KR100901830B1 - 플렉시블 회로기판 테스트 소켓 - Google Patents
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- H01R33/74—Devices having four or more poles, e.g. holders for compact fluorescent lamps
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- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
Abstract
Description
Claims (4)
- 상면 중앙부 양측에 힌지공(111)이 구비된 고정편(110)이 형성되고, 전면 중앙에는 측정핀 안착부(140)가 형성된 베이스(100);상기 힌지공(111)에 대응되는 또 다른 힌지공(131)이 구비된 지지편(130)이 저면 중앙에 형성되고 선단부 저면 중앙에는 상기 안착부(140)에 접하는 가압부(121)가 형성된 상부 가압판(120);상기 상부 가압판(120)이 회동되도록 힌지공(111,131)에 끼워지는 힌지축(200);상기 상부 가압판(120)의 선단부가 하부로 향하도록 상부 가압판(120)과 베이스(100)의 사이에 탄력 설치된 스프링(190);상기 측정핀 안착부(140)에 삽입되는 측정핀(150);상기 측정핀(150)의 하단부가 끼워지도록 베이스(100)의 저면 선단부에 설치된 하부 단자판(160)을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 테스트 소켓.
- 청구항 1에 있어서,상기 가압판(120)의 상면 후단부에 손잡이(122)가 더 돌출 형성됨을 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 테스트 소켓.
- 청구항 1에 있어서,상기 베이스(100)의 상면 및 상부 가압판(120)의 저면에는 스프링 삽입홈(191)이 대응되게 각각 더 형성됨을 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 테스트 소켓.
- 청구항 1에 있어서,상기 하부 단자판(160)의 저면에는 컨트롤 보드(170)에 연결되는 연결핀(161)이 더 설치되는 것을 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 테스트 소켓.
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KR1020080092464A KR100901830B1 (ko) | 2008-09-20 | 2008-09-20 | 플렉시블 회로기판 테스트 소켓 |
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