JP3575379B2 - 導通検査装置 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はコネクタに収容されている端子金具の導通検査装置に関し、特に、端子挿入方向と直交方向のコネクタハウジングの側壁に設けられた導通検査溝から導通検査用のプローブを挿入し、端子収容室内に挿入係止されている端子金具にサイドより接触させて導通検査を行うサイドプロープ型の導通検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
コネクタに収容されている端子金具の導通検査装置は、一般に、コネクタの端子収容室に対して、相手型コネクタとの嵌合側開口より導通検査用のプローブを挿入し、該プローブ先端を端子収容室内に挿入係止されている端子金具に接触させて導通検査を行っている。しかしながら、端子金具が雌型である場合には、プローブ挿入側からは雌型端子金具の中空部しか見えず、プローブを接触させる端子金具端面が見えない問題がある。また、端子金具に対して相手方端子の挿入側と同一側からプローブを挿入した場合、プローブにより端子金具やコネクタに損傷を発生させると、相手方コネクタとの嵌合時に、電気接触信頼性や嵌合精度に問題が生じる恐れがある。
【０００３】
そのため、特に雌型端子金具の導通検査を行う場合には、端子収容室の先端開口からではなく、端子挿入方向と直交方向のサイドに導通検査溝を設け、該導通検査溝よりプローブを挿入し、端子金具のサイドにプローブを接触させて導通検査を行うサイドプローブ型の導通検査装置とすることが望まれている。
【０００４】
この種のサイドプローブ型導通検査装置として、本出願人は先に特開平６−２５８３７３号において、図７に示すような導通検査装置を提供している。該装置は、コネクタ１に側壁に設けた導通検査溝１ａに挿入するプローブ２を、図示のようにＬ形状とし、下向きに屈折させた先端部２ａを導通検査溝１ａに挿入させる構成としている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
上記構成とした場合、プローブ２を保持しているプローブホルダー２ａをコネクタ１を保持しているコネクタホルダー（図示せず）に前後進させると共に上下作動させなければならず、プローブホルダー２の移動機構が複雑となる問題がある。さらに、コネクタ１には、その一側壁（図中、上側壁）にしか導通検査溝１ａを設けることができず、言い換えれば、コネクタ１には端子収容室を１段しか設けることができない。コネクタは端子収容室を上下２段で設けている場合が多く、この種の上下２段の端子収容室を備えたコネクタに対しては上記装置を適用できない問題がある。
【０００６】
本発明は上記した問題に鑑みてなされたもので、プローブホルダーの動作をコネクタホルダー側への前後進の動作のみで行えるようにすると共に、上下２段に端子収容室が設けられているコネクタに対しても、該コネクタの両サイドに設ける導通検査溝へプローブを同時に挿入して導通検査が行えるサイドプローブ型の導通検査装置を提供することを課題としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本発明は、端子挿入方向と直交方向のコネクタハウジングの側壁に導通検査溝が設けられたコネクタに対して、導通検査用のプローブを導通検査溝から挿入して、端子収容室に挿入係止されている端子金具の側面に弾性接触させる導通検査装置において、
上記コネクタを保持するコネクタホルダと、該コネクタホルダに対して前後進可能なプローブホルダとを備え、該プローブホルダの先端面にコネクタ嵌合凹部を設け、該コネクタ嵌合凹部の内側壁に、上記コネクタの導通検査溝と対応する間隔をあけて複数のプローブ収容孔を設け、各プローブ収容孔内に、スプリングと、該スプリングで付勢される接触子とからなるプローブを収容し、上記接触子をコネクタ嵌合凹部の内側壁面から突出させ、
かつ、上記プローブホルダはリンクによりレバーと連結され、該レバー操作で前後進させる一方、上記プローブの接触子は、プローブホルダがレバー操作で最前位置まで前進すると、コネクタ側壁との接触により傾斜揺動姿勢で導通検査溝に落ち込み、プローブホルダーがレバー操作で最前位置から僅少後退すると、プローブと導通検査溝との距離が縮まり、スプリングの付勢力により傾斜角度を減少して導通検査溝への最深挿入姿勢となり、端子金具と接触し、プローブホルダの後退で、接触子が揺動して導通検査溝から離脱する構成としていることを特徴とする導通検査装置を提供している。
【０００８】
上記のように、本発明では、プローブホルダーに設けたコネクタ嵌合凹部に突出させるプローブを、スプリングと、接触子との分割型とすることにより、接触子を揺動可能および出没可能としているため、プローブホルダーを前後進させる動作だけで、コネクタの導通検査溝に接触子を挿入させて、端子金具に弾性接触させることが出来ると共に、検査後に離脱させることもできる。
【０００９】
具体的には、コネクタを保持したコネクタホルダー側にプローブホルダーを前進させると、プローブホルダーの先端のコネクタ嵌合凹部がコネクタに外嵌していく。コネクタ嵌合凹部の内側壁より突出しているプローブホルダーの接触子は、コネクタ側壁に押されて、プローブ収容孔へとスプリングに抗して押し戻されると共に後方へ傾く。コネクタ側壁に設けた導通検査溝に接触子が達するとプローブホルダーを僅かに後退させて、接触子を傾斜状態から少し垂直状態の方へ戻し、接触子をスプリングの付勢力で導通検査溝へと挿入し、端子金具の側面に垂直方向に接触する。導通検査後にプローブホルダーを後退させると、接触子は導通検査溝のエッジで押されて前方に傾き、導通検査溝から抜け出てコネクタ側壁と当接するとスプリングに抗してプローブ収容孔へと押し戻され、コネクタよりコネクタ嵌合凹部が離脱すると、スプリングにより付勢されてコネクタ嵌合凹部の内面より突出する位置に復帰する。
【００１０】
一方、コネクタハウジングの側壁に穿設した導通検査溝に挿入して、端子収容室内に挿入係止した端子金具と接触させるために、プローブの長さを短くでき、かつ、該プローブをスプリングと接触子とからなる分割型としているため、接触子自体の長さを極端に短くすることができる。さらに、接触子は端子金具の側面に垂直方向より弾性接触させるため、端子金具およびコネクタに接触子が損傷を与えないようにできる。
【００１１】
また、上記プローブホルダのコネクタ嵌合凹部には、その両側の内側壁に上記プローブ収容孔を設けて上記プローブを収容してもよい。このようにすると、コネクタハウジングの両側壁に設けられた導通検査溝に上記接触子が挿入して、端子金具と弾性接触させることができ、より確実な導通検査を実現できる。さらに、コネクタ端子収容室が２段のコネクタに対しても、各段の端子収容室に連通する導通検査溝をコネクタハウジングの両側壁に穿設しておくことにより、前記した導通検査装置では検査できなかった端子収容室が２段のコネクタの導通検査も行うことができる。なお、コネクタ嵌合凹部の一方のサイド内面にのみプローブを取り付けて、端子収容室が１段のコネクタ用としても良いことは言うまでもない。
【００１２】
上記した内容より、本発明の導通検査装置で検査されるコネクタ収容端子は、雌型の端子金具の場合に特に好適に用いることができる。即ち、従来の導通検査装置では雌型の端子金具に対してプローブを容易に接触させることが出来なかったが、コネクタハウジングの側壁に設ける導通検査溝を、雌型の端子金具のバレル分以外の部分に対応させた位置に設けておくと、導通検査溝から挿入する接触子先端を雌型の端子金具の側面に確実且つ簡単に接触させることができる。
【００１３】
また、本発明は、上記したように、プローブホルダはリンクによりレバーと連結され、該レバー操作で前後進させる一方、
上記プローブの接触子は、プローブホルダがレバー操作で最前位置まで前進すると、コネクタ側壁との接触により傾斜揺動姿勢で導通検査溝に落ち込み、プローブホルダーがレバー操作で最前位置から僅少後退すると、プローブと導通検査溝との距離が縮まり、スプリングの付勢力により傾斜角度を減少して導通検査溝への最深挿入姿勢となり、端子金具と接触する構成としている。
【００１４】
このようにプローブホルダをリンクを介してレバーと連結すると、レバー操作でプローブホルダの前後進が可能となり、端子に対してプローブを直交させる導通検査でも、従来の導通検査と同様、レバー操作で容易に行える。また、リンクの長さやレバーとの関係等を適宜設定することで、リンクを最も倒した位置より少し前の時点でリンク動作の死点を設定することができる。これによりレバーを倒す操作のみで、リンクの死点位置になるとプローブホルダを最前位置まで前進し、更にレバーを最後まで倒すことでプローブホルダを僅少後退できる。この一連のプローブホルダの動きにより、プローブの接触子を導通検査溝へ落ち込ませてから、プローブホルダの動きに伴い最深挿入姿勢で端子金具と接触できる。
【００１５】
上記接触子は、上記スプリング先端と当接する球状頭部と、該球状頭部から突出した軸部とからなる形状とし、軸部が上記プローブ収容孔の先端開口と隙間をあけて揺動自在に上記嵌合凹部に突出させることが好ましい。このように、接触子の球状頭部をスプリングの先端に圧接しておくと、接触子を容易に任意の方向に揺動させることができる。
【００１６】
また、スプリングの後端はプローブホルダに取り付けるプリント回路基板（ＰＣＢ）を介して導線と接続し、該導線を検出手段と接続させている。従来は、プローブを導線に直接に圧着接続する構成としているが、上記のようにプリント回路基板を介してプローブと導線とを間接接続する構成とすると、プローブホルダーの先端側にプローブを固定したことによるプローブホルダーの長尺化を抑制でき、従来の導通検査装置のプローブホルダーと同程度の長さにすることができる。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面を参照して説明する。
図１は本実施形態に係る導通検査装置１０を示しており、図板等への取付用となるベース板１１上にコネクタホルダ１２とプローブホルダ１３を夫々対向するように設けている。上記導通検査装置１０は、端子金具Ｔを挿入する方向と直交する方向でコネクタハウジングＣａの側壁Ｃｂに導通検査溝Ｃｄが設けられており、端子金具Ｔが２段で設けられているコネクタＣを検査対象としている。
【００１８】
コネクタホルダ１２は、ベース板１１に固定されており、上面１２ａよりコネクタ保持用の切欠１２ｂを設けている。この切欠１２ｂの断面形状は検査対象のコネクタＣの外形断面形状と同等にしており、上面１２ａ側より切欠１２ｂにコネクタＣを嵌め込むと、確実に固定されるようにしている。
【００１９】
一方、プローブホルダ１３は、ベース板１１上に設けられたレール１１ａ上に設置されると共に、プローブホルダ１３のコネクタホルダ側との反対側にレバー１４をベース板１１上に前後回転可能に設け、このレバー１４の回転中心１４ｂより一定距離離れた点１４ａとプローブホルダ１３の後端側の一点１３ｅをリンク１５で繋ぐことにより、レバー１４の前後操作でプローブホルダ１３が前後進するようにしている。
【００２０】
なお、上記レバー１４、リンク１５倒を含むリンク機構は、レバー１４を後方に倒れた状態からコネクタホルダ１２側となる前方へ前進回転させるにつれ、プローブホルダ１３がコネクタホルダ１２へ近接するようにしており、プローブホルダ１３の先端面１３ａがコネクタホルダ１２の前面１２ｃと当接した状態でリンク１５がいわゆる死点となるように位置関係を設定している。また、この死点の位置関係から少しだけレバー１４を前進回転可能にしており、よって、レバー１４を上記死点状態から最前状態に動かすと、プローブホルダ１３はコネクタホルダ１２と接してから少し後退移動する。
【００２１】
プローブホルダ１３は、両側に後述するプリント回路基板１６をネジ止めすると共に、先端面１３ａには、コネクタホルダ１２に保持されたコネクタＣが嵌め込まれる嵌合凹部１３ｂを設けている。この嵌合凹部１３ｂ内部の両側の内側壁１３ｃには、図２（Ａ）に示すように、プローブ用の収容孔１３ｄを検査対象のコネクタＣの導通検査溝Ｃｂと同ピッチで設けている。なお、上記収容孔１３ｄは、図２（Ｂ）（Ｃ）に示すように、内側壁１３ｃの壁面から近傍付近のみは、溝形状に形成した溝部１３ｆにし、以降、外側面まで円穴部１３ｇに形成してプリント回路基板１６が取り付けられる面１３ｈまで連通するようにしている。
【００２２】
上記収容孔１３ｄには、図３に示すプローブ１７が収容されている。プローブ１７は、接触子１８と導通部材製のスプリング１９から構成されており、接触子１８は球状頭部１８ａと軸部１８ｂより形成されている。このように分割することで、プローブ１７の全長が短くなるようにしている。接触子１８は、図２（Ｂ）に示すように、軸部１８ｂを上記収容孔１３ｄの溝部１３ｆに軸部１８の先端が内側壁１３ｃの壁面より突出するように収める共に、球状頭部１８ａはスプリング１９と一緒に円穴部１３ｇに収容している。このようにして、球状頭部１８ａはスプリング１９の先端１９ａと接触して付勢された状態となり、軸部１８ｂは溝部１８ｂの両端側に隙間をあけて中央に位置し、溝部１３ｆの溝方向の何れの方向にも揺動自在にしていると共に、スプリング１９の縮み方向にも移動可能にしている。
【００２３】
一方、スプリング１９の後端１９ｂはプリント回路基板１６の導通回路部１６ａと接触している。プリント回路基板１６は、図４に示すように、帯状の導通回路部１６ａを上記収容孔１３ｄと同ピッチで水平方向に設けており、各導通回路部１６ａの後端には導線Ｄを半田付けしており、この導線Ｄを導通検査装置（図示せず）に接続している。よって、接触子１８はスプリング１９と当接することにより導通しており、スプリング１９もプリント基板１６の導通回路部１６ａとの接触で導通しているため、接触子１８で検知された信号は、スプリング１９、導通回路部１６ａ、導線Ｄを順に通って導通検査装置へと送られている。なお、プローブホルダ１３の先端面１３ａには、プローブホルダ１３の前進位置確認用となる位置用プローブ２５も取り付けられている。
【００２４】
次に、上記導通検査装置１０を用いた導通検査状況を図５（Ａ）〜（Ｅ）に示す。先ず、図５（Ａ）に示すように、コネクタホルダ１２に、検査対象のコネクタＣを嵌め込んでいる。次に、図５（Ｂ）に示すように、レバー１４を前方に回転移動させ、プローブホルダ１３を前進させると、プローブ１７の接触子１８の軸部１８ｂの先端がコネクタＣの先端面Ｃｃと接触する。さらにレバー１４を前方に回転すると、プローブホルダ１３も前進するため、図５（Ｃ）に示すように、接触子１８はコネクタＣの先端面Ｃｃに押され、プローブホルダ１３の前進方向と反対側に揺動して傾斜すると共にスプリング１９の縮側にも移動し、スプリング１９の付勢力が高まった状態になっている。なお、この状態では、プローブホルダ１３の位置用プローブ２５の先端がコネクタホルダ１２の前面１２ｃに押されてオン状態となっている。
【００２５】
さらに、図５（Ｄ）のように、レバー１４をリンク１５が死点位置になるように前方回転させると、プローブホルダ１３の先端面１３ａとコネクタホルダ１２が接して、コネクタＣが更にコネクタ嵌合部１３ｂの奥に嵌め込まれた対置関係となり、高まったスプリング１９の付勢力の影響も受けて接触子１８の先端が導通検査溝Ｃｄに落ち込んでいる。この状態から、図５（Ｅ）に示すように、レバー１４を最前位置まで移動させると、プローブホルダ１３が死点を越えるため少し後退する。この後退により、コネクタ嵌合部１３ｃ中のコネクタＣも少しだけ抜け出る方向に移動するため、コネクタＣの導通溝検査溝Ｃｄと収容孔１３ｄの距離間が縮まり、導通検査溝Ｃｄ内の軸部１８ｂがスプリング１９の付勢力で導通検査溝Ｃｄの奥の方へ確実に入り込んで、端子金具Ｔの側面と垂直方向に接触する。この接触状態では、位置用プローブ２５のオン状態の条件も満たしているので導通検査を行い、コネクタＣの良否を判断するようにしている。
【００２６】
検査終了後は、図６（Ａ）〜（Ｅ）に示すように、プローブホルダ１３をコネクタホルダ１２より離反させている。即ち、レバー１４を最前位置より後方回転させると、図６（Ａ）に示すように、リンク１５が再度死点位置を通過する。よって、コネクタＣがコネクタ嵌合部１３ｂに最も入り込んだ状態となり、コネクタＣの導通検査溝Ｃｄと収容孔１３ｄの距離が広がり、接触子１８が端子金具Ｔより離れる。
【００２７】
上記位置よりレバー１４を後方回転させると、図６（Ｂ）に示すように、プローブホルダ１３が後退し、コネクタＣが少し抜け出た位置関係となり、導通検査溝Ｃｄと収容孔１３ｄがほぼ対向する位置となり、それに伴い、接触子１８も直立状態になっている。この状態よりレバー１４を更に後方回転させると、図６（Ｃ）に示すように、コネクタＣが一段と抜け出た位置関係となり、また、接触子１８はプローブホルダ１３の後退に伴い、コネクタホルダ１２側へ揺動して傾斜し、導通検査溝Ｃｄの前側端部に軸部１８ｂの先端が位置するようになる。
【００２８】
レバー１４を一段と後方回転させると、図６（Ｄ）に示すように、プローブホルダ１３の後退により、接触子１８が導通検査溝Ｃｄより抜け出て、レバー１４を最後側位置まで後方回転すると、コネクタＣはプローブホルダ１３のコネクタ嵌合凹部１３ｂより離脱して、検査が終了したコネクタＣをコネクタホルダ１２より取り出せるようにしている。
【００２９】
なお、導通検査装置１０は、上記形態に限定されるものではなく、コネクタの端子金具数に合わせて分離型プローブの設置数は適宜増減しており、また、検査対象のコネクタが端子金具を一段しか設けていないタイプでは、分離型プローブもコネクタ嵌合凹部のいずれか一方の内壁に設けるようにして、検査装置自体にかかるコストの低減するようにしている。さらに、プローブホルダの前後進移動は上述したレバー操作以外にも、シリンダーやモータ等を利用して行うようにしてもよい。
【００３０】
【発明の効果】
上記した説明より明らかなように、本発明の導通検査装置を用いると、従来導通検査が困難であったタイプのコネクタも容易かつ確実に検査することができ、しかも、端子金具を２段で装着するタイプのコネクタにまで適用することができる。また、導通検査に用いるプローブを接触子とスプリングとからなるプローブを用いているので、プローブの全長が短くなると共に、該分散型プローブと導線との接触をプリント回路基板を介して行うことで、プローブホルダの全幅をコンパクトに収め、また導通部分は簡易な機構で構成でき、装置の設置用スペースやメンテナンス等も従来の検査装置と同程度に維持できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の導通検査装置の斜視図である。
【図２】（Ａ）はプローブホルダのコネクタ嵌合側からの視図、（Ｂ）はプローブホルダのプローブ収容状況を示す要部断面図、（Ｃ）は（Ｂ）におけるＡ−Ａ断面図である。であり、
【図３】プローブの斜視図である。
【図４】プリント回路基板の斜視図である。
【図５】（Ａ）〜（Ｅ）は導通検査に至る状態を示す概略図である。
【図６】（Ａ）〜（Ｅ）は導通検査終了後の概略図である。
【図７】従来の導通検査を示す概略図である。
【符号の説明】
１０ 導通検査装置
１２ コネクタホルダ
１３ プローブホルダ
１３ｂ コネクタ嵌合凹部
１３ｄ 収容孔
１４ レバー
１５ リンク
１７ プローブ
１８ 接触子
１９ スプリング
Ｃ コネクタ
Ｃｄ 導通検査溝

Claims (3)

1. 端子挿入方向と直交方向のコネクタハウジングの側壁に導通検査溝が設けられたコネクタに対して、導通検査用のプローブを導通検査溝から挿入して、端子収容室に挿入係止されている端子金具の側面に弾性接触させる導通検査装置において、
   上記コネクタを保持するコネクタホルダと、該コネクタホルダに対して前後進可能なプローブホルダとを備え、該プローブホルダの先端面にコネクタ嵌合凹部を設け、該コネクタ嵌合凹部の内側壁に、上記コネクタの導通検査溝と対応する間隔をあけて複数のプローブ収容孔を設け、各プローブ収容孔内に、スプリングと、該スプリングで付勢される接触子とからなるプローブを収容し、上記接触子をコネクタ嵌合凹部の内側壁面から突出させ、
   かつ、上記プローブホルダはリンクによりレバーと連結され、該レバー操作で前後進させる一方、上記プローブの接触子は、プローブホルダがレバー操作で最前位置まで前進すると、コネクタ側壁との接触により傾斜揺動姿勢で導通検査溝に落ち込み、プローブホルダーがレバー操作で最前位置から僅少後退すると、プローブと導通検査溝との距離が縮まり、スプリングの付勢力により傾斜角度を減少して導通検査溝への最深挿入姿勢となり、端子金具と接触し、プローブホルダの後退で、接触子が揺動して導通検査溝から離脱する構成としていることを特徴とする導通検査装置。
2. 上記接触子は、上記スプリング先端と当接する球状頭部と、該球状頭部から突出した軸部とからなる形状で、該軸部が上記プローブ収容孔の先端開口と隙間をあけて揺動自在に上記コネクタ嵌合凹部に突出している構成としていることを特徴とする請求項１に記載の導通検査装置。
3. 上記スプリングの後端はプローブホルダに取り付けるプリント回路基板を介して導線と接続させている請求項１または請求項２に記載の導通検査装置。

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