KR101186204B1

KR101186204B1 - 연성회로기판 검사 장치

Info

Publication number: KR101186204B1
Application number: KR1020100137114A
Authority: KR
Inventors: 오지환; 박현서
Original assignee: (주)인텍
Priority date: 2010-12-28
Filing date: 2010-12-28
Publication date: 2012-10-10
Also published as: KR20120075083A

Abstract

본 발명은 연성회로기판 검사 장치를 제공한다. 본 발명의 연성회로기판 검사 장치는, SMD형 커넥터를 가지는 연성회로기판의 전자회로가 정상적으로 작동하는지를 검사하는 연성회로기판 검사 장치로서, 상기 연성회로기판의 헤더 커넥터 단자와 암수 연결되는 검사 소켓을 포함하는 제1 검사 PCB와, 상기 연성회로기판 및 상기 제1 검사 PCB가 안착되는 안착부재와, 상기 제1 검사 PCB 상면의 상기 검사 소켓 외곽에 두께를 가지고 배치되어서 상기 헤더 커넥터가 안착된 커넥터 안착부를 포함하며, 상기 커넥터 안착부 중앙부에는 상기 헤더 커넥터 단자가 관통되는 관통홀이 형성된 제1 가이드 블록을 포함하며, 상기 커넥터 안착부의 두께는 상기 연성회로기판의 헤더 커넥터 단자가 상기 검사 소켓에 결합 시에 전기적 연결은 유지되면서도 완전히 삽입되지 않는 적정 결합 상태를 유지하는 범위 내에서 이루어진다.

Description

연성회로기판 검사 장치{Test apparatus for Flexible Printed Circuit Board}

본원 발명은 연성회로기판 검사 장치에 관한 것으로서, SMD형 커넥터를 포함하고 표면실장부품을 실장할 수 있는 연성회로기판의 단락 및 합선 등의 전기적 불량을 검사하는 장치에 관한 것이다.

연성회로기판(FPCB, Flexible Printed Circuit Board)은 기술발전으로 이동통신 단말기 등의 메인 보드로 사용되거나, 연성회로기판 자체에 표면실장 부품을 직접 내장하여 사용하기도 하며, 특히 폴더형태의 이동통신 단말기에서 굴곡부위의 회로로 사용된다.

상기 연성회로기판은 외부 보드와 SMD형 커넥터를 통하여 서로 연결될 수있다. 일반적으로 소켓 커넥터(socket connector)가 보드 표면에 표면 실장이 되어 장착되어 있고, 연성회로기판에 상기 연성회로기판에는 헤더 커넥터(header connector)가 장착되고 있다. 따라서 상기 연성회로기판의 헤더 커넥터가 외부 보드의 소켓 커넥터와 결합되어서, 서로 연결된다.

상기 표면실장된 연성회로기판의 성능이 만족하는지 여부 및 표면실장부품의 실장에 오류가 없는지 여부를 발휘하는지 여부를 검사하는 기능 검사가 필요하다. 상기 기능 검사는 상기 헤더 커넥터를 통하여 전원을 공급하면서 이루어진다.

상기 기능 검사를 실행하는 장치 중 하나로서, 검사 소켓이 배치된 상판과, 상기 연성회로기판을 안착 고정하는 하판을 포함하는 연성회로기판 검사 장치를 들 수 있다. 상기 상판과 하판은 서로 접근하여서 상기 상판의 검사 소켓 상에 상기 연성회로기판의 헤더 커넥터가 완전히 삽입되어서 전기적으로 연결되도록 한다.

이에 따라서 상기 검사 커넥터가 연성회로기판 헤더 커넥터와 전기적으로 연결된 상태가 되고, 이 때의 연성회로기판의 헤더 커넥터로부터의 전기적 신호를 검사함으로써 전기적 기능이 양호한 지 여부를 판단한다.

상기 연성회로기판마다 상기 기능 검사를 거쳐야 한다. 이에 따라서 연성회로기판의 헤더 커넥터를 검사 소켓에 결합시키기 위하여, 반복적으로 커넥터 및 소켓 간의 가압이 이루어져야 한다. 이 경우, 상기 FPBC 헤더 커넥터와 검사 소켓 사이가 완전히 결합되도록 작업자 또는 별도의 장비로 가압을 강하게 하여야 한다. 이에 따라서 검사 헤드 부분에 파손으로 인하여 검사 시에 작업시간이 길어진다는 문제점이 있다.

또한, 헤더 커넥터의 인접하는 핀마다의 피치간 간격이 좁아서, 상판에 검사 소켓을 부착시키는 납땜(수납) 작업이 용이하지 않다. 이에 따라서 부착 및 전기적 불량률이 높음으로써, 작업시간에 손실(loss)이 발생하게 된다.

이와 더불어 상기 검사 소켓과 연성회로기판의 헤더 커넥터 간을 결합시키기 위하여, 사람이 계속하여서 상기 커넥터들 간을 가압을 행할 필요가 있으며, 이에 따라서 검사자의 피로가 누적되고, 작업 시간이 증가하게 된다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 감안하여 안출된 것으로서, 연성회로기판의 헤더 커넥터 검사 시에 작업시간이 길어지는 것을 방지할 수 있는 구조를 가지는 연성회로기판 검사장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.

본 발명의 다른 목적은 연성회로기판의 헤더 커넥터 및 검사 커넥터 간의 전기적 연결 시에 검사자의 수(手) 작업이 필요 없고, 검자 작업이 완료된 후에 검사자의 연성회로기판을 분리시키기 우수한 구조를 가진 연성회로기판 검사 장치를 제공하는 것이다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 연성회로기판검사 장치는, SMD형 커넥터를 가지는 연성회로기판의 전자회로가 정상적으로 작동하는지를 검사하는 연성회로기판 검사 장치로서, 상기 연성회로기판의 헤더 커넥터 단자와 암수 연결되는 검사 소켓을 포함하는 제1 검사 PCB와, 상기 연성회로기판 및 상기 제1 검사 PCB가 안착되는 안착부재와, 상기 제1 검사 PCB 상면의 상기 검사 소켓 외곽에 두께를 가지고 배치되어서 상기 헤더 커넥터가 안착된 커넥터 안착부를 포함하며, 상기 커넥터 안착부 중앙부에는 상기 헤더 커넥터 단자가 관통되는 관통홀이 형성된 제1 가이드 블록을 포함한다. 이 경우, 상기 커넥터 안착부의 두께는 상기 연성회로기판의 헤더 커넥터 단자가 상기 검사 소켓에 결합 시에 전기적 연결은 유지되면서도 완전히 삽입되지 않는 적정 결합 상태를 유지하는 범위 내에서 이루어진다.

상기 헤더 커넥터가 상기 커넥터 안착부에 안착되도록, 상기 연성회로기판을 상측으로부터 가압하는 위치조절부재를 더 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 제1 가이드 부재는, 상기 헤더 커넥터 모양에 대응되도록 상기 커넥터 안착부 외곽에 상측으로 돌출 형성되어서, 상기 헤더 커넥터가 상기 검사 소켓 상의 정위치에 위치할 수 있도록 가이드하는 커넥터 가이드부와, 상기 커넥터 안착부 내곽에 하측으로 오목하게 형성되어서, 상기 헤더 커넥터 단자가 상기 검사 소켓 단자 상의 정위치에 위치할 수 있도록 가이드 하는 단자 가이드부를 더 포함할 수 있다.

상기 안착부재 상면으로부터 돌출되어서, 상기 위치조절부재가 하강 시에적정 결합 높이보다 더 낮게 하강하는 것을 방지하는 스토퍼가 형성될 수 있다.

한편, 상기 연성회로기판은, 외부 보드와 연결되는 소켓 커넥터를 더 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 위치조절부재는, 상기 소켓 커넥터와 전기적으로 연결되는 검사 커넥터를 포함하는 제2 검사 PCB와, 상기 제2 검사 PCB 하면의 상기 검사 커넥터 외곽에 두께를 가지고 배치되어서 상기 소켓 커넥터 단자가 상기 검사 커넥터 단자와 결합시에 상기 소켓 커넥터의 상면과 접하는 소켓 안착부를 포함하며, 상기 소켓 안착부 중앙부에는 상기 검사 커넥터 단자가 관통되는 관통홀이 형성된 제2 가이드 블록을 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 제2 가이드 블록의 두께는 상기 검사 커넥터 단자가 상기 소켓 커넥터 단자에 삽입 결합 시에 전기적 결합이 되면서도 완전히 삽입되지 않는 적정 결합 상태를 유지하는 범위 내에서 이루어진다.

이 경우, 상기 검사 소켓 단자는, 상기 헤더 커넥터 단자가 삽입되는 것으로, 상기 헤더 커넥터 단자보다 좁은 개구부를 가지면서 상기 헤더 커넥터 단자 방향으로 탄성력을 가지는 입구부와, 상기 헤드 커넥터 단자보다 넓은 개구부를 가지며 상기 헤더 커넥터 단자가 완전 삽입시에 선단부가 내측부에 접촉되도록 배치된 수납부를 포함하며, 상기 커넥터 안착부의 두께는, 상기 헤드 커넥터 선단부가 상기 수납부에 삽입되지 않은 채 상기 입구부에 접하는 상태를 유지하는 범위 내에서 선택되는 것이 바람직하다.

한편, 본 발명의 다른 측면에서의 연성회로기판 검사 장치는, 상기 안착부재 상에 배치된 것으로, 상기 소켓 커넥터와 전기적으로 연결되는 검사 커넥터를 포함하는 제2 검사 PCB와, 상기 연성회로기판 및 상기 제2 검사 PCB가 안착되는 안착부재와, 상기 제2 검사 PCB 상면의 상기 검사 커넥터 외곽에 두께를 가지고 배치되어서 상기 소켓 커넥터 단자가 상기 검사 커넥터 단자와 결합시에 상기 소켓 커넥터의 하면과 접하는 소켓 안착부를 포함하며, 상기 소켓 안착부 중앙부에는 상기 검사 커넥터 단자가 관통되는 관통홀이 형성된 제2 가이드 블록을 포함하며, 상기 제2 가이드 블록의 두께는 상기 검사 커넥터 단자가 상기 소켓 커넥터 단자에 삽입 결합 시에 전기적 결합이 되면서도 완전히 삽입되지 않는 적정 결합 상태를 유지하는 범위 내에서 이루어진다.

상기와 같은 구성을 가지는 본 발명에 의하면, 헤드 커넥터 단자가 검사 소켓 단자에 완전히 삽입되지 않으면서도 전기적 연결이 된 상태로 검사 가능하다. 이 결과, 검사 작업 완료 후에 연결해제 작업이 용이하며, 연결 해제 시간이 단축된다. 이로 인하여 검사자의 피로도가 줄어들게 된다.

또한 검사 작업을 위하여 헤드 커넥터 단자를 검사 소켓 단자에 완전히 삽입시키기 위하여 가압할 필요가 없다. 이 결과, 검사 소켓 단자가 파손되는 것을 방지할 수 있다.

도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 SMD형 커넥터를 포함한 연성회로기판의 검사 장치를 도시한 사시도이다.
도 2는 도 1의 Ⅱ-Ⅱ선을 따라 취한 단면도이다.
도 3은 도 1의 제1 가이드 블록을 도시한 분해사시도이다.
도 4는 도 1에서 헤더 커넥터 단자와 검사 소켓 단자 간에 연결 상태를 도시한 단면도이다.
도 5는 도 1의 소켓 커넥터 단자와 검사 커넥터 단자의 결합부를 도시한 단면도이다.

이하, 본 발명의 바람직한 일 실시예를 첨부된 도면을 참고하여 설명한다.

도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 SMD형 커넥터를 포함한 연성회로기판의 검사 장치(100)를 도시한 사시도이고, 도 2는 도 1의 Ⅱ-Ⅱ선을 따라 취한 단면도이며, 도 3은 도 1의 제1 가이드 블록(130)을 도시한 분해 사시도이다.

여기서, 상기 연성회로기판은 SMD형 커넥터를 가진다. SMD형 커넥터는 헤더 커넥터(31)(header connector) 및 소켓 커넥터(36)(socket connector) 중의 하나이다. 일반적으로 소켓 커넥터(36)가 보드 표면에 표면 실장이 되어 장착되어 있고, 연성회로기판에는 헤더 커넥터(31)가 장착되어, 소켓 커넥터(36)와 헤더 커넥터(31)가 서로 결합된다. 이와 달리, 소켓 커넥터(36)가 연성회로기판에 표면 실장이 되어 장착되어 있고, 보드 표면에는 헤더 커넥터(31)가 장착될 수도 있다.

도 1 내지 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 연성회로기판 검사 장치(100)는, 제1 검사 PCB(110)와, 안착부재(120)와, 제1 가이드 블록(130)을 포함한다.

제1 검사 PCB(110)는 검사 소켓(114)을 포함한다. 상기 검사 소켓(114)은 상기 연성회로기판(30)의 헤더 커넥터 단자(33)와 암수 연결된다. 또한 상기 제1 검사 PCB(110)는 전원 및 검사판별부와 연결되어서, 상기 연성회로기판(30) 및 이에 실장된 표면실장부품이 정상적으로 작동하는지를 판단할 수 있는 신호를 검사 판별부로 전달한다.

안착부재(120)는 상기 연성회로기판(30) 및 상기 제1 검사 PCB(110)가 안착된다. 이 경우, 상기 안착부재(120)에는, 상기 연성회로기판(30)이 안착되는 연성회로기판용 안착홈(126) 및 상기 제1 검사 PCB(110)가 안착되는 검사 PCB용 안착홈(122)이 형성될 수 있다. 상기 안착부재(120)는 장치 베이스(102)에 결합되어 있을 수도 있고, 상기 장치 베이스와 일체로 형성될 수도 있다.

상기 연성회로기판용 안착홈(126)의 일단은 상기 검사 PCB용 안착홈(122)의 검사 소켓(114) 위치와 서로 맞닿도록 연결되어 있을 수 있다. 이에 따라서 상기 연성회로기판 및 제1 검사 PCB(110)가 상기 안착부재(120)에 안착되면, 상기 헤더 커넥터(31)와 검사 소켓(114)이 포개질 수 있게 된다. 이에 따라서 상기 헤더 커넥터(31)가 검사 소켓(114) 상측에서 삽입 결합되게 된다.

상기 제1 검사 PCB(110) 상면에는 제1 가이드 블록(130)이 결합된다. 제1 가이드 블록(130)은 커넥터 안착부(132) 및 관통홀(136)을 포함한다.

상기 헤더 커넥터 단자(33)가 검사 소켓 단자(116)에 삽입된 상태에서, 상기 헤더 커넥터(31)는 상기 커넥터 안착부(132)에 안착된다. 이 경우, 상기 커넥터 안착부(132)의 중앙부에는 상기 헤더 커넥터 단자(33)가 관통되는 관통홀(136)이 형성된다.

상기 커넥터 안착부(132)의 두께는 상기 연성회로기판의 헤더 커넥터 단자(33)가 상기 검사 소켓 단자(116)에 결합 시에 전기적 연결은 유지되면서도 완전히 삽입되지 않는 상태를 유지하는 상태 내에서 이루어진다. 이러한 상태를 적정 결합 상태 또는 가결합(假結合) 상태라 칭한다.

보다 상세히 설명하면, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 검사 소켓 단자(116)는 입구부(116a)와, 수납부(116b)를 포함할 수 있다. 상기 입구부(116a)는 상기 헤더 커넥터 단자(33)가 삽입되는 것으로, 상기 헤더 커넥터 단자(33)보다 좁은 개구부를 가지면서 상기 헤더 커넥터 단자(33) 방향으로 탄성력을 가진다. 따라서 상기 헤더 커넥터 단자(33)가 상기 입구부(116a)와 접촉하게 되면, 상기 입구부(116a)는 항상 상기 헤더 커넥터 단자(33)와 접하게 된다.

수납부(116b)는 상기 헤더 커넥터 단자(33)보다 넓은 개구부를 가지며 상기 헤더 커넥터 단자(33)가 완전 삽입시에 선단부가 내측부에 접촉되도록 배치된다. 즉, 상기 검사 소켓 단자(116)는 호리병 형상과 비슷하게 이루어질 수 있다.

이 경우, 상기 커넥터 안착부(132)의 두께는, 상기 헤더 커넥터 단자 선단부가 상기 수납부(116b)에 삽입되지 않은 채 상기 입구부(116a)에 접하는 상태를 유지하는 적정 결합 상태 내에서 이루어지는 것이 바람직하다. 이는 상기 헤더 커넥터 단자(33)가 상기 입구부(116a)를 완전히 관통하여서 상기 수납부(116b)에 수납되게 되면, 기능 검사시에 가압이 필요하고, 기능검사 후에 상기 헤더 커넥터 단자(33)를 빼내기 위하여 검사자의 힘이 필요 하게 되는 문제점을 해소하기 때문이다.

한편, 본 발명은 위치조절부재(140)를 더 포함할 수 있다. 상기 위치조절부재(140)는 상기 헤더 커넥터(31)가 상기 커넥터 안착부(132)에 안착되도록, 상기 연성회로기판(30)을 상측으로부터 가압한다.

이에 따라서 검사자가 상기 헤더 커넥터(31)를 상기 검사 소켓(114)에 안착시키기만 한 상태로 놓아 둔 상태에서, 위치조절부재(140)를 하강시킴으로써 상기 헤더 커넥터 단자(33)가 적정 결합 높이에서 상기 검사 소켓(114)에 연결될 수 있다.

이 경우, 안착부재(120)에는 스토퍼(150)가 형성될 수 있다. 상기 스토퍼(150)는 상기 안착부재(120) 상면으로부터 돌출되어서, 상기 위치조절부재(140)가 하강시에 상기 적정 결합 높이보다 더 낮게 하강하는 것을 방지한다. 상기 스토퍼(150)의 일예로 돌출 핀일 수 있다. 상기 안착부재(120)가 하강하다가 상기 스토퍼(150)에 닿게 되면 더 이상 하강하지 못하고 강제적으로 정지하게 된다. 이에 따라서 상기 헤더 커넥터 단자(33)가 검사 소켓 단자(116)에 더 깊게 삽입되는 것을 방지할 수 있게 된다.

한편, 상기 제1 가이드 블록(130)은, 커넥터 가이드부(134)와, 단자 가이드부(136)를 포함할 수 있다.

커넥터 가이드부(134)는 상기 헤더 커넥터(31) 모양에 대응되도록 상기 커넥터 안착부(132) 외곽에 상측으로 돌출 형성되어서, 상기 헤더 커넥터(31)가 상기 검사 소켓(114) 상의 정위치에 위치할 수 있도록 가이드한다. 이에 따라서 검사자가 용이하게 상기 헤더 커넥터(31)를 상기 검사 소켓(114)의 수직상에 위치할 수 있게 한다.

단자 가이드부(136)는 상기 커넥터 안착부(132) 내곽에 하측으로 오목하게 형성되어서, 상기 헤더 커넥터 단자(33)가 상기 검사 소켓 단자(116) 상의 정위치에 위치할 수 있도록 가이드 한다.

상기 위치조절부재(140)는 상기 안착부재(120)의 직상부에 배치되며, 승, 하강 가능하도록 위치할 수 있다. 이를 위하여 상기 위치조절부재(140)는 리니어 모터 또는 볼스크류의 구동에 따라서 승하강 하여서 상기 연성회로기판을 수직으로 누를 수 있다. 이와 달리 위치조절부재(140)는 상기 안착부재(120)의 모서리부에 힌지 결합될 수도 있다.

한편, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 연성회로기판(30)은 소켓 커넥터(36)를 더 포함할 수 있다. 상기 소켓 커넥터(36)는 외부보드 등의 헤더 커넥터와 연결된다.

이 경우, 상기 위치조절부재는 제2 검사 PCB(150) 및 제2 가이드 블록(160)을 포함할 수 있다. 상기 제2 검사 PCB(150)는 상기 소켓 커넥터(36)와 전기적으로 연결되는 검사 커넥터(154)를 포함한다. 상기 검사 커넥터(154) 단자는 상기 소켓 커넥터 단자(38)의 직상부에서 하강하여 상기 소켓 커넥터 단자(38)에 결합된다.

제2 가이드 블록(160)은 소켓 안착부(162)를 포함한다. 상기 소켓 안착부(162)는 상기 제2 검사 PCB(150) 하면의 상기 검사 커넥터(154) 외곽에 두께를 가지고 배치되어서, 상기 소켓 커넥터 단자(38)가 상기 검사 커넥터(154) 단자와 결합시에 상기 소켓 커넥터(36)의 상면과 접하게 된다. 상기 소켓 안착부 중앙부에는 상기 검사 커넥터(154) 단자가 관통되는 관통홀(166)이 형성된다.

이 경우, 상기 제2 가이드 블록(160)의 두께는 상기 검사 커넥터(154) 단자가 상기 소켓 커넥터 단자(38)에 삽입 결합 시에 전기적 결합이 되면서도 완전히 삽입되지 않는 적정 결합 상태를 유지하는 범위 내에서 이루어지는 것이 바람직하다.

이 경우, 상기 소켓 커넥터 단자(38)는 상기 도 4에 도시된 검사 소켓 단자와 같이, 입구부와, 수납부를 포함할 수 있다. 상기 입구부는 상기 검사 커넥터 단자가 삽입되는 것으로, 상기 검사 커넥터(154) 단자보다 작은 직경을 가지면서 상기 검사 커넥터(154) 단자 방향으로 탄성력을 가진다. 따라서 상기 검사 커넥터(154) 단자가 상기 입구부와 접촉하게 되면, 상기 입구부는 항상 상기 검사 커넥터(154) 단자와 접하게 된다.

수납부는 상기 검사 커넥터(154) 단자보다 큰 직경을 가지며 상기 검사 커넥터(154) 단자가 완전 삽입시에 선단부가 내측부에 접촉되도록 배치된다. 즉, 상기 소켓 커넥터 단자(38)는 일명 호리병 형상으로 이루어질 수 있다.

이 경우, 상기 적정 결합 상태라는 것은, 상기 검사 커넥터(154) 단자 선단부가 상기 소켓 커넥터 단자(38)의 수납부에 삽입되지 않은 채 상기 입구부에 접하는 상태를 유지하는 적정 결합 상태 내에서 이루어지는 것이 바람직하다. 이는 상기 검사 커넥터(154) 단자가 상기 입구부를 완전히 관통하지 않기 때문에, 결합시 또는 결합 해제시 상기 검사 커넥터(154) 단자에 불필요한 응력을 제공하지 않게 되어서, 검사 커넥터(154)의 내구성을 향상시킬 수 있기 때문이다.

한편, 상기 제2 검사 PCB는 안착부재 상에 형성될 수도 있다. 이 경우, 제2 가이드 블록은 상기 제2 검사 PCB 상면의 상기 검사 커넥터 외곽에 두께를 가지고 배치되어서 상기 소켓 커넥터 단자가 상기 검사 커넥터 단자와 결합시에 상기 소켓 커넥터의 하면과 접하는 소켓 안착부를 포함하며, 상기 소켓 안착부 중앙부에는 상기 검사 커넥터 단자가 관통되는 관통홀이 형성된다.

이 경우, 상기 제2 가이드 블록의 두께는 상기 검사 커넥터 단자가 상기 소켓 커넥터 단자에 삽입 결합 시에 전기적 결합이 되면서도 완전히 삽입되지 않는 적정 결합 상태를 유지하는 범위 내에서 이루어지는 것이 바람직하다.

상술한 바와 같이, 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술분야의 숙련된 당업자라면 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

30: 연성회로기판
33: 헤더 커넥터 단자
100: 연성회로기판 검사 장치
110: 제1 검사 PCB
114: 검사 소켓
120: 안착부재
122: 검사 PCB용 안착홈
126: 연성회로기판용 안착 홈
130: 제1 가이드 블록
132: 커넥터 안착부
136: 관통홀

Claims

SMD형 커넥터를 가지는 연성회로기판의 전자회로가 정상적으로 작동하는지를 검사하는 연성회로기판 검사 장치로서,
상기 연성회로기판의 헤더 커넥터 단자와 암수 연결되는 검사 소켓을 포함하는 제1 검사 PCB;
상기 연성회로기판 및 상기 제1 검사 PCB가 안착되는 안착부재; 및
상기 제1 검사 PCB 상면의 상기 검사 소켓 외곽에 돌출되도록 배치되어서 상기 헤더 커넥터가 안착된 커넥터 안착부를 포함하며, 상기 커넥터 안착부 중앙부에는 상기 헤더 커넥터 단자가 관통되는 관통홀이 형성된 제1 가이드 블록;을 포함하며,
상기 커넥터 안착부의 돌출되는 두께는, 상기 연성회로기판의 헤더 커넥터 단자가 상기 검사 소켓에 결합 시에 전기적 연결은 유지되면서도 상기 헤더 커넥터 단자의 선단부가 상기 검사 소켓의 내측부에 이격되도록 삽입되는 가결합 상태를 유지하는 범위 내에서 이루어지는 것을 특징으로 하는 연성회로기판 검사 장치.
제1항에 있어서,
상기 헤더 커넥터가 상기 커넥터 안착부에 안정적으로 안착되도록 하는 위치조절부재를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 연성회로기판 검사 장치.
제2항에 있어서,
상기 제1 가이드 블록은:
상기 헤더 커넥터 모양에 대응되도록 상기 커넥터 안착부 외곽에 상측으로 돌출 형성되어서, 상기 헤더 커넥터가 상기 검사 소켓 상의 정위치에 위치할 수 있도록 가이드하는 커넥터 가이드부;
상기 커넥터 안착부 내곽에 하측으로 오목하게 형성되어서, 상기 헤더 커넥터 단자가 상기 검사 소켓 단자 상의 정위치에 위치할 수 있도록 가이드 하는 단자 가이드부;
를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 연성회로기판 검사 장치.
제2항에 있어서,
상기 안착부재 상면으로부터 돌출되며 상기 위치조절부재가 하강 중에 닿아서, 상기 위치조절부재가 상기 연성회로기판의 헤더 커넥터 단자가 가결합 상태를 유지하는 범위보다 더 낮게 하강하는 것을 방지하는 스토퍼가 형성된 것을 특징으로 하는 연성회로기판 검사 장치.
제1항 내지 제4항 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 검사 소켓 단자는:
상기 헤더 커넥터 단자가 삽입되는 것으로, 상기 헤더 커넥터 단자보다 좁은 개구부를 가지면서 상기 헤더 커넥터 단자 방향으로 탄성력을 가지는 입구부와;
상기 헤더 커넥터 단자보다 넓은 개구부를 가지며 상기 헤더 커넥터 단자가 완전 삽입시에 선단부가 내측부에 접촉되도록 배치된 수납부;를 포함하며,
상기 커넥터 안착부의 두께는, 상기 연성회로기판의 헤더 커넥터 단자가 상기 검사 소켓에 결합 시에 상기 헤더 커넥터 선단부가 상기 입구부를 통과는 하되, 상기 수납부의 내측부에 접촉되지 않는 범위 내에서 이루어지는 것을 특징으로 하는 연성회로기판 검사 장치.
제2항 내지 제4항 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 연성회로기판은, 외부 보드와 연결되는 소켓 커넥터를 더 포함하고,
상기 위치조절부재는:
상기 소켓 커넥터와 전기적으로 연결되는 검사 커넥터를 포함하는 제2 검사 PCB; 및
상기 제2 검사 PCB 하면의 상기 검사 커넥터 외곽에 돌출되도록 배치되어서 상기 소켓 커넥터의 단자가 상기 검사 커넥터 단자와 결합시에 상기 소켓 커넥터의 상면과 접하는 소켓 안착부를 포함하며, 상기 소켓 안착부 중앙부에는 상기 검사 커넥터 단자가 관통되는 관통홀이 형성된 제2 가이드 블록;을 포함하며,
상기 제2 가이드 블록이 상기 제2 검사 PCB로부터 돌출되는 두께는, 상기 검사 커넥터 단자가 상기 소켓 커넥터 단자에 삽입 결합 시에 전기적 결합이 되면서도 상기 검사 커넥터 단자의 선단부가 상기 소켓 커넥터 단자 내측부에 닿지 않도록 삽입되는 가결합 상태를 유지하는 범위 내에서 이루어지는 것을 특징으로 하는 연성회로기판 검사 장치.
제6항에 있어서,
상기 소켓 커넥터 단자는, 상기 검사 커넥터 단자가 삽입되는 것으로, 상기 검사 커넥터 단자보다 좁은 개구부를 가지면서 상기 검사 커넥터 단자 방향으로 탄성력을 가지는 입구부와, 상기 검사 커넥터 단자보다 넓은 개구부를 가지며 상기 검사 커넥터 단자가 완전 삽입시에 선단부가 내측부에 접촉되도록 배치된 수납부를 포함하며,
상기 소켓 안착부의 두께는, 상기 검사 커넥터 단자와 상기 소켓 커넥터 단자간의 결합시에 상기 검사 커넥터 단자 선단부가 상기 입구부를 통과하나, 상기 수납부의 내측부에 닿지 않는 범위 내에서 선택되는 것을 특징으로 하는 연성회로기판 검사 장치.
SMD형 소켓 커넥터를 가지는 연성회로기판의 전자회로가 정상적으로 작동하는지를 검사하는 연성회로기판 검사 장치로서,
상기 소켓 커넥터의 소켓 커넥터 단자와 전기적으로 연결되는 검사 커넥터를 포함하는 제2 검사 PCB;
상기 연성회로기판 및 상기 제2 검사 PCB가 안착되는 안착부재; 및
상기 제2 검사 PCB 상면의 상기 검사 커넥터 외곽에 돌출 배치되어서 상기 소켓 커넥터 단자가 상기 검사 커넥터의 단자와 결합시에 상기 소켓 커넥터의 하면과 접하는 소켓 안착부를 포함하며, 상기 소켓 안착부 중앙부에는 상기 검사 커넥터의 단자가 관통되는 관통홀이 형성된 제2 가이드 블록;을 포함하며,
상기 제2 가이드 블록의 상기 제2 검사 PCB 상면으로부터의 돌출 두께는 상기 검사 커넥터의 단자가 상기 소켓 커넥터 단자에 삽입 결합 시에 전기적 결합이 되면서도 상기 검사 커넥터의 단자 선단부가 상기 소켓 커넥터 단자의 내측부에 닿지 않은 가결합 상태를 유지하는 범위 내에서 이루어지는 것을 특징으로 하는 연성회로기판 검사 장치.