JPH1012348A - コネクタの検査治具 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【課題】従来の検査治具は、端子とランスの撓み空間と
に対向させてそれぞれ導通検査用プローブとランスチェ
ックピンとを配置した構成であり、導通検査用プローブ
とランスチェックピンの２本の検出用ピンを必要とする
ために、高価でありまた構造も複雑であるという問題が
あった。 【解決手段】ランスチェックピン１と導通検出ピン２と
を備えており、ランスチェックピン１は、ランス１０が
端子に係合している状態のときには先端側がランスの先
端および端子にそれぞれ接触すると共に導通検出ピン２
とも接触するので、端子、ランスチェックピン１および
導通検出ピン２の電気回路が形成される。これによって
ランスが端子に係合していることを検出できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、コネクタハウジン
グと一体に設けたランスが、コネクタハウジングに挿入
した端子に係合しているか否かを検査するコネクタの検
査治具に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、コネクタハウジングと一体に設け
たランスが、コネクタハウジングに挿入した端子に係合
しているか否かを検査するコネクタの検査治具として
は、端子に対向させて押し出しピンを配置し、該押し出
しピンを端子に当てることによりランスが端子に係合し
ているか否かを検査する検査治具が知られている。この
検査治具は、押し出しピンを端子に当てると、ランスに
係合していない端子はコネクタハウジングの外に押し出
されるのでランスに係合していない端子を検出できるも
のである。

【０００３】しかしながら、押し出しピンを端子に当て
る構造であると、端子に接続した電線が太い場合や電線
がコネクタハウジングの近くでテープで束ねられている
ような場合には、ランスが端子に係合していない状態に
おいても、端子がコネクタハウジングの外に押し出され
難く、このためにランスに係合していない端子を検出で
きないという問題があった。また端子に押し出しピンを
強く押しつけると端子が変形し易いという問題があっ
た。

【０００４】そこで、特開平７ー７３９４９号に記載さ
れているように、ランスを利用してランスが端子に係合
しているか否かを検査するようにしたものが提案されて
いる。すなわち、このコネクタの検査治具は、図５に示
すように、端子４３とランス４４の撓み空間４２ａとに
対向させてそれぞれ導通検査用プローブ１８とランスチ
ェックピン３０とを配置し、かつ導通検査用プローブ１
８には装着不良検出スイッチ３８を介して導通検査回路
３９を接続しておく構成である。前記装着不良検出スイ
ッチ３８は、ランスチェックピン３０が後退することに
よって開となるように構成されており、通常は閉じられ
ている。

【０００５】この検査治具で検査を行うには、導通検査
用プローブ１８とランスチェックピン３０とに端子４３
とランス４４とを押し当てる。この際ランス４４が端子
４３に完全係合している場合は、ランス４４の下部の撓
み空間４２ａが開いているのでランスチェックピン３０
が撓み空間４２ａ内に入り込む。したがって前記装着不
良検出スイッチ３８は閉じられたままであり、ランス４
４が端子４３に係合していることを検知できる。一方、
ランス４４が端子４３に完全に係合していない場合は、
撓み空間４２ａにランス４４の先端側が位置するので、
ランスチェックピン３０がランス４４に接触し、ランス
チェックピン３０が後退して装着不良検出スイッチ３８
を開とする。これによって、導通検査回路３９に電流が
流れなくなるのでランス４４が端子４３に係合していな
いことを検知できる。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかし上記構成の検査
治具においては、導通検査用プローブ１８とランスチェ
ックピン３０の２本の検出用ピンを必要とするために、
高価でありまた構造も複雑であるという問題があった。

【０００７】上記とは別に、特開平７ー１３０４４１号
に記載されているように、１本の検出用ピンで、コネク
タハウジング内への端子の装着状態を検出するようにし
たものがある。すなわちこのものは、端子と一体にラン
スを設け、この端子と一体に設けたランスにランスチェ
ックピンを接触させるように構成したものである。

【０００８】このように端子と一体に設けたランスにラ
ンスチェックピンを接触させるように構成すれば、１本
の検出用ピンすなわち１本のランスチェックピンのみの
使用でよいが、上記のものは、ランスが端子と一体に設
けられている場合にしか適用できないという問題があ
る。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するためになされたもので、ランスがコネクタハウジン
グと一体に設けられている場合において、かかるランス
を利用し、しかも１本の検出用ピンを使用するのみで、
ランスが端子に係合しているか否かを検査することがで
きるコネクタの検査治具を提供するものであり、その構
成は、コネクタハウジングと一体に設けたランスが、コ
ネクタハウジングに挿入した端子に係合しているか否か
を検査するコネクタの検査治具であって、ランスが端子
に係合している状態のときには先端部がランスの先端お
よび端子にそれぞれ接触し、ランスが端子に係合してい
ない状態のときには先端部がランスの先端より奥部に入
り込むランスチェックピンと、ランスが端子に係合して
いる状態のときにはランスチェックピンと接触して導通
し、ランスが端子に係合していない状態のときにはラン
スチェックピンと接触せず導通しない導通検出ピンとを
備えていることを特徴とするものである。

【００１０】ランスチェックピンは、ランスが端子に係
合している状態のときには先端側がランスの先端および
端子にそれぞれ接触すると共に導通検出ピンとも接触す
るので、端子、ランスチェックピンおよび導通検出ピン
の電気回路が形成される。これによってランスが端子に
係合していることを検出できる。一方ランスが端子に係
合していない状態のときには、ランスチェックピンの先
端部がランスの先端より奥部に入り込んでしまうのでラ
ンスチェックピンが導通検出ピンと接触せず、ランスチ
ェックピンと導通検出ピンとの間が電気的に繋がらな
い。これによってランスが端子に係合していないことを
検出できる。

【００１１】

【発明の実施の形態】以下、本発明を図１ないし図４を
参照して詳細に説明する。図１（イ）（ロ）は本発明の
コネクタの検査治具の原理説明図である。この検査治具
は、ランスチェックピン１と導通検出ピン２とを備えて
いる。ランスチェックピン１と導通検出ピン２とは筒体
３内で直列に配置されている。ランスチェックピン１
は、筒体３内でバネ４によって軸線方向に後退可能であ
るように支持されており、また導通検出ピン２は筒体３
内で後退可能であるようにバネ５で支持されている。

【００１２】図１（イ）に示すように、ランスチェック
ピン１は、通常その後端が導通検出ピン２と接触しない
ように導通検出ピン２と所定間隔Ｌを開けて配置されて
いるが、図１（ロ）に示すように、ランスチェックピン
１が導通検出ピン２の方向、すなわち矢印Ａ方向に押圧
されると後退して導通検出ピン２と接触するように構成
されている。

【００１３】次に、上記構成の検査治具を用いて、ラン
スが端子に係合しているか否かを検出する方法を図２
（イ）（ロ）および図３（イ）（ロ）を参照して説明す
る。

【００１４】図２（イ）は、ランス１０が端子１１に係
合していない状態の説明図、図２（ロ）は、ランス１０
が端子１１に係合している状態の説明図である。図２
（イ）に示す如く、ランス１０が端子１１に係合してい
ない状態においては、ランス１０の先端がランス撓み空
間１２に位置している。このようにランス１０がランス
撓み空間１２に位置している状態のときに、検査治具の
ランスチェックピン１をランス１０に押し当てると、ラ
ンスチェックピン１の先端部は、ランス１０の先端１０
ａより奥部に入り込むと共に端子１１と接触する。この
ように、ランスチェックピン１の先端部が、ランス１０
の先端１０ａより奥部に入り込むと、ランスチェックピ
ン１は後退することなく図１（イ）の状態を保ち、ラン
スチェックピン１と導通検出ピン２とは電気的に絶縁さ
れた状態を保つ。したがって、図３（イ）に示すように
端子１１、ランスチェックピン１、導通検出ピン２の電
気回路が形成されず、ランプ１３が付かない。これによ
って、ランス１０が端子１１に係合してないことを検出
できる。

【００１５】一方、 図２（ロ）に示す如く、ランス１
０が端子１１に係合している状態においては、ランス１
０の先端がランス撓み空間１２の上部に位置している。
このようにランス１０がランス撓み空間１２の上部に位
置している状態のときに、検査治具のランスチェックピ
ン１をランス１０に押し当てると、ランスチェックピン
１の先端部は、ランス１０の先端１０ａに接触すると共
に端子１１と接触する。このように、ランスチェックピ
ン１の先端部が、ランス１０の先端１０ａに接触すると
共に端子１１と接触すると、図１（ロ）に示す如く、ラ
ンスチェックピン１は後退して導通検出ピン２と電気的
に接触する。したがって、図３（ロ）に示すように端子
１１、ランスチェックピン１、導通検出ピン２の電気回
路が形成されランプ１３が点灯する。これによって、ラ
ンス１０が端子１１に係合していることを検出できる。

【００１６】なお、本発明で使用するランスチェックピ
ン１の先端部形状は特に限定するものではなく、例えば
図４に示すように先端を丸くすると共に端子との接触を
良好にするために先端部に段部１ａを設けてもよい。ま
た、図示していないが、本発明に係る検出治具は、コネ
クタハウジングと対向させて取付け台上に載置して使用
するものである。さらに、ランスチェックピン１と導通
検出ピン２とが電気的に接触しているか否かを検出する
手段としては、ランプに限るのではなくブザーまたはブ
ザーとランプの併用等であってもよい。

【００１７】

【発明の効果】上記のように、本発明に係るコネクタの
検査治具は、ランスが端子に係合している状態のときに
は先端側がランスの先端および端子にそれぞれ接触する
と共に導通検出ピンとも接触するランスチェックピンを
備えているので、容易にランスが端子に係合しているこ
とを検出でき、一方ランスが端子に係合していない状態
のときには、ランスチェックピンの先端部がランスの先
端より奥部に入り込んでしまうのでランスチェックピン
が導通検出ピンと接触せず、ランスチェックピンと導通
検出ピンとの間が電気的に繋がらないので、容易にラン
スが端子に係合していないことを検出できる。また本発
明に係る検査治具は、ランスを利用するものであるため
に端子に損傷を与えることがなく、しかも１本のランス
チェックピンがランスおよび端子にそれぞれ接触する構
造であるの、構成が簡単であり安価である。

【図面の簡単な説明】

【図１】（イ）（ロ）は本発明のコネクタの検査治具の
原理説明図。

【図２】（イ）はランスが端子に係合していない状態の
説明図、（ロ）はランスが端子に係合している状態の説
明図。

【図３】（イ）は電気回路が形成されない状態の説明
図、（ロ）は電気回路が形成された状態の説明図。

【図４】ランスチェックピンの他の実施の形態を示す側
面図。

【図５】従来のコネクタの検査治具の原理説明図。

【符号の説明】 １ ランスチェックピン ２ 導通検出ピン ３ 筒体 １０ ランス １１ 端子 １２ ランス撓み空間

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 コネクタハウジングと一体に設けたラン
   スが、コネクタハウジングに挿入した端子に係合してい
   るか否かを検査するコネクタの検査治具であって、ラン
   スが端子に係合している状態のときには先端部がランス
   の先端および端子にそれぞれ接触し、ランスが端子に係
   合していない状態のときには先端部がランスの先端より
   奥部に入り込むとランスチェックピンと、ランスが端子
   に係合している状態のときにはランスチェックピンと接
   触して導通し、ランスが端子に係合していない状態のと
   きにはランスチェックピンと接触せず導通しない導通検
   出ピンとを備えていることを特徴とするコネクタの検査
   治具。