JP3029081B2 - コネクタ検査具 - Google Patents

コネクタ検査具

Info

Publication number
JP3029081B2
JP3029081B2 JP6010829A JP1082994A JP3029081B2 JP 3029081 B2 JP3029081 B2 JP 3029081B2 JP 6010829 A JP6010829 A JP 6010829A JP 1082994 A JP1082994 A JP 1082994A JP 3029081 B2 JP3029081 B2 JP 3029081B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
connector
contact surface
incomplete insertion
flexible
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP6010829A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH07113836A (ja
Inventor
優 福田
英司 福田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yazaki Corp
Original Assignee
Yazaki Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yazaki Corp filed Critical Yazaki Corp
Priority to JP6010829A priority Critical patent/JP3029081B2/ja
Priority to US08/294,572 priority patent/US5512833A/en
Publication of JPH07113836A publication Critical patent/JPH07113836A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3029081B2 publication Critical patent/JP3029081B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R43/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
    • H01R43/20Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors for assembling or disassembling contact members with insulating base, case or sleeve
    • H01R43/22Hand tools
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/62Means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts or for holding them in engagement
    • H01R13/627Snap or like fastening
    • H01R13/6271Latching means integral with the housing
    • H01R13/6272Latching means integral with the housing comprising a single latching arm
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/64Means for preventing incorrect coupling
    • H01R13/641Means for preventing incorrect coupling by indicating incorrect coupling; by indicating correct or full engagement

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、自動車用ワイヤハーネ
ス等の接続に用いられるコネクタの検査具に関し、コネ
クタ内の所定位置に端子金具が正しく組み込まれている
か否か、および該端子金具に接続される電線の導通状態
の良否を検査するものである。
【0002】
【従来の技術】図10において、コネクタのハウジング
aには複数の端子収容室bが形成されると共に、各端子
収容室bには片持ちの可撓係止片cが設けられ、後方か
ら挿入された端子金具dを該可撓係止片cにより係止す
る。端子金具dの挿入時において、端子金具dの先端部
が可撓係止片cの係止突起c1 に衝合することにより、
可撓係止片cを可撓変位許容空間e内に変位させ(図1
0(B))、係止孔d1が係止突起c1 と一致した状態
において可撓係止片cが復元して端子金具dを係止して
いる(図10(C))。
【0003】fは検査具であり、ハウジングaの各端子
収容室bに対応した筒状の検査用端子gが設置され、検
査用端子g内において導通ピンhが摺動自在設けられる
と共に、コイルバネiにより前方へ突出している。ま
た、検査fには、ハウジングa内における端子金具d
の不完全挿入を検知するための不完全挿入検知アームj
が突設されている。
【0004】被検査ハウジングaを検査具f上にセット
した状態において(図11)、不完全挿入検知アームj
が可撓変位許容空間e内に進入し、完全に挿入、係止さ
れている下側の端子金具dが導通ピンhを後退させつつ
これと圧接するので、導通チェッカーkにより良の判定
を得、可撓係止片cに係止されていない端子金具dは導
通ピンhと接触しないので、導通チェッカーkにより否
の判定を得る。
【0005】図12の状態においては、上側の端子金具
dが可撓係止片cを変位させた状態の不完全挿入状態に
あり、この状態のハウジングaを検査具f上にセットし
ようとしても、不完全挿入検知アームjが可撓変位許容
空間eを塞いでいる上側の可撓係止片cの端面に衝合す
るのでセット不能となり、これによって端子金具dの不
完全挿入を検知することができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、端
子金具dが可撓係止片cを変位させた状態の不完全挿入
状態にあると、不完全挿入検知アームjが可撓変位許容
空間e内に進入不可能となるので、電極全部の端子金具
dの検査が不能となり、個別的な判定が出来なくなる欠
点がある。
【0007】本発明は上記した点に着目し、各導通ピン
が対応する端子金具の不完全挿入を個別的に判定し得る
ようにして上記従来技術の欠点を改良したものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明においては、コネクタ支持体と検査器本体を
接離可能に設け、該検査器本体において検査用電気回路
と接続される複数の検査ピンをバネにより前方へ付勢し
て設け、該検査ピンは端部に接触面を有すると共に
該導通接触面の一側において前方へ突出する不完全挿入
検知部を有し、検査時において該不完全挿入検知部が被
検査コネクタにおける片持ちの可撓支持片の可撓変位許
容空間内に入しつつ該導通接触面が該可撓支持片によ
り支持される端子金具と接触する構成を採用し、また、
コネクタ支持体と検査器本体を接離可能に設け、該検査
器本体において検査用電気回路と接続される複数の検査
ピンをバネにより前方へ付勢して設け、該検査ピンは端
部に導通接触面を有すると共に該導通接触面の一側にお
いて前方へ突出する不完全挿入検知部を有し、該不完全
挿入検知部の先端にテーパー状衝合面を形成すると共
に、コネクタの端子収容室における片持ちの可撓支持片
を設けた側壁の前端にテーパ状案内面を形成し、該テー
パー状衝合面を該テーパー状案内面に略対向させ、検査
時において該不完全挿入検知部が被検査コネクタにおけ
る該片持ちの可撓支持片の可撓変位許容空間内に進入し
つつ該導通接触面が該可撓支持片により支持される端子
金具と接触する構成を採用した。
【0009】
【作用】コネクタに対して端子金具が不完全挿入の場合
には、検査ピンの不完全挿入検知部が該端子金具により
変位されている可撓支持片の端部に衝合して該可撓支持
片の可撓変位許容空間内に入出来ないので、検査ピン
の導通接触面が該端子金具と接触不能となり、検査用電
気回路が導通しない。
【0010】検査時において、検査ピンの不完全挿入検
出部の先端に形成されたテーパー状衝合面がコネクタの
端子収容室における側壁前端に形成されたテーパー状案
内面に当接し、該検査ピンは該端子収容室内に案内され
る。
【0011】
【実施例】図1乃至図4において、検査具Aには台盤1
の一側において電線引出口2aを有する固定壁2が立設
され、他側において検査器本体3が固定壁2方向に移動
可能に設けられ、軸4で回動自在に支持される操作レバ
ー5に連動して前後動する。
【0012】固定壁2と検査器本体3間においてコネク
タ支持体6が設けられる。コネクタ支持体6は上方と検
査器本体3側を開設したコネクタ収容室6aを有する枠
形状であり、固定壁2側に電線引出口6bを有する。コ
ネクタ支持体6は固定壁2から突出してコネクタ支持体
6内に達する案内杆7に捲装されたコイルバネ8により
検査器本体3方向へ付勢され、検査器本体3により加圧
されることによりコイルバネ8に抗して後退する(図4
参照)。
【0013】コネクタ支持体6内には上方からコネクタ
Bが収容され、この際にコネクタBの後方から導出され
ている電線W1 は電線引出口6b,2a内に案内される
(図2,図3,図4)。検査器本体3内には、コネクタ
Bの複数の端子収容室9に対応して複数の検査用端子1
0が設けられ、検査用端子10内において検査ピン11
が摺動自在に設けられると共に、コイルバネ12により
前方の検査室13内に突出して設けられている。
【0014】検査ピン11の突出端には、導通接触面1
1aの一側において前方に突出した不完全挿入検知部1
1bを有する検査体11′が設けられている。各検査用
端子10はリード線W2 によりチェッカー(図示せず)
に接続されている。検査時においては、操作レバー5を
回動して検査器本体3を前進させてコネクタBの前部を
検査室13内に受け入れつつ検査体11′を端子金具C
と接触させる。図6の場合において、コネクタBの下側
の端子収容室9における端子金具Cは、完全に挿入され
て片持ちの可撓支持片14の係止突起14aが該端子金
具Cの係止孔15に入することにより該可撓支持片1
4は完全に復元しているが、上側の端子収容室9におけ
る端子金具C′は不完全挿入であって係止突起14aを
介して可撓支持片14を変位させた状態となっている。
【0015】そして、この状態のコネクタBを検査する
と、端子金具Cに対応する検査ピン11の不完全挿入検
知部11bが可撓支持片14における可撓変位許容空間
16内に進入するので導通接触面11aが端子金具Cと
接触して検査用電気回路を導通させる。しかし、端子金
具C′に対応する検査ピン11の不完全挿入検知部11
bが可撓支持片14の端部に衝合するので検査ピン11
の前進が阻止され、導通接触面11aが端子金具C′と
非接触となり、検査用電気回路が不導通となってチェッ
カーにより挿入不良の判定を得る。
【0016】図7の場合には、コネクタB′における端
子収容室9′の一端に端子金具係止用の段部17が形成
されると共に対向側に片持ちの可撓支持片18が設けら
れており、完全挿入状態の端子金具Cの肩部19が該段
部17に係合すると共に可撓支持片18が端子金具Cを
押圧してこの係止状態を保持しているが、不完全挿入の
端子金具C′の肩部19が段部17上に乗って可撓支持
片18が復元していない。従って、完全挿入の端子金具
Cに対しては、検査ピン11の不完全挿入検知部11b
が可撓変位許容空間16内に進入可能であるが、不完全
挿入の端子金具C′に対しては、不完全挿入検知部11
bが可撓支持片18の端部に衝合して検査不能である。
【0017】図8の場合には、コネクタB″における端
子収容室9の可撓支持片14を設けた側壁19の前端内
側にテーパー状案内面19aが形成され、検査器本体3
において、検査ピン11に設けられた検査体11′にお
ける不完全挿入検知部11bの先端外側にはテーパー状
衝合面11cが形成されている。検査ピン11は根本部
分において検査用端子10に対して軸方向と交叉する方
向に傾斜可能に支持されており、テーパー状衝合面11
cがテーパー状案内面19aに対向する状態に設置され
る。
【0018】この状態において、検査時に検査器本体3
を前進させると検査ピン11の不完全挿入検知部11b
の前端に形成されたテーパー状衝合面11cがコネクタ
B″の側壁19の前端に形成されたテーパー状案内面1
9aに当接して端子収容室9内に案内され、完全挿入状
態の端子金具Cに対応する検査ピン11における導通接
触面11aが該端子金具Cと接触して検査用電気回路を
導通させ、不完全挿入状態にある端子金具C′に対応す
る検査ピン11における導通接触面11aが端子金具
C′と非接触となり、検査用電気回路が不導通となって
チェッカーにより挿入不良の判定を得る(図9)。
【0019】上記構造は、コネクタB″が小型であっ
て、多数の小さな端子収容室9が密集している場合にお
いて、検査ピン11を端子収容室9内に確実に導き入れ
る構造として有効である。又、コネクタB″の側壁内面
19bと検査ピンの底面11dとを必ず一致させて挿入
させることが出来ることにより、検査ピン11及び変位
許容空間16の寸法の基準面を一致させることが出来、
挿入される検査ピン11の厚さ寸法の設定を容易に行な
うことが出来るものである。
【0020】
【発明の効果】本発明は上記した如くに、コネクタ支持
体と検査器本体を接離可能に設け、該検査器本体におい
て検査用電気回路と接続される複数の検査ピンをバネに
より前方へ付勢して設け、該検査ピンは端部に接触
を有すると共に該導通接触面の一側において前方へ突
出する不完全挿入検知部を有し、検査時において該不完
全挿入検知部が被検査コネクタにおける片持ちの可撓支
持片の可撓変位許容空間内に入しつつ該導通接触面が
該可撓支持片により支持される端子金具と接触するよう
にして成るものであるから、各検査ピンにより対応する
該端子金具の不完全挿入を個別的に検知することが可能
であり、検査能率を大幅に向上することが出来る。
【0021】また本発明においては、検査ピンの導通接
触面の一側において前方へ突出して設けた不完全挿入検
知部の先端にテーパー状衝合面を形成すると共に、コネ
クタの端子収容室における片持ちの可撓支持片を設けた
側壁の前端にテーパ状案内面を形成し、該テーパー状衝
合面を該テーパー状案内面に略対向させて成るものであ
るから、比較的に小さな端子収容室が密集している場合
であっても、各検査ピンを対応する各端子収容室に対し
て確実に導き入れることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る検査具の斜視図である。
【図2】同上の平面図である。
【図3】同上の一部破断側面図である。
【図4】同上の検査時の一部破断側面図である。
【図5】被検査コネクタと対応する検査ピンの斜視図で
ある。
【図6】被検査コネクタの検査時の状態を示す断面図で
ある。
【図7】他の被検査コネクタの検査時の状態を示す断面
図である。
【図8】他の該検査コネクタと検査具の検査前の状態を
示す断面図である。
【図9】同上の検査時の状態を示す断面図である。
【図10】(A)(B)(C)はコネクタに対する端子
金具の挿入過程を示す断面図である。
【図11】従来の検査具の検査状態を示す断面図であ
る。
【図12】従来の検査具の他の検査状態を示す断面図で
ある。
【符号の説明】
A 検査具 B,B′ 被検査コネクタ C,C′ 端子金具 3 検査器本体 6 コネクタ支持体 11 検査ピン 11a 導通接触面 11b 不完全挿入検知部 11c テーパー状衝合面 12 バネ 14,18 可撓支持片 16 可撓変位許容空間 19 側壁 19a テーパー状案内面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−140160(JP,A) 特開 平2−5383(JP,A) 特開 平7−73949(JP,A) 特開 平7−114963(JP,A) 特開 平7−254449(JP,A) 実開 昭58−175474(JP,U) 実開 昭58−130271(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 31/04 H01R 13/42 H01R 13/64 H01R 43/00

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 コネクタ支持体と検査器本体を接離可能
    に設け、該検査器本体において検査用電気回路と接続さ
    れる複数の検査ピンをバネにより前方へ付勢して設け、
    該検査ピンは端部に接触面を有すると共に該導通接
    触面の一側において前方へ突出する不完全挿入検知部を
    有し、検査時において該不完全挿入検知部が被検査コネ
    クタにおける片持ちの可撓支持片の可撓変位許容空間内
    入しつつ該導通接触面が該可撓支持片により支持さ
    れる端子金具と接触することを特徴とするコネクタ検査
    具。
  2. 【請求項2】 コネクタ支持体と検査器本体を接離可能
    に設け、該検査器本体において検査用電気回路と接続さ
    れる複数の検査ピンをバネにより前方へ付勢して設け、
    該検査ピンは端部に導通接触面を有すると共に該導通接
    触面の一側において前方へ突出する不完全挿入検知部を
    有し、該不完全挿入検知部の先端にテーパー状衝合面を
    形成すると共に、コネクタの端子収容室における片持ち
    の可撓支持片を設けた側壁の前端にテーパ状案内面を形
    成し、該テーパー状衝合面を該テーパー状案内面に略対
    向させ、検査時において該不完全挿入検知部が被検査コ
    ネクタにおける該片持ちの可撓支持片の可撓変位許容空
    間内に進入しつつ該導通接触面が該可撓支持片により支
    持される端子金具と接触することを特徴とするコネクタ
    検査具。
JP6010829A 1993-08-24 1994-02-02 コネクタ検査具 Expired - Lifetime JP3029081B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6010829A JP3029081B2 (ja) 1993-08-24 1994-02-02 コネクタ検査具
US08/294,572 US5512833A (en) 1993-08-24 1994-08-23 Connector checking device

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5-209147 1993-08-24
JP20914793 1993-08-24
JP6010829A JP3029081B2 (ja) 1993-08-24 1994-02-02 コネクタ検査具

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07113836A JPH07113836A (ja) 1995-05-02
JP3029081B2 true JP3029081B2 (ja) 2000-04-04

Family

ID=26346173

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6010829A Expired - Lifetime JP3029081B2 (ja) 1993-08-24 1994-02-02 コネクタ検査具

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5512833A (ja)
JP (1) JP3029081B2 (ja)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2797920B2 (ja) * 1993-08-31 1998-09-17 住友電装株式会社 コネクタ検査装置
JP2797928B2 (ja) * 1993-10-15 1998-09-17 住友電装株式会社 コネクタ検査装置
US5614820A (en) * 1994-03-10 1997-03-25 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. Connector examination device for determining a connection in a connector
FR2726368B3 (fr) * 1994-11-02 1996-12-27 Amp France Appareil de controle de l'assemblage de bornes
JP3048116B2 (ja) * 1995-04-13 2000-06-05 矢崎総業株式会社 コネクタ端子検査器
JPH08305464A (ja) * 1995-04-28 1996-11-22 Toshiba Corp 携帯型電子機器の外部拡張装置
JP3253050B2 (ja) * 1995-05-22 2002-02-04 矢崎総業株式会社 端子半挿入検知用コネクタ
JPH08334542A (ja) * 1995-06-08 1996-12-17 Yazaki Corp コネクタ検査具およびコネクタ
JP3247031B2 (ja) * 1995-06-16 2002-01-15 矢崎総業株式会社 コネクタ試験器
JPH0922765A (ja) * 1995-07-06 1997-01-21 Yazaki Corp コネクタ導通検査器及びコネクタ導通検査時の端子係止方法
JP3085450B2 (ja) * 1995-08-02 2000-09-11 矢崎総業株式会社 コネクタの端子金具検査器
JPH09115644A (ja) * 1995-10-13 1997-05-02 Yazaki Corp 端子抜き取り治具およびコネクタハウジング
JP3206431B2 (ja) * 1996-06-05 2001-09-10 住友電装株式会社 樹脂成形品のロック装置
US6081124A (en) * 1997-03-31 2000-06-27 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. Testing unit for connector testing
US5903154A (en) * 1997-04-08 1999-05-11 Zhang; Chaojiong Battery test contact assembly
JP3362658B2 (ja) * 1998-02-02 2003-01-07 住友電装株式会社 ハイテンションケーブルの嵌め合い検査装置
JPH11295376A (ja) * 1998-04-08 1999-10-29 Yazaki Corp コネクタ検査具
JP2001155810A (ja) 1999-11-29 2001-06-08 Yazaki Corp コネクタ
JP3794608B2 (ja) * 1999-12-01 2006-07-05 矢崎総業株式会社 コネクタ導通検査具
JP3828697B2 (ja) 1999-12-03 2006-10-04 矢崎総業株式会社 コネクタ導通検査具
JP3601772B2 (ja) 1999-12-08 2004-12-15 矢崎総業株式会社 コネクタ
JP2001194408A (ja) 2000-01-11 2001-07-19 Yazaki Corp コネクタ導通検査具のランス変位検出ピンとコネクタのランスとの接触構造
JP2001208790A (ja) * 2000-01-26 2001-08-03 Yazaki Corp コネクタ導通検査具
JP5140407B2 (ja) * 2007-12-18 2013-02-06 株式会社オートネットワーク技術研究所 ジョイントコネクタ
JP5471607B2 (ja) * 2010-03-03 2014-04-16 住友電装株式会社 コネクタ組立用治具
JP5618667B2 (ja) 2010-07-20 2014-11-05 矢崎総業株式会社 コネクタ検査システム
CN102788919B (zh) * 2012-07-18 2015-02-11 友达光电(苏州)有限公司 线材检测装置及线材检测方法
CN114747098A (zh) * 2019-12-02 2022-07-12 西门子能源有限责任公司 单相联接器

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6039077B2 (ja) * 1976-07-30 1985-09-04 東芝シリコ−ン株式会社 有機ケイ素化合物の製造方法
JPS5947556B2 (ja) * 1978-06-29 1984-11-20 株式会社日立製作所 電動機起動回路
JPS6247093A (ja) * 1985-08-26 1987-02-28 日本電気株式会社 拡大表示制御回路
JPH025383A (ja) * 1988-06-24 1990-01-10 Yazaki Corp コネクタ端子検出具
JPH0668977B2 (ja) * 1989-08-03 1994-08-31 矢崎総業株式会社 圧接端子および圧接端子のハウジングへの誤挿入検出装置
JPH03158772A (ja) * 1989-11-16 1991-07-08 Enplas Corp Icソケット用検査装置
JPH0770340B2 (ja) * 1990-03-27 1995-07-31 矢崎総業株式会社 コネクタの結合検知装置
US5217390A (en) * 1990-04-16 1993-06-08 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. Connector
GB9012060D0 (en) * 1990-05-30 1990-07-18 Amp Great Britain Electrical connector housings
JP2573753B2 (ja) * 1991-04-01 1997-01-22 矢崎総業株式会社 コネクタ
JPH05288783A (ja) * 1992-04-06 1993-11-02 Advantest Corp インピーダンス測定方法およびインピーダンス測定装置
JP2682594B2 (ja) * 1992-07-27 1997-11-26 矢崎総業株式会社 コネクタ端子検出具

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07113836A (ja) 1995-05-02
US5512833A (en) 1996-04-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3029081B2 (ja) コネクタ検査具
JP2797928B2 (ja) コネクタ検査装置
JP2871332B2 (ja) コネクタ検査装置
JPH1152001A (ja) コネクタ検査装置の検査部
JP4058952B2 (ja) 導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装置
JPH11295376A (ja) コネクタ検査具
JPH0645042A (ja) コネクタ端子検出具
JP3211932B2 (ja) コネクタの検査方法およびコネクタ検査具
JP3085450B2 (ja) コネクタの端子金具検査器
JP2956877B2 (ja) ワイヤーハーネス部品の検査方法及び検査具
JPH08334542A (ja) コネクタ検査具およびコネクタ
JP2001159654A (ja) コネクタ導通検査具
JP2874150B2 (ja) コネクタ検査方法及びコネクタ検査具
JP2874493B2 (ja) コネクタ検査装置
JP3814124B2 (ja) コネクタ端子検査器
JP2797945B2 (ja) コネクタ検査装置
JPH0757792A (ja) 圧着接続型コネクタ
JP2606400Y2 (ja) コネクタ検査具
JP3221357B2 (ja) ロック検知機能付コネクタの検知回路検査装置
JP3006653B2 (ja) 多極コネクタの端子金具検査方法及び検査具
JP3316777B2 (ja) 多極コネクタの端子金具検査方法及び端子金具検査具
JP3936964B2 (ja) 電気コネクタの端子導通検査装置
JP3211671B2 (ja) コネクタ検査方法および装置
JP2002040084A (ja) コネクタの検査器
JPH1012348A (ja) コネクタの検査治具

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20000104

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080204

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090204

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100204

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100204

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110204

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110204

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120204

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130204

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140204

Year of fee payment: 14

EXPY Cancellation because of completion of term