制して確実に端子金具との導通を可能にする。
【0011】
<請求項2の発明>
請求項2の発明によれば、検知ピンは端子挿入孔ではなくこれとは別個に開口するピン挿通孔を通してハウジング内に進入する。すなわち、検知ピンは相手端子金具との接触部に接触させるのでなく、外面に設けた突部に接触させるようにしているから、端子金具の保護に寄与する。
【0012】
<請求項3の発明>
請求項3の発明によれば、検知ピンの先端が常には調整板の矯正孔に臨んでいるため、検知ピンを変形から保護することができる。そして、検査ユニットをコネクタホルダーに対し相対的に接近させると、調整板がハウジングの前面に突き当てられるため、以後、調整板は戻しばねを圧縮させながら後退する。これによって、検知ピンが調整板から徐々に突出し、ハウジング内に進入して端子金具との導通を可能にする。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を添付図面に基づいて説明する。
【0014】
まず、コネクタハウジング11の構成について説明する。コネクタハウジング11(雌コネクタハウジング)の上面には相手側コネクタハウジング(雄コネクタハウジング)に対するロックアーム12が撓み可能に配されている。コネクタハウジング11は内部に複数のキャビティ13が前後に貫通して形成されている。また、キャビティ13の底面で前端寄りの位置には雌端子金具30(端子金具)に対して係止可能なランス14が撓み可能に設けられている。このランス14は前方へ向けて片持ち状に延出されており、雌端子金具30の通過時には下方へ撓んで雌端子金具30の通過を許容し、雌端子金具30が正規位置にまで挿入されると、復帰変形して雌端子金具30と弾性的に係止する。
【0015】
また、コネクタハウジング11の長さ方向中央にはリテーナ装着孔18が開口するとともに、ここにはリテーナ25が押し込み可能となっている。図示のリテーナ25は、斜め前方へ押し込みがなされるようにしたものであり、雌端子金具30が正規位置からやや押し込み不足が生じていた場合にも、雌端子金具30を押し込んで正規深さ位置に矯正する機能を有する。
【0016】
さらに、コネクタハウジング11の前面には端子挿入孔16が開口している。この端子挿入孔16は雌雄のコネクタハウジングが嵌合したときに雄コネクタハウジング内に収容された図示しない雄端子金具のタブが進入し、雌雄の端子金具同士を接続可能にするものである。端子挿入孔16の孔縁には、全周にわたって略すり鉢状をなす誘導面17が形成されることで、雄端子金具のタブの進入動作が円滑になされるようになっている。また、コネクタハウジング11の前面のうち、端子挿入孔16よりも下方位置には、コネクタハウジング11を成形する際の型抜き孔としてのピン挿通孔19が開口している。コネクタハウジング11の前面におけるピン挿通孔19の孔縁上部幅方向中央には、下方へ突き出る略三角形状の突出部20が設けられ、この突出部20にも上記誘導面17が連続して形成されている。
【0017】
なお、ピン挿通孔19は後述する検知ピン56を進入させるための開口としても機能する。
【0018】
次に、雌端子金具30について説明すると、雌端子金具30は、図5及び図6に示すように、雄端子金具との接続に関与する箱形をなす本体部31と、電線41の端末に接続可能なバレル部40とからなっている。本体部31内には雄端子金具のタブと接触可能な弾性舌片32が撓み可能に形成されている。弾性舌片32は、本体部31の天井壁33の前端から内方へ略U字状に折り返すことによって形成されている。一方、本体部31の底面部は内外二重構造になっているが、その中央部では外壁34が所定の前後幅範囲にわたって切り欠かれることによって、外壁34が前後に分断された形態となっている。その分断された後部37の後端縁中央にはリテーナ25との係止のためのリテーナ係止突部38が叩き出しによって形成されており、これによって雌端子金具30は上記したランス14とリテーナ25とによって二重に抜け止めがなされる。また、後部37にはリテーナ係止突部38に並列して平板状のスタビライザ39が起立形成されている。このスタビライザ39は雌端子金具30がキャビティ13に対し逆向きに挿入されるのを規制するためのものである。詳しくは図示しないが、コネクタハウジング11のキャビティ13内には雌端子金具30が正規向きで挿入された場合には、スタビライザ39を逃がすための逃がし溝がキャビティ13の長さ方向に沿って凹設されているが、この逃がし溝と対角の位置にはかかる逃がし溝が設けられていないことから、雌端子金具30が逆向きに挿入されようとする場合には、雌端子金具30とキャビティ13の入り口の壁とが干渉して挿入が規制されるようになっている。
【0019】
一方、本体部31の前部35の後端縁中央には、ランス14に係止可能なランス係止突部36(突部)が叩き出しによって形成されるとともに、雌端子金具30がキャビティ13内に挿入された状態では、ピン挿通孔19内に位置するようになっている。また、ランス係止突部36は前端側が尖端となり、後端側へ向けて徐々に突出高さが増すよう側面は傾斜して形成され、その後端部は後方へ開放するアーチ状に形成されている。但し、図示のものでは、ランス係止突部36の後端縁は後方へ向けてオーバーハング状に形成されている。一方、ランス14において雌端子金具30と対向する側の面の中央部には長さ方向に沿ってランス係止突部36に対する逃がし溝15が凹設され、雌端子金具30がランス14を通過する際の撓み量を少なくしてコネクタハウジング11を低背化させ、もってコネクタ全体としての小型化に寄与するようにしている。
【0020】
続いて、コネクタ検査装置45について説明すると、この検査装置45は図1に示すように、ベース46の一端部には前記したコネクタ10を保持するためのコネクタホルダー48が固定されている。このコネクタホルダー48はU字型の支持ブロック49とその背面に取り付けられたバックプレート50とを備え、両間に上方が開放するコネクタ固定溝51が形成されている。このコネクタ固定溝51にはコネクタ10が上方から嵌め込まれる。そして、その際にコネクタハウジング11に形成された一部の突部(図示しない)を利用し、これを嵌合時に案内することで、コネクタ10をコネクタ固定溝51内に位置決めされた状態で保持することができる。
【0021】
なお、コネクタ10がコネクタ固定溝51内に位置決めされた状態では、コネクタハウジング11の前部側の一部がコネクタホルダー48の前面から突出する状態となっている。
【0022】
また、ベース46上にはコネクタホルダー48と対向して検査ユニット52が配され、かつこの検査ユニット52はベース46に設けられたカムハンドル47を回動操作することでコネクタホルダー48の前面に突き当たる位置まで接近した検査位置(図3に示す位置)と、コネクタホルダー48から遠ざかった離間位置(図2に示す位置)との間を移動可能となっている。
【0023】
この検査ユニット52のユニットブロック53には、支持ブロック49に固定されたコネクタ10の各雌端子金具30に対応した検知ピン56がコネクタ10側に向けて突出して装着されている。検知ピン56は導電性材料よりなり、コネクタハウジング11に対する接離方向の移動を自由に、かつユニットブロック53の収容室54内に装着された圧縮コイルばね55の弾力によって突出方向、つまりコネクタ10側へ緩く付勢された状態となっており、この付勢によって常には検知ピン56のフランジ57が収容室54の前端面に当接した最突出位置に保持されるようにしている。
【0024】
検査ユニット52のユニットブロック53の前面部には凹部58が形成されている。凹部58はコネクタホルダー48に保持されたコネクタ10のうち、支持ブロック49の前面から突出している部分を突入可能であるとともに、ここには検知ピン56の先端部が収容されている。また、凹部58内には各検知ピン56の進入方向を矯正するための調整板60が配されており、この調整板60は凹部58の内壁面に沿って案内されながら凹部58内を移動可能となっている。さらに、調整板60には各検知ピン56に対応して矯正孔61が貫通して形成されている。各矯正孔61は対応する検知ピン56に対し僅かなクリアランスが保有される程度の孔径に設定され、検知ピン56を貫挿する過程で検知ピン56を軸心に沿った姿勢に矯正することができる。さらにまた、調整板60の内面と凹部58の前面との間には、戻しばね59が介在されていて、調整板60を前方へ付勢している。但し、凹部58の開口縁にはストッパ手段が設けられており、常には調整板60が凹部58の開口縁とほぼ面一をなした状態で調整板60に係止し、前方への外れ止めが図られている。調整板60が前端位置で規制されている状態では、各検知ピン56の先端部が対応する矯正孔61内へ引っ込んで位置するようにしてあるため、これによって各検知ピン56の保護も図られている。さらにまた、調整板60は検査ユニット52がコネクタホルダー48へ向けて接近する過程で、コネクタハウジング11の前面によって押し込まれ、これに伴って矯正孔61から突出する検知ピン56が、コネクタハウジング11のピン挿通孔19内へ進入しランス係止突部36の側面に当接可能となる。
【0025】
各検知ピン56の後端はリード線を介して導通検査装置に接続されている。そして、雌端子金具30が正規状態でコネクタハウジング11内に収容されているときには、検知ピン56とランス係止突部36との接触によって導通検査回路が形成されるようになっているが、雌端子金具30が正規状態で収容されていないときには、検知ピン56とランス係止突部36とが非接触となって導通検査回路が形成されず、これによって雌端子金具30の収容状態が異常であることを知ることができる。なお、異常事態を報知する手段として、ランプ・警報ブザー等が使用されている。
【0026】
次に、上記のように構成された本実施形態の作用効果を具体的に説明する。雌端子金具30がコネクタハウジング11の所定のキャビティ13内に収容された状態で、導通検査がなされる。まず、コネクタハウジング11を摘んでコネクタホルダー48のコネクタ固定溝51内に上方から差し込み、コネクタ10をコネクタホルダー48内に位置決めした状態でセットする。
【0027】
その状態で、検査ユニット52のカムハンドル47を回動操作して検査ユニット52全体を検査位置まで前進させる。その過程で、調整板60がコネクタハウジング11の前面に突き当たり、戻しばね59を圧縮しつつ凹部58の奥部へと押し込まれてゆく。これと同時に、各検知ピン56が矯正孔61を通して調整板60から突出されてくる。各検知ピン56はこの過程で姿勢が矯正され、アライメント調整がなされる。したがって、各検知ピン56はコネクタハウジング11のピン挿通孔19に対して合芯された状態で進入してゆく。
【0028】
このときに、雌端子金具30がキャビティ13内に正規状態で挿入されていれば、ランス係止突部36の側面の途中位置に検知ピン56が接触する。その場合には、検査回路が形成されるため、雌端子金具30が正規状態で挿入されていることが検出される。しかし、雌端子金具30が正規深さ位置まで挿入されていないような非正規状態で挿入されている場合には、検知ピン56がランス係止突部36に触れることができず、検査回路が形成されないため、ランプなどの異常報知手段によって雌端子金具30がキャビティ13内に正規状態で挿入されていないことが検知される。このときには、雌端子金具30をさらに深く押し込んで正規状態に矯正し、しかるもとで改めて導通検査に臨むこととなる。
【0029】
導通検査が終了すれば、カムハンドル47を逆方向に回動操作して検査ユニット52を離間位置に復帰させる。これによって、調整板60は戻しばね59のばね力によって徐々に前進して原位置に復帰し、検知ピン56もまた矯正孔61内へ収められて原状態に戻される。
【0030】
ところで、本実施形態では検知ピン56がコネクタハウジング11側のピン挿通孔19へ進入するにあたり、調整板60の矯正孔61によってアライメント調整がなされるから、確実に検知ピン56をランス係止突部36に接触させることができる。特に、コネクタハウジング11の小型化が進み、ピン挿通孔19の開口が狭くなっているもの、及びこれに伴って検知ピン56が小径化して低強度となっているものでは、検知ピン56に対するアライメント調整の意義は大きい。また、本実施形態のように、ランス係止突部36の側面が後方へ向けて登り勾配となるような形状のものでは、検知ピン56が接触したときにずれ方向の分力が作用することになるが、この場合にも矯正孔61の作用によって検知ピン56のずれを規制する効果が発揮される。
<他の実施形態>
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれ、さらに、下記以外にも要旨を逸脱しない範囲内で種々変更して実施することができる。
(1)本実施形態では、調整板60を検査ユニット52側に設けたが、コネクタホルダー側に設けることも可能である。その場合には、戻しばねは不要となる。
(2)また、検知ピン56が雌端子金具30側に接触する箇所は必ずしもランス係止突部でなくてもよく、他の箇所であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】検査装置全体を示す斜視図
【図2】コネクタホルダーと検査ユニットが離間した状態を示す断面図
【図3】コネクタホルダーと検査ユニットが当接した状態を示す断面図
【図4】検知ピンが雌端子金具と接触した状態を示す拡大断面図
【図5】雌端子金具の底面図
【図6】同じく側面図
【図7】コネクタハウジングを前方から見た側面図
【図8】従来の検査装置を示す断面図
【図9】同じく一部を切り欠いて示す平面図
【符号の説明】
10…コネクタ
11…コネクタハウジング(ハウジング)
14…ランス
16…端子挿入孔
19…ピン挿通孔
30…雌端子金具(端子金具)
31…本体部
36…ランス係止突部(突部)
45…コネクタ検査装置
46…ベース
48…コネクタホルダー
52…検査ユニット
56…検知ピン
59…戻しばね
60…調整板
61…矯正孔

Claims (3)

  1. ベースの一側に検査対象となるコネクタを収容可能なコネクタホルダーが配され、他側には前記コネクタホルダーに対向して検査ユニットが配され、かつこの検査ユニットには前記コネクタのハウジング内に挿入された端子金具と導通を得る検知ピンが設けられ、検査時にはこの検出ピンが前記ハウジングの前面より進入して前記端子金具に接触することで検査回路が形成されるようになっているコネクタ検査装置であって、
    前記コネクタホルダーあるいは前記検査ユニットのいずれか一方には、前記検知ピンに対応した矯正孔を有する調整板が前記ハウジングの前面側に位置するように設けられ、前記検知ピンがハウジング内へ進入する際には前記検知ピンが前記矯正孔を通過することで、検知ピンの進入方向を矯正可能となっていることを特徴とするコネクタ検査装置。
  2. 前記端子金具は相手側端子金具と導通可能な本体部を有し、かつこの本体部の外面には前記ハウジング内に形成されたランスに対して係止可能な突部が突出形成される一方、前記ハウジングの前面でかつ前記相手側端子金具が進入する端子挿入孔と隣接し前記突部に対応した位置には、ピン挿通孔が開設されたコネクタに対し、前記検知ピンは前記ピン挿通孔を通して前記ハウジング内へ進入可能となっていることを特徴とする請求項1記載のコネクタ検査装置。
  3. 前記検査ユニットは前記コネクタホルダーに対し接離する方向に相対移動可能となっており、検査ユニットの相対的な接近動作に伴って前記検知ピンが前記ハウジング内へ進入可能となっているものにおいて、
    前記調整板は前記検査ユニット側において戻しばねを介して進退可能とされるとともに、同調整板は常には前記検知ピンの先端部が前記矯正孔に臨む位置に保持され、前記検知ピンが前記ハウジング内へ進入するときには、前記ハウジングの前面に突き当てられ前記戻しばねを圧縮させつつ後退することによって前記検知ピンを前記矯正孔から突出させることを特徴とする請求項1又は2記載のコネクタ検査装置。
JP2002192473A 2002-07-01 2002-07-01 コネクタ検査装置 Abandoned JP2004037164A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002192473A JP2004037164A (ja) 2002-07-01 2002-07-01 コネクタ検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002192473A JP2004037164A (ja) 2002-07-01 2002-07-01 コネクタ検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2004037164A true JP2004037164A (ja) 2004-02-05

Family

ID=31701736

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002192473A Abandoned JP2004037164A (ja) 2002-07-01 2002-07-01 コネクタ検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2004037164A (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007005239A (ja) * 2005-06-27 2007-01-11 Sumitomo Wiring Syst Ltd コネクタ
US7230433B2 (en) 2004-11-17 2007-06-12 Hyundai Motor Company Connector test device
WO2009084735A1 (en) * 2007-12-28 2009-07-09 Yazaki Corporation Inspection pin protection structure of conduction check apparatus
JP2009257895A (ja) * 2008-04-16 2009-11-05 Onishi Denshi Kk 検査治具
JP2010153313A (ja) * 2008-12-26 2010-07-08 Tyco Electronics Japan Kk 電気コネクタの導通検査方法
JP2015019524A (ja) * 2013-07-12 2015-01-29 住友電装株式会社 電気接続箱
US9160084B2 (en) 2011-10-28 2015-10-13 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. Connector
JP2019087393A (ja) * 2017-11-07 2019-06-06 矢崎総業株式会社 雌端子、および、導通検査装置
JP2020008388A (ja) * 2018-07-06 2020-01-16 矢崎総業株式会社 導通検査治具および導通ピンの検査方法

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7230433B2 (en) 2004-11-17 2007-06-12 Hyundai Motor Company Connector test device
JP2007005239A (ja) * 2005-06-27 2007-01-11 Sumitomo Wiring Syst Ltd コネクタ
CN101960679A (zh) * 2007-12-28 2011-01-26 矢崎总业株式会社 导通检查装置的检测针保护结构
JP2009163953A (ja) * 2007-12-28 2009-07-23 Yazaki Corp 導通検査具の導通ピン保護構造
WO2009084735A1 (en) * 2007-12-28 2009-07-09 Yazaki Corporation Inspection pin protection structure of conduction check apparatus
US8581599B2 (en) 2007-12-28 2013-11-12 Yazaki Corporation Inspection pin protection structure of conduction check apparatus
JP2009257895A (ja) * 2008-04-16 2009-11-05 Onishi Denshi Kk 検査治具
JP2010153313A (ja) * 2008-12-26 2010-07-08 Tyco Electronics Japan Kk 電気コネクタの導通検査方法
US9160084B2 (en) 2011-10-28 2015-10-13 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. Connector
KR101572400B1 (ko) 2011-10-28 2015-11-26 스미토모 덴소 가부시키가이샤 커넥터
JP2015019524A (ja) * 2013-07-12 2015-01-29 住友電装株式会社 電気接続箱
JP2019087393A (ja) * 2017-11-07 2019-06-06 矢崎総業株式会社 雌端子、および、導通検査装置
US10790605B2 (en) 2017-11-07 2020-09-29 Yazaki Corporation Female terminal, and continuity test device
JP2020008388A (ja) * 2018-07-06 2020-01-16 矢崎総業株式会社 導通検査治具および導通ピンの検査方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101001826B1 (ko) 커넥터 위치 보장 부재를 갖는 전기 커넥터 및 전기 커넥터의 위치 보장 방법
EP1588456B1 (en) Electrical connector having connector position assurance member
US6780045B2 (en) Connector position assurance device
US6461186B1 (en) Connector with lock ensuring mechanism
US7980880B2 (en) Connector
EP1257013B1 (en) A terminal fitting
GB2438478A (en) Connector with lock securing member having a lock releasing portion
JP5900684B1 (ja) 電気コネクタ
JP2940401B2 (ja) コネクタ検査装置
JP2008543026A (ja) 端子位置保証装置を有するコネクタ組立体
JP2000113935A (ja) 半嵌合防止コネクタ及びその製造方法
JP2002208455A (ja) シールド端子
JP2004037164A (ja) コネクタ検査装置
US6731118B2 (en) Connector inspection apparatus
US11545783B2 (en) Connector lock structure
JP2004247055A (ja) コネクタ
JP2002280133A (ja) コネクタ
JP7209192B2 (ja) コネクタ
EP1916746B1 (en) A connector
JP2008103185A (ja) コネクタ及び検知端子
US6953364B2 (en) Connector, a shorting terminal and a method of assembling it
JP2002124341A (ja) コネクタ
JP7151624B2 (ja) コネクタ
KR100255120B1 (ko) 커넥터의 결합검지장치
JP2003338344A (ja) レバー式コネクタ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050126

A762 Written abandonment of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762

Effective date: 20060607