JP3705071B2 - コネクタ収容端子の導通検査装置 - Google Patents

コネクタ収容端子の導通検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3705071B2
JP3705071B2 JP2000044583A JP2000044583A JP3705071B2 JP 3705071 B2 JP3705071 B2 JP 3705071B2 JP 2000044583 A JP2000044583 A JP 2000044583A JP 2000044583 A JP2000044583 A JP 2000044583A JP 3705071 B2 JP3705071 B2 JP 3705071B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
connector
holder
probe
link
terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2000044583A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001237042A (ja
Inventor
彰 西野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Original Assignee
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Wiring Systems Ltd filed Critical Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority to JP2000044583A priority Critical patent/JP3705071B2/ja
Priority to EP01100194A priority patent/EP1124136A1/en
Priority to US09/772,809 priority patent/US6480005B2/en
Priority to CNB01102481XA priority patent/CN1206777C/zh
Priority to MXPA01001466A priority patent/MXPA01001466A/es
Publication of JP2001237042A publication Critical patent/JP2001237042A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3705071B2 publication Critical patent/JP3705071B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はコネクタ収容端子の導通検査装置に関し、特に、端子挿入方向と直交方向のコネクタハウジングの側壁に設けられた導通検査溝から導通検査用のプローブを挿入し、端子収容室内に挿入係止されている端子金具にサイドより接触させて導通検査を行うサイドプローブ型の導通検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
コネクタ収容端子の導通検査装置は、一般に、コネクタの端子収容室に対して、相手方コネクタとの嵌合側開口より導通検査用のプローブを挿入し、該プローブ先端を端子収容室内に挿入係止されている端子金具に接触させて導通検査を行ってる。しかしながら、端子金具が雌型である場合には、プローブ挿入側からは雌型端子金具の中空部しか見えず、プローブを接触させる端子金具端面が見えない問題がある。また、端子金具に対して相手方端子の挿入側と同一側からプローブを挿入した場合、プローブにより端子金具やコネクタに損傷を発生させると、相手方コネクタとの嵌合時に、電気接触信頼性や嵌合精度に問題が生じる恐れがある。
【0003】
そのため、特に雌型端子金具の導通検査を行う場合には、端子収容室の先端開口からではなく、端子挿入方向と直交方向のサイドに導通検査溝を設け、該導通検査溝よりプローブを挿入し、端子金具のサイドにプローブを接触させて導通検査を行うサイドプローブ型の導通検査装置とすることが望まれている。
【0004】
この種のサイドプローブ型導通検査装置として、本出願人は先に特開平6−258373号において、図10に示すような導通検査装置を提供している。該装置は、コネクタ1の側壁に設けた導通検査溝1aに挿入するプローブ2を、図示のようなL形状とし、下向きに屈折させた先端部を導通検査溝1aに挿入させる構成としている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上記構成とした場合、プローブ2を保持しているプローブホルダー2aをコネクタ1を保持しているコネクタホルダー(図示せず)に前後進させると共に上下作動させなければならず、プローブホルダー2の移動機構が複雑となる問題がある。さらに、コネクタ1には、その一側壁(図中、上側壁)にしか導通検査溝1aを設けることができず、言い換えれば、コネクタ1には端子収容室を1段しか設けることができない。コネクタは端子収容室を上下2段で設けている場合が多く、この種の上下2段の端子収容室を備えたコネクタに対しては上記装置を適用できない問題がある。
【0006】
本発明は上記した問題に鑑みてなされたもので、プローブホルダーの動作をコネクタホルダー側への相対的な進退動作のみで行えるようにすると共に、上下2段に端子収容室が設けられているコネクタに対しても、該コネクタの両サイドに設ける導通検査溝へプローブを同時に挿入して導通検査が行えるサイドプローブ型の導通検査装置を提供することを課題としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本発明は、端子挿入方向と直交方向のコネクタハウジングの側壁に導通検査溝が設けられたコネクタに対し、導通検査用のプローブを導通検査溝から挿入して、端子収容室に挿入係止されている端子金具の側面に弾性接触させるコネクタ収容端子の導通検査装置において、
上記コネクタを保持すると共に、保持されたコネクタの端子金具に対し上記プローブを挿通可能なプローブ挿通孔を両側壁部に形成したコネクタホルダと、
上記コネクタホルダの両側面に対向して配置すると共に、上記プローブを装着した第1、第2のプローブホルダを備え、
上記第1のプローブホルダをベース部に固定すると共に、該第1のプローブホルダに対し上記コネクタホルダおよび第2のプローブホルダをベース部上で進退可能に連設し、かつ、上記第2のプローブホルダの上記コネクタホルダ側と反対側の受け面を押圧する操作レバーを設け、
上記コネクタホルダと上記第2のプローブホルダとの間および該第2のプローブホルダと上記操作レバーの間に第1のリンク、第2のリンクを設け、該第のリンクの一端はピンを介して上記コネクタホルダに軸着すると共に第のリンクの一端はピンを介して上記操作レバーに軸着し、かつ、上記第1のリンクおよび第2のリンクの他端に長孔を形成し、これら長孔に上記第2のプローブホルダに打ち込んだスライドピンを夫々スライド可能に嵌入し、
上記操作レバーの前進動作により上記第2のプローブホルダおよびコネクタホルダが上記第1のプローブホルダ側へ移動して、上記プローブが上記コネクタホルダに保持されるコネクタの導通検査溝に両側から挿入される検査位置へ位置決め可能とする一方、
上記操作レバーの後退動作により上記第2のプローブホルダおよびコネクタホルダを、上記第1のリンク、第2のリンクを介して上記コネクタホルダへのコネクタの着脱が可能な退避位置に後退連動させる構成としていることを特徴とするコネクタ収容端子の導通検査装置を提供している。
【0008】
上記のように、本発明では、第1、第2のプローブホルダに装着したプローブをコネクタホルダに収容されるコネクタの導通検査溝に両サイドから挿入可能としているため、第2のコネクタホルダを押圧機構により第1のコネクタホルダ側に押圧して検査位置に移動させるだけで、プローブを両側の端子金具にそれぞれ接触させて導通検査を行うことができる。一方、コネクタホルダおよび第のプローブホルダを、検査位置からコネクタホルダへのコネクタ収容時の退避位置へ後退動作させるには、連動機構により押圧機構の後退動作に連動可能としているため、その作業性を向上することができる。
【0009】
具体的には、コネクタホルダへのコネクタの収容時には、操作レバーが後退位置にあり、この状態では第1、第2のプローブホルダとコネクタホルダはそれぞれ離間した退避位置に移動し、各プローブはコネクタの着脱に干渉しない位置で待機する状態となる。そして、コネクタホルダにコネクタを収容した後、操作レバーによって第2のプローブホルダの受け面を第1のプローブホルダ側に押圧すると、第2のプローブホルダはコネクタホルダの一側に干渉して該コネクタホルダを第1のプローブホルダ側に更に押圧する。これにより、第1のプローブホルダとコネクタホルダとの間およびコネクタホルダと第2のプローブホルダとの間の間隔が狭められて所要の検査位置に至る。そして、この位置でプローブの先端がコネクタホルダのプローブ挿入孔を通してコネクタの導通検査溝内に挿入され、その先端が各端子金具に弾性的に接触して導通検査が行われる。導通検査後に再び押圧機構を後退させると、これに伴ない第1のプローブホルダとコネクタホルダとの間およびコネクタホルダと第2のプローブホルダとの間に設けたリンクにより、コネクタホルダと第2のプローブホルダは退避位置に復帰し、各プローブがコネクタの導通検査溝から抜けるため、コネクタ収容部からコネクタを取り外すことが可能となる。
【0010】
削除
【0011】
上記したように、後退移動は、コネクタホルダと第2のプローブホルダとの間および該第2のプローブホルダと操作レバーとの間にそれぞれ設けた第1、第2のリンクにスライドピンを嵌入した機構を用いて移動しているため、操作レバーにより第2のプローブホルダおよびコネクタホルダを検査位置へ前進操作するとき、退避位置方向へ付勢されたスプリングを用いる必要がなく、該スプリングによる反発がないため、前進操作が重くならず作業性を向上することができる。
【0012】
上記操作レバーは上記ベース部の端部に一端を支点として揺動可能に取り付け、該操作レバーにカム部を設け、該操作レバーの揺動操作により上記第2のプローブホルダの受け面を上記カム部により押圧可能な構成するのが好ましい。このようにすればレバーの梃子作用により第2のプローブホルダおよびコネクタホルダを検査位置へ連動させる操作を手動で無理なく行うことができる。
【0013】
上記第1、第2のプローブホルダのうち少なくとも一方には、上記コネクタホルダに収容されるコネクタの端子挿入面に装着されるリテーナが不完全挿入状態のとき、該リテーナに干渉して上記第2のプローブホルダおよびコネクタホルダの上記検査位置への移動を阻止するストッパを設けるようにするのが好ましい。
コネクタのリテーナが不完全挿入状態の場合は、コネクタホルダに収容されたコネクタの背面から突出しているリテーナにストッパが当接するため、第2のプローブホルダおよびコネクタホルダが検査位置まで移動できない。これにより、プローブはコネクタの端子金具に接触しないため、導通検査ができずリテーナが不完全挿入にあることが判別できる。さらに、ストッパは、第2のプローブホルダおよびコネクタホルダが検査位置にあるとき、コネクタホルダに対するコネクタの嵌入路を妨げる状態に位置するため、コネクタホルダへのコネクタの無理な装着によりプローブ先端を破損するのを防止できる。
【0014】
本発明の導通検査装置で検査されるコネクタ収容端子は、雌型の端子金具の場合に特に好適に用いることができる。即ち、従来の導通検査装置では雌型の端子金具に対してプローブを容易に接触させることができなかったが、コネクタハウジングの側壁に設ける導通検査溝を、雌型の端子金具のバレル以外の部分に対応させた位置に設けておくと、導通検査溝から挿入するプローブ先端を雌型の端子金具の側面に確実且つ簡単に接触させることができる。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面を参照して説明する。
図1乃至図7は参考実施形態に係る導通検査装置10を示しており、ベース部11上にはコネクタホルダ12を中央にして第1、第2のプローブホルダ13、14を夫々対向するように連設している。上記導通検査装置10は、端子金具Tを挿入する方向と直交する方向でコネクタハウジングCaの側壁Cbに導通検査溝Cdが設けられており、端子金具Tが2段で設けられているコネクタCを検査対象としている。
【0016】
第1のプローブホルダ13はベース部11上の一端部にボルト11aにより固定する一方、コネクタホルダ12および第2のプローブホルダ14は、ベース部11上に突設されて長さ方向に延びる一対のレール11bに嵌合するガイド溝12f、14fを下面に形成して、レール11bに沿ってスライド可能としている(図3、図4)。
【0017】
コネクタホルダ12は、図2、図3に示すように、上面12aよりコネクタ保持用の収容部12bを設けている。この収容部12bの形状は検査対象のコネクタCの外形と同等にされている。そして、図6(B)に示すように、コネクタホルダ12の上面12a側より収容部12b内にコネクタCを嵌め込むと、コネクタCは端子挿入面が上向きにされると共に、導通検査溝Cdが形成された両側壁Cbが第1、第2のプローブホルダ13、14にそれぞれ対向する状態で保持される。また、コネクタホルダ12の両側の側壁部12cには、コネクタホルダ12に収容されたコネクタCの導通検査溝Cdの各位置に対向して凹部12dを形成すると共に、該凹部12dには導通検査溝Cdに連通可能なプローブ挿通孔12eを形成している。
【0018】
第1のプローブホルダ13の下部には、図6(A)に示すように、コネクタホルダ12および第2のプローブホルダ14のガイド孔12g、14gを通して延びるスライドシャフト15cの一端を固定している。そして、第1のプローブホルダ13とコネクタホルダ12との間およびコネクタホルダ12と第2のプローブホルダ14との間には、スライドシャフト15cに外装するようにしてスプリング15a、15bを圧入している。そして、このスプリング15a、15bにより後退連動機構15を構成し、スプリング15a、15bの付勢力により、第1のプローブホルダ13とコネクタホルダ12との間およびコネクタホルダ12と第2のプローブホルダ14を離間する退避位置(図6(A))へ強制的に後退させるようにしている。
【0019】
また、第1、第2のプローブホルダ13、14のコネクタホルダ12に対向する面には、凹部12dに嵌合する凸部13a、14aを突設すると共に、該凸部13a、14aを通してプローブ16、17を装着している。プローブ16、17は検査すべきコネクタCの導通検査溝Cdと同ピッチで複数装着され、弾性的に突出する先端の接触子16a、17aをプローブ挿通孔12eを通して導通検査溝Cdに挿通可能としている。そして、導通検査溝Cdに挿入された接触子16a、17aがコネクタCの端子金具Tに弾性的に接触する状態となるように、第1のプローブホルダ13に対しコネクタホルダ12および第2のプローブホルダ14が前進移動する位置を検査位置(図6(B))としている。この検査位置では、第1のプローブホルダ13、コネクタホルダ12および第2のプローブホルダ14の対向面がそれぞれ当接した状態となり、更にコネクタホルダ12の両側外面に対し、第1、第2のプローブホルダ13、14の両側に突設した顎部13c、14cが外嵌して位置決めされるようにしている。
【0020】
コネクタホルダ12に隣接してベース部11の他端部上には、第2のプローブホルダ14におけるコネクタホルダ12とは反対側の受け面14dを押圧して前進連動させる押圧機構18を構成する操作レバー19を設けている。この操作レバー19は、ベース部11の端部両側に突設した軸受け11cに挿通したピン19aを支点として揺動可能に取り付、該操作レバー19には揺動操作により受け面14dを押圧するカム部19bを設けている。
【0021】
また、第1、第2のプローブホルダ13、14の上面には、端面がコネクタホルダ12の収容部12b側へ突出するようにして板状のストッパ20、21を設けている。板状のストッパ20、21は収容部12b内に収容されたコネクタCの端子挿入面に対向してコネクタCの飛び出しを防止すると共に、端子挿入面側から装着される端子金具Tの二重係止用のリテーナCeが不完全挿入状態のとき、該リテーナCeに干渉してその状態を検知するものである。
【0022】
なお、ベース部11には作業台への固定用の取付金具22が固定され、また、各プローブ16、17に接続された電線Wの端末には、検査機器への接続用コネクタ23が取り付けられている。
【0023】
次ぎに、上記導通検査装置10を用いた導通検査の状況を説明する。
まず、図5に示すように、操作レバー19が第2のプローブホルダ14から遠ざかる方向に倒れた状態では、後退連動機構15のスプリング15a、15bの付勢力によりコネクタホルダ12と第1、第2のプローブホルダ13、14は所要間隔を有する退避位置に位置している。この状態において、ストッパ20、21も同様に後退移動して、コネクタホルダ12の収容部12bの入り口は開かれているので、図6(A)に示すように、コネクタCを収容部12b内に嵌め込む。
【0024】
続いて、図6(B)に示すように、操作レバー19を第2のプローブホルダ14側へ回動して起立させると、カム部19bの作用により第2のプローブホルダ14がコネクタホルダ12側へ押圧されて移動し、更にコネクタホルダ12は第2のプローブホルダ14と一体となって第1のプローブホルダ13側へ押圧されて移動する。なお、このとき、コネクタCのリテーナCeが半挿入状態で端面より突出している場合は、図7に示すように、ストッパ20、21がリテーナCeに当接するため、第2のプローブホルダ14およびコネクタホルダ12は検査位置まで至らない。この状態ではプローブ16、17の接触子16a、17aが端子金具Tに接触されないため、導通検査不合格となる。
【0025】
一方、リテーナCeが完全挿入された状態では、図6(B)に示すように、ストッパ20、21はコネクタCの端子挿入面の端面に対向する位置に至るため、収容部12b内に嵌め込まれたコネクタCの飛び出しが防止され、確実に位置決めされる。このとき、各プローブ16、17先端の接触子16a、17aがプローブ挿通孔12eおよび導通検査溝Cdを通して対応する各端子金具Tに接触し、導通信号が発せられ、検査器により端子金具Tの配列状態の良否判定が行われる。導通検査完了後、操作レバー19を再び倒伏状態(図6(A))に操作すると、スプリング15a、15bの付勢力によりコネクタホルダ12および第2のプローブホルダ14は退避位置に後退連動するので、収容部12bからコネクタCを取り出すことができる。
【0026】
図8(A)(B)は、本発明の導通検査装置30の実施形態を示し、後退動機構35を上記参考実施形態とは異なる手段としたものであり、第1、第2のリンク35a、35bにより構成している。第1のリンク35aは操作レバー19と第2のプローブホルダ14との間、第2のリンク35bは第2のプローブホルダ14とコネクタホルダ12との間の少なくとも一側の側面間に渉ってそれぞれ設けている。また、コネクタホルダ12と第1のプローブホルダ13との間には、後退連動機構35に直接関与しないが、コネクタホルダ12の後退位置を規制するための第3のリンク35cを設けている。
【0027】
第1、第2、第3のリンク35a、35b、35cは、それぞれ一端に形成された取付孔35a−1、35b−1、35c−1により、操作レバー19およびコネクタホルダ12に対し、取付ピン35a−2、35b−2、35c−2にて取り付けるようにしている。一方、第1、第2、第3のリンク35a、35b、35cの他端には、長さ方向に沿って長孔35a−3、35b−3、35−3を形成し、第2のプローブホルダ14および第1のプローブホルダ13に打ち込んだスライドピン35a−4、35b−4、35c−4をスライド可能に嵌入している。
【0028】
第1のリンク35aにおける長孔35a−3の長さLaは、図9に示すように、操作レバー19の揺動操作に伴なう取付ピン35a−2の移動寸法Lから第2のプローブホルダ14の退避位置から検査位置までの移動寸法Lbを差し引いた寸法(La=L−Lb)に設定している。一方、第2、第3のリンクにおける長孔35b−3、35c−3は、上記長孔35a−3の半分の長さLa/2に設定している。なお、実施形態において、後退連動機構35以外の構成は上記参考実施形態と同様のため、同一符号を用いてその説明を省略する。
【0029】
次ぎに、上記後退連動機構35を利用してコネクタホルダ12および第2のプローブホルダ14を後退連動させる動作を説明する。
図8(A)は、コネクタホルダ12および第2のプローブホルダ14が検査位置にある状態を示している。この状態では、各スライドピン35a−4、35b−4、35c−4は、長孔35a−3、35b−3、35−3の内側に位置している。そして、図8(B)に示すように、操作レバー19を倒伏方向に操作すると、第1のリンク35aの長孔35a−3の外側端部にスライドピン35a−4が当接することで第2のプローブホルダ14が退避位置へ強制連動される。これに伴ない、スライドピン35b−4が第2のリンク35bの長孔35b−3の外側端部に当接することで、コネクタホルダ12も退避位置へ強制連動される。また、第3のリンク35cは、コネクタホルダ12が退避位置に至った時点でスライドピン35c−4が長孔35c−3の外側端部に当接するため、コネクタホルダ12が退避位置を超えて後退連動しないようにストッパーとして機能する。
【0030】
【発明の効果】
以上の説明より明らかなように、本発明の導通検査装置を用いると、従来導通検査が困難であったタイプのコネクタも容易かつ確実に検査することができ、しかも、端子金具を2段で装着するタイプのコネクタにまで適用することができる。また、コネクタホルダには、コネクタの端子挿入面に装着されるリテーナが不完全挿入状態のとき、該リテーナに干渉するストッパを設けたので、導通検査に先だってリテーナの装着状態を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のコネクタ収容端子の導通検査装置の参考実施形態の正面図である。
【図2】 図1の導通検査装置の平面図である。
【図3】 図1の導通検査装置の要部の分解斜視図である。
【図4】 図1のコネクタホルダの側面図である。
【図5】 図1のコネクタホルダの退避位置での正面図である。
【図6】 (A)はコネクタホルダの上記退避位での断面図、(B)は検査位置での断面図である。
【図7】 図1の導通検査装置において、リテーナの半挿入状態のコネクタを装着した状態の断面図である。
【図8】 本発明の実施形態の導通検査装置の正面図であり、(A)は検査位置、(B)は退避位置での状態を示す図である。
【図9】 第1、第2のリンクの長孔の寸法関係を示す図である。
【図10】 従来の導通検査を示す概略図である。
【符号の説明】
T 端子金具
C コネクタ
Ca コネクタハウジング
Cd 導通検査溝
Ce リテーナ
10、30 導通検査装置
11 ベース部
12 コネクタホルダ
12a 上面
12b 収容部
12c 側壁部
12e プローブ挿通孔
12f ガイド溝
13 第1のプローブホルダ
14 第2のプローブホルダ
14d 受け面
15、35 後退連動機構
15a、15b スプリング
35a 第1のリンク
35b 第2のリンク
16、17 プローブ
16a、17a 接触子
18 押圧機構
19 操作レバー
19b カム部
20、21 ストッパ

Claims (3)

  1. 端子挿入方向と直交方向のコネクタハウジングの側壁に導通検査溝が設けられたコネクタに対し、導通検査用のプローブを導通検査溝から挿入して、端子収容室に挿入係止されている端子金具の側面に弾性接触させるコネクタ収容端子の導通検査装置において、
    上記コネクタを保持すると共に、保持されたコネクタの端子金具に対し上記プローブを挿通可能なプローブ挿通孔を両側壁部に形成したコネクタホルダと、
    上記コネクタホルダの両側面に対向して配置すると共に、上記プローブを装着した第1、第2のプローブホルダを備え、
    上記第1のプローブホルダをベース部に固定すると共に、該第1のプローブホルダに対し上記コネクタホルダおよび第2のプローブホルダをベース部上で進退可能に連設し、かつ、上記第2のプローブホルダの上記コネクタホルダ側と反対側の受け面を押圧する操作レバーを設け、
    上記コネクタホルダと上記第2のプローブホルダとの間および該第2のプローブホルダと上記操作レバーの間に第1のリンク、第2のリンクを設け、該第のリンクの一端はピンを介して上記コネクタホルダに軸着すると共に第のリンクの一端はピンを介して上記操作レバーに軸着し、かつ、上記第1のリンクおよび第2のリンクの他端に長孔を形成し、これら長孔に上記第2のプローブホルダに打ち込んだスライドピンを夫々スライド可能に嵌入し、
    上記操作レバーの前進動作により上記第2のプローブホルダおよびコネクタホルダが上記第1のプローブホルダ側へ移動して、上記プローブが上記コネクタホルダに保持されるコネクタの導通検査溝に両側から挿入される検査位置へ位置決め可能とする一方、
    上記操作レバーの後退動作により上記第2のプローブホルダおよびコネクタホルダを、上記第1のリンク、第2のリンクを介して上記コネクタホルダへのコネクタの着脱が可能な退避位置に後退連動させる構成としていることを特徴とするコネクタ収容端子の導通検査装置。
  2. 上記押圧機構の操作レバーは上記ベース部の端部に一端を支点として揺動可能に取り付けられ、該操作レバーには揺動操作により上記第2のプローブホルダの受け面を押圧するカム部が設けられている請求項1に記載のコネクタ収容端子の導通検査装置。
  3. 上記第1、第2のプローブホルダのうち少なくとも一方には、上記コネクタホルダに収容されるコネクタの端子挿入面に装着されるリテーナが不完全挿入状態のとき、該リテーナに干渉して上記第2のプローブホルダおよび上記コネクタホルダが上記検査位置へ移動するのを阻止するストッパが設けられている請求項1または請求項2に記載のコネクタ収容端子の導通検査装置。
JP2000044583A 2000-02-10 2000-02-22 コネクタ収容端子の導通検査装置 Expired - Fee Related JP3705071B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000044583A JP3705071B2 (ja) 2000-02-22 2000-02-22 コネクタ収容端子の導通検査装置
EP01100194A EP1124136A1 (en) 2000-02-10 2001-01-17 Electrical connection testing device and method for connector terminals
US09/772,809 US6480005B2 (en) 2000-02-10 2001-01-30 Electrical connection testing device and an electrical connection testing method for terminal fittings accommodated in a connector
CNB01102481XA CN1206777C (zh) 2000-02-10 2001-02-06 用于接线端子接头的电子连接测试装置和电子连接测试方法
MXPA01001466A MXPA01001466A (es) 2000-02-10 2001-02-08 Un dispositivo de prueba de conexion electrica y un metodo de preuba de conexion electrica para accesorios de terminales acomodados en un conectador.

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000044583A JP3705071B2 (ja) 2000-02-22 2000-02-22 コネクタ収容端子の導通検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001237042A JP2001237042A (ja) 2001-08-31
JP3705071B2 true JP3705071B2 (ja) 2005-10-12

Family

ID=18567319

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000044583A Expired - Fee Related JP3705071B2 (ja) 2000-02-10 2000-02-22 コネクタ収容端子の導通検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3705071B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001237042A (ja) 2001-08-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2871332B2 (ja) コネクタ検査装置
KR100219361B1 (ko) 맞물림검출장치를 갖는 커넥터
JP2940401B2 (ja) コネクタ検査装置
JP2921721B2 (ja) コネクタ端子検査具
US6480005B2 (en) Electrical connection testing device and an electrical connection testing method for terminal fittings accommodated in a connector
JP2002334744A (ja) レバー式コネクタ
JP3085450B2 (ja) コネクタの端子金具検査器
JP3705071B2 (ja) コネクタ収容端子の導通検査装置
JPH08334542A (ja) コネクタ検査具およびコネクタ
JP3976117B2 (ja) コネクタ検査器
JP3575375B2 (ja) 導通検査装置
JP3575379B2 (ja) 導通検査装置
JP2001208790A (ja) コネクタ導通検査具
JP2002202338A (ja) コネクタ検査ユニット及びそれを用いたコネクタ検査装置
JP2000156272A (ja) コネクタ検査装置
JP3449033B2 (ja) コネクタ検査装置
JP2950153B2 (ja) コネクタ検査装置
JP2002040084A (ja) コネクタの検査器
JP2001013195A (ja) コネクタ導通検査具
JP4175206B2 (ja) 導通検査装置
JP2874150B2 (ja) コネクタ検査方法及びコネクタ検査具
JPH11238541A (ja) コネクタ
JP3449119B2 (ja) 導通検査装置
JPH0727000B2 (ja) コネクタの端子検査器
JP3061240B2 (ja) コネクタ端子検査治具

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040826

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20041019

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050405

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050601

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050705

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050718

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090805

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090805

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100805

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110805

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110805

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120805

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120805

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130805

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees