KR100901830B1 - 플렉시블 회로기판 테스트 소켓 - Google Patents

플렉시블 회로기판 테스트 소켓 Download PDF

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Abstract

본 발명의 특징적인 구성은 상면 중앙부 양측에 힌지공(111)이 구비된 고정편(110)이 형성되고, 전면 중앙에는 측정핀 안착부(140)가 형성된 베이스(100); 상기 힌지공(111)에 대응되는 또 다른 힌지공(131)이 구비된 지지편(130)이 저면 중앙에 형성되고 선단부 저면 중앙에는 가압부(121)가 형성된 상부 가압판(120); 상기 상부 가압판(120)이 회동되도록 힌지공(111,131)에 끼워지는 힌지축(200); 상기 상부 가압판(120)의 선단부가 하부로 향하도록 상부 가압판(120)과 베이스(100)의 사이에 탄력 설치된 스프링(190); 상기 측정핀 안착부(140)에 삽입되는 측정핀(150); 상기 측정핀(150)의 하단부가 끼워지도록 베이스(100)의 저면 선단부에 설치된 하부 단자판(160)을 포함하여서 된 것이다.
카메라 모듈, 소켓, FPCB, 측정핀, 가압판

Description

플렉시블 회로기판 테스트 소켓{Flexible PCB test socket}
본 발명은 플렉시블 회로기판(PCB) 테스트 소켓에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 휴대폰이나 디지털카메라 등에 내장되는 플렉시블 PCB에 포함된 플렉시블 회로기판의 작동유무를 자동적으로 손쉽고 용이하게 검사할 수 있도록 한 플렉시블 PCB 테스트 소켓에 관한 것이다.
일반적으로 휴대폰이나 디지털 카메라 등에 장착되어 동영상 및 이미지를 촬영 및 저장하도록 설치되는 휴대폰 카메라와 이에 연결 설치되는 플렉시블 회로기판(FPCB)으로 이루어진 플렉시블 PCB은 휴대폰의 비교적 좁은 제한된 공간 내부에 장착되는 관계로 렌즈 및 FPCB의 크기가 극히 작게 형성되며, 상기 FPCB에 인쇄되는 회로패턴 역시 비교적 세밀하게 형성하는 것이다.
따라서, 상기와 같은 렌즈와 연결된 FPCB는 이를 제작 및 조립후, 전기적 접속 상태를 측정하기가 매우 불편한 문제가 있는 것이다.
상기 소형렌즈 및 미세 회로패턴의 접속 상태 불량여부를 판단하기 위하여 최근에는 측정핀이 구비된 테스트 소켓을 이용하고 있으며, 상기 측정핀이 FPCB의 회로패턴에 직접 접속하여 불량유무를 판단하고 있으나, 플렉시블하면서 다양한 크 기와 형태를 가지는 PCB를 일률적이고도 간편하게 안착시키고 고정하여 테스트를 하기에는 어려움이 있어서 작업능률이 저하되고 불량이 발생하게 되었던 것이다. 또한, 미세한 회로패턴에 측정핀이 일정한 압력 이상으로 접속될 경우 상기 회로패턴의 단선이 빈번하게 발생되며, 이로 인한 제품의 불량이 발생하게 되는 등 많은 문제점이 있었던 것이다.
즉, 종래의 소켓은 도 1 및 도 2에 나타낸 일례에서와 같이, 플렉시블 PCB(10)가 안착되는 베이스(30)가 마련되어 있고, 그 베이스(30)의 일단에는 힌지(50)를 매개로 회전 가능하도록 회전판(40)이 마련되어 있으며, 상기 회전판(40)의 저면에는 측정핀(60)이 설치되어 있다.
따라서, 플렉시블 PCB(10)를 검사할 때에는 회전판(40)의 단부가 상측으로 향하도록 회전시킨 상태에서 베이스(30)의 상면에 플렉시블 PCB(10)을 안착시킨 후 회전판(40)의 단부를 누르면 상기 회전판(40)은 힌지(50)를 중심으로 회전되는 것이고, 이때 회전판(4)의 저면에 설치된 측정핀(60)은 플렉시블 PCB(10)의 회로패턴(20)에 접촉되는 것으로서, 플렉시블 PCB(10)를 검사하는 것이다.
그러나 이러한 종래의 소켓은 측정핀(60)이 설치된 회전판(40)이 힌지(50)를 기점으로 회전하게 되므로 복수개의 측정핀(60)이 회로패턴(20)에 동시에 접촉되지 못하여 전기적인 충격이 발생됨은 물론, 각 측정핀(60)에 가해지는 압력이 서로 다르게 작용하여 측정핀(60)이 파손되었으며, 특히 두께가 얇은 플레시블 회로기판에 형성된 회로패턴(20)이 파손되는 문제점이 있었다.
또한, 종래의 소켓은 다양한 크기와 형태를 가지는 플렉시블 PCB를 안정적으 로 수납할 수 없어서 소켓에 장착하는데 상당한 숙련이 요구되었고, 테스트에 있어서 균일한 검사가 이루어지기 어려운 문제가 있었다.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 그 목적은 플렉시블 PCB를 용이하고 신속하게 클램핑할 수 있어서 편리한 작업이 이루어질 수 있고, 안정적인 고정 및 테스트로 인해 균일하고 신속한 테스트 작업이 이루어질 수 있는 플렉시블 PCB 테스트 소켓을 제공함에 있다.
본 발명의 다른 목적은, 다양한 형태의 플렉시블 PCB에 있어서 그 선단부의 회로패턴만을 간단하고 안정적으로 클램핑하여 신속하고 호환성있게 테스트 작업이 이루어질 수 있도록 된 플렉시블 PCB 테스트 소켓을 제공하는 것이다.
본 발명은 상기의 목적을 달성하기 위하여, 상면 중앙부 양측에 힌지공이 구비된 고정편이 형성되고, 전면 중앙에는 측정핀 안착부가 형성된 베이스; 상기 힌지공에 대응되는 또 다른 힌지공이 구비된 지지편이 저면 중앙에 형성되고 선단부 저면 중앙에는 가압부가 형성된 상부 가압판; 상기 상부 가압판이 회동되도록 힌지공에 끼워지는 힌지축; 상기 상부 가압판의 선단부가 하부로 향하도록 상부 가압판과 베이스의 사이에 탄력 설치된 스프링; 상기 측정핀 안착부에 삽입되는 측정핀; 상기 측정핀의 하단부가 끼워지도록 베이스의 저면 선단부에 설치된 하부 단자판을 포함하여서 이루어지는 특징이 있다.
본 발명은 플렉시블 PCB의 형태에 관계없이 선단 접속부를 단순히 밀어넣는 동작에 의해 소켓과의 접속이 안정적으로 이루어지게 되어 조작이 매우 편리하고 신속하고 균일한 품질의 작업이 이루어질 수 있어서 제품의 신뢰도와 작업의 능률을 향상시킬 수 있는 특유의 효과를 제공하게 된다.
본 발명을 나타낸 일실시예로서의 첨부도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 3은 본 발명에 따른 소켓의 사시도이고, 도 4는 본 발명에 따른 일례로서의 소켓을 나타낸 분해 사시도이며, 도 5는 그 결합 단면도이고, 도 6 및 도 7은 본 발명에 따른 소켓의 작동상태를 나타낸 단면도이다.
여기에서 참조되는 바와 같이 본 발명은 판 형상의 베이스(100)가 마련되어 있되, 그 베이스(100)의 상면 중앙부 양측에는 고정편(110)이 각각 형성되어 있고, 각 고정편(110)에는 힌지공(111)이 형성되어 있으며, 그 힌지공(111)은 중심이 일치되게 형성되어 있다.
그리고 상기 베이스(100)의 전면 중앙에는 측정핀 안착부(140)가 형성되어 있되, 그 측정핀 안착부(140)에는 적어도 2개 이상 복수개의 측정핀(150)이 삽입되는 삽입공이 형성되어 있다.
한편, 베이스(100)의 상면에 설치되는 상부 가압판(120)이 마련되어 있되, 그 상부 가압판(120)의 저면 중앙에는 지지편(130)이 형성되어 있고, 그 지지편(130)에는 고정편(110)에 형성된 힌지공(111)과 대응되게 또 다른 힌지공(131)이 형성되어 있다.
그리고 상부 가압판(120)의 선단부 저면 중앙에는 플렉시블 PCB(180)의 회로패턴(181)이 측정핀(150)에 긴밀히 접촉되도록 가압하는 가압부(121)가 형성되어 있으며, 상부 가압판(120)의 상면 후단부에는 손잡이(122)가 형성되어 있다.
또한, 상기 힌지공(111,131)에는 힌지축(200)이 끼워져 있는 것으로서 상기 상부 가압판(120)은 힌지축(200)을 기점으로 회동되는 것이다.
상부 가압판(120)에 있어서 상기 가압부(121)의 후단부는 직각으로 마감되어 베이스(100)와의 결합시 측정핀 안착부(140)의 후방을 감싸는 스토퍼(123)로 되어 있으며, 이 스토퍼(123)는 플렉시블 PCB의 선단부를 밀어넣을 때 그 선단부가 접촉되면서 인입되는 최적의 위치를 제어하게 된다.
한편, 상부 가압판(120)과 베이스(100)의 사이에는 스프링(190)이 탄력 설치되어 있되, 그 스프링(190)은 상부 가압판(120)의 선단부가 하부로 향하는 방향으로 탄성력이 작용하는 것이다.
상기 스프링(190)이 이탈되는 것을 방지하도록 상부 가압판(120)의 저면과 베이스(100)의 상면에는 스프링 삽입홈(191)이 형성되어 있다.
그리고, 상기 베이스(100)의 저면에는 하부 단자판(160)이 설치되어 있고, 그 하부 단자판(160)에는 측정핀(150)의 하단부가 끼워지는 것이다.
또한, 상기 하부 단자판(160)의 저면에는 컨트롤 보드(170)에 연결되는 연결핀(161)이 설치되어 있다.
이와 같이 구성된 본 발명을 상세히 설명하면 다음과 같다.
먼저, 하부 단자판(160)에 설치된 연결핀(161)이 컨트롤 보드(170)에 연결되 게 본 발명의 소켓을 안착시킨다.
이러한 상태에서 상부 가압판(120)에 형성된 손잡이(122)를 누르면, 상부 가압판(120)은 힌지축(200)을 기점으로 회전하므로 상부 가압판(120)의 선단부에 형성된 가압부(121)는 상부로 이동된다. 이때 스프링(190)은 압축된다.
상기와 같이 가압부(121)가 상부로 이동된 후 플렉시블 PCB(180)의 선단부를 측정핀 안착부(140)와 가압부(121)의 사이로 밀어넣게 되며, 플렉시블 PCB(180)의 선단부가 스토퍼(123)에 닿을 때까지 밀어넣은 상태에서 가압판(120)을 놓게 되는데, 이 때에는 플렉시블 PCB(180)의 회로패턴(181)이 측정핀(150)과 일치되게 위치되며, 손잡이(122)를 놓으면, 스프링(190)의 복원력에 의해서 상부 가압판(120)은 회전하여 플렉시블 PCB(180)을 가압하여 고정하는 것이다.
여기서 상기 가압부(121)는 플렉시블 PCB(180)의 회로패턴(181)의 상면을 가압하므로 상기 회로패턴(181)은 측정핀(150)에 긴밀히 접촉되는데 즉, 회로패턴(181)은 복수개의 측정핀(150)에 동시에 접촉되어 별도의 조절 없이 간단하게 접속 고정되는 것이다.
따라서, 회로패턴(181)은 측정핀(150) 및 연결핀(161)을 매개로 컨트롤 보드(170)와 전기적으로 접촉되어 검사를 수행하게 된다.
상술한 바와 같은 과정을 통하여 검사가 완료된 후 플렉시블 PCB(180)를 분리하고자 할 때에는 상부 가압판(120)에 형성된 손잡이(122)를 누른 후 플렉시블 PCB(180)를 간단하게 분리하게 된다.
도 1 및 도 2는 종래 소켓을 나타낸 사시도.
도 3은 본 발명에 따른 소켓의 사시도.
도 4는 본 발명에 따른 소켓을 나타낸 분해 사시도.
도 5는 본 발명에 따른 소켓을 나타낸 단면도.
도 6 및 도 7은 본 발명에 따른 소켓의 작동상태를 나타낸 단면도.
※ 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ※
100 : 베이스 110 : 고정편
111, 131 : 힌지공 120 : 상부 가압판
121 : 가압부 122 : 손잡이
130 : 지지편 140 : 측정핀 안착부
150 : 측정핀 160 : 하부 단자판
161 : 연결핀 170 : 컨트롤 보드
190 : 스프링 191 : 스프링 삽입홈
200 : 힌지축

Claims (4)

  1. 상면 중앙부 양측에 힌지공(111)이 구비된 고정편(110)이 형성되고, 전면 중앙에는 측정핀 안착부(140)가 형성된 베이스(100);
    상기 힌지공(111)에 대응되는 또 다른 힌지공(131)이 구비된 지지편(130)이 저면 중앙에 형성되고 선단부 저면 중앙에는 상기 안착부(140)에 접하는 가압부(121)가 형성된 상부 가압판(120);
    상기 상부 가압판(120)이 회동되도록 힌지공(111,131)에 끼워지는 힌지축(200);
    상기 상부 가압판(120)의 선단부가 하부로 향하도록 상부 가압판(120)과 베이스(100)의 사이에 탄력 설치된 스프링(190);
    상기 측정핀 안착부(140)에 삽입되는 측정핀(150);
    상기 측정핀(150)의 하단부가 끼워지도록 베이스(100)의 저면 선단부에 설치된 하부 단자판(160)을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 테스트 소켓.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 가압판(120)의 상면 후단부에 손잡이(122)가 더 돌출 형성됨을 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 테스트 소켓.
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 베이스(100)의 상면 및 상부 가압판(120)의 저면에는 스프링 삽입홈(191)이 대응되게 각각 더 형성됨을 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 테스트 소켓.
  4. 청구항 1에 있어서,
    상기 하부 단자판(160)의 저면에는 컨트롤 보드(170)에 연결되는 연결핀(161)이 더 설치되는 것을 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 테스트 소켓.
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