JPH07254449A - コネクタ及びコネクタ検査装置 - Google Patents

コネクタ及びコネクタ検査装置

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JPH07254449A
JPH07254449A JP7013194A JP7013194A JPH07254449A JP H07254449 A JPH07254449 A JP H07254449A JP 7013194 A JP7013194 A JP 7013194A JP 7013194 A JP7013194 A JP 7013194A JP H07254449 A JPH07254449 A JP H07254449A
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JP
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lance
terminal fitting
connector
bending space
check pin
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JP7013194A
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Masahiko Aoyama
雅彦 青山
Eiji Saijo
英二 西條
Keigo Atsumi
恵悟 渥美
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Sumitomo Wiring Systems Ltd
Original Assignee
Sumitomo Wiring Systems Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 信頼性の高いコネクタ検査を行う。 【構成】 端子金具33が正規挿入位置のとき、ランス
35はその下面35aが端子金具支持部38の下面38
aと面一となってランス撓み空間37内に突出しないた
め、ランスチェックピン15が誤ってランス35に突き
当たることはない。ランスチェックピン15はランス撓
み空間37内に緊密に挿入されるため、端子金具33が
不良挿入位置のときにランス撓み空間37に突出してい
るランス35の下に誤って潜り込むことはない。端子金
具33の挿入が正規・不良のどちらでも、挿入状態を確
実に検出できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コネクタハウジング内
に挿入した端子金具の挿入状態を検出するためのコネク
タ検査装置及びこれに適したコネクタに関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】コネクタは、一般に合成樹脂製のコネク
タハウジング内に、電線の先端に圧着した端子金具を装
着して構成され、その端子金具はコネクタハウジングに
一体に設けたランス(弾性係止爪)によって抜け止め状
態にされる。端子金具をコネクタハウジング内に挿入す
ると、その挿入途中においてランスは一旦撓み空間に向
かって撓み変形し、端子金具が正規挿入位置まで挿入さ
れると、弾性的に復元して端子金具と係合し、もって端
子金具の抜け止めが行われる。この種の抜け止め構造を
採用した場合、端子金具がランスを撓ませるところまで
挿入されると、ランスの弾性復元力のためにある程度の
摩擦力が端子金具に作用するため、端子金具は疑似的に
抜け止め状態となってしまい、端子金具の挿入作業を行
っている作業者は完全挿入に至ったと勘違いして作業を
途中で止めてしまうことがある。
【0003】しかし、端子金具がランスと係合する正規
挿入位置まで完全に挿入されていないと、使用中に端子
金具の抜けが発生する可能性があるため、端子の装着不
良は事前にチェックして修正する必要がある。そこで、
従来、端子金具の装着不良を検出するための各種のコネ
クタ検査装置が開発されており、その一例として図8に
示すものがある。これは、コネクタ1のランス3に対向
してランスチェックピン6を突出状に設けた構成で、各
ランスチェックピン6は、コネクタハウジング2に形成
したランス撓み空間4内に挿入されるようになってい
る。端子金具5が正規挿入位置まで完全に挿入されてい
る状態にあるときには、図9に示すように、ランス撓み
空間4内に挿入したランスチェックピン6はランス3に
突き当たることなくその下に潜り込むまで進入するよう
になっており、また、端子金具5が装着不良状態にある
ときには、撓み変形してランス撓み空間4内に大きく突
き出しているランス3の先端にランスチェックピン6が
突き当たるようになっている。この構成によれば、端子
金具5に装着不良があってランス3がランス撓み空間4
内に大きく突出しているときには、ランスチェックピン
6がランス3の先端に突き当たってランス3の下に潜り
込む位置まで移動するのが不能となるため、これによっ
て、端子金具5の装着不良を発見することができるので
ある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記コネクタにおいて
は、ランス3は弾性復元力と端子金具5を抜止め保持す
るための強度とを確保するために厚みが大きくとられて
いるのに対し、端子金具5が挿入されるキャビティ7と
ランス撓み空間4との間に設けた端子金具支持部8は端
子金具5の姿勢を保つだけの強度があれば良いことか
ら、その厚さはランス3よりも薄くされている。このた
め、端子金具5が正規挿入位置に完全挿入されている状
態でもランス3は端子金具支持部8よりもランス撓み空
間4側に僅かに突き出た状態となっている。これに対応
して、ランスチェックピン6の先端部分6aは、ランス
3の下へ潜り込めるようにランス撓み空間4の内部寸法
よりも薄くなっている。したがって、ランスチェックピ
ン6がランス撓み空間4内に挿入され始めたときには、
ランスチェックピン6の先端部分6aと端子金具支持部
8との間には隙間が空くようになる。
【0005】このため、ランスチェックピン6がランス
撓み空間4内に挿入されるときにランスチェックピン6
の先端部分6aが曲がり変形した状態でランス撓み空間
4内を進んだり、あるいは、ランスチェックピン6が同
空間4内を斜め方向に進入したりするという恐れがあ
る。このようになると、図10に示すように、端子金具
5が正規挿入位置まで完全に挿入されていてランス3が
ランス撓み空間4に対して最も退避した位置にあって
も、そのランス3のランス撓み空間4内に突き出ている
部分にランスチェックピン6の先端部分6aが突き当た
ることとなる。この結果、端子金具5が正規挿入位置に
あるにも拘わらず、ランスチェックピン6はその先端部
分6aをランス3の下に潜り込ませる位置まで到達する
ことができず、これに基づいて端子金具5が装着不良状
態であるとの誤った判断がなされることとなる。
【0006】本願発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、従って、端子金具の装着状態の良・不良を確実に判
別できて信頼性が高い検査を行えるようにすることを目
的とする。この目的に加え、請求項2の発明では、検査
用の治具をランス撓み空間内に確実に挿入できるように
することを目的とし、請求項4の発明では、ランスチェ
ックピンをランス撓み空間内に確実に挿入できるように
することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の手段として、請求項1の発明にかかるコネクタは、コ
ネクタハウジングの外面に開口するランス撓み空間と、
コネクタハウジングへの端子金具の挿入に伴ってランス
撓み空間内へ撓み変形した後に正規挿入位置に達した端
子金具に係合すべく戻り変形してその端子金具を抜止め
保持するランスとを備えてなり、ランスのランス撓み空
間内に臨む面が、正規挿入位置の端子金具に係合する状
態においてランス撓み空間の内面に対して面一に又はそ
の内面よりも奥まって位置している構成とした。
【0008】請求項2の発明にかかるコネクタは、請求
項1の発明において、コネクタハウジングの外面におけ
るランス撓み空間の開口縁には、外広がりのテーパ面が
形成されている構成とした。
【0009】請求項3の発明にかかるコネクタ検査装置
は、コネクタハウジングの外面に開口するランス撓み空
間と、コネクタハウジングへの端子金具の挿入に伴って
ランス撓み空間内へ撓み変形した後に正規挿入位置に達
した端子金具に係合すべく戻り変形してその端子金具を
抜止め保持するランスとを備えてなり、ランスのランス
撓み空間内に臨む面が、正規挿入位置の端子金具に係合
する状態においてランス撓み空間の内面に対して面一に
又はその内面よりも奥まって位置しているコネクタを検
査する装置であって、ランス撓み空間内に緊密に挿入さ
れてそのランス撓み空間内へ撓み変形したランスに突き
当たるランスチェックピンと、そのランスチェックピン
のランスへの突き当たりの有無を検出する検出手段とを
備えてなる構成とした。
【0010】請求項4の発明にかかるコネクタ検査装置
は、コネクタハウジングの外面に開口するランス撓み空
間と、コネクタハウジングへの端子金具の挿入に伴って
ランス撓み空間内へ撓み変形した後に正規挿入位置に達
した端子金具に係合すべく戻り変形してその端子金具を
抜止め保持するランスとを備えてなり、ランスのランス
撓み空間内に臨む面が、正規挿入位置の端子金具に係合
する状態においてランス撓み空間の内面に対して面一に
又はその内面よりも奥まって位置していると共に、コネ
クタハウジングの外面におけるランス撓み空間の開口縁
には、外広がりのテーパ面が形成されているコネクタを
検査する装置であって、ランス撓み空間内に緊密に挿入
されてそのランス撓み空間内へ撓み変形したランスに突
き当たるランスチェックピンと、そのランスチェックピ
ンのランスへの突き当たりの有無を検出する検出手段と
を備えてなる構成とした。
【0011】
【作用】請求項1の発明にかかるコネクタにおいては、
端子金具が正規挿入位置に装着されていれば、ランスの
ランス撓み空間に臨む面がランス撓み空間の内面に対し
て面一に又はその内面よりも奥まって位置するため、ラ
ンスがランス撓み空間内へ突出することはない。端子金
具が正規挿入位置に挿入されていないときには、ランス
がランス撓み空間内へ突出し、ランス撓み空間内に挿入
される検査用の治具がランスに突き当たるようになる。
【0012】請求項2の発明にかかるコネクタにおいて
は、検査用の治具がランス撓み空間の開口に正しく整合
していない状態でランス撓み空間に挿入されようとする
ときに、その治具は、テーパ面に当接してそのテーパ面
の傾斜により向きを修正された後に、ランス撓み空間に
挿入される。
【0013】請求項3の発明にかかるコネクタ検査装置
においては、請求項1のコネクタに対する検査が行われ
る。端子金具が正規挿入位置に装着されていてランスが
ランス撓み空間へ突出していないときには、ランスチェ
ックピンはランスに突き当たることがない。このとき、
ランスのランス撓み空間に臨む面はランス撓み空間の内
面に対して面一に又はその内面よりも奥まって位置して
いるため、ランスチェックピンが誤ってランスに突き当
たる恐れはない。また、端子金具が正規挿入位置に装着
されていなくてランスがランス撓み空間内に突出してい
るときには、ランスチェックピンがランスに突き当た
る。なお、ランスチェックピンはランス撓み空間内に緊
密に挿入されるため、ランス撓み空間内に突出したラン
スに確実に当接することとなる。このランスチェックピ
ンのランスへの突き当たりの有無が検出手段により検出
され、その検出結果に基づいて端子金具の挿入状態が判
断される。
【0014】請求項4の発明にかかるコネクタ検査装置
においては、請求項2のコネクタに対する検査が行われ
る。ランスチェックピンがランス撓み空間の開口に正し
く整合していない状態でランス撓み空間に挿入されよう
とするときには、ランスチェックピンは、テーパ面に当
接してそのテーパ面の傾斜により向きを修正された後
に、ランス撓み空間に挿入される。このようにしてラン
スチェックピンがランス撓み空間に挿入されると、上記
請求項3にかかるコネクタ検査装置と同じ作用により、
端子金具の挿入状態が検査される。
【0015】
【発明の効果】請求項1の発明にかかるコネクタによれ
ば、端子金具が正規挿入位置に装着されているときに
は、ランスをランス撓み空間内に突出させないようにす
ることにより、検査用の治具がランスに突き当たるのを
防止するようにしたから、端子金具が正規挿入位置に正
しく挿入されているにも拘わらず不良挿入状態であると
の誤った判断がなされることがなく、信頼性の高い検査
を行うことができる。
【0016】請求項2の発明にかかるコネクタによれ
ば、上記請求項1の発明の効果に加え、ランス撓み空間
の開口縁にテーパ面を設けたことにより、検査用の治具
がランス撓み空間の開口と整合していなくてもその治具
を確実にランス撓み空間に挿入させることができる。
【0017】請求項3の発明にかかるコネクタ検査装置
によれば、検査を行うコネクタにおいて端子金具が正規
挿入位置に装着されているときにはランスがランス撓み
空間内に突き出ないようになっていることにより、ラン
スチェックピンが誤ってランスに突き当たるのが防止さ
れていると共に、ランスチェックピンがランス撓み空間
内に緊密に挿入されるようになっていることにより、端
子金具が正規挿入位置に装着されていないときにはラン
ス撓み空間に突出したランスにランスチェックピンが確
実に突き当たるようになっている。したがって、端子金
具が正規挿入位置に正しく挿入されているにも拘わらず
不良挿入状態であるとの誤った判断がなされることも、
端子金具が正規挿入位置に装着されていないにも拘わら
ず正規挿入位置に装着されているとの誤った判断がなさ
れることもなく、信頼性の高い検査を行うことができ
る。
【0018】請求項4の発明にかかるコネクタ検査装置
によれば、上記請求項3の発明の効果に加え、検査を行
うコネクタにはランス撓み空間の開口縁にテーパ面が設
けられているから、ランスチェックピンがランス撓み空
間の開口と整合していない場合でもそのランスチェック
ピンを確実にランス撓み空間に挿入させることができ
る。
【0019】
【実施例】
<実施例1>以下、本発明を具体化した実施例1を図1
ないし図5を参照して説明する。まず、本実施例の検査
装置10を使用して検査されるコネクタ30の構造につ
いて説明する。コネクタハウジング31は合成樹脂製
で、全体として長方形状をなすように成形され、内部に
2段に分けて複数のキャビティ32が形成されている。
各キャビティ32は前後に貫通する形状で、この中には
端子金具33が後側(図1右側)から挿入されるように
なっている。端子金具33は、この実施例では図示しな
い相手方のコネクタの雄形端子金具と対をなす雌形をな
しており、電線34が圧着された周知の構造である。
【0020】コネクタハウジング31には、端子金具3
3を抜け止め状態に固定するためのランス35がコネク
タハウジング31と一体に設けられている。ランス35
は、前方へ片持ち状に突出していてキャビティ32と反
対側(図1の下側)への弾性撓みが可能となっている。
ランス35のキャビティ32側(図1の上側)の面には
端子金具33に係合される係止部36が突出して形成さ
れている。ランス35が詳しくは後述するように正規挿
入位置まで挿入されている端子金具33を抜止め状態に
保持している状態においては、そのランス35の下面3
5aはランス撓み空間37の底面37aと平行をなすよ
うになっている。
【0021】同じくコネクタハウジング31内には、ラ
ンス35の図1における下側への弾性変形を許容するた
めのランス撓み空間37が、型抜き空間を利用すること
によりコネクタハウジング31の前端面に開口すると共
にキャビティ32の下側に連通した状態で形成されてい
る。このランス撓み空間37とキャビティ32との間に
は、これらの両側壁面から突出する一対の端子金具支持
部38,38がコネクタハウジング31の前面からラン
ス35の先端近くに至る範囲で設けられている。この端
子金具支持部38の上面はキャビティ32の底面の一部
を構成している。端子金具支持部38の下面38aは、
ランス撓み空間37の上面の一部を構成していて、ラン
ス撓み空間37の底面37aと平行をなしている。この
端子金具支持部38の下面38aの高さは、正規挿入位
置の端子金具33を抜止め保持している状態のランス3
5の下面(ランス撓み空間37に臨む面)35aと同じ
高さであり、この両面35a,38aが面一となってい
る。
【0022】端子金具33がキャビティ32内に挿入さ
れると、挿入途中においては、端子金具33の先端がラ
ンス35の係止部36の傾斜面36aに当接してこのラ
ンス35を押し下げ、これにより、ランス35は先端側
を下げてランス撓み空間37内に突出するように弾性変
形する。そして、端子金具33がキャビティ32の最奥
部まで挿入されて正規挿入位置に達すると、係止部36
に端子金具33の係合孔33aが整合するため、ランス
35はその弾性復元力により上動して係合孔33aに係
止部36を係合させ、もってその端子金具33が抜け止
め状態に保持される。なお、上述したランス35の係合
の様子を表すため、図2の上段に描いた端子金具33に
ついては、正規挿入位置にまで挿入されてランス35と
係合した状態を示し、図2の下段に描いた端子金具33
については、正規挿入位置には至らない不良挿入位置に
あってランス35をランス撓み空間37側に突出させて
いる状態を示してある。
【0023】また、コネクタハウジング31の前面に
は、後述するランスチェックピン15をランス撓み空間
37内へ案内するために、ランス撓み空間37の開口縁
に沿って外広がり状になったテーパ面39が形成されて
いる。
【0024】次に、上記コネクタ30を検査するための
検査装置10について説明する。検査装置10は樹脂製
のチェッカーハウジング11に組み付けられている。こ
のチェッカーハウジング11の内部は隔壁11aによっ
て複数の小室に区分され、コネクタハウジング31の各
キャビティ32に対応する同数のキャビティ12が形成
されると共に、それらの各キャビティ12の先端側に検
査すべきコネクタ30を収容する角形のフード部13が
形成されている。
【0025】各キャビティ12内には、滑り性に優れた
「ジュラコン」(登録商標)等の合成樹脂製のスライダ
14が、スライド移動可能に、且つ、キャビティ12内
に収納した弱い圧縮スプリング16により図1中右方に
常時付勢されて設けられており、フード部13にコネク
タ30がセットされていない状態では、図1に示すよう
にスライダ14がそのストッパ14aを隔壁11aに当
接させた待機位置に保持されている。スライダ14の前
端には、コネクタ30のランス撓み空間37内への緊密
且つ円滑な挿入が可能な方形断面をなす細長いランスチ
ェックピン15が一体に形成されている。このランスチ
ェックピン15は、隔壁11aの透孔11bからフード
部13内に向けて突出しており、フード部13にコネク
タ30がセットされた状態においてそのランス撓み空間
37の開口と対向する。
【0026】また、スライダ14には導電性の金属棒に
て形成した電気接触子17が例えば圧入によって一体移
動可能に固定されている。この電気接触子17はランス
チェックピン15と平行に延びていて、その突出寸法は
ランスチェックピン15よりも短くされている。この電
気接触子17の先端部の位置は、フード部13にセット
したコネクタ30のランス撓み空間37内に挿入された
ランスチェックピン15が所定の深さまで進入したとき
に、電気接触子17が端子金具33の先端に接触するよ
う設定されている。
【0027】なお、各電気接触子17はリード線18を
介して図示しない導通検査回路に接続されている。この
導通検査回路は、ワイヤハーネスとして組み上げられた
状態のコネクタ30の各キャビティ32に正しい端子金
具33が挿入されているか否かを検査するもので、内部
に導通検査用の電源を備え、ワイヤハーネスの両端にあ
る2つのコネクタの所定の端子金具間に電流が流れるか
否かに基づき検査を行う周知の構成である。
【0028】次に、本実施例の作用を説明する。予め、
各電線34の先端に圧着された端子金具33がコネクタ
ハウジング31の所定のキャビティ32に挿入され、併
せて、多数の電線34をテーピング等によって束ねてワ
イヤハーネスとして組み上げられた状態で次のように端
子金具33の装着不良検査及び導通検査が行われる。こ
こで、検査すべきワイヤハーネスは所定の検査板上に載
せられ、そのコネクタ30が前記コネクタ検査装置10
のフード部13にセットされる(図2参照)。
【0029】フード部13にコネクタ30をセットする
のに伴い、ランスチェックピン15がランス撓み空間3
7に挿入される。このとき、ランスチェックピン15の
先端の位置がランス撓み空間37の開口に対して上下左
右にずれていたとしても、ランスチェックピン15の先
端はテーパ面39に当接してその傾斜面上を摺動するこ
とにより内側方向へ位置を修正されてランス撓み空間3
7の開口に整合するように導かれるため、ランスチェッ
クピン15は確実にランス撓み空間37内に挿入され
る。
【0030】そして、図2の上段及び図3に示すものの
ように、コネクタ30の端子金具33がランス35と係
合して抜止め保持される正規挿入位置にあれば、ランス
35がその下面35aを端子金具支持部38の下面38
aと面一にしてランス撓み空間37内には突出しない状
態となり、ランス撓み空間37内は、そのランス35及
び端子金具支持部38で構成されている上面35a,3
8aと底面37aとが平行になった状態にある。従っ
て、コネクタ30のセットに伴ってランス撓み空間37
内に挿入されたランスチェックピン15はランス35に
突き当たることなく進入を続ける。そして、コネクタ3
0がフード部13内に完全にセットし終わると、ランス
チェックピン15はその先端部をランス35の下へ潜り
込ませた状態でコネクタ30との相対移動を停止する。
なお、ランスチェックピン15のランス撓み空間37内
への挿入方向が上方向に傾いていたり、ランスチェック
ピン15が上向きに湾曲していたとしても、ランスチェ
ックピン15はランス撓み空間37内に緊密に挿入され
るため、挿入方向の傾きや湾曲形状は矯正される。従っ
て、ランスチェックピン15の挿入方向の狂いや変形の
ために、ランスチェックピン15が誤ってランス35の
先端に引っ掛かるという恐れはない。
【0031】ランスチェックピン15は、ランス撓み空
間37内に挿入される間、圧縮スプリング16の付勢に
より最も突出した状態が維持されている。したがって、
ランスチェックピン15と一体の電気接触子17もコネ
クタ30側に最大量突出した状態に維持され、この電気
接触子17の先端が端子金具33の先端に接触すること
になってこれと電気的に導通する。これにより、導通検
査回路によってこの端子金具33が正規挿入位置にあ
り、しかも、所定のキャビティ32内に装着されている
ことが確認される。
【0032】これに対し、図2の下段に示すもののよう
に端子金具33が正規挿入位置に達していない不良挿入
位置にあるときには、この端子金具33によって押し下
げられたランス35の先端部がランス撓み空間37内に
大きく突出した状態にある。従って、コネクタ30をフ
ード部13にセットしたとき、ランス撓み空間37内に
挿入されたランスチェックピン15の先端は、ランス3
5の下に潜り込む前にそのランス35の先端に突き当た
ることとなる。なお、このときに、ランス35の突出量
が少なかったとしても、ランスチェックピン15はラン
ス撓み空間37内に緊密に挿入されていてガタ付きがな
いことから、ランスチェックピン15が誤ってランス3
5の下に潜り込んでいくという恐れはない。このように
ランスチェックピン15がランス35に突き当たること
により、コネクタ30をセットする途中でランスチェッ
クピン15はランス撓み空間37内への進入を阻止さ
れ、スライダ14が圧縮スプリング16を圧縮しながら
チェッカーハウジング11に対して図2中左側へ相対的
に押し込められる。従って、このスライダ14に一体的
に設けられている電気接触子17も左側に押し下げられ
て端子金具33に接触することができなくなり、端子金
具33との導通が得られなくなるため、導通検査回路に
よってこの端子金具33が正規挿入位置まで挿入されて
いないか若しくは正しいキャビティ32に挿入されてい
ないという異常のあることが検出される。
【0033】なお、上述のようにランス35がランス撓
み空間37内に押し下げられている場合には、ランスチ
ェックピン15の先端がランス35に当接してコネクタ
30をフード部13にセットする際の挿入抵抗が増大す
るが、これに構わずにセットすれば良い。なぜなら、ラ
ンスチェックピン15が圧縮スプリング16を圧縮しな
がら図2中の左側に押し込められることになるため、過
剰な圧力がランス35に作用することがなくてランス3
5の損傷を確実に防止できるからである。
【0034】このように本実施例によれば、端子金具3
3が正規挿入位置に装着されているときにはランス35
がランス撓み空間37内に突き出ないようになっている
ことにより、ランスチェックピン15が誤ってランス3
5に突き当たるのが防止されているから、端子金具33
が正規挿入位置に正しく挿入されているにも拘わらず不
良挿入状態であるとの誤った判断がなされることはな
い。更に、ランスチェックピン15がランス撓み空間3
7内に緊密に挿入されるようになっていることにより、
端子金具33が正規挿入位置に装着されていないときに
はランス撓み空間37に突出したランス35にランスチ
ェックピン15が確実に突き当たるようになっているか
ら、端子金具33が正規挿入位置に装着されていないに
も拘わらず正規挿入位置に装着されているとの誤った判
断がなされることもない。このように、本実施例によれ
ば、信頼性の高い検査を行うことができる。
【0035】また、本実施例では、端子金具33が正規
挿入位置にあるときのランス35がランス撓み空間37
内に突出しないようにすることによって、ランスチェッ
クピン15をその先端から基端に至るまで一定の方形断
面をなす単純な形状としたから、ランスチェックピン1
5の成形に際しては金型形状が単純化されてコストの低
減を図ることができると共に、寸法精度を高めることが
可能となっている。
【0036】なお、本実施例では、各電気接触子17を
ワイヤハーネスの導通検査回路に接続する構成としてい
るから、コネクタ30をチェッカーハウジング11にセ
ットするという1つの作業によって、ランス35の位置
確認、すなわち端子金具33が正規挿入位置にあるか否
かを確認する挿入検査と、端子金具33が所定のキャビ
ティ32に装着されているか否かを確認する導通検査の
両検査を同時に行うことができ、検査作業が合理的とな
って能率化できる。
【0037】更に、本実施例では、チェッカーハウジン
グ11の各キャビティ12にスライダ14を配置し、こ
こにランスチェックピン15と電気接触子17とを一体
的にユニット化する構成としたから、検査すべきコネク
タ30の極数に応じた数の同一のユニットを設ければ良
く、コネクタ30の種類の変更に対して柔軟に対処する
ことができる。また、故障発生時には、そのユニットを
交換すれば良く、メンテナンス性にも優れる。
【0038】<実施例2>次に、本発明を具体化した実
施例2を図6を参照して説明する。本実施例と前記実施
例1との相違は、正規挿入位置の端子金具33を抜止め
保持している状態におけるランス45の下面45aの高
さが、端子金具支持部48の下面48aに対して相対的
に高くなっている点である。この高さに違いを設けるた
めの手段としては、例えば、ランスが機能するために必
要な強度等を考慮し、実施例1のコネクタに基づいて端
子金具支持部の厚さ寸法を大きくするか、ランスの厚さ
を薄くするような設計変更を行うという方法がある。そ
の他の構造は実施例1と同様であるから重複する説明は
省略する。
【0039】本実施例の作用について説明すると、端子
金具33が正規挿入位置にある場合には、その端子金具
33を抜止め保持している状態のランス45がその下面
45aを端子金具支持部48の下面48aよりも高い位
置にあるため、ランス撓み空間47はそのランス45部
分において端子金具支持部48よりも上方に奥まってい
ることになる。従って、ランス撓み空間47に挿入され
たランスチェックピン15は確実にランス45の下に潜
り込むこととなる。このとき、ランス45の下面45a
は端子金具支持部48の下面48aよりも上に逃げてい
るから、例え端子金具33との係合に異常があってラン
ス45が正規の姿勢より僅かに下がったとしても、この
ランス45が端子金具支持部48よりも下方へ突出する
恐れがない。従って、ランスチェックピン15がランス
45に誤って突き当たるのが確実に防止されている。
【0040】また、端子金具33が不良挿入位置にある
場合には、この端子金具33で押し下げられたランス4
5がその先端部を端子金具支持部48よりも下方に位置
させてランス撓み空間47内に突出するため、そのラン
ス45の先端にランスチェックピン15が突き当たるこ
ととなる。
【0041】本実施例においても、前記実施例1と同様
に、端子金具33が正規挿入位置に装着されているとき
にはランス45が端子金具支持部48よりもランス撓み
空間47側へ突出することがなくてランスチェックピン
15が誤ってランス45に突き当たるのが防止されてい
るから、端子金具33が不良挿入状態であるとの誤った
判断がなされることがなく、また、ランスチェックピン
15がランス撓み空間47内に緊密に挿入されていて、
端子金具33が正規挿入位置に装着されていないときに
はランス撓み空間47に突出したランス45にランスチ
ェックピン15が確実に突き当たるようになっているか
ら、端子金具33が正規挿入位置に装着されているとの
誤った判断がなされることもなく、信頼性の高い検査を
行うことができる。
【0042】<実施例3>次に、本発明を具体化した実
施例3を図7を参照して説明する。
【0043】本実施例と前記実施例1との相違は、検査
装置50のチェッカーハウジング55をコネクタ60側
に向けて機械的に移動させる構成としたところにある。
その他の構成は実施例1と同様であるから、重複する部
分の説明は省略し、相違するところのみを詳述する。
【0044】チェッカーハウジング55は基板51上を
図中左右方向に移動可能に設けられ、カムハンドル52
を回動操作することにより移動するようになっている。
ここに設けたランスチェックピン56及び電気接触子5
7は機能的には前記実施例1と同様の構成である。
【0045】一方、基板51の図中右端部にはU字形を
なすコネクタホルダ53が固定して設けられている。こ
のコネクタホルダ53に形成した固定溝54には、コネ
クタ60がその外面の凸条(図示せず)を上から嵌め込
んで案内されることにより移動不能の状態に保持され
る。
【0046】この構成では、コネクタ60をコネクタホ
ルダ53にセットして、カムハンドル42の回動操作に
よりチェッカーハウジング55を図中右側に進出させる
と、ランスチェックピン56及び電気接触子57がコネ
クタ60側に進出し、ランスチェックピン56がランス
撓み空間61内に進入すると共に、電気接触子57が端
子金具62に向かって移動する。これにて、前記実施例
1と同様に、端子金具62の挿入検査とワイヤーハーネ
スの導通検査とが行われる。
【0047】本実施例においても、前記実施例1と同様
に、端子金具62が正規挿入位置に装着されているとき
にはランス63が端子金具支持部64よりもランス撓み
空間61側へ突出することがなくてランスチェックピン
56が誤ってランス63に突き当たるのが防止されてい
るから、端子金具62が不良挿入状態であるとの誤った
判断がなされることがなく、また、ランスチェックピン
56がランス撓み空間61内に緊密に挿入されていて、
端子金具62が正規挿入位置に装着されていないときに
はランス撓み空間61に突出したランス63にランスチ
ェックピン56が確実に突き当たるようになっているか
ら、端子金具62が正規挿入位置に装着されているとの
誤った判断がなされることもなく、従って、信頼性の高
い検査を行うことができるようになっている。
【0048】なお、本実施例では、チェッカーハウジン
グ55側をカムハンドル52の回動操作によって移動さ
せる構成としたが、これとは逆に、チェッカーハウジン
グ55は固定してコネクタ60を保持したコネクタホル
ダ53を移動させる構成としても良く、両者を同時に近
接する方向に移動させる構成としてもよい。
【0049】また、上記各実施例においては、ランスチ
ェックピンの位置によりそのランスへの突き当たりの有
無を検出する検出手段として、ランスチェックピンと一
体的に移動可能に設けられて正規挿入位置の端子金具に
接触可能な電気接触子を用いたが、本出願の請求項3及
び4にいう「検出手段」は、この電気接触子に限定する
ものではなく、他の手段を含むものである。
【0050】<他の実施例>本発明は上記記述及び図面
によって説明した実施例に限定されるものではなく、例
えば次のような実施態様も本発明の技術的範囲に含まれ
る。
【0051】(1)上記実施例では、ランスチェックピ
ンを用いて端子金具の挿入状態の検査を行う場合につい
て説明したが、本願発明のコネクタは、コネクタハウジ
ングの前面側からリテーナを挿入してランスに係止さ
せ、もって、ランスがランス撓み空間側へ弾性変形して
端子金具から外れるのを防止する、いわゆる二重係止を
行う場合にも適用することができるものである。この場
合にも、リテーナのランスへの係止部材をランス撓み空
間内に挿入したときに、その係止部材が正規挿入位置の
端子金具を抜止め保持するランスに誤って突き当たるこ
と、及び、端子金具が不良挿入位置にあってランス撓み
空間内に突出しているランスの下に誤って潜り込むこと
を確実に防止することができる。
【0052】その他、本願発明は上記記述及び図面によ
って説明した実施例に限定されるものではなく、要旨を
逸脱しない範囲内で種々変更して実施することができる
ものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施例1の検査前の状態の断面図
【図2】 実施例1のコネクタ検査装置の検査を行って
いる状態の断面図
【図3】 実施例1のコネクタ検査装置の検査を行って
いる状態の部分拡大断面図
【図4】 実施例1のコネクタの正面図
【図5】 実施例1のコネクタとランスチェックピンの
部分拡大斜視図
【図6】 実施例2の検査を行っている状態の部分拡大
断面図
【図7】 実施例3の断面図
【図8】 従来のコネクタ検査装置の検査前の状態の断
面図
【図9】 従来のコネクタ検査装置の検査が正しく行わ
れている状態の部分拡大断面図
【図10】 従来のコネクタ検査装置の検査が正しく行
われていない状態の部分拡大断面図
【符号の説明】
10…コネクタ検査装置 15…ランスチェックピン 17…電気接触子(検出手段) 30…コネクタ 31…コネクタハウジング 33…端子金具 35…ランス 37…ランス撓み空間 39…テーパ面

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 コネクタハウジングの外面に開口するラ
    ンス撓み空間と、前記コネクタハウジングへの端子金具
    の挿入に伴って前記ランス撓み空間内へ撓み変形した後
    に正規挿入位置に達した前記端子金具に係合すべく戻り
    変形してその端子金具を抜止め保持するランスとを備え
    てなり、前記ランスの前記ランス撓み空間内に臨む面
    が、正規挿入位置の前記端子金具に係合する状態におい
    て前記ランス撓み空間の内面に対して面一に又はその内
    面よりも奥まって位置していることを特徴とするコネク
    タ。
  2. 【請求項2】 コネクタハウジングの外面におけるラン
    ス撓み空間の開口縁には、外広がりのテーパ面が形成さ
    れていることを特徴とする請求項1に記載のコネクタ。
  3. 【請求項3】 コネクタハウジングの外面に開口するラ
    ンス撓み空間と、前記コネクタハウジングへの端子金具
    の挿入に伴って前記ランス撓み空間内へ撓み変形した後
    に正規挿入位置に達した前記端子金具に係合すべく戻り
    変形してその端子金具を抜止め保持するランスとを備え
    てなり、前記ランスの前記ランス撓み空間内に臨む面
    が、正規挿入位置の前記端子金具に係合する状態におい
    て前記ランス撓み空間の内面に対して面一に又はその内
    面よりも奥まって位置しているコネクタを検査する装置
    であって、 前記ランス撓み空間内に緊密に挿入されてそのランス撓
    み空間内へ撓み変形した前記ランスに突き当たるランス
    チェックピンと、そのランスチェックピンの前記ランス
    への突き当たりの有無を検出する検出手段とを備えてな
    ることを特徴とするコネクタ検査装置。
  4. 【請求項4】 コネクタハウジングの外面に開口するラ
    ンス撓み空間と、前記コネクタハウジングへの端子金具
    の挿入に伴って前記ランス撓み空間内へ撓み変形した後
    に正規挿入位置に達した前記端子金具に係合すべく戻り
    変形してその端子金具を抜止め保持するランスとを備え
    てなり、前記ランスの前記ランス撓み空間内に臨む面
    が、正規挿入位置の前記端子金具に係合する状態におい
    て前記ランス撓み空間の内面に対して面一に又はその内
    面よりも奥まって位置していると共に、前記コネクタハ
    ウジングの外面における前記ランス撓み空間の開口縁に
    は、外広がりのテーパ面が形成されているコネクタを検
    査する装置であって、 前記ランス撓み空間内に緊密に挿入されてそのランス撓
    み空間内へ撓み変形した前記ランスに突き当たるランス
    チェックピンと、そのランスチェックピンの前記ランス
    への突き当たりの有無を検出する検出手段とを備えてな
    ることを特徴とするコネクタ検査装置。
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DE69502752T DE69502752T2 (de) 1994-03-10 1995-03-10 Steckverbinder und Vorrichtung zum Prüfen von Konnektoren und Betätigungsmechanismus dazu
EP95103510A EP0671789B1 (en) 1994-03-10 1995-03-10 Connector, connector examining device and connector moving mechanism
US08/787,222 US5877622A (en) 1994-03-10 1997-01-22 Connector examination device for determining a connection in a connector

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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08313581A (ja) * 1995-05-22 1996-11-29 Yazaki Corp 端子半挿入検知用コネクタ
JPH1145761A (ja) * 1997-07-29 1999-02-16 Sumitomo Wiring Syst Ltd 雌型コネクタ
US6445190B1 (en) 1999-12-03 2002-09-03 Yazaki Corporation Connector continuity checking device
US6589079B2 (en) 2000-03-14 2003-07-08 Yazaki Corporation Connector having at least one contact-pin inserting port for a conduction-test tool
JP2007005239A (ja) * 2005-06-27 2007-01-11 Sumitomo Wiring Syst Ltd コネクタ
WO2009078374A1 (ja) * 2007-12-18 2009-06-25 Autonetworks Technologies, Ltd. ジョイントコネクタ及びこれを用いた電線短絡方法
JP2012199189A (ja) * 2011-03-23 2012-10-18 Yazaki Corp コネクタ
JP2019021386A (ja) * 2017-07-11 2019-02-07 矢崎総業株式会社 コネクタの検査システム

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6247093U (ja) * 1985-09-10 1987-03-23
JPH01304671A (ja) * 1988-05-31 1989-12-08 Yazaki Corp 電気コネクタ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6247093U (ja) * 1985-09-10 1987-03-23
JPH01304671A (ja) * 1988-05-31 1989-12-08 Yazaki Corp 電気コネクタ

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08313581A (ja) * 1995-05-22 1996-11-29 Yazaki Corp 端子半挿入検知用コネクタ
JPH1145761A (ja) * 1997-07-29 1999-02-16 Sumitomo Wiring Syst Ltd 雌型コネクタ
US6445190B1 (en) 1999-12-03 2002-09-03 Yazaki Corporation Connector continuity checking device
US6589079B2 (en) 2000-03-14 2003-07-08 Yazaki Corporation Connector having at least one contact-pin inserting port for a conduction-test tool
JP2007005239A (ja) * 2005-06-27 2007-01-11 Sumitomo Wiring Syst Ltd コネクタ
WO2009078374A1 (ja) * 2007-12-18 2009-06-25 Autonetworks Technologies, Ltd. ジョイントコネクタ及びこれを用いた電線短絡方法
JP2009151942A (ja) * 2007-12-18 2009-07-09 Autonetworks Technologies Ltd ジョイントコネクタ及びこれを用いた電線短絡方法
US8083543B2 (en) 2007-12-18 2011-12-27 Autonetworks Technologies, Ltd. Joint connector and wire short-circuiting method using the same
JP2012199189A (ja) * 2011-03-23 2012-10-18 Yazaki Corp コネクタ
JP2019021386A (ja) * 2017-07-11 2019-02-07 矢崎総業株式会社 コネクタの検査システム

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