JP2606400Y2 - コネクタ検査具 - Google Patents
コネクタ検査具Info
- Publication number
- JP2606400Y2 JP2606400Y2 JP1993070231U JP7023193U JP2606400Y2 JP 2606400 Y2 JP2606400 Y2 JP 2606400Y2 JP 1993070231 U JP1993070231 U JP 1993070231U JP 7023193 U JP7023193 U JP 7023193U JP 2606400 Y2 JP2606400 Y2 JP 2606400Y2
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- Japan
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- inspection
- connector
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- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、自動車用ワイヤハーネ
ス等の接続に用いられるコネクタ検査具に関し、コネク
タ内の所定位置に端子金具が正しく組み込まれているか
否か、および該端子金具に接続される電線の導通状態の
良否を検査するものである。
ス等の接続に用いられるコネクタ検査具に関し、コネク
タ内の所定位置に端子金具が正しく組み込まれているか
否か、および該端子金具に接続される電線の導通状態の
良否を検査するものである。
【０００２】
【従来の技術】図４において、コネクタのハウジングａ
には複数の端子収容室ｂが形成されると共に、各端子収
容室ｂには片持ちの可撓係止片ｃが設けられ、後方から
挿入された端子金具ｄを該可撓係止片ｃにより係止す
る。端子金具ｄの挿入時において、端子金具ｄの先端部
が可撓係止片ｃの係止突起ｃ1 に衝合することにより、
可撓係止片ｃを可撓変位許容空間ｅ内に変位させ（図４
（Ｂ））、係止孔ｄ1 が係止突起ｃ1 と一致した状態に
おいて可撓係止片ｃが復元して端子金具ｄを係止してい
る（図４（Ｃ））。
には複数の端子収容室ｂが形成されると共に、各端子収
容室ｂには片持ちの可撓係止片ｃが設けられ、後方から
挿入された端子金具ｄを該可撓係止片ｃにより係止す
る。端子金具ｄの挿入時において、端子金具ｄの先端部
が可撓係止片ｃの係止突起ｃ1 に衝合することにより、
可撓係止片ｃを可撓変位許容空間ｅ内に変位させ（図４
（Ｂ））、係止孔ｄ1 が係止突起ｃ1 と一致した状態に
おいて可撓係止片ｃが復元して端子金具ｄを係止してい
る（図４（Ｃ））。
【０００３】ｆは検査具であり、ハウジングａの各端子
収容室ｂに対応した筒状の検査用端子ｇが設置され、検
査用端子ｇ内において導通ピンｈが摺動自在に設けられ
ると共に、コイルバネｉにより前方へ突出している。ま
た、検査機ｆには、ハウジングａ内における端子金具ｄ
の不完全挿入を検知するための不完全挿入検知アームｊ
が突設されている。
収容室ｂに対応した筒状の検査用端子ｇが設置され、検
査用端子ｇ内において導通ピンｈが摺動自在に設けられ
ると共に、コイルバネｉにより前方へ突出している。ま
た、検査機ｆには、ハウジングａ内における端子金具ｄ
の不完全挿入を検知するための不完全挿入検知アームｊ
が突設されている。
【０００４】被検査ハウジングａを検査具ｆ上にセット
した状態において（図５）、不完全挿入検知アームｊが
可撓変位許容空間ｅ内に進入し、完全に挿入、係止され
ている下側の端子金具ｄが導通ピンｈを後退させつつこ
れと圧接するので、導通チェッカーｋにより良の判定を
得、可撓係止片ｃに係止されていない端子金具ｄは導通
ピンｈと接触しないので、導通チェッカーｋにより否の
判定を得る。
した状態において（図５）、不完全挿入検知アームｊが
可撓変位許容空間ｅ内に進入し、完全に挿入、係止され
ている下側の端子金具ｄが導通ピンｈを後退させつつこ
れと圧接するので、導通チェッカーｋにより良の判定を
得、可撓係止片ｃに係止されていない端子金具ｄは導通
ピンｈと接触しないので、導通チェッカーｋにより否の
判定を得る。
【０００５】図６の状態においては、上側の端子金具ｄ
が可撓係止片ｃを変位させた状態の不完全挿入状態にあ
り、この状態のハウジングａを検査具ｆ上にセットしよ
うとしても、不完全挿入検知アームｊが可撓変位許容空
間ｅを塞いでいる上側の可撓係止片ｃの端面に衝合する
のでセット不能となり、これによって端子金具ｄの不完
全挿入を検知することができる。
が可撓係止片ｃを変位させた状態の不完全挿入状態にあ
り、この状態のハウジングａを検査具ｆ上にセットしよ
うとしても、不完全挿入検知アームｊが可撓変位許容空
間ｅを塞いでいる上側の可撓係止片ｃの端面に衝合する
のでセット不能となり、これによって端子金具ｄの不完
全挿入を検知することができる。
【０００６】
【考案が解決しようとする課題】上記従来技術では、端
子金具ｄが可撓係止片ｃを変位させた状態の不完全挿入
状態にあると、不完全挿入検知アームｊが可撓変位許容
空間ｅ内に進入不可能となるので、被検査コネクタのハ
ウジングａを検査具ｆ上にセットできない構造である
が、無理に取り付けられる可能性があり、その際に可撓
係止片ｃや不完全挿入検知アームｊが破損する欠点があ
る。
子金具ｄが可撓係止片ｃを変位させた状態の不完全挿入
状態にあると、不完全挿入検知アームｊが可撓変位許容
空間ｅ内に進入不可能となるので、被検査コネクタのハ
ウジングａを検査具ｆ上にセットできない構造である
が、無理に取り付けられる可能性があり、その際に可撓
係止片ｃや不完全挿入検知アームｊが破損する欠点があ
る。
【０００７】本考案は上記した点に着目し、不完全挿入
状態の端子金具により変位された可撓係止片に不完全挿
入検知アームが衝合した際に該不完全挿入検知アームが
端子金具と導通検査部材との接触を遮断するようにして
上記従来技術の欠点を改良したものである。
状態の端子金具により変位された可撓係止片に不完全挿
入検知アームが衝合した際に該不完全挿入検知アームが
端子金具と導通検査部材との接触を遮断するようにして
上記従来技術の欠点を改良したものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本考案においては、検査部において検査用電気回路
と接続される複数の導通検査ピンを被検査コネクタの端
子収容室に対応して摺動自在に設けると共に、該端子収
容室に設けた可撓係止片の可撓変位許容空間に対応して
不完全挿入検知アームを摺動自在に設け、該導通検査ピ
ンと該不完全挿入検知アームをバネにより被検査コネク
タ方向に付勢して設け、該不完全挿入検知アームに該複
数の導通検査ピンに対するストッパを設け、該不完全挿
入検知アームが該可撓変位許容空間を閉塞している該可
撓係止片に衝合した際において該不完全挿入検知アーム
が該ストッパを介して該複数の導通検査ピンと端子金具
との接触を阻止する構成を採用した。
め、本考案においては、検査部において検査用電気回路
と接続される複数の導通検査ピンを被検査コネクタの端
子収容室に対応して摺動自在に設けると共に、該端子収
容室に設けた可撓係止片の可撓変位許容空間に対応して
不完全挿入検知アームを摺動自在に設け、該導通検査ピ
ンと該不完全挿入検知アームをバネにより被検査コネク
タ方向に付勢して設け、該不完全挿入検知アームに該複
数の導通検査ピンに対するストッパを設け、該不完全挿
入検知アームが該可撓変位許容空間を閉塞している該可
撓係止片に衝合した際において該不完全挿入検知アーム
が該ストッパを介して該複数の導通検査ピンと端子金具
との接触を阻止する構成を採用した。
【０００９】
【作用】端子金具を係止するための可撓係止片がその可
撓変位許容空間内に位置していて該空間内に対する不完
全挿入検知アームの進入を阻止し、進出を阻止された不
完全挿入検知アームはストッパを介して導通検査ピンと
端子金具との接触を阻止する。
撓変位許容空間内に位置していて該空間内に対する不完
全挿入検知アームの進入を阻止し、進出を阻止された不
完全挿入検知アームはストッパを介して導通検査ピンと
端子金具との接触を阻止する。
【００１０】
【実施例】図１において、Ａはコネクタ検査具、Ｂは被
検査コネクタである。コネクタ検査具Ａにおいて、コネ
クタ支持体１上にコネクタ受部２ａを有する検査部２を
立設し、該検査部２の上下において被検査コネクタＢの
端子収容室３に対応した筒状の検査用端子４を設置し、
検査用端子４内において導通検査ピン５を摺動自在に設
けると共に、コイルばネ６により前方へ付勢する。
検査コネクタである。コネクタ検査具Ａにおいて、コネ
クタ支持体１上にコネクタ受部２ａを有する検査部２を
立設し、該検査部２の上下において被検査コネクタＢの
端子収容室３に対応した筒状の検査用端子４を設置し、
検査用端子４内において導通検査ピン５を摺動自在に設
けると共に、コイルばネ６により前方へ付勢する。
【００１１】検査部２の中間部において、支持孔７内に
おいて比較的長尺の不完全挿入検知アーム８を摺動自在
に設けると共に、コイルバネ６により前方へ突出するよ
うに付勢する。図２において詳細に示される如く、不完
全挿入検知アーム８には上下方向に延長する板状のスト
ッパ９を設け、各導通検査ピン５を該ストッパ９に対し
て摺動自在に貫通して設けると共にストッパ９の内面側
に当接する鍔状の係合部１０を設けるものであり、不完
全挿入検知アーム８はストッパ９と係合部１０を介して
各導通検査ピン５の一定限度以上の進出を阻止するよう
に構成される。
おいて比較的長尺の不完全挿入検知アーム８を摺動自在
に設けると共に、コイルバネ６により前方へ突出するよ
うに付勢する。図２において詳細に示される如く、不完
全挿入検知アーム８には上下方向に延長する板状のスト
ッパ９を設け、各導通検査ピン５を該ストッパ９に対し
て摺動自在に貫通して設けると共にストッパ９の内面側
に当接する鍔状の係合部１０を設けるものであり、不完
全挿入検知アーム８はストッパ９と係合部１０を介して
各導通検査ピン５の一定限度以上の進出を阻止するよう
に構成される。
【００１２】コネクタ支持体１の側面には軸１１により
コネクタ受体１２が回動可能に設けられると共に内蔵す
るスプリング（図示せず）により図１の位置に付勢され
ている。上記構成において、被検査コネクタＢをコネク
タ検査具Ａ上に載置して、検査部２のコネクタ受部２ａ
とコネクタ受体１２間に位置させる。この場合、被検査
コネクタＢの端子収容室３には端子金具Ｃ１，Ｃ２が完
全に挿入されて可撓係止片１３により係止されており、
従って完全に復帰動作している可撓係止片１３によりそ
の可撓変位許容空間Ｓは前方に向けて解放されているの
で、不完全挿入検知アーム８は可撓変位許容空間Ｓ内に
進入し、導通検査ピン５，５は対向する端子金具Ｃ１，
Ｃ２に接触して検査用電気回路を導通し、チェッカーＤ
により端子金具Ｃ１，Ｃ２の正規挿入状態を表示する。
コネクタ受体１２が回動可能に設けられると共に内蔵す
るスプリング（図示せず）により図１の位置に付勢され
ている。上記構成において、被検査コネクタＢをコネク
タ検査具Ａ上に載置して、検査部２のコネクタ受部２ａ
とコネクタ受体１２間に位置させる。この場合、被検査
コネクタＢの端子収容室３には端子金具Ｃ１，Ｃ２が完
全に挿入されて可撓係止片１３により係止されており、
従って完全に復帰動作している可撓係止片１３によりそ
の可撓変位許容空間Ｓは前方に向けて解放されているの
で、不完全挿入検知アーム８は可撓変位許容空間Ｓ内に
進入し、導通検査ピン５，５は対向する端子金具Ｃ１，
Ｃ２に接触して検査用電気回路を導通し、チェッカーＤ
により端子金具Ｃ１，Ｃ２の正規挿入状態を表示する。
【００１３】図３に示される被検査コネクタＢ′におい
ては端子金具Ｃ1 が不完全状態にあって可撓係止片１３
の復帰を阻止しているので、可撓変位許容空間Ｓは閉塞
され、従って不完全挿入検知アーム８はその先端８ａが
可撓係止片１３に衝合して後退し、この際にストッパ９
は係合部１０を介して導通検査ピン５，５の進出を阻止
して端子金具Ｃ1 ，Ｃ2 共に非接触状態とし、チェッカ
ーＤに全回路の不導通を表示することにより不完全挿入
端子金具の存在を検知する。
ては端子金具Ｃ1 が不完全状態にあって可撓係止片１３
の復帰を阻止しているので、可撓変位許容空間Ｓは閉塞
され、従って不完全挿入検知アーム８はその先端８ａが
可撓係止片１３に衝合して後退し、この際にストッパ９
は係合部１０を介して導通検査ピン５，５の進出を阻止
して端子金具Ｃ1 ，Ｃ2 共に非接触状態とし、チェッカ
ーＤに全回路の不導通を表示することにより不完全挿入
端子金具の存在を検知する。
【００１４】
【考案の効果】本考案は上記した如くに、検査部におい
て検査用電気回路と接続される複数の導通検査ピンを被
検査コネクタの端子収容室に対応して摺動自在に設ける
と共に、該端子収容室に設けた可撓係止片の可撓変位許
容空間に対応して不完全挿入検知アームを摺動自在に設
け、該導通検査ピンと該不完全挿入検知アームをバネに
より被検査コネクタ方向に付勢して設け、該不完全挿入
検知アームに該複数の導通検査ピンに対するストッパを
設け、該不完全挿入検知アームが該可撓変位許容空間を
閉塞している該可撓係止片に衝合した際において該不完
全挿入検知アームが該ストッパを介して該複数の導通検
査ピンと端子金具との接触を阻止するようにして成るも
のであるから、検査時において不完全挿入検知アームが
ストッパを介して複数の導通検査ピンと端子金具との接
触を阻止して検査初期において回路の全体的な不導通を
表示することができるので、不完全挿入検知アームが可
撓係止片を破損しないと共に不完全挿入検知アーム自体
の破損をも防止することができる。
て検査用電気回路と接続される複数の導通検査ピンを被
検査コネクタの端子収容室に対応して摺動自在に設ける
と共に、該端子収容室に設けた可撓係止片の可撓変位許
容空間に対応して不完全挿入検知アームを摺動自在に設
け、該導通検査ピンと該不完全挿入検知アームをバネに
より被検査コネクタ方向に付勢して設け、該不完全挿入
検知アームに該複数の導通検査ピンに対するストッパを
設け、該不完全挿入検知アームが該可撓変位許容空間を
閉塞している該可撓係止片に衝合した際において該不完
全挿入検知アームが該ストッパを介して該複数の導通検
査ピンと端子金具との接触を阻止するようにして成るも
のであるから、検査時において不完全挿入検知アームが
ストッパを介して複数の導通検査ピンと端子金具との接
触を阻止して検査初期において回路の全体的な不導通を
表示することができるので、不完全挿入検知アームが可
撓係止片を破損しないと共に不完全挿入検知アーム自体
の破損をも防止することができる。
【図１】本考案の一実施例について、コネクタの正常検
査状態の断面図である。
査状態の断面図である。
【図２】同上の要部の斜視図である。
【図３】同上におけるコネクタの異常検査状態の断面図
である。
である。
【図４】（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）はコネクタに対する端子金
具の挿入過程を示す断面図である。
具の挿入過程を示す断面図である。
【図５】従来の検査具の検査状態を示す断面図である。
【図６】従来の検査具の他の検査状態を示す断面図であ
る。
る。
Ａ 検査具 Ｂ，Ｂ′ 被検査コネクタ Ｃ1 ，Ｃ2 端子金具 ２ 検査部 ３ 端子収容室 ５ 導通検査ピン ６ バネ ８ 不完全挿入検知アーム ９ ストッパ １３ 可撓係止片 Ｓ 可撓変位許容空間
Claims (1)
- 【請求項１】 検査部において検査用電気回路と接続さ
れる複数の導通検査ピンを被検査コネクタの端子収容室
に対応して摺動自在に設けると共に、該端子収容室に設
けた可撓係止片の可撓変位許容空間に対応して不完全挿
入検知アームを摺動自在に設け、該導通検査ピンと該不
完全挿入検知アームをバネにより被検査コネクタ方向に
付勢して設け、該不完全挿入検知アームに該複数の導通
検査ピンに対するストッパを設け、該不完全挿入検知ア
ームが該可撓変位許容空間を閉塞している該可撓係止片
に衝合した際において該不完全挿入検知アームが該スト
ッパを介して該複数の導通検査ピンと端子金具との接触
を阻止することを特徴とするコネクタ検査具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993070231U JP2606400Y2 (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | コネクタ検査具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993070231U JP2606400Y2 (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | コネクタ検査具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0742078U JPH0742078U (ja) | 1995-07-21 |
| JP2606400Y2 true JP2606400Y2 (ja) | 2000-10-23 |
Family
ID=13425588
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1993070231U Expired - Fee Related JP2606400Y2 (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | コネクタ検査具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2606400Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4020026B2 (ja) * | 2003-06-09 | 2007-12-12 | 三菱電機株式会社 | 端子台および回路遮断器 |
| KR102333471B1 (ko) * | 2019-12-27 | 2021-12-02 | 주식회사 유라코퍼레이션 | 단자밀림 검사 장치 |
-
1993
- 1993-12-27 JP JP1993070231U patent/JP2606400Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0742078U (ja) | 1995-07-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20000718 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |