JPH07114963A - コネクタ検査装置 - Google Patents

コネクタ検査装置

Info

Publication number
JPH07114963A
JPH07114963A JP5281716A JP28171693A JPH07114963A JP H07114963 A JPH07114963 A JP H07114963A JP 5281716 A JP5281716 A JP 5281716A JP 28171693 A JP28171693 A JP 28171693A JP H07114963 A JPH07114963 A JP H07114963A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
connector
lance
terminal fitting
housing
slider
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5281716A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2797928B2 (ja
Inventor
Masahiko Aoyama
雅彦 青山
Keigo Atsumi
恵悟 渥美
Eiji Saijo
英二 西條
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Original Assignee
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Wiring Systems Ltd filed Critical Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority to JP5281716A priority Critical patent/JP2797928B2/ja
Priority to US08/308,265 priority patent/US5455515A/en
Priority to DE69427945T priority patent/DE69427945T2/de
Priority to EP94116189A priority patent/EP0649028B1/en
Publication of JPH07114963A publication Critical patent/JPH07114963A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2797928B2 publication Critical patent/JP2797928B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/64—Means for preventing incorrect coupling
    • H01R13/641—Means for preventing incorrect coupling by indicating incorrect coupling; by indicating correct or full engagement
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/68—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board
    • G01R31/69—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board of terminals at the end of a cable or a wire harness; of plugs; of sockets, e.g. wall sockets or power sockets in appliances
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R43/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
    • H01R43/20—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors for assembling or disassembling contact members with insulating base, case or sleeve
    • H01R43/22—Hand tools
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/40—Securing contact members in or to a base or case; Insulating of contact members
    • H01R13/42—Securing in a demountable manner
    • H01R13/422—Securing in resilient one-piece base or case, e.g. by friction; One-piece base or case formed with resilient locking means
    • H01R13/4223—Securing in resilient one-piece base or case, e.g. by friction; One-piece base or case formed with resilient locking means comprising integral flexible contact retaining fingers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
  • Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 端子金具の装着不良を高信頼性で検査でき、
しかもランスに損傷を与えることを防止できるコネクタ
検査装置を提供する。 【構成】 チェッカーハウジング１１にスライダ１４が
圧縮スプリング１６によってコネクタ３０側に付勢され
ながら移動可能に設けられている。このスライダ１４に
は、ランスチェックピン１５がコネクタ３０側に突出す
るように移動可能に設けられると共に、そのスライダ１
４に電気接触子１７が一体的に設けられている。この結
果、端子金具３３が「正規位置」にあると、ランスチェ
ックピン１５がランス３４の撓み空間３２ａに進入する
ことになって電気接触子１７が端子金具３３と導通し、
逆に、端子金具３３が「半挿入位置」にあると、ランス
チェックピン１５がランス３４に当接して電気接触子１
７が端子金具３３に接触しなくなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はコネクタハウジング内に
挿入した端子金具の装着不良を検出するためのコネクタ
検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】コネクタは、一般に樹脂製のコネクタハ
ウジング内に、電線の先端に圧着した端子金具を装着し
て構成され、その端子金具はコネクタハウジングに一体
に設けたランス（弾性係止爪）によって抜け止め状態に
される。端子金具をコネクタハウジング内に挿入する
と、ランスはいったん撓み用の空間に向かって撓み、端
子金具が「正規位置」まで挿入されると、弾性的に復元
して端子金具と係合するようになり、もって端子金具の
抜け止めが行われる。この種の抜け止め構造を採用した
場合、端子金具がランスを撓ませるところまで挿入され
ると、ある程度の摩擦力が端子金具に作用するため、端
子金具は疑似的に抜け止め状態となってしまい、端子金
具の挿入作業を行っている作業者は完全挿入に至ったと
勘違いして作業を途中で止めてしまうことがある。
【０００３】しかし、端子金具がコネクタハウジングの
ランスと係合する「正規位置」まで完全に挿入されてい
ないと、使用中に端子金具の抜けが発生する可能性があ
るため、端子の装着不良は事前にチェックして修正する
必要がある。そこで、従来、端子金具の装着不良を検出
するための各種のコネクタ検査装置が開発されており、
その一例として実公昭６２−４７０９３号公報に記載さ
れたものがある。これは、コネクタを所定の位置に保持
するコネクタホルダを有すると共に、このコネクタホル
ダに保持されたコネクタのランスに対向してランスチェ
ックピンを突出状に設けた構成で、各ランスチェックピ
ンはランスの撓み空間に向かって延びており、端子金具
が装着不良状態にあるときに撓み空間内に位置するラン
スの先端に接触するようになっている。この構成によれ
ば、コネクタホルダにコネクタをセットしようとしたと
き、万一、端子金具に装着不良があってランスが撓み空
間内に位置しているときには、ランスチェックピンがラ
ンスの先端に当たってコネクタのセットができなくなる
ため、その装着不良を発見できるのである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記構成で
は、端子金具に装着不良がある状態で、コネクタをコネ
クタホルダに無理矢理セットするとランスチェックピン
の先端がランスに強く当たり、樹脂製のランスを変形さ
せてしまうことがあった。万一、このような変形を生じ
させると、コネクタは正常な場合と同様にコネクタホル
ダにセットされてしまうため、端子金具の装着不良を発
見できなくなり、その上、ランスに損傷を与えてコネク
タを使用不能にしてしまう。このようなランスの損傷
は、特に、カム機構等を用いてランスチェックピンをコ
ネクタハウジング内に強制的に進出させるようにした装
置では発生し易く、この点が検査の機械化の妨げになっ
ていた。
【０００５】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、従って、端子金具の装着不良を確実に発見できて信
頼性が高い検査を行うことができ、しかもランスに損傷
を与えることを防止できるコネクタ検査装置を提供する
ことを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１に係るコネクタ検査装置は、コネクタのラ
ンス側に突出してその突出方向に移動可能に設けられ端
子金具が装着不良状態にあるときのランスに接触可能な
ランスチェックピンと、このランスチェックピンと一体
的に移動可能に設けられコネクタハウジングの正規位置
に収納されて抜け止め状態とされた端子金具に接触可能
な電気接触子と、ランスチェックピン及び電気接触子を
コネクタ側に付勢する付勢手段とを備えた構成としたと
ころに特徴を有する。
【０００７】また、請求項２に係るコネクタ検査装置
は、検査すべきコネクタを収容するセット部を備えたチ
ェッカーハウジングと、このチェッカーハウジングにコ
ネクタに接離する方向に移動可能に設けられたスライダ
と、このスライダに設けられコネクタのランス側に突出
して端子金具が装着不良状態にあるときのランスに接触
可能なランスチェックピンと、スライダに設けられコネ
クタハウジングの正規位置に収納されて抜け止め状態と
された端子金具に接触可能な電気接触子と、スライダを
コネクタ側に付勢する付勢手段とを備えた構成に特徴を
有する。
【０００８】更に、請求項３に係るコネクタ検査装置
は、検査すべき前記コネクタを保持するコネクタホルダ
と、このコネクタホルダに対向して設けられたチェッカ
ーハウジングと、前記コネクタホルダ及びチェッカーハ
ウジングのいずれか一方又は双方を互いに接近する方向
に往復移動させる駆動機構と、チェッカーハウジングに
コネクタに接近する方向に移動可能に設けられたスライ
ダと、このスライダに設けられコネクタのランス側に突
出して端子金具が装着不良状態にあるときのランスに接
触可能なランスチェックピンと、スライダに設けられコ
ネクタハウジングの正規位置に収納されて抜け止め状態
とされた端子金具に接触可能な電気接触子と、スライダ
をコネクタ側に付勢する付勢手段とを備えた構成に特徴
を有する。
【０００９】また、請求項４の発明のように、電気接触
子をワイヤハーネスの導通検査回路に接続することもで
きる。
【００１０】
【作用】端子金具がコネクタハウジング内の正規位置ま
で挿入されていると、コネクタハウジングのランスは端
子金具と係合した状態にあるが、正規位置まで至らない
不完全な挿入位置では、ランスは端子金具と係合せずに
コネクタハウジングのランス撓み空間側に撓んだ状態に
ある。
【００１１】従って、請求項１のコネクタ検査装置で
は、端子金具が正規位置まで挿入されたコネクタに対し
ては、コネクタとコネクタ検査装置とが対接状態になっ
たときでもランスチェックピンがランスに接触せず、こ
のためランスチェックピンと一体移動する電気接触子は
端子金具に接触して導通状態になる。一方、端子金具が
不完全な挿入位置にあるコネクタに対しては、付勢手段
に付勢されたランスチェックピンがランスに接触するこ
とによって、それ以上の端子金具側への進出が阻止され
る。このため、電気接触子は端子金具に接触せず、導通
状態にならない。
【００１２】請求項２のコネクタ検査装置では、検査す
べきコネクタをチェッカーハウジングに収容して検査を
行う。端子金具が不完全な挿入位置にあるコネクタの場
合には、ランスチェックピンがランスに当接するため、
スライダがコネクタから離れる方向に後退し、電気接触
子が端子金具に接触できなくなる。逆に端子金具が正規
位置まで挿入されているコネクタの場合には、ランスチ
ェックピンがランスに当接しないため、付勢手段に付勢
されたスライダはランス側に進出し、これと同時に電気
接触子も端子金具側に進出して端子金具に接触する。
【００１３】また、請求項３のコネクタ検査装置では、
検査すべきコネクタをコネクタホルダにセットし、駆動
機構によりチェッカーハウジングとコネクタホルダとが
互いに接近する方向に移動させる。すると、前記請求項
２のコネクタ検査装置と同様に、端子金具が不完全な挿
入位置にあるコネクタの場合には、ランスチェックピン
がランスに当接するため、チェッカーハウジングに移動
可能に設けたスライダが相対的にコネクタから離れる方
向に後退し、電気接触子が端子金具に接触できなくな
る。逆に端子金具が正規位置まで挿入されているコネク
タの場合には、ランスチェックピンがランスに当接しな
いため、付勢手段に付勢されたスライダはランス側に進
出し、これと同時に電気接触子も端子金具側に進出して
端子金具に接触する。
【００１４】従って、上記いずれの検査装置にあって
も、端子金具と電気接触子との導通・非導通に基づき端
子金具の装着不良を簡単に判別することができることに
なる。更に、請求項４の発明のように、電気接触子をワ
イヤハーネスの導通検査回路に接続すれば、ワイヤハー
ネスとしての導通検査と端子金具の装着位置検査とを同
時に行うことができる。
【００１５】
【発明の効果】以上述べたように、本発明のコネクタ検
査装置によれば、ランスチェックピンがランスに当接す
ると、ランスチェックピンが相対的に後退して電気接触
子が端子金具と導通状態にならなくなるから、端子金具
の装着不良を確実に検出することができ、信頼性が高
い。しかも、ランスには過剰な力が作用しないから、ラ
ンスの損傷を確実に防止することができる。
【００１６】
【実施例】 ＜第１実施例＞以下、本発明の第１実施例について図１
ないし図３を参照して説明する。まず、本実施例の検査
装置１０を使用して検査されるコネクタ３０の構造につ
いて説明する。コネクタハウジング３１は樹脂製で、全
体として長方形状をなすように成形され、内部に２段に
分けて複数のキャビティ３２が形成されている。各キャ
ビティ３２は前後に貫通する形状で、この中に端子金具
３３が後側（図１右側）から挿入され、その端子金具３
３を抜け止め状態に固定するためにランス３４がコネク
タハウジング３１に一体に設けられている。
【００１７】ランス３４は先端近くに係止部３４ａを有
する弾性変形可能な突片状をなし、キャビティ３２内に
はランス３４の下側への弾性変形を許容するための撓み
空間３２ａが型抜き空間を利用して形成されている。ま
た、端子金具３３は、この実施例では図示しない相手方
のコネクタの雄形端子金具と対をなす雌形をなしてお
り、電線３５が圧着された周知の構造である。この端子
金具３３がキャビティ３２内に挿入されると、端子金具
３３の先端がランス３４に当接してこれを撓み空間３２
ａ側に弾性変形させ、端子金具３３がキャビティ３２の
最奥部まで挿入されると、挿入途中に弾性変形していた
ランス３４の係止部３４ａが端子金具３３の係合孔４３
ａに遭遇して元位置に復元し、その係合孔４３ａに係止
部３４ａが係合し、もってその端子金具３３が抜け止め
状態となる。なお、上述したランス３４の係合の様子を
表すため、図２の下段に描いた端子金具３３について
は、「正規位置」にまで挿入されてランス３４と完全係
合した状態を示し、図３の下段に描いた端子金具３３に
ついては、「正規位置」には至らず、ランス３４を撓み
空間３２ａ側に弾性変形させた「不完全挿入位置」まで
挿入された状態を示してある。
【００１８】次に、上記コネクタ３０を検査するための
検査装置１０について説明する。検査装置１０は樹脂製
のチェッカーハウジング１１に組み付けられている。こ
のチェッカーハウジング１１の内部は隔壁１１ａによっ
て複数の小室に区分され、コネクタハウジング３１の各
キャビティ３２に対応する同数のキャビティ１２が形成
されると共に、それらの各キャビティ１２の先端側に検
査すべきコネクタ３０のコネクタハウジング３１を収容
するセット部に相当する角形のフード部１３が形成され
ている。
【００１９】各キャビティ１２内には、滑り性に優れた
樹脂製のスライダ１４が内部をスライド移動可能に設け
られ、これに一体成形したランスチェックピン１５が隔
壁１１ａに形成した透孔１１ｂからフード部１３内に向
けて突出している。このランスチェックピン１５はフー
ド部１３にセットしたコネクタハウジング３１のうちラ
ンス３４の撓み空間３２ａ内に進入可能な位置にあり、
後に詳述するが、コネクタ３０の端子金具３３が「不完
全挿入位置」にあってランス３４の先端が撓み空間３２
ａ内に位置するように撓んだ状態にあるときには、その
ランス３４に当接するようになっている。なお、ランス
チェックピン１５の先端部は、端子金具３３に係合して
いるランス３４に引掛かることがないように、薄型に形
成されている。
【００２０】また、上記スライダ１４は、キャビティ１
２内に収納した付勢手段に相当する弱い圧縮スプリング
１６によって図中右方に常時付勢されており、フード部
１３にコネクタ３０がセットされていない状態では、図
１に示すようにスライダ１４に突設したストッパ１４ａ
が隔壁１１ａに当接してランスチェックピン１５がフー
ド部１３内に一杯に突出した状態を維持している。
【００２１】一方、スライダ１４には導電性の金属棒に
て形成した電気接触子１７が例えば圧入によって固定さ
れている。この電気接触子１７はランスチェックピン１
５と平行に延びていて、その突出寸法はランスチェック
ピン１５よりも短くされているが、先端部の位置は、フ
ード部１３にコネクタハウジング３１がセットされたと
き、正規位置にある端子金具３３の先端に接触するよう
設定されている。
【００２２】なお、各電気接触子１７はリード線１８を
介して図示しない導通検査回路に接続されている。この
導通検査回路は、ワイヤハーネスとして組み上げられた
状態のコネクタ３０の各キャビティ３２に正しい端子金
具３３が挿入されているか否かを検査するもので、内部
に導通検査用の電源を備え、ワイヤハーネスの両端にあ
る２つのコネクタの所定の端子金具間に電流が流れるか
否かに基づき検査を行う周知の構成である。
【００２３】次に、本実施例の作用を説明する。予め、
各電線３５の先端に圧着された端子金具３３がコネクタ
ハウジング３１の所定のキャビティ３２に挿入され、併
せて、多数の電線３５をテーピング等によって束ねてワ
イヤハーネスとして組み上げられた状態で次のように端
子金具３３の装着不良検査及び導通検査が行われる。こ
こで、検査すべきワイヤハーネスは所定の検査板上に載
せられ、そのコネクタ３０が前記コネクタ検査装置１０
のチェッカーハウジング１２のフード部１３にセットさ
れる（図２参照）。このとき、図２に示すもののよう
に、コネクタ３０の端子金具３３がコネクタハウジング
３１のランス３４と係合する「正規位置」にあれば、ラ
ンス３４の下方の撓み空間３２ａは開放した状態にある
から、ランスチェックピン１５はランス３４に妨げられ
ることなく、その先端部がランス３４の撓み空間３２ａ
内に進入する。従って、スライダ１４は付勢手段１６の
付勢力によってランスチェックピン１５がチェッカーハ
ウジング１１のフード部１３内に一杯に突出する状態に
進出される。この結果、スライダ１４と一体的に移動す
る電気接触子１７もコネクタ３０側に最大量突出するこ
とになり、従って、その先端が端子金具３３の先端に接
触することになってこれと導通する。これにより、導通
検査回路によってこの端子金具３３が「正規位置」にあ
り、しかも、所定のキャビティ３２内に装着されている
ことが確認される。
【００２４】ところが、図３の下段に示すもののように
端子金具３３がランス３４と係合しない「半挿入位置」
にあるときには、その端子金具３３によってランス３４
が撓み空間３２ａ内に押し下げられている。このため、
コネクタ３０をチェッカーハウジング１１のフード部１
３にセットしたとき、コネクタハウジング３１のランス
３４にランスチェックピン１５の先端が当接することに
なり、スライダ１４が圧縮スプリング１６を圧縮しなが
ら図中左側に押し込められる。従って、このスライダ１
４に一体的に設けられている電気接触子１７も左側に押
し下げられて端子金具３３に接触することができなくな
り、端子金具３３との導通が得られなくなるため、導通
検査回路によってこの端子金具３３部分において異常が
あることが検出される。
【００２５】なお、上述のようにランス３４が撓み空間
３２ａ内に押し下げられている場合には、ランスチェッ
クピン１５の先端がランス３４に当接してコネクタ３０
をチェッカーハウジング１１のフード部１３にセットす
る際の挿入抵抗が増大するが、これに構わずにセットす
れば良い。ランスチェックピン１５が圧縮スプリング１
６を圧縮しながら左側に押し込められることになるた
め、過剰な圧力がランス３４に作用することがなく、ラ
ンス３４の損傷は確実に防止できるからである。
【００２６】このように本実施例によれば、ランスチェ
ックピン１５と電気接触子１７とが一体的に移動するか
ら、コネクタ３０をフード部１３にセットしたとき、端
子金具３３が「半挿入位置」にあってランス３４が撓み
空間３２ａ内に位置しているときには、そのランス３４
にランスチェックピン１５が当接して電気接触子１７も
端子金具３３から離れる方向に移動する。この結果、電
気接触子１７が端子金具３３に接触することがなくな
り、電気的に非導通状態になってその端子金具３３に装
着異常があることが検出される。また、勿論、スライダ
１４が移動可能であるから、ここにランス３４が接触し
ても、ランス３４から逃げるようにして後退し、ランス
３４に過剰が圧力が作用することはなく、ランス３４の
損傷に至ることを確実に防止することができる。しか
も、特に本実施例では、各電気接触子１７をワイヤハー
ネスの導通検査回路に接続する構成としているから、コ
ネクタ３０をチェッカーハウジング１１にセットすると
いう１つの作業によって、ランス３４の位置確認、すな
わち端子金具３３が「正規位置」にあるか否かの確認
と、端子金具３３が所定のキャビティ３２に装着されて
いるか否かの確認とを同時的に行うことができ、検査作
業が合理的となって能率化できる。更に、本実施例で
は、チェッカーハウジング１１の各キャビティ１２にス
ライダ１４を配置し、ここにランスチェックピン１５と
電気接触子１７とを一体的にユニット化する構成とした
から、検査すべきコネクタ３０の極数に応じた数の同一
のユニットを設ければ良く、コネクタ３０の種類の変更
に対して柔軟に対処することができる。また、故障発生
時には、そのユニットを交換すれば良く、メンテナンス
性にも優れる。
【００２７】＜第２実施例＞図４は本発明の第２実施例
を示したものである。前記第１実施例との基本的な相違
は、チェッカーハウジング１１をコネクタ３０側に向け
て機械的に移動させる構成としたところにある。その他
の構成は第１実施例と同様であるから、重複説明を省略
するために同一部分に同一符号を付し、異なるところの
みを詳述する。チェッカーハウジング１１は基板４１上
を図中左右方向に移動可能に設けられ、基板４１に軸４
２ａを中心に回動可能に設けたカムハンドル４２を回動
操作することにより移動するようになっている。ここに
設けたランスチェックピン１５及び電気接触子１７は前
記実施例と同一の構成である。
【００２８】一方、基板４１の図中右端部にはコネクタ
ホルダ４３が固定して設けられている。これは、Ｕ字形
の支持ブロック４４とこれに着脱可能に取り付けたやは
りＵ字形をなすバックプレート４５とからなり、両者間
に上方が開放するコネクタ固定溝４５が形成されてい
る。このコネクタ固定溝４５には、コネクタハウジング
３１の外面から突出する突条（図示せず）が上方から嵌
め込まれ、もって両突条を上下に案内してコネクタハウ
ジング３１を支持ブロック４４間に挟んだ位置決め状態
に保持することができ、その状態でコネクタハウジング
３１は左右方向に移動不能となる。
【００２９】この構成では、まず、コネクタ３０を摘
み、これをコネクタホルダ４３に上から嵌め込むように
してセットする。そして、カムハンドル４２を矢印方向
に回動操作してチェッカーハウジング１１を図中右側に
進出させると、ランスチェックピン１５及び電気接触子
１７がコネクタ３０側に進出し、前記実施例と同様にラ
ンスチェックピン１５が先端がランス３４の下の撓み空
間３２ａ内に進入し、電気接触子１７が端子金具３３に
向かって移動する。これにて、前記第１実施例と同様
に、端子金具３３の装着チェックと端子金具３３の接続
チェックが行われ、前記実施例と同様な作用効果が得ら
れる。
【００３０】なお、上記各実施例では、ランスチェック
ピン１５の付勢手段としてコイルバネ１６を利用した
が、これに限らず、コイルバネに限られずゴム等その他
の弾性体を利用してもよい。また、重力を利用してラン
スチェックピン１５をコネクタ３０側に付勢したり、空
気圧を利用してランスチェックピン１５をコネクタ３０
側に付勢したりしてもよく、このような構成も本出願の
特許請求の範囲にいう「付勢手段」の概念に含まれるこ
とは勿論である。また、図４に示した第２実施例では、
チェッカーハウジング１１側をカムハンドル４２の回動
操作によって移動させる構成としたが、これとは逆に、
チェッカーハウジング１１は固定してコネクタ３０を保
持したコネクタホルダ４３を移動させる構成としても良
く、更には、両者を同時に近接する方向に移動させる構
成としてもよい。その他、本発明は上記実施例に限定さ
れるものではなく、要旨を逸脱しない範囲内で種々変更
して実施することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施例に係るコネクタ検査装置を
示す断面図
【図２】コネクタをセットした状態で示す同検査装置の
断面図
【図３】装着不良の端子金具を含むコネクタをセットし
た状態で示す同検査装置の断面図
【図４】本発明の第２実施例を示すコネクタ検査装置の
断面図
【符号の説明】
１０…コネクタ検査装置 １１…チェッカーハウジング １２…キャビティ １３…フード部（セット部） １４…スライダ １５…ランスチェックピン １６…圧縮スプリング（付勢手段） １７…電気接触子 ３０…コネクタ ３２ａ…撓み空間 ３３…端子金具 ３４…ランス ３５…電線

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 コネクタハウジングに挿入した端子金具
    を前記コネクタハウジングに設けたランスにて抜け止め
    状態としたコネクタを検査する装置であって、前記コネ
    クタの前記ランス側に突出してその突出方向に移動可能
    に設けられ前記端子金具が装着不良状態にあるときのラ
    ンスに接触可能なランスチェックピンと、このランスチ
    ェックピンと一体的に移動可能に設けられ前記コネクタ
    ハウジングの正規位置に収納されて抜け止め状態とされ
    た前記端子金具に接触可能な電気接触子と、前記ランス
    チェックピン及び前記電気接触子を前記コネクタ側に付
    勢する付勢手段とを備えてなるコネクタ検査装置。
  2. 【請求項２】 コネクタハウジングに挿入した端子金具
    を前記コネクタハウジングに設けたランスにて抜け止め
    状態としたコネクタを検査する装置であって、検査すべ
    き前記コネクタを収容するセット部を備えたチェッカー
    ハウジングと、このチェッカーハウジングにコネクタに
    接離する方向に移動可能に設けられたスライダと、この
    スライダに設けられ前記コネクタの前記ランス側に突出
    して前記端子金具が装着不良状態にあるときのランスに
    接触可能なランスチェックピンと、前記スライダに設け
    られ前記コネクタハウジングの正規位置に収納されて抜
    け止め状態とされた前記端子金具に接触可能な電気接触
    子と、前記スライダを前記コネクタ側に付勢する付勢手
    段とを備えてなるコネクタ検査装置。
  3. 【請求項３】 コネクタハウジングに挿入した端子金具
    を前記コネクタハウジングに設けたランスにて抜け止め
    状態としたコネクタを検査する装置であって、検査すべ
    き前記コネクタを保持するコネクタホルダと、このコネ
    クタホルダに対向して設けられたチェッカーハウジング
    と、前記コネクタホルダ及びチェッカーハウジングのい
    ずれか一方又は双方を互いに接近する方向に往復移動さ
    せる駆動機構と、前記チェッカーハウジングにコネクタ
    に接近する方向に移動可能に設けられたスライダと、こ
    のスライダに設けられ前記コネクタの前記ランス側に突
    出して前記端子金具が装着不良状態にあるときのランス
    に接触可能なランスチェックピンと、前記スライダに設
    けられ前記コネクタハウジングの正規位置に収納されて
    抜け止め状態とされた前記端子金具に接触可能な電気接
    触子と、前記スライダを前記コネクタ側に付勢する付勢
    手段とを備えてなるコネクタ検査装置。
  4. 【請求項４】 電気接触子は、ワイヤハーネスの導通検
    査回路に接続されていることを特徴とする請求項２又は
    ３記載のコネクタ検査装置。
JP5281716A 1993-10-15 1993-10-15 コネクタ検査装置 Expired - Lifetime JP2797928B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5281716A JP2797928B2 (ja) 1993-10-15 1993-10-15 コネクタ検査装置
US08/308,265 US5455515A (en) 1993-10-15 1994-08-29 Connector inspecting device
DE69427945T DE69427945T2 (de) 1993-10-15 1994-10-13 Inspektionseinrichtung für Steckverbinder
EP94116189A EP0649028B1 (en) 1993-10-15 1994-10-13 Connector inspecting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5281716A JP2797928B2 (ja) 1993-10-15 1993-10-15 コネクタ検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07114963A true JPH07114963A (ja) 1995-05-02
JP2797928B2 JP2797928B2 (ja) 1998-09-17

Family

ID=17642994

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5281716A Expired - Lifetime JP2797928B2 (ja) 1993-10-15 1993-10-15 コネクタ検査装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5455515A (ja)
EP (1) EP0649028B1 (ja)
JP (1) JP2797928B2 (ja)
DE (1) DE69427945T2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5831438A (en) * 1996-02-16 1998-11-03 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. Device for testing a connector having multiple terminals therein
US6390846B2 (en) 1999-12-27 2002-05-21 Yazaki Corporation Connector checker
US6445190B1 (en) 1999-12-03 2002-09-03 Yazaki Corporation Connector continuity checking device

Families Citing this family (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5859534A (en) * 1993-11-18 1999-01-12 Sumitomo Wiring Systems Connector examination and correction devices and methods examining and correcting same
JP3000122B2 (ja) * 1994-03-09 2000-01-17 矢崎総業株式会社 コネクタ挿入検査治具
US5614820A (en) * 1994-03-10 1997-03-25 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. Connector examination device for determining a connection in a connector
JPH07333283A (ja) * 1994-06-13 1995-12-22 Sumitomo Wiring Syst Ltd 防水型コネクタの検査装置
JP2998885B2 (ja) * 1994-07-11 2000-01-17 矢崎総業株式会社 コネクタのスペーサ検知構造
JP2923521B2 (ja) * 1994-07-14 1999-07-26 矢崎総業株式会社 ランス不良検出方法及びその構造
JP2956877B2 (ja) * 1994-07-22 1999-10-04 矢崎総業株式会社 ワイヤーハーネス部品の検査方法及び検査具
FR2726368B3 (fr) * 1994-11-02 1996-12-27 Amp France Appareil de controle de l'assemblage de bornes
JP3253050B2 (ja) * 1995-05-22 2002-02-04 矢崎総業株式会社 端子半挿入検知用コネクタ
JP3247031B2 (ja) * 1995-06-16 2002-01-15 矢崎総業株式会社 コネクタ試験器
EP0774667A3 (de) * 1995-11-16 1998-07-08 The Whitaker Corporation Überprufung des Verbindens zweier Teile
DE19601562A1 (de) * 1996-01-17 1997-07-24 Whitaker Corp Anordnung zur elektrischen Überprüfung des Verbindens zweier Teile, Verwendung einer solchen Anordnung und Kontakt insbesondere zur Verwendung in einer solchen Anordnung
DE29519413U1 (de) * 1995-12-07 1996-01-25 TSK Prüfsysteme GmbH, 32457 Porta Westfalica Prüfstift
US5823808A (en) * 1996-08-20 1998-10-20 Chrysler Corporation Cam lever operated connector
US5820409A (en) * 1996-08-20 1998-10-13 Chrysler Corporation Rotatable pin connector
US5716234A (en) * 1996-10-03 1998-02-10 General Motors Corporation Electrical connector with positive lock retention
US6081124A (en) * 1997-03-31 2000-06-27 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. Testing unit for connector testing
JPH1152001A (ja) * 1997-07-31 1999-02-26 Sumitomo Wiring Syst Ltd コネクタ検査装置の検査部
KR100285296B1 (ko) * 1998-03-12 2001-04-02 김재석, 그랜틀리 마틴 앤더슨 입력단자용콘넥터의접점단자설치확인장치
EP0996198A1 (en) * 1998-10-20 2000-04-26 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. An electrical connection box, a positioning method and a testing device for the same
JP3794608B2 (ja) * 1999-12-01 2006-07-05 矢崎総業株式会社 コネクタ導通検査具
GB2383902B (en) * 2000-08-18 2004-07-21 Technigroup Far East Pte Ltd Housing for electrical and data wire management
JP2002151226A (ja) * 2000-11-15 2002-05-24 Auto Network Gijutsu Kenkyusho:Kk 端子接続部分の接続確認方法及び同装置
US6731118B2 (en) * 2001-06-07 2004-05-04 Sumitomo Wiring System Ltd. Connector inspection apparatus
US6831738B2 (en) * 2001-06-26 2004-12-14 Adc Telecommunications, Inc. Method and apparatus for inspecting end surfaces on optical connectors
JP3890955B2 (ja) * 2001-11-01 2007-03-07 住友電装株式会社 カバー付きコネクタ
US6876206B2 (en) * 2002-08-23 2005-04-05 Adc Telecommunications, Inc. Automatic jack tester
US6734689B1 (en) * 2002-12-05 2004-05-11 Tektronix, Inc. Measurement probe providing signal control for an EOS/ESD protection module
US7071705B2 (en) * 2004-01-08 2006-07-04 Panduit Corp. Apparatus and method for communications testing
US7002355B2 (en) * 2003-01-10 2006-02-21 Panduit Corp. Apparatus and method for communications testing
ITTO20040923A1 (it) * 2004-12-30 2005-03-30 Framatome Connectors Int Metodo di montaggio di un connettore elettrico, connettore elettrico cosi' ottenuto e dispositivo di rilevazione per verificare il corretto montaggio del connettore stesso
US7030636B1 (en) 2005-05-02 2006-04-18 Fargo Assembly Company Low pin testing system
JP5375440B2 (ja) * 2009-08-26 2013-12-25 住友電装株式会社 雄型コネクタ及びコネクタ装置
JP5481299B2 (ja) 2010-07-22 2014-04-23 矢崎総業株式会社 導通検査治具の動作制御構造
US9004954B2 (en) * 2012-03-21 2015-04-14 Delphi Technologies, Inc. Electrical connection system
JP6729273B2 (ja) * 2016-10-12 2020-07-22 株式会社オートネットワーク技術研究所 コネクタ構造
EP3499654B1 (en) * 2017-12-13 2023-09-06 Aptiv Technologies Limited Electrical distribution assembly
US11128086B2 (en) * 2018-05-11 2021-09-21 The Boeing Company Apparatus for contact insertion and retention testing
CN110466354A (zh) * 2019-08-29 2019-11-19 珠海广通汽车有限公司 连接器状态确定方法及相关装置
CN110687434B (zh) * 2019-10-30 2022-05-10 广州视源电子科技股份有限公司 屏线端子检测机构及其使用方法和屏线端子检测器

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07113836A (ja) * 1993-08-24 1995-05-02 Yazaki Corp コネクタ検査具

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6247093Y2 (ja) * 1980-11-25 1987-12-24
JPS6247093A (ja) * 1985-08-26 1987-02-28 日本電気株式会社 拡大表示制御回路
US4750893A (en) * 1985-09-30 1988-06-14 Yazaki Corporation Connector
US4806123B1 (en) * 1987-02-03 1997-12-23 Furukawa Electric Co Ltd Electrical connector device with a number of terminals
JPH025383A (ja) * 1988-06-24 1990-01-10 Yazaki Corp コネクタ端子検出具
JP2671691B2 (ja) * 1992-01-10 1997-10-29 住友電装株式会社 コネクタ
JP2921721B2 (ja) * 1992-04-07 1999-07-19 矢崎総業株式会社 コネクタ端子検査具
US5370543A (en) * 1992-07-24 1994-12-06 Fujikura Ltd. Electrical connector
JP2682594B2 (ja) * 1992-07-27 1997-11-26 矢崎総業株式会社 コネクタ端子検出具

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07113836A (ja) * 1993-08-24 1995-05-02 Yazaki Corp コネクタ検査具

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5831438A (en) * 1996-02-16 1998-11-03 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. Device for testing a connector having multiple terminals therein
US6445190B1 (en) 1999-12-03 2002-09-03 Yazaki Corporation Connector continuity checking device
US6390846B2 (en) 1999-12-27 2002-05-21 Yazaki Corporation Connector checker

Also Published As

Publication number Publication date
JP2797928B2 (ja) 1998-09-17
EP0649028B1 (en) 2001-08-16
DE69427945D1 (de) 2001-09-20
DE69427945T2 (de) 2001-12-20
US5455515A (en) 1995-10-03
EP0649028A1 (en) 1995-04-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2797928B2 (ja) コネクタ検査装置
JP2871332B2 (ja) コネクタ検査装置
EP0671789B1 (en) Connector, connector examining device and connector moving mechanism
US5562486A (en) Lock detection connector
EP0881722B1 (en) Connector correction devices and methods for correcting same
JP3120730B2 (ja) コネクタ
JP2568608Y2 (ja) コネクタの係止部材挿入治具およびコネクタ検査装置
EP0871253B1 (en) Lock detection connector
US5712569A (en) Tester for testing correct assembly of terminals in connector housings
JP3794608B2 (ja) コネクタ導通検査具
JPH0688850A (ja) コネクタ検査装置
JPH08334542A (ja) コネクタ検査具およびコネクタ
JP3043568B2 (ja) コネクタ
JP2797920B2 (ja) コネクタ検査装置
JP2797945B2 (ja) コネクタ検査装置
JP2797919B2 (ja) コネクタ検査装置
JPS6247093Y2 (ja)
JPH0727082U (ja) コネクタ及びその検査装置
JPH06186272A (ja) コネクタ検査装置
JPH07130441A (ja) コネクタ検査装置
JP2940392B2 (ja) コネクタ検査装置
JP2874150B2 (ja) コネクタ検査方法及びコネクタ検査具
JP2568609Y2 (ja) コネクタ検査装置
JP3061240B2 (ja) コネクタ端子検査治具
JPH0587877U (ja) コネクタ端子検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19980602

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080703

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090703

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090703

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100703

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110703

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110703

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120703

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120703

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130703

Year of fee payment: 15

EXPY Cancellation because of completion of term