KR101619360B1 - 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 스토퍼 - Google Patents

Abstract

본 발명은 평판 디스플레이 패널의 검사공정 시, 포고핀(pogo pin)이 패널의 검사 전극에 접촉될 때, 서로의 간격을 유지하여 주는 스토퍼의 구조를 개량하여, 보다 부드럽고 안정되게 포고핀이 검사 단자에 접촉될 수 있도록 함으로써, 검사 전극의 훼손을 방지함과 동시에 포고핀의 마모를 방지하여 수명을 증대시킨 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 스토퍼에 관한 것으로, 베이스부의 양측면에는 회동부의 회동 시 상기 베이스부와의 간격을 일정거리 유지하며 동시에 상기 포고핀의 선단부가 피검사 패널의 전극에 일정한 압력으로 접촉되도록 유도하는 스토퍼를 구비한 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 스토퍼에 있어서, 상기 스토퍼는 상방으로 일정길이 돌출 형성되고 중앙에는 완충부가 출몰되는 개구공이 형성되는 돌출부와, 상기 돌출부의 하단에 다수의 체결공이 형성되어 베이스부에 고정되는 결합부로 구성된 커버부; 탄성부재를 내측으로 수용하며, 상기 커버부의 개구공으로 출몰되도록 구성되고 하단에는 턱부가 구성되어 상기 커버부의 돌출부에 걸리도록 구성되는 완충부; 상기 완충부에 탄성력을 부여해 회동부가 상기 완충부를 통해 1차 완충되도록 하여주는 탄성부재; 및 일정한 쿠션을 가지며 상기 커버부의 내측에 수용되고, 상기 회동부의 압박으로 상기 완충부가 하강할 때 2차적으로 완충부의 하강을 완충시켜주는 쿠션부재로 구성되는 것을 특징으로 한다.

Description

디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 스토퍼{STOPPER OF PROBE APPARATUS FOR INSPECTING DISPLAY PANEL}

본 발명은 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 스토퍼 구조에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 평판 디스플레이 패널의 검사공정 시, 포고핀(pogo pin)이 패널의 검사 전극에 접촉될 때, 서로의 간격을 유지하여 주는 스토퍼의 구조를 개량하여, 보다 부드럽고 안정되게 포고핀이 검사 단자에 접촉될 수 있도록 함으로써, 검사 전극의 훼손을 방지함과 동시에 포고핀의 마모를 방지하여 수명을 증대시킨 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 스토퍼에 관한 것이다.

주지한 바와 같은 프로브장치는 LCD 및 PDP와 같은 평판 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위해 일반적으로 사용되는 장치이다.

상기 프로브 장치는 평판 디스플레이 패널의 검사공정에서 패널 상에 형성된 데이터나 게이트 전극(단자)에 접촉시켜 전원 및 영상 신호를 패널에 인가함으로써, 패널 상의 전기적 특성 및 전등 상태 또는 각종 얼룩, 이물 등 패널 제조 공정에서 발생하는 모든 불량에 대한 검사 등을 수행한다.

이러한 프로브 장치로는 블레이드형, 니들형, 포고형 및 반도체 MEMS 공정 기술을 이용한 MEMS 형이 있으며, 이중에서 가장 널리 이용되고 있는 것은 패널 상에 형성된 모든 전극에 동시에 접촉하여 일괄적으로 검사를 수행할 수 있도록 된 블레이드형 프로브 장치이다.

이와 같은 프로브장치에 대한 종래의 기술이 등록특허 10-1380375에 개시된다. 상기 기술을 도 1 및 도 2을 참조하여 설명한다.

도시된 바와 같이 종래의 평판 디스플레이 패널 검사용 프로브 장치는, 협소한 공간에서 피검사 패널(P)과 접촉이 가능하도록 패널(P)이 놓여지는 베이스부(10)와, 상기 베이스부(10)의 일측에 힌지 결합되어 일정구간 회동하는 회동부(20)와, 상기 회동부(20)의 회동단 저면에 고정된 메인PCB(30)와, 상기 메인PCB(30)의 저면에 전기적으로 연결된 포고PCB(40)와, 상기 포고PCB(40)에 전기적으로 연결된 포고핀블럭(50)과, 패널의 모든 검사 전극에 일대일로 대응되도록 상기 포고핀블럭(50)에 끼워져 상기 포고핀블럭(50)을 매개로 포고PCB(40)과 전기적으로 연결된 다수의 포고핀(60)으로 구성된다.

그리고 상기 베이스부(10)의 양측면에는 회동부(20)가 검사를 위하여 베이스부(10)로 접혀질 때, 상기 베이스부(10)와 회동부(20) 사이의 간격을 일정거리 유지하도록 하여 포고핀(60)의 선단부가 패널(P)의 검사 전극에 적당한 압력으로 접촉하도록 하여주는 스토퍼(70)가 더 형성된다.

따라서 이와 같은 구성의 패널 검사용 프로브 장치는, 베이스부(10)에 검사대상이 되는 패널(P)이 올려지면 회동부(20)가 베이스부(10)측으로 회동하여 포고핀(60)이 패널(P)의 전극에 접촉되면서 패널(P)의 전극들의 전기적 신호가 포고핀(60) 및 포고핀PCB(40)를 통해 메인PCB(30)로 전달되므로 미 도시된 제어부에서 각종 검사를 수행하게 된다.

그런데, 종래의 패널 검사용 프로브 장치의 스토퍼(70)는 회동부(20)가 검사를 위하여 베이스부(10)로 접혀질 때, 포고핀(60)의 선단부가 패널(P)의 검사 전극에 적당한 압력으로 접촉하도록 상기 베이스부(10)와 회동부(20) 사이의 간격을 일정거리 유지하도록 설계는 되어 있으나, 반복적인 동작을 장시간 수행하다보면, 스토퍼(70)의 기능저하(형태변화)로, 포고핀(60)의 선단부와 패널 전극의 접촉 압력이 높아지게 되고, 이는 포고핀(60)의 마모와 패널 전극의 훼손을 가져오게 되었으며, 나아가 일부 포고핀(60)과 전극의 접촉 불량이 발생되게 되었다.

등록특허공보 10-1380375

본 발명은 상기한 문제점을 해결하고자 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 평판 디스플레이 패널의 검사공정 시, 포고핀(pogo pin)이 패널의 검사 전극에 접촉될 때, 서로의 간격을 유지하여 주는 스토퍼의 구조를 개량하여, 보다 부드럽고 안정되게 포고핀이 검사 단자에 접촉될 수 있도록 함으로써, 검사 전극의 훼손을 방지함과 동시에 포고핀의 마모를 방지하여 수명을 증대시킨 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 스토퍼를 제공하는 것에 있다.

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은 협소한 공간에서 피검사 패널과 접촉이 가능하도록 패널이 놓여지는 베이스부와, 상기 베이스부의 일측에 힌지 결합되어 일정구간 회동하는 회동부와, 상기 회동부의 회동단 저면에 고정된 메인PCB와, 상기 메인PCB의 저면에 전기적으로 연결된 포고PCB와, 상기 포고PCB에 전기적으로 연결된 포고핀블럭과, 패널의 모든 전극에 일대일로 대응되도록 상기 포고핀블럭에 끼워져 상기 포고핀블럭을 매개로 포고PCB과 전기적으로 연결된 다수의 포고핀을 포함하고, 상기 베이스부의 양측면에는 회동부의 회동 시 상기 베이스부와의 간격을 일정거리 유지하며 동시에 상기 포고핀의 선단부가 피검사 패널의 전극에 일정한 압력으로 접촉되도록 유도하는 스토퍼를 구비한 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 스토퍼에 있어서, 상기 스토퍼는 상방으로 일정길이 돌출 형성되고 중앙에는 완충부가 출몰되는 개구공이 형성되는 돌출부와, 상기 돌출부의 하단에 다수의 체결공이 형성되어 베이스부에 고정되는 결합부로 구성된 커버부; 탄성부재를 내측으로 수용하며, 상기 커버부의 개구공으로 출몰되도록 구성되고 하단에는 턱부가 구성되어 상기 커버부의 돌출부에 걸리도록 구성되는 완충부; 상기 완충부에 탄성력을 부여해 회동부가 상기 완충부를 통해 1차 완충되도록 하여주는 탄성부재; 및 일정한 쿠션을 가지며 상기 커버부의 내측에 수용되고, 상기 회동부의 압박으로 상기 완충부가 하강할 때 2차적으로 완충부의 하강을 완충시켜주는 쿠션부재로 구성되는 것을 특징으로 한다.

또한 본 발명에 따르자면 상기 쿠션부재는 실리콘 재질로 구성되는 것을 특징으로 한다.

또한 본 발명에 따르자면 상기 완충부에는, 상기 완충부의 상단에 끼워지는 끼움홈과, 회동부가 접촉되는 접촉부로 이루어진 거리조절캡을 더 장착하여 된 것을 특징으로 한다.

이와 같이 본 발명은 평판 디스플레이 패널의 검사공정 시, 포고핀(pogo pin)이 패널의 검사 전극에 접촉될 때, 서로의 간격을 유지하여 주는 스토퍼의 구조를 개량하여, 보다 부드럽고 안정되게 포고핀이 검사 단자에 접촉될 수 있도록 함으로써, 검사 전극의 훼손을 방지함과 동시에 포고핀의 마모를 방지하여 수명을 증대시킨 장점을 제공한다.

도 1은 종래의 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 주요부분 구성도,
도 2는 상기 도 1의 포고핀 결합 주요주분 구성도,
도 3은 본 발명이 적용되는 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 주요부분 구성도,
도 4는 본 발명에 따른 스토퍼의 분해사시도,
도 5는 본 발명에 따른 스토퍼의 단면도,
도 6은 본 발명에 따른 스토퍼의 동작 상태 단면도,
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 스토퍼의 단면도이다.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 보다 상세히 설명한다.

우선, 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 한해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 그리고 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.

도 3은 본 발명이 적용되는 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 주요부분 구성도, 도 4는 본 발명에 따른 스토퍼의 분해사시도, 도 5는 본 발명에 따른 스토퍼의 단면도이다.

도시된 바와 같이 본 발명은, 협소한 공간에서 피검사 패널(P)과 접촉이 가능하도록 패널(P)이 놓여지는 베이스부(10)와, 상기 베이스부(10)의 일측에 힌지 결합되어 일정구간 회동하는 회동부(20)와, 상기 회동부(20)의 회동단 저면에 고정된 메인PCB(30)와, 상기 메인PCB(30)의 저면에 전기적으로 연결된 포고PCB(40)와, 상기 포고PCB(40)에 전기적으로 연결된 포고핀블럭(50)과, 패널(P)의 모든 전극에 일대일로 대응되도록 상기 포고핀블럭(50)에 끼워져 상기 포고핀블럭(50)을 매개로 포고PCB(40)과 전기적으로 연결된 다수의 포고핀(60)을 포함하고, 상기 베이스부(10)의 양측면에는 회동부(20)의 회동 시 상기 베이스부(10)와의 간격을 일정거리 유지하며 동시에 상기 포고핀(60)의 선단부가 피검사 패널(P)의 전극에 일정한 압력으로 접촉되도록 유도하는 스토퍼(100)를 구비한 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 스토퍼에 있어서, 상기 스토퍼(100)는 커버부(110)와, 완충부(120)와, 탄성부재(130)와, 쿠션부재(140)를 포함하여 구성되며, 상기 회동부(20)가 베이스부(10)로 접혀질 때, 회동부(20)를 1차 완충시킨 다음 다시 서서히 2차로 완충시키는 동작을 수행하여 상기 베이스부(10)와의 간격을 일정거리 유지함과 동시에 상기 포고핀(60)의 선단부가 피검사 패널(P)의 전극에 아주 부드럽게 또 안정적으로 일정한 압력을 가지고 접촉되도록 한 특징을 구비한다.

보다 상세하게는 상기 커버부(110)는 상방으로 일정길이 돌출 형성되고 중앙에는 완충부(120)가 출몰되는 개구공(112)이 형성되는 돌출부(111)와, 상기 돌출부(111)의 하단에 다수의 체결공(114)이 형성되어 베이스부(10)에 고정되는 결합부(113)로 구성된다.

상기 완충부(120)는 탄성부재(130)를 내측으로 수용하며, 상기 커버부(110)의 개구공(112)으로 출몰되도록 구성되고 하단에는 턱부(121)가 구성되어 상기 커버부(110)의 돌출부(111)에 걸리도록 구성된다.

상기 완충부(120)는 회동부(120)가 접혀지면서 1차로 압박을 받는 부분으로, 내장된 탄성부재(130)의 탄성력으로 회동부(20)가 베이스부(10)에 접근하는 속도를 1차로 완충하여 준다.

상기 탄성부재(130)는 상기 완충부(120)에 적당한 탄성력을 부여해 회동부(20)가 상기 완충부(120)를 통해 1차 완충되도록 하여주는 역할을 제공한다.

상기 쿠션부재(140)는 일정한 쿠션을 가지며 상기 커버부(110)의 내측에 수용되고, 상기 회동부(20)의 압박으로 상기 완충부(120)가 하강할 때 2차적으로 완충부(120)의 하강을 완충시켜주며, 상기 회동부(20)가 베이스부(10)에 일정간격을 유지하며 정지하도록 하여준다.

이때의 상태는 포고핀(60)의 선단부가 패널(P)의 검사 전극에 적당한 압력으로 접촉된 상태가 된다.

상기 쿠션부재(140)는 실리콘 재질로 구성되는 것이 바람직하다.

본 발명에 따르자면, 상기 스토퍼(100)의 완충부(120)를 통한 1차 완충과, 상기 쿠션부재(140)를 통한 2차 완충 동작을 통해 상기 회동부(20)가 베이스부(10)에 일정간격을 유지하며 정지하되, 이때 포고핀(60)의 선단부가 아주 천천히 부드럽고 안정적으로 또 일정한 압력으로 패널(P)의 검사 전극에 접촉되어 지는 것이다.

이와 같은 본 발명의 동작을 도면을 참조하여 설명하면, 디스플레이 패널(P)의 검사를 위하여 도 6에서와 같이 회동부(60)가 베이스부(10)로 접혀지면, 회동부(60)가 완충부(120)를 압박하면서 탄성부재(130)에 의해 1차 완충되어 진다.

따라서 도 5의 간격(l) 만큼 회동부(130)는 천천히 베이스부(10)로 진행하게 되고, 이어서 도 6에서와 같이 완충부(120)의 턱부(121)가 쿠션부재(140)에 접촉하면서 다시 접촉부재(140)를 압박하는 2차 완충이 일어난다.

따라서 상기 회동부(130)는 더욱 천천히 베이스부(10)로 진행하게 되고, 이때 포고핀(60)의 선단부는 패널(P) 검사 전극에 일정한 압력으로 부드럽게 접촉되어 지는 것이다.

이후 쿠션부재(140)를 통한 2차 완충이 완료되면, 즉 완충부(120)의 하강이 정지되면 포고핀(60)의 선단부는 패널(P) 검사 전극에 접촉 완료되고, 검사를 수행하게 되는 것이다.

도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 스토퍼의 단면도이다.

도시된 바와 같이 본 발명의 다른 실시 예에 따르자면, 스토퍼(100)의 완충부(120) 상부에 거리조절캡(150)을 더 장착하여 된 것으로 특징으로 한다.

상기 거리조절캡(150)은 상기 완충부(120)의 상단에 끼워지는 끼움홈(151)과, 회동부(20)가 접촉되는 접촉부(152)를 구비하며, 상기 거리조절캡(120)은 회동부(20)의 포고핀(60) 선단부가 패널(P)의 검사 전극에 접촉될 때, 접촉 압력을 조절할 수 있는 기능을 제공한다.

즉 상기 거리조절캡(120)을 완충부(120)에 끼움으로써, 상기 거리조절캡(120)의 두께만큼 상기 포고핀(60) 선단부가 패널(P)의 검사 전극에 접촉되는 압력을 손쉽게 감소시켜줄 수 있도록 한 것이다.

100: 스토퍼 110: 커버부
120: 완충부 130: 탄성부재
140: 쿠션부재 150: 거리조절캡

Claims (3)

1. 협소한 공간에서 피검사 패널(P)과 접촉이 가능하도록 패널(P)이 놓여지는 베이스부(10)와, 상기 베이스부(10)의 일측에 힌지 결합되어 일정구간 회동하는 회동부(20)와, 상기 회동부(20)의 회동단 저면에 고정된 메인PCB(30)와, 상기 메인PCB(30)의 저면에 전기적으로 연결된 포고PCB(40)와, 상기 포고PCB(40)에 전기적으로 연결된 포고핀블럭(50)과, 패널(P)의 모든 전극에 일대일로 대응되도록 상기 포고핀블럭(50)에 끼워져 상기 포고핀블럭(50)을 매개로 포고PCB(40)과 전기적으로 연결된 다수의 포고핀(60)을 포함하고, 상기 베이스부(10)의 양측면에는 회동부(20)의 회동 시 상기 베이스부(10)와의 간격을 일정거리 유지하며 동시에 상기 포고핀(60)의 선단부가 피검사 패널(P)의 전극에 일정한 압력으로 접촉되도록 유도하는 스토퍼(100)를 구비한 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 스토퍼에 있어서,
   상기 스토퍼(100)는 상방으로 일정길이 돌출 형성되고 중앙에는 완충부(120)가 출몰되는 개구공(112)이 형성되는 돌출부(111)와, 상기 돌출부(111)의 하단에 다수의 체결공(114)이 형성되어 베이스부(10)에 고정되는 결합부(113)로 구성된 커버부(110);
   탄성부재(130)를 내측으로 수용하며, 상기 커버부(110)의 개구공(112)으로 출몰되도록 구성되고 하단에는 턱부(121)가 구성되어 상기 커버부(110)의 돌출부(111)에 걸리도록 구성되는 완충부(120);
   상기 완충부(120)에 탄성력을 부여해 회동부(20)가 상기 완충부(120)를 통해 1차 완충되도록 하여주는 탄성부재(130); 및
   일정한 쿠션을 가지며 상기 커버부(110)의 내측에 수용되고, 상기 회동부(20)의 압박으로 상기 완충부(120)가 하강할 때 2차적으로 완충부(120)의 하강을 완충시켜주는 쿠션부재(140)로 구성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 스토퍼.
   
2. 청구항 1에 있어서,
   상기 쿠션부재(140)는 실리콘 재질로 구성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 스토퍼.
   
3. 청구항 1에 있어서,
   상기 완충부(120)에는,
   상기 완충부(120)의 상단에 끼워지는 끼움홈(151)과, 회동부(20)가 접촉되는 접촉부(152)로 이루어진 거리조절캡(150)을 더 장착하여 된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 스토퍼.

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