KR101611354B1

KR101611354B1 - 검사장치

Info

Publication number: KR101611354B1
Application number: KR1020140175940A
Authority: KR
Inventors: 김희철
Original assignee: 리노공업주식회사
Priority date: 2014-12-09
Filing date: 2014-12-09
Publication date: 2016-04-14

Abstract

본 발명은 복수의 경사면접점을 가진 피검사체의 전기적특성을 검사하기 위한 검사장치에 관한 것이다.
검사장치는 검사를 위해 상기 피검사체를 수용하는 피검사체 수용부를 가진 피검사체캐리어; 및 상기 피검사체가 상기 피검사체 수용부에 수용되면서 상기 경사면접점에 접촉하도록 상기 피검사체 수용부 내에 노출되는 헤드를 가진 복수의 컨택트를 지지하는 컨택트지지부를 포함하여 구성한다.
본 발명에 의하면, 검사프로브가 피검사체의 경사면접점에 정확하게 접촉할 수 있어 검사의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

Description

검사장치{A TESTING DEVICE}

본 발명은 경사면접점을 가진 피검사체의 전기적 특성을 검사하기 위한 검사장치에 관한 것이다.

최근, 스마트폰과 같은 모바일장치에 고성능 카메라가 장착되면서 손 떨림 방지를 위한 OIS(Optical Image Stabilization) 액츄에이터를 포함하는 OIS 카메라모듈이 개발되었다.

OIS 카메라모듈은 VCM(Voice Coil Motor)을 이용한 손 떨림 보정시스템을 채용하고 있다. 대량의 VCM에 대한 전기적 특성을 검사하기 위한 검사장치를 요구되고 있다.

도 1에 나타낸 바와 같이 VCM(10)은 4각 케이스(11)의 3면에 배치된 경사면접점(12)이 노출되어 있다. VCM(10)의 검사는 이러한 3면에 배치된 경사면접점(12)에 수평방향으로 접근한 프로브(미도시)에 의해 수행된다.

이때, 경사면접점(12)은 수직이 아닌 경사진 상태이기 때문에 프로브가 수평으로 접근하여 접촉할 때에 프로브의 벤딩(bending) 이나 파손이 발생하는 문제가 있다. 또한, 3면의 경사면접점(12)에 대해 슬라이드 동작하는 모든 프로브가 동시에 경사면접점(12)에 접촉하지 않는 경우 VCM(10)이 팅겨나가는 문제도 발생한다.

본 발명의 목적은 상술한 종래의 문제를 해결하기 위한 것으로, 경사면접점을 가진 피검사체의 전기적 특성을 효율적으로 검사할 수 있는 검사장치를 제공함에 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 검사장치는, 검사를 위해 상기 피검사체를 수용하는 피검사체 수용부를 가진 피검사체캐리어; 및 상기 피검사체가 상기 피검사체 수용부에 수용되면서 상기 경사면접점에 접촉하도록 상기 피검사체 수용부 내에 노출되는 헤드를 가진 복수의 컨택트를 지지하는 컨택트지지부를 포함한다.

상기 컨택트는 클립 타입으로 제조하는 것이 제작 비용을 절감할 수 있다.

상기 컨택트지지부는 수용되는 피검사체의 저면에 접촉하는 플로팅부를 더 포함하는 것이 피검사체의 안착전에 수평을 유지하도록 할 수 있다.

상기 플로팅부는 상기 피검사체의 경사면접점이 상기 컨택트 헤드에 접촉하기 전에 수용되는 피검사체의 저면에 접촉하는 것이 바람직하다.

상기 컨택트는 상기 경사면접점이 배치되지 않는 상기 피검사체의 측벽에 대응하는 위치에도 배치되는 것이 피검사체가 가압될 때 균형을 유지할 수 있다.

상기 컨택트의 헤드가 탄성 변형되는 방향에 배치되는 탄성부를 더 포함하는 것이 컨택트의 변형을 방지할 수 있다.

본 발명에 의하면, 경사면접점을 가진 피검사체라도 편리하고 효율적으로 검사를 수행할 수 있다.

특히, 검사 시에 피검사체가 수평을 유지하면서 동시에 경사면접점이 컨택트에 접촉하도록 하는 것이 가능하다.

도 1은 경사면접점을 포함하는 피검사체를 나타낸 도,
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 검사장치의 평면도,
도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 검사장치에서 피검사체를 가압하기 전의 상태를 나타내는 단면도,
도 4는 본 발명의 제1실시예에 따른 검사장치에서 피검사체를 가압한 후의 상태를 나타내는 단면도, 및
도 5는 본 발명의 제2실시예에 따른 검사장치를 나타내는 단면도이다.

이하에서는 첨부도면을 참조하여 본 발명에 따른 검사장치(100)에 대해 상세히 설명한다.

도 1은 본 발명의 검사장치(100)를 이용하여 검사를 수행하는 피검사체, 예를 들면 OIS(Optical Image Stabilization) 카메라모듈에 사용하는 VCM(Voice Coil Motor)(10)을 나타낸 것이다. VCM(10)은 4각 케이스(11)의 내부의 3면에 배치된 코일(13) 및 상기 코일(13)이 배치된 외면에 노출된 다수의 경사면접점(12)을 포함한다. 물론, 본 발명에 따른 검사장치(100)를 이용하여 검사하는 피검사체(10)는 VCM으로만 제한되지 않으며, 경사면접점을 포함하는 어느 물건이라도 적용할 수 있다.

이하 도 2 내지 4를 참조하여 본 발명의 제1실시예에 따른 검사장치(100)를 설명하면 다음과 같다.

본 발명에 따른 검사장치(100)는 중앙에 피검사체(10)를 수직방향으로 넣을 수 있는 피검사체 수용부(112)를 포함하는 피검사체캐리어(110), 상기 피검사체캐리어(110)의 하부에 배치되어 다수의 컨택트(130)를 지지하는 컨택트 지지부(120), 일단부가 상기 컨택트(130)에 접촉하는 프로브핀(150)을 지지하는 프로브핀 지지부(140), 및 상기 프로브핀(150)의 타단부가 접촉하는 패드(172)를 가진 테스트회로기판(170)을 포함한다. 여기서, 프로브핀 지지부(140)는 생략하는 대신에 컨택트(130)의 하단부(134)를 직접 테스트회로기판(170)의 패드(172)에 접촉시킬 수 있다.

컨택트 지지부(120)에 지지된 컨택트(130)는 하부를 향해 연장하는 2개의 다리(136)와 상부를 향해 연장하는 헤드(132)를 포함한다. 컨택트(130)는 도전성이 좋은 동박, 알루미늄박, 은박, 금박 등의 판상 재료를 이용한 클립타입으로 제조될 수 있다. 물론, 본 발명에 따른 컨택트(130)는 상술한 형상이나 재질로만 제한되지 않고 다양한 형상이나 재질이 적용될 수 있다.

다수의 컨택트(130)의 각 헤드(132)는 도 2에 나타낸 바와 같이 상부에 위치된 피검사체 수용부(112)에 노출되도록 배치된다. 피검사체(10)의 경사면접점(12)이 외면에 배치되어 있으므로, 컨택트(130)의 헤드(132)들은 피검사체 수용부(112)의 4 외연에 모두 배치된다. 즉, 컨택트(130)는 피검사체(10)의 경사면접점(12)이 배치되지 않은 부분에도 배치된다. 이와 같이 피검사체(10)의 경사면접점(12)이 3개의 외연에만 존재할지라도, 컨택트(130)를 피검사체 수용부(112)의 4 외연에 모두 배치하는 것은 검사 시 수용되는 피검사체(10)가 각 면에 가해지는 저항이 일정하지 않아 수평이 유지되지 않는 것을 방지하기 위한 것이다. 물론, 컨택트(130)는 피검사체(10)의 경사면접점(12)이 1개의 외면에만 존재할 경우에도 피검사체 수용부(112)의 4 외연에 모두 설치될 수 있다.

도 3 및 4에 나타낸 바와 같이, 컨택트(130)의 헤드(132) 후방에는 예를 들면 고무와 같은 제1탄성체(116)가 배치된다. 제1탄성체(116)는 컨택트(130)마다 개별적으로 제작하거나 다수의 컨택트(130)를 동시에 지지할 수 있는 긴 막대형태로 제작할 수 있다. 제1탄성체(116)는 수용된 피검사체(10)의 경사면접점(12)에 의해 컨택트의 헤드(132)가 수평방향으로 지나치게 변형되어 탄성적으로 복원되지 않는 것을 방지하기 위한 것이다. 즉, 많은 횟수의 반복 테스트 시에 컨택트(130)의 영구 변형에 따른 손상 방지, 즉 내구성 저하를 방지하기 위한 것이다.

컨택트지지부(120)는 상부의 피검사체 수용부(112) 내로 돌출하는 4개의 플로팅핀(162)을 가진 플로팅부(160)를 포함한다. 플로팅핀(162)은 탄성적으로 상하 요동 가능하며, 피검사체 수용부(112) 내로 수용되는 피검사체(10)의 저면을 지지한다. 즉, 플로팅부(160)는 피검사체(10)가 수용되자 마자 바로 다수의 컨택트(130)의 헤드(132)에 접촉할 경우 컨택트(130)가 손상될 수 있기 때문에 버퍼 기능의 역할을 한다. 또한, 플로팅부(160)는 피검사체(10)가 피검사체 수용부(112)에 수용될 때 수평 상태가 아닌 상태로 수용되는 경우에도 컨택트(130)에 접촉하기 전에 수평상태를 유지하도록 하는 역할을 한다. 즉, 피검사체 수용부(112)에 수용되는 피검사체(10)의 경사면접점(12)이 컨택트(130)의 헤드(132)에 접촉하기 전에 먼저 피검사체(10)의 저면이 플로팅핀(162)에 접촉하여 수평을 유지한다. 이후 푸셔(200)에 의한 가압으로 피검사체(10)의 경사면접점(12)이 컨택트(130)의 헤드(132)에 접촉한다. 플로팅핀(162)은 스프링과 같은 제2탄성체(164)에 의해 플로팅 상태를 유지한다. 플로팅핀(162) 대신에 보드 형태의 플로팅부(160) 전체가 탄성체에 의해 플로팅 될 수 있다.

프로브핀 지지부(140)는 프로브핀(150)을 포함한다. 프로브핀(150)은 컨택트(130)의 다리(136) 중 하나와 일측이 접촉하고 타측이 테스트 회로기판(170)의 패드(172)에 접촉한다. 프로브핀(150)은 예를 들면 포고핀을 적용할 수 있다. 프로브핀(150)은 제한되지 않는 형태로서 상하플런저(152,154) 및 상기 상하플런저(152,154)를 부분적으로 수용하는 배럴(156)을 포함한다. 배럴(156) 내에는 스프링(미도시)가 배치되어 부분 수용된 상하플런저(152,154) 중 적어도 하나가 요동할 수 있다.

테스트 회로기판(170)은 검사신호를 전달하기 위한 인쇄회로기판으로서 검사접점인 패드(172)를 포함한다.

이하 본 발명에 따른 검사 동작을 도 3 및 4를 참조하여 설명하기로 한다.

먼저, 경사면접점(12)을 가진 피검사체(10)를 피검사체 수용부(112) 내에 삽입한다. 이때, 피검사체(10)는 4개의 프로팅핀(162)에 의해 지지된다.

푸셔(200)를 통해 피검사체(10)를 가압하면 플로팅핀(162)이 압축되어 피검사체(10)가 추가 하강한다. 이러한 추가 하강 시에 피검사체의 경사면접점(12)이 컨택트의 헤드(132)에 접촉한다. 결과적으로 컨택트의 헤드(132)는 제1탄성체(166)를 압축하면서 수평 이동하게 된다.

도 5는 본 발명의 제2실시예에 따른 검사장치(100)를 나타낸 것으로, 도 3 및 4의 컨택트(130) 대신에 프로브핀(130')을 적용한다. 프로브핀(130')은 제한되지 않는 형태로서 상하플런저(132',134') 및 상기 상하플런저(132',134')를 부분적으로 수용하는 배럴(136')을 포함한다. 배럴(136') 내에는 스프링(미도시)가 배치되어 부분 수용된 상하플런저(132',134') 중 적어도 하나가 요동할 수 있다. 상부플런저(132')는 피검사체(10)의 경사면접점(12)에 접촉하며,하부플런저(134')는 패드(172)에 접촉한다. 여기서 상부플런저(132')는 배럴(136')에 부분 삽입된 상태에서 고정되어 있고, 하부플런저(134')는 부분 수용된 상태에서 내부의 스프링(미도시)을 압축하면서 요동한다. 이때, 상부플런저(132')도 요동하도록 하는 것도 가능하나, 피검사체(10)의 삽입 시에 상부플런저(132')에는 수직방향 힘보다 수평방향의 힘이 많이 가해지므로 하부플런저(134')가 요동하는 것이 바람직하다. 특히, 상부플런저(132')의 팁은 라운딩 형태보다는 일정한 경사를 가진 원뿔 형태가 바람직하다.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적인 특징들이 변경되지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것으로 이해할 수 있을 것이다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

100: 검사장치
110: 피검사체 수용부
120: 컨택트 지지부
130: 컨택트
140: 프로브핀 지지부
150: 프로브핀
160: 플로팅부
170: 테스트 회로기판

Claims

복수의 경사면접점을 가진 피검사체의 전기적특성을 검사하기 위한 검사장치에 있어서,
검사를 위해 상기 피검사체를 수용하는 피검사체 수용부를 가진 피검사체캐리어; 및
상기 피검사체가 상기 피검사체 수용부에 수용되면서 상기 경사면접점에 접촉하도록 상기 피검사체 수용부 내에 노출되는 헤드를 가진 복수의 컨택트를 지지하는 컨택트지지부를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사장치.
제 1항에 있어서,
상기 컨택트는 클립 타입을 포함하는 것을 특징으로 하는 검사장치.
제 1항에 있어서,
상기 컨택트지지부는 수용되는 피검사체의 저면에 접촉하는 플로팅부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 검사장치.
제 3항에 있어서,
상기 플로팅부는 상기 피검사체의 경사면접점이 상기 컨택트 헤드에 접촉하기 전에 수용되는 피검사체의 저면에 접촉하는 것을 특징으로 하는 검사장치.
제1항에 있어서,
상기 컨택트는 상기 경사면접점이 배치되지 않는 상기 피검사체의 측벽에 대응하는 위치에도 배치되는 것을 특징으로 하는 검사장치.
제 1항에 있어서,
상기 컨택트의 헤드가 탄성 변형되는 방향에 배치되는 탄성부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 검사장치.