JP2923521B2 - ランス不良検出方法及びその構造 - Google Patents
ランス不良検出方法及びその構造Info
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/40—Securing contact members in or to a base or case; Insulating of contact members
- H01R13/42—Securing in a demountable manner
- H01R13/422—Securing in resilient one-piece base or case, e.g. by friction; One-piece base or case formed with resilient locking means
- H01R13/4223—Securing in resilient one-piece base or case, e.g. by friction; One-piece base or case formed with resilient locking means comprising integral flexible contact retaining fingers
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- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
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- Y10T29/53—Means to assemble or disassemble
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- Connector Housings Or Holding Contact Members (AREA)
- Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、コネクタの端子収容室
内に形成された可撓性を備えたランスの成形不良を端子
挿入時に検知可能なランス不良検出方法及びその構造に
関し、詳しくは、ランス不良時に端子挿入が阻止される
ことでランスの成形不良を検知するランス不良検出方法
及びその構造に関するものである。
内に形成された可撓性を備えたランスの成形不良を端子
挿入時に検知可能なランス不良検出方法及びその構造に
関し、詳しくは、ランス不良時に端子挿入が阻止される
ことでランスの成形不良を検知するランス不良検出方法
及びその構造に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】通常、コネクタハウジングに形成された
端子収容室内に挿入される端子は、その後抜けを確実に
阻止するために二重係止される。図４に示すように端子
収容室１には基端がコネクタハウジングに一体に連設さ
れるとともに、先端が自由端となった可撓性の係止腕で
あるランス３が設けられている。このランス３は、先端
が端子収容室１内に突出されており、ランス先端には端
子収容室１側に膨出する突起状のビーク部５が形成さ
れ、このビーク部５は端子９を端子収容室１内に固定す
る係止手段となる。更に、このランス３の両側面には、
前方部に垂直な当接面７ａ、下方部に緩やかなテーパ面
７ｂを備えたサイドビーク７が設けられている。
端子収容室内に挿入される端子は、その後抜けを確実に
阻止するために二重係止される。図４に示すように端子
収容室１には基端がコネクタハウジングに一体に連設さ
れるとともに、先端が自由端となった可撓性の係止腕で
あるランス３が設けられている。このランス３は、先端
が端子収容室１内に突出されており、ランス先端には端
子収容室１側に膨出する突起状のビーク部５が形成さ
れ、このビーク部５は端子９を端子収容室１内に固定す
る係止手段となる。更に、このランス３の両側面には、
前方部に垂直な当接面７ａ、下方部に緩やかなテーパ面
７ｂを備えたサイドビーク７が設けられている。
【０００３】一方、端子収容室１に挿入される端子９の
先端には板状又はピン状の電気接触部１１が突設され、
電気接触部１１の後方には筒形の基体部１３が形成され
ている。この基体部１３のランス３と対向する部分には
係止孔１５が形成され、ランス３のビーク部５を係合す
る。また、係止孔１５の両側には、例えば係止孔１５を
開口する際の切り起こし片を利用して形成された係止片
１７が突設されている。
先端には板状又はピン状の電気接触部１１が突設され、
電気接触部１１の後方には筒形の基体部１３が形成され
ている。この基体部１３のランス３と対向する部分には
係止孔１５が形成され、ランス３のビーク部５を係合す
る。また、係止孔１５の両側には、例えば係止孔１５を
開口する際の切り起こし片を利用して形成された係止片
１７が突設されている。
【０００４】このように構成された端子の二重係止構造
では、端子９が端子収容室１に挿入されると、電気接触
部１１がランス３のビーク部５に摺接しながら進入し
て、ビーク部５を押圧することにより、ランス３を端子
収容室１の外側方向に撓ませる。この際、同時にサイド
ビーク７が端子収容室１の外側方向に変位され、係止片
１７を越える位置に退避される。そして、図５に示すよ
うに端子９の係止孔１５がビーク部５に達すると、ラン
ス３が弾性復帰して、係止孔１５にビーク部５が係合さ
れると同時に、係止片１７の後端縁にサイドビーク７の
当接面７ａが係合し、端子９の二重係止が完了する。
では、端子９が端子収容室１に挿入されると、電気接触
部１１がランス３のビーク部５に摺接しながら進入し
て、ビーク部５を押圧することにより、ランス３を端子
収容室１の外側方向に撓ませる。この際、同時にサイド
ビーク７が端子収容室１の外側方向に変位され、係止片
１７を越える位置に退避される。そして、図５に示すよ
うに端子９の係止孔１５がビーク部５に達すると、ラン
ス３が弾性復帰して、係止孔１５にビーク部５が係合さ
れると同時に、係止片１７の後端縁にサイドビーク７の
当接面７ａが係合し、端子９の二重係止が完了する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記ランス
３は、コネクタハウジングと一体成形される際、合成樹
脂の充填状態に何らかの障害が生ずると、成形材である
合成樹脂が金型先端部まで十分に充填されず、成形品の
先端部が欠損した成形不良（ショート）となる恐れがあ
る。この場合、図６に示すようにランス３のビーク部５
が欠損しているため、端子９の挿入時に電気接触部１１
はランス３のビーク部５に接触することができないた
め、ランス３が変位することはない。
３は、コネクタハウジングと一体成形される際、合成樹
脂の充填状態に何らかの障害が生ずると、成形材である
合成樹脂が金型先端部まで十分に充填されず、成形品の
先端部が欠損した成形不良（ショート）となる恐れがあ
る。この場合、図６に示すようにランス３のビーク部５
が欠損しているため、端子９の挿入時に電気接触部１１
はランス３のビーク部５に接触することができないた
め、ランス３が変位することはない。
【０００６】ところが、図７に示すようにランス３にこ
のような成形不良が生じた場合においても、従来の二重
係止構造の端子は、端子収容室内の所定位置でサイドビ
ーク７により係止されてしまう。即ち、ランス３先端の
ビーク部５が無いにもかかわらず、挿入された端子９の
係止片１７がサイドビーク７のテーパ面７ｂに摺接しな
がら進入し、サイドビーク７を押し上げる。これによ
り、係止片１７とサイドビーク７が通常の状態（図５の
状態参照）で係止されてしまう事態が発生していた。
のような成形不良が生じた場合においても、従来の二重
係止構造の端子は、端子収容室内の所定位置でサイドビ
ーク７により係止されてしまう。即ち、ランス３先端の
ビーク部５が無いにもかかわらず、挿入された端子９の
係止片１７がサイドビーク７のテーパ面７ｂに摺接しな
がら進入し、サイドビーク７を押し上げる。これによ
り、係止片１７とサイドビーク７が通常の状態（図５の
状態参照）で係止されてしまう事態が発生していた。
【０００７】このようなサイドビーク７のみでの係止状
態では、二重係止となる本係止状態に比べ係止後の保持
強度が極端に低下する。よって、端子９に外力が作用す
ることで端子９が容易に抜け落ちてしまうことになる。
しかしながら、このような疑似係止状態で係止された欠
陥コネクタを後工程で発見することは極めて困難であ
る。
態では、二重係止となる本係止状態に比べ係止後の保持
強度が極端に低下する。よって、端子９に外力が作用す
ることで端子９が容易に抜け落ちてしまうことになる。
しかしながら、このような疑似係止状態で係止された欠
陥コネクタを後工程で発見することは極めて困難であ
る。
【０００８】本発明の目的は、上記課題に鑑みてなされ
たものであり、コネクタハウジングへの端子挿入の際に
不良ランスを容易に検知することができるランス不良検
出方法及びその構造を提供することにある。
たものであり、コネクタハウジングへの端子挿入の際に
不良ランスを容易に検知することができるランス不良検
出方法及びその構造を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の上記目的は、コ
ネクタハウジングの端子収容室に端子を挿入することに
より端子収容室内に突出されたランスの不良を検知する
ランス不良検出方法であって、端子の端子収容室への挿
入時、ランス先端が変位不可の状態の場合、ランスの所
定位置に形成されたサイドビークにより端子の挿入が阻
止されることでランス端部の不良が検知されることを特
徴とするランス不良検出方法により達成することができ
る。
ネクタハウジングの端子収容室に端子を挿入することに
より端子収容室内に突出されたランスの不良を検知する
ランス不良検出方法であって、端子の端子収容室への挿
入時、ランス先端が変位不可の状態の場合、ランスの所
定位置に形成されたサイドビークにより端子の挿入が阻
止されることでランス端部の不良が検知されることを特
徴とするランス不良検出方法により達成することができ
る。
【００１０】上記目的は、サイドビークが端子の係止片
と干渉することにより成形不良を検知することにより達
成できる。
と干渉することにより成形不良を検知することにより達
成できる。
【００１１】また本発明の上記目的は、コネクタハウジ
ングの端子収容室に端子を挿入することにより端子収容
室内に突出されたランスの不良を検知するランス不良検
出構造であって、端子の端子収容室への挿入時、ランス
先端が変位不可の状態の場合、ランスの側面部に形成さ
れたサイドビークが、端子収容室内へ挿入された端子の
所定位置に突設された係止片に当接して、端子の挿入が
阻止されることでランス端部の不良が検知されることを
特徴とするランス不良検出構造により達成することがで
きる。
ングの端子収容室に端子を挿入することにより端子収容
室内に突出されたランスの不良を検知するランス不良検
出構造であって、端子の端子収容室への挿入時、ランス
先端が変位不可の状態の場合、ランスの側面部に形成さ
れたサイドビークが、端子収容室内へ挿入された端子の
所定位置に突設された係止片に当接して、端子の挿入が
阻止されることでランス端部の不良が検知されることを
特徴とするランス不良検出構造により達成することがで
きる。
【００１２】上記目的は、サイドビークがランスの側面
部から突出する膨出体であり、係止片と当接する挿入阻
止面がサイドビークの後端面に形成されたことにより達
成できる。
部から突出する膨出体であり、係止片と当接する挿入阻
止面がサイドビークの後端面に形成されたことにより達
成できる。
【００１３】また上記目的は、端子が端子収容室内に挿
入された際、ランス先端が変位不可の状態の場合、サイ
ドビークが係止片の前端縁に部分的に当接するように配
設されたことにより達成できる。
入された際、ランス先端が変位不可の状態の場合、サイ
ドビークが係止片の前端縁に部分的に当接するように配
設されたことにより達成できる。
【００１４】
【作用】本発明に係わる上記構成のランス不良検出方法
においては、ランス先端の成形不良により、端子の端子
収容室内への挿入時にランスが端子収容室の外側方向に
弾性変位されない場合、サイドビークが端子の係止片と
干渉しない位置に変位することができず、係止片がサイ
ドビークに当接することで端子収容室への挿入が阻止さ
れる。これにより、端子が明らかな未挿入状態となって
ランス成形不良が容易に検知できる。また、上記構成の
ランス不良検出構造においては、ランス先端の成形不良
により、端子の端子収容室内への挿入時にランスが端子
収容室の外側方向に弾性変位されない場合、端子の係止
片と干渉する位置にサイドビークの挿入阻止面が配設さ
れている。これにより、端子の挿入が阻止されることで
ランス不良を容易に検知できる。
においては、ランス先端の成形不良により、端子の端子
収容室内への挿入時にランスが端子収容室の外側方向に
弾性変位されない場合、サイドビークが端子の係止片と
干渉しない位置に変位することができず、係止片がサイ
ドビークに当接することで端子収容室への挿入が阻止さ
れる。これにより、端子が明らかな未挿入状態となって
ランス成形不良が容易に検知できる。また、上記構成の
ランス不良検出構造においては、ランス先端の成形不良
により、端子の端子収容室内への挿入時にランスが端子
収容室の外側方向に弾性変位されない場合、端子の係止
片と干渉する位置にサイドビークの挿入阻止面が配設さ
れている。これにより、端子の挿入が阻止されることで
ランス不良を容易に検知できる。
【００１５】
【実施例】以下、本発明に係るランス不良検出方法及び
その構造の好適な一実施例を図１乃至図３に基づいて詳
細に説明する。図１は本発明に係るランス不良検出構造
の断面図、図２は図１における要部拡大図、図３は正常
なランス構造を示す断面図である。なお、図４に示した
部材と同一の部材には同一の符号を付し、重複する説明
は省略する。
その構造の好適な一実施例を図１乃至図３に基づいて詳
細に説明する。図１は本発明に係るランス不良検出構造
の断面図、図２は図１における要部拡大図、図３は正常
なランス構造を示す断面図である。なお、図４に示した
部材と同一の部材には同一の符号を付し、重複する説明
は省略する。
【００１６】図１に示すように可撓性の片持ち係止片で
あるランス２１の両側には、側面から突出された板状の
膨出体であるサイドビーク２３が設けられている。ここ
で、ランス２１の先端側を前側、基端側を後側とした場
合、サイドビーク２３の前端面はランス２１の側面に対
して垂直な当接面２３ａとなっている。また、サイドビ
ーク２３の下端面にはテーパ面２３ｂが形成され、この
テーパ面２３ｂは後方に向かうに従って端子収容室１か
ら離反する方向の傾斜面となっている。そして、サイド
ビーク２３の後端面には挿入阻止面２３ｃがランス２１
の側面に対して垂直に形成されている。
あるランス２１の両側には、側面から突出された板状の
膨出体であるサイドビーク２３が設けられている。ここ
で、ランス２１の先端側を前側、基端側を後側とした場
合、サイドビーク２３の前端面はランス２１の側面に対
して垂直な当接面２３ａとなっている。また、サイドビ
ーク２３の下端面にはテーパ面２３ｂが形成され、この
テーパ面２３ｂは後方に向かうに従って端子収容室１か
ら離反する方向の傾斜面となっている。そして、サイド
ビーク２３の後端面には挿入阻止面２３ｃがランス２１
の側面に対して垂直に形成されている。
【００１７】次に、端子収容室１への端子９の挿入に伴
うサイドビーク２３と係止片１７との関係を説明する。
図３に示すように端子収容室１への端子９の挿入時、サ
イドビーク２３のテーパ面２３ｂは、ランス２１が撓め
られた際、端子９の係止片１７と干渉しない位置に配設
されている。サイドビーク２３の当接面２３ａは、係止
孔１５にビーク部５が係止された際、係止片１７の後端
縁に係止される位置に配設されている。また、図２に示
すようにサイドビーク２３の挿入阻止面２３ｃは、ラン
ス２１が撓められない状態で端子９が挿入された際、係
止片１７の前端縁１７ａに部分的に重なる当接代ｔを有
する位置に配設されている。即ち、挿入阻止面２３ｃ
は、ランス２１が撓められない状態で端子９が挿入され
た場合には、端子９の挿入を阻止するストッパー面とし
て作用するように構成されている。
うサイドビーク２３と係止片１７との関係を説明する。
図３に示すように端子収容室１への端子９の挿入時、サ
イドビーク２３のテーパ面２３ｂは、ランス２１が撓め
られた際、端子９の係止片１７と干渉しない位置に配設
されている。サイドビーク２３の当接面２３ａは、係止
孔１５にビーク部５が係止された際、係止片１７の後端
縁に係止される位置に配設されている。また、図２に示
すようにサイドビーク２３の挿入阻止面２３ｃは、ラン
ス２１が撓められない状態で端子９が挿入された際、係
止片１７の前端縁１７ａに部分的に重なる当接代ｔを有
する位置に配設されている。即ち、挿入阻止面２３ｃ
は、ランス２１が撓められない状態で端子９が挿入され
た場合には、端子９の挿入を阻止するストッパー面とし
て作用するように構成されている。
【００１８】このように構成されたランス不良検出構造
２５の作用を説明する。図３に示すように端子９が端子
収容室１に挿入されると、ランス２１のビーク部５が端
子９の電気接触部１１に摺接され、ランス２１が端子収
容室１の外側方向（矢印方向）に撓むことになる。この
際、サイドビーク２３のテーパ面２３ｂは端子９の係止
片１７と干渉を回避できる傾斜面となっているため、端
子挿入に伴って、サイドビーク２３は退避位置に移動さ
れる。そして、端子９の係止孔１５がビーク部５に達す
ると、ランス２１が弾性復帰し、係止孔１５にビーク部
５が係合されると同時に、係止片１７にサイドビーク２
３の当接面２３ａが係止され、端子９の二重係止が完了
する。
２５の作用を説明する。図３に示すように端子９が端子
収容室１に挿入されると、ランス２１のビーク部５が端
子９の電気接触部１１に摺接され、ランス２１が端子収
容室１の外側方向（矢印方向）に撓むことになる。この
際、サイドビーク２３のテーパ面２３ｂは端子９の係止
片１７と干渉を回避できる傾斜面となっているため、端
子挿入に伴って、サイドビーク２３は退避位置に移動さ
れる。そして、端子９の係止孔１５がビーク部５に達す
ると、ランス２１が弾性復帰し、係止孔１５にビーク部
５が係合されると同時に、係止片１７にサイドビーク２
３の当接面２３ａが係止され、端子９の二重係止が完了
する。
【００１９】一方、図１に示すようにランス２１の先端
或いはビーク部５の欠損等により、ランス２１が端子収
容室１の外側方向に撓められない場合がある。この時、
端子９が端子収容室１に挿入されると、サイドビーク２
３が退避位置に移動できず、係止片１７の前端縁１７ａ
がサイドビーク２３の挿入阻止面２３ｃに当接し、端子
収容室１内への挿入が阻止される。これにより、端子９
は、明らかな未挿入状態となり、本係止状態と見分けが
つきにくい疑似係止状態とならないことから、容易にラ
ンス２１の不良が検知可能となる。
或いはビーク部５の欠損等により、ランス２１が端子収
容室１の外側方向に撓められない場合がある。この時、
端子９が端子収容室１に挿入されると、サイドビーク２
３が退避位置に移動できず、係止片１７の前端縁１７ａ
がサイドビーク２３の挿入阻止面２３ｃに当接し、端子
収容室１内への挿入が阻止される。これにより、端子９
は、明らかな未挿入状態となり、本係止状態と見分けが
つきにくい疑似係止状態とならないことから、容易にラ
ンス２１の不良が検知可能となる。
【００２０】なお、上述の実施例では、電気接触部が雄
型端子である場合を一例に説明したが、電気接触部が雌
型端子であっても同様の作用・効果を奏することは言う
までもない。また、上述の実施例では、サイドビークが
ランスの両側に設けられるものを一例に説明したが、サ
イドビークは一方のランス側面のみに設けられるもので
あっても良い。
型端子である場合を一例に説明したが、電気接触部が雌
型端子であっても同様の作用・効果を奏することは言う
までもない。また、上述の実施例では、サイドビークが
ランスの両側に設けられるものを一例に説明したが、サ
イドビークは一方のランス側面のみに設けられるもので
あっても良い。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係るランス
不良検出方法によれば、ランス先端に成形不良がある場
合、端子収容室への端子の挿入が阻止され、疑似係止状
態とならずに明らかな未挿入状態となる。よって、ラン
ス不良を容易に検知することができ、不良コネクタの製
品への混入を確実に防止することができ、製品の信頼性
を向上させることができる。また、本発明に係るランス
不良検出構造によれば、ランス先端に成形不良がある場
合、端子の係止片と干渉する位置にサイドビークの挿入
阻止面が配設されることで、端子の挿入が阻止され、ラ
ンス不良を検知することができる。よって、従来部材の
形状及び位置関係を若干変更することにより、極めて安
価な検出構造を得ることができる。
不良検出方法によれば、ランス先端に成形不良がある場
合、端子収容室への端子の挿入が阻止され、疑似係止状
態とならずに明らかな未挿入状態となる。よって、ラン
ス不良を容易に検知することができ、不良コネクタの製
品への混入を確実に防止することができ、製品の信頼性
を向上させることができる。また、本発明に係るランス
不良検出構造によれば、ランス先端に成形不良がある場
合、端子の係止片と干渉する位置にサイドビークの挿入
阻止面が配設されることで、端子の挿入が阻止され、ラ
ンス不良を検知することができる。よって、従来部材の
形状及び位置関係を若干変更することにより、極めて安
価な検出構造を得ることができる。
【図１】本発明のランス不良検出構造の一実施例を示す
断面図である。
断面図である。
【図２】図１における要部の拡大図である。
【図３】正常なランスの挿入状態を示す断面図である。
【図４】従来のコネクタにおける端子係止構造の断面図
である。
である。
【図５】図４における端子の二重係止状態を示す要部の
拡大図である。
拡大図である。
【図６】従来の不良ランスへの端子の挿入状態を示す断
面図である。
面図である。
【図７】図６における要部の拡大図である。
１ 端子収容室 ９ 端子 １７ 係止片 １７ａ 係止片の前端縁 ２１ ランス ２３ サイドビーク ２３ｃ 挿入阻止面 ２５ ランス不良検出構造 ｔ 当接代
Claims (5)
- 【請求項１】 コネクタハウジングの端子収容室に端子
を挿入することにより前記端子収容室内に突出されたラ
ンスの不良を検知するランス不良検出方法であって、 前記端子の前記端子収容室への挿入時、前記ランス先端
が変位不可の状態の場合、前記ランスの所定位置に形成
されたサイドビークにより前記端子の挿入が阻止される
ことで前記ランス端部の不良が検知されることを特徴と
するランス不良検出方法。 - 【請求項２】 前記サイドビークが、前記端子の係止片
と干渉することにより成形不良を検知する請求項１記載
のランス不良検出方法。 - 【請求項３】 コネクタハウジングの端子収容室に端子
を挿入することにより前記端子収容室内に突出されたラ
ンスの不良を検知するランス不良検出構造であって、 前記端子の前記端子収容室への挿入時、前記ランス先端
が変位不可の状態の場合、前記ランスの側面部に形成さ
れたサイドビークが、前記端子収容室内へ挿入された前
記端子の所定位置に突設された係止片に当接して、前記
端子の挿入が阻止されることで前記ランス端部の不良が
検知されることを特徴とするランス不良検出構造。 - 【請求項４】 前記サイドビークが、前記ランスの側面
部から突出する膨出体であり、前記係止片と当接する挿
入阻止面が該サイドビークの後端面に形成された請求項
３記載のランス不良検出構造。 - 【請求項５】 前記端子が前記端子収容室内に挿入され
た際、前記ランス先端が変位不可の状態の場合、前記サ
イドビークが前記係止片の前端縁に部分的に当接するよ
うに配設された請求項３記載のランス不良検出構造。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6162271A JP2923521B2 (ja) | 1994-07-14 | 1994-07-14 | ランス不良検出方法及びその構造 |
| US08/502,058 US5601454A (en) | 1994-07-14 | 1995-07-14 | Method of and construction for detecting defect in lance |
| DE19525747A DE19525747B4 (de) | 1994-07-14 | 1995-07-14 | Verfahren und Konstruktion zur Erkennung von Fehlern in Lanzen |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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