JP2002040084A - コネクタの検査器 - Google Patents

コネクタの検査器

Info

Publication number
JP2002040084A
JP2002040084A JP2000225601A JP2000225601A JP2002040084A JP 2002040084 A JP2002040084 A JP 2002040084A JP 2000225601 A JP2000225601 A JP 2000225601A JP 2000225601 A JP2000225601 A JP 2000225601A JP 2002040084 A JP2002040084 A JP 2002040084A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
connector
inspection
inspection device
main body
terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Abandoned
Application number
JP2000225601A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideyuki Yamamoto
英幸 山本
Satoshi Ando
諭 安藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yazaki Corp
Original Assignee
Yazaki Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yazaki Corp filed Critical Yazaki Corp
Priority to JP2000225601A priority Critical patent/JP2002040084A/ja
Priority to KR1020010044346A priority patent/KR100540813B1/ko
Publication of JP2002040084A publication Critical patent/JP2002040084A/ja
Abandoned legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416—Connectors, terminals
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B60—VEHICLES IN GENERAL
    • B60R—VEHICLES, VEHICLE FITTINGS, OR VEHICLE PARTS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B60R16/00—Electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for; Arrangement of elements of electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for
    • B60R16/02—Electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for; Arrangement of elements of electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for electric constitutive elements
    • B60R16/0207—Wire harnesses
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/67—Testing the correctness of wire connections in electric apparatus or circuits
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/68—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board
    • G01R31/69—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board of terminals at the end of a cable or a wire harness; of plugs; of sockets, e.g. wall sockets or power sockets in appliances

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な構成により端子の有無や導通検査を正
確に行え、不良品または未完成品が発生するのを未然に
防止することができるコネクタの検査器を提供する。 【解決手段】 コネクタハウジングの端子収容室に端子
金具を収容係止してなるコネクタの検査器であって、コ
ネクタ支持体３と検査器本体４とを離接可能に設け、該
検査器本体４において検査用電気回路と接続される複数
の検査ピンをバネによりコネクタ側へ付勢して設けた検
査器において、前記コネクタの支持、及び前記コネクタ
支持体３と前記検査器本体４との離接に関わる部材の、
前記離接方向の公差吸収手段４０を設けたことを特徴と
するコネクタの検査器。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、主として自動車用
ワイヤハーネスの接続に用いられるコネクタの導通等の
検査器に関する。
【０００２】
【従来の技術】電気コネクタは一般にコネクタハウジン
グの端子収容室に電線端末に接続された雄または雌端子
を収容して、いわゆる端子ランスまたはケースランス方
式により端子を係止してその後抜けを防止する構造を有
し、雌，雄コネクタの嵌合により雌，雄端子間の電気的
接続を達成する。
【０００３】複数の端子を収容係止した多極コネクタに
ついて、コネクタ支持体に対して検査用電気回路と導通
する検査端子を備えた検査器本体を離接自在に設け、端
子の挿着状態及び電線との導通状態の良否を同時に判別
できるコネクタ検査器が提案されている（特公平２−５
６７８６号公報等参照）。
【０００４】前記特公平２−５６７８６号公報に記載の
装置を、図４〜図９を参照して説明する。図４〜図９に
おいて、Ａはコネクタの検査器、Ｂは被検査コネクタを
示す。検査器Ａは、フレーム１、その一端に設けたコネ
クタ支持体３、該支持体３と対向する検査器本体４、レ
バー１２及び付属品検知機構２１などから成る。
【０００５】検査器Ａにおいて、樋状のフレーム１の一
側には電線引出口２ａを有する固定壁２が立設され、該
固定壁２にはコネクタ支持体３が固定され、他側には検
査器本体４がコネクタ支持体３方向に移動可能に設けら
れ、操作レバー１２に連動して前後動する。
【０００６】コネクタ支持体３は上方と検査器本体４側
を開放したコネクタ収容室３ａを有する枠形状であり、
固定壁２側に電線引出口３ｂを有する。コネクタ支持体
３内には上方からコネクタＢが収容され、この際にコネ
クタＢの後方から導出されている電線Ｗ１は電線引出口
３ｂ，２ａ内に案内される（図９参照）。
【０００７】検査器本体４内には、図９に示すように、
コネクタＢのハウジング３０内の複数の端子収容室３１
に対応して複数の検査用端子５が設けられ、検査用端子
５において検査ピン６が摺動自在に設けられると共に、
コイルバネ７により付勢され前方の検査室８内に突出し
て設けられている。なお、検査用端子５は例えばチェッ
クランプを有する検査用電気回路に接続されるが、この
検査用電気回路は既知の構成に従えばよく図示を省略す
る。
【０００８】また、検査器本体４はコネクタ支持体３に
対向して摺動自在に設けられる。即ち、検査器本体４は
下部両側に一対の案内孔９を有し、該案内孔９を貫通す
る案内ロッド１０の一端がコネクタ支持体３に固定さ
れ、他端はフレーム１の底壁板１ａに設けたロッドスト
ッパ１１に固定されている。
【０００９】レバー１２は一対のレバープレート１３，
１３を門形に連結して構成されている。レバープレート
１３は、巾広の立上り基板部１３ａとこれから一体に斜
め上方に延びる操作板部１３ｂとから成り、レバープレ
ート１３の上端部及び中間部、即ち操作板部１３ｂの両
端部分はスペーサ１４，ジョイントロッド１５により連
結されている。
【００１０】一方、立上り基板部１３ａの下端部におい
て、その後端はフレーム１の側壁１ｂ後端に設けた耳片
１ｃにピン１６により回動自在に軸支され、その前端に
はリンク１８の一端がピン１７により軸支され、リンク
１８の他端はスタッドブッシュ１９により検査器本体４
の側壁に連結されている。上記レバー１２、リンク１８
及び検査器本体４には、ピン１６、１７及びスタッドブ
ッシュ１９が一直線上に並ぶ位置からピン１７が僅かに
下降する位置で停止するリンク機構２０を採用し、コネ
クタＢの前半部が検査室８内に確実に嵌挿されて上記検
査ピン６と接触し、その状態を保持し得るようになって
いる。
【００１１】付属品検知機構２１は、図６に示されるよ
うに、コネクタ支持体下部のストライカ取付室２２、該
室２２に設けた付属品検知ピン２３、ストライカ２４及
びコイルバネ２５などから構成され、このストライカ２
４と対応して検査器本体４の前面下部にはストライカ逃
げ孔２８が設けられている。即ち、コネクタ支持体３に
おいて、コネクタ収容室３ａの下部には、コネクタハウ
ジングＢに対する受座である隔壁３ｃを介して前後両端
が開口したストライカ取付室２２が形成され、該隔壁３
ｃには連通孔２６が貫設されている。この連通孔２６に
は下端にストッパ用の鍔部２３ａを有する付属品検知ピ
ン２３が出没自在に挿着され、鍔部２３ａはストライカ
２４の上面に支持されている。ストライカ取付室２２に
おいて、ストライカ２４は基端部２４ａがピン２７によ
り軸支され、先端部２４ｂがコネクタ支持体３の前面か
ら検査器本体４側に突出した状態で回動可能に取付けら
れている。また、ストライカ２４はその裏面と底壁２２
ａとの間に介装したコイルバネ２５によりコネクタ収容
室３ａ側に付勢され、常時はストライカ２４が水平で、
付属品検知ピン２３の先端部がコネクタ収容室３ａに突
出するように構成されている。２２ｂは取付室２２の底
壁２２ａに設けたバネ受け孔である。
【００１２】図４及び図９に示されるように、コネクタ
Ｂのハウジング３０には複数の端子収容室３１（図示の
例では上下二段に５個）が区画形成されている。各端子
収容室３１には可撓変位許容空間３２を存して係止突起
３３ａを有する可撓係止片３３が設けられており、正規
位置に完全挿入された端子金具Ｃにおける電気接触部Ｃ
１の係止孔３４に該係止突起３３ａが係合して後抜けを
阻止している。また、ハウジング３０の外周壁には窓３
５が開設され、該窓３５から挿着された端子係止具３６
の係止片３６ａが電気接触部Ｃ１の肩部３７と係合し、
後抜けを二重に阻止している。
【００１３】次に、検査器ＡによるコネクタＢの検査方
法について説明する。図７及び図９に示すように、端子
係止具３６を未だ装着してないコネクタＢをコネクタ支
持体３のコネクタ収容室３ａにセットすると、付属品検
知ピン２３の先端部はそのままハウジング３０の窓３５
から端子収容室３１内に進入可能であるから、付属品検
知ピン２３及びストライカ２４は変位しない。従って、
該ストライカ２４は水平状態のままである。この状態
で、図７のようにレバー１２を矢線Ｐ方向に倒すと、検
査器本体４はコネクタ支持体３側に少し前進するが、水
平状態のストライカ２４の先端が検査器本体４の前端面
４ａに衝合した時点で前進が阻まれる。即ち、コネクタ
Ｂの端子金具Ｃの導通検査前に付属品である端子係止具
３６が未装着であることを検知する。
【００１４】一方、端子金具Ｃが前記の如く完全に挿
入，係止され、かつ端子係止具３６を装着済のコネクタ
Ｂについては、図６（ｂ）、図８及び図９のように、コ
ネクタ支持体３へのセットにより、該端子係止具３６が
付属品検知ピン２３を押し下げる。これにより、ストラ
イカ２４も矢線Ｑ方向に回動して傾斜する。従って、ス
トライカ２４の先端は検査器本体４の前端面４ａに衝合
することなくストライカ逃げ孔２８内に進入する一方、
レバー１２の操作により検査器本体４はコネクタ支持体
３側にそのまま前進し、前記リンク機構２０によりピン
１６、１７及びスタッドブッシュ１９がほぼ一直線上に
並んだ状態で停止する。
【００１５】この状態のコネクタＢを検査すると、端子
金具Ｃに対応する検査ピン６が押されてコイルバネ７に
抗して後退し検査用端子５と接触するので、前記検査用
電気回路を導通させる。これにより、コネクタＢには、
上記付属品装着の確認に加えて端子金具Ｃが正規位置に
収容係止され、かつその接続電線Ｗ１との導通状態も良
の判定を得る。なお、端子金具Ｃが不完全または半挿入
状態におけるコネクタＢの検査については従来例と同様
に処理できるので、説明を省略する。また、検査終了後
はレバー１２を上記と反対方向に回動し、検査器本体４
とコネクタ支持体３とを引き離す。
【００１６】付属品検知機構２１は、付属品検知ピン２
３、該ピンの出没により回動するストライカ２４及びこ
れを該ピン側に付勢するコイルバネ２５など、すべて構
造簡単な機械的要素で構成されている。従って、低コス
トで製作も容易であり、従来例を示す図９のスイッチブ
ロックａのように、電気的要素を用いた場合の接点不良
や回路の遮断といったトラブル発生のおそれがなく、検
出精度を高めることができる。
【００１７】
【発明が解決しようとする課題】上記検査器Ａでは、検
査時に、コネクタＢの前面Ｂｂが検査器本体４の前面４
ａに密接するように構成され、コネクタＢの前面Ｂｂの
位置、すなわち検査器本体４の前面４ａの位置を基準と
して、端子金具Ｃまでの位置を判断している。しかし、
検査器は多数の部品から構成されており、個々の部品に
は寸法公差があるので、検査器組立時の累積公差によ
り、コネクタＢの前面Ｂｂが検査器本体４の前面４ａに
設定通り密接しないことがある。
【００１８】すると、検出時のしきい値として検査ピン
６の移動量を設定していることから、コネクタＢの前面
Ｂｂが検査器本体４の前面４ａに確実に密接しないと、
検査器本体４の前面４ａを基準位置とした端子金具Ｃの
位置を正確に検出することができないという問題があ
る。
【００１９】このような問題を防止するには、各部品を
極めて高精度で成形し、寸法公差をできるだけ小さくす
ることが考えられるが、これは非常に困難である。
【００２０】本発明の目的は、上記問題を解決すること
にあり、簡単な構成により端子の有無や導通検査を正確
に行え、不良品または未完成品が発生するのを未然に防
止することができるコネクタの検査器を提供することに
ある。
【００２１】
【課題を解決するための手段】本発明の上記目的は、下
記構成により達成される。 コネクタハウジングの端子収容室に端子金具を収容
係止してなるコネクタの検査器であって、コネクタ支持
体と検査器本体とを離接可能に設け、該検査器本体にお
いて検査用電気回路と接続される複数の検査ピンをバネ
によりコネクタ側へ付勢して設けた検査器において、前
記コネクタの支持、及び前記コネクタ支持体と前記検査
器本体との離接に関わる部材の、前記離接方向の公差吸
収手段を設けたことを特徴とするコネクタの検査器。
【００２２】 前記コネクタ支持体と前記検査器本体
とを離接する手段がリンク機構であり、前記公差吸収手
段は、前記リンク機構の軸受部に設けられていることを
特徴とする前記記載のコネクタの検査器。
【００２３】 前記公差吸収手段は、前記軸受部にお
いて軸の周囲に設けられた弾性部材であることを特徴と
する前記記載のコネクタの検査器。
【００２４】 前記弾性部材は、ウレタンゴムからな
ることを特徴とする前記記載のコネクタの検査器。
【００２５】
【作用】前記の発明によれば、前記コネクタの支持、
及び前記コネクタ支持体と前記検査器本体との離接に関
わる部材の、前記離接方向の公差吸収手段を設けること
により、前記部材の公差を低減するために各部品の加工
精度を極めて高くする必要がなく、前記部材に公差があ
っても各部材の組み付けによる累積公差を公差吸収手段
が吸収するので公差が累積せず、簡単な構成によってコ
ネクタの検査を正確に実行することができる。
【００２６】前記の発明によれば、リンク機構の軸受
部に公差吸収手段を設けることにより、検査器を大型化
することなく公差吸収手段を設けることができ、簡単な
構成によってコネクタの検査を正確に実行することがで
きる。
【００２７】前記の発明によれば、公差吸収手段が弾
性部材であることにより、構成が簡単であり、しかも公
差吸収手段を安価に提供でき、簡単な構成によってコネ
クタの検査を正確に実行することができる。
【００２８】前記の発明によれば、公差吸収手段がウ
レタンゴムからなるので、構成が簡単であり、しかも公
差吸収手段を安価に提供でき、簡単な構成によってコネ
クタの検査を正確に実行することができる。
【００２９】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の一実施形態を説明する。図１はリセット状態の検査器
の要部側面図、図２（ａ）は公差吸収手段の正面図、
（ｂ）はその断面図、図３はコネクタセット状態の検査
器の要部側面図である。
【００３０】なお、本実施形態の検査器Ａは、図４〜図
９を参照して説明した従来例の構成に加えて、リンク１
８の軸受部に公差吸収手段４０が設けられている。した
がって、検査器Ａの基本構成及び検査方法は従来例と同
じであるので、その説明は省略し、従来例と異なる構成
及び作用についてのみ説明する。
【００３１】図１に示すように、公差吸収手段４０は検
査器本体４とリンク１８との連結部に設けられている。
図１〜図３に示すように、公差吸収手段４０は、検査器
本体４とリンク１８と連結するために検査器本体４に固
着された連結軸４２の軸受４０として構成され、ウレタ
ンゴム４４を介して連結軸４２を支持した構成である。
軸受４０は、大小２つの中空円筒部材４６，４８の間に
ウレタンゴム（エラストランＥＴ６９０−５０）４４を
インサート成形により挟挿した構成であり、外側の中空
円筒部材４６がリンク１８に固定され、内側の中空円筒
部材４８に連結軸４２が回動自在に支持される構成であ
る。２つの中空円筒部材４６，４８はともに鉄（浸炭窒
化焼き入れ後にユニクロメッキしたもの）からなる。
【００３２】軸受４０は２つの中空円筒部材４６，４８
間にウレタンゴム４４を挟挿してなることから、内側の
中空円筒部材４８が支持した連結軸４２は外側の中空円
筒部材４６に対して、ウレタンゴム４４の弾性変形量分
だけ半径方向に相対移動可能である。
【００３３】一方、コネクタＢを装着していないリセッ
ト状態における検査器本体４の前面４ａとコネクタ支持
体３の前面３ｄとの間の距離ａ（図１参照）は、コネク
タＢの長さｂ（図３参照）よりわずかに短く（本実施形
態の場合は０．５ｍｍ短く）設定されている。したがっ
て、コネクタＢを装着して検査を実行したときに、コネ
クタＢは水平方向に押しつぶされるようになる。このと
き、検査器Ａを構成する各部品の累積公差により部品間
に隙間が生じることがあっても、軸受４０のウレタンゴ
ム４４が変形して半径方向の厚さが変わることにより、
累積公差が吸収される。
【００３４】そのため、検査器Ａを構成する各部品の公
差が累積されても、コネクタＢの前面は検査器本体４の
前面４ａに押しつけられるので、コネクタＢの前面は検
査器本体４の前面４ａに密接するようになる。なお、ウ
レタンゴム４４の変形量ｃ（図３参照）はｃ＝ｂ−ａで
あり、本実施形態では０．５ｍｍである。
【００３５】図３には理解し易いようにウレタンゴム４
４の変形量ｃが誇張して示されており、コネクタ支持体
３及び検査器本体４との間にも誇張された間隙が示され
ているが、コネクタ支持体３及び検査器本体４との間に
は、実際には目視できるような間隙は生じない。
【００３６】コネクタＢの前面が検査器本体４の前面４
ａに密接すると、コネクタＢは、検査器本体４の前面４
ａ位置を基準として検査ピン６により検出操作されるの
で、確実な検出が可能となる。したがって、端子金具Ｃ
を検出するための検査ピン６の正確なストローク量及び
検査ピン６による検出可能な導通範囲の正確な長さ（許
容誤差）を確保できる。
【００３７】例えば、検査ピン６による検出可能な導通
範囲の長さを１．００ｍｍに設定した場合、端子金具Ｃ
の正規挿入状態からの抜け量（離脱方向への挿入誤差
長）が１．００ｍｍ以内であれば、端子金具Ｃと検査ピ
ン６とが確実に接触するので導通を検出できる。また、
端子金具Ｃが正規挿入状態から１．１ｍｍ以上抜けてい
たときは端子金具Ｃと検査ピン６が確実に非接触にな
り、導通がないことを確実に検出でき、端子金具Ｃが不
完全な挿入状態であることを確実に検出できる。
【００３８】また、検査ピン６により端子金具Ｃ以外の
部品を検出する場合、検査ピン６のストローク量が正確
になるので、部品が正規位置より例えば０．６ｍｍとい
う極めて短い長さ引っ込んでいた場合でも、部品と検査
ピン６とが接触せず、検査ピン６が作動しないようにす
ることができ、部品の不完全挿入状態を高精度で確実に
検出できる。
【００３９】なお、上記実施形態は、検査器本体４とリ
ンク１８との連結部に公差吸収手段４０が設けられてい
るが、レバープレート１３の基板部１３ａとリンク１８
との連結部（ピン１７の軸受部分）や、レバープレート
１３の基板部１３ａとフレーム１の側壁１ｂとの連結部
（ピン１６の軸受部分）に設けてもよい。更に、コネク
タ支持体３に公差吸収手段を設けてもよい。この場合、
コネクタ離接方向と直交するコネクタ支持面３ｄに、ウ
レタンゴム等を備えることにより公差吸収手段を構成す
ることができる。
【００４０】また、公差吸収手段としては、ウレタンゴ
ム以外の弾性樹脂も用いることができる。更に、公差吸
収手段としては、板ばねやコイルばね等の弾性手段を用
いて構成したものも用いることができる。
【００４１】
【発明の効果】請求項１の発明によれば、前記コネクタ
の支持、及び前記コネクタ支持体と前記検査器本体との
離接に関わる部材の、前記離接方向の公差吸収手段を設
けることにより、前記部材の公差を低減するために各部
品の加工精度を極めて高くする必要がなく、前記部材に
公差があっても各部材の組み付けによる累積公差を公差
吸収手段が吸収するので公差が累積せず、簡単な構成に
よってコネクタの検査を正確に実行することができる。
【００４２】請求項２の発明によれば、リンク機構の軸
受部に公差吸収手段を設けることにより、検査器を大型
化することなく公差吸収手段を設けることができ、簡単
な構成によってコネクタの検査を正確に実行することが
できる。
【００４３】請求項３の発明によれば、公差吸収手段が
弾性部材であることにより、構成が簡単であり、しかも
公差吸収手段を安価に提供でき、簡単な構成によってコ
ネクタの検査を正確に実行することができる。
【００４４】請求項４の発明によれば、公差吸収手段が
ウレタンゴムからなるので、構成が簡単であり、しかも
公差吸収手段を安価に提供でき、簡単な構成によってコ
ネクタの検査を正確に実行することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】リセット状態の検査器の要部側面図である。
【図２】（ａ）は公差吸収手段の平面図、（ｂ）は公差
吸収手段の断面図である。
【図３】コネクタセット状態の検査器の要部側面図であ
る。
【図４】従来例及び本発明に係る検査器の斜視図であ
る。
【図５】図４の検査器の側面図である。
【図６】（ａ），（ｂ）はそれぞれ付属品検知機構の部
分拡大断面図である。
【図７】図４の検査器による検査工程を示す一部破断側
面図である。
【図８】図７の次の検査工程を示す一部破断側面図であ
る。
【図９】図８の付属品検知及び端子の導通検査状態を示
す要部断面図である。
【符号の説明】
Ａ 検査器 Ｂ コネクタ Ｃ 端子金具 ３ コネクタ支持体 ３ｃ （受座）隔壁 ４ 検査器本体 ５ 検査用端子 ６ 検査ピン ７ コイルバネ ８ 検査室 １２ レバー ２１ 付属品検知機構 ２２ ストライカ取付室 ２３ 付属品検知ピン ２４ ストライカ ２５ コイルバネ ３０ コネクタハウジング ３１ 端子収容室 ３６ （付属品としての）端子係止具 ４０ 公差吸収手段（軸受） ４２ 連結軸 ４４ ウレタンゴム ４６，４８ 中空円筒部材

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 コネクタハウジングの端子収容室に端子
    金具を収容係止してなるコネクタの検査器であって、コ
    ネクタ支持体と検査器本体とを離接可能に設け、該検査
    器本体において検査用電気回路と接続される複数の検査
    ピンをバネによりコネクタ側へ付勢して設けた検査器に
    おいて、 前記コネクタの支持、及び前記コネクタ支持体と前記検
    査器本体との離接に関わる部材の、前記離接方向の公差
    吸収手段を設けたことを特徴とするコネクタの検査器。
  2. 【請求項２】 前記コネクタ支持体と前記検査器本体と
    を離接する手段がリンク機構であり、前記公差吸収手段
    は、前記リンク機構の軸受部に設けられていることを特
    徴とする請求項１記載のコネクタの検査器。
  3. 【請求項３】 前記公差吸収手段は、前記軸受部におい
    て軸の周囲に設けられた弾性部材であることを特徴とす
    る請求項２記載のコネクタの検査器。
  4. 【請求項４】 前記弾性部材は、ウレタンゴムからなる
    ことを特徴とする請求項３記載のコネクタの検査器。
JP2000225601A 2000-07-26 2000-07-26 コネクタの検査器 Abandoned JP2002040084A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000225601A JP2002040084A (ja) 2000-07-26 2000-07-26 コネクタの検査器
KR1020010044346A KR100540813B1 (ko) 2000-07-26 2001-07-24 커넥터의 검사기

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000225601A JP2002040084A (ja) 2000-07-26 2000-07-26 コネクタの検査器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002040084A true JP2002040084A (ja) 2002-02-06

Family

ID=18719346

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000225601A Abandoned JP2002040084A (ja) 2000-07-26 2000-07-26 コネクタの検査器

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2002040084A (ja)
KR (1) KR100540813B1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101852837A (zh) * 2010-05-28 2010-10-06 中国北车集团大连机车研究所有限公司 机车电控单元绝缘耐压测试试验台
CN101718835B (zh) * 2009-11-23 2011-01-26 泰兴市航联电连接器有限公司 电连接器绝缘耐压综合测试装置
CN102004215A (zh) * 2010-12-13 2011-04-06 南京民盛电子仪器有限公司 一种测试端接地的耐压测试仪
CN102195211A (zh) * 2010-03-03 2011-09-21 住友电装株式会社 连接器组装夹具

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR940002721Y1 (ko) * 1991-04-11 1994-04-23 황하춘 접속단자가 하우징에 끼워진 상태를 점검하는 장치
JP2868394B2 (ja) * 1993-08-20 1999-03-10 矢崎総業株式会社 コネクタ端子検査具
JPH08313582A (ja) * 1995-05-17 1996-11-29 Yazaki Corp コネクタの端子検査器
JP3163597B2 (ja) * 1995-10-12 2001-05-08 矢崎総業株式会社 付属品付コネクタの検査具
KR200153742Y1 (ko) * 1996-01-30 1999-08-02 양기선 컨넥터 검사장치
JPH116853A (ja) * 1997-04-21 1999-01-12 Thomas & Betts Corp <T&B> コネクタ検査器

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101718835B (zh) * 2009-11-23 2011-01-26 泰兴市航联电连接器有限公司 电连接器绝缘耐压综合测试装置
CN102195211A (zh) * 2010-03-03 2011-09-21 住友电装株式会社 连接器组装夹具
CN102195211B (zh) * 2010-03-03 2013-01-02 住友电装株式会社 连接器组装夹具
CN101852837A (zh) * 2010-05-28 2010-10-06 中国北车集团大连机车研究所有限公司 机车电控单元绝缘耐压测试试验台
CN102004215A (zh) * 2010-12-13 2011-04-06 南京民盛电子仪器有限公司 一种测试端接地的耐压测试仪

Also Published As

Publication number Publication date
KR100540813B1 (ko) 2006-01-16
KR20020009471A (ko) 2002-02-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2871332B2 (ja) コネクタ検査装置
JP3163597B2 (ja) 付属品付コネクタの検査具
JPH1152001A (ja) コネクタ検査装置の検査部
JP3085450B2 (ja) コネクタの端子金具検査器
JPH0943298A (ja) コネクタの検査方法およびコネクタ検査具
JPH08334542A (ja) コネクタ検査具およびコネクタ
JP2002040084A (ja) コネクタの検査器
JP2001159654A (ja) コネクタ導通検査具
JPH07333283A (ja) 防水型コネクタの検査装置
EP1199575A1 (en) A testing unit and a connector testing apparatus using the same
JP3744387B2 (ja) コネクタ検査装置
JP3575375B2 (ja) 導通検査装置
JP3211671B2 (ja) コネクタ検査方法および装置
JP2568609Y2 (ja) コネクタ検査装置
JP2797945B2 (ja) コネクタ検査装置
JP3743310B2 (ja) コネクタ検査装置
JP2002202338A (ja) コネクタ検査ユニット及びそれを用いたコネクタ検査装置
JP2000137052A (ja) コネクタ検査装置
JP2000156272A (ja) コネクタ検査装置
JP3936964B2 (ja) 電気コネクタの端子導通検査装置
JPH0773949A (ja) コネクタ検査装置
JP3259810B2 (ja) コネクタにおける端子金具の不完全挿入検査方法及びコネクタ検査機
JPH10319081A (ja) コネクタ検査装置の検査部
JP2000150102A (ja) 導通検査装置
JP2002257889A (ja) コネクタ検査治具

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20031209

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20060324

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20061129

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070110

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070711

A762 Written abandonment of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762

Effective date: 20070907