KR100782168B1

KR100782168B1 - 전자모듈 검사용 소켓

Info

Publication number: KR100782168B1
Application number: KR1020060061400A
Authority: KR
Inventors: 김호진
Original assignee: 주식회사 엔티에스
Priority date: 2006-06-30
Filing date: 2006-06-30
Publication date: 2007-12-06

Abstract

본 발명은 소형 전자모듈을 검사하기 위한 검사용 소켓에 관한 것으로, 소형 커넥터의 핀에 프로브핀으로 접속되는 전자모듈 검사용 소켓에 관한 것이다.

본 발명은 검사 대상물인 전자모듈이 안착되는 몸체부; 상기 몸체부에 승하강가능하게 결합되어 있는 작동부; 상기 작동부에 회전가능하게 결합하고 있는 개폐부 상기 개폐부가 하강한 상태를 유지하도록 고정하는 클립부; 상기 작동부가 수직방향 승하강을 안내하는 승하강 가이드; 상기 개폐부의 일측에 위치하며 전자모듈의 커넥터핀에 접속되는 핀조립체; 상기 핀조립체와 접속되는 인쇄회로기판; 및 상기 인쇄회로기판과 검사장치를 연결하는 연결배선을 포함하여 이루어지는 전자모듈 검사용 소켓을 제공한다.

Description

전자모듈 검사용 소켓{A socket for testing electonic module}

도 1은 종래의 전자모듈 검사 방식을 나타낸 개념도,

도 2는 본 발명에 따른 전자모듈 검사용 소켓을 나타낸 사시도,

도 3a, 도 3b 및 도 3c는 본 발명에 따른 전자모듈 검사용 소켓의 작동을 설명하기 위한 측면도,

도 4는 본 발명에 따른 전자모듈 검사용 소켓의 접속구조를 나타낸 개략적인 단면도임.

* 도면의 주요 부분에 관한 부호의 설명 *

10 : 전자모듈

100 : 전자모듈 검사용 소켓

110 : 몸체부

120 : 작동부

130 : 개폐부

140 : 핀조립체

150 : 승하강가이드

160 : 펌프연결관

170 : 클립부

본 발명은 소형 전자모듈을 검사하기 위한 전자모듈 검사용 소켓에 관한 것으로, 보다 자세하게는 전자모듈의 장착 작업 및 탈착 작업이 간편한 전자모듈 검사용 소켓에 관한 것이다.

전자제품을 제조함에 있어서, 각종 전자소자를 사용한 부품들을 모듈화하여 서로 커넥터로 조립하여 완성한다. 그런데, 하나의 모듈이라도 불량이 있으면 완제품 전체가 불량이 되어버리기 때문에 각각의 전자모듈은 조립전에 모두 성능검사를 거치게 된다. 그런데, 전자모듈은 그 자체만으로는 성능을 검사할 수 없기 때문에 별도의 검사장치에 각각의 전자모듈은 접속시켜 검사를 수행한다.

도 1은 종래의 검사모듈 검사방법을 나태낸 개념도이다.

도시된 바와 같이, 전자모듈(10)에는 조립을 위한 커넥터(12)를 구비하고 있다. 검사장치(20)측에 상기 커넥터(12)에 대응하는 대응커넥터(22)를 부착하여, 전자모듈(12)의 커넥터(12)를 대응커넥터(22)에 끼움으로써 검사장치와 접속시켜 전자모듈(10)의 성능 검사를 수행하고 있었다.

그런데, 커넥터(12)에 대응커넥터(22)는 금속박판으로 이루어진 탄성력을 가 진 커넥터핀(미도시)으로 접속되는 것으로 탈부착 과정에서 전자모듈(10)측 커넥터(12)에 손상이 가해질 수 있으며, 대응커넥터(22)의 수명이 짧아서 그 주기마다 대응커넥터(22)를 교체하고 검사를 수행해야 하는 문제점을 가지고 있었다.

또한, 부품이 작기 때문에 커넥터에 대응커넥터를 끼웠다 빼는 탈부착 작업이 번거로와 검사작업의 효율성이 좋지 못한 문제점을 가지고 있었다.

본 발명은 상술한 바와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 기술적 과제는 전자모듈의 탈부착이 용이하며 탈부착으로 인하여 커넥터에 손상을 주지 않는 전자모듈 검사용 소켓을 제공함에 있다.

이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명은 검사 대상물인 전자모듈이 안착되는 몸체부; 상기 몸체부에 승하강가능하게 결합되어 있는 작동부; 상기 작동부에 회전가능하게 결합하고 있는 개폐부; 상기 개폐부가 하강한 상태를 유지하도록 고정하는 클립부; 상기 작동부가 수직방향 승하강을 안내하는 승하강 가이드; 상기 개폐부의 일측에 위치하며 전자모듈의 커넥터핀에 접속되는 핀조립체; 상기 핀조립체와 접속되는 인쇄회로기판; 및 상기 인쇄회로기판과 검사장치를 연결하는 연결배선을 포함하여 이루어지는 전자모듈 검사용 소켓을 제공한다.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면들에 의거하여 상세하게 설명한다.

도 2는 본 발명에 따른 전자모듈 검사용 소켓의 사시도이다.

도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 전자모듈 검사용 소켓(100)은 작업대 역할을 수행하는 몸체부(110)와 몸체부(110)의 상면에 부착되어 승하강하는 작동부(120)와, 상기 작동부(120)의 승하강을 가이드하는 승하강가이드(150)와, 상기 작동부(120)에 회동가능하게 결합하여 상하로 개폐되는 개폐부(130)와, 상기 개폐부(130)의 일측에 구비되어 전자모듈의 커넥터에 접속하는 핀조립체(140)와, 일측은 핀조립체(140)에 접속되고 타측은 검사장비에 접속되는 연결배선(190)을 포함하여 구성된다.

상기 개폐부(130)는 작동부(120)에 힌지축(131)으로 결합하고 있으며, 상기 힌지축(131)에는 개폐부(130)를 열어 젖히는 방향으로 탄성력을 제공하는 토션스프링(132)이 구비되어 있다.

상기 클립부(170)는 개폐부(130)가 닫히고 작동부(120)가 하강하여 개폐부(130)가 몸체부(110)에 밀착한 상태로 고정시켜 주는 역할을 하는 것이다. 일반적으로 사용되는 걸림턱에 의한 걸림구조를 채용한 것으로 탄성부재는 클립부(170)가 물어 고정하는 방향으로 제공된다. 따라서 개폐부(130)를 완전히 하강시키면 상기 클립부(170)가 탄성부재의 탄성력으로 개폐부(130)를 고정시키는 것이다.

상기 작동부(120)는 몸체부(110)에 승하강가이드(150)로 결합되어 있다. 상기 승하강가이드(150)는 작동부(120)가 소정의 범위내에서 승하강이동할 수 있도록 가이드 하는 것이며, 별도의 승하강탄성부재(152)를 구비하고 있다. 상기 승하강탄성부재(152)는 작동부(120)를 밀어올리는 방향으로 제공한다.

검사대상물인 전자모듈이 안착되는 몸체부(110)에는 상기 전자모듈의 형상에 대응하는 안착홈(117)을 구비하는 것이 바람직한데, 이 안착홈(117)을 직접 몸체부에 가공하기 보다는 별도의 안착판(115)을 구비하여, 상기 안착판(115)에 안착홈(117)을 구비하는 것이 더욱 바람직하다. 별도의 안착판(115)을 구비하는 경우에는 안착판(115)을 교체하면 안착홈(117)의 형상을 바꿀수 있다.

상기 안착홈(117)의 안쪽에는 흡입공(119)이 구비되어 있으며, 흡입공(119)은 몸체부(110)의 일측에 형성된 펌프연결관(160)과 연결되어 있다. 펌프연결관(160)에 진공펌프(미도시)를 연결하면 상기 흡입공(119)에 음압이 생겨 전자모듈을 견고하게 안착홈(127)에 고정할 수 있다.

도 3a, 도 3b 및 도 3c는 본 발명에 따른 전자모듈 검사용 소켓의 작동을 설명하기 위한 측면도이다.

도 3a에 도시된 바와 같이, 전자모듈을 안착하기 전에는 작동부(120)는 상승한 상태이고, 개폐부(130)는 위쪽으로 들려서 개방된 상태를 유지하고 있다. 작동부(120)가 상승한 상태로 유지하는 것은 승하강탄성부재(152)에 의해서이고, 상술한 바와 같이 개폐부(130)도 작동부(120)에 연결된 힌지축(131)에 토션스프링(132)을 구비하여, 상기 토션스프링(132)의 탄성력에 의하여 들어 올려진 상태를 유지하는 것이다.

피검사물인 전자모듈(10)을 안착판(115)에 안착한 후, 작업자는 개폐부(130)를 하방으로 가압하여 눌러준다. 먼도 도 3b에 도시된 바와 같이 개폐부(130)가 회전하여 작동부(120)를 덮게 되고, 지속적으로 가압하면 작동부(120)가 하강하에 몸체부(110)에 밀착하여 도 3c와 같은 상태가 된다.

개폐부(130)가 완전히 눌려지면, 상기 개폐부(130)의 양측에 형성된 걸림돌기(132)가 클립부(170)의 걸림턱(172)에 걸리게 되어 개폐부(130)가 몸체부(110)에 밀착한 상태로 고정된다. 이 때의 내부 접속구조를 나타낸 것이 도 4이다.

작업자가 개폐부(130)를 끝까지 누르기만 하면 상기 클립부(170)에 의하여 개폐부(130)는 하강한 상태에서 고정되고, 검사작업이 완료된 후 작업자가 상기 클립부(170)의 손잡이()를 눌러주면 고정이 해제되어 개폐부(130)가 개방되면서 작동부(120)가 상승하여 다시 도 3a와 같은 상태로 된다.

이렇게 작동부(120)는 승하강하며 개폐부(130)는 회전가능한 구조를 가지도록 하면, 작동부(120)의 승하강 범위를 좁게하여도 개폐부(130)의 개방각도에 의하여 전자모듈을 장착할 수 있는 공간이 확보된다. 아울러, 개폐부(130)에 장착된 핀 조립체는 전자모듈의 접속시에는 수직운동을 하게 되므로 프로브핀은 접속시에 수직운동만을 하게 되므로 접속의 안정성에도 지장을 주지 않는다.

도 4는 본 발명에 따른 전자모듈 검사용 소켓의 접속구조를 나타낸 개략적인 단면도이다.

먼저 고정구조를 살펴보면, 도시된 바와 같이 전자모듈(10)을 안착판(125)의 안착홈(127)에 놓으면, 흡입공(129) 안쪽의 음압에 의하여 전자모듈(10)이 상기 안착홈(127)에 밀착고정된다.

개폐부(130)의 일측에 장착된 핀조립체(140)는 커넥터핀 하나하나에 대응하는 프로브핀(142)이 구비되어 있어서, 각각의 커넥터핀에 접속된다. 이 프로브핀(142)은 핀조립체(140) 뒤쪽의 인쇄회로기판(195)에 접속되고, 인쇄회로기판(195)은 다시 FPCB(Flexible printed circuit board) 또는 전선다발로 이루어진 연결배선(190)에 접속되어 있고, 연결배선(190)은 다시 검사장치(미도시)에 연결되는 접속구조를 가진다.

이러한 프로브핀(142)에 의한 접속구조는 커넥터핀에 손상을 주지 않으며, 아울러 프로브핀에도 손상이 가지 않기 때문에 소모부품의 잦은 교체 없이 검사작업을 수행할 수 있다.

본 발명은 전자모듈의 탈부착이 용이한 전자모듈 검사용 소켓을 제공하는 효과가 있다.

본 발명은 전자모듈 커넥터에 손상을 주지 않고 전자모듈을 검사할 수 있는 전자모듈 검사용 소켓을 제공하는 효과가 있다.

또한 본 발명은 전자모듈을 안착하고 전자모듈에 접속하는 작업이 용이하여 작업효율이 우수한 전자모듈 검사용 소켓을 제공한다.

Claims

검사 대상물인 전자모듈이 안착되는 몸체부;

상기 몸체부에 승하강가능하게 결합되어 있는 작동부;

상기 작동부에 회전가능하게 결합하고 있는 개폐부

상기 개폐부가 하강한 상태를 유지하도록 고정하는 클립부;

상기 작동부가 수직방향 승하강을 안내하는 승하강 가이드;

상기 개폐부의 일측에 위치하며 전자모듈의 커넥터핀에 접속되는 핀조립체;

상기 핀조립체와 접속되는 인쇄회로기판; 및

상기 인쇄회로기판과 검사장치를 연결하는 연결배선을 포함하여 이루어지는 전자모듈 검사용 소켓.
제 1항에 있어서,

상기 개폐부는 상기 작동부에 힌지축으로 연결되며, 상기 힌지축 상에 상기 개폐부를 밀어올리는 방향으로 탄성력을 제공하는 토션스프링을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 전자모듈 검사용 소켓.