CN113484552A - 一种飞针测试装置及其快速定位装置 - Google Patents

一种飞针测试装置及其快速定位装置 Download PDF

Info

Publication number
CN113484552A
CN113484552A CN202110757892.XA CN202110757892A CN113484552A CN 113484552 A CN113484552 A CN 113484552A CN 202110757892 A CN202110757892 A CN 202110757892A CN 113484552 A CN113484552 A CN 113484552A
Authority
CN
China
Prior art keywords
circuit board
flying probe
testing
bottom plate
flying
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
CN202110757892.XA
Other languages
English (en)
Inventor
李东影
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kunshan Jingmei Electronic Technology Co ltd
Original Assignee
Kunshan Jingmei Electronic Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kunshan Jingmei Electronic Technology Co ltd filed Critical Kunshan Jingmei Electronic Technology Co ltd
Priority to CN202110757892.XA priority Critical patent/CN113484552A/zh
Publication of CN113484552A publication Critical patent/CN113484552A/zh
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/16Magnets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
    • G01R35/005Calibrating; Standards or reference devices, e.g. voltage or resistance standards, "golden" references

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

本发明公开了一种飞针测试装置及其快速定位装置,包括:与待测电路板相正对的飞针测试机本体,所述飞针测试机本体用于承载飞针快速定位装置,所述飞针测试机本体朝向待测电路板的一端固定连接有底板,所述待测电路板上排列有多个需要进行测试的元件针脚;设置在底板上表面的可滑动的测试电路板,所述测试电路板朝向待测电路板的一端安装有多个用于测试元件针脚的测试针脚;滑动机构,所述滑动机构设置在底板与测试电路板之间。本装置结构简单,由于具有较好的容错率,从而对于不同的设计电路板均可进行良好的检测,且能够在检测针脚的过程中自我检验飞针测试机的本身误差范围,可以提供数据进行设备维修。

Description

一种飞针测试装置及其快速定位装置
技术领域
本发明属于印刷电路板测试技术领域,尤其涉及一种飞针测试装置及其快速定位装置。
背景技术
飞针测试机用来测试电路板,分为两大类,一类是测试PCB,另一类是测试PCBA,测试PCB的飞针测试机是针对元件布置高密度、层数多、布线密度大、测点距离小的PCB板(印刷电路板)进行测试的一种仪器,主要测试线路板的绝缘和导通值,测试仪一般采用“真值比较定位法”,能对测试过程和故障点进行实时监控。
电路板的体积小,电路板上需要测试的针脚更加的小,且各排针脚的位置各不相同,在进行测试的时候,由于每个针脚相互之间的距离十分近,当测试装置移动一个单位时出现了偏差,在多个针脚测试之后,误差会越来越大,最后会直接导致测试位置出错,出现重复测试或者遗漏的问题,故而我们需要一种具有纠正效果的飞针测试装置及快速定位装置。
发明内容
基于背景技术存在的技术问题,本发明提出了一种飞针测试装置及其快速定位装置。
本发明提出的一种飞针测试装置及其快速定位装置,包括:
与待测电路板相正对的飞针测试机本体,所述飞针测试机本体用于承载飞针快速定位装置,所述飞针测试机本体朝向待测电路板的一端固定连接有底板,所述待测电路板上排列有多个需要进行测试的元件针脚;
设置在底板上表面的可滑动的测试电路板,所述测试电路板朝向待测电路板的一端安装有多个用于测试元件针脚的测试针脚;
滑动机构,所述滑动机构设置在底板与测试电路板之间,所述滑动机构用于实现测试电路板在底板上的滑动;
纠错机构,所述纠错机构设置在底板上位于测试电路板的一侧,所述纠错机构用于纠正飞针测试机本体移动过程中位置的偏差。
优选地,所述滑动机构包括固定安装在测试电路板上表面的第一滑条和第二滑条,所述第二滑条设置在两个第一滑条之间,所述底板上设置有凹槽,所述凹槽的内壁上还设置有滑槽,两个所述第一滑条分别可滑动的安置在两个滑槽内,所述凹槽的内壁上设置有弹性机构,所述第二滑条的一端通过弹性机构与凹槽的内壁连接。
优选地,所述弹性机构包括弹簧、第二活动套和第一活动套,所述第一活动套插设在第二活动套内,所述第二活动套与底板固定连接,所述第一活动套与第二滑条固定连接,所述弹簧设置在第二活动套和第一活动套内,且两端分别与底板、第二滑条固定连接。
优选地,所述纠错机构包括固定安装在底板上的固定轴和与固定轴固定连接的固定块,所述固定轴远离固定块的一端设置有纠错针脚,所述固定块内卡接有电磁铁,所述电磁铁的一侧设置有两个连接点,其中一个所述连接点通过第一导线与纠错针脚电连接,另一个所述连接点外接飞针测试机的测试装置,所述测试电路板上与电磁铁正对的位置设置有可相互吸引的磁性金属块。
优选地,所述固定轴朝向测试电路板的一侧设置有隔离垫,所述隔离垫的材质为绝缘防腐橡胶。
优选地,所述固定块内开设有卡槽,所述电磁铁卡接在卡槽内,所述电磁铁同时也镶嵌在底板的表面上。
优选地,所述隔离垫与最近位置的测试针脚之间的距离小于一个元件针脚的长度,且大于相邻两个元件针脚之间的长度。
优选地,所述第一导线的一端与电磁铁电连接,所述第一导线的另一端穿过固定块、固定轴与纠错针脚电连接。
本发明提出的一种飞针测试装置及其快速定位装置,包括:所述的飞针快速定位装置。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
1、本装置利用电磁铁在通电之后具有磁性的效果,使得当测试针脚由于快速检测而出现偏差问题时,电磁铁吸引磁性金属块,磁性金属块与测试电路板同步移动,将测试针脚拉至正确的位置,然对后面整体的检测位置进行纠正,通过提高容错率来提高检测和定位的速度;
2、本装置结构简单,由于具有较好的容错率,从而对于不同的设计电路板均可进行良好的检测,且能够在检测针脚的过程中自我检验飞针测试机的本身误差范围,可以提供数据进行设备维修。
附图说明
图1为本发明提出的一种飞针测试装置及其快速定位装置的结构示意图;
图2为本发明提出的一种飞针测试装置及其快速定位装置的部分立体结构示意图;
图3为图1中A处的结构放大图。
图中:1飞针测试机本体、2待测电路板、3元件针脚、4测试电路板、5底板、6第一滑条、7滑槽、8第二滑条、9测试针脚、10磁性金属块、11固定轴、12隔离垫、13第一导线、14电磁铁、15固定块、16第二导线、17凹槽、18纠错针脚、19第一活动套、20第二活动套、21弹簧。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。
参照图1-3,一种飞针测试装置及其快速定位装置,包括:与待测电路板2相正对的飞针测试机本体1,飞针测试机本体1用于承载飞针快速定位装置,飞针测试机本体1朝向待测电路板2的一端固定连接有底板5,待测电路板2上排列有多个需要进行测试的元件针脚3;设置在底板5上表面的可滑动的测试电路板4,测试电路板4朝向待测电路板2的一端安装有多个用于测试元件针脚3的测试针脚9;滑动机构,滑动机构设置在底板5与测试电路板4之间,滑动机构用于实现测试电路板4在底板5上的滑动;纠错机构,纠错机构设置在底板5上位于测试电路板4的一侧,纠错机构用于纠正飞针测试机本体1移动过程中位置的偏差;
滑动机构包括固定安装在测试电路板4上表面的第一滑条6和第二滑条8,第二滑条8设置在两个第一滑条6之间,底板5上设置有凹槽17,凹槽17的内壁上还设置有滑槽7,两个第一滑条6分别可滑动的安置在两个滑槽7内,凹槽17的内壁上设置有弹性机构,第二滑条8的一端通过弹性机构与凹槽17的内壁连接,当飞针测试机本体1的定位出现偏差的时候,测试电路板4在底板5的表面上可以移动,在纠错机构的作用下,测试电路板4进行移动,纠正飞针测试机本体1定位的错误,第一滑条6在滑槽7的范围内可以自由的移动,但是由于中间设置的第二滑条8一侧设置有弹性机构,弹性机构控制着测试电路板4不能随意的移动;
弹性机构包括弹簧21、第二活动套20和第一活动套19,第一活动套19插设在第二活动套20内,第二活动套20与底板5固定连接,第一活动套19与第二滑条8固定连接,弹簧21设置在第二活动套20和第一活动套19内,且两端分别与底板5、第二滑条8固定连接,弹性机构中的弹簧21具有弹力,测试电路板4在不受外力作用的情况下,弹性机构通过第二滑条8保持对测试电路板4的抵压,测试电路板4将保持稳定,反之如若测试电路板4受到外力作用,则测试电路板4将会克服弹性机构的弹力横向移动;
纠错机构包括固定安装在底板5上的固定轴11和与固定轴11固定连接的固定块15,固定轴11远离固定块15的一端设置有纠错针脚18,固定块15内卡接有电磁铁14,电磁铁14的一侧设置有两个连接点,其中一个连接点通过第一导线13与纠错针脚18电连接,另一个连接点外接飞针测试机的测试装置,测试电路板4上与电磁铁14正对的位置设置有可相互吸引的磁性金属块10,当飞针测试机的测试装置定位偏差较大的时候,纠错针脚18和测试针脚9会同时接触到一个元件针脚3,则固定轴11、第二导线16和测试针脚9之间就会形成一个回路,该回路通电时,说明了测试针脚9定位偏差较大,需要进行矫正,电磁铁14通电之后会带有磁性,电磁铁14与磁性金属块10磁性相吸,测试电路板4克服弹性机构顺着滑动机构移动,测试针脚9将会被拉至正确的位置,然后再进行电路测试;
固定轴11朝向测试电路板4的一侧设置有隔离垫12,隔离垫12的材质为绝缘防腐橡胶,测试电路板4向固定轴11靠近的时候需要避免直接接触,直接接触过程中会有金属材质的接触,可能出现短路现象,固定块15内开设有卡槽,电磁铁14卡接在卡槽内,电磁铁14同时也镶嵌在底板5的表面上,卡槽用于固定电磁铁14在固定块15上的位置,隔离垫12与最近位置的测试针脚9之间的距离小于一个元件针脚3的长度,且大于相邻两个元件针脚3之间的长度,已知元件针脚3本身的宽度大于相邻两个元件针脚3之间的距离,第一导线13的一端与电磁铁14电连接,第一导线13的另一端穿过固定块15、固定轴11与纠错针脚18电连接。
按照飞针测试机的设定程序对待测电路板2上的各个元件针脚3进行测试,当飞针测试机本体1移动至相应位置的时候,飞针测试机本体1带动底板5伸缩,测试电路板4一端的测试针脚9与相应的元件针脚3正对,如若各个测试针脚9与元件针脚3之间的位置正确,则飞针测试机能够良好正确的检测出电信号,确认元件针脚3是否正常,如若飞针测试机本体1的移动检测顺序为从左向右,则测试针脚9设置在测试电路板4的最左侧位置,如若飞针测试机本体1的移动检测顺序为从右向左,则测试针脚9设置在测试电路板4的最右侧位置,弹性机构与测试针脚9位于同一侧位置,由于多个测试针脚9同时对元件针脚3进行检测,则正确的电路检测过程中,固定轴11一端的纠错针脚18处于悬空状态,或者与元件针脚3接触但是处于断路的状态;
当飞针测试机本体1定位不准确的时候,测试针脚9应该与元件针脚3接触而不接触的时候,则说明本飞针测试机的本身定位系统存在严重误差,需要重新设定程序或者返厂维修,如若在多次正确测试之后,相邻两个单位的移动间距误差在多次测试之后被放大时,会出现测试针脚9与最近位置的测试针脚9接触同一个元件针脚3的现象,这说明了测试针脚9虽然能够进行正常的测试,但是由于误差偏移过大,测试针脚9定位在元件针脚3的边缘位置,随时会出现元件针脚3的检测遗漏或者重复的问题,此时则需要进行矫正;
由于电磁铁14、元件针脚3和测试针脚9之间形成了电路通路,通电后的电磁铁14具有磁性,对磁性金属块10具有吸引力,在该吸引力的作用下,测试电路板4会朝向固定轴11移动,测试电路板4上安装的第一滑条6顺着滑槽7滑动,同时第二滑条8将克服弹性机构中的弹力,移动后的测试针脚9能够准确的与相应位置的元件针脚3接触;
当飞针测试机经过一次纠错机构纠错的时候,则说明了后面的检测位置需要进行纠正,飞针测试机本体1需要带动底板5向固定轴11的方向移动一个长度单位,该长度单位为隔离垫12与磁性金属块10之间的距离,该距离为边角距离非中心点距离,从而具有纠正效果的定位装置,在保证准确定位测试的情况下,可以通过提高容错率来更加快速的进行定位,经过纠正的飞针测试机在下次检测的时候可以直接兼容上一次检测结果,直接调整检测过程中的位移,具有了自我更新的作用。
本发明还提供了一种飞针测试装置,包括上述的一种飞针快速定位装置,使用上快速定位装置的飞针测试装置能够在保证测试准确性的情况下,提高测试的速度。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种飞针快速定位装置,其特征在于,所述飞针快速定位装置包括:
与待测电路板(2)相正对的飞针测试机本体(1),所述飞针测试机本体(1)用于承载飞针快速定位装置,所述飞针测试机本体(1)朝向待测电路板(2)的一端固定连接有底板(5),所述待测电路板(2)上排列有多个需要进行测试的元件针脚(3);
设置在底板(5)上表面的可滑动的测试电路板(4),所述测试电路板(4)朝向待测电路板(2)的一端安装有多个用于测试元件针脚(3)的测试针脚(9);
滑动机构,所述滑动机构设置在底板(5)与测试电路板(4)之间,所述滑动机构用于实现测试电路板(4)在底板(5)上的滑动;
纠错机构,所述纠错机构设置在底板(5)上位于测试电路板(4)的一侧,所述纠错机构用于纠正飞针测试机本体(1)移动过程中位置的偏差。
2.根据权利要求1所述的一种飞针快速定位装置,其特征在于,所述滑动机构包括固定安装在测试电路板(4)上表面的第一滑条(6)和第二滑条(8),所述第二滑条(8)设置在两个第一滑条(6)之间,所述底板(5)上设置有凹槽(17),所述凹槽(17)的内壁上还设置有滑槽(7),两个所述第一滑条(6)分别可滑动的安置在两个滑槽(7)内,所述凹槽(17)的内壁上设置有弹性机构,所述第二滑条(8)的一端通过弹性机构与凹槽(17)的内壁连接。
3.根据权利要求2所述的一种飞针快速定位装置,其特征在于,所述弹性机构包括弹簧(21)、第二活动套(20)和第一活动套(19),所述第一活动套(19)插设在第二活动套(20)内,所述第二活动套(20)与底板(5)固定连接,所述第一活动套(19)与第二滑条(8)固定连接,所述弹簧(21)设置在第二活动套(20)和第一活动套(19)内,且两端分别与底板(5)、第二滑条(8)固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种飞针快速定位装置,其特征在于,所述纠错机构包括固定安装在底板(5)上的固定轴(11)和与固定轴(11)固定连接的固定块(15),所述固定轴(11)远离固定块(15)的一端设置有纠错针脚(18),所述固定块(15)内卡接有电磁铁(14),所述电磁铁(14)的一侧设置有两个连接点,其中一个所述连接点通过第一导线(13)与纠错针脚(18)电连接,另一个所述连接点外接飞针测试机的测试装置,所述测试电路板(4)上与电磁铁(14)正对的位置设置有可相互吸引的磁性金属块(10)。
5.根据权利要求4所述的一种飞针快速定位装置,其特征在于,所述固定轴(11)朝向测试电路板(4)的一侧设置有隔离垫(12),所述隔离垫(12)的材质为绝缘防腐橡胶。
6.根据权利要求4所述的一种飞针快速定位装置,其特征在于,所述固定块(15)内开设有卡槽,所述电磁铁(14)卡接在卡槽内,所述电磁铁(14)同时也镶嵌在底板(5)的表面上。
7.根据权利要求5所述的一种飞针快速定位装置,其特征在于,所述隔离垫(12)与最近位置的测试针脚(9)之间的距离小于一个元件针脚(3)的长度,且大于相邻两个元件针脚(3)之间的长度。已知元件针脚(3)本身的宽度大于相邻两个元件针脚(3)之间的距离。
8.根据权利要求4所述的一种飞针快速定位装置,其特征在于,所述第一导线(13)的一端与电磁铁(14)电连接,所述第一导线(13)的另一端穿过固定块(15)、固定轴(11)与纠错针脚(18)电连接。
9.一种飞针测试装置,其特征在于,包括权利要求1-8中任意一项所述的飞针快速定位装置。
CN202110757892.XA 2021-07-05 2021-07-05 一种飞针测试装置及其快速定位装置 Withdrawn CN113484552A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110757892.XA CN113484552A (zh) 2021-07-05 2021-07-05 一种飞针测试装置及其快速定位装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110757892.XA CN113484552A (zh) 2021-07-05 2021-07-05 一种飞针测试装置及其快速定位装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN113484552A true CN113484552A (zh) 2021-10-08

Family

ID=77940292

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110757892.XA Withdrawn CN113484552A (zh) 2021-07-05 2021-07-05 一种飞针测试装置及其快速定位装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113484552A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117406068A (zh) * 2023-12-13 2024-01-16 合肥中航天成电子科技有限公司 一种陶瓷封壳检测装置及方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117406068A (zh) * 2023-12-13 2024-01-16 合肥中航天成电子科技有限公司 一种陶瓷封壳检测装置及方法
CN117406068B (zh) * 2023-12-13 2024-02-20 合肥中航天成电子科技有限公司 一种陶瓷封壳检测装置及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100670115B1 (ko) 핑거 테스터용 테스트 프로브 및 이에 따른 핑거 테스터
CN100454032C (zh) 检测无元件型印刷电路板的方法
CN105938160B (zh) 阻抗测试装置
KR20190014863A (ko) 검사프로브 및 이를 사용한 검사장치
KR101337911B1 (ko) 인쇄 회로 기판을 테스트하는 방법
KR101195678B1 (ko) 회로 기판의 검사 방법 및 검사 장치
KR20160128303A (ko) 캘빈 브리지를 이용한 집적회로(ic)의 시험 소켓
CN113484552A (zh) 一种飞针测试装置及其快速定位装置
JPH1164426A (ja) プリント基板の検査装置およびプリント基板の検査 装置の組み立てキット
US8536875B2 (en) Testing flex and APFA assemblies for hard disk drives
TWI427297B (zh) 基板檢查用之檢查治具
JP4024023B2 (ja) 電子部品測定装置及び方法
KR20180130687A (ko) 전자 소자 검사용 프로브
EP2866036A1 (en) Screwless contact spring exchange
JPH048381Y2 (zh)
KR101662951B1 (ko) 푸쉬 플레이트가 있는 프로브 카드
CN208506083U (zh) 三自由度检测装置
US6940298B2 (en) High fidelity electrical probe
US9274166B2 (en) Pin verification device and method
US20060139045A1 (en) Device and method for testing unpackaged semiconductor die
JP4886422B2 (ja) 四端子測定用プローブ
JP2014071091A (ja) プローブユニットおよび検査装置
CN112710900A (zh) 贴片电阻检测装置
KR20170046125A (ko) 프로브 정렬
CN221746225U (zh) 一种测试弹片及测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WW01 Invention patent application withdrawn after publication

Application publication date: 20211008

WW01 Invention patent application withdrawn after publication