KR102188174B1

KR102188174B1 - 프로브핀에 의해 디스플레이 패널을 검사하는 소켓장치

Info

Publication number: KR102188174B1
Application number: KR1020200122185A
Authority: KR
Inventors: 이용관; 김동현
Original assignee: 주식회사 프로이천
Priority date: 2020-09-22
Filing date: 2020-09-22
Publication date: 2020-12-08

Abstract

본 발명은 프로브핀에 의해 디스플레이 패널을 검사하는 소켓장치에 관한 것으로서, 검사할 디스플레이 패널의 검사용 커넥터를 안치하는 몸체; 상기 몸체 일측에 개폐되도록 장착되되, 폐쇄 시 상기 디스플레이 패널의 검사용 커넥터를 통해 상기 디스플레이 패널을 검사하도록 되어 있는 덮개; 및 상기 디스플레이 패널 검사 시 상기 검사용 커넥터에 접속하도록 상기 덮개 내에 장착되어, 상기 검사용 커넥터와의 접속을 통해 상기 디스플레이 패널을 검사하는 프로브핀;을 포함하여 이루어지며, 상기 프로브핀은, 상기 덮개에 끼워지도록 칼날 모양으로 형성된 몸체편; 상기 몸체편의 상기 검사용 커넥터측 말단에 형성된 탐지단자; 및 상기 몸체편의 상기 검사용 커넥터 대향측 말단에 형성된 연결단자;를 포함하여 이루어지되, 상기 몸체편은 횡으로 연장된 외팔편의 자유단에 상기 탐지단자를 형성하여, 상기 탐지단자가 상기 검사용 커넥터에 접속할 때 접속하는 방향 또는 이격되는 반대방향으로 탄성을 갖게 하며, 프로브핀과 검사용 커넥터가 파손되지 않으면서, 접속이 안정적으로 유지되도록 할 수 있게 된다.

Description

프로브핀에 의해 디스플레이 패널을 검사하는 소켓장치{Socket Device that Inspects Display Panel by Probe Pin}

본 발명은 프로브핀에 의해 디스플레이 패널을 검사하는 소켓장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 휴대폰 등의 디스플레이 패널의 양부를 검사할 때, 덮개의 프로브핀과 검사대상인 디스플레이 패널의 커넥터가 서로 접속될 때 파손을 일으키지 않도록 하는 프로브핀에 의해 디스플레이 패널을 검사하는 소켓장치에 관한 것이다.

일반적으로 전자기기의 기판 등으로 사용되는 디스플레이 패널은 납작한 형태로 제조되어 대표적으로 슬림한 형태의 휴대폰 등에 조립되어 사용되고 있다.

이러한 디스플레이 패널은 제조된 뒤 불량 검사를 위해 검사용 소켓장치로 옮겨져 정상여부를 검사해야만 한다.

이를 위한 검사용 소켓장치는 다양한 방식이 이용되어 왔는데, 디스플레이 패널이 안착되도록 안착홈이 형성되어, 디스플레이 패널이 안착홈에 안착된 상태로 디스플레이 패널의 커넥터에 연결보드를 연결하면, 연결보드의 단자와 디스플레이 패널의 커넥터가 서로 암수결합되어 도통되도록 하여 디스플레이 패널을 검사할 수 있도록 하는 방식이 이용되어왔다.

그러나 위와 같은 검사용 소켓장치는 단자와 커넥터가 서로 고정된 상태로 위치하므로, 단자와 커넥터를 연결할 때 연결보드를 결합하는 힘이 과도하면 단자 또는 커넥터가 파손될 수 있는 문제점이 있었다.

따라서 위의 검사용 소켓장치의 문제점을 해결하고자 국내특허등록번호 10-0793699호의 검사용 소켓장치의 도 1b에서는, 덮개에 포고핀을 장착하여 포고핀을 디스플레이 패널의 커넥터에 암수결합되어 도통되도록 하여 디스플레이 패널을 검사할 수 있도록 하는 방식이 이용되었다.

그러나 위와 같은 검사용 소켓장치는 덮개의 포고핀과 디스플레이 패널의 커넥터가 서로 암수결합되어 끼워지므로, 접하는 부분이 마모될 수 있어 장기간 사용하면 커넥터가 닳아 끼워지지 않거나, 서로 접속하지 않아 도통이 불량하게 되는 문제점이 있었다.

한국등록특허공보 KR 10-0793699

본 발명은 위와 같은 종래의 프로브핀에 의해 디스플레이 패널을 검사하는 소켓장치가 가지고 있는 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로서, 그 목적은 프로브핀의 덮개 측 단자와 디스플레이 패널의 커넥터의 접속으로 인해 프로브핀 또는 커넥터가 파손되지 않도록 하는 프로브핀에 의해 디스플레이 패널을 검사하는 소켓장치를 제공함에 있다.

이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 프로브핀에 의해 디스플레이 패널을 검사하는 소켓장치는, 검사할 디스플레이 패널의 검사용 커넥터를 안치하는 몸체; 상기 몸체 일측에 개폐되도록 장착되되, 폐쇄 시 상기 디스플레이 패널의 검사용 커넥터를 통해 상기 디스플레이 패널을 검사하도록 되어 있는 덮개; 및 상기 디스플레이 패널 검사 시 상기 검사용 커넥터에 접속하도록 상기 덮개 내에 장착되어, 상기 검사용 커넥터와의 접속을 통해 상기 디스플레이 패널을 검사하는 프로브핀;을 포함하여 이루어지며, 상기 프로브핀은, 상기 덮개에 끼워지도록 칼날 모양으로 형성된 몸체편; 상기 몸체편의 상기 검사용 커넥터측 말단에 형성된 탐지단자; 및 상기 몸체편의 상기 검사용 커넥터 대향측 말단에 형성된 연결단자;를 포함하여 이루어지되, 상기 몸체편은 횡으로 연장된 외팔편의 자유단에 상기 탐지단자를 형성하여, 상기 탐지단자가 상기 검사용 커넥터에 접속할 때 접속하는 방향 또는 이격되는 반대방향으로 탄성을 갖게 한다.

또한, 상기 덮개는 나란히 정렬된 복수의 상기 프로브핀을 끼우기 위해 길고 납작하게 형성된 복수의 핀홈을 구비하는 것이 바람직하다.

또한, 상기 프로브핀은 상기 몸체편이 ㄷ자 모양으로 절곡되되, 상기 몸체편은, 상기 접속 방향과 나란하게 배치되는 종방향 몸체부; 상기 종방향 몸체부 하단에서 횡으로 연장되어, 상기 외팔편을 형성하는 제1 횡방향 몸체부; 및 상기 종방향 몸체부 상단에서 상기 제1 횡방향 몸체부와 같은 방향으로 연장되는 제2 횡방향 몸체부;로 이루어지며, 상기 탐지단자는 상기 제1 횡방향 몸체부의 자유단에 상기 접속 방향으로 연장되고, 상기 연결단자는 상기 제2 횡방향 몸체부의 말단에 상기 이격 방향으로 연장되는 것이 바람직하다.

또한, 상기 종방향 몸체부는 중실로 되어 있고, 상기 제1 및 제2 횡방향 몸체부는 부분 중공으로 되어 있는 것이 바람직하다.

본 발명의 프로브핀에 의해 디스플레이 패널을 검사하는 소켓장치에 따르면, 덮개에 탄력을 가지는 프로브핀을 구비하여 디스플레이 패널의 커넥터와 접하도록 하므로, 프로브핀과 커넥터가 서로 부딛히는 충격으로 인해 파손되는 것을 방지할 수 있는 이점이 있다.

또한, 위와 같이 프로브핀에 의해 충격을 감소시키면서도 탐지단자를 통해 커넥터와의 접속을 안정적으로 유지할 수 있는 이점이 있다.

또한, 프로브핀의 몸체편이 중공으로 된 U자 모양으로 제조되어 몸체편이 짧은 길이로 형성되어도 중실인 경우보다 탄력이 커져 쉽게 휘어지므로, 몸체편의 길이를 짧게 형성할 수 있고, 따라서 디스플레이 패널을 검사할 때, 프로브핀의 저항으로 발생하는 측정 간섭 및 그로 인한 오차 발생을 줄일 수 있는 이점이 있다.

또한, 프로브핀의 몸체편이 판스프링 또는 코일스프링 모양으로 제조되어, 몸체편 전체의 탄력이 증대되므로, 몸체편이 스트레스를 덜 받아 긴 수명을 가질 수 있는 이점이 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 프로브핀에 의해 디스플레이 패널을 검사하는 소켓장치의 사시도.
도 2는 본 발명의 도 1에서 A부분을 확대도시한 확대도.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 프로브핀의 몸체편이 ㄷ자 형태로 되어 있을 때의 모습을 도시한 단면도.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 프로브핀의 몸체편이 U자 모양으로 절곡된 형태로 되어 있을 때의 모습을 도시한 단면도.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 프로브핀의 몸체편이 스프링 모양으로 복수 회 절곡된 모양으로 절곡된 형태로 되어 있을 때의 모습을 도시한 단면도.

이하, 본 발명에 의한 프로브핀에 의해 디스플레이 패널을 검사하는 소켓장치의 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

본 발명은 디스플레이 패널의 불량 검사를 하기 위한 프로브핀에 의해 디스플레이 패널을 검사하는 소켓장치에 관한 것으로서, 우선, 소켓장치(1)에 안착되는 디스플레이 패널(7)을 설명하면, 디스플레이 패널(7)은 도 1에 도시된 바와 같이, 몸체를 이루는 패널부(71), 패널부(71)의 일측에 돌출형성된 돌출부(72) 및 돌출부(72)의 일면에 형성되어 일측으로 후술할 탐지단자(32)와 접속하는 접속단자(73a)가 형성되는 검사용 커넥터(73)로 구성된다.

이러한 디스플레이 패널(7)의 검사용 커넥터(73)를 안치하여 검사하는 소켓장치(1)는 도 1에 도시된 바와 같이, 몸체(10), 덮개(20) 및 프로브핀(30)을 포함하여 이루어진다.

몸체(10)는 도 1에 도시된 바와 같이, 소켓장치(1)의 몸체를 이루는 것으로서, 검사할 디스플레이 패널(7)의 검사용 커넥터(73)를 안치할 수 있도록 안치홈(11)이 형성되며, 후술할 덮개(20)가 일측에 회전가능하도록 힌지결합된다.

덮개(20)는 도 1에 도시된 바와 같이, 장착된 프로브핀(30)이 디스플레이 패널(7)을 검사할 수 있도록 개폐되는 것으로서, 몸체(10)의 일측에 장착되며, 덮개(20)가 몸체(10)에서 개폐가능하다면 다양한 형상으로 형성될 수 있는데, 그 일 예로서, 덮개(20)의 일측을 몸체(10)의 일면에 힌지결합하여, 덮개(20)가 회전하여 개폐될 수 있도록 할 수 있다.

또한, 덮개(20)는 도 2에 도시된 바와 같이, 나란히 정렬된 복수의 프로브핀(30)을 끼우기 위해 길고 좁게 형성된 복수의 핀홈(21)이 형성되어, 프로브핀(30)이 일정한 패턴으로 삽입될 수 있도록 한다.

프로브핀(30)은 도 3에 도시된 바와 같이, 외부에서 디스플레이 패널(7)을 검사할 수 있도록 디스플레이 패널(7)의 검사용 커넥터(73)와의 접속하는 것으로서, 검사용 커넥터(73)에 접속할 수 있도록 덮개(20) 내에 장착되는데, 도 2에 도시된 바와 같이, 일정한 패턴으로 배치되는 검사용 커넥터(73)와 접속할 수 있도록 다수의 프로브핀(30)이 덮개(20)의 내부에 일정한 패턴으로 장착되며, 몸체편(31), 탐지단자(32) 및 연결단자(33)를 포함하여 이루어진다.

몸체편(31)은 덮개(20) 내에 수용되는 부분으로서, 도 3 내지 도 5에 도시된 바와 같이, 덮개(20)의 핀홈(21)에 장착되는데, 예컨데 후술하는 제1 횡방향 몸체부(31b)와 같이, 횡으로 연장된 외팔편의 자유단에 탐지단자(32)가 형성되도록 함으로써 탐지단자(32)가 검사용 커넥터(73)에 접속되는 방향 또는 이격되는 방향으로 탄성을 가지도록 형성할 수 있는데, 이를 위해 다양한 형상으로 가공될 수 있다.

그 일 예로서, 도 3에 도시된 바와 같이, 몸체편(31)은 ㄷ자 모양으로 절곡되며, 종방향 몸체부(31a), 제1 횡방향 몸체부(31b) 및 제2 횡방향 몸체부(31c)로 이루어지도록 형성할 수 있다.

종방향 몸체부(31a)는 접속 방향과 나란하게 배치되는 것으로서, 도 3에 도시된 바와 같이, 중실로 형성되며, 덮개(20)의 내부 즉, 핀홈(21)에 끼워져 덮개(20)의 내부에 고정될 수 있도록 한다.

제1 횡방향 몸체부(31b)는 몸체편(31)에서 하측의 외팔편으로 형성되어 탄력을 가지는 부분으로서, 도 3에 도시된 바와 같이, 종방향 몸체부(31a)의 하단에서 횡으로 연장되며, 중공으로 형성되고, 자유단에 탐지단자(32)와 검사용 커넥터(73a)의 접속 방향으로 탐지단자(32)가 연장되어 위치하며, 탐지단자(32)와 검사용 커넥터(73a)가 접속하여 탐지단자(32)가 가압되게 될 때, 고정되어있는 종방향 몸체부(31a)와 중공의 제1 횡방향 몸체부(31b)의 연결부분을 기준으로 제1 횡방향 몸체부(31b)가 상측으로 휘어지게 되고, 탐지단자(32)와 검사용 커넥터(73a)가 이격되어 탐지단자(32)가 가압되지 않을 때, 휘어졌던 제1 횡방향 몸체부(31b)가 원래 형태로 복귀하게 되어, 제1 횡방향 몸체부(31b)가 탄성을 지니게 된다.

제2 횡방향 몸체부(31c)는 종방향 몸체부(31a) 상단에서 제1 횡방향 몸체부와 같은 방향으로 연장되어 탄력을 가지는 부분으로서, 도 3에 도시된 바와 같이, 종방향 몸체부(31a)의 상단에서 횡으로 연장되며, 중공으로 형성되고, 말단에 탐지단자(32)와 검사용 커넥터(73a)의 이격 방향으로 연결단자(33)가 연장되어 위치하며, 탐지단자(32)와 검사용 커넥터(73a)가 접속하여 가압될 때, 고정되어있는 종방향 몸체부(31a)와 중공의 제2 횡방향 몸체부(31c)의 연결부분을 기준으로 제2 횡방향 몸체부(31c)가 하측으로 휘어지게 되고, 탐지단자(32)와 검사용 커넥터(73a)가 이격되어 탐지단자(32)가 가압되지 않을 때, 휘어졌던 제2 횡방향 몸체부(31c)가 원래 형태로 복귀하게 되어, 제2 횡방향 몸체부(31c)가 탄성을 지니게 된다.

따라서, 도 3과 같이 형성된 프로브핀(30)은 덮개(20)가 덮어져 탐지단자(32)와 검사용 커넥터(73a)가 접속할 때, 탐지단자(32)가 가압되면서 제1 횡방향 몸체부(31b)와 제2 횡방향 몸체부(31c)가 휘어지게 되고, 덮개(20)가 열려 탐지단자(32)와 검사용 커넥터(73a)가 이격될 때, 탐지단자(32)가 가압되지 않게 되면서 제1 횡방향 몸체부(31b)와 제2 횡방향 몸체부(31c)가 복귀하게 되기 때문에, 프로브핀(30)이 탄력을 갖게 되어 탐지단자(32)와 검사용 커넥터(73a)에 과도한 힘이 작용하지 않게 되므로 탐지단자(32)와 검사용 커넥터(73a)가 마모가 줄게 된다.

몸체편(31)의 다른 예로서, 도 4에 도시된 바와 같이, U자 모양으로 절곡되도록 형성할 수 있다.

몸체편(31)을 U자 모양으로 형성하면, 도 4에 도시된 바와 같이, 외팔편을 형성하는 몸체편(31)의 하부의 자유단에 탐지단자(32)가 접속 방향으로 연장되고, 몸체편(31)의 상부 말단에 연결단자(33)가 이격방향으로 연장되어 위치하며, 몸체편(31)의 일 부분을 중공으로 형성하여, 탐지단자(32)와 검사용 커넥터(73a)가 접속하여 가압될 때, 몸체편(31)의 구배진 부분 즉, 중공으로 형성된 일부분이 좁혀지면서 휘어지게 되고, 탐지단자(32)와 검사용 커넥터(73a)가 이격되어 탐지단자(32)가 가압되지 않을 때, 휘어졌던 몸체편(31)의 구배진 부분이 원래 형태로 복귀하게 되어, 몸체편(31)이 탄성을 지니게 된다.

따라서, 도 4과 같이 형성된 프로브핀(30)은 몸체편(31)이 중공으로 형성되어 얇은 면적으로 인해 탄성을 지니게 되므로, 덮개(20)에 장착하여 사용할 때, 탐지단자(32)와 검사용 커넥터(73a)에 과도한 힘이 작용하지 않게 되므로 탐지단자(32)와 검사용 커넥터(73a)가 마모가 줄게 되면서, 탐지단자(32)의 형상에 의해 커넥터(73a)와 안정적인 접속을 유지하게 된다.

또한, 도 3의 프로브핀(30)과 비교할 때 U자 모양으로 짧고 단순한 형상으로 제조되므로, 짧은 길이로 인해 프로브핀(30)에 걸리는 전기적 저항이 적어 디스플레이 패널(7)의 저항값을 측정할 때, 프로브핀(30)의 저항으로 발생하는 간섭이 줄어들게 된다.

또 다른 예로서, 도 5에 도시된 바와 같이, 몸체편(31)이 스프링 모양으로 복수 회 절곡되도록 형성할 수 있다.

몸체편(31)을 스프링 모양으로 형성하면, 도 5에 도시된 바와 같이, 외팔편을 형성하는 몸체편(31)의 하부의 자유단에 탐지단자(32)가 접속 방향으로 연장되고, 몸체편(31)의 상부 말단에 연결단자(33)가 이격방향으로 연장되어 위치하며, 스프링 모양으로 절곡된 몸체편(31)을 중공으로 형성하여, 탐지단자(32)와 검사용 커넥터(73a)가 접속하여 가압될 때, 몸체편(31)의 절곡된 부분 즉, 중공으로 형성된 일부분이 좁혀지면서 휘어지게 되고, 탐지단자(32)와 검사용 커넥터(73a)가 이격되어 탐지단자(32)가 가압되지 않을 때, 휘어졌던 몸체편(31)의 절곡된 부분이 원래 형태로 복귀하게 되어, 몸체편(31)이 탄성을 지니게 된다.

따라서, 도 5와 같이 형성된 프로브핀(30)은 몸체편(31)이 탄성을 지니게 되므로, 덮개(20)에 장착하여 사용할 때, 탐지단자(32)와 검사용 커넥터(73a)에 과도한 힘이 작용하지 않게 되므로 탐지단자(32)와 검사용 커넥터(73a)의 마모가 줄게 되며, 몸체편(31)이 스프링 모양으로 복수 회 절곡되어 형성되므로, 도 4의 프로브핀(30)과 비교할 때, 다수로 절곡된 부분이 휘어지게 되어, U자 형태로 단일로 휘어졌을 때 보다 스트레스를 적게 받으므로 긴 수명을 가질 수 있게 된다.

탐지단자(32)는 도 3에 도시된 바와 같이, 검사용 커넥터(73)의 접속단자(73a)와 접속되어 도통되는 부분으로서, 몸체편(31)의 검사용 커넥터(73)측 말단에 형성되며, 접속단자(73a)의 외면과 탐지단자(32)의 일부분의 면이 면접속되어 도통될 수 있다면, 다양한 형상으로 형성될 수 있는데, 그 일 예로서, 도 3에 도시된 바와 같이, 접속단자(73a)와의 접속면이 2갈래로 갈라지는 형태로 형성되도록 하면, 탐지단자(32)가 접속단자(73a)에 접속될 때 탐지단자(32)의 2갈래 접속면이 접속단자(73a)의 상측을 개재하여 끼우게 되므로, 접속단자(73a)와의 접속이 견고하게 되어 탐지단자(32)와 접속단자(73a)가 접속이 안정적으로 유지되도록 할 수 있게 된다.

연결단자(33)는 도 3에 도시된 바와 같이, 덮개(20) 내부에 위치하는 PCB기판(P)에 연결되는 부분으로서, 몸체편(31)의 검사용 커넥터(73) 대향측 말단에 형성되며, 탐지단자(32)와 접속단자(73a)가 접속되었을 때, 외부의 제어부에서 PCB기판(P)으로 전기신호를 보내면, 연결단자(33)와 연결된 PCB기판(P)에서 보내오는 전기신호를 몸체편(31)과 탐지단자(32)를 통해 접속단자(73a)로 보내 디스플레이 패널(2)에서 인식하고, 인식한 전기신호를 역으로 접속단자(73a)와 도통된 탐지단자(32)와 몸체편(31) 및 연결단자(33)를 통해 PCB기판(P)으로 보내게 되면, 제어부에서 PCB기판(P)으로 받은 전기신호로 디스플레이 패널(2)을 검사할 수 있게 된다.

이상에서 본 발명의 구체적인 실시를 예로 들어 설명하였으나, 이들은 단지 설명의 목적을 위한 것으로 본 발명의 보호 범위를 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것은 본 발명이 속하는 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자에게 자명할 것이다.

1: 소켓장치 7: 디스플레이 패널
10: 몸체 20: 덮개
30: 프로브핀 31: 몸체편
31a: 종방향 몸체부 31b: 제1 횡방향 몸체부
31c: 제2 횡방향 몸체부 32: 탐지단자
33: 연결단자 73: 검사용 커넥터
21: 핀홈 73a: 접속단자

Claims

검사할 디스플레이 패널(7)의 검사용 커넥터(73)를 안치하는 몸체(10);
상기 몸체(10) 일측에 개폐되도록 장착되되, 폐쇄 시 상기 디스플레이 패널(7)의 검사용 커넥터(73)를 통해 상기 디스플레이 패널(7)을 검사하도록 되어 있는 덮개(20); 및
상기 디스플레이 패널(7) 검사 시 상기 검사용 커넥터(73)에 접속하도록 상기 덮개(20) 내에 장착되어, 상기 검사용 커넥터(73)와의 접속을 통해 상기 디스플레이 패널(7)을 검사하는 프로브핀(30);을 포함하여 이루어지며,
상기 프로브핀(30)은,
상기 덮개(20)에 끼워지도록 칼날 모양으로 형성된 몸체편(31);
상기 몸체편(31)의 상기 검사용 커넥터(73)측 말단에 형성된 탐지단자(32); 및
상기 몸체편(31)의 상기 검사용 커넥터(73) 대향측 말단에 형성된 연결단자(33);를 포함하여 이루어지되,
상기 몸체편(31)은 횡으로 연장된 외팔편의 자유단에 상기 탐지단자(32)를 형성하여, 상기 탐지단자(32)가 상기 검사용 커넥터(73)에 접속할 때 접속하는 방향 또는 이격되는 반대방향으로 탄성을 갖게 하는 것을 특징으로 하는 프로브핀을 구비한 프로브핀에 의해 디스플레이 패널을 검사하는 소켓장치.
청구항 1에 있어서,
상기 덮개(20)는 나란히 정렬된 복수의 상기 프로브핀(30)을 끼우기 위해 길고 납작하게 형성된 복수의 핀홈(21)을 구비하는 것을 특징으로 하는 프로브핀을 구비한 프로브핀에 의해 디스플레이 패널을 검사하는 소켓장치.
청구항 1에 있어서,
상기 프로브핀(30)은 상기 몸체편(31)이 ㄷ자 모양으로 절곡되되,
상기 몸체편(31)은,
상기 접속 방향과 나란하게 배치되는 종방향 몸체부(31a);
상기 종방향 몸체부(31a) 하단에서 횡으로 연장되어, 상기 외팔편을 형성하는 제1 횡방향 몸체부(31b); 및
상기 종방향 몸체부(31a) 상단에서 상기 제1 횡방향 몸체부(31b)와 같은 방향으로 연장되는 제2 횡방향 몸체부(31c);로 이루어지며,
상기 탐지단자(32)는 상기 제1 횡방향 몸체부(31b)의 자유단에 상기 접속 방향으로 연장되고,
상기 연결단자(33)는 상기 제2 횡방향 몸체부(31c)의 말단에 상기 이격 방향으로 연장되는 것을 특징으로 하는 프로브핀을 구비한 프로브핀에 의해 디스플레이 패널을 검사하는 소켓장치.
청구항 3에 있어서,
상기 종방향 몸체부(31a)는 중실로 되어 있고,
상기 제1 및 제2 횡방향 몸체부(31c)는 부분 중공으로 되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브핀을 구비한 프로브핀에 의해 디스플레이 패널을 검사하는 소켓장치.