JP3043568B2 - コネクタ - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、コネクタハウジング内
に挿入した端子金具の挿入状態を検出するために適した
コネクタに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】コネクタは、一般に合成樹脂製のコネク
タハウジング内に、電線の先端に圧着した端子金具を装
着して構成され、その端子金具はコネクタハウジングに
一体に設けたランス（弾性係止爪）によって抜け止め状
態にされる。端子金具をコネクタハウジング内に挿入す
ると、その挿入途中においてランスは一旦撓み空間に向
かって撓み変形し、端子金具が正規挿入位置まで挿入さ
れると、弾性的に復元して端子金具と係合し、もって端
子金具の抜け止めが行われる。この種の抜け止め構造を
採用した場合、端子金具がランスを撓ませるところまで
挿入されると、ランスの弾性復元力のためにある程度の
摩擦力が端子金具に作用するため、端子金具は疑似的に
抜け止め状態となってしまい、端子金具の挿入作業を行
っている作業者は完全挿入に至ったと勘違いして作業を
途中で止めてしまうことがある。

【０００３】しかし、端子金具がランスと係合する正規
挿入位置まで完全に挿入されていないと、使用中に端子
金具の抜けが発生する可能性があるため、端子の装着不
良は事前にチェックして修正する必要がある。そこで、
従来、端子金具の装着不良を検出するための各種のコネ
クタ検査装置が開発されており、その一例として図７に
示すものがある。これは、コネクタ１のランス３に対向
してランスチェックピン６を突出状に設けた構成で、各
ランスチェックピン６は、コネクタハウジング２に形成
したランス撓み空間４内に挿入されるようになってい
る。端子金具５が正規挿入位置まで完全に挿入されてい
る状態にあるときには、図８に示すように、ランス撓み
空間４内に挿入したランスチェックピン６はランス３に
突き当たることなくその下に潜り込むまで進入するよう
になっており、また、端子金具５が装着不良状態にある
ときには、撓み変形してランス撓み空間４内に大きく突
き出しているランス３の先端にランスチェックピン６が
突き当たるようになっている。この構成によれば、端子
金具５に装着不良があってランス３がランス撓み空間４
内に大きく突出しているときには、ランスチェックピン
６がランス３の先端に突き当たってランス３の下に潜り
込む位置まで移動するのが不能となるため、これによっ
て、端子金具５の装着不良を発見することができるので
ある。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記コネクタにおいて
は、ランス３は弾性復元力と端子金具５を抜止め保持す
るための強度とを確保するために厚みが大きくとられて
いるのに対し、端子金具５が挿入されるキャビティ７と
ランス撓み空間４との間に設けた端子金具支持部８は端
子金具５の姿勢を保つだけの強度があれば良いことか
ら、その厚さはランス３よりも薄くされている。このた
め、端子金具５が正規挿入位置に完全挿入されている状
態でもランス３は端子金具支持部８よりもランス撓み空
間４側に僅かに突き出た状態となっている。これに対応
して、ランスチェックピン６の先端部分６ａは、ランス
３の下へ潜り込めるようにランス撓み空間４の内部寸法
よりも薄くなっている。したがって、ランスチェックピ
ン６がランス撓み空間４内に挿入され始めたときには、
ランスチェックピン６の先端部分６ａと端子金具支持部
８との間には隙間が空くようになる。

【０００５】このため、ランスチェックピン６がランス
撓み空間４内に挿入されるときにランスチェックピン６
の先端部分６ａが曲がり変形した状態でランス撓み空間
４内を進んだり、あるいは、ランスチェックピン６が同
空間４内を斜め方向に進入したりするという恐れがあ
る。このようになると、図９に示すように、端子金具５
が正規挿入位置まで完全に挿入されていてランス３がラ
ンス撓み空間４に対して最も退避した位置にあっても、
そのランス３のランス撓み空間４内に突き出ている部分
にランスチェックピン６の先端部分６ａが突き当たるこ
ととなる。この結果、端子金具５が正規挿入位置にある
にも拘わらず、ランスチェックピン６はその先端部分６
ａをランス３の下に潜り込ませる位置まで到達すること
ができず、これに基づいて端子金具５が装着不良状態で
あるとの誤った判断がなされることとなる。

【０００６】本願発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、従って、端子金具の装着状態の良・不良を確実に判
別できて信頼性が高い検査を行えるようにすることを目
的とする。この目的に加え、請求項２の発明では、検査
用の治具をランス撓み空間内に確実に挿入できるように
することを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の手段として、請求項１の発明にかかるコネクタは、前
記ランスの前記ランス撓み空間内に臨む面を、正規挿入
された前記端子金具と係合する状態で前記ランス撓み空
間の内面よりも奥まった位置となるように設定すること
で、前記端子金具の正規挿入状態における前記ランスチ
ェックピンの前記ランスへの当接を回避する構成とし
た。

【０００８】請求項２の発明にかかるコネクタは、請求
項１の発明において、コネクタハウジングの外面におけ
るランス撓み空間の開口縁には、外広がりのテーパ面が
形成されている構成とした。

【０００９】

【００１０】

【００１１】

【作用】請求項１の発明にかかるコネクタにおいては、
端子金具が正規挿入位置に装着されていれば、ランスの
ランス撓み空間に臨む面がランス撓み空間の内面よりも
奥まって位置するため、ランスがランス撓み空間内へ突
出することはない。端子金具が正規挿入位置に挿入され
ていないときには、ランスがランス撓み空間内へ突出
し、ランス撓み空間内に挿入される検査用の治具がラン
スに突き当たるようになる。

【００１２】請求項２の発明にかかるコネクタにおいて
は、検査用の治具がランス撓み空間の開口に正しく整合
していない状態でランス撓み空間に挿入されようとする
ときに、その治具は、テーパ面に当接してそのテーパ面
の傾斜により向きを修正された後に、ランス撓み空間に
挿入される。

【００１３】

【００１４】

【００１５】

【発明の効果】請求項１の発明にかかるコネクタによれ
ば、端子金具が正規挿入位置に装着されているときに
は、ランスをランス撓み空間内に突出させないようにす
ることにより、検査用の治具がランスに突き当たるのを
防止するようにしたから、端子金具が正規挿入位置に正
しく挿入されているにも拘わらず不良挿入状態であると
の誤った判断がなされることがなく、信頼性の高い検査
を行うことができる。

【００１６】

【００１７】

【００１８】請求項４の発明にかかるコネクタ検査装置
によれば、上記請求項３の発明の効果に加え、検査を行
うコネクタにはランス撓み空間の開口縁にテーパ面が設
けられているから、ランスチェックピンがランス撓み空
間の開口と整合していない場合でもそのランスチェック
ピンを確実にランス撓み空間に挿入させることができ
る。

【００１９】

【実施例】

＜実施例１＞以下、本発明を具体化した実施例１を図１
ないし図５を参照して説明する。まず、本実施例の検査
装置１０を使用して検査されるコネクタ３０の構造につ
いて説明する。コネクタハウジング３１は合成樹脂製
で、全体として長方形状をなすように成形され、内部に
２段に分けて複数のキャビティ３２が形成されている。
各キャビティ３２は前後に貫通する形状で、この中には
端子金具３３が後側（図１右側）から挿入されるように
なっている。端子金具３３は、この実施例では図示しな
い相手方のコネクタの雄形端子金具と対をなす雌形をな
しており、電線３４が圧着された周知の構造である。

【００２０】コネクタハウジング３１には、端子金具３
３を抜け止め状態に固定するためのランス３５がコネク
タハウジング３１と一体に設けられている。ランス３５
は、前方へ片持ち状に突出していてキャビティ３２と反
対側（図１の下側）への弾性撓みが可能となっている。
ランス３５のキャビティ３２側（図１の上側）の面には
端子金具３３に係合される係止部３６が突出して形成さ
れている。ランス３５が詳しくは後述するように正規挿
入位置まで挿入されている端子金具３３を抜止め状態に
保持している状態においては、そのランス３５の下面３
５ａはランス撓み空間３７の底面３７ａと平行をなすよ
うになっている。

【００２１】同じくコネクタハウジング３１内には、ラ
ンス３５の図１における下側への弾性変形を許容するた
めのランス撓み空間３７が、型抜き空間を利用すること
によりコネクタハウジング３１の前端面に開口すると共
にキャビティ３２の下側に連通した状態で形成されてい
る。このランス撓み空間３７とキャビティ３２との間に
は、これらの両側壁面から突出する一対の端子金具支持
部３８，３８がコネクタハウジング３１の前面からラン
ス３５の先端近くに至る範囲で設けられている。この端
子金具支持部３８の上面はキャビティ３２の底面の一部
を構成している。端子金具支持部３８の下面３８ａは、
ランス撓み空間３７の上面の一部を構成していて、ラン
ス撓み空間３７の底面３７ａと平行をなしている。この
端子金具支持部３８の下面３８ａの高さは、図３に誇張
して示すように、正規挿入位置の端子金具３３を抜止め
保持している状態のランス３５の下面（ランス撓み空間
３７に臨む面）３５ａよりも低く設定されている。この
高さに違いを設けるための手段としては、例えば、ラン
スが機能するために必要な強度等を考慮し、実施例１の
コネクタに基づいて端子金具支持部の厚さ寸法を大きく
するか、ランスの厚さを薄くするような設計変更を行う
という方法がある。

【００２２】端子金具３３がキャビティ３２内に挿入さ
れると、挿入途中においては、端子金具３３の先端がラ
ンス３５の係止部３６の傾斜面３６ａに当接してこのラ
ンス３５を押し下げ、これにより、ランス３５は先端側
を下げてランス撓み空間３７内に突出するように弾性変
形する。そして、端子金具３３がキャビティ３２の最奥
部まで挿入されて正規挿入位置に達すると、係止部３６
に端子金具３３の係合孔３３ａが整合するため、ランス
３５はその弾性復元力により上動して係合孔３３ａに係
止部３６を係合させ、もってその端子金具３３が抜け止
め状態に保持される。なお、上述したランス３５の係合
の様子を表すため、図２の上段に描いた端子金具３３に
ついては、正規挿入位置にまで挿入されてランス３５と
係合した状態を示し、図２の下段に描いた端子金具３３
については、正規挿入位置には至らない不良挿入位置に
あってランス３５をランス撓み空間３７側に突出させて
いる状態を示してある。

【００２３】また、コネクタハウジング３１の前面に
は、後述するランスチェックピン１５をランス撓み空間
３７内へ案内するために、ランス撓み空間３７の開口縁
に沿って外広がり状になったテーパ面３９が形成されて
いる。

【００２４】次に、上記コネクタ３０を検査するための
検査装置１０について説明する。検査装置１０は樹脂製
のチェッカーハウジング１１に組み付けられている。こ
のチェッカーハウジング１１の内部は隔壁１１ａによっ
て複数の小室に区分され、コネクタハウジング３１の各
キャビティ３２に対応する同数のキャビティ１２が形成
されると共に、それらの各キャビティ１２の先端側に検
査すべきコネクタ３０を収容する角形のフード部１３が
形成されている。

【００２５】各キャビティ１２内には、滑り性に優れた
「ジュラコン」（登録商標）等の合成樹脂製のスライダ
１４が、スライド移動可能に、且つ、キャビティ１２内
に収納した弱い圧縮スプリング１６により図１中右方に
常時付勢されて設けられており、フード部１３にコネク
タ３０がセットされていない状態では、図１に示すよう
にスライダ１４がそのストッパ１４ａを隔壁１１ａに当
接させた待機位置に保持されている。スライダ１４の前
端には、コネクタ３０のランス撓み空間３７内への緊密
且つ円滑な挿入が可能な方形断面をなす細長いランスチ
ェックピン１５が一体に形成されている。このランスチ
ェックピン１５は、隔壁１１ａの透孔１１ｂからフード
部１３内に向けて突出しており、フード部１３にコネク
タ３０がセットされた状態においてそのランス撓み空間
３７の開口と対向する。

【００２６】また、スライダ１４には導電性の金属棒に
て形成した電気接触子１７が例えば圧入によって一体移
動可能に固定されている。この電気接触子１７はランス
チェックピン１５と平行に延びていて、その突出寸法は
ランスチェックピン１５よりも短くされている。この電
気接触子１７の先端部の位置は、フード部１３にセット
したコネクタ３０のランス撓み空間３７内に挿入された
ランスチェックピン１５が所定の深さまで進入したとき
に、電気接触子１７が端子金具３３の先端に接触するよ
う設定されている。

【００２７】なお、各電気接触子１７はリード線１８を
介して図示しない導通検査回路に接続されている。この
導通検査回路は、ワイヤハーネスとして組み上げられた
状態のコネクタ３０の各キャビティ３２に正しい端子金
具３３が挿入されているか否かを検査するもので、内部
に導通検査用の電源を備え、ワイヤハーネスの両端にあ
る２つのコネクタの所定の端子金具間に電流が流れるか
否かに基づき検査を行う周知の構成である。

【００２８】次に、本実施例の作用を説明する。予め、
各電線３４の先端に圧着された端子金具３３がコネクタ
ハウジング３１の所定のキャビティ３２に挿入され、併
せて、多数の電線３４をテーピング等によって束ねてワ
イヤハーネスとして組み上げられた状態で次のように端
子金具３３の装着不良検査及び導通検査が行われる。こ
こで、検査すべきワイヤハーネスは所定の検査板上に載
せられ、そのコネクタ３０が前記コネクタ検査装置１０
のフード部１３にセットされる（図２参照）。

【００２９】フード部１３にコネクタ３０をセットする
のに伴い、ランスチェックピン１５がランス撓み空間３
７に挿入される。このとき、ランスチェックピン１５の
先端の位置がランス撓み空間３７の開口に対して上下左
右にずれていたとしても、ランスチェックピン１５の先
端はテーパ面３９に当接してその傾斜面上を摺動するこ
とにより内側方向へ位置を修正されてランス撓み空間３
７の開口に整合するように導かれるため、ランスチェッ
クピン１５は確実にランス撓み空間３７内に挿入され
る。

【００３０】そして、図２の上段及び図３に示すものの
ように、コネクタ３０の端子金具３３がランス３５と係
合して抜止め保持される正規挿入位置にあれば、ランス
３５がその下面３５ａを端子金具支持部３８の下面３８
ａよりも高くしてランス撓み空間３７内には突出しない
状態となり、ランス撓み空間３７内は、そのランス３５
及び端子金具支持部３８で構成されている上面３５ａ，
３８ａと底面３７ａとが平行になった状態にある。従っ
て、コネクタ３０のセットに伴ってランス撓み空間３７
内に挿入されたランスチェックピン１５はランス３５に
突き当たることなく進入を続ける。そして、コネクタ３
０がフード部１３内に完全にセットし終わると、ランス
チェックピン１５はその先端部をランス３５の下へ潜り
込ませた状態でコネクタ３０との相対移動を停止する。
このとき、ランス３５の下面３５ａは端子金具支持部３
８の下面３８ａよりも上に逃げているから、例え端子金
具３３との係合に異常があってランス３５が正規の姿勢
より僅かに下がったとしても、このランス３５が端子金
具支持部３８よりも下方へ突出する恐れがない。従っ
て、ランスチェックピン１５がランス３５に誤って突き
当たるのが確実に防止されている。なお、ランスチェッ
クピン１５のランス撓み空間３７内への挿入方向が上方
向に傾いていたり、ランスチェックピン１５が上向きに
湾曲していたとしても、ランスチェックピン１５はラン
ス撓み空間３７内に緊密に挿入されるため、挿入方向の
傾きや湾曲形状は矯正される。従って、ランスチェック
ピン１５の挿入方向の狂いや変形のために、ランスチェ
ックピン１５が誤ってランス３５の先端に引っ掛かると
いう恐れはない。

【００３１】ランスチェックピン１５は、ランス撓み空
間３７内に挿入される間、圧縮スプリング１６の付勢に
より最も突出した状態が維持されている。したがって、
ランスチェックピン１５と一体の電気接触子１７もコネ
クタ３０側に最大量突出した状態に維持され、この電気
接触子１７の先端が端子金具３３の先端に接触すること
になってこれと電気的に導通する。これにより、導通検
査回路によってこの端子金具３３が正規挿入位置にあ
り、しかも、所定のキャビティ３２内に装着されている
ことが確認される。

【００３２】これに対し、図２の下段に示すもののよう
に端子金具３３が正規挿入位置に達していない不良挿入
位置にあるときには、この端子金具３３によって押し下
げられたランス３５の先端部がランス撓み空間３７内に
大きく突出した状態にある。従って、コネクタ３０をフ
ード部１３にセットしたとき、ランス撓み空間３７内に
挿入されたランスチェックピン１５の先端は、ランス３
５の下に潜り込む前にそのランス３５の先端に突き当た
ることとなる。なお、このときに、ランス３５の突出量
が少なかったとしても、ランスチェックピン１５はラン
ス撓み空間３７内に緊密に挿入されていてガタ付きがな
いことから、ランスチェックピン１５が誤ってランス３
５の下に潜り込んでいくという恐れはない。このように
ランスチェックピン１５がランス３５に突き当たること
により、コネクタ３０をセットする途中でランスチェッ
クピン１５はランス撓み空間３７内への進入を阻止さ
れ、スライダ１４が圧縮スプリング１６を圧縮しながら
チェッカーハウジング１１に対して図２中左側へ相対的
に押し込められる。従って、このスライダ１４に一体的
に設けられている電気接触子１７も左側に押し下げられ
て端子金具３３に接触することができなくなり、端子金
具３３との導通が得られなくなるため、導通検査回路に
よってこの端子金具３３が正規挿入位置まで挿入されて
いないか若しくは正しいキャビティ３２に挿入されてい
ないという異常のあることが検出される。

【００３３】なお、上述のようにランス３５がランス撓
み空間３７内に押し下げられている場合には、ランスチ
ェックピン１５の先端がランス３５に当接してコネクタ
３０をフード部１３にセットする際の挿入抵抗が増大す
るが、これに構わずにセットすれば良い。なぜなら、ラ
ンスチェックピン１５が圧縮スプリング１６を圧縮しな
がら図２中の左側に押し込められることになるため、過
剰な圧力がランス３５に作用することがなくてランス３
５の損傷を確実に防止できるからである。

【００３４】このように本実施例によれば、端子金具３
３が正規挿入位置に装着されているときにはランス３５
がランス撓み空間３７内に突き出ないようになっている
ことにより、ランスチェックピン１５が誤ってランス３
５に突き当たるのが防止されているから、端子金具３３
が正規挿入位置に正しく挿入されているにも拘わらず不
良挿入状態であるとの誤った判断がなされることはな
い。更に、ランスチェックピン１５がランス撓み空間３
７内に緊密に挿入されるようになっていることにより、
端子金具３３が正規挿入位置に装着されていないときに
はランス撓み空間３７に突出したランス３５にランスチ
ェックピン１５が確実に突き当たるようになっているか
ら、端子金具３３が正規挿入位置に装着されていないに
も拘わらず正規挿入位置に装着されているとの誤った判
断がなされることもない。このように、本実施例によれ
ば、信頼性の高い検査を行うことができる。

【００３５】また、本実施例では、端子金具３３が正規
挿入位置にあるときのランス３５がランス撓み空間３７
内に突出しないようにすることによって、ランスチェッ
クピン１５をその先端から基端に至るまで一定の方形断
面をなす単純な形状としたから、ランスチェックピン１
５の成形に際しては金型形状が単純化されてコストの低
減を図ることができると共に、寸法精度を高めることが
可能となっている。

【００３６】なお、本実施例では、各電気接触子１７を
ワイヤハーネスの導通検査回路に接続する構成としてい
るから、コネクタ３０をチェッカーハウジング１１にセ
ットするという１つの作業によって、ランス３５の位置
確認、すなわち端子金具３３が正規挿入位置にあるか否
かを確認する挿入検査と、端子金具３３が所定のキャビ
ティ３２に装着されているか否かを確認する導通検査の
両検査を同時に行うことができ、検査作業が合理的とな
って能率化できる。

【００３７】更に、本実施例では、チェッカーハウジン
グ１１の各キャビティ１２にスライダ１４を配置し、こ
こにランスチェックピン１５と電気接触子１７とを一体
的にユニット化する構成としたから、検査すべきコネク
タ３０の極数に応じた数の同一のユニットを設ければ良
く、コネクタ３０の種類の変更に対して柔軟に対処する
ことができる。また、故障発生時には、そのユニットを
交換すれば良く、メンテナンス性にも優れる。

【００３８】

【００３９】

【００４０】

【００４１】

【００４２】＜実施例２＞ 次に、本発明を具体化した実施例２を図６を参照して説
明する。

【００４３】本実施例と前記実施例１との相違は、検査
装置５０のチェッカーハウジング５５をコネクタ６０側
に向けて機械的に移動させる構成としたところにある。
その他の構成は実施例１と同様であるから、重複する部
分の説明は省略し、相違するところのみを詳述する。

【００４４】チェッカーハウジング５５は基板５１上を
図中左右方向に移動可能に設けられ、カムハンドル５２
を回動操作することにより移動するようになっている。
ここに設けたランスチェックピン５６及び電気接触子５
７は機能的には前記実施例１と同様の構成である。

【００４５】一方、基板５１の図中右端部にはＵ字形を
なすコネクタホルダ５３が固定して設けられている。こ
のコネクタホルダ５３に形成した固定溝５４には、コネ
クタ６０がその外面の凸条（図示せず）を上から嵌め込
んで案内されることにより移動不能の状態に保持され
る。

【００４６】この構成では、コネクタ６０をコネクタホ
ルダ５３にセットして、カムハンドル４２の回動操作に
よりチェッカーハウジング５５を図中右側に進出させる
と、ランスチェックピン５６及び電気接触子５７がコネ
クタ６０側に進出し、ランスチェックピン５６がランス
撓み空間６１内に進入すると共に、電気接触子５７が端
子金具６２に向かって移動する。これにて、前記実施例
１と同様に、端子金具６２の挿入検査とワイヤーハーネ
スの導通検査とが行われる。

【００４７】本実施例においても、前記実施例１と同様
に、端子金具６２が正規挿入位置に装着されているとき
にはランス６３が端子金具支持部６４よりもランス撓み
空間６１側へ突出することがなくてランスチェックピン
５６が誤ってランス６３に突き当たるのが防止されてい
るから、端子金具６２が不良挿入状態であるとの誤った
判断がなされることがなく、また、ランスチェックピン
５６がランス撓み空間６１内に緊密に挿入されていて、
端子金具６２が正規挿入位置に装着されていないときに
はランス撓み空間６１に突出したランス６３にランスチ
ェックピン５６が確実に突き当たるようになっているか
ら、端子金具６２が正規挿入位置に装着されているとの
誤った判断がなされることもなく、従って、信頼性の高
い検査を行うことができるようになっている。

【００４８】なお、本実施例では、チェッカーハウジン
グ５５側をカムハンドル５２の回動操作によって移動さ
せる構成としたが、これとは逆に、チェッカーハウジン
グ５５は固定してコネクタ６０を保持したコネクタホル
ダ５３を移動させる構成としても良く、両者を同時に近
接する方向に移動させる構成としてもよい。

【００４９】

【００５０】＜他の実施例＞本発明は上記記述及び図面
によって説明した実施例に限定されるものではなく、例
えば次のような実施態様も本発明の技術的範囲に含まれ
る。

【００５１】（１）上記実施例では、ランスチェックピ
ンを用いて端子金具の挿入状態の検査を行う場合につい
て説明したが、本願発明のコネクタは、コネクタハウジ
ングの前面側からリテーナを挿入してランスに係止さ
せ、もって、ランスがランス撓み空間側へ弾性変形して
端子金具から外れるのを防止する、いわゆる二重係止を
行う場合にも適用することができるものである。この場
合にも、リテーナのランスへの係止部材をランス撓み空
間内に挿入したときに、その係止部材が正規挿入位置の
端子金具を抜止め保持するランスに誤って突き当たるこ
と、及び、端子金具が不良挿入位置にあってランス撓み
空間内に突出しているランスの下に誤って潜り込むこと
を確実に防止することができる。

【００５２】その他、本願発明は上記記述及び図面によ
って説明した実施例に限定されるものではなく、要旨を
逸脱しない範囲内で種々変更して実施することができる
ものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】 実施例１の検査前の状態の断面図

【図２】 実施例１のコネクタ検査装置の検査を行って
いる状態の断面図

【図３】 実施例１のコネクタ検査装置の検査を行って
いる状態の部分拡大断面図

【図４】 実施例１のコネクタの正面図

【図５】 実施例１のコネクタとランスチェックピンの
部分拡大斜視図

【図６】 実施例２の断面図

【図７】 従来のコネクタ検査装置の検査前の状態の断
面図

【図８】 従来のコネクタ検査装置の検査が正しく行わ
れている状態の部分拡大断面図

【図９】 従来のコネクタ検査装置の検査が正しく行わ
れていない状態の部分拡大断面図

【符号の説明】

１０…コネクタ検査装置 １５…ランスチェックピン １７…電気接触子（検出手段） ３０…コネクタ ３１…コネクタハウジング ３３…端子金具 ３５…ランス ３７…ランス撓み空間 ３９…テーパ面

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 渥美 恵悟 三重県四日市市西末広町１番14号 住友 電装株式会社内 (56)参考文献 特開 平１−304671（ＪＰ，Ａ) 実公 昭62−47093（ＪＰ，Ｙ２)

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 コネクタハウジングの外面に開口するラ
   ンス撓み空間と、 前記コネクタハウジングへの端子金具の挿入に伴って前
   記ランス撓み空間内へ撓み変形した後に正規挿入位置に
   達した前記端子金具に係合すべく戻り変形してその端子
   金具を抜止め保持するランスとを備え、 前記ランス撓み空間に挿入したランスチェックピンのラ
   ンスに対する当接の有無に基づいて前記端子金具の挿入
   状態が検査されるようになっているコネクタであって、 前記ランスの前記ランス撓み空間内に臨む面を、正規挿
   入された前記端子金具と係合する状態で前記ランス撓み
   空間の内面よりも奥まった位置となるように設定するこ
   とで、前記端子金具の正規挿入状態における前記ランス
   チェックピンの前記ランスへの当接を回避する構成とし
   たことを特徴とするコネクタ。
2. 【請求項２】 コネクタハウジングの外面におけるラン
   ス撓み空間の開口縁には、外広がりのテーパ面が形成さ
   れていることを特徴とする請求項１に記載のコネクタ。