JPS6184568A - インサ−キツトテスタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、回路基板などのインサーキットテスタに係り
、特に、検査ずべき回路基板を装着する面を有しかつ検
査用プローブを内蔵するユニットとしての着脱自在なフ
ィクスチュアのリセプタクルと、フィクスチュアを受け
る支持基台のプラグとの電気的接続手段を改良したイン
サーキットテスタに関する。

〔従来の技術〕

回路基板にＩＣ，ＬＳＩ等を実装したものの電気的検査
のためにインサーキットテスタが用いられる。この種の
テスタとしては、検査すべき回路基板を支持する手段と
、支持された回路基板の多数のテストポイントに対し検
査用の多数のプローブを接触させるように移動自在のプ
ローブ保持ボードとを具備するユニットとしてのフィク
スチュアを有するものが知られている（１）間隔５８−
１３７７２号、同５９−５６１７６月公報参照）。

この種インサーキットテスタでは、フィクスヂュア内部
の多数のプローブの基端にそれぞれ連なる電気コードを
検査用機器に接続しなければならないが、このためには
多数のコネクタが用いられる。このコネクタの接続およ
び切離しは、フィクスチュアを着脱自在とした場合には
着脱の度に行わなければならないが、多数のコネクタの
各々についてそれを行うことは大変面倒なことである。

〔発明の目的〕

本発明は、このような面倒な作業をなくし、ハンドルの
操作で多数のコネクタの接続および切離しを一斉にしか
も瞬時に行うことを可能にしたインサーキットテスタを
得ることを目的とする。

〔目的を達成するための手段〕

本発明によるインサーキットテスタは、検査すべは回路
基板を着脱自在に支持する手段と、支持された回路基板
に対し接近離間自在に支持され、多数のコンタクトプロ
ーブを保持するプローブ保持ボードと、このプローブ保
持ボードを回路基板に向かって接近させ、テストのため
にコンタクトプローブ先端を基板に接触させるようにす
るプローブ保持ボード移動装置と、コンタクトプローブ
の基端にそれぞれ連なる多数の電気コードの複数群の各
群の端子をまとめて保持する複数のりセプタクルとを具
備するユニットとしてのフィクスチュアを有し、このフ
ィクスチュアが支持基台上に着脱自在に装着され、支持
基台内には、フィクスチュアの装着時に前記複数のリセ
プタクルのそれぞれと突合才状に対向する位置に複数の
プラグが固定され、各プラグ内には、それと対をなすリ
セプタクルがプラグに対向する位置をとった時にリセプ
タクル内に挿入されてリセプタクル内の各端子と間隔を
おいて隣接する端子が設けられ、プラグ内の端子はそれ
ぞれが電気コードを介して測定検査は器に接続され、各
プラグ内には、その内部の一群の端子のそれぞれを、リ
セプタクル内の一群の端子のそれぞれに接触するように
一斉に押圧変位させる回転カムが設けられ、Ｊべてのプ
ラグ内の回転カムはそれぞれ回転軸に支持され、回転軸
はプラグの外部に突出し、づべての回転軸を、リセプタ
クルおよびプラグの隣１をする端子を接触させる接触位
置と、両端子が離れることを許す解放位置との間で一斉
に回転変位させるための回転操作１１１構が支持基台内
部に設けられている。

〔実施例〕

第２図に示すように、本発明を施したインナーキットテ
スタは操作テーブル１を有し、その上にテスト用操作ボ
タン２、コンピュータ操作キー３、プリンタ４、ＣＲＴ
５等が設けられている。操作テーブル１はざらに支持基
台６を有し、その上にユニットとして構成されたフィク
スチュアＦか着脱自在に支持されている。基台６は傾斜
した斜面を右し、この斜面に載置されるフィクスチュア
Ｆはほぼ直方体形状をなしている。フィクスチュアＦの
傾斜した上面には、検査すべき実装回路基板Ｓ、Ｓが着
脱可能に装着される。フィクスチュアＦの側面には後述
の回転ハンドル８が設けられる。

第２図のＩ−Ｉ断面である第１図に示すように、支持基
台６は取付板１０を有し、この取付板によって操作テー
ブル１上に固定されており、その上に装着されるフィク
スチュアＦは、側枠１１１３よび底板１２を有し、底板
１２の中央部下面には後述のリセプタクルの保持用板１
３が固定されている。第３図に示す支持基台６の傾斜し
た上面板１４の下端の位置決め部１５等によってフィク
スチュアＦを位置決めした後、フィクスチュアＦは固定
金具１６．１７によって支持基台６上に固定される。

第１図に示すように、フィクスチュアＦの内部にはその
上面近くに固定板１つが固設されている。

この固定板１９の下側には、矢印Ａ方向に摺動変位可能
に、電気絶縁材料からなるプローブ保持ボード２０が設
けられる。プローブ保持ボード２０の１習勅変位は部材
２１．２２の内面の案内によりなされる。プローブ保持
ボード２０を第１図に示１通常位置に保持するために、
１０−１保持ボード２０を摺動自在に貫通ずる頭付き固
定ビン２３ａ、２３ｂが設けられ、それにコイルばね２
４ａ、２４ｂが巻回されている。」イルばね２４ａ、２
４ｂの力によって、プローブ保持ボード２０は常に図示
の位置へ向かって弾圧される。

プローブ保持ボード２０には、それを貫通して多数のビ
ン状コンタクトプローブｌ）　ｒが保持されている。各
コンタクトプローブｐｒの先端部（上端部）は、固定板
１９に設けた案内スリーブ２６の内部を摺動自在に貫通
する。また、各コンタクトプローブｐｒの基端部はプロ
ーブ保持ボード２０の下側で電気コード２７に接続され
ており、コンタクトプローブｐｒの数に対応する多数の
電気コードはｌｉ数の群にまとめられ、各群の電気コー
ドはリセプタクルＲ内にまとめて保持され、後述のよう
に各リセプタクルＲ内には多数の電気コード端子が配置
される。

固定板１９の上面の四辺部にはシール用ガスケット２つ
が設けられ、その外側には、検査すべぎ回路基板Ｓの四
隅部の小孔に挿入する位置決めビン３０が突設されてい
る。回路基板Ｓは、位置決めビン３０の挿入後、それか
ら抜けないように適当な手段で固定される。

フィクスチュアＦの前記部材２２には、固定板１９とプ
ローブ保持ボード２０の間の空間に連通ずる真空吸引通
路３１が設けられ、この真空吸引通路３１は、ワンタッ
チ方式のコネクタ３２を介して、真空吸引源（図示しな
い）に連なる真空管路３３に接続されている。よって、
真空吸引源による作用によりプローブ保持ボード２０の
上方空間に真空が生じると、プローブ保持ボード２０は
その下側の常圧空気の作用により、コイルばね２４の力
に抗して上方（矢印へ方向）へ平行に摺動変位させられ
、真空が断たれると、プローブ保持ボード２０は、その
上の空気圧により第１図の実線位置へ戻る。

プローブ保持ボード２０が上昇すると、それにより保持
されるコンタクトプローブＰｒの先端も上昇し、それが
、回路基板Ｓの検査点に接触する。

よって、電気コード２７を経て後述のように検査信号を
図示しない検査機器へ送ることができる。

電気コード２７の群の端子を内蔵する前記リセプタクル
Ｒは、第１図のＩＶ　−ＩＶ断面に相当する第４図に示
すように、複数個（図では４個を示しである）設けられ
る。

支持基台６の上面板１４には検知スイッチＳＷが固定さ
れる。このスイッチＳＷは、プローブ保持ボード２０が
前述のように真空作用で上貸して検査がなされた後、真
空の′ａ所によりプローブ保持ボード２０が第１図の位
置に戻ると、その作動子の圧下ににり次の動作指令を出
すスイッチである。

支持基台６の剛性側板６ａ（第１図、第３図）には、そ
れと一体内に台板３５が設けられ、この台板３５から一
体的にロンド３６が斜め上方へ突設されている。そして
、ロンド３６の先端寄り部分にはプラグ支持板３７が固
定され、この支持板３７を貫通して電気的接続用のプラ
グＰが支持されている。プラグＰは前記リセプタクルＲ
のそれぞれに突合せ状に対向して、電気的接続を行うた
めのものである。各プラグＰから取出される多数の電気
コードは検査のための電気機器（図示しない）に接続さ
れる。

本発明では、フィクスチュアＦを支持基台６上に固定し
終ると、各リセプタクルＲは上述のように各プラグＰに
突合せ状に対向するが、それに続いて前記ハンドル８を
回転操作することにより、リセプタクルＲとプラグＰの
８対の内部で一斉に電気的な接続がなされるような構成
がとられる。

以下、それについて詳細に説明する。

第５図に示すように、リセプタクルＲには前述のコンタ
クトプローブからの電気コード２７の一群がまとめて挿
入されている。一方、それと対をなすプラグＰ内にはそ
の末端部から電気コード２７の数に対応する電気コード
３９の群がまとめて挿入されている。プラグＰ内にはそ
れを貫通して回転軸４０が回転可能に支持されており、
この回転軸４ｏの基端には、それから半径方向外方に突
出するように揺動Ｍ４１が設けられている。また、回転
軸４０の先端４０ａには半径り向突起４２が形成されて
いる。

第６図および第７図はリセプタクルＲＬ！３よびプラグ
Ｐの内部の構造を示す。リセプタクルＲ内ぐは、それに
導入された各電気コード２７は中空絶縁体４４内に保持
した端子２７ａに接続されている。端子２７ａはそれか
ら切起した弾性片２７ｂにより絶縁体４４の内壁に押し
つけられている。

一方、プラグＰ内でも、それに尋人された各電気コード
３９は、中空絶縁体４５内に保持した端子３−９８に接
続されており、端子３９ａはそれから切起した弾性片３
９ｂにより絶縁体４５の内壁へ押しつけられている。端
子３９ａが押圧される方向は端子２７ａが押圧される方
向と反対であり、したがって外部から操作力が加えられ
ない限り、両端子２７ａ、３９ａは第６図に示すように
相互に離れており、電気的接続はなされない。

プラグＰのリレブタクルＲに近い端には可動絶縁体４６
が図における左右方向に移動可能に設けられており、端
子３９ａは可動絶縁体４６内を通つて突出している。そ
して、プラグＰに対しリセプタクルＲが突合せられると
、端子３９ａはリセプタクル側の中空絶縁体４４内へ挿
入される。

前述の回転軸４０は可動絶縁体４６に隣接して回転カム
４８を有している。この回転カム４８は、小径部と大径
部とを有し、回転カム４８の小径部が第６図のように可
動絶縁体４６に接している限りは両端子２７ａ、３９ａ
の接触は起きない。ところが、回転軸４０の回転によっ
て回転カム４８の大径部が第７図に示すように回転変位
すると、可動絶縁体４６は矢印方向に押され、端子３９
８は左方へ弾性変形させられて端子２７ａに接触し、電
気的導通状態が形成される。

以上に述べた絶縁体４４．４５は、電気コード２７．３
９の本数に相当するだけ設けられるものである。実際に
は、絶縁体４４．４５は、リセプタクルＲについての例
を第８図に示すように、格子状配置の多数の小孔を有す
る部材として形成され、また、可動絶縁体４６も同様に
隣接するもの同士が一体化された部材として形成される
。可動絶縁体４６は、例えば第９図に示すように構成で
き、それを−斉に変位させるためには回転カム４８と可
動絶縁体４６との間に板材４つを介在させる。

一方、第１０図に示すように、プラグＰのリセプタクル
Ｒに対向する而には多数の端子３９ａが突出する。回転
＠４０の先端の突起４２は、リセプタクルＲの中央の孔
４３（第８図）の角度位置合せ溝４３ａに挿入されるよ
うになっている。

次に、リセプタクルＲとプラグＰの内部の端子の接続の
ための回転軸４０の回転をいかにして行うかについて説
明する。

第４図に示ずように、支持基台６内の台板３５上には軸
受５１が固定され、この軸受５゛１に操作軸５２が回転
自在に支持され、それに前記回転ハンドル８が連結され
ている。操作軸５２には円１１休５３が固定され、その
表面にカム満５４が形成される。カム満５４内にはビン
状のカム従動子５５が係合しており、カム従動子５５は
第１１図に示ずようにガイド杆５６の下面に設（ブられ
てぃる。ガイド杆５６は矢印し　、０２で示す左右方向
に変位自在に支持される。ガイド杆５６は、第１図に示
すように、ロンド３６に支持した案内溝部材５７内で摺
動変位する。

第１２図に示すように、ガイド杆５６はほぼ円弧状の切
除部５９を有し、プラグＰ内から第５図のように突出す
る回転軸４０の下端の揺動腕４１は第１２図のように切
除部５９に係合している。

揺動腕４１は第１３図に示すように形成することができ
る。

第１４図に示すように、円柱体５３の表゛面の展開状態
でカム溝５４は円弧状に形成される。したがって、フィ
クスチュアＦを支持基台６上に載置し固定した後、第１
１図において、ハンドル８を同図の矢印Ｌ１方向に押圧
回転すると、カム従動子５５およびガイド杆５６は矢印
Ｌ２方向（右方）へ変位する。ただし、ガイド杆５６の
変位はＬ２方向への直線変位ではなく、第１２図におけ
る下方への変位を伴った円弧状の変位となる。そして、
これによって、プラグＰの回転軸４０の揺動腕４１は実
線位置から鎖線位置へ回動し、互いに突合せ状に対向す
るリセプタクルＲとプラグＰの端子２７ａ、３９８は第
７図に示すように電気的に接続される。この接続は、同
じガイド杆５６に係合しているＷｉＩＸＩＩＷｉｄ４１
をもつずべてのプラグＰとそれに対向するりセプタクル
について一斉に行われる。

ハンドル８を第１１図の矢印０１方向に回転すると、ガ
イド杆５６はｏ２方向に変位し、揺動腕４１は前と逆の
方向に一斉に回動し、第６図に示す解放状態が得られる
。よって、固定金具１６゜１７をはずせば、フィクスチ
ュアＦはユニットとして取外すことがきる。

第１５図ないし第１８図は、第１１図ないし第１４図つ
いて説明したプラグ回転軸の回転操作は構の他の例を示
す、この例では、各プラグ回転軸４０の基端の揺動腕４
１に立上りピン６０が形成され、このピン６０がガイド
杆５６に形成した円弧状スロット６１に係合している。

第１５図はリセプタクルＲとプラグＰの解放状態を示し
ており、ハンドル８の押圧回動によりガイド杆５６を矢
印Ｌ２方向に変位させると、第１６図の状態が得られ、
りけブタクルＲとプラグＰはロックされ、その内部の端
子は接触する。なお、この例ではガイド杆５６は直線状
に往復動ずればよいので、第１８図に示すように、円柱
体５３の表面の展開状態でカム溝５４は直線状をなして
いる。

（発明の効果） 以上のように、本発明では、ハンドルの操作により回転
操作機構を作動させることによって、複数のプラグの回
転軸を一斉に同方向に回動させて、それに突合せ状に対
向しているリセプタクルとの電気的接続および切離しを
瞬時にしかも同時に行うことができるものであり、これ
によってフィクスチュアの交換を短時間で容易に行うこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のインサーキットテスタの内部構造を示
すもので、第２図のＩ−Ｉ線断面図、第２図はインサー
キットテスタの仝体斜視図、第３図はフィクスチュアを
取外した状態を示す第１図と同様な一部省略図、第４図
は第１図のＩＶ　−ＩＶ線断面図、第５図はリセプタク
ルとプラグの拡大側面図、第６図および第７図はリセプ
タクルとプラグの内部の端子の状態を示す異なる状態で
の断面図、第８図はリセプタクルの斜視図、第９図はプ
ラグの可動絶縁体を変位さける機構の原理図、第１０図
はプラグの斜視図、第１１図はプラグ回転軸回転操作機
構の正面図、第１２図はガイド杆と揺動腕の関係を示す
図、第１３図は揺動腕の部分の斜視図、第１４図はカム
溝付き円柱体の展開図、第１５図および第１６図は他の
プラグ回転軸回転保作機構に用いるガイド杆の異なる状
態を示す図、第１７図は揺動腕の部分の他の例を示す斜
視図、第１８図はカム溝付き円柱体の他の例の展開図で
ある。 １・・・操作テーブル、６・・・支持基台、６ａ・・・
その剛性側板、Ｆ・・・フｒクスチュア、８・・・ハン
ドル、Ｓ・・・回路基板、１９・・・固定板、２０・・
・ブローブイ９持ボード、Ｐｒ・・・コンタクトプロー
ブ、２６・・・案内スリーブ、２７・・・電気コード、
２７ａ・・・その端子、Ｒ・・・リセプタクル、Ｐ・・
・プラグ、３５・・・台板、３７・・・プラグ支持板、
３９・・・°電気コード、３９ａ・・・その端子、４０
・・・回転軸、４１・・・揺動腕、４４゜４５・・・中
空絶縁体、４６・・・可動絶縁体、４８・・・回転カム
、５２・・・操作軸、５３・・・円柱体、５４・・・カ
ム溝、５５・・・カム従動子、５６・・・ガイド杆、５
７・・・案内溝部材、６０・・・ピン。 出願人代理人　　猪　　股　　　　清 茶　４　図 茶　５　図 箒　／２　図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、検査すべき回路基板を着脱自在に支持する手段と、
   支持された回路基板に対し接近離間自在に支持され、多
   数のコンタクトプローブを保持するプローブ保持ボード
   と、このプローブ保持ボードを回路基板に向かって接近
   させ、テストのためにコンタクトプローブ先端を基板に
   接触させるようにするプローブ保持ボード移動装置と、
   コンタクトプローブの基端にそれぞれ連なる多数の電気
   コードの複数群の各群の端子をまとめて保持する複数の
   リセプタクルとを具備するユニットとしてのフィクスチ
   ュアを有し、このフィクスチュアが支持基台上に着脱自
   在に装着され、支持基台内には、フィクスチュアの装着
   時に前記複数のリセプタクルのそれぞれと突合せ状に対
   向する位置に複数のプラグが固定され、各プラグ内には
   、それと対をなすリセプタクルがプラグに対向する位置
   をとった時にリセプタクル内に挿入されてリセプタクル
   内の各端子と間隔をおいて隣接する端子が設けられ、プ
   ラグ内の端子はそれぞれが電気コードを介して測定検査
   機器に接続され、各プラグ内には、その内部の一群の端
   子のそれぞれを、リセプタクル内の一群の端子のそれぞ
   れに接触するように一斉に押圧変位させる回転カムが設
   けられ、すべてのプラグ内の回転カムはそれぞれ回転軸
   に支持され、回転軸はプラグの外部に突出し、すべての
   回転軸を、リセプタクルおよびプラグの隣接する端子を
   接触させる接触位置と、両端子が離れることを許す解放
   位置との間で一斉に回転変位させるための回転操作機構
   が支持基台内部に設けられているインサーキットテスタ
   。 ２、回転操作機構が、回転ハンドルにより回動される円
   柱体と、円柱体の円周方向および軸方向に変位するよう
   に形成したカム溝と、このカム溝に挿入されたカム従動
   子を有し、円柱体の回動によって円柱体の少くとも軸方
   向に沿って往復変位するガイド杆と、ガイド杆の往復変
   位に応じてプラグの回転軸を回転させるように、回転軸
   からその半径方向に突出しかつ先端部がガイド杆に係合
   する揺動腕とにより形成されている特許請求の範囲第１
   項記載のインサーキットテスタ。