JPH01113680A

JPH01113680A - 電子回路のテスト器

Info

Publication number: JPH01113680A
Application number: JP63216198A
Authority: JP
Inventors: Joseph A Ierardi; ジョセフ・エイ・アイアラーディ; Iii Wayne S Alden; ウェイン・エス・アルデン・ザ・サード
Original assignee: Augat Inc
Current assignee: Augat Inc
Priority date: 1987-08-31
Filing date: 1988-08-30
Publication date: 1989-05-02
Also published as: EP0306393A1; US4803424A; CA1295368C

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）この発明は、自動テスト装置のテスト器の分野、特に詳
しくは、短いワイヤを用いてショートワイヤインターフ
ェース・アッセンブリをテストヘッド・アッセンブリに
電気的に確実に結線するバキューム作用のテスト器に閏
するものである。

（従来の技術）この種のテスト器は、テスト中の電子回路装置またはユ
ニット（以下、［ＵＵＴ’Ｊと略称）を自動テスト装置
（以下、ｒＡＴＥＪと略称する）と電気的に接続するた
めに用いられている。前記ｒＡＴＥＪは、前記ｒＵＵＴ
Ｊが所定の品質基準に合致しているか否かを調べ、さら
に、バキューム作動のテスト器へのバキューム圧力源と
そいて機能する。

バキューム作動のテスト器の構造においては、前記ｒＵ
ＵＴＪの一方の面が減圧状態にさらされ、他方の面が大
気圧にさらされ、この大気圧によって、前記ｒＵＵＴＪ
は、テスト器と物理的に着脱自由に接触し、その結果、
前記ｒＡＴＥＪと電気的に接続する。前記ｒＵＵＴＪの
品質管理テストに用いられる従来技術としての典型的な
ピンベツドをもつバキューム動作のテスト器は、第１Ａ
図と第１Ｂ図に示されているようなものである。

第１Ａ図のテスト器１０は、開閉自由の蓋の構造をもつ
可動構造のテストヘッドアッセンブリ１２と、機械的な
らびに電気的に前記ｒＡＴＥＪとインターフェースする
インターフェースアッセンブリ１４とを有し、前者は、
テストされる電子回路装置を着脱自由に保持する。前記
ｒＵｔＪＴＪ１６は、第１Ｂ図に示すように、テストヘ
ッドアッセンブリ１２の支持体１８に近接して配置され
ている。支持体１８に面する前記ｒＵｔＪＴＪ　１６の
面は、ｒＵＬＪＴＪテストポイント２０を含む。

支持体１８は、複数の接点ソケット２２を有し、前記支
持体から前記ソケットを貫通して［ＵＵＴＪ１６から離
れてワイヤラップ（ワイヤで包まれる）の端子が突出て
いる′。複数の接触ソケット２２それぞれは、前記ｒＵ
ＵＴＪのテストポイント２０に対応する位置にあり、ス
プリング付勢の接点２４を有していて、これら接点は、
テストヘッド・アッセンブリ１２の減圧作用の間、即ち
、大気圧の圧力でｒＵＬＪＴＪ　１６が支持体１８に押
し付けられるとき、前記テストピント２０と電気的に係
合する。

インターフェース・アッセンブリ１４は、インチ−フェ
ースパネル２８を有する底部パン２６を含む。複数のイ
ンチ−フェース接点３０がインターフェースパネル２８
に植設され、該接点の頭部は、インター、フェースパネ
ル２８の片面と面一になっており、インターフェースパ
ネル２８の他面からワイヤラップの端子部分が外方へ突
出している。インターフェース接点３０の頭部は、「Ａ
ＴＥＪと電気的に接続しているスプリング付勢のプロー
ブと電気的にインターフェースする。

テストヘッド・アッセンブリ１２を動かすと、テスト器
１０は、開放または閉止いずれかの状態となる。ｒＵＬ
ＪＴＪ　１６のテストは、テスト器１０を閉止状態にし
て行なわれるもので、この状態においては、テストヘッ
ド・アッセンブリ１２は、インターフェース・アッセン
ブリ１４の底部パン２６内に、支持体１８がインターフ
ェースパネル２８の上に平行になるように納まる。この
ような閉止状態においては、接点ソケット２２とインタ
ーフェース接点３０の端子部分（ワイヤラップの）は、
第４Ａ図、第４Ｂ図に示すように、はぼ平行に位置する
。

テストヘッド・アッセンブリ１２及び「Ａ−「Ｅ」と電
気的に接続しているスプリング付勢のプローブの間に電
気テスト回路を形成するためには、接点ソケット２２の
端子部分を開放状態にあるテスト器１０のインターフェ
ース接点３０の端子部分に結線する。開放状態において
は、支持体１８は、インターフェースパネル２８と見開
き状態にあって、はぼ実質的に同じ面にあり、接点ソケ
ット２２の端子部分とインターフェース接点３０の端子
部分とは、最も離れた状態にある。

結線は、接続ワイヤ３２の一端を接点ソケット２２のワ
イヤラップの端子部分に結線し、前記ワイヤ３２の他端
をインターフェース接点３０のワイヤラップの端子部分
に結線して行なわれる。

開放状態のテスト器での結線には、比較的長さの長い、
例えば、１２インチから４０インチ（このような長さは
、前記開放状態のとき、前記接点ソケット２２とインタ
ーフェース接点３０の端子部分が最も離れた位置関係に
あるため）の範囲の結線用ワイヤ３２が必要となる。

（発明が解決しようとする課題）前記のように、結線のために比較的長さの艮いワイＶを
用いると、ｒＵＵＴＪ１６とｒＡＴＥＪとの間には、比
較的長いシグナルパスが形成され、回路へのリスポンス
タイムが増加することにより、ｒｔＪＬＪＴＪのリアル
タイムテストに不利益を与えることになる。さらに、良
いシグナルバスは、インピーダンスの高いパスとなり、
キャパシティブ、インダクテイブ及び／あるいはレジス
テイブ効果のため、ｒＵＬＪＴＪのテストに悪影響を与
える。

この点を解決するのが、この発明の課題である。

（：Ｉ！題を解決するための手段）この発明は、前記の課題を解決するために発明されたも
のであって、結線のためのワイヤを短く、特に、ショー
トワイヤ・インターフェースアッセンブリとテストヘッ
ド・アッセンブリとの間を結線するワイヤの長さを４〜
８インチの長さに短くしするようにして、前記の問題を
解決したものである。

この発明におけるショートワイヤ（ＳＷ）インターフェ
ースアッセンブリは、複数の凹部を一方の面に有するベ
ースカバープレートを含む。このベースカバープレート
の他方（下方）の面は、前記ｒＡＴＥＪとインターフェ
ースするに適してＶす、該ｒＡＴＥＪによる減圧作用に
より減圧されるようになっている。フレキシブルなシー
ル部を有する複数のインターフェースストリップが前記
凹部に着座し、前記シール部の周縁が前記ベースカバー
プレートの一方の面に密着するようになつでいる。それ
ぞれのインターフェースストリップには、−列または数
列の配列でインターフェースコンタクト（接点）が配置
してあり、これらインターフェース接点は、頭部（底部
）が前記凹部の底壁に面する前記インターフェースの面
に臨んでいる。そして、インターフェース接点の結線さ
れる端子部分は、前記インターフェースストリップの上
面から突出している。

前記したインターフェースストリップは、前記したテス
トヘッドアッセンブリに近接して位置され、これによっ
て、テストへラドアッセンブリとインターフェースアッ
センブリとを結線する場合、結線のためのワイヤの長さ
を短くすることができる。それぞれのインターフェース
ストリップのインターフェース接点の結線される端子部
分は、テストヘッドアッセンブリの接点ソケットの端子
部分に近接して位置されるようになっており、該接点ソ
ケットには、予め既に短い結線ワイヤが結線されている
。それぞれのインターフェースストリップに結線するた
めには、結線作業がしやすいように、前記インターフェ
ース接点の端子部分をその位置から１８０°反転させ、
この状態で結線してから、また原位置へと反転して戻せ
ばよい。

浮動の係留接点がベースカバープレートに形成された孔
に配置してあり、該接点の第１の接点部分は、前記凹部
に位置し、それぞれ対応のインターフェース接点の頭部
（底部）と電気的に接触し、第２の接点部分は、ベース
カバープレートの底面に近く配置されて、前記ｒＡＴＥ
Ｊと電気的に接続しているスプリング付勢のプローブと
電気的に接触するようになっている。そして、浮動の係
留接点とベースカバープレートとの相互関係によって、
浮動の係留接点は、所定の範囲での動きをなすように規
制されている。

減圧作用が作用している間、ｒＡＴＥＪのスプリング付
勢プローブの突き上げの力は、浮動の係留接点を介して
インターフェース接点の頭部（底部）へ伝達される。し
かしながら、前記のように、浮動の係留接点は、その動
きのストロークが規制されているので、インターフェー
ス接点は前記係留接点の動きの上限以上には、上方へ押
圧されず、したがって、前記シール部の密着作用を阻害
しない。

このように、前記シール部は、減圧と加圧の両件用によ
り、ベースカバープレートに密着し、その密着作用は、
前記ｒＡＴＥＪの前記プローブの突き上げが規制される
ため、良好に維持される。

（実施例）第２Ａ図、第２Ｂ図に示されている実施例により、この
発明によるショートワイヤ（ＳＷ）インターフェースア
ッセンブリ５０を詳細に説明する。ＳＷインターフェー
スアッセンブリ５０は、以下に記載するように、前記し
たテストヘッド・アッセンブリ１２との組合わせで、テ
スト器１０゜を構成し、前記ｒＡＴＥＪとのコンビネー
ションで前記ｒＬＪＬＪＴＪのテストを行なう。

ＳＷインターフェースアッセンブリ５０は、適当な不導
通材料から形成されたベースカバープレート５２を含み
、このプレートは、その下面５４に減圧作用が加わるよ
うにされて、前記ｒＡＴＥ］とインターフェースするよ
うになっている。

また、別な構造としては、ベースカバープレート５２は
、前記したように、底部パン２６に取付けられてもよく
、この場合も、下面５４に減圧作用が加わるようにされ
ている。ベースカバープレート５２の他の面５８、即ち
、上面には、複数の凹部５６が設けられており、これら
凹部５６は、第２Ａ図、第２Ｂ図に示されているように
、底壁６０、該底壁６０から直角に立ち上がる側壁６２
、該側壁から面５８へ斜めに延びるテーパー壁６４を有
している。

前記した凹部５６の他の例は、第３Ａ図、第３Ｂ図に示
してある。この凹部５６は、側壁部分に段部を有する断
面形状であって、側壁は、底壁６０から垂直に立ち上が
る第１の側壁６２ａ、この側壁に直交する段部６３、こ
の段部６３から垂直に立ち上がる第２の側壁６２ｂを備
え、側壁６２ｂにテーパー側壁６４が続く構造になって
いる。

第２Ａ図に示すように、フレキシブルなシ−ル部６８が
固着している複数のインターフェースストリップ６６そ
れぞれが、それぞれ対応する凹部５６に嵌まりこむよう
になっている。そして、シール部６８の外縁が凹部５６
のテーパー壁６４に接触するようになっている。ベース
カバープレート５２の下面５４側に減圧作用が作用する
に先立ち、インターフェースストリップ６６それぞれは
、対応する凹部５６に、支承ブロック７０を介して着座
するか（第２Ａ図）または第３Ａ図の構造における凹部
５６の段部６３に着座する。

インターフェースストリップ６６それぞれには、前記し
たようなインターフェース接点３０が一列または複数列
になって設けられている。これら接点の頭部は、凹部５
６の底壁６０と対面するインターフェースストリップ６
６の面にそって位置し、インターフェース接点３０のワ
イヤラップ端子部分は、インターフェースストリップ６
６の他方の面から突出している。インターフェース接点
３００頭部は、浮動する係留接点７２と電気的に接続す
る。浮動する係留接点７２は、前記［ＡＴＥＪと電気的
に接続しているスプリング付勢のブＯ−ブと共働するよ
うになっている。

この発明による、フレキシブルなバキューム・シール部
６８をもつインターフェースストリップ６６によって、
インターフェース接点３０のワイヤラップ端子部分と接
点ソケット２２のワイヤラップ端子部分とを短いワイヤ
３２°　（ハードな硬いワイヤ）で結線することができ
る。このワイヤ３２°は４〜８インチの長さのものであ
る。インターフェース接点３０をもつインターフェース
ストリップ６６それぞれは、該ストリップがベースカバ
ープレート５２に対し機械的固定手段または接着固定手
段のいずれによっても固定されていないため、それぞれ
対応する接点ソケット２２に近接して位置することがで
きるようになっている。そして、前記ｒＡＴＥ］の減圧
作用に先立ち、インターフェースストリップそれぞれは
、重力作用によって、ベースカバープレート５２と接触
するように配置される。前記ｒＡＴＥＪの減圧作用の間
、フレキシブルなシール部６８の外縁に大気圧が作用し
、これをベースカバープレート５２のテーパー壁５４に
押し付ける。

インターフェースストリップ６６のインターフェース接
点３０の端子部分に結線するには、短いワイヤ３２゛を
予め結線しておいたテストヘッド・アッセンブリ１２の
接点ソケット２２の端子部分に接近させて位置させ、イ
ンターフェースストリップ６６を１８０°回転させて、
第４Ａ図に示すように反転し、インターフェース接点３
０の端子部分を外側に曝せば、該端子部分の結線作業が
しやすくなる。このようにして、ワイヤ３２°の他端（
一端は、すでに結線済み）をインターフェース接点３０
の端子部分に結線する。このように結線されたインター
フェースストリップ６６は、再び１８０′回転され、第
４Ｂ図の状態に戻される。すべてのハードなワイヤによ
る結線がｍ止状態のテスト器１０°においては、結線さ
れたインターフェースストリップ６６は、第２Ａ図に示
すように、凹部５６それぞれに懸架状態で配置される。

第５Ａ図の短いワイヤ結線のインターフェースアッセン
ブリ５０゛を用いるテスト器１０゛°は、この発明のプ
ロトタイプ例であった。フレキシブルなシール部６８と
インターフェース接点３０をもつ結線されたインターフ
ェースストリップ６６は、図示のような第１側壁６２ａ
°、段部６３゛、第２側壁６２ｂ°の構成の凹部５６に
納められ、理論的には、ベースカバープレート５２の下
面５４側へ作用する減圧作用がインターフェースストリ
ップ６６の一方の側に作用し、その結果、インターフェ
ースストリップ６６の他方の側への大気圧の加圧作用で
インターフェースストリップ６６とシール部６８とが第
５Ａ図に示すように、ベースカバープレート５２に密着
する筈であった。

しかしながら、実際には、インターフェースストリップ
６６とシール部６８とは、ｒＡＴＥＪのスプリング付勢
のプローブの突き上げ、大気圧の加圧作用の不足、ベー
スカバープレート５２の下面側からの減圧作用の不十分
さによって、ベースカバープレート５２から遊離してし
まう（第５Ｂ図）ことが判明した。第５Ｂ図のような遊
離した状態であると、大気圧の加圧作用は、減衰し、イ
ンターフェースストリップ６６、シール部６８の上下両
側は、圧力が平衡し、前記ストリップ６６は、ベースカ
バープレート５２の凹部５６から浮上してしまう。

このようなｒＡＴＥＪのスプリング付勢プローブからの
突き上げによるシール不良、ｔ９［不良を防ぐために、
この発明では、インターフェースストリップ６６に配置
されているインターフェース接点３０の頭部と、ｒＡＴ
Ｅ］と電気的に接続するスプリング付勢のプローブとの
間に浮動の係留接点７２を配置、した。このような浮動
の係留接点７２は、第２Ａ図に示すｘ−Ｘの幅のストロ
ークをもって上下に昇降するもので、前記接点７２は、
ベースカバープレート５２に規制されて、規定幅以上に
は、上方向へ突出できないようになっている。

浮動の係留接点７２のそれぞれは、対応するインターフ
ェース接点３０の頭部と電気的にインターフェースする
第１接点部７４、胴部７６及び前記「ΔＴＥＪと電気的
に接続しているスプリング付勢のプローブと共働する第
２接点部７８から構成され、第２接点部７８は、前記ス
プリング付勢のプローブに接点７２が突き上げられると
、ベースカバープレート５２の下面５４に突き当たり、
プローブ７２の上限位置を定めるストッパとして作用す
る。−例としての第３Ａ図に示すように、第１接点部７
４は、矢のようにとんがっており、第２接点部の底面は
、フラットな面の形状をしている。

浮動の係留接点７２それぞれは、ベースカバープレート
５２に形成された貫通孔８０に挿通されており、これら
貫通孔８０は、ベースカバープレート５２の下面５４と
凹部５６とを連通している。前記接点７２は、ベースカ
バープレート５２の下面５４側から前記貫通孔８０に挿
通される。

各浮動の係留接点７２は、第１接点部の下部部分がカラ
ー８２により係止されて、前記貫通孔に昇降自由に挿通
、配置され、その昇降ストロークＸは、前記のような構
造によって規制されている。カラー８２は、テフロン（
商標）のような不導通性の素材からなる板材からなるも
ので、前記接点７２の第１接点部７４の大径部よりも僅
かに狭い径の貫通孔８４を有するもので、カラー８２は
、前記接点７２の胴部７６に係合し、前記接点７２が下
降し、カラー８２が凹部５６の底壁６０に当接すると、
第２接点部７８とベースカバープレート５２の下面５４
との間に前記したようにＸで示す空隙が残され、これが
前記接点７２の上下昇降ストロークとなる。

第６Ａ図と第６Ｂ図は、インターフェースアッセンブリ
５０のの他の例を示すものであって、米国特許箱４．６
３６．０２６号明細１Ｊ（１９８７年１月１３日特許）
に開示されているようなスプリング付勢の接点８６が凹
部５６に配置され、インターフェースストリップ６６に
設けられているインターフェース接点３０の頭部（底部
）と電気的にインターフェースするように構成されてい
る。スプリング付勢の接点８６は、第６Ａ図に示すよう
に、ベースカバープレート５２を貫通する孔に固定され
たソケット８８に取付けられ、該接点８６の頭部９２は
、インターフェース接点３０の頭部の直下に位置する。

スプリング付勢の接点８６は、その頭部９２に加えられ
る圧力によって弾性変形するように構成されている。

第６Ａ図に示すように、インターフェースストリップ６
６が凹部５６に配置され、該ストリップ６６のフレキシ
ブルなシール部６８は、ベースカバープレート５２の上
面５８に当接し、インターフェース接点３０の頭部は、
スプリング付勢の接点８６の頭部９２に近接しているか
、または、軽く接触している。

ベースカバープレート５２の下面５４に作用する減圧作
用は、前記した凹部５６にも作用する。

例えば、第６Ａ１６Ｂ図に示すように、前記下面５４と
凹部５６とを連通するボート９４がベースカバープレー
ト５２に形成されており、このボートを介して減圧作用
が凹部５６へも作用する。また、第２Ａ、２Ｂ図の場合
には、浮動の係留接点７２に長さ方向の溝を作り、この
ような溝を介して下面５４から凹部５６へ減圧作用が伝
わるようにもできる。

凹部５６に作用する減圧作用と共に大気圧も第２Ａ図に
示すインターフェースアッセンブリ５０のインターフェ
ースストリップ６６とシール部６８に作用し、これらに
よって、シール部６８は、減圧による吸引と大気圧によ
る加圧作用で、テーパー壁７４にぴったり押圧される。

そして、前記ｒＡＴＥＪのスプリング付勢のプローブに
よって、浮動の係留接点７２の第２接点部７８が突き上
げられるが、前記したようなインターフェースアッセン
ブリ５０の・構造により、前記の第２接点部７８は、所
定の距離Ｘの範囲のみしか上下動しないので、インター
フェースストリップ６６の押し上げられる上下の幅は、
はぼＸ−Ｙの寸法となる　゛（ここで、寸法Ｙは、イン
ターフェースストリップ６６、シール部６８が凹部５６
において減圧ならびに加圧を受けていない状態にあると
きの第１接点部７４とインターフェース接点３０との間
の間隔寸法を指す）。

フレキシブルなシール部６８は、荷重に対し敏感に作用
するもので、インターフェースストリップ６６が前記Ｘ
−Ｙの距離を上下動するとき、フレキシブルなシール部
６８によって、該ストリップは、凹部５６から脱出せず
、シール部６８の周縁は、テーパー壁６４に密着接触し
た状態を保つ。

第６Ａ図と第６Ｂ図に示した実施例においては、ベース
カバープレート５２に固着されたソケット８８は、前記
ｒＡＴＥＪと電気的に接続したスプリング付勢のプロー
ブにより、その底部が押されても不動で（第６Ａ図）、
該プローブの押し上げ力は、インターフェースストリッ
プ６６に作用しない。そして、ベースカバープレート５
２の上面５８に作用する大気圧作用で、インターフェー
ス接点３０の頭部（底部）が接点８６の頭部９２を押圧
するようになり、スプリング付勢の、接点８６は、ソケ
ット８８内に変形して納められる。

このスプリング付勢の接点８６のソケット８８内におけ
る弾性変形に対する抵抗力の増加により、個々のインタ
ーフェースストリップ６６の動き及びシール部６８の可
撓度合が規制される（第６Ｂ図）。また、支持ブロック
７０°を凹部５６に配置して、インターフェースストリ
ップ６６の動きを規制するようにもできる。

以上述べた実施例は、この発明を限定するものではなく
、各種の変形が発明の技術的範囲内で実施可能である。

（発明の効果）この発明によれば、テストのための結線が従来のものよ
りも長さが短いワイヤで行なえるため、正確なテストが
行なえるものである。

【図面の簡単な説明】

第１Ａ図は、従来技術におけるテスト器の半開開放状態
を示す斜視図である。第１Ｂ図は、第１Ａ図に示したテスト器のヘッドアッセ
ンブリの一部の断面図である。第２Ａ図は、この発明によるショートワイヤ・インター
フェースアッセンブリの要部断面図である。第２Ｂ図は、第２Ａ図に示されたものの減圧されたテス
トの状態における断面図である。第３Ａ図は、ベースカバープレートに設けた凹部に浮動
の係留接点を装着する方法の説明図である。第３Ｂ図は、第３Ａ図の浮動の係留接点を前記凹部に装
着した構造を示す断面図である。第４Ａ図は、インターフェースストリップに設けたイン
ターフェース接点を接続ワイヤを介してテストヘッドア
ッセンブリの接点ソケットに結線する工程の説明図であ
る。第４Ｂ図は、ベースカバープレートの凹部に納められる
結線されたインターフェースストリップの構成を示す断
面図である。第５Ａ図は、インターフェースストリップを有するイン
ターフェースアッセンブリのプロトタブ例の説明図であ
る。第５Ｂ図は、第５Ａｌｌのものがシール不良となる状態
を示す説明図である。第６Ａ図は、リベットを用いる、この発明によるショー
トワイヤ・インターフェースアッセンブリの他の例を示
す断面図である。第６Ｂ図は、減圧テストが行なわれている状態の第６Ａ
図に示されたものの断面図である。１０・・・・・・テスト器１２・・・・・・テストヘッドアッセンブリ１４・・・
・・・インターフェースアッセンブリ１６・・・・・・
電子回路装置１８・・・・・・支持体２０・・・・・・テストポイント２２・・・・・・接点ソケット２８・・・・・・インターフェースパネル３０・・・・
・・インターフェース接点３２・・・・・・結線用ワイ
ヤ５０・・・・・・ＳＷインターフェースアッセンブリ５
２・・・・・・ベースカバープレート５６・・・・・・
凹部６６・・・・・・インターフェースストリップ６４・・
・・・・テーパー壁６８・・・・・・シール部（夜采技株〒）二二ｒηＴ、５Ｂ；７ΦＴｊｌ：＝βη７Ｆ６〇二Ｍ４Ａ二＝η１ｕ５Ａ、＝７ηη”５Ｅ

Claims

【特許請求の範囲】

（１）下記の構成を備えた電子回路のテスト器：（ａ）
テストすべき電子回路装置を着脱自由に保持し、このテ
ストすべき電子回路装置のテストポイントに対応する所
定の配列をもった電気接点を含むテストヘッドアッセン
ブリ；（ｂ）テストすべき電子回路の電子的テストとテストの
ための減圧作用を行なうに適した自動テスト装置とイン
ターフェースし、結線のための部分を有する電気接点手
段を含むインターフェースアッセンブリ：ならびに（ｃ）テストすべき電子回路装置と自動テスト装置とを
電気的に接続するために、前記インターフェースアッセ
ンブリと前記テストヘッドアッセンブリの電気接点とを
結線するための長さが短い結線のためのワイヤ。
（２）前記インターフェースアッセンブリが下記の構成
を有する特許請求の範囲第１項のテスト器；（ａ）前記
インターフェースアッセンブリの前記電気接点を前記テ
ストヘッドアッセンブリの前記電気接点の所定の配列に
対応する所定の配列に保持し、前記電気接点を、長さが
短い結線ワイヤで結線するために、前記テストヘッドア
ッセンブリの前記電気接点に近接位置させるように可動
であって、前記接点を結線作業のしやすい位置へ位置す
るように回転可能である保持手段；（ｂ）前記保持手段を密着状態で受ける手段；ならびに（ｃ）前記保持手段に配置してある前記電気接点と前記
自動テスト装置とを、後者により前記保持手段に作用す
る荷重を制限するようにして機械的ならびに電気的にイ
ンターフェースさせる手段。
（３）下記の構成を備えた電子回路のテスト器：（ａ）
テストすべき電子回路装置を着脱自由に保持し、このテ
ストすべき電子回路装置のテストポイントに対応する所
定の配列をもった電気接点を含むテストヘッドアッセン
ブリ；（ｂ）テストすべき電子回路の電子的テストとテストの
ための減圧作用を行なうに適した自動テスト装置とイン
ターフェースし、結線のための部分を有する電気接点手
段を含むインターフェースアッセンブリであって、ベー
スカバープレートと、複数のインターフェースストリッ
プと、複数の浮動の係留接点とを有し、前記ベースカバ
ープレートは、下面と反対面とをもち、該下面は、前記
自動テスト装置とインターフェースし、前記反対面には
、複数の凹部があり、これら凹部に対応する複数の接点
のための孔が前記下面から延設されている構成であり、
前記インターフェースストリップそれぞれは、前記テス
トヘッドアッセンブリの前記電気接点の所定の配列に対
応する所定の配列のインターフェース接点を有し、さら
に、前記自動テスト装置の減圧作用が作用したとき、前
記ベースカバープレートに密着するシール部を有する構
成で、前記係留接点は、前記複数の接点のための孔に配
置され、前記インターフェースストリップそれぞれに配
置のインターフェース接点と自動テスト装置とを機械的
ならびに電気的にインターフェースさせると共にその動
きが規制されて、前記シール部による前記ベースカバー
プレートとの密着状態を保持させる構成のものであるイ
ンターフェースアッセンブリ：ならびに（ｃ）テストすべき電子回路装置と自動テスト装置とを
電気的に接続するために、前記インターフェースアッセ
ンブリと前記テストヘッドアッセンブリの電気接点とを
結線するための長さが短い結線のためのワイヤ。