KR102333471B1 - 단자밀림 검사 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명의 실시 예의 단자밀림 검사 장치는 회로검사핀이 내부에 설치되는 메일타입 검사블록; 커넥터가 상기 검사블록에 대향되어 배치될 수 있도록 상기 검사블록의 일 측에 형성된 커넥터안착부; 및 상기 커넥터안착부가 초기 위치와 검사 위치 사이에서 이동되도록 상기 커넥터안착부의 일 측에 형성되는 레일부;를 포함하고, 상기 회로검사핀은 상기 검사블록에 고정되는 고정부; 상기 메일커넥터의 내부 단자에 접촉되는 접촉부; 및 상기 접촉부의 위치를 조정하는 스토퍼;로 형성되는 것을 특징으로 하여, 단자의 밀림여부를 보다 정확하게 검사하여 제품의 신뢰도를 향상시킨다.

Description

단자밀림 검사 장치{Terminal Position Inspection Device}

본 발명은 단자의 위치를 검사하는 장치로 보다 상세하게는 내부단자의 밀림여부를 검사하는 장치에 관한 것이다.

커넥터는 내부에 복수의 단자들이 배치되는 메일커넥터와 피메일커넥터가 결합되어 다수의 전기적인 연결을 보다 용이하고 안전하게 하기 위한 것으로, 최근 다양한 분야에서 부품의 전자화가 급격히 증가함에 따라 활용도가 증가하고 있다.

이때 다수의 전기적인 연결이 동시에 이루어지기 위해 복수의 메일단자와 피메일단자가 접촉되는데 어느 단자에 손상 또는 밀림이 발생하는 경우에는 메일커넥터와 피메일커넥터의 결합에 의해 단자에 추가 손상이 발생하거나 전기적 연결이 되지 않으면서 전자부품에 전원 등이 공급되지 않아 추가적인 문제가 발생된다.

따라서 커넥터의 내부 단자의 손상 및 밀림여부를 검사하는 검사 장치(1)가 개발되었으나, 커넥터의 내부 단자(2)뿐만 아니라 검사핀(3)의 밀림이 동시에 발생한 경우에는 단자밀림이 검출되지 않아 제품의 내구성 및 신뢰성을 저하시키는 문제점이 발생하였다.

본 발명의 실시 예는 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 메일 단자의 밀림을 보다 정확하게 검사할 수 있는 단자밀림 검사 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

본 발명의 일실시 예의 단자밀림 검사 장치는 회로검사핀이 내부에 설치되는 메일타입 검사블록; 메일커넥터가 상기 검사블록에 대향되어 배치될 수 있도록 상기 검사블록의 일 측에 형성된 커넥터안착부; 및 상기 커넥터안착부가 초기 위치와 검사 위치 사이에서 이동되도록 상기 커넥터안착부의 일 측에 형성되는 레일부;를 포함하고, 상기 회로검사핀은 상기 검사블록에 고정되는 고정부; 상기 메일커넥터의 내부 메일단자에 접촉되는 접촉부; 및 상기 접촉부의 위치를 조정하는 스토퍼;로 형성되는 것을 특징으로 한다.

상기 접촉부는 상기 메일단자의 길이에 맞춰 신축되도록 탄성력을 가질 수 있으며, 상기 스토퍼는 상기 접촉부의 단부에 형성되어 상기 검사블록의 일 측에 접하도록 형성되는 것을 특징으로 한다.

상기 회로검사핀은 복수로 형성되고, 상기 검사블록은 내측으로 상기 스토퍼의 일 측면이 접하는 방지블록이 형성되어 상기 메일단자와 접촉되는 복수의 상기 접촉부의 각 말단이 동일 위치에 배치될 수 있다.

상기 검사블록에 부착되어 상기 메일단자의 휨여부를 검사하는 단자정렬부; 및 상기 회로검사핀에 연결되어 상기 메일단자의 밀림여부를 전기적 신호로 전달받아 표시하는 디스플레이부;를 더 포함할 수 있다.

이상에서 살펴 본 바와 같이 본 발명의 과제해결 수단에 의하면 다음과 같은 사항을 포함하는 다양한 효과를 기대할 수 있다. 다만, 본 발명이 하기와 같은 효과를 모두 발휘해야 성립되는 것은 아니다.

본 발명에 따른 단자밀림 검사 장치는 스토퍼를 구비하여 회로검사핀의 밀림을 방지하여 메일단자의 밀림여부를 보다 정확하게 검사할 수 있어 제품의 신뢰도를 향상시키는 효과를 갖는다.

또한 접촉부가 탄성력을 가져 회로검사핀이 소정 거리의 행정거리 내에서 신축 가능하도록 형성되어 검사 과정에서 메일단자에 발생할 수 있는 휨 등과 같은 손상을 최소화한다.

또한 단자의 밀림여부를 판단하는 제2 검사공간 전방에 메일단자의 휨여부를 검사하는 단자정렬부를 배치하여 검사회로핀과의 휨에 따른 접촉불량 현상을 방지하고 메일커넥터의 신뢰성 향상 효과를 증대시킨다.

도 1은 종래 검사 장치의 검사 위치에서의 횡방향 단면을 간략하게 도시한 도면.
도 2는 본 발명의 일실시 예의 단자밀림 검사 장치의 사시도.
도 3은 도 2의 커넥터안착부의 초기 위치, 제1 검사 위치 및 제2 검사 위치를 도시한 도면.
도 4는 도 3의 초기 위치에서의 Ⅳ-Ⅳ 방향의 단면을 간략하게 도시한 도면.
도 5는 도 3의 제1 검사 위치에서의 Ⅴ-Ⅴ방향의 단면을 간략하게 도시한 도면.
도 6은 도 3의 제2 검사 위치에서의 Ⅵ-Ⅵ 방향의 단면을 간략하게 도시한 도면.
도 7은 본 발명의 검사 결과를 표시한 디스플레이부를 도시한 도면.
도 8은 제2 검사 위치에서 피메일단자와 회로검사핀의 위치를 도시한 도면.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 구체적인 실시 예를 상세히 설명하도록 한다. 다만 상세한 설명에서 공지된 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명은 본 발명의 요지를 흩트리지 않도록 하기 위해 생략한다.

또한 이하에서는 설명의 편의를 위해 검사블록을 기준으로 커넥터안착부가 형성된 방향을 전방으로 정의하며, 설명이 중복되는 것을 피하기 위하여 메일커넥터의 검사 방법을 기준으로 설명한 후 피메일단자의 검사 방법은 차이점에 대해서 설명하도록 한다.

도 1은 종래 검사 장치의 검사 위치에서의 횡방향 단면을 간략하게 도시한 도면이고,도 2는 본 발명의 일실시 예의 단자밀림 검사 장치의 사시도이며, 도 3은 도 2의 커넥터안착부의 초기 위치, 제1 검사 위치 및 제2 검사 위치를 도시한 도면이다. 도 4는 도 3의 초기 위치에서의 Ⅳ-Ⅳ 방향의 단면을 간략하게 도시한 도면이고, 도 5는 도 3의 제1 검사 위치에서의 Ⅴ-Ⅴ방향의 단면을 간략하게 도시한 도면이며, 도 6은 도 3의 제2 검사 위치에서의 Ⅵ-Ⅵ 방향의 단면을 간략하게 도시한 도면이고, 도 7은 본 발명의 검사 결과를 표시한 디스플레이부를 도시한 도면이다.

도 1 내지 도 7을 참조하면, 본 발명의 일실시 예의 단자밀림 검사 장치(10)는 회로검사핀(120)이 내부에 설치되는 메일타입 검사블록(100), 메일커넥터(20)가 상기 검사블록(100)에 대향되어 배치될 수 있도록 상기 검사블록(100)의 일 측에 형성된 커넥터안착부(200) 및 상기 커넥터안착부(200)가 초기 위치와 검사 위치 사이에서 이동되도록 상기 커넥터안착부(200)의 일 측에 형성되는 레일부(300)를 포함하고, 상기 회로검사핀(120)은 상기 검사블록(100)에 고정되는 고정부(121), 상기 메일커넥터(20)의 내부 메일단자(21)에 접촉되는 접촉부(122) 및 상기 접촉부(122)의 위치를 조정하는 스토퍼(123)로 형성되는 것을 특징으로 한다.

이때 상기 검사블록(100)에 부착되어 상기 메일단자(21)의 휨여부를 검사하는 단자정렬부(500) 및 상기 회로검사핀(120)에 연결되어 상기 메일단자(21)의 밀림여부를 전기적 신호로 전달받아 표시하는 디스플레이부(600)를 더 포함하는 것이 바람직하다.

단자밀림 검사 장치(10)는 메일커넥터(20) 또는 피메일커네터(30)의 내부에 배치되는 복수의 단자의 밀림여부를 검사하여 추후 다른 커넥터와의 전기적인 연결의 정확성 및 안정성을 보장하기 위한 검사 장치이다. 최근 다양한 분야에서 전자화가 빠른게 증가하고 있는 점을 고려하였을 때 커넥터가 사용되는 제품의 신뢰성과 직접적으로 연결된다.

검사블록(100)은 단자밀림 검사 장치(10)의 일 측에 배치되고, 일 측으로 단자의 밀림여부를 검사하는 제2 검사공간(110)과, 제2 검사공간(110)의 내부에 배치되는 회로검사핀(120)으로 형성되어 접촉을 통해 메일단자(21)의 밀림여부를 검사한다.

이때 제2 검사공간(110)으로 스토퍼(123)의 일 측과 맞닿는 방지블록(111)과, 방지블록(111)을 관통하여 하나의 회로검사핀(120)과 하나의 메일단자(21)와 접촉되는 복수의 제2 관통홀(112)이 형성된다.

회로검사핀(120)은 검사블록(100)의 일 측에 고정되고, 메일단자(21)와 접촉됨에 따라 전기적으로 연결되고, 전기적인 연결여부를 통해 메일단자(21)의 밀림여부를 측정하며 이를 위해 도체로 형성된다.

회로검사핀(120)은 검사블록(100) 일 측에 고정되는 고정부(121)와, 고정부(121)의 일 측에 연결되어 메일단자(21)와 일 단이 접하는 접촉부(122)와, 접촉부(122)의 일 단부에서 돌출되어 제2 검사공간(110)에 형성된 방지블록(111)의 일 측에 맞닿아 접촉부(122)의 위치를 제한하는 스토퍼(123)로 형성된다.

이때 회로검사핀(120)은 메일단자(21)와 같이 복수로 형성되어 메일단자(21)와 동일한 배치를 가져 접촉부(122)가 복수의 메일단자(21) 일단에 각각 접촉되도록 하며, 메일단자(21)와의 접촉을 통해 전기적으로 연결되어 통전여부를 통해 메일단자(21)의 밀림여부를 확인한다.

고정부(121)는 검사블록(100)의 내측으로 삽입되어 접촉부(122)가 제2 검사공간(110)에 배치되도록 고정된다. 이때 복수의 회로검사핀(120) 중 일부의 고정부(121)가 검사블록(100)의 고정 위치까지 삽입되지 않는 경우에는 회로검사핀(120b)에 밀림이 발생된다.

이때 종래 검사 장치(1)는 복수의 검사핀(3) 중 일부 검사핀(3)에 밀림이 발생하는 경우에도 단자(2)의 밀림이 검사핀(3)의 밀림정도 보다 작게 형성되는 경우에는 검사핀(3)과 단자(2)의 접촉이 발생되어 단자밀림이 검출되지 않는다.

다만, 본 발명의 회로검사핀(120)은 고정부(121)가 검사블록(100)의 고정 위치까지 삽입되지 않는 경우에도 스토퍼(123)가 방지블록(111)의 일 측에 접촉되어 밀림이 발생한 회로검사핀(120b)의 접촉부(122)가 정위치에 위치하는 회로검사핀(120a)의 접촉부(122)와 동일한 위치에 위치하도록 한다.

또한 접촉부(122)는 탄성력을 가져 메일단자(21)와 접촉되는 경우 행정거리 안에서 신축 가능하도록 형성되어, 메일단자(21)에 허용 가능한 공차가 발생하는 경우에도 검사 과정에서 메일단자(21) 및 회로검사핀(120)에 발생하는 휨 등의 손상을 방지한다.

따라서 메일단자(21)에 허용 가능한 공차가 발생하는 경우에도 보다 안정적으로 검사할 수 있도록 하며, 제품의 내구성을 향상시키는 동시에 검사의 신뢰성을 향상시킨다.

따라서 회로검사핀(120)에 밀림이 발생되는 경우에도 제2 검사공간(110)에 형성된 방지블록(111)에 스토퍼(123)가 접촉되면서 복수의 접촉부(122)가 일정한 위치에 배치되도록 형성하여 메일단자(21)의 밀림 여부를 보다 정확하게 검사할 수 있다.

이에 따라 본 발명의 단자밀림 검사 장치(10)는 단자밀림 검사의 정확도를 향상시키는 동시에, 메일커넥터(20)의 전기적 연결을 보다 확실하게 하여 제품의 내구성 및 안정성을 향상시키는 효과를 갖는다.

커넥터안착부(200)는 단자밀림 검사 장치(10)의 일 측에 배치되어 검사블록(100)과 대향하도록 형성되고, 검사 대상인 메일커넥터(20)가 안착공간(210)에 안착되어 검사블록(100)과 결합되며 내부 메일단자(21)가 제1 검사공간(510)을 관통하여 제2 검사공간(110)에서 회로검사핀(120)과 접촉되도록 한다.

따라서 커넥터안착부(200)는 초기위치, 제1 검사위치, 제2 검사위치로 이동되고, 이동의 위해 일 측에서 레일부(300)가 연결되며, 커넥터안착부(200)를 지지하고 이동을 가이드하는 가이드부(400)의 일 측에 돌출 형성된 가이드돌기(410)와 결합되는 가이드홈(220)이 형성된다.

구체적으로 초기위치는 메일커넥터(20)가 안착공간(210)에 안착된 상태의 커넥터안착부(200)의 위치로 메일커넥터(20)와 검사블록(100)은 소정 거리를 두고 이격되어 형성되어 있다. 이때 커넥터안착부(200)의 일 측에는 커넥터가 검사 과정동안 고정될 수 있도록 결합 구조(미도시)가 형성되는 것이 바람직하다.

이에 따라 메일커넥터(20)는 안착공간(210)에 안착되고 내부 메일단자(21)가 수용된 공간이 단자정렬부(500) 및 검사블록(100)과 대향 배치된다.

제1 검사위치는 메일단자(21)가 수용된 공간으로 단자정렬부(500)가 위치하여, 제1 검사공간(510)에 메일단자(21)가 배치된 상태의 커넥터안착부(200)의 위치로 메일단자(21)의 휨 등 물리적인 손상을 검사한다.

다시 말해 제1 검사공간(510)에는 복수의 메일단자(21)의 배치 패턴과 동일한 패턴을 갖는 제1 관통홀(511)이 형성되어 제1 검사위치에서 제1 관통홀(511)의 일 측으로 메일단자(21)의일 말단이 삽입되도록 한다. 이때 메일단자(21)의 휨 등과 같이 모양의 변형이 발생되는 경우 변형된 메일단자(21)에 의해 커넥터안착부(200)가 제1 검사위치로 위치할 수 없게 되며 단자밀림 검사 장치(10)는 일차적으로 이를 검사하여 메일단자(21)의 물리적 변형여부를 검사한다.

이때 단자밀림 검사 장치(10)를 이와 같은 메일단자(21)의 손상이 검지되는 경우 더 이상 검사를 진행하지 않는다.

제2 검사위치는 메일단자(21)가 수용된 공간으로 단자정렬부(500) 및 제2 검사공간(110)이 위치하여, 메일단자(21)의 일 말단이 제1 검사공간(510)을 관통하여 제2 검사공간(110)에 배치된 상태의 커넥터안착부(200)의 위치로 메일단자(21)와 제2 검사공간(110)에 형성되는 회로검사핀(120)의 접촉여부를 통해 메일단자(21)의 밀림여부를 검사한다.

이때 제2 검사공간(110)에는 회로검사핀(120)의 위치를 조정하는 방지블록(111)이 형성되어 복수의 회로검사핀(120)이 일정한 위치에 배치되도록 한다. 구체적으로 방지블록(111)에는 제1 관통홀(511)과 연통되는 제2 관통홀(112)이 배치되고, 제2 관통홀(112)의 일 측으로는 제1 관통홀(511)을 관통하여 메일단자(21)의 일 말단이 삽입되고, 타 측으로는 회로검사핀(120)이 삽입되되 방지블록(111)의 일 측면에 스토퍼(123)가 접촉되도록 하여 정위치에 위치하는 회로검사핀(120a)의 접촉부(122) 뿐만 아니라 밀림이 발생한 회로검사핀(120b)의 접촉부(122) 또한 일정한 위치에 배치되도록 한다.

이때 접촉부(122)는 행정거리에서 신축 가능하도록 탄성력을 가져 밀림이 발생한 회로검사핀(120b)에 추가 하중이 발생하지 않도록 하여 회로검사핀(120b)의 손상을 방지하며, 단자밀림 검사 장치(10)의 내구성을 향상시킨다.

따라서 본 발명의 단자밀림 검사 장치(10)는 밀림이 발생한 메일단자(22)뿐만 아니라 회로검사핀(120)에도 밀림이 발생한 경우에도 메일단자(22)의 밀림여부를 정확하게 측정할 수 있도록 하여 단자밀림 검사 장치(10)의 정확도를 향상시킨다.

레일부(300)는 커넥터안착부(200)와 연결되어 커넥터안착부(200)가 초기위치, 제1 검사위치 및 제2 검사위치 사이를 원활하게 이동되도록 하며, 레일부(300)의 하측으로 커넥터안착부(200)를 지지하는 가이드부(400)가 형성되어 보다 안정적으로 커넥터안착부(200)를 이동시킨다. 따라서 커넥터안착부(200)에 안착 고정된 메일커넥터(20)는 보다 정확한 위치로 이동가능하여 검사 과정에서 발생할 수 있는 손상을 최소화한다.

이때 가이드부(400)의 상측으로 커넥터안착부(200)의 이동 방향으로 가이드하는 가이드돌기(410)가 형성되어 메일커넥터(20) 이동의 안정성을 보다 향상시킨다. 따라서 커넥터안착부(200)의 저면에는 가이드돌기(410)와 결합되는 가이드홈(220)이 형성된다.

단자정렬부(500)는 검사블록(100)의 일 측에 형성되어 메일단자(21)의 밀림여부 검사에 앞서 메일단자(21)의 휨 등과 같은 물리적인 손상여부를 검사한다. 메일단자(21)에 물리적인 손상이 발생된 경우 회로검사핀(120)과 접촉 또는 피메일커넥터(30)와 결합 시 회로검사핀(120) 및 피메일커넥터(30)에 추가적인 손상을 발생시킬 수 있으므로 밀림여부를 앞서 검사하는 것이 바람직하다.

따라서 단자정렬부(500)는 방지블록(111)의 전방에 배치되어 메일단자(21)가 제1 검사위치에서 휨여부를 먼저 검사할 수 있도록 하고, 복수의 메일단자(21)의 배치 패턴과 동일한 패턴을 갖는 제1 관통홀(511)이 형성되고, 제1 관통홀(511)은 제2 관통홀(112)과 연통되도록 형성된다.

디스플레이부(600)는 검사블록(100)과 연결되어 복수의 회로검사핀(120)으로부터 전기적인 신호를 전달받아 메일단자(21)의 밀림여부를 작업자가 육안으로 확인할 수 있도록 표시한다.

다시 말해 복수의 회로검사핀(120)은 메일단자(21)와 통전여부를 전기적인 신호로 받는 제어부(미도시)와 연결되고, 제어부는 다시 디스플레이부(600)와 연결되어 작업자가 보다 쉽게 검사 결과를 인지할 수 있도록 미리 설정된 형식으로 표시한다.

구체적으로, 도 7에 도시된 바와 같이, 메일단자(21)의 밀림이 발생되지 않은 경우에는 화면에 PASS가 표시되고, 메일단자(21)의 밀림이 발생되는 경우에는 복수의 메일단자(21) 중 어느 메일단자(21)에 밀림이 발생하였는지 표시해준다.

따라서 본 발명의 단자밀림 검사 장치(10)는 회로검사장치의 접촉부(122)의 위치를 제한하여 메일단자(21)의 밀림 측정의 정확도를 향상시키고, 접촉부(122)가 탄성력에 의해 행정거리에서 신축 가능하도록 하여 검사 과정에서 메일단자(21) 및 회로검사핀(120)에 발생할 수 있는 손상을 최소화한다.

이에 따라 단자밀림 검사 장치(10)의 정확도를 향상시키며 궁극적으로는 메일커넥터(20)의 신뢰성 및 내구성을 향상시키는 목적을 달성한다.

도 8은 제2 검사 위치에서 피메일단자(31)와 회로검사핀(120)의 위치를 도시한 도면이다.

피메일커넥터(30)의 경우 메일커넥터(20)와 달리 피메일단자(31)가 피메일커넥터(30)의 내부에 수용되어 외측으로 노출되지 않는다. 따라서 피메일단자(31)의 밀림여부를 검사하는 경우에는 스토퍼(123)가 피메일커넥터(30)의 일 측에 접촉되도록 하여 피메일단자(31)의 내부로 일정 거리 삽입되어 위치할 수 있도록 함으로써, 회로검사핀(120)에 밀림이 발생된 경우에도 피메일단자(31)의 밀림여부가 정확히 측정될 수 있도록 한다.

다시 말해 피메일단자(31)의 밀림여부를 검사하는 경우에는 단자정렬부(500) 및 방지블록(111)을 필요로하지 않으며, 접촉부(122)의 일 말단부에 스토퍼(123)가 돌출 형성된 것만으로도 복수의 회로검사핀(120)의 복수의 피메일단자(31) 내부의 일정한 위치에 위치할 수 있다.

이상에서는 본 발명의 바람직한 실시 예를 예시적으로 설명하였으나, 본 발명의 범위는 이와 같은 특정 실시 예에만 한정되는 것은 아니며, 특허청구범위에 기재된 범주 내에서 적절하게 변경 가능한 것은 본 발명의 보호범위에 해당한다.

1 종래 검사 장치 2 단자 3 검사핀
10 단자밀림 검사 장치
100 검사블록 110 제2 검사공간 111 방지블록
112 제2 관통홀 120 회로검사핀
120a 정위치에 위치하는 회로검사핀 120b 밀림이 발생한 회로검사핀
121 고정부 122 접촉부 123 스토퍼
200 커넥터안착부 210 안착공간 220 가이드홈
300 레일부 400 가이드부 410 가이드돌기
500 단자정렬부 510 제1 검사공간 511 제1 관통홀
600 디스플레이부
20 메일커넥터
21 메일단자 22 밀림이 발생한 메일단자
30 피메일커넥터 31 피메일단자

Claims (5)

1. 복수의 회로검사핀이 내부에 설치되고, 일 측에 방지블록이 형성된 메일타입 검사블록;
   커넥터가 상기 검사블록에 대향되어 배치될 수 있도록 상기 검사블록의 일 측에 형성된 커넥터안착부; 및
   상기 커넥터안착부가 초기 위치와 검사 위치 사이에서 이동되도록 상기 커넥터안착부의 일 측에 형성되는 레일부;를 포함하고,
   상기 회로검사핀은
   상기 검사블록에 고정되는 고정부;
   상기 커넥터의 내부 단자에 접촉되고, 신축가능하도록 탄성력을 가지는 접촉부; 및
   상기 방지블록에 접하도록 상기 접촉부의 일 측에 형성되어 복수의 상기 접촉부의 각 말단이 동일 위치에 배치되도록 조정하는 스토퍼;로 형성되는 것을 특징으로 하는 단자밀림 검사 장치.
   
2. 삭제
3. 삭제
4. 제1항에 있어서,
   상기 커넥터는
   메일커넥터로 형성되고,
   상기 검사블록에 부착되어 상기 단자의 휨여부를 검사하는 단자정렬부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 단자밀림 검사 장치.
   
5. 제1항에 있어서,
   상기 회로검사핀에 연결되어 상기 단자의 밀림여부를 전기적 신호로 전달받아 표시하는 디스플레이부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 단자밀림 검사 장치.

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