KR200488774Y1 - 디스플레이 패널 검사 장치 - Google Patents

디스플레이 패널 검사 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR200488774Y1
KR200488774Y1 KR2020180005091U KR20180005091U KR200488774Y1 KR 200488774 Y1 KR200488774 Y1 KR 200488774Y1 KR 2020180005091 U KR2020180005091 U KR 2020180005091U KR 20180005091 U KR20180005091 U KR 20180005091U KR 200488774 Y1 KR200488774 Y1 KR 200488774Y1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
circuit board
flexible circuit
display panel
flip cover
pad
Prior art date
Application number
KR2020180005091U
Other languages
English (en)
Inventor
강훈구
Original Assignee
주식회사 솔릭스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 솔릭스 filed Critical 주식회사 솔릭스
Priority to KR2020180005091U priority Critical patent/KR200488774Y1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR200488774Y1 publication Critical patent/KR200488774Y1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416—Connectors, terminals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

본 고안의 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치는, 디스플레이 패널의 검사 신호를 생성하는 검사회로기판 및 일단의 일면에 접속 단자가 형성되며 타단은 상기 디스플레이 패널과 연결된 연성회로기판의 일단과 연결되어, 상기 검사회로기판으로부터 상기 검사 신호를 수신하고, 상기 연성회로기판을 통해 상기 디스플레이 패널로 상기 검사 신호를 전달하는 커넥터를 포함하고, 상기 커넥터는, 상기 연성회로기판의 일단의 이면을 지지하는 패드 및 상기 패드의 일측에 회동 가능하게 결합되어 상기 패드에 대해 개방 위치와 클리핑 위치로 이동하며, 상기 개방 위치에서 상기 연성회로기판의 일단이 상기 패드와의 사이로 삽입 또는 제거되도록 하고, 상기 클리핑 위치에서 상기 연성회로기판의 일단을 상기 패드에 대해 가압하며 상기 접속 단자와 전기적으로 연결되는 플립 커버를 포함한다.

Description

디스플레이 패널 검사 장치{APPARATUS FOR INSPECTING DISPLAY PANEL}
본 고안은 디스플레이 패널 검사 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 디스플레이 패널의 작동 상태를 검사하는 디스플레이 패널 검사 장치에 관한 것이다.
디스플레이 패널을 제조한 이후, 디스플레이 패널이 정상적으로 작동하는지 여부에 대한 검사 과정을 거치게 된다.
특히, 디스플레이 패널의 각 화소들이 정상적으로 작동하는지 여부에 대한 검사의 경우, 디스플레이 패널에 연결된 연성회로기판을 검사 신호를 디스플레이 패널 측으로 전달하는 커넥터에 연결한 후, 일련의 검사 신호에 따라 디스플레이 패널을 통해 표시되는 화상 이미지를 확인하여 각 화소들의 정상 작동 여부를 판단하게 된다.
그러나 연성회로기판의 얇고 쉽게 휘어지는 특성으로 인해 커넥터에 형성된 슬롯 내에 연성회로기판의 단부를 삽입하는 작업이 상당히 번거롭고 조심스럽다. 따라서, 디스플레이 패널을 검사하는데 소요되는 시간 중 디스플레이 패널의 연성회로기판을 커넥터에 연결하는데 소요되는 시간이 상당 부분을 차지한다.
또한, 연성회로기판을 커넥터의 슬롯에 삽입하는 과정에서 연성회로기판 및/또는 커넥터가 파손되는 경우도 빈번하게 일어난다.
본 고안이 해결하고자 하는 과제는, 검사 대상인 디스플레이 패널의 연성회로기판과 디스플레이 패널 검사 장치의 커넥터의 연결 편의성이 향상되고, 연성회로기판 및 커넥터의 연결 과정에서 파손 발생 가능성이 낮은 디스플레이 패널 검사 장치를 제공하는 것이다.
본 고안의 과제들은 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 과제를 해결하기 위한 본 고안의 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치는, 디스플레이 패널의 검사 신호를 생성하는 검사회로기판 및 일단의 일면에 접속 단자가 형성되며 타단은 상기 디스플레이 패널과 연결된 연성회로기판의 일단과 연결되어, 상기 검사회로기판으로부터 상기 검사 신호를 수신하고, 상기 연성회로기판을 통해 상기 디스플레이 패널로 상기 검사 신호를 전달하는 커넥터를 포함하고, 상기 커넥터는, 상기 연성회로기판의 일단의 이면을 지지하는 패드 및 상기 패드의 일측에 회동 가능하게 결합되어 상기 패드에 대해 개방 위치와 클리핑 위치로 이동하며, 상기 개방 위치에서 상기 연성회로기판의 일단이 상기 패드와의 사이로 삽입 또는 제거되도록 하고, 상기 클리핑 위치에서 상기 연성회로기판의 일단을 상기 패드에 대해 가압하며 상기 접속 단자와 전기적으로 연결되는 플립 커버를 포함한다.
상기 패드에는 상기 연성회로기판의 일단의 적어도 일부가 수용되는 수용홈이 형성될 수 있다.
상기 플립 커버의 일면에 지지된 접속 핀 및 상기 접속 핀이 수용되는 핀 수용홈이 형성되며, 상기 접속 핀의 연장 방향을 따라 상기 플립 커버에 대해 이동 가능하게 구비되어, 상기 접속 핀의 적어도 일부가 상기 핀 수용홈의 외부로 출몰하도록 구비되는 가동 플레이트를 포함할 수 있다.
상기 플립 커버가 상기 개방 위치에 위치할 때, 상기 가동 플레이트는 상기 접속 핀의 선단이 상기 핀 수용홈 내에 수용되도록 위치할 수 있다.
상기 플립 커버는 상기 플립 커버에 대해 탄성 지지되며, 상기 플립 커버에 외력이 가해지지 않는 상태에서 상기 가동 플레이트는 상기 접속 핀의 선단이 상기 핀 수용홈 내에 수용된 상태를 유지할 수 있다.
상기 플립 커버가 상기 클리핑 위치에 위치할 때, 상기 가동 플레이트는 상기 접속 핀의 선단이 상기 핀 수용홈의 외부로 노출되도록 위치하고, 상기 접속 핀의 단부는 상기 연성회로기판의 상기 접속 단자에 접할 수 있다.
상기 디스플레이 패널이 안착되는 베이스 및 상기 베이스의 틸팅 각도를 조절할 수 있는 각도 조절부를 더 포함할 수 있다.
본 고안의 기타 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 고안의 실시예들에 의하면 적어도 다음과 같은 효과가 있다.
검사 대상인 디스플레이 패널의 연성회로기판과 디스플레이 패널 검사 장치의 커넥터의 연결 편의성이 향상되고, 연성회로기판 및 커넥터의 연결 과정에서 파손 발생 가능성이 낮아진다.
본 고안에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.
도 1은 본 고안의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치를 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 2는 본 고안의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치를 개략적으로 도시한 측면도이다.
도 3은 본 고안의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치의 커넥터를 도시한 사시도이다.
도 4는 플립 커버가 개방 위치에 위치한 상태를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 5는 플립 커버가 클리핑 위치에 위치한 상태를 개략적으로 도시한 도면이다.
본 고안의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 고안은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 고안의 개시가 완전하도록 하고, 본 고안이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 고안의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 고안은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
또한, 본 명세서에서 기술하는 실시예들은 본 고안의 이상적인 예시도인 단면도 및/또는 개략도들을 참고하여 설명될 것이다. 따라서, 제조 기술 및/또는 허용 오차 등에 의해 예시도의 형태가 변형될 수 있다. 또한 본 고안에 도시된 각 도면에 있어서 각 구성 요소들은 설명의 편의를 고려하여 다소 확대 또는 축소되어 도시된 것일 수 있다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
이하, 본 고안의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치를 설명하기 위한 도면들을 참고하여 본 고안에 대하여 설명하도록 한다.
도 1은 본 고안의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치를 개략적으로 도시한 평면도이고, 도 2는 본 고안의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치를 개략적으로 도시한 측면도이다.
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 본 고안의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치(1)는 베이스(10), 커넥터(20) 및 검사회로기판(30)을 포함한다.
베이스(10)는 패널 안착부(11), 연성회로기판 안착부(12) 및 검사회로기판 안착부(13)를 포함한다.
패널 안착부(11)는 검사 대상이 되는 디스플레이 패널(A)이 안착되는 플레이트로서, 다양한 크기(예를 들어, 5인치, 8인치 등)의 디스플레이 패널(A)이 안착될 수 있도록 충분한 크기로 형성되는 것이 바람직하다.
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 본 고안의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치(1)는 각도 조절부(50)를 포함한다.
각도 조절부(50)는 베이스(10)의 일측에 구비되며, 베이스(10)를 관통하는 스크류(52)와 스크류(52)와 나사 결합되며 베이스(10)의 일측을 지지하는 결합 부재(51)를 포함한다. 결합 부재(51)를 스크류(52)에 대해 회전시켜 결합 부재(51)의 높이를 조절하면, 결합 부재(51)에 지지되는 베이스(10)의 일측이 승강되어, 베이스(10)의 틸팅 각도가 조절된다.
검사자의 신장, 검사 자세, 검사 장소의 조명 등에 따라 검사하는 디스플레이 패널(A)에 표시되는 화상 이미지를 가장 명확히 볼 수 있는 각도가 달라진다. 따라서, 검사자는 각도 조절부(50)를 조절하여, 검사 환경에 적합하게 베이스(10)를 틸팅시키고 디스플레이 패널(A)을 검사할 수 있으므로, 검사 작업의 정확성 및 효율성이 향상된다.
도 1 및 2에는 각도 조절부(50)의 일례로서, 스크류(52)와 결합 부재(51)의 조합으로 구성된 실시예를 도시하였으나, 베이스(10)를 틸팅시킬 수 있는 다양한 실시예가 적용될 수 있다.
한편, 연성회로기판 안착부(12)는 패널 안착부(11)와 검사회로기판 안착부(13) 사이에 구비되어, 패널 안착부(11)와 검사회로기판 안착부(13)를 연결한다.
도 2에 도시된 바와 같이, 연성회로기판 안착부(12)의 상면과 패널 안착부(11)의 상면은 단차를 형성할 수 있다. 연성회로기판 안착부(12)의 상면과 패널 안착부(11)의 상면 사이의 단차는 디스플레이 패널(A)의 측면을 지지하여, 디스플레이 패널(A)의 위치를 설정한다.
연성회로기판 안착부(12)는 패널 안착부(11)에 안착된 디스플레이 패널(A)에 연결된 연성회로기판(B)이 안착되는 플레이트이다.
연성회로기판(B)은 FPCB(flexible printed circuit board) 또는 FCCL(Flexible Copper Clad Laminate)이라고 통칭되며, 전류가 통하는 동박에 얇은 필름을 접합한 유연한 회로 기판이다.
연성회로기판(B)은 일단에 접속 단자(C, 도 4 참고)가 형성된다. 접속 단자(C)는 외부로 연성회로기판(B)의 일면에 노출되도록 형성되며, 연성회로기판(B)의 동박과 전기적으로 연결된다.
연성회로기판(B)의 타단은 디스플레이 패널(A)과 연결과 연결된다. 연성회로기판(B)은 디스플레이 패널(A)의 제조 단계에서 디스플레이 패널(A)에 연결된 상태로 일단이 디스플레이 패널(A)에 노출되도록 구성된 것일 수 있다.
검사회로기판 안착부(13)는 커넥터(20) 및 검사회로기판(30)이 설치되는 플레이트이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 커넥터(20)는 디스플레이 패널(A)의 연성회로기판(B)의 일단과 연결된다. 그리고 커넥터(20)는 검사회로기판(30)과 별도의 연성회로기판(40)을 통해 연결된다.
커넥터(20)는 검사회로기판(30)으로부터 전달된 신호를 디스플레이 패널(A)의 연성회로기판(B)으로 전달하거나, 디스플레이 패널(A)의 연성회로기판(B)으로부터 전달된 신호를 검사회로기판(30)으로 전달한다.
도 2에 도시된 바와 같이, 커넥터(20)는 패드(21)와 플립 커버(22)를 포함한다.
패드(21)는 검사회로기판 안착부(13)의 상면에 고정 설치될 수 있으며, 플립 커버(22)는 힌지(25)에 의해 패드(21)의 일측에 회동 가능하게 결합된다. 플립 커버(22)는 패드(21)의 일측에 대해 회동하며 개방 위치(도 4 참고)와 클리핑 위치(도 5 참고)로 위치가 변환될 수 있다.
플립 커버(22)의 상면에는 신호전달회로기판(23)과 커넥터 측 연결 포트(24)가 구비된다. 신호전달회로기판(23)은 후술하는 접속 핀(22c, 도 4 참고)과 전기적으로 연결되고, 디스플레이 패널(A)의 연성회로기판(B)으로부터 전달된 신호를 커넥터 측 연결 포트(24)를 통해 출력되도록 하거나, 연성회로기판(40)을 통해 전달되는 신호를 커넥터 측 연결 포트(24)를 통해 수신할 수 있다.
도 2에 도시된 바와 같이, 커넥터(20)는 패드(21)와 플립 커버(22)의 사이로 연성회로기판(B)의 일단을 수용하고, 패드(21)와 플립 커버(22)가 상호 가압되며 연성회로기판(B)의 일단이 커넥터(20) 내에 고정되도록 한다.
커넥터(20)의 구성에 대한 보다 구체적인 설명은 후술한다.
검사회로기판(30)은 디스플레이 패널(A)의 검사 신호를 생성하여, 커넥터(20) 측으로 전송한다. 검사 신호는 디스플레이 패널(A)의 정상 작동 여부를 확인하는 신호로서, 디스플레이 패널(A)의 각 화소들의 정상 작동 여부를 확인하는 일련의 제어 신호들을 포함할 수 있다.
검사회로기판(30)은 검사회로기판 측 연결 포트(24)와 연결된 연성회로기판(40)을 통해 검사 신호를 전송한다. 연성회로기판(40)을 통해 전송된 검사신호는 커넥터(20)를 통해 디스플레이 패널(A)의 연성회로기판(B)으로 전달되어, 디스플레이 패널(A)을 작동시킨다.
검사자는 검사 신호에 의해 작동하는 디스플레이 패널(A)의 화상 이미지를 시각적으로 확인하며 디스플레이 패널(A)의 불량 여부를 판단할 수 있다.
이하에서는, 커넥터(20)에 대해 보다 구체적으로 설명한다.
도 3은 본 고안의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치의 커넥터를 도시한 사시도이고, 도 4는 플립 커버가 개방 위치에 위치한 상태를 개략적으로 도시한 도면이며, 도 5는 플립 커버가 클리핑 위치에 위치한 상태를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 커넥터(20)는 패드(21)와 플립 커버(22)를 포함한다.
패드(21)의 일면(플립 커버(22)와 마주하는 면)에는 연성회로기판 안착부(12)를 향해 개방된 수용홈(21a)이 형성된다. 수용홈(21a)은 디스플레이 패널(A)의 연성회로기판(B)의 일단을 수용하기 위한 공간이다.
패드(21)의 일측에는 플립 커버(22)의 일측을 회전 가능하게 지지하는 힌지(25)가 구비되고, 패드(21)의 타측에는 플립 커버(22)의 타측과 결합하여 플립 커버(22)를 패드(21)에 고정시키는 고정부(26)가 구비된다.
클리핑 위치에서, 고정부(26)는 플립 커버(22)의 타측과 후크 결합되어 플립 커버(22)를 패드(21)에 고정할 수 있으며, 검사자가 고정부(26)를 조작하여 플립 커버(22)와 고정부(26) 사이의 후크 결합을 해제하면 플립 커버(22)가 자동으로 개방 위치로 이동하도록 힌지(25)에는 탄성 부재(미도시)가 구비될 수 있다.
도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 플립 커버(22)의 일면(패드(21)와 마주하는 면 또는 하면)에는 접속 핀(22c)과 가동 플레이트(22a)가 구비된다. 가동 플레이트(22a)는 플립 커버(22)가 클리핑 위치에 위치한 상태에서 수용홈(21a)의 상부에 위치하도록 구성된다.
접속 핀(22c)은 플립 커버(22)의 하면에 형성된 접속 핀 설치홈(미부호) 내에 설치된다. 접속 핀(22c)의 길이는 패드(21)의 수용홈(21a)의 깊이 및 연성회로기판(B)의 두께에 따라 달라질 수 있다. 예를 들어, 패드(21)의 수용홈(21a)이 깊거나 연성회로기판(B)의 두께가 얇은 경우에는 접속 핀(22c)의 선단이 플립 커버(22)의 하면보다 하방으로 돌출되도록 형성될 수 있고, 반대로 패드(21)의 수용홈(21a)이 얕거나 연성회로기판(B)의 두께가 두꺼운 경우에는 접속 핀(22c)의 선단이 플립 커버(22)의 하면과 거의 동일한 높이로 형성될 수 있다.
접속 핀(22c)은 플립 커버(22)의 상면에 구비된 신호전달회로기판(23)과 전기적으로 연결되도록 구성된다.
가동 플레이트(22a)는 접속 핀 설치홈 내에 이동 가능하게 설치된다. 가동 플레이트(22a)에는 복수의 핀 수용홈(22b)이 관통 형성된다. 복수의 핀 수용홈(22b)은 접속 핀(22c)과 일대일 대응될 수 있다.
가동 플레이트(22a)는 접속 핀(22c)의 연장 방향을 따라 이동 가능하게 설치되며, 보다 구체적으로, 플립 커버(22)의 하면으로부터 출몰 가능하게 설치된다.
도 4에 도시된 바와 같이, 가동 플레이트(22a)는 탄성 부재(22d)에 의해 플립 커버(22)에 대해 탄성 지지된다. 탄성 부재(22d)는 외력에 의해 압축되며, 외력이 해제되면 길이가 신장된 상태로 탄성 복원되는 특성을 가진 부재일 수 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, 플립 커버(22)가 개방 위치에 있는 경우, 가동 플레이트(22a)에 외력이 가해지지 않으므로, 가동 플레이트(22a)의 적어도 일부는 플립 커버(22)의 하면으로부터 돌출된 상태로 유지될 수 있으며, 이 때 접속 핀(22c)은 선단이 핀 수용홈(22b) 내에 위치하여, 접속 핀(22c)이 외부로 노출되지 않는다. 이는 플립 커버(22)가 개방 위치에 있는 상태에서, 접속 핀(22c)을 외부 충격 등으로부터 보호하기 위함이다.
도 5에 도시된 바와 같이, 플립 커버(22)가 클리핑 위치에 있는 경우, 가동 플레이트(22a)는 플립 커버(22)와 패드(21) 사이에 위치한 연성회로기판(B)에 의해 플립 커버(22) 측으로 가압되고, 플립 커버(22)가 개방 위치에 있는 때에 비해, 가동 플레이트(22a)가 접속 핀 설치홈의 내측으로 이동하게 된다.
그리고 가동 플레이트(22a)가 접속 핀 설치홈의 내측으로 이동함에 따라, 핀 수용홈(22b) 내에 위치하던 접속 핀(22c)의 선단이 가동 플레이트(22a)의 밖으로 노출되고, 접속 핀(22c)의 선단은 연성회로기판(B)의 접속 단자(C)와 접하게 된다.
따라서, 검사회로기판(30)이 연성회로기판(40)을 통해 전달한 검사 신호는 신호전달회로기판(23)을 통해 접속 핀(22c)으로 전달되고, 접속 핀(22c)과 접하는 접속 단자(C)를 통해 연성회로기판(B)으로 전달되어, 디스플레이 패널(A)로 전달된다.
상술한 바와 같이, 본 고안의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치(1)는 디스플레이 패널(A)의 연성회로기판(B)과 연결되는 커넥터(20)를 패드(21)와 패드(21)에 대해 회동 가능하게 결합되어 개방 위치와 클리핑 위치로 이동하는 플립 커버(22)로 구성하여, 연성회로기판(B)과 커넥터(20)를 연결할 때에, 플립 커버(22)를 개방 위치로 위치시킨 후, 연성회로기판(B)의 일단을 패드(21) 상에 안착시킨 후, 플립 커버(22)를 개방 위치에서 클리핑 위치로 이동시키는 것만으로 커넥터(20)와 연성회로기판(B)의 연결이 완료되도록 구성하였다.
따라서, 종래에 사용되던, 검사자가 연성회로기판(B)을 커넥터의 슬롯에 끼워 넣는 방식에 비해, 커넥터(20)와 연성회로기판(B)의 연결 편의성이 향상되고, 연결 시간이 단축되며, 연성회로기판(B)이나 커넥터(20)의 파손을 방지할 수 있다.
또한, 플립 커버(22)에 가동 플레이트(22a)가 포함되어, 플립 커버(22)가 개방 위치에 위치할 때에 접속 핀(22c)의 선단이 노출되지 않도록 구성하여, 커넥터(20)의 내구성이 향상되도록 하였다.
본 고안이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 고안이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 고안의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 청구범위에 의하여 나타내어지며, 청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 고안의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
1: 디스플레이 패널 검사 장치 10: 베이스
11: 패널 안착부 12: 연성회로기판 안착부
13: 검사회로기판 안착부 20: 커넥터
21: 패드 21a: 수용홈
22: 플립 커버 22a: 가동 플레이트
22b: 핀 수용홈 22c: 접속 핀
22d: 탄성 부재 23: 신호전달회로기판
24, 31: 연결 포트 25: 힌지
30: 검사회로기판 40, B: 연성회로기판
50: 각도 조절부 51: 결합 부재
52: 스크류 A: 디스플레이 패널
C: 접속 단자

Claims (7)

  1. 디스플레이 패널의 검사 신호를 생성하는 검사회로기판; 및
    일단의 일면에 접속 단자가 형성되며 타단은 상기 디스플레이 패널과 연결된 연성회로기판의 일단과 연결되어, 상기 검사회로기판으로부터 상기 검사 신호를 수신하고, 상기 연성회로기판을 통해 상기 디스플레이 패널로 상기 검사 신호를 전달하는 커넥터를 포함하고,
    상기 커넥터는,
    상기 연성회로기판의 일단의 이면을 지지하는 패드,
    상기 패드에 이동 가능하게 결합되어 상기 패드에 대해 개방 위치와 클리핑 위치로 이동하며, 상기 개방 위치에서 상기 연성회로기판의 일단이 상기 패드와의 사이로 삽입 또는 제거되도록 하고, 상기 클리핑 위치에서 상기 연성회로기판의 일단을 상기 패드에 대해 가압하며 상기 접속 단자와 전기적으로 연결되는 플립 커버,
    상기 플립 커버의 일면에 지지된 접속 핀 및
    상기 접속 핀이 수용되는 핀 수용홈이 형성되며, 상기 접속 핀의 연장 방향을 따라 상기 플립 커버에 대해 이동 가능하게 구비되어, 상기 접속 핀의 적어도 일부가 상기 핀 수용홈의 외부로 출몰하도록 구비되는 가동 플레이트를 포함하는, 디스플레이 패널 검사 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 패드에는 상기 연성회로기판의 일단의 적어도 일부가 수용되는 수용홈이 형성되는, 디스플레이 패널 검사 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 플립 커버는 상기 패드의 일측에 회동 가능하게 결합되는, 디스플레이 패널 검사 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 플립 커버가 상기 개방 위치에 위치할 때, 상기 가동 플레이트는 상기 접속 핀의 선단이 상기 핀 수용홈 내에 수용되도록 위치하는, 디스플레이 패널 검사 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 플립 커버는 상기 플립 커버에 대해 탄성 지지되며, 상기 플립 커버에 외력이 가해지지 않는 상태에서 상기 가동 플레이트는 상기 접속 핀의 선단이 상기 핀 수용홈 내에 수용된 상태를 유지하는, 디스플레이 패널 검사 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 플립 커버가 상기 클리핑 위치에 위치할 때, 상기 가동 플레이트는 상기 접속 핀의 선단이 상기 핀 수용홈의 외부로 노출되도록 위치하고,
    상기 접속 핀의 단부는 상기 연성회로기판의 상기 접속 단자에 접하는, 디스플레이 패널 검사 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널이 안착되는 베이스 및
    상기 베이스의 틸팅 각도를 조절할 수 있는 각도 조절부를 더 포함하는, 디스플레이 패널 검사 장치.
KR2020180005091U 2018-11-08 2018-11-08 디스플레이 패널 검사 장치 KR200488774Y1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2020180005091U KR200488774Y1 (ko) 2018-11-08 2018-11-08 디스플레이 패널 검사 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2020180005091U KR200488774Y1 (ko) 2018-11-08 2018-11-08 디스플레이 패널 검사 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR200488774Y1 true KR200488774Y1 (ko) 2019-03-19

Family

ID=65891121

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR2020180005091U KR200488774Y1 (ko) 2018-11-08 2018-11-08 디스플레이 패널 검사 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR200488774Y1 (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102138793B1 (ko) * 2020-06-05 2020-07-28 주식회사 와이즈테크 내부 후크를 구비한 디스플레이패널 검사 장치
KR20220138123A (ko) * 2021-04-05 2022-10-12 위드시스템 주식회사 디스플레이 모듈을 이동시키면서 검사가 가능한 캐리어 지그
US11898965B2 (en) 2021-02-10 2024-02-13 Samsung Display Co., Ltd. Inspection apparatus for display module including a seat part having recess part

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102138793B1 (ko) * 2020-06-05 2020-07-28 주식회사 와이즈테크 내부 후크를 구비한 디스플레이패널 검사 장치
US11898965B2 (en) 2021-02-10 2024-02-13 Samsung Display Co., Ltd. Inspection apparatus for display module including a seat part having recess part
KR20220138123A (ko) * 2021-04-05 2022-10-12 위드시스템 주식회사 디스플레이 모듈을 이동시키면서 검사가 가능한 캐리어 지그
KR102519475B1 (ko) 2021-04-05 2023-04-21 위드시스템 주식회사 디스플레이 모듈을 이동시키면서 검사가 가능한 캐리어 지그

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR200488774Y1 (ko) 디스플레이 패널 검사 장치
KR101471575B1 (ko) 카메라 모듈 검사용 지그
KR101616391B1 (ko) 카메라 모듈 검사용 소켓
KR101671798B1 (ko) 커넥터 연결을 위한 검사용 가압 지그
KR101963723B1 (ko) 카메라 모듈용 테스트 소켓
CN109633934B (zh) 点灯压合机构以及点灯治具
KR101466739B1 (ko) 인쇄회로기판 검사장치
KR20180025195A (ko) 테스트소켓
KR102388161B1 (ko) 기판 검사장치 및 검사방법
KR101186204B1 (ko) 연성회로기판 검사 장치
KR101625951B1 (ko) 이어잭 어셈블리용 검사장치
KR100767191B1 (ko) 회로기판 연결 유닛 및 그것을 갖는 평판표시패널 검사장치
KR101010534B1 (ko) 비주얼검사용 머니퓰레이터부 및 프로브블록부를 구비한 프로브 유닛
KR20090056718A (ko) 하이브리드 입력모듈 검사용 지그장치
JP6062594B1 (ja) 測定用ソケットおよびコンタクト装置
CN114814549B (zh) 一种柔性线路板测试装置及测试方法
KR100898043B1 (ko) 카메라 모듈용 테스트 소켓
KR101000456B1 (ko) 유지 및 보수가 용이한 프로브유닛
CN216082997U (zh) 电子器件的测试装置
KR101769566B1 (ko) 검사장치
KR100782168B1 (ko) 전자모듈 검사용 소켓
TWM469489U (zh) 測試組件及其電性檢測裝置
KR101936003B1 (ko) 자동 소켓을 구비한 카메라모듈 검사장치 및 이의 소켓 개폐방법
CN209858884U (zh) 组装装置
JP3610919B2 (ja) 回路基板の検査用治具、検査方法、および製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
REGI Registration of establishment