JP2000150102A - 導通検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】コネクタハウジング４１の側面に設けたリテー
ナ４４によって端子を止定するタイプのコネクタ４０に
関して、リテーナ４４の装着不良の検出の作業性が悪
い。リテーナ４４等が損傷するおそれがある。 【解決手段】リテーナ４４がコネクタハウジング４１か
ら浮き上がっている場合、検査部１４の突出部２１がリ
テーナ４４に当接し、検査部１４は検査位置ＤＰから所
定の後退量Ｌ２だけ後退した位置に規定される。コネク
タ４０の全端子Ｔに関して導通がとれない状態となり、
リテーナ４４の装着不良を通常の導通検査の工程の中で
作業性良く且つ確実に検出できる。装着不良のリテーナ
４４を圧縮コイルばね２８により弾力的に押すので、リ
テーナ４４が損傷しない。装着不良のリテーナ４４を正
規に装着して、実質的な不良率を低下させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、コネクタハウジン
グの端子挿入孔に挿入された端子を、コネクタハウジン
グの側面に設けたリテーナによって端子挿入孔内に止定
するコネクタを対象として、その導通を検査する導通検
査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般にワイヤーハーネスやワイヤーハー
ネスを構成するサブアセンブリ（以下、ワイヤアセンブ
リと称する）等の電気配線システムを製造するに当た
り、その電気的な導通を検査するための導通検査装置が
用いられている。図６は、従来の導通検査装置を示す斜
視図である。同図を参照して、従来の導通検査装置Ａ
は、互いに相対変位可能なコネクタ受け部１と検査部２
とを有しており、トグルハンドル３を操作して、コネク
タ受け部１に保持されたコネクタハウジング４に対し
て、検査部３を近接させるように構成されている。

【０００３】上記のコネクタハウジング４には、複数の
端子挿入孔４Ａが形成されて当該コネクタハウジング４
の両端面に開口しており、端子挿入孔４Ａ内には、端手
付き電線Ｗが一端側から挿入される。そして、検査部２
に設けられたコンタクトプローブ５を端子挿入孔４Ａの
他端側から導入して上記端子付き電線Ｗの端子金具（図
示せず）と接触させることにより、導通検査を行ってい
た。

【０００４】ところで、検査対象となるコネクタハウジ
ングの端子金具は、いわゆるランス形式によって端子挿
入孔４Ａ内に止定されているが、重要回路等に用いられ
るコネクタのなかには、端子挿入孔４Ａ内の端子金具を
リテーナ６でも係止する二重係止構造を採用しているも
のがある。リテーナ６としては、手作業で装着されるこ
とが多いため、往々にして「半嵌合」といわれる装着不
良が発生することがある。そこで、従来から導通検査時
にこの半嵌合を検出するための検出機能を導通検査装置
に持たせることが提案されている。

【０００５】例えば、図６に示す先行例では、梃子棒７
を設けてその一端部７Ａをコネクタ受け部１に装着され
たコネクタハウジング４のリテーナ６に当接させ、リテ
ーナ６がコネクタハウジング４の側面から浮いている場
合には、その浮出し量によって梃子棒７の他端部７Ｂを
検査部２に係止させ、検査部２をロックさせることによ
ってリテーナ６の半嵌合を検出していた。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た先行例では、コネクタハウジング４をコネクタ受け部
１に装着した後、梃子棒７によってロックが係るか否か
を判別しなければ、半嵌合を確認することができない。
そのため、作業性が悪いという問題があった。しかも、
梃子棒７によって検査部２の変位を規制する方法では作
業者がトグルハンドル３によって検査部２を無理やり駆
動することも考えられ、この場合、検査部２やリテーナ
６が損傷し易くなるという問題がある。

【０００７】本発明は上記課題に鑑みてなされたもので
あり、リテーナの装着不良の検出に関して作業性が良
く、しかもリテーナや検査部が損傷することのない導通
検査装置を提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の課題解決手段として、請求項１記載の発明の態様は、
コネクタハウジングの両端面に開口する複数の端子挿入
孔のそれぞれに一端側から挿入された端子を、コネクタ
ハウジングの側面に設けたリテーナによって端子挿入孔
内に止定するコネクタの導通を検査する導通検査装置に
おいて、上記コネクタハウジングを受けるコネクタ受け
部と、このコネクタ受け部に対向する検査面を有しコネ
クタ受け部に近接する方向の前後に進退自在な検査部
と、この検査部をコネクタ受け部に近接する方向に沿っ
て検査位置に移動させる移動手段と、検査部に保持さ
れ、検査部が検査位置に移動した状態で各端子挿入孔の
他側から導入され各端子とそれぞれ接触して導通を得る
複数の検出子と、検査部の検査面に突出形成され、検査
部の検査位置側への移動に伴ってコネクタハウジングの
側面に沿って移動する突出部と、上記移動手段と検査部
との間に介在し、検査部を検査位置側へ弾力的に押す弾
性部材とを備え、上記移動手段が検査部を検査位置側へ
移動させるときに、検査部の突出部が装着不良のリテー
ナに当接することにより、上記弾性部材に抗して検査部
が検査位置から所定の後退量だけ後退した位置に規定さ
れ、上記検出子と端子との接触が回避されることを特徴
とするものである。

【０００９】本態様では、コネクタ受け部にコネクタを
装着した後、移動手段によって弾性部材を介して検査部
を弾力的に押しながら検査位置へ近づけていく。このと
き、コネクタハウジングの側面からリテーナが浮き上が
っていると、このリテーナに検査部の突出部が当接する
ため、検査部は検査位置まで到達できず、検査位置から
所定の後退量だけ後退した位置に規定される。その結
果、コネクタの全端子と対応する検出子との接触が回避
され、全端子に関して導通がとれない状態となるので、
これをもってリテーナの装着不良と判断することができ
る。

【００１０】また、装着不良のリテーナを検査部を介し
て弾性部材が弾力的に押すようにしているので、リテー
ナや検査部を損傷させてしまうようなことがない。した
がって、装着不良が検出されたリテーナを正規に装着す
る作業を実施することによって、良品のコネクタとする
ことが可能である。これにより、実質的な不良率を低下
させて、製造コストを安くすることができる。

【００１１】請求項２記載の発明の態様は、請求項１に
おいて、上記検出子は、コネクタ受け部に近接する方向
の前後に所定の進退量だけ進退可能に検査部に保持され
ると共にコネクタ受け部側に向けて弾性付勢されてお
り、上記検査部の所定の後退量が上記検出子の所定の進
退量よりも大きくなるように設定されていることを特徴
とするものである。

【００１２】本態様では、検出子が端子に対して弾力的
に接触するようにスライド自在とされている場合におい
ても、装着不良のリテーナを有するコネクタの端子と検
出子との接触を確実に回避することができ、その結果、
リテーナの装着不良を確実に検出することができる。

【００１３】

【発明の実施の形態】本発明の好ましい実施の形態の添
付図面を参照しつつ説明する。図１は本発明の一実施の
形態の導通検査装置及び検査対象のコネクタの分解斜視
図である。図１を参照して、コネクタ４０はコネクタハ
ウジング４１の両端面に開口する複数の端子収容孔４２
を有しており、各端子収容孔４２内には一端側から端子
付き電線Ｗが挿入されている。端子収容孔４２内の端子
はコネクタハウジング４１の両側面４３にそれぞれ設け
られたリテーナ４４によって、端子収容孔４２内に止定
されている。リテーナ４４は正規に装着された状態では
コネクタハウジング４１の側面４３と面一となるが、装
着不良である場合は、図１に示すようにコネクタハウジ
ング４１の側面４３から浮き上がった状態となる。

【００１４】導通検査装置１０は、平面視で略矩形に形
成された樹脂製のベース１１上に、一対のレール１２を
長手方向に一体に形成している。これらのレール１２の
一端側に、コネクタコネハウジング４１を保持して位置
決めするコネクタ受け部１３を固定しているとともに、
他端側にコネクタ受け部１３に対して相対変位可能な検
査部１４を配置している。

【００１５】また、検査部１４は、検査対象となるコネ
クタコネハウジング４１の極数に対応して、コンタクト
プローブ１５を複数備えている。検査部１４は、コンタ
クトプローブ１５がコネクタ受け部１３に保持されたコ
ネクタコネコネハウジング４１に近接して、内部の端子
Ｔと接触する検査位置［図５（ａ）参照］と、コネクタ
ハウジング４１から離反する離反位置（図４参照）とに
変位できるように、上記レール１２上でスライド変位可
能に取り付けられている。Ｅはコンタクトプローブ１５
に接続されたリード線である。

【００１６】図１を参照して、レール１２の他端側終端
部分には、検査部１４を移動させる移動手段としてのト
グルレバー１６が設けられている。トグルレバー１６は
ベース１１に延設された取り付け板部１７を貫通するピ
ン１８の回りに回動自在に支持されており、検査部１４
を検査位置に移動させる第１の姿勢［図５（ａ）及び
（ｂ）参照］と、検査部１４を離反位置に戻す第２の姿
勢（図４参照）とに揺動操作される。トグルレバー１６
は最終姿勢において、その当接面３５を略垂直な状態に
して検査部１４に直接［図５（ｂ）参照］又は後退許容
プローブ２３を介して間接的に［図５（ａ）参照］押し
当てる。

【００１７】コネクタ受け部１３は、下端部がベース１
１にビス止めされる樹脂整形品からなるブロック体２９
を備え、このブロック体２９はコネクタハウジング４１
を収容する収容凹部３０を区画している。３１は収容凹
部３０に収容されたコネクタハウジング４１を後方から
位置決めする位置決め板であり、Ｕ字状をなし、ブロッ
ク体２９にビス止めされている。上記のブロック体２９
は収容凹部３０を挟む一対の側壁３２を有しており、各
側壁３２の検査部１４側の端面には、後述する検査部１
４の直方体形状をなす一対の突出部２１をそれぞれ導入
する導入凹部３３が設けられている。３４は検査部１４
をコネクタ受け部１３から離反する方向に戻す圧縮コイ
ルばねである。

【００１８】検査部１４はコネクタ受け部１３に対向す
る検査面１９を有しており、この検査面１９の中央部に
は、コネクタ受け部１３に保持されたコネクタハウジン
グ４１の一部を挿入させる挿入凹部２０が形成されてい
る。また、上記のコンタクトプローブ１５は挿入凹部２
０からコネクタ受け部１３側へ一部を突出させている。
また、検査面１９には、挿入凹部２０の左右縁部からコ
ネクタ受け部１３側に向かって突出する直方体形状をな
す一対の突出部２１が形成されている。

【００１９】図２（ａ）及び（ｂ）を参照して、コンタ
クトプローブ１５は、導電性部材からなり検査部１４に
固定されると共にリード線Ｅに接続された筒体５１と、
この筒体５１内に摺動自在に収容されたプローブピンと
しての検出子５２と、この検出子５２を挿入凹部２０か
ら突出する方向に弾性付勢する圧縮コイルばね５３とを
有している。検出子５２の軸方向中間部にはフランジ５
４が設けられ、このフランジ５４の外周面と筒体５１の
内周面との接触により両者の導通が確保されている。こ
れを通じて検出子５２とリード線Ｅとの間の導通が確保
される。

【００２０】また、筒体５１内に収容された上記の検出
子５２は、コネクタ受け部１３に近接する方向の前後に
所定の進退量Ｌ１だけ進退可能とされている。すなわ
ち、図２（ａ）に示すようにフランジ５４が筒体５１の
前端壁に当接することにより、検出子５２の進出位置が
規定され、一方、図２（ｂ）に示すように検出子５２の
後端が筒体５１の後端壁に当接することにより、検出子
５２の後退位置が規定される。なお、コンタクトプロー
ブ１５としては他の公知のものを使用することが可能で
ある。

【００２１】図３（ａ）及び（ｂ）を参照して、検査部
１４は検査面１９の背面２２から進退して検査部１４の
検査位置からの後退を許容する後退許容プローブ２３を
有している。この後退許容プローブ２３は、検査部１４
に形成された第１の収容孔２４に収容された軸２５と、
この軸２５の先端に形成されて第１の収容孔２４内を摺
動し且つ第１の姿勢にあるトグルレバー１６の当接面３
５に当接する当接部２６と、軸２５の後端に形成され第
２の収容孔３６内で抜け止めの働きをするストッパ２７
とを有している。

【００２２】第１の収容孔２４の底部と当接部２６との
間には、軸２５に被せられた弾性部材としての圧縮コイ
ルばね２８が介在しており、当接部２６が第１の収容孔
２４から突出する方向へ弾性付勢している。後退許容プ
ローブ２３の圧縮コイルばね２８は、検査部１４を戻す
ための圧縮コイルばね３４よりも十分に強い荷重のもの
が使用されており、リテーナ４４が正規に装着されてい
る場合に、後退許容プローブ２３の圧縮コイルばね２８
の力で検査部１４を確実に検査位置に運んで、端子とコ
ンタクトプーロブ１５との接触を確保できるようになっ
ている。また、コンタクトプローブ１５の圧縮コイルば
ね５３も、後退許容プローブ２３の圧縮コイルばね２８
の動作に影響を与えないように、圧縮コイルばね２８と
比較して格段に弱く設定されている。第１の収容孔２４
と第２の収容孔３６との間は、軸２５のみの挿通を許容
する小孔３７により接続さている。

【００２３】図３（ａ）に示すように、ストッパ２７が
第２の収容孔３９の端面に当接した状態で後退許容プロ
ーブ２３の背面２２からの最大突出量が規定されてい
る。この最大に突出する図３（ａ）状態から、図３
（ｂ）に示すように後退許容プローブ２３の当接部２６
が第１の収容孔２４に完全に埋没する状態までのストロ
ーク量Ｌ２が、後述するように検査部１４を検査位置か
ら後退させる後退量に相当する。

【００２４】次いで、本導通検査装置１０を用いて導通
検査を行う場合の手順について説明する。まず、図４に
示すように、トグルレバー１６を倒して検査部１４をコ
ネクタ受け部１３から離反した状態で、コネクタハウジ
ング４１をコネクタ受け部１３にセットし、保持する。
次いで、ドグルレバー１６をピン１８回りに揺動させて
立ち上げ、検査部１４を検査位置側へ近づけていく。

【００２５】そして、検査対象がリテーナ６が正規に装
着された良品のコネクタである場合には、図５（ａ）に
示すように、突出部２１はリテーナ６に係合することな
く、コネクタハウジング４１の側面４３に沿ってスムー
ズに移動し、検査部１４は後退許容プローブ２３の圧縮
コイルばね２８によって弾力的に押されて検査位置ＤＰ
［図５（ａ）及び（ｂ）では、検査位置ＤＰは検査部１
４の背面２２を基準に位置を表してある。］に達する。
このとき、コンタクトプローブ１５の検出子５２は図２
（ｂ）で示したような進退量Ｌ１だけ後退しつつ端子Ｔ
と接触し導通が確保される。その結果、リテーナ４４が
正規に装着されていると判断できると共に、通常の導通
検査がそのまま実施できる。

【００２６】なお、検査部１４が検査位置ＤＰに到達し
た状態で、リテーナ４４と突出部２１とは、検査部１４
の移動方向に、後述する後退量Ｌ２に等しい重なり量Ｌ
３（Ｌ３＝Ｌ２）だけ重なるようになっている。このこ
とは、コネクタ受け部１３に保持されたコネクタハウジ
ング４１のリテーナ４４が浮き上がっている場合には、
検査部１４の突出部２１がリテーナ４４に当接して移動
を止められた状態で、検査部１４が検査位置ＤＰから、
上記の重なり量Ｌ４に等しい後退量Ｌ２だけ後退した位
置に規定されることを意味する。

【００２７】すなわち、図５（ｂ）に示すように、検査
対象がリテーナ４４が浮き上がっている不良品のコネク
タ４０である場合には、トグルレバー１６によって検査
部１４を移動させていくと、検査部１４の突出部２１が
リテーナ６に当接するため、検査部１４は、検査位置Ｄ
Ｐまで到達できずに検査位置から所定の後退量Ｌ２だけ
後退した位置に規定される。

【００２８】このとき、後退許容プローブ２３の当接部
２６が完全に埋没することにより、検査部１４の背面２
２とトグルレバー１６の当接面３５とが直接当接するよ
うになっている。そして、コンタクトプローブ１５の検
出子５２が最大量進出するものの、この検出子５２の進
退量Ｌ１を、検査部１４の検査位置ＤＰからの後退量Ｌ
２が上回るので、端子Ｔと検出子５２との間には、Ｌ４
（＝Ｌ２−Ｌ１。Ｌ４は例えば１mm）の隙間が形成さ
れ、全端子Ｔの導通がとれない状態となる。その結果、
リテーナ４４の装着不良を検出することができる。

【００２９】本実施の形態によれば、通常の導通検査を
実施する工程でリテーナ４４の装着不良を確実に検出す
ることができる。このように不良品である場合、図５
（ｂ）に示すように装着不良のリテーナ４４を検査部１
４を介して後退許容プローブ２３の圧縮コイルばね２８
が弾力的に押すことになるので、リテーナ４４や検査部
１４を損傷させてしまうようなことがない。したがっ
て、不良品と判定されたコネクタに関して装着不良のリ
テーナ４４を正規に装着する作業を実施することによ
り、良品とすることが可能である。一方、良品である場
合はそのまま通常の導通検査を実施することができる。

【００３０】また、リテーナ４４の装着不良を検出する
ときの検査部１４の検査位置ＤＰからの後退量Ｌ２が、
コンタクトプローブ１５の検出子５２の進退量Ｌ１より
も大きくなるように設定されている（進退量Ｌ１＜後退
量Ｌ２。例えば検出子５２の進退量Ｌ１が２mmである場
合に、後退量Ｌ２が３mmと設定される。）ので、リテー
ナ４４が浮き上がっている場合に、検出子５２と端子Ｔ
との接触を確実に回避して、リナーナ４４の装着不良を
確実に検出することができ、検出の信頼性が高い。

【００３１】さらに、装着不良のリテーナ４４によって
検査部１４が検査位置から所定の後退量Ｌ２だけ後退し
た位置で、検査部１４がトグルレバー１６に直接当てら
れるので、検査部１４の後退位置を精度良く規定するこ
とができる。その結果、検査部１４の後退量に関する不
確定要素を排除して、リテーナ４４の装着不良の検出の
信頼性をより向上させることができる。

【００３２】なお、本発明は上記実施の形態に限定され
るものではなく、本発明の範囲で種々の変更を施すこと
ができる。

【００３３】

【発明の効果】請求項１記載の発明では、リテーナがコ
ネクタハウジングから浮き上がっている場合、検査部の
突出部がリテーナに当接するため、検査部は、検査位置
まで到達できずに検査位置から所定の後退量だけ後退し
た位置に規定される。その結果、コネクタの全端子に関
して導通がとれない状態となり、リテーナの装着不良を
通常の導通検査の工程の中で作業性良く且つ確実に検出
することができる。また、装着不良のリテーナを検査部
を介して弾性部材が弾力的に押すので、リテーナを損傷
させてしまうようなことがなく、したがって、装着不良
のリテーナを正規に装着する作業を実施することによ
り、良品とすることが可能である結果、実質的な不良率
を低下させることができる。

【００３４】請求項２記載の発明では、検査部の後退量
を上記検出子の進退量よりも大きくしてあるので、リテ
ーナが浮き上がっている場合に検出子とコネクタの端子
との接触を確実に回避して、リナーナの装着不良を確実
に検出することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施の形態の導通検査装置と検査対
象のコネクタの分解斜視図である。

【図２】（ａ）及び（ｂ）はコンタクトプローブの動作
を示す導通検査装置の要部の断面図である。

【図３】検査部の検査位置からの後退を許容する後退許
容プローブの動作を示す導通検査装置の要部の断面図で
ある。

【図４】コネクタ受け部に検査対象のコネクタをセット
した状態の導通検査装置の一部破断側面図である。

【図５】（ａ）はリテーナが正規に装着されたコネクタ
を検査するときの導通検査装置の一部破断側面図であ
り、（ｂ）リナーナが装着不良であるコネクタを検査す
るときの導通検査装置の一部破断側面図である。

【図６】従来の導通検査装置と検査対象のコネクタの分
解斜視図である。

【符号の説明】

１０ 導通検査装置 １１ ベース １２ レール １３ コネクタ受け部 １４ 検査部 １５ コンタクトプローブ １６ トグルレバー（移動手段） １９ 検査面 ２１ 突出部 ２３ 後退許容プローブ ２４ 収容孔 ２５ 軸 ２６ 当接部 ２７ ストッパ ２８ 圧縮コイルばね（弾性部材） ４０ コネクタ ４１ コネクタハウジング ４２ 端子挿入孔 ４３ 側面 ４４ リテーナ ５１ 検出子 ５３ 圧縮コイルばね Ｌ１ 進退量 Ｌ２ 後退量 ＤＰ 検査位置

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】コネクタハウジングの両端面に開口する複
   数の端子挿入孔のそれぞれに一端側から挿入された端子
   を、コネクタハウジングの側面に設けたリテーナによっ
   て端子挿入孔内に止定するコネクタの導通を検査する導
   通検査装置において、 上記コネクタハウジングを受けるコネクタ受け部と、 このコネクタ受け部に対向する検査面を有しコネクタ受
   け部に近接する方向の前後に進退自在な検査部と、 この検査部をコネクタ受け部に近接する方向に沿って検
   査位置に移動させる移動手段と、 検査部に保持され、検査部が検査位置に移動した状態で
   各端子挿入孔の他側から導入され各端子とそれぞれ接触
   して導通を得る複数の検出子と、 検査部の検査面に突出形成され、検査部の検査位置側へ
   の移動に伴ってコネクタハウジングの側面に沿って移動
   する突出部と、 上記移動手段と検査部との間に介在し、検査部を検査位
   置側へ弾力的に押す弾性部材とを備え、 上記移動手段が検査部を検査位置側へ移動させるとき
   に、検査部の突出部が装着不良のリテーナに当接するこ
   とにより、上記弾性部材に抗して検査部が検査位置から
   所定の後退量だけ後退した位置に規定され、上記検出子
   と端子との接触が回避されることを特徴とする導通検査
   装置。
2. 【請求項２】上記検出子は、コネクタ受け部に近接する
   方向の前後に所定の進退量だけ進退可能に検査部に保持
   されると共にコネクタ受け部側に向けて弾性付勢されて
   おり、 上記検査部の所定の後退量が上記検出子の所定の進退量
   よりも大きくなるように設定されていることを特徴とす
   る請求項１記載の導通検査装置。