KR102141782B1

KR102141782B1 - 전자 모듈용 폴더형 검사 장치

Info

Publication number: KR102141782B1
Application number: KR1020200047789A
Authority: KR
Inventors: 김광일
Original assignee: 김광일
Priority date: 2020-04-21
Filing date: 2020-04-21
Publication date: 2020-08-05

Abstract

본 발명은 전자 모듈용 폴더형 검사 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 카메라 모듈이나 디스플레이 모듈과 같은 전자 모듈에 전기적으로 접속하여 성능을 검사하기 위한 전자 모듈용 폴더형 검사 장치에 관한 것이다.
본 발명에 의한 전자 모듈용 폴더형 검사 장치는 폴더형 검사 장치의 상측 부재에 설치된 검사 소켓이 검사 대상 제품의 커넥터에 수직 방향으로 접근하여 접속하도록 함으로써 전자 모듈 검사 공정의 품질과 생산성을 향상시키고 전자 모듈용 폴더형 검사 장치의 내구성을 향상시키는 효과가 있다.

Description

전자 모듈용 폴더형 검사 장치{Folder Type Test Apparatus for Electronic Module}

본 발명은 전자 모듈용 폴더형 검사 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 카메라 모듈이나 디스플레이 모듈과 같은 전자 모듈에 전기적으로 접속하여 성능을 검사하기 위한 전자 모듈용 폴더형 검사 장치에 관한 것이다.

휴대 전화에 사용되는 카메라 모듈이나 소형 디스플레이 모듈은 검사 소켓을 이용하여 제품의 커넥터에 전기적으로 접속한 후 제품의 품질이나 정상 작동 여부를 검사하게 된다.

이와 같은 소형 전자 모듈 제품을 검사하는 용도로 폴더형 검사 장치가 널리 사용된다. 상측 부재와 하측 부재를 서로 힌지 결합하고 하측 부재 위에 검사 대상 제품을 배치한 상태에서 상측 부재를 하측 부재에 대해 회전시켜 검사 대상 제품의 커넥터에 전기적으로 접속하고 성능을 검사하게 된다. 이때, 검사 대상 제품의 구조에 따라 검사 대상 제품의 커넥터에 전기적으로 접속하기 위한 검사 소켓은 상측 부재와 하측 부재중 어느 하나에 설치되거나 상측 부재와 하측 부재 양쪽에 검사 소켓이 설치된다.

검사 소켓은 용도와 검사 대상 제품의 특성 등을 고려하여 다양한 형태와 구조가 사용된다. 포고 핀과 같은 프로브 핀을 조합한 형태의 검사 소켓이 사용되기도 하고, 러버나 실리콘 재질의 절연체에 금속 와이어 또는 전극 단자가 삽입된 형태의 러버 커넥터가 검사 소켓으로 사용되기도 한다.

힌지 결합 구조에 의해 폴더형으로 구성된 검사 장치의 상측 부재에 검사 소켓이 배치되는 경우, 검사 소켓과 검사 대상 제품의 커텍터의 접속 과정에서 전기적 또는 기계적 문제점이 발생하는 경우가 많다.

폴더형 검사 장치의 경우 힌지 결합 구조로 인해 상측 부재가 회전하면서 하측 부재에 근접하게 된다. 따라서, 검사 소켓이 검사 대상 제품에 대해 수직 방향으로 접근하는 것이 아니라 기울어진 상태로 회전하면서 접근하게 된다. 따라서, 힌지 회전축에 가까운 위치의 전극부터 순차적으로 검사 소켓과 커넥터 사이에서 접속이 이루어지게 된다. 또한, 접속을 시작하여 상측 부재와 하측 부재가 수평 상태가 되는 과정에서 검사 소켓과 커넥터 사이에 미세한 수평 방향 상대 운동이 발생하게 된다.

이와 같은 폴더형 검사 장치의 작동 방식으로 인해 다양한 문제점이 발생한다. 먼저, 검사 소켓의 전극 단자 부분에 편마모가 발생한다. 힌지축에 가까운 위치의 전극부터 먼저 커넥터에 접촉하는 작동으로 인해 힌지축에 가까운 위치의 검사 소켓 커넥터가 먼저 마모되는 문제점이 발생한다. 이와 같은 작동을 반복하면 검사 소켓 내의 복수의 전극이 전체적으로 완전한 전기적 접속을 하지 못하는 문제점도 발생한다. 이로 인해 검사 과정에서 노이즈 신호가 발생하고 전체적인 검사 공정의 품질과 생산성을 저하시키는 문제점이 발생한다. 또한, 폴더형 검사 장치의 사용 수명이 감소하는 문제점도 발생한다. 경우에 따라서는 상측 부재의 회전에 의한 접속 방식으로 인해 검사 대상 제품의 커넥터에 손상을 일으키기도 한다.

본 발명은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 폴더형 검사 장치의 구조를 개선하여 검사 소켓이 검사 대상 제품의 커넥터에 대해 수직 방향으로 접근하여 전기적 접속하도록 작동하는 구조의 전자 모듈용 폴더형 검사 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 전자 모듈용 폴더형 검사 장치는, 검사 대상 제품이 안착되는 안착부를 구비하는 하측 부재; 상기 하측 부재에 설치되는 제1힌지축; 상기 제1힌지축에 의해 상기 하측 부재에 힌지 결합되는 프레임 형태의 상측 지지 부재; 상기 상측 지지 부재에 설치되는 제2힌지축; 상기 상측 지지 부재에 대한 경사 배치가 가능하도록 상기 제2힌지축에 의해 상기 상측 지지 부재에 힌지 연결되는 검사 몸체부와, 상기 제2힌지축이 삽입될 수 있도록 상기 검사 몸체부에 형성되는 장공 및 상기 하측 부재의 안착부에 안착되는 검사 대상 제품에 전기적으로 접속하도록 상기 검사 몸체부에 설치되는 검사 소켓을 구비하는 상측 검사 부재; 및 상기 상측 지지 부재를 상기 하측 부재에 대해 회전시켜 상기 검사 소켓을 상기 검사 대상 제품에 접속시킬 때 상기 검사 소켓의 상기 검사 대상 제품에 대한 가압력과 상기 검사 몸체부에 형성된 장공에 의해 상기 상측 지지 부재와 상측 검사 부재 사이의 상대 회전을 허용하여 상기 상측 검사 부재의 수평을 유지하도록 상기 상측 지지 부재에 설치되어 상기 검사 몸체부를 회전 가능하게 지지하는 수평 유지 부재;를 포함하는 점에 특징이 있다.

본 발명에 의한 전자 모듈용 폴더형 검사 장치는 폴더형 검사 장치의 상측 부재에 설치된 검사 소켓이 검사 대상 제품의 커넥터에 수직 방향으로 접근하여 접속하도록 함으로써 전자 모듈 검사 공정의 품질과 생산성을 향상시키고 전자 모듈용 폴더형 검사 장치의 내구성을 향상시키는 효과가 있다.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 전자 모듈용 폴더형 검사 장치가 열린 상태의 사시도이다.
도 2는 도 1에 도시된 전자 모듈용 폴더형 검사 장치가 닫힌 상태의 사시도이다.
도 3 내지 도 6은 도 1에 도시된 전자 모듈용 폴더형 검사 장치의 작동을 설명하기 위한 측면도이다.

이하에서는 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명에 의한 전자 모듈용 폴더형 검사 장치에 대하여 상세히 설명한다.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 전자 모듈용 폴더형 검사 장치가 열린 상태의 사시도이고, 도 2는 도 1에 도시된 전자 모듈용 폴더형 검사 장치가 닫힌 상태의 사시도이다.

본 실시예의 전자 모듈용 폴더형 검사 장치는 카메라 모듈이나 소형 디스플레이 모듈과 같은 전자 모듈을 검사하기 위한 장치이다.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 실시예의 전자 모듈용 폴더형 검사 장치는 하측 부재(100)와 상측 지지 부재(200)와 상측 검사 부재(300)와 수평 유지 부재(430)를 포함하여 이루어진다.

하측 부재(100)는 카메라 모듈과 같은 검사 대상 제품이 안착되는 안착부(110)를 구비한다. 안착부(110)는 하측 부재(100)에 오목한 형상의 홈 형태로 형성될 수도 있고, 스프링과 같은 탄성 부재에 의해 하면이 탄성적으로 지지되는 형태로 하측 부재(100)의 본체에 설치될 수도 있다.

상측 지지 부재(200)는 하측 부재(100)에 힌지 결합된다. 제1힌지축(410)이 하측 부재(100)에 설치되고, 상측 지지 부재(200)는 제1힌지축(410)에 대해 회전 가능하게 설치된다.

상측 지지 부재(200)는 도 1 및 도 2에 도시한 것과 같이 사각 프레임 형태로 형성된다. 경우에 따라서는 상측 지지 부재(200)를 U자형 프레임 형태로 구성하는 것도 가능하다.

본 실시예에서 사각 프레임 행태로 형성되는 상측 지지 부재(200)의 내측 공간에는 상측 검사 부재(300)가 배치된다.

상측 검사 부재(300)는 검사 몸체부(310)와 장공(320)과 검사 소켓(330)을 구비한다.

상측 지지 부재(200)에는 제2힌지축(420)이 설치되고, 검사 몸체부(310)는 제2힌지축(420)에 대해 회전 가능하도록 힌지 연결된다. 본 실시예의 경우, 도 1에 도시한 것과 같이 제1힌지축(410)과 제2힌지축(420)이 별도로 마련되지 않고, 하측 부재(100)에 설치된 하나의 힌지축이 제1힌지축(410)과 제2힌지축(420)의 역할을 동시에 수행하도록 구성된 경우를 예로 들어 설명한다. 필요에 따라서 하측 부재와 상측 지지 부재를 연결하는 제1힌지축과 상측 지지 부재와 상측 검사 부재를 연결하는 제2힌지축을 각각 별도로 마련하여 구성하는 것도 얼마든지 가능하다.

검사 몸체부(310)는 상술한 바와 같은 사각 프레임 형태의 상측 지지 부재(200)의 내측에 배치된다. 검사 몸체부(310)에는 도 6에 도시한 것과 같이 본 실시예의 전자 모듈용 폴더형 검사 장치가 닫힌 상태의 위치에서 상하 방향으로 연장되도록 형성되는 장공(320)이 형성된다. 장공(320)에 제2힌지축(420)이 삽입됨으로써, 검사 몸체부(310)는 제2힌지축(420)에 대해 회전이 가능하고 승강도 가능하도록 연결된다. 이와 같은 제2힌지축(420)과 장공(320)의 상호 작용에 의해 검사 몸체부(310)는 상측 지지 부재(200)에 대해 경사 배치가 가능하도록 제2힌지축(420)에 연결된다.

검사 소켓(330)은 검사 몸체부(310)의 하면에 설치된다. 검사 소켓(330)은 검사 대상 제품의 커넥터에 전기적으로 접속하기 위한 구성이다. 검사 소켓(330)은 하측 부재(100)에 배치될 검사 대상 제품의 커넥터에 대응하는 위치에 배치되어 검사 몸체부(310)에 결합된다. 검사 소켓(330)은 포고 핀과 같은 프로브 핀을 조합하여 구성될 수도 있고, MT 패드 등의 다양한 형태의 러버 커넥터를 이용하여 구성될 수도 있다. 공지된 다양한 형태의 소켓이 검사 소켓(330)으로서 사용될 수 있다.

수평 유지 부재(430)는 상측 지지 부재(200)에 설치된다. 본 실시예의 경우 도 1에 도시한 것과 같이 상측 검사 부재(300)의 양측에 각각 하나의 수평 유지 부재(430)가 배치되어 상측 지지 부재(200)에 대해 회전 가능하게 설치된다. 수평 유지 부재(430)의 하면은 평면 형태로 형성되어 상측 검사 부재(300)의 상면에 면접촉하도록 상측 지지 부재(200)에 대해 설치된다. 도 1에 도시한 것과 같이 수평 유지 부재(430)는 제2힌지축(420)으로부터 이격되어 대략적으로 상측 검사 부재(300)의 길이 방향 중앙부에 해당하는 위치에 배치된다. 상측 지지 부재(200)를 하측 부재(100)에 대해 회전시켜 검사 소켓(330)을 검사 대상 제품에 접속시킬 때 검사 대상 제품 작용하는 가압력에 의해 상측 검사 부재(300)는 상측 지지 부재(200)에 대해 상대 회전하게 되는데, 수평 유지 부재(430)는 상측 지지 부재(200)에 대한 상측 검사 부재(300)의 상대 회전을 허용하면서 상측 검사 부재(300)의 상면을 지지하는 역할을 한다.

상측 검사 부재(300)와 상측 지지 부재(200)의 사이에는 틸트 탄성 부재(440)가 설치된다. 도 1에 도시한 것과 같이 본 실시예의 전자 모듈용 폴더형 검사 장치가 열린 상태일 때 틸트 탄성 부재(440)는 상측 검사 부재(300)가 상측 지지 부재(200)에 대해 하측 검사 부재의 방향으로 소정 각도 범위에서 기울어진 상태가 유지되도록 탄성력을 제공한다. 본실시예의 경우 열린 상태에서 상측 검사 부재(300)는 상측 지지 부재(200)에 대해 2.5도 정도 기울어진 상태가 되도록 장공(320)의 길이 및 위치와 수평 유지 부재(430)의 위치가 조정되어 있다.

본 실시예의 경우, 제1힌지축(410)에 설치된 힌지 스프링(440)이 틸트 탄성 부재(440)의 기능을 수행한다. 제1힌지축(410)에 설치된 힌지 스프링(440)은 상측 검사 부재(300)와 하측 부재(100)의 사이에서 상측 검사 부재(300)가 열린 상태가 되도록 탄성력을 제공한다. 이때, 힌지 스프링(440)의 일측 단부는 상측 검사 부재(300)의 검사 몸체부(310)에 걸리도록 설치되고, 힌지 스프링(440)의 타측 단부는 하측 부재(100)에 걸리도록 설치된다. 이와 같이 상측 검사 부재(300)에 걸리도록 배치된 힌지 스프링(440)의 일측 단부의 작용에 의해 상측 지지 부재(200)는 하측 부재(100)에 대해 열린 상태가 되면서 동시에 상측 검사 부재(300)는 상측 지지 부재(200)에 대해 기울어진 상태가 되도록 탄성력을 제공 받는다. 본 실시예의 경우 이와 같이 힌지 스프링(440)이 틸트 탄성 부재(440)의 기능까지 수행하도록 구성되었으나 경우에 따라서는 스프링과 같은 별도의 탄성 부재를 상측 지지 부재(200)와 상측 검사 부재(300)의 사이에 배치하여 상측 검사 부재(300)가 상측 지지 부재(200)에 대해 기울어지 상태가 되도록 탄성력을 제공하는 것도 가능하다.

도 1을 참조하면, 상측 지지 부재(200)는 그 상측 지지 부재(200) 본체의 하부 양측에 각각 하나씩 설치되는 틸트 스토퍼(210)를 더 포함한다. 본 실시예의 경우 틸트 스토퍼(210)는 볼트 형태로 형성되고 볼트의 헤드가 상측 검사 부재(300)의 하면에 걸리도록 설치된다. 틸트 스토퍼(210)는 상측 지지 부재(200)에 대한 상측 검사 부재(300)의 경사 각도를 제한하는 역할을 한다. 상측 검사 부재(300)가 하측 부재(100) 방향으로 회전할 때 그 하면이 틸트 스토퍼(210)에 걸려서 설계에 의해 정해진 각도 이상 상측 지지 부재(200)에 대해 기울어지는 것이 방지된다.

도 1을 참조하면 하측 부재(100)는 수평 스토퍼(120)를 구비한다. 본 실시예의 경우 수평 스토퍼(120)는 하측 부재(100) 본체의 양측단에 배치되고, 상측 검사 부재(300)의 끝부분이 걸리는 위치에 배치된다. 상측 지지 부재(200) 및 상측 검사 부재(300)가 제1힌지축(410)을 중심으로 하측 부재(100) 방향으로 회전할 때 상측 검사 부재(300)가 수평 스토퍼(120)에 먼저 접촉하여 걸림으로써 하측 부재(100)에 대한 상측 검사 부재(300)의 각도가 유지된다. 본 실시예의 경우 수평 스토퍼(120)는 완충 기능을 수행하도록 실리콘과 같은 탄성 재질로 형성된다. 검사 대상 제품의 커넥터와 검사 소켓(330)이 접속하게 되는 각도를 고려하여 검사 소켓(330)이 검사 대상 제품의 커넥터에 원활하게 접속할 수 있도록 상측 검사 부재(300)의 형상과 각도를 고려하여 수평 스토퍼(120)의 높이는 정해진다.

한편, 하측 부재(100)와 상측 검사 부재(300) 중 어느 하나에는 수직 가이드 홀(130)이 형성되고 다른 하나에는 수직 가이드(340)가 형성된다. 수직 가이드(340)는 수직 방향으로 돌출되도록 형성되고, 수직 가이드 홀(130)은 수직 가이드(340)가 삽입되어 수직 방향 승강이 가이드 되도록 수직 방향으로 연장되어 형성된다. 상측 검사 부재(300)가 하측 부재(100)에 근접할 때 수직 가이드(340)은 수직 가이드 홀(130)에 삽입되어 상측 검사 부재(300)가 하측 부재(100)에 대해 수평한 상태를 유지하면서 접근하도록 가이드하는 역할을 한다.

이하, 상술한 바와 같이 구성된 전자 모듈용 폴더형 검사 장치의 작동에 대해 설명한다.

먼저, 도 1 및 도 3에 도시한 것과 같이 본 실시예의 전자 모듈용 폴더형 검사 장치는 열린 상태이다. 이때 힌지 스프링(440)의 탄성력으로 인해 상측 검사 부재(300)의 검사 몸체부(310)의 장공(320)에 인접한 부분은 상측 지지 부재(200)에 대해 근접하는 방향으로 이동된 상태이다. 이때 수평 유지 부재(430)가 검사 몸체부(310)의 상면을 중앙부에서 회전 가능하게 지지하므로 검사 몸체부(310)는 상측 지지 부재(200)에 대해 2.5도 정도 기울어진 상태가 된다. 상측 지지 부재(200)의 틸트 스토퍼(210)는 수평 유지 부재(430)에 대해 장공(320)과 반대쪽 위치에서 검사 몸체부(310)의 하면을 지지하므로, 검사 몸체부(310)가 상측 지지 부재(200)에 대해 2.5도를 초과하는 각도로 기울어지는 것은 방지된다. 참고로 도 3 내지 도 6에서 상측 검사 부재(340)는 가상선으로 표시하였다.

이와 같은 상태로 도 4에 도시한 것과 같이 상측 지지 부재(200)를 하측 부재(100)에 근접하는 방향으로 회전시키면, 상측 지지 부재(200)와 상측 검사 부재(300) 사이의 상대 위치 및 경사 각도는 유지된 상태로 검사 몸체부(310)가 하측 부재(100)의 수평 스토퍼(120)에 접촉하기 시작한다. 검사 몸체부(310)가 수평 스토퍼(120)에 접촉한 후 소정 높이만큼 하강하면 검사 소켓(330)이 검사 대상 제품의 커넥터에 접속하게 된다.

수평 스토퍼(120)의 높이와 검사 소켓(330)의 높이는 수평 스토퍼(120)의 재질, 검사 소켓(330)에서 사용하는 접속 커넥터의 종류, 검사 대상 제품의 커넥터 전극의 재질이나 구조에 따라 적절히 조절될 수 있다. 즉, 검사 몸체부(310)가 먼저 수평 스토퍼(120)에 접촉하도록 전자 모듈용 폴더형 검사 장치를 구성할 수도 있고, 검사 몸체부(310)가 수평 스토퍼(120)에 접촉할 때 검사 소켓(330)도 검사 대상 제품의 커넥터에 접촉하기 시작하도록 전자 모듈용 폴더형 검사 장치를 구성할 수도 있고 있다. 본 실시예의 경우 검사 몸체부(310)가 수평 스토퍼(120)에 접촉하기 시작하여 약 1mm 하강한 후에 검사 소켓(330)이 검사 대상 제품의 커넥터에 접속하기 시작하도록 전자 모듈용 폴더형 검사 장치가 구성된다. 즉, 본 실시예의 경우에는 수평 스토퍼(120)가 탄성 재질로 형성되므로, 검사 몸체부(310)가 수평 스토퍼(120)에 먼저 접촉하고 상측 지지 부재(200)가 소정 각도 더 회전하여 검사 소켓(330)을 하강시켜서 검사 대상 제품의 커넥터에 접속시킨다.

이때, 수직 가이드(340)도 수직 가이드 홀(130)에 삽입되기 시작하거나 삽입되기 직전의 상태가 된다.

이와 같은 상태에서 상측 지지 부재(200)에 계속 힘을 가하여 상측 지지 부재(200)를 회전시키면 도 5에 도시한 것과 같은 상태가 된다. 도 5를 기준으로 상측 지지 부재(200)가 제1힌지축(410)에 대해 반시계 방향으로 회전하는 동안에 상측 검사 부재(300)는 실질적인 수평 상태를 유지하게 된다. 즉, 검사 몸체부(310)는 상측 지지 부재(200)에 대해 시계 방향으로 상대 회전하는 결과가 된다. 수평 스토퍼(120)에 의해 검사 몸체부(310)에 작용하는 반발력에 의해 검사 몸체부(310)의 왼쪽 부분은 하면이 지지된다. 검사 몸체부(310)의 상측 지지 부재(200)에 대한 상대 회전이 허용된 상태로 검사 몸체부(310)의 상면은 수평 유지 부재(430)에 의해 지지된다. 이와 같은 상태에서 상측 지지 부재(200)에 의한 가압이 계속되면 수평 스토퍼(120)가 탄성 변형되면서 검사 몸체부(310)는 하강한다. 이때 수평 유지 부재(430)가 검사 몸체부(310)의 상면을 면접촉한 상태로 가압하므로 검사 몸체부(310)는 수평이 유지된 상태로 하강한다. 지지 몸체부에 상하 방향으로 형성된 장공(320)이 제2힌지축(420)에 대한 상대 이동을 허용하므로, 지지 몸체부 오른쪽은 장공(320)에 의해 가이드되면서 제2힌지축(420)에 대해 하강하게 된다. 이와 같이 지지 몸체부가 수평을 유지하면서 하강함으로써, 검사 소켓(330)이 검사 대상 제품의 커텍터에 대해 수직 방향으로 접근하여 접속하게 된다.

이때, 수직 가이드 홀(130)은 수직 가이드 홀(130) 홈을 따라 진입하면서 지지 몸체부의 수평 유지 상태의 수직 운동을 가이드하게 된다.

계속하여 상측 지지 부재(200)를 가압하면 도 2 및 도 6에 도시한 것과 같이 검사 몸체부(310)는 수평을 유지하면서 하강하고, 검사 소켓(330)은 검사 대상 제품에 대해 완전히 접속하게 된다. 이때, 도 6을 기준으로 검사 몸체부(310)의 왼쪽은 수평 스토퍼(120)를 계속하여 탄성 변형시키고, 검사 몸체부(310)의 오른쪽은 장공(320)이 제2힌지축(420)을 따라 하강하게 된다.

결과적으로 본 실시예의 전자 모듈용 폴더형 검사 장치는 상측 지지 부재(200)가 제1힌지축(410)을 중심으로 회전 운동을 하더라도 상측 검사 부재(300)의 검사 소켓(330)은 수직 방향으로만 움직이거나 수평 방향 움직임이 최소화되면서 수직 방항으로만 검사 대상 제품에 근접하게 된다.

이에 따라 본 발명의 전자 모듈용 폴더형 검사 장치는 검사 소켓(330)이 검사 대상 제품에 대해 이상적인 방향과 경로로 접근하는 것을 가능하게 하는 장점이 있다. 검사 소켓(330)의 전극과 검사 대상 제품 커넥터의 전극이 서로 수직 방향으로 접근하여 접속하게 되므로 전기적 접속도 더욱 안정적으로 이루어지게 된다. 결과적으로 불완전한 접속에 의한 불필요한 전기적 간섭이나 노이즈 신호의 발생을 방지하여 검사 공정의 품질과 생산성을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.

또한, 본 발명의 전자 모듈용 폴더형 검사 장치는 검사 소켓(330)이 검사 대상 제품에 수직 방향으로만 접근하고 수평 방향 이동이 없거나 그 이동량을 최소화함으로써 검사 소켓(330) 또는 검사 대상 제품 커넥터의 전극 부분의 마모를 방지하는 장점이 있다. 그에 따라 검사 소켓(330)의 수명을 연장하고 검사 대상 제품의 손상을 방지할 수 있는 장점이 있다.

이상, 본 발명에 대해 바람직한 예를 들어 설명하였으나 본 발명의 범위가 앞에서 설명하고 도시한 형태로 한정되는 것은 아니다.

예를 들어, 앞에서 제1힌지축(410)과 제2힌지축(420)은 서로 동일한 하나의 힌지축으로 구성된 경우를 예로 들어 설명하였으나, 경우에 따라서는 제1힌지축과 제2힌지축을 각각 별도로 구비하는 구조의 전자 모듈용 폴더형 검사 장치를 구성하는 것도 가능하다.

또한, 앞에서 검사 몸체부(310)의 상면에 면접촉하도록 상측 지지 부재(200)에 회전 가능하게 설치된 구조의 수평 유지 부재(430)를 예로 들어 설명하였으나, 수평 유지 부재(430)의 구조도 다양하게 변형될 수 있다. 검사 몸체부의 상면에 면접촉하지 않고 점접촉하는 구조의 수평 유지 부재를 사용하는 것도 가능하다. 이 경우 수평 유지 부재는 상측 지지 부재에 대해 수평 방향으로 돌출되도록 형성되어 검사 몸체부의 상면에 접촉하도록 구성되는 구조가 될 수도 있다. 또한, 경우에 따라서 검사 몸체부의 상면에 접촉하지 않고 상측 지지 부재에 대한 검사 몸체부의 회전축 형태로 구성되는 수평 유지 부재를 사용하는 것도 가능하다. 이 경우 수평 유지 부재는 상측 지지 부재로부터 돌출되어 검사 몸체부를 회전 가능하게 지지하는 구조가 된다

또한, 앞에서 제1힌지축(410)에 설치된 힌지 스프링(440)이 틸트 탄성 부재(440)의 기능도 수행하는 구조의 전자 모듈용 폴더형 검사 장치를 예로 들어 설명하였다. 상술한 바와 같이 제1힌지축과 제2힌지축이 별도로 마련되는 경우에는 틸트 탄성 부재가 제2힌지축에 설치될 수도 있다. 경우에 따라서는 힌지 스프링을 사용하지 않고 상측 지지 부재(200)와 상측 검사 부재(300)의 사이에 배치되어 탄성력을 제공하는 구조의 다른 다양한 구성이 틸트 탄성 부재로 사용되는 것도 가능하다. 즉, 코일 스프링이나 판스프링 또는 러버 형태의 틸트 탄성 부재를 사용하는 것도 가능하다. 또한, 경우에 따라서는 틸트 탄성 부재를 구비하지 않는 구조의 전자 모듈용 폴더형 검사 장치를 구성하는 것도 가능하다.

또한, 앞에서 탄성 재질의 수평 스토퍼(120)를 구비하는 구조의 전자 모듈용 폴더형 검사 장치를 예로 들어 설명하였으나, 다른 형태의 수평 스토퍼를 사용하는 전자 모듈용 폴더형 검사 장치를 구성하는 것도 가능하다. 탄성 재질이 아닌 수평 스토퍼를 사용하는 전자 모듈용 폴더형 검사 장치를 구성하는 것도 가능하다. 이 경우 수평 스토퍼의 높이를 상대적으로 낮게 하여 검사 대상 제품의 커넥터에 필요 이상의 가압력이 작용하는 것을 제한하는 용도로 사용하는 것도 가능하다. 경우에 따라서는 수평 스토퍼를 구비하지 않는 구조의 전자 모듈용 폴더형 검사 장치를 구성하는 것도 가능하다.

또한, 앞에서 상측 검사 부재(300)의 장공(320)은 상하 방향으로 연장되도록 형성되는 것으로 설명하였으나, 상측 검사 부재의 치수와 형상, 상측 지지 부재의 구조 및 회전 경로 등을 고려하여 상측 검사 부재의 장공의 연장 경로도 다양하게 변형될 수 있다. 예를 들어 원호 형태로 곡선형으로 연장되는 형태의 장공을 검사 몸체부에 형성하는 구조의 상측 검사 부재를 사용하는 것도 가능하다.

또한, 앞에서 설명한 수직 가이드(340)와 수직 가이드 홀(130)을 구비하지 않는 구조의 전자 모듈용 폴더형 검사 장치를 구성하는 것도 가능하다.

100: 하측 부재 110: 안착부
120: 수평 스토퍼 130: 수직 가이드 홀
200: 상측 지지 부재 210: 틸트 스토퍼
300: 상측 검사 부재 310: 검사 몸체부
320: 장공 330: 검사 소켓
340: 수직 가이드 410: 제1힌지축
420: 제2힌지축 430: 수평 유지 부재
440: 틸트 탄성 부재

Claims

검사 대상 제품이 안착되는 안착부를 구비하는 하측 부재;
상기 하측 부재에 설치되는 제1힌지축;
상기 제1힌지축에 의해 상기 하측 부재에 힌지 결합되는 프레임 형태의 상측 지지 부재;
상기 상측 지지 부재에 설치되는 제2힌지축;
상기 상측 지지 부재에 대한 경사 배치가 가능하도록 상기 제2힌지축에 의해 상기 상측 지지 부재에 힌지 연결되는 검사 몸체부와, 상기 제2힌지축이 삽입될 수 있도록 상기 검사 몸체부에 형성되는 장공 및 상기 하측 부재의 안착부에 안착되는 검사 대상 제품에 전기적으로 접속하도록 상기 검사 몸체부에 설치되는 검사 소켓을 구비하는 상측 검사 부재; 및
상기 상측 지지 부재를 상기 하측 부재에 대해 회전시켜 상기 검사 소켓을 상기 검사 대상 제품에 접속시킬 때 상기 검사 소켓의 상기 검사 대상 제품에 대한 가압력과 상기 검사 몸체부에 형성된 장공에 의해 상기 상측 지지 부재와 상측 검사 부재 사이의 상대 회전을 허용하여 상기 상측 검사 부재의 수평을 유지하도록 상기 상측 지지 부재에 설치되어 상기 검사 몸체부를 회전 가능하게 지지하는 수평 유지 부재;를 포함하는 전자 모듈용 폴더형 검사 장치.
제1항에 있어서,
상기 제1힌지축과 제2힌지축은 서로 동일한 힌지축인 전자 모듈용 폴더형 검사 장치.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 상측 검사 부재와 상측 지지 부재의 사이에 배치되어 상기 상측 지지 부재에 대해 상기 상측 검사 부재가 기울어지는 방향으로 탄성력을 제공하는 틸트 탄성 부재;를 더 포함하는 전자 모듈용 폴더형 검사 장치.
제3항에 있어서,
상기 틸트 탄성 부재는, 상기 제1힌지축과 제2힌지축 중 어느 하나에 설치되는 힌지 스프링인 전자 모듈용 폴더형 검사 장치.
제4항에 있어서,
상기 수평 유지 부재는, 상기 제2힌지축으로부터 이격된 위치에서 상기 상측 지지 부재에 회전 가능하게 설치되고 상기 상측 검사 부재의 검사 몸체부의 상면에 접촉하도록 배치되는 전자 모듈용 폴더형 검사 장치.
제5항에 있어서,
상기 수평 유지 부재는, 상기 상측 검사 부재의 검사 몸체부 상면에 대해 면접촉하도록 형성되는 전자 모듈용 폴더형 검사 장치.
제3항에 있어서,
상기 상측 지지 부재는, 상기 상측 지지 부재에 대한 상기 상측 검사 부재의 경사 각도를 제한하는 틸트 스토퍼를 더 포함하는 전자 모듈용 폴더형 검사 장치.
제3항에 있어서,
상기 하측 부재는, 상기 상측 지지 부재가 상기 하측 부재에 근접하도록 회전할 때 상기 상측 검사 부재에 접촉하여 상기 하측 부재에 대한 상기 상측 검사 부재의 각도를 유지하는 수평 스토퍼를 더 포함하는 전자 모듈용 폴더형 검사 장치.
제8항에 있어서,
상기 하측 부재의 수평 스토퍼는 탄성 재질로 형성되는 전자 모듈용 폴더형 검사 장치.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 상측 검사 부재의 장공은 상하 방향으로 연장되도록 형성되는 전자 모듈용 폴더형 검사 장치.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 상측 검사 부재의 장공은 원호 형태로 연장되도록 형성되는 전자 모듈용 폴더형 검사 장치.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 하측 부재와 상측 검사 부재 중 어느 하나에는 상하 방향으로 연장되는 수직 가이드가 형성되고, 다른 하나에는 상기 수직 가이드가 끼워져서 수직 방향 승강이 가이드되는 수직 가이드 홀이 형성되는 전자 모듈용 폴더형 검사 장치.