KR102219472B1 - 제품 테스트 소켓 - Google Patents

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KR102219472B1
KR102219472B1 KR1020200046326A KR20200046326A KR102219472B1 KR 102219472 B1 KR102219472 B1 KR 102219472B1 KR 1020200046326 A KR1020200046326 A KR 1020200046326A KR 20200046326 A KR20200046326 A KR 20200046326A KR 102219472 B1 KR102219472 B1 KR 102219472B1
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전민영
서천석
이세영
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디플러스(주)
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Abstract

제품 테스트 소켓은 축; 상기 축이 삽입된 상태에서 상기 축이 상하로 이동되도록 하는 장공이 형성된 제1 돌기부를 포함하는 베이스 몸체; 상기 축이 꼭맞게 삽입되는 관통홀이 형성된 제2 돌기부를 포함하며, 상기 축을 중심으로 상기 베이스 몸체에 대하여 회동되는 커버 몸체; 및 상기 축에 삽입 되며, 일측단은 상기 커버 몸체에 접촉되고 타측단은 상기 베이스 몸체에 접촉되어 회동된 상기 커버 몸체를 복귀시키기 위한 복원력 및 상기 축을 상기 장공의 상단으로 밀어 올리는 탄성력을 제공하는 토션 스프링을 포함한다.

Description

제품 테스트 소켓{SOCKET FOR TESTING A PRODUCT}
본 발명은 제품 테스트 소켓에 관한 것이다.
일반적으로 대부분의 전자 제품은 다수개의 전자 부품들이 조립되어 하나의 완성된 전자 제품을 이루며, 이와같은 방식으로 전자 제품을 제조할 경우 제조 시간 및 생산 원가를 크게 감소시킬 수 있게 된다.
제조 시간 및 생산 원가를 감소시키기 위해서는 완성된 전자 제품을 이루는 각 부품의 불량을 테스트하는 테스트 소켓(test socket)을 필요로 하며, 대표적으로 휴대폰의 카메라 부품이 테스트 소켓에 의하여 테스트 된다.
일반적인 테스트 소켓은 베이스 플레이트에 힌지 결합된 커버가 회동되면서 테스트가 수행된다.
구체적으로, 베이스 플레이트에는 테스트될 제품이 배치되고 커버에는 제품의 단자와 전기적으로 접속되는 테스트 핀들이 결합되는 테스트 블록이 결합되는데, 베이스 플레이트에 제품이 장착된 후 커버가 회동되면서 테스트 핀들이 제품의 단자와 전기적으로 접속되어 제품의 전기적 테스트가 수행된다.
그러나, 이와 같이 제품을 베이스 플레이트에 올려놓은 상태에서 커버가 회동되면서 제품의 단자와 테스트 핀들이 전기적으로 접속되어 테스트가 수행될 경우, 테스트 핀 및 제품의 단자가 상호 수직하지 않은 각도로 접속되고, 이와 같이 테스트 핀과 제품의 단자가 상호 수직하지 않은 각도로 접속될 경우 테스트 핀의 파손 또는 제품의 단자의 긁힘 등과 같은 파손이 발생될 수 있다.
이와 같은 문제점을 해결하기 위해서 등록특허공보 제10-1442035호, 카메라 모듈 테스트 장치(등록일 : 2014년 09월 12일)가 개발된 바 있는데, 이 카메라 모듈 테스트 장치는 커버의 회동에 의하여 직선 왕복 운동하는 가이드 부재를 이용하여 테스트 핀과 제품의 단자가 수직하게 접속될 수 있도록 한다.
또한, 등록특허공보 제10-1652303호, 제품 테스트 소켓(등록일 : 2016년 8월 24일)에는 베이스 플레이트 및 커버 사이에 커버에 대하여 경사지게 형성된 플로팅 유닛을 배치하여 플로팅 유닛이 베이스 플레이트에 대하여 먼저 수평이 되도록 한 후 커버 유닛이 플로팅 유닛을 눌러 테스트 핀과 제품의 단자가 수직 상태로 접속될 수 있도록 하는 기술이 개시되어 있습니다.
또한, 등록특허공보 제10-1611525호, 제품 테스트 소켓(등록일 : 2016년 4월 5일)에는 베이스 플레이트에 대하여 회동되는 커버 유닛의 사이에 플로팅 블럭을 형성하고, 이 플로팅 블럭에 장공을 형성하여 플로팅 블럭이 먼저 베이스 플레이트에 대하여 수평이 되도록 한 후 커버가 플로팅 블럭을 가압하여 제품의 단자 및 테스트 핀이 상호 전기적으로 결합되도록 하는 기술이 개시되어 있습니다.
그러나, 앞서 소개한 카메라 모듈 테스트 장치 및 2개의 제품 테스트 소켓은 제품의 단자 및 테스트 핀이 상호 수직한 상태로 접속하기 위하여 베이스 플레이트 및 커버 사이에 회동되는 가이드 부재 또는 회동되는 플로팅 블럭을 필수적으로 필요로 하여 구성이 복잡해진다.
또한, 플로팅 블럭에 형성된 테스트 핀이 제품의 단자에 접촉된 상태에서 커버에 의하여 눌리기 때문에 이 과정에서 테스트 핀에 의하여 제품의 단자 등에 긁힘이 발생될 수 있다.
또한, 테스트를 수행하기 위해서는 플로팅 블럭에 형성된 테스트 핀이 제품의 단자와 접촉되는 과정 및 커버가 플로팅 블럭을 누르는 과정을 필수적으로 필요하기 때문에 제품의 테스트에 소요되는 시간을 증가시켜 테스트 효율이 저하되는 문제점을 갖는다.
등록특허공보 제10-1442035호, 카메라 모듈 테스트 장치(등록일 : 2014년 09월 12일) 등록특허공보 제10-1652303호, 제품 테스트 소켓(등록일 : 2016년 8월 24일) 등록특허공보 제10-1611525호, 제품 테스트 소켓(등록일 : 2016년 4월 5일)
본 발명은 베이스 몸체에 대하여 회동되도록 커버 몸체를 결합된 축이 베이스 몸체에 대하여 승강 또는 하강되도록 하여 커버 몸체가 베이스 몸체에 대하여 상호 평행하게 회동된 상태에서는 커버 몸체에 형성된 테스트 핀 및 베이스 몸체에 배치된 제품의 단자는 상호 결합되지 않고 이어서 커버 몸체를 눌러 테스트 핀 및 단자가 수직으로 결합되도록 하여 구성을 획기적으로 단순화 시키고, 단자의 손상을 방지 및 테스트 소요 시간을 크게 단축시킨 제품 테스트 소켓을 제공한다.
본 발명은 베이스 몸체에 대하여 항상 일정 간격 이격된 미들 몸체를 형성하고 미들 몸체에 미들 몸체에 대하여 회동되는 커버 몸체를 결합하여 커버 몸체가 미들 몸체에 대하여 회동되어 커버 몸체가 베이스 몸체에 대하여 상호 평행하게 회동된 상태에서는 커버 몸체에 형성된 테스트 핀 및 베이스 몸체에 배치된 제품의 단자는 상호 결합되지 않고 이어서 커버 몸체를 눌러 테스트 핀 및 단자가 수직으로 결합되도록 하여 단자의 손상을 방지 및 테스트 소요 시간을 크게 단축시킨 제품 테스트 소켓을 제공한다.
일실시예로서, 제품 테스트 소켓은 축; 상기 축이 삽입된 상태에서 상기 축이 상하로 이동되도록 하는 장공이 형성된 제1 돌기부를 포함하는 베이스 몸체; 상기 축이 꼭맞게 삽입되는 관통홀이 형성된 제2 돌기부를 포함하며, 상기 축을 중심으로 상기 베이스 몸체에 대하여 회동되는 커버 몸체; 및 상기 축에 삽입 되며, 일측단은 상기 커버 몸체에 접촉되고 타측단은 상기 베이스 몸체에 접촉되어 회동된 상기 커버 몸체를 복귀시키기 위한 복원력 및 상기 축을 상기 장공의 상단으로 밀어 올리는 탄성력을 제공하는 토션 스프링을 포함한다.
제품 테스트 소켓은 상기 베이스 몸체의 상면과 마주하는 상기 커버 몸체의 하면에 결합되며 상단에 확장부가 형성된 잠금 돌기, 상기 베이스 몸체에 형성되며 상기 확장부가 통과되는 관통홀 및 상기 베이스 몸체의 후면에 배치되며 상기 베이스 몸체를 관통한 상기 잠금 돌기의 상기 확장부를 잠금 또는 잠금 해제하는 록킹 유닛을 포함하는 잠금/해제 유닛을 더 포함한다.
제품 테스트 소켓의 상기 록킹 유닛은 상기 확장부가 통과되는 길쭉한 장공(oblong hole)이 형성된 록킹 플레이트, 상기 록킹 플레이트를 탄력적으로 지지하는 탄성 부재 및 상기 록킹 플레이트를 상기 탄성 부재를 향하는 방향으로 밀어 상기 확장부를 상기 록킹 플레이트로부터 이탈시키는 릴리즈 유닛을 포함한다.
제품 테스트 소켓의 상기 베이스 몸체의 상면과 마주하는 상기 커버 몸체의 하면에는 상기 베이스 몸체의 상면을 지지하는 서포트 돌기 및 상기 커버 몸체 내부에 내장되어 상기 서포트 돌기를 탄력적으로 지지하는 탄성 부재를 포함한다.
제품 테스트 소켓의 상기 베이스 몸체의 상면에는 제품의 단자가 배치되고, 상기 베이스 몸체의 상기 상면과 마주하는 상기 커버 몸체의 하면에는 상기 단자에 접속되는 테스트 핀을 포함한다.
제품 테스트 소켓의 상기 베이스 몸체의 상면에는 상기 토션 스프링의 일측단을 지정된 위치에 수납하는 제1 수납홈이 형성되고, 상기 베이스 몸체의 상면과 대향하는 커버 몸체의 하면에는 상기 토션 스프링의 타측단을 지정된 위치에 수납하는 제2 수납홈이 형성된다.
일실시예로서, 제품 테스트 소켓은 플레이트 형상을 갖고 상면의 테두리를 따라 배치된 가이드 부재들을 포함하는 베이스 몸체; 상기 베이스 몸체의 테두리를 따라 형성되는 막대 형상으로 상기 가이드 부재에 삽입되어 상기 베이스 몸체에 대하여 승강 및 하강되는 미들 몸체; 상기 베이스 몸체 및 상기 미들 몸체 사이에 개재되어 상기 미들 몸체를 탄력적으로 지지하는 탄성 부재; 상기 미들 몸체의 상면에 돌출되며 관통홀이 형성된 돌기부; 및 상기 돌기부에 회동 가능하게 결합되는 축에 의하여 상기 베이스 몸체에 대하여 회동되는 커버 몸체를 포함한다.
제품 테스트 소켓의 상기 커버 몸체의 측면에는 클램프 유닛이 형성되고, 상기 베이스 몸체에는 상기 클램프 유닛과 결합되는 클램프부가 형성된다.
제품 테스트 소켓의 상기 베이스 몸체의 상면에는 제품의 단자가 고정되며, 상기 베이스 몸체의 상면과 마주하는 상기 커버 몸체의 하면에는 상기 단자와 전기적으로 접속되는 테스트 핀을 포함하는 테스트 핀 블럭이 결합된다.
본 발명에 따른 제품 테스트 소켓은 베이스 몸체에 대하여 회동되도록 커버 몸체를 결합된 축이 베이스 몸체에 대하여 승강 또는 하강되도록 하여 커버 몸체가 베이스 몸체에 대하여 상호 평행하게 회동된 상태에서는 커버 몸체에 형성된 테스트 핀 및 베이스 몸체에 배치된 제품의 단자는 상호 결합되지 않고 이어서 커버 몸체를 눌러 테스트 핀 및 단자가 수직으로 결합되도록 하여 구성을 획기적으로 단순화 시키고, 단자의 손상을 방지 및 테스트 소요 시간을 크게 단축시킬 수 있다.
제품 테스트 소켓은 베이스 몸체에 대하여 항상 일정 간격 이격된 미들 몸체를 형성하고 미들 몸체에 미들 몸체에 대하여 회동되는 커버 몸체를 결합하여 커버 몸체가 미들 몸체에 대하여 회동되어 커버 몸체가 베이스 몸체에 대하여 상호 평행하게 회동된 상태에서는 커버 몸체에 형성된 테스트 핀 및 베이스 몸체에 배치된 제품의 단자는 상호 결합되지 않고 이어서 커버 몸체를 눌러 테스트 핀 및 단자가 수직으로 결합되도록 하여 단자의 손상을 방지 및 테스트 소요 시간을 크게 단축시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 제품 테스트 소켓을 도시한 사시도이다.
도 2는 도 1의 베이스 몸체의 제1 돌기부의 측면도이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 잠금/해제 유닛을 발췌 도시한 평면도이다.
도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따른 제품 테스트 소켓을 도시한 외관 사시도이다.
이하 설명되는 본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고, 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에서 상세하게 설명하고자 한다.
그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
또한 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 구분하여 설명하기 위해 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.
또한 본 출원에서 적어도 2개의 상이한 실시예들이 각각 기재되어 있을 경우, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 별다른 기재가 없더라도 각 실시예들은 구성요소의 전부 또는 일부를 상호 병합 및 혼용하여 사용할 수 있다.
실시예 1
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 제품 테스트 소켓을 도시한 사시도이다. 도 2는 도 1의 베이스 몸체의 제1 돌기부의 측면도이다.
도 1을 참조하면, 제품 테스트 소켓(500)은 축(100), 베이스 몸체(200), 커버 몸체(300) 및 토션 스프링(400)을 포함한다.
축(100)은 금속 소재로 제작될 수 있으며, 축(100)은, 예를 들어, 원기둥 형상으로 형성되며, 축(100)은, 직경 D(도 2 도시)로 형성된다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 베이스 몸체(200)는 플레이트 형상으로 형성되며, 베이스 몸체(200)의 상면으로부터는 한 쌍의 제1 돌기부(210)가 형성된다.
제1 돌기부(210)는 베이스 몸체(200)의 상면으로부터 육면체 기둥 형상으로 돌출되며, 제1 돌기부(210)에는 축(100)과 평행한 방향으로 장공(212)이 형성된다.
축(100)과 평행하게 형성되는 장공(212)의 폭 W은 축(100)이 꼭맞게 삽입되도록 형성되며, 장공(212)의 높이 h는 축(100)의 직경 D보다는 크게 형성된다. 본 발명의 일실시예에서, 장공(212)의 높이 h는 축(100)의 직경 D의 약 1.5배 이상일 수 있다.
이와 같이 장공(212)이 폭 W 보다 높이 h가 높게 형성됨에 따라 제1 돌기부(210)에 삽입된 축(100)은 장공(212)의 내부에서 높이 방향으로 승강 또는 하강된다.
베이스 몸체(200)에는 제품, 예를 들어, 카메라 모듈을 고정하기 위한 안착부(230)가 배치되며, 안착부(230)는 체결 나사 등을 통해 베이스 몸체(200)의 상면에 결합된다.
커버 몸체(300)는 플레이트 형상으로 형성되며, 베이스 몸체(100)의 상면과 마주하는 커버 몸체(300)의 하면에는 제품의 단자와 결합되는 테스트 핀(310)들이 수납된 테스트 핀 블록(320)이 결합된다.
커버 몸체(300)의 상면에는 테스트 핀(310)과 전기적으로 연결되며 테스트 핀(310)으로 테스트 신호를 인가하는 회로 기판(330)이 결합된다.
커버 몸체(300)의 하면에는 도 1에 도시된 바와 같이 한 쌍의 제2 돌기부(340)들이 돌출된다.
제2 돌기부(340)들에는 축(100)이 꼭맞게 삽입되는 관통홀이 형성되며, 제2 돌기부(340)들은 베이스 몸체(200)에 형성된 제1 돌기부(210)들의 사이에 배치된다.
본 발명의 일실시예에서는 축(100)에 베이스 몸체(200) 및 커버 몸체(300)가 공통으로 결합되고, 베이스 몸체(200)가 고정되기 때문에 커버 몸체(300)는 축(100)을 기준으로 베이스 몸체(200)에 대하여 회동된다.
본 발명의 일실시예에서, 커버 몸체(300)가 베이스 몸체(200)에 대하여 회동될 때 축(100)은 제1 돌기부(210)에 형성된 장공(212)의 상단에 밀착되고, 커버 몸체(300)의 테스트 핀(310)이 제품의 단자에 결합될 때 축(100)은 장공(212)의 상단으로부터 하단으로 이동된다.
앞서 종래 기술에서도 언급하였지만 테스트 핀을 제품의 단자에 수직하게 결합하기 위해서는 구성이 매우 복잡해져야 하지만 본 발명의 일실시예에서는 토션 스프링(torsion spring, 400)을 이용하여 테스트 핀을 제품의 단자에 수직하게 결합할 수 있다.
본 발명의 일실시예에서, 토션 스프링(400)은 제1 막대부(410), 제2 막대부(420) 및 스프링부(430)를 포함한다.
토션 스프링(400)은 축(100)을 장공(212)의 상단에 밀착시키는 탄성력을 발생 및 커버 몸체(300)가 베이스 몸체(200)를 향해 회동된 후 커버 몸체(300)를 원래 위치로 복귀시키는 복원력을 발생시킨다.
토션 스프링(400)의 스프링부(430)는 축(100)에 권취되어 축(100)에 대하여 수직한 방향으로 탄성력을 발생시키고, 제1 막대부(410)는 스프링부(430)의 일측으로 막대 형상으로 연장되고, 제2 막대부(420)는 스프링부(430)의 타측으로 막대 형상으로 연장된다.
토션 스프링(400)을 지정된 위치에 고정 및 토션 스프링(400)이 축(100)의 장공(212)의 상단에 밀착시키기 위하여 베이스 몸체(100)의 상면에는 제1 막대부(410)를 수납하는 제1 수납홈(240)이 형성되고, 커버 몸체(300)의 하면에는 제2 막대부(420)를 수납하는 제2 수납홈(440)이 형성된다.
본 발명의 일실시예에서 커버 몸체(300)가 베이스 몸체(200)와 마주하게 배치된 상태에서 테스트를 수행하는 도중 커버 몸체(300)가 베이스 몸체(200)로부터 임의로 회동되는 것을 방지하기 위해 커버 몸체(300)의 위치를 제한하는 잠금/해제 유닛(490)을 더 포함한다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 잠금/해제 유닛을 발췌 도시한 평면도이다.
도 1 및 도 3을 참조하면, 제품 테스트 소켓(500)의 잠금/해제 유닛(490)은 잠금 돌기(450), 관통홀(460) 및 록킹 유닛(470)을 포함한다.
잠금 돌기(450)는 베이스 몸체(100)의 상면과 마주하는 커버 몸체(100)의 하면에 결합된다. 잠금 돌기(450)는 기둥 형상으로 형성되며, 잠금 돌기(450)의 상단은 직경이 증가된 확장부(452)가 형성되며, 확장부(452)에 의하여 잠금 돌기(450)에는 걸림턱이 형성된다.
관통홀(460)은 커버 몸체(100)의 하면이 베이스 몸체(100)의 상면과 평행하게 회동될 때, 잠금 돌기(450)가 베이스 몸체(100)를 관통하는 위치에 형성되는데, 관통홀(460)은 베이스 몸체(100)의 상면 및 하면을 관통한다.
베이스 몸체(100)의 후면에는 관통홀(460)을 통과한 잠금 돌기(450)를 잠금 또는 잠금 해제하기 위한 록킹 유닛(470)이 배치된다.
록킹 유닛(470)은 록킹 플레이트(474), 탄성 부재(476) 및 릴리즈 유닛(478)을 포함한다.
록킹 플레이트(474)는 직사각형 플레이트 형상으로 형성되며, 록킹 플레이트(474)는 베이스 몸체(100)의 후면에 좌우로 슬라이드 가능한 상태로 배치된다.
록킹 플레이트(474)에는 베이스 몸체(100)의 관통홀(460)을 관통하는 잠금 돌기(450)가 통과하는 장공(oblong hole, 472)이 형성되는데, 장공(472)은 잠금 돌기(450)의 확장부(452)가 통과하는 직경을 갖고, 잠금 돌기(450)의 직경보다는 큰 형상으로 형성된다.
탄성 부재(476)는 록킹 플레이트(474)의 일측 단부에 형성되며, 좌우로 슬라이드 되는 록킹 플레이트(474)를 탄력적으로 지지 및 일측으로 이동된 록킹 플레이트(474)를 지정된 위치로 복귀시키는 역할을 한다.
릴리즈 유닛(478)은 베이스 몸체(100)의 측면 중 록킹 플레이트(474)의 단부와 대응하는 위치에 형성되며, 릴리즈 유닛(478)은 록킹 플레이트(474)를 일측으로 슬라이드 시키는 역할을 한다. 이를 위해 릴리즈 유닛(478)은 베이스 몸체(100)의 측면에 회동 가능하게 결합된다.
릴리즈 유닛(478)을 하부로 누름으로써 릴리즈 유닛(478)은 베이스 몸체(100)에 대하여 회동되고 이로 인해 릴리즈 유닛(478)의 일부가 록킹 플레이트(474)의 측면을 탄성 부재(476)를 향하는 방향으로 밀어 낸다.
이와 같은 구성을 갖는 잠금/해제 유닛(490)의 작동을 살펴보면, 토션 스프링(400) 및 돌기부(210)의 장공(212)에 의하여 커버 몸체(300)가 베이스 몸체(200)와 평행하게 회동될 경우, 커버 몸체(300)에 형성된 잠금 돌기(450)는 베이스 몸체(200)에 형성된 관통홀(460)에 삽입된 상태이며, 잠금돌기(450)의 확장부(452) 및 록킹 플레이트(474)의 장공(472)은 어긋난 상태로 배치된다.
이후, 커버 유닛(300)이 하부로 눌려 테스트 핀(310)이 제품의 단자에 수직한 방향으로 결합되는 과정에서 잠금 돌기(450)의 확장부(452)는 록킹 플레이트(474)를 탄성 부재(476)를 향하는 방향으로 밀어내면서 확장부(452)의 단턱 부분은 록킹 플레이트(474)에 걸리고 잠금 돌기(450) 및 커버 몸체(300)는 베이스 몸체(200)로부터 반대 반향으로 회동되지 못하고 잠금 상태가 된다.
이후 테스트가 종료되어 릴리즈 유닛(478)이 하부로 회동됨에 따라 릴리즈 유닛(478)의 일부는 록킹 플레이트(474)를 탄성 부재(476)를 향하는 방향으로 밀어내고 이로 인해 장공(472)에 걸려 있던 잠금 돌기(450)는 록킹 플레이트(474)로부터 잠금이 해제되고, 이로 인해 커버 몸체(300)는 베이스 몸체(200)로부터 반대 방향으로 회동된다.
도 1을 다시 참조하면, 커버 몸체(300)가 베이스 몸체(200)를 향해 회동되어 커버 몸체(300)가 베이스 몸체(200)와 평행하게 배치되었을 때, 커버 몸체(300)가 베이스 몸체(300)에 대하여 수평 상태를 유지할 수 있도록 하기 위해 커버 몸체(300)의 하면에는 오목한 홈이 형성되고, 홈의 내부에는 탄성 부재에 의하여 탄력적으로 지지되며 베이스 몸체(200)의 상면을 지지하는 서포트 돌기(360)가 형성된다.
실시예 2
도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따른 제품 테스트 소켓을 도시한 외관 사시도이다.
도 4를 참조하면, 제품 테스트 소켓(900)은 베이스 몸체(600), 미들 몸체(700), 탄성 부재(800), 돌기부(750) 및 커버 부재(850)를 포함한다.
베이스 몸체(600)는 플레이트 형상으로 형성되며, 베이스 몸체(600)의 중앙 부분에는 제품이 탑재되는 안착부(610)가 형성된다. 안착부(610)에 탑재되는 제품은 제품 본체 및 제품 본체에 전기적 신호를 제공하는 단자를 포함할 수 있다.
한편, 베이스 몸체(600)의 상면의 테두리를 따라서 복수개의 가이드 부재(620)들이 형성된다. 가이드 부재(620)들은, 예를 들어, 원기둥 형상으로 형성될 수 있다. 평면상에서 보았을 때, 가이드 부재(620)들은, 예를 들어, 'ㄷ'자 형상으로 배치된다.
미들 몸체(700)는 베이스 몸체(600)의 상면의 상부에 배치된다. 미들 몸체(700)는 베이스 몸체(600)의 테두리를 따라 형성되는 막대 형상으로 형성되며, 미들 몸체(700)는, 예를 들어, 평면상에서 보았을 때 'ㄷ' 자 형상으로 형성된 막대 형상으로 형성된다.
'ㄷ'자 형상을 갖는 미들 몸체(700)에는 베이스 몸체(600)에 형성된 각 가이드 부재(620)가 삽입되는 관통홀(710)들이 형성되며, 가이드 부재(620)에 삽입된 미들 몸체(700)는 가이드 부재(620)를 따라 승강 또는 하강된다.
본 발명의 일실시예에서, 미들 몸체(700)의 상면에는 관통홀이 형성된 돌출부(750)가 형성된다. 돌출부(750)는, 예를 들어, 미들 몸체(700)의 상면으로부터 돌출될 수 있다.
탄성 부재(800)는 미들 몸체(700)의 하면 및 베이스 몸체(600)의 상면 사이에 형성된 공간에 배치되며, 탄성 부재(800)는 코일 스프링을 포함할 수 있다. 본 발명의 일실시예에서, 베이스 몸체(600)의 상면 및 미들 몸체(700)의 하면에는 각각 탄성 부재(800)를 수납하여 탄성 부재(800)의 이탈을 방지하는 홈이 형성될 수 있다.
본 발명의 일실시예에서, 탄성 부재(800)에 의하여 가이드 부재(620)에 의하여 승강 또는 하강될 수 있는 미들 몸체(700)는 베이스 몸체(600)로부터 이격된다.
한편, 미들 몸체(700) 및 베이스 몸체(600) 사이의 간격을 일정하게 유지 및 미들 몸체(700)가 가이드 부재(620)로부터 이탈되는 것을 방지하기 위해 가이드 부재(620)의 상단에는 이탈방지부(625)가 형성될 수 있다.
커버 몸체(850)는 플레이트 형상으로 형성되며, 커버 몸체(850)의 하면에는 베이스 몸체(600)에 결합된 제품의 단자에 결합되는 테스트 핀(865)이 결합된 테스트 핀 블럭(867)이 결합된다.
한편 커버 몸체(850)의 하단에는 커버 몸체(850)로부터 회동부(870)가 돌출되며, 회동부(870)에는 미들 몸체(700)에 형성된 돌기부(750)에 결합되는 축(875)이 형성된다.
따라서, 축(875)이 돌기부(750)에 결합됨에 따라 커버 몸체(850)는 미들 몸체(700)에 대하여 회동되며, 커버 몸체(850)의 하면은 미들 몸체(700)의 상면에 평행하게 접촉된다.
한편, 커버 몸체(850)가 미들 몸체(700)의 상면에 평행하게 접촉된 상태에서 커버 몸체(850)가 미들 몸체(700)에 대하여 임의로 회동되는 것을 방지하기 위해서 커버 몸체(850)의 측면에는 커버 몸체(850)의 측면에 대하여 회동되는 클램프 유닛(880)이 결합된다. 클램프 유닛(880)은 베이스 몸체(600)의 측면에 오목하게 형성된 클램프부(630)에 결합된다.
이와 같은 구성을 갖는 제품 테스트 소켓(900)의 작동을 살펴보면, 베이스 몸체(600)의 안착부(610)에 단자를 포함하는 제품이 안착되면, 커버 몸체(850)가 베이스 몸체(600)를 향해 회동되고 이로 인해 커버 몸체(850)의 하면은 미들 몸체(700)의 상면에 접촉된다.
이때, 커버 몸체(850)에 형성된 테스트 핀(865)은 베이스 몸체(600)에 형성된 단자와 수직한 방향을 이루며, 테스트 핀(865) 및 단자는 상호 소정 간격 이격된 상태이다.
이후, 커버 몸체(850) 및 미들 몸체(700)가 전체적으로 하부로 이동되면서 테스트 핀(865) 및 제품의 단자는 상호 수직하게 결합되면서 제품의 테스트가 수행된다.
이상에서 상세하게 설명한 바에 의하면, 베이스 몸체에 대하여 회동되도록 커버 몸체를 결합된 축이 베이스 몸체에 대하여 승강 또는 하강되도록 하여 커버 몸체가 베이스 몸체에 대하여 상호 평행하게 회동된 상태에서는 커버 몸체에 형성된 테스트 핀 및 베이스 몸체에 배치된 제품의 단자는 상호 결합되지 않고 이어서 커버 몸체를 눌러 테스트 핀 및 단자가 수직으로 결합되도록 하여 구성을 획기적으로 단순화 시키고, 단자의 손상을 방지 및 테스트 소요 시간을 크게 단축시킬 수 있는 효과를 갖는다.
또한, 베이스 몸체에 대하여 항상 일정 간격 이격된 미들 몸체를 형성하고 미들 몸체에 미들 몸체에 대하여 회동되는 커버 몸체를 결합하여 커버 몸체가 미들 몸체에 대하여 회동되어 커버 몸체가 베이스 몸체에 대하여 상호 평행하게 회동된 상태에서는 커버 몸체에 형성된 테스트 핀 및 베이스 몸체에 배치된 제품의 단자는 상호 결합되지 않고 이어서 커버 몸체를 눌러 테스트 핀 및 단자가 수직으로 결합되도록 하여 단자의 손상을 방지 및 테스트 소요 시간을 크게 단축시킬 수 있다.
한편, 본 도면에 개시된 실시예는 이해를 돕기 위해 특정 예를 제시한 것에 지나지 않으며, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시예 이외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형예들이 실시 가능하다는 것은, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게는 자명한 것이다.
100...축 200...베이스 몸체
300...커버 몸체 400...토션 스프링

Claims (9)

  1. 축;
    상기 축이 삽입된 상태에서 상기 축이 상하로 이동되도록 하는 장공이 형성된 제1 돌기부를 포함하는 베이스 몸체;
    상기 축이 꼭맞게 삽입되는 관통홀이 형성된 제2 돌기부를 포함하며, 상기 축을 중심으로 상기 베이스 몸체에 대하여 회동되는 커버 몸체; 및
    상기 축에 삽입 되며, 일측단은 상기 커버 몸체에 접촉되고 타측단은 상기 베이스 몸체에 접촉되어 회동된 상기 커버 몸체를 복귀시키기 위한 복원력 및 상기 축을 상기 장공의 상단으로 밀어 올리는 탄성력을 제공하는 토션 스프링을 포함하며,
    상기 베이스 몸체의 상면에는 상기 토션 스프링의 일측단을 지정된 위치에 수납하는 제1 수납홈이 형성되고, 상기 베이스 몸체의 상면과 대향하는 커버 몸체의 하면에는 상기 토션 스프링의 타측단을 지정된 위치에 수납하는 제2 수납홈이 형성된 제품 테스트 소켓.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 베이스 몸체의 상면과 마주하는 상기 커버 몸체의 하면에 결합되며 상단에 확장부가 형성된 잠금 돌기, 상기 베이스 몸체에 형성되며 상기 확장부가 통과되는 관통홀 및 상기 베이스 몸체의 후면에 배치되며 상기 베이스 몸체를 관통한 상기 잠금 돌기의 상기 확장부를 잠금 또는 잠금 해제하는 록킹 유닛을 포함하는 잠금/해제 유닛을 더 포함하는 제품 테스트 소켓.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 록킹 유닛은 상기 확장부가 통과되는 길쭉한 장공(oblong hole)이 형성된 록킹 플레이트, 상기 록킹 플레이트를 탄력적으로 지지하는 탄성 부재 및 상기 록킹 플레이트를 상기 탄성 부재를 향하는 방향으로 밀어 상기 확장부를 상기 록킹 플레이트로부터 이탈시키는 릴리즈 유닛을 포함하는 제품 테스트 소켓.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 베이스 몸체의 상면과 마주하는 상기 커버 몸체의 하면에는 상기 베이스 몸체의 상면을 지지하는 서포트 돌기 및 상기 커버 몸체 내부에 내장되어 상기 서포트 돌기를 탄력적으로 지지하는 탄성 부재를 포함하는 제품 테스트 소켓.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 베이스 몸체의 상면에는 제품의 단자가 배치되고, 상기 베이스 몸체의 상기 상면과 마주하는 상기 커버 몸체의 하면에는 상기 단자에 접속되는 테스트 핀을 포함하는 테스트 핀 블럭이 결합된 제품 테스트 소켓.
  6. 삭제
  7. 플레이트 형상을 갖고 상면의 테두리를 따라 배치된 가이드 부재들을 포함하는 베이스 몸체;
    상기 베이스 몸체의 테두리를 따라 형성되는 막대 형상으로 상기 가이드 부재에 삽입되어 상기 베이스 몸체에 대하여 승강 및 하강되는 미들 몸체;
    상기 베이스 몸체 및 상기 미들 몸체 사이에 개재되어 상기 미들 몸체를 탄력적으로 지지하는 탄성 부재;
    상기 미들 몸체의 상면에 돌출되며 관통홀이 형성된 돌기부; 및
    상기 돌기부에 회동 가능하게 결합되는 축에 의하여 상기 베이스 몸체에 대하여 회동되는 커버 몸체를 포함하는 제품 테스트 소켓.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 커버 몸체의 측면에는 클램프 유닛이 형성되고, 상기 베이스 몸체에는 상기 클램프 유닛과 결합되는 클램프부가 형성된 제품 테스트 소켓.
  9. 제7항에 있어서,
    상기 베이스 몸체의 상면에는 제품의 단자가 고정되며, 상기 베이스 몸체의 상면과 마주하는 상기 커버 몸체의 하면에는 상기 단자와 전기적으로 접속되는 테스트 핀을 포함하는 테스트 핀 블럭이 결합된 제품 테스트 소켓.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20230041859A (ko) * 2021-09-17 2023-03-27 디플러스(주) 제품 테스트 소켓용 회로 기판 정렬 장치
KR102522839B1 (ko) * 2022-11-08 2023-04-18 주식회사 프로이천 소켓블록

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002043007A (ja) * 2000-07-19 2002-02-08 Kazuhisa Ozawa Icソケット
US20030132770A1 (en) * 2002-01-14 2003-07-17 Conroy Chad M. Hinged heat sink burn-in socket
KR101199018B1 (ko) * 2012-08-24 2012-11-08 주식회사 메카텍시스템즈 카메라 모듈용 테스트 소켓
KR101442035B1 (ko) 2013-10-01 2014-09-25 디플러스(주) 카메라 모듈 테스트 장치
KR101611525B1 (ko) 2015-01-05 2016-04-14 디플러스(주) 제품 테스트 소켓
KR20160084039A (ko) * 2015-01-05 2016-07-13 디플러스(주) 제품 테스트 소켓
KR101689521B1 (ko) * 2015-08-26 2017-01-03 디플러스(주) 테스트 소켓
KR20170074077A (ko) * 2015-12-21 2017-06-29 주식회사 엔티에스 카메라모듈 테스트소켓
KR20180025195A (ko) * 2016-08-29 2018-03-08 정영재 테스트소켓

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002043007A (ja) * 2000-07-19 2002-02-08 Kazuhisa Ozawa Icソケット
US20030132770A1 (en) * 2002-01-14 2003-07-17 Conroy Chad M. Hinged heat sink burn-in socket
KR101199018B1 (ko) * 2012-08-24 2012-11-08 주식회사 메카텍시스템즈 카메라 모듈용 테스트 소켓
KR101442035B1 (ko) 2013-10-01 2014-09-25 디플러스(주) 카메라 모듈 테스트 장치
KR101611525B1 (ko) 2015-01-05 2016-04-14 디플러스(주) 제품 테스트 소켓
KR20160084039A (ko) * 2015-01-05 2016-07-13 디플러스(주) 제품 테스트 소켓
KR101652303B1 (ko) 2015-01-05 2016-08-30 디플러스(주) 제품 테스트 소켓
KR101689521B1 (ko) * 2015-08-26 2017-01-03 디플러스(주) 테스트 소켓
KR20170074077A (ko) * 2015-12-21 2017-06-29 주식회사 엔티에스 카메라모듈 테스트소켓
KR20180025195A (ko) * 2016-08-29 2018-03-08 정영재 테스트소켓

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20230041859A (ko) * 2021-09-17 2023-03-27 디플러스(주) 제품 테스트 소켓용 회로 기판 정렬 장치
KR102608592B1 (ko) 2021-09-17 2023-12-04 디플러스(주) 제품 테스트 소켓용 회로 기판 정렬 장치
KR102522839B1 (ko) * 2022-11-08 2023-04-18 주식회사 프로이천 소켓블록

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