KR101066507B1 - 중계 커넥터 - Google Patents

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KR101066507B1
KR101066507B1 KR1020070113883A KR20070113883A KR101066507B1 KR 101066507 B1 KR101066507 B1 KR 101066507B1 KR 1020070113883 A KR1020070113883 A KR 1020070113883A KR 20070113883 A KR20070113883 A KR 20070113883A KR 101066507 B1 KR101066507 B1 KR 101066507B1
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히사시 스즈키
료이치 히라코
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가부시키가이샤 요코오
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/70Coupling devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices

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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)

Abstract

본 발명은 피검사측 커넥터(38)의 단자(38a)에 프로브(54)를 접촉시키는 중계 커넥터를 제공하는 것을 목적으로 한다.
핀 블록(24)에 대하여 플로팅 가이드(26)를 접근 분리할 수 있으며, 분리 방향으로 탄성 압박하여 배치한다. 플로팅 가이드(26)에 피검사측 커넥터(38)를 핀 블록(24)측을 향해서 끼워 맞춤 삽입하여 위치 결정하는 가이드 구멍(26b)을 형성한다. 가이드 구멍(26b)에 끼워 맞춤 삽입된 피검사측 커넥터(38)의 단자(38a)를 향하여, 핀 블록(24)에 플로팅 가이드(26)의 접근 분리 방향을 축 방향으로 하여 프로브(54)를 배치한다. 가이드 구멍(26b)에 피검사측 커넥터(38)의 끼워 맞춤 삽입을 허용하는 개구 상태와, 가이드 구멍(26b)에 끼워 맞춤 삽입된 피검사측 커넥터(38)를 핀 블록(24)측에 가압한 가압 상태로 조작되는 가압 조작 부재(14)를 설치한다.
피검사측 커넥터, 단자, 프로브, 핀 블록, 플로팅 가이드

Description

중계 커넥터{RELAY CONNECTOR}
본 발명은 조사를 위해, 전자 부품 등의 피검사 기판에 배치된 피검사측 커넥터를 측정기 등에 전기적으로 접속하기 위해 이용하는 중계 커넥터에 관한 것이다.
휴대 전화기나 디지털 카메라와 같이 소형의 전자 기기에 있어서는 작은 스페이스에 많은 전자 회로를 탑재하기 위해 복수매의 기판이 중첩되어 배치되고, 이들 기판의 기판 사이는 각각 배치된 커넥터를 통해 전기적으로 접속되는 경우가 있다. 그래서, 기판과 그것에 배치된 커넥터를 검사하기 위해서는 커넥터에 측정기 등을 적절하게 전기적으로 접속하는 것이 바람직하다. 여기서, 피검사 기판과 피검사측 커넥터 전체를 검사하기 위해서는 피검사측 커넥터에 쌍이 되는 지그측 커넥터를 끼워 맞추어 측정기에 전기적으로 접속하는 것이 요구된다. 그럼에도 불구하고, 피검사측 커넥터 및 지그측 커넥터 중 어느 하나에 있어서, 끼워 맞춘 것을 빼내는 내구 횟수는 50회 정도로 비교적 적다. 그래서, 지그측 커넥터를 검사 횟수가 내구 횟수에 도달할 때마다 교환하여야 한다. 이 지그측 커넥터가 지그측 기판에 납땜에 의해 고정되어 있고, 그 지그측 기판에 측정기 등에 접속되는 여러 개의 배 선 케이블이 납땜되어 있다고 하면, 지그측 커넥터만을 간단하게 교환할 수 없다. 그래서, 지그측 커넥터와 지그측 기판 및 배선 케이블 전체를 교환하여야 한다. 그러면, 측정 검사의 비용이 증가하는 문제점이 발생한다.
그래서, 본 발명의 출원인은 이미 일본 특허 공개 제2004-273192호 공보에 개시되는 바와 같은 기술을 제안하였으며, 교환하는 부분을 적게 함으로써, 측정 검사 비용을 적게 하였다. 이에 앞서, 제안한 기술은 피검사측 커넥터에 대응하는 지그측 커넥터를 절연 중계 기판에 배치하고, 이 절연 중계 기판을 절연재로 이루어지는 프로브 유닛에 착탈할 수 있게 배치한다. 이 프로브 유닛에는 프로브가 배치되어 있다. 그리고, 지그측 커넥터 단자가 절연 중계 기판에 설치된 단자에 전기적으로 접속되고, 이 절연 중계 기판 단자에 프로브 유닛의 프로브가 접촉하여 전기적으로 접속된다. 또한, 프로브 유닛에 설치된 프로브 타단은 측정기 등에 접속되는 다수 개의 배선 케이블에 적절하게 전기적으로 접속된다. 이것에 의해, 피검사측 커넥터는 지그측 커넥터, 절연 중계 기판, 프로브, 및 배선 케이블을 통해 측정기 등에 전기적으로 접속된다. 그래서, 지그측 커넥터의 검사 사용 횟수가 내구 횟수에 도달하면, 이 지그측 커넥터와 절연 중계 기판을 교환하면 되고, 교환하는 부분이 적은 만큼 측정 검사 비용을 적게 할 수 있다.
[특허 문헌 1] 일본 특허 공개 제2004-2731912호 공보
전술한 일본 특허 공개 제2004-273192호 공보에서 제안된 기술에서는, 지그측 커넥터와 절연 중계 기판만을 교환하면 되므로, 종전에 비해서, 측정 검사 비용을 적게 할 수 있지만, 반드시 충분히 만족되는 것은 아니다. 그래서, 발명자들은 피검사측 커넥터 단자에 프로브를 직접 접촉시키고, 지그측 커넥터와 절연 중계 기판의 교환이 불필요하며, 접촉시키는 프로브가 파손되면 그 프로브만을 교환하도록 한 구조로 함으로써, 보다 측정 검사 비용을 적게 할 수 있다고 생각하였다.
본 발명은 이러한 사상에 기초하여 이루어진 것이며, 피검사측 커넥터에 프로브를 접촉시키는 중계 커넥터를 제공하는 것을 목적으로 한다.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 중계 커넥터는 피검사 기판에 배치된 피검사측 커넥터 단자에 프로브를 접촉시켜 측정기에 전기적으로 접속시키기 위한 중계 커넥터로서, 절연재로 이루어지는 핀 블록에 대하여 절연재로 이루어지는 플로팅 가이드를 접근 분리할 수 있고, 분리 방향으로 탄성 압박하여 배치하며, 상기 플로팅 가이드에 상기 피검사측 커넥터를 상기 핀 블록측을 향하여 끼워 맞춤 삽입하여 위치 결정하는 가이드 구멍을 형성하고, 이 가이드 구멍에 끼워 맞춤 삽입된 상기 피검사측 커넥터 단자를 향하여 상기 핀 블록에 상기 플로팅 가이드의 접근 분리 방향을 축 방향으로 하여 프로브를 배치하며, 상기 플로팅 가이드의 상기 가이드 구멍에 상기 피검사측 커넥터를 끼워 맞춤 삽입을 허용하는 개구 상태와, 상기 플로팅 가이드에 끼워 맞춤 삽입된 상기 피검사측 커넥터를 상기 핀 블록측에 가압한 가압 상태로 조작되는 가압 조작 부재를 설치하여 구성되어 있다.
그리고, 상기 가압 조작 부재에 결합 돌기를 설치하고, 상기 플로팅 가이드에 결합 지지부를 설치하고, 상기 가압 조작 부재의 개구 상태에서 상기 결합 돌기가 상기 결합 지지부와 결합하여, 상기 플로팅 가이드가 상기 핀 블록측으로 이동하는 것을 규제하도록 구성하여도 좋다.
또한, 상기 가압 조작 부재를, 상기 가이드 구멍에 끼워 맞춤 삽입된 상기 피검사측 커넥터의 상기 핀 블록측을 향하는 면과 평행한 면에 배치된 요동축에 의해, 상기 개구 상태와 상기 가압 상태로 요동할 수 있게 배치하고, 상기 피검사측 커넥터를 가압하는 선단측에 상기 요동축과 평행한 제2 요동축에 의해 가압 블록을 요동할 수 있게 배치하여 구성할 수도 있다.
또한, 양단에 확장부를 갖는 플로팅 핀을 상기 플로팅 가이드와 상기 핀 블록에 상기 플로팅 가이드의 접근 분리 방향으로 관통 배치하여, 상기 양단의 확장부에 의해 상기 플로팅 가이드가 상기 핀 블록으로부터 분리 방향으로 이동할 수 있는 거리를 규제하고, 상기 플로팅 핀에 플로우트 스프링을 유동할 수 있게 끼우고, 상기 플로팅 가이드와 상기 핀 블록 사이에 압축 설치하여 구성하여도 좋다.
그리고, 상기 플로팅 핀은 그 일단측에 나사 결합하는 조정 스프링에 의해 상기 분리 방향으로 이동할 수 있는 거리를 조정하며, 상기 조정 스프링을 향하여 상기 가압 조작 부재에 조정용 구멍을 형성하여 외부로부터 상기 조정 스프링을 조정할 수 있도록 구성할 수도 있다.
또한, 상기 피검사측 커넥터를 상기 핀 블록측을 향하여 상기 가이드 구멍에 끼워 맞춤 삽입하는 상기 플로팅 가이드의 기판 탑재면에는, 상기 피검사 기판보다도 큰 평면이 형성되어 있어, 상기 피검사측 커넥터를 상기 가이드 구멍에 끼워 맞춤 삽입한 상태에서 상기 피검사판이 어떠한 위치에 대한 규제를 받지 않도록 구성하여도 좋다.
또한, 요동 가능한 상기 가압 조작 부재의 상기 개구 상태측에서의 요동을 규제하는 규제부를 설치하고, 상기 규제부에서 상기 가압 조작 부재가 규제되어 있는 상태에서 상기 결합 돌기가 상기 결합 지지부에 결합되도록 구성하여도 좋다.
또한, 본 발명의 중계 커넥터는 피검사 기판에 배치된 피검사측 커넥터 단자에 프로브를 접촉시켜 측정기에 전기적으로 접속시키기 위한 중계 커넥터로서, 절연재로 이루어지는 베이스 부재에 대하여 절연재로 이루어지는 플로팅 가이드를 접촉 분리할 수 있게 배치하고, 상기 베이스 부재와 상기 플로팅 가이드 사이에 상기 피검사 기판을 삽입한 상태에서 상기 플로팅 가이드에 상기 피검사측 커넥터를 끼워 맞춤 삽입하여 위치 결정하는 가이드 구멍을 형성하고, 상기 베이스 부재에 상기 플로팅 가이드를 끼우며, 상기 플로팅 가이드측이 접근 분리할 수 있도록 가압 조작 부재를 배치하고, 상기 가압 조작 부재에 상기 플로팅 가이드를 향하여 절연재로 이루어지는 핀 블록을 배치하며, 상기 플로팅 가이드에 상기 핀 블록을 접속시킨 상태에서 상기 가이드 구멍에 끼워 맞춤 삽입한 상기 피검사측 커넥터 단자에 접속하도록 상기 핀 블록에 프로브를 배치하고, 상기 핀 블록을 상기 플로팅 가이드로부터 분리하는 방향의 상기 가압 조작 부재의 조작에 연동하여 상기 플로팅 가이드가 상기 베이스 부재로부터 분리되도록 하며, 상기 베이스 부재와 상기 플로팅 가이드 사이에 상기 피검사 기판의 삽입을 허용하는 개구 상태와, 상기 플로팅 가이드의 상기 가이드 구멍에 끼워 맞춤 삽입된 상기 피검사측 커넥터측에 상기 핀 블록을 가압한 가압 상태로 상기 가압 조작 부재를 조작하도록 구성하여도 좋다.
그리고, 상기 플로팅 가이드의 상기 가이드 구멍을 향하여 상기 베이스 부재에 설치한 기판 탑재면에, 상기 피검사 기판의 삽입측 선단 부분의 형상을 구비한 기판 위치 결정 오목부를 가장자리부로부터 설치하고, 상기 기판 위치 결정 오목부에 의해 상기 피검사 기판의 삽입 치수 및 측방으로의 어긋남을 규제하여 상기 피검사 기판을 위치 결정하도록 구성할 수도 있다.
또한, 상기 플로팅 가이드가 상기 베이스 부재에 설치된 선형 가이드에 안내되어, 상기 베이스 부재의 상기 기판 탑재면에 대하여 수직 방향으로 접촉 분리되도록 구성할 수도 있다.
또한, 상기 가압 조작 부재를 상기 베이스 부재에 대하여 상기 플로팅 가이드측이 접근 분리되도록 요동할 수 있게 배치하고, 상기 가압 조작 부재의 상기 플로팅 가이드측이 접근하는 방향으로 탄성 압박하도록 상기 가압 조작 부재와 상기 베이스 부재 사이에 가압 스프링을 압축 설치하여 구성할 수도 있다.
또한, 상기 가압 조작 부재를 상기 베이스 부재에 대하여 상기 플로팅 가이드측이 접근 분리되도록 요동할 수 있게 배치하고, 상기 베이스 부재에 대하여 레버 부재를 상기 가압 조작 부재의 요동축과 평행한 요동축에 의해 요동할 수 있게 배치하고, 상기 레버 부재의 일단부를 상기 플로팅 가이드에 결합시키고, 타단부가 상기 가압 조작 부재의 조작에 의해 가압되어, 상기 가압 조작 부재의 상기 플로팅 가이드측이 상기 베이스 부재로부터 분리 방향으로 요동함에 따라서, 상기 플로팅 가이드가 상기 베이스 부재로부터 분리 방향으로 요동하여 상기 개구 상태가 되도록 구성할 수도 있다.
또한, 상기 플로팅 가이드에 형성된 상기 가이드 구멍의 깊이를 상기 피검사측 커넥터의 높이와 일치하도록 구성할 수도 있다.
또한, 상기 플로팅 가이드의 상기 핀 블록측의 면에 오목부를 설치하고, 상기 핀 블록의 상기 플로팅 가이드측의 면에 상기 오목부에 끼워 맞춰지는 볼록부를 형성하여, 상기 오목부와 상기 볼록부의 결합에 의해, 상기 플로팅 가이드와 상기 핀 블록을 상대적으로 위치 결정하도록 구성할 수도 있다.
또한, 상기 가압 조작 부재의 상기 플로팅 가이드측의 선단 외측부를 모따기형의 경사면으로 형성하여 구성할 수도 있다.
청구항 1에 기재한 중계 커넥터에 있어서는, 가압 조작 부재의 개구 상태에서 탄성 압박되어 핀 블록으로부터 분리되어 있는 플로팅 가이드의 가이드 구멍에, 피검사측 커넥터를 핀 블록측을 향하여 끼워 맞춤 삽입하여 위치 결정하고, 이러한 상태에 있어서, 가압 조작 부재에 의해 플로팅 가이드와 피검사측 커넥터를 핀 블록측에 가압한 가압 상태로 조작하기 때문에, 피검사측 커넥터를 가이드 구멍에 끼워 맞춤 삽입하여 위치 결정할 때에는 피검사측 커넥터가 부적절한 자세로 프로브에 접촉되는 일이 없고, 프로브에 피검사측 커넥터가 접촉한 상태에서 상대적으로 가로로 어긋나는 힘(전단력)이 작동하는 일이 없으며, 프로브 또는 피검사측 커넥터를 파손시키는 일이 없다.
그리고, 청구항 2에 기재한 중계 커넥터에 있어서는, 가압 조작 부재에 결합 돌기를 설치하고, 플로팅 가이드에 결합 지지부를 설치하고, 가압 조작 부재의 개구 상태에서 결합 돌기와 결합 지지부와 결합되도록 하여, 플로팅 가이드가 핀 블록측으로 이동하는 것을 규제하기 때문에, 플로팅 가이드의 가이드 구멍에 피검사측 커넥터를 끼워 맞춤 삽입시킬 때에, 플로팅 가이드에 핀 블록측을 향한 힘이 작용하여도 플로팅 가이드가 이동하지 않고, 정확하게 위치 결정되어 있지 않은 상태의 피검사측 커넥터가 프로브에 접촉되는 일이 없으며, 프로브 또는 피검사측 커넥터를 파손시키는 일은 없다.
또한, 청구항 3에 기재한 중계 커넥터에 있어서는, 가압 조작 부재를 요동축에 의해 개구 상태와 가압 상태로 요동할 수 있게 배치하기 때문에, 가압 조작 부재를 배치하는 구조가 간단하다. 또한, 피검사측 커넥터를 가압하는 선단측에 요동축과 평행한 제2 요동축에 의해 가압 블록을 요동할 수 있게 설치하였기 때문에, 플로팅 가이드를 핀 블록측에 접근시키는 방향으로 정확하게 가압할 수 있다.
또한, 청구항 4에 기재한 중계 커넥터에 있어서는 양단에 확장부를 갖는 플로팅 핀에 의해, 플로팅 가이드가 핀 블록으로부터 분리 방향으로 이동할 수 있는 거리가 규제된다. 또한, 플로우트 스프링에 의해 분리 방향으로 탄성 압박되고, 가압 조작 부재의 개구 상태에서 플로팅 가이드를 핀 블록으로부터 분리된 상태로 할 수 있다.
그리고, 청구항 5에 기재한 중계 커넥터에 있어서, 플로팅 핀은 그 일단측에 나사 결합하는 조정 나사에 의해 분리 방향으로 이동할 수 있는 거리를 조정하기 때문에, 플로팅 가이드가 핀 블록으로부터 분리되는 거리를 임의로 설정할 수 있다. 또한, 조정 나사를 향하여 가압 조작 부재에 조정용 구멍을 형성하고 있기 때문에, 사용 중에 조정 나사가 느슨해져도 외부에서 간단히 재조정할 수 있다.
또한, 청구항 6에 기재한 중계 커넥터에 있어서, 피검사측 커넥터를 핀 블록측을 향하여 가이드 구멍에 끼워 맞춤 삽입하는 플로팅 가이드의 기판 탑재면에는 피검사 기판보다도 큰 평면이 형성되어 있어, 피검사측 커넥터를 가이드 구멍에 끼워 맞춤 삽입한 상태에서 피검사 기판이 어떠한 위치에서도 규제가 되지 않도록 하였기 때문에, 피검사측 커넥터가 피검사 기판에 대하여 위치가 어긋나게 실장되어 있어도 피검사측 커넥터를 피검사 기판에 대하여 측방으로 어긋나게 하는 힘이 어디에서도 작용하지 않고, 검사에는 하등 문제점을 발생시키지 않는다.
또한, 청구항 7에 기재한 중계 커넥터에 있어서는 요동 가능한 가압 조작 부재의 개구 상태측에서의 요동을 규제하는 규제부를 설치하고, 규제부에서 가압 조작 부재가 규제되어 있는 상태에서, 결합 돌기가 결합 지지부에 결합되도록 하고 있기 때문에, 가압 조작 부재가 개구 상태로 규제되면, 결합 돌기가 결합 지지부에 결합하여 플로팅 가이드가 핀 블록측으로 이동하는 것이 확실하게 규제된다.
또한, 청구항 8에 기재한 중계 커넥터에 있어서는 베이스 부재와 플로팅 가이드 사이에 피검사 기판을 삽입한 상태에서, 플로팅 가이드에 형성한 가이드 구멍에 피검사측 커넥터를 끼워 맞춤 삽입하여 위치 결정하고, 플로팅 가이드에 핀 블 록을 접촉시켜, 가이드 구멍에 끼워 맞춤 삽입한 피검사측 커넥터 단자에 프로브를 접촉시키도록 하였기 때문에, 베이스 부재가 하측에 배치되게 되면, 피검사측 커넥터를 피검사 기판의 상측에 배치한 상태로 검사할 수 있다.
그리고, 청구항 9에 기재한 중계 커넥터에 있어서는 플로팅 가이드의 가이드구멍을 향하여, 베이스 부재의 기판 탑재면에 피검사 기판의 삽입측 선단 부분의 형상을 구비한 기판 위치 결정 오목부를 가장자리부로부터 설치하였기 때문에, 기판위치 결정 오목부에 의해 피검사 기판의 삽입 치수 및 측방으로의 어긋남이 규제되고, 피검사 기판이 위치 결정된다. 그래서 피검사 기판에 배치된 피검사측 커넥터가 플로팅 가이드에 형성된 가이드 구멍에 대하여 상대적인 위치 결정이 이루어진다.
또한, 청구항 10에 기재한 중계 커넥터에 있어서, 플로팅 가이드가 베이스 부재에 설치된 선형 샤프트에 안내되고, 베이스 부재의 상기 기판 탑재면에 대하여 수직 방향으로 접촉 분리되기 때문에, 플로팅 가이드에 형성된 가이드 구멍에 피검사측 커넥터가 삽입될 때에, 피검사측 커넥터를 측방으로 어긋나게 하는 힘이 작용하지 않고, 그것에 의해, 피검사측 커넥터가 배치된 피검사 기판을 측방으로 어긋나게 하는 힘이 작용하지 않는다.
또한, 청구항 11에 기재한 중계 커넥터에 있어서, 가압 조작 부재를 베이스 부재에 대하여 플로팅 가이드측이 접근 분리되도록 요동할 수 있게 배치하고, 가압 조작 부재의 플로팅 가이드측이 접근하는 방향으로 탄성 압박하도록 가압 조작 부재와 베이스 부재 사이에 가압 스프링을 압축 설치하고 있기 때문에, 그 구조가 간 단하다. 그리고, 가압 조작 부재를 가압 조작하고 있는 동안은 개구 상태가 되어 피검사 기판의 삽입이 허용되고, 가압 조작을 해제하면 피검사측 커넥터에 핀 블록을 가압하는 가압 상태가 되어 측정을 할 수 있으며, 측정 중에 가압 조작을 필요로 하지 않고, 그 조작이 용이하다.
그리고, 청구항 12에 기재한 중계 커넥터에 있어서는 가압 조작 부재의 플로팅 가이드측이 베이스 부재로부터 분리 방향으로 요동함에 따라서, 플로팅 가이드가 베이스 부재로부터 분리 방향으로 요동하여 개구 상태가 되기 때문에, 가압 조작 부재를 가압 조작하고 있는 동안에 베이스 부재로부터 플로팅 가이드가 분리되어 있고, 확실하게 피검사 기판의 삽입이 허용된다.
또한, 청구항 13에 기재한 중계 커넥터에 있어서는 플로팅 가이드에 형성된 가이드 구멍의 깊이를 피검사측 커넥터 높이와 일치하도록 하고 있기 때문에, 플로팅 가이드의 핀 블록측의 면과 가이드 구멍에 끼워 맞춤 삽입된 피검사측 커넥터의 핀 블록측의 면이 동일 평면 내에 있게 되며, 이 면을 기준으로 하여 핀 블록에 프로브를 배치함으로써, 피검사측 커넥터에 프로브를 적절한 힘으로 탄력있게 접속시킬 수 있다.
또한, 청구항 14에 기재한 중계 커넥터에 있어서, 플로팅 가이드의 핀 블록측의 면에 오목부를 설치하고, 핀 블록의 플로팅 가이드측의 면에 이 오목부에 끼워 맞춰지는 볼록부를 형성하여 오목부와 볼록부의 결합에 의해, 플로팅 가이드와 핀 블록을 상대적으로 위치 결정하도록 하였기 때문에, 플로팅 가이드의 가이드 구멍에서 위치 결정된 피검사측 커넥터에 대하여 핀 블록에 배치한 프로브를 적정한 위치에서 접촉시킬 수 있다.
또한, 청구항 15에 기재한 중계 커넥터에 있어서, 가압 조작 부재의 플로팅 가이드측 선단 외측부를 모따기형의 경사면으로 형성하고 있기 때문에, 피검사 기판에서 피검사측 커넥터와 근접하여 배치된 CCD 카메라 소자 등의 검사를 행할 때에, 본 발명의 중계 커넥터의 가압 조작 부재가 이 검사의 방해가 되지 않는다.
이하, 본 발명의 제1 실시예를 도 1 내지 도 14를 참조하여 설명한다. 도 1은 본 발명의 중계 커넥터의 제1 실시예에 있어서의 가압 상태의 측면도이다. 도 2는 도 1의 평면도이다. 도 3은 도 1의 개구 상태의 측면도이다. 도 4는 도 1의 분해 사시도이다. 도 5는 상부, 하부 핀 블록과 플로팅 가이드의 분해 사시도이다. 도 6은 핀 블록의 분해 사시도이다. 도 7은 하부 핀 블록과 배선 기판 및 베이스 부재의 분해 사시도이다. 도 8은 본 발명의 중계 커넥터로 검사하는 피검사 기판에 설치된 피검사측 커넥터의 외관 사시도이다. 도 9는 핀 블록의 종단면도이다. 도 10은 배선 기판에 설치되는 단자 패턴을 도시하는 도면이다. 도 11은 가압 조작 부재와 힌지 부재 및 베이스 분해 사시도이다. 도 12는 도 2의 화살표 A-A에서 본 단면도이다. 도 13a와 도 13b은 힌지 부재에 설치한 리브에 의해 배선 기판을 베이스 부재에 누르는 구조를 도시하는 도면으로서, 도 13a는 일부를 제거한 측면도이며, 도 13b는 배면도이다. 도 14는 가압 조작 부재의 선단 상부가 모따기형의 경사면에서 제거된 것에 의한 작용을 설명하는 도면이다.
도 1 내지 도 14에 있어서, 본 발명의 제1 실시예의 중계 커넥터는 이하와 같이 구성되어 있다. 우선, 베이스 부재(10)에 힌지 부재(12)가 나사(10a)에 의해 고정되고, 이 힌지 부재(12)에는 가압 조작 부재(14)가 관통하여 배치된 요동축(16)에 의해 요동할 수 있게 배치된다. 그리고, 이 가압 조작 부재(14)의 후방측과 힌지 부재(12) 사이에 가압 스프링(18)이 압축 설치된다. 또한, 가압 조작 부재(14)의 선단측에는, 요동축(16)과 평행하게 가압 조작 부재(14)를 관통하여 배치된 제2 요동축(20)에 의해 가압 블록(22)이 요동할 수 있게 배치된다. 그리고, 절연재로 이루어지는 핀 블록(24)에 대하여 절연재로 이루어지는 플로팅 가이드(26)가 가압 조작 부재(14)의 선단측의 대략 요동 방향에서 직선형으로 접근 분리할 수 있으며, 분리 방향의 거리가 규제되어 배치된다. 또한, 핀 블록(24)의 플로팅 가이드(26)와 반대측에 배선 기판(28)이 나사(28a)에 의해 고정되고, 이 배선 기판(28)을 베이스 부재(10)측으로 하여, 핀 블록(24)과 배선 기판(28)이 베이스 부재(10)에 나사(24a)에 의해 고정된다. 그리고, 플로팅 가이드(26)에 결합 지지부(26f)가 돌출 설치되고, 가압 조작 부재(14)에 결합 돌기(14a)가 돌출 설치되어 가압 조작 부재(14)의 개구 상태에서 결합 지지부(26f)에 결합 돌기(14a)가 결합되도록 형성된다. 그래서, 가압 조작 부재(14)가 개구 상태에 있어서는 플로팅 가이드(26)가 핀 블록(24)으로부터 분리되고, 핀 블록(24)측으로 이동하는 것이 규제된다. 또한, 가압 조작 부재(14)의 개구 상태에 있을 때에는 그 후단측이 힌지 부재(12)에 접촉하여 요동이 규제되고, 힌지 부재(12)의 피접촉 부분은 규제부로서 작용하고 있다.
핀 블록(24)에 대하여 플로팅 가이드(26)는 가압 조작 부재(14)의 선단측이 개구 상태와 이것을 폐쇄시킨 가압 상태 사이에서 요동함에 따라, 도 1과 도 3에 있어서 도면의 상하 방향으로 직선적으로 이동할 수 있게 된다. 그래서, 핀 블록(24)에 상하 방향으로 선형 샤프트(30a)가 설치되고, 플로팅 가이드(26)에는 이 선형 샤프트(30a)가 축 방향으로 미끄럼 이동할 수 있게 삽입되는 선형 통 부재(30b)가 상하 방향으로 배치되며, 이들 선형 샤프트(30a)와 선형 통 부재(30b)로 이루어지는 선형 가이드(30)에 의해 이 직선적인 이동이 실현된다. 또한, 핀 블록(24)과 플로팅 가이드(26)에 대하여, 상하 방향으로 양단에 확장부를 갖는 플로팅 핀(32)이 관통 배치된다. 양단의 확장부 사이의 거리는 일단측에 설치한 조정 나사(32a)의 나사 결합에 의해 조정할 수 있다. 또한, 이 플로팅 핀(32)에 유동할 수 있게 끼워진 플로우트 스프링(34)이 핀 블록(24)과 플로팅 가이드(26) 사이에 압축 설치되어 핀 블록(24)으로부터 플로팅 가이드(26)를 분리하는 방향으로 탄성 압박하고 있다. 이것에 의해, 플로팅 핀(32)의 조정에 의해, 플로팅 가이드(26)가 핀 블록(24)으로부터 분리될 수 있는 거리가 임의로 규제되고, 또한, 플로우트 스프링(34)이 압축 설치된 탄력에 의해, 가압 조작 부재(14)의 개구 상태에서 플로팅 가이드(26)가 핀 블록(24)으로부터 분리된 상태가 된다.
플로팅 가이드(26)에는 피검사 기판(36)이 탑재 배치되는 기판 탑재면(26a)이 설치되고, 피검사 기판(36)에 배치된 피검사측 커넥터(38)를 끼워 맞춤 삽입할 수 있는 가이드 구멍(26b)이 이 기판 탑재면(26a)에 관통하여 형성된다. 이 가이드 구멍(26b)의 내측 둘레벽에 피검사 커넥터(38)의 외측 둘레벽에 접촉하여, 삽입된 피검사측 커넥터(38)의 위치 결정이 이루어지도록 형성된다. 그리고, 이 가이드 구멍(26b) 주변의 기판 탑재면(26a)에는 탑재된 피검사 기판(36)을 위치 결정하도록 위치 규제하는 구성이 아무것도 설치되어 있지 않으며, 충분히 큰 평면을 갖는다. 또한, 기판 탑재면(26a) 이면의 핀 블록(24)측의 면에는 관통하여 형성된 가이드 구멍(26b)을 대략 중심으로 하여 오목부(26c)가 설치된다. 이 오목부(26c)의 저면과 기판 탑재면(26a)의 두께, 즉 가이드 구멍(26b)의 깊이는 피검사측 커넥터(38)의 높이와 일치하도록 기판 탑재면(26a)이 절삭 등에 의해 조정되어 형성된다. 또한, 기판 탑재면(26a)의 양단 안쪽에는 기계적 강도를 크게 하기 위한 보강 리브(26d)가 설치되어 있다.
핀 블록(24)은 하부 핀 블록(40)과 상부 핀 블록(42)을 스프링(42b)에 의해 일체화시켜 이루어지고, 상부 핀 블록(42)에는 상측을 향하여 볼록부(42a)가 설치되며, 플로팅 가이드(26)의 오목부(26c)에 끼워 맞춰진 핀 블록(24)과 플로팅 가이드(26)가 상대적으로 위치 결정되도록 구성된다. 또한, 하부 핀 블록(40)과 상부 핀 블록(42)에는 상하 방향으로 관통되는 프로브 구멍(46)이 일렬로 여러 개 형성된다. 그리고, 하측 블록(40)과 상측 블록(42)에 상하 방향으로 관통하고 절연재로 이루어지는 위치 조정 블록(48)이 삽입되는 삽입 구멍(50)이 형성된다. 위치 조정 블록(48)은 역시 하측 위치 조정 블록(48a)과 상측 위치 조정 블록(48b)으로 이루어져 적절히 일체화되고, 상하 방향으로 관통하는 프로브 구멍(52)이 일렬로 여러 개 형성된다. 삽입 구멍(50) 안에서 프로브 구멍(52)의 위치가 하부 핀 블록(40)과 상부 핀 블록(42)에 형성된 프로브 구멍(46)과의 거리가 적정해지도록 위치 조정 블록(48)이 조정되고, 위치 조정 핀(cylindrical positioning pin)(56)에 의해 고정된다. 또한, 삽입 구멍(50) 안에서 위치 조정 블록(48)은 프로브 구멍(46, 52) 사이의 거리를 조정하는 방향으로만 이동이 가능하며, 이것과 직교하는 방향으로는 이동할 수 없도록 설정된다. 또한, 프로브 구멍(46, 52)은 상단부에 협착부가 설치되어 있고, 하측으로부터 프로브(54)를 적절히 삽입할 수 있어 위로 빠져 나오지 않도록 형성된다. 그리고, 프로브 구멍(46, 52)이 형성되는 피치는 도 8에 도시하는 피검사측 커넥터(38)의 단자(38a)의 피치(P)에 맞추어 물론 형성된다. 또한, 위치 조정 블록(48)의 프로브 구멍(52)과 하부 핀 블록(42)의 프로브 구멍(46)과의 거리가 피검사측 커넥터(38) 단자(38a)의 2열 사이의 거리(d)에 대응하도록 또한 적절히 조정된다. 또한, 프로브 구멍(46, 52)에는 피검사측 커넥터(38) 단자(38a)에 따라 프로브(54)가 하측으로부터 적절한 개수가 적절한 위치에 삽입된다.
또한, 프로브 구멍(46, 52)에 프로브(54)가 삽입된 핀 블록(24)에 대하여 하측으로부터 배선 기판(28)이 배치되어, 하측으로부터 나사(28a)에 의해 고정되어 일체화된다. 이 배선 기판(28)의 고정에 의해, 프로브(54)는 프로브 구멍(46, 52)으로부터 빠져 나오는 일이 없다. 그리고, 이 배선 기판(28)이 고정된 핀 블록(24)이 상측으로부터 나사(24a)에 의해 베이스 부재(10)에 고정된다. 또한, 베이스 부재(10)는 도시하지 않는 검사 지그 등에 미리 고정 나사(10b)에 의해 적절히 고정되어도 좋다. 그래서, 도 8에 도시하는 피검사측 커넥터(38) 단자(38a)에 대하여 도 9에 도시하는 바와 같이, 프로브 구멍(46, 52)에 삽입된 프로브(54)의 플랜저가 접촉할 수 있도록 형성된다. 또한, 도 10에 도시하는 바와 같이, 배선 기판(28)에 설치된 단자 패턴(28b)은 위치 조정 블록(48)이 이동하여도 프로브(54)의 플랜저가 접촉할 수 있도록 이동 방향으로 길게 형성되어 있다.
또한, 힌지 부재(12)에 요동할 수 있게 배치된 가압 조작 부재(14)는 개구 상태에서는 요동 방향의 움직임이 힌지 부재(12)에 의해 규제된다. 이 개구 상태에서의 요동 방향의 움직임이 규제된 상태에서 전술한 결합 돌기(14a)와 결합 지지부(26f)가 결합되도록 형성되어 있다. 그리고, 힌지 부재(12)에는 도 13a와 도 13b에 도시하는 바와 같이 리브(12a)가 설치되고, 배선 기판(28)을 위에서부터 베이스 부재(10)측으로 압박하도록 작용하여 배선 기판(28)이 베이스 부재(10)로부터 부상하는 것을 규제하고 있다.
가압 조작 부재(14)에는 선형 가이드(30) 및 플로팅 핀(32)을 향하여 구멍(14c)과 조정용 구멍(14d)이 각각 형성되어 있다. 또한, 플로팅 가이드(26)에는 배선 기판(28)이 고정된 핀 블록(24)을 베이스 부재(10)에 고정하는 나사(24a)를 향하여 구멍(26e)이 형성되어 있다. 또한, 가압 조작 부재(14)의 선단 상부가 모따기형의 경사면(14b)에 형성되어 있다. 본 발명의 중계 커넥터의 제1 실시예의 외형 치수는 높이 27 mm이고, 폭이 26 mm이며, 길이가 60 mm이고, 손으로 들고 검사 작업을 행할 수 있다.
이러한 구성에 있어서, 가압 스프링(18)의 탄력에 반하여 가압 조작 부재(14)를 요동 조작하여 개구 상태로 하고, 플로팅 가이드(26)의 기판 탑재면(26a)에 피검사 기판(36)을 배치하여, 피검사측 커넥터(38)를 가이드 구멍(26b)에 끼워 맞춤 삽입시킨다. 이 가이드 구멍(26b)에 끼워 맞춤 삽입함으로써 피검사측 커넥터(38)의 위치 결정이 이루어진다. 여기서, 피검사 기판(36) 자체에는 어떠한 위치를 결정하는 힘도 작용하고 있지 않으며, 피검사 기판(36)에 대하여 피검사측 커넥터(38)의 위치를 측방으로 어긋나게 하는 힘이 작용하는 일도 없다. 이 가압 조작 부재(14)를 개구 상태로 유지하고 있는 동안에는 플로팅 가이드(26)의 결합 지지부(26f)에 가압 조작 부재(14)의 결합 돌기(14a)가 결합하고 있고, 플로팅 가이드(26)가 핀 블록(24)으로부터 분리된 상태로 있으므로, 핀 블록(24)측으로 부주의하게 이동하는 일이 없다. 따라서, 피검사측 커넥터(38)를 가이드 구멍(26b)에 끼워 맞춤 삽입하고 있는 작업이 한창일 때에 잘못하여, 플로팅 가이드(26)가 아래쪽으로 이동하고, 부적정한 자세의 피검사측 커넥터(38)에 대하여 프로브(54)가 접촉하여 피검사측 커넥터(38) 또는 프로브(54) 중 어느 하나를 파손시킬 우려가 없다. 그리고, 가압 조작 부재(14)를 가압 스프링(18)의 탄력에 의해 선단측을 폐쇄하여 가압 상태로 하면, 플로팅 가이드(26)는 선형 가이드(30)에 의해 직선적으로 핀 블록(24)측으로 이동하고, 피검사측 커넥터(38)의 단자(38a)에 프로브(54)의 플랜저가 접촉한다. 이 때에는, 플로팅 가이드(26)의 오목부(26c)와 핀 블록(24)의 볼록부(42a)가 끼워 맞춰짐으로써, 플로팅 가이드(26)와 핀 블록(24)이 확실하게 상대적인 위치 맞춤이 이루어진다. 이것에 의해, 핀 블록(24)에 대하여 피검사측 커넥터(38)의 위치 결정이 이루어지고, 프로브(54)에서 단자(38a)의 위치 결정이 이루어진다. 또한, 가압 스프링(18)의 가압 조작 부재(14)를 가압 상태로 하는 탄력이 플로우트 스프링(34)의 플로팅 가이드(26)를 핀 블록(24)으로부터 분리시키는 탄력보다도 물론 크게 설정되어 있다. 또한, 플로팅 가이드(26)의 가이드 구멍(26b)의 깊이가 피검사측 커넥터(38)의 높이와 일치하도록 설정되어 있기 때문에, 가이드 구멍(26b)에 끼워 맞춤 삽입된 피검사측 커넥터(38)의 핀 블록(24)측의 면이 오목부(26c)의 저면과 동일한 평면 내에 있게 되며, 이 오목부(26c)의 저면을 기준으로 하여 플랜저의 돌출 높이가 적정해지도록 프로브(54)가 배치됨으로써, 적정한 탄력으로 프로브(54)의 플랜저를 피검사측 커넥터(38)의 단자(38a)에 접촉시킬 수 있다.
가압 조작 부재(14)는 요동축(16)에 의해 개구 상태와 가압 상태로 요동할 수 있게 구성되고, 그 구조는 비교적으로 간단하다. 또한, 제2 요동축(20)에 의해 가압 조작 부재(14)의 선단측에 가압 블록(22)을 설치하고 있기 때문에, 이 가압 블록(22)에 의해 플로팅 가이드(26)를 핀 블록(24)측으로 접근 방향을 향하여 정확하게 가압할 수 있다.
그런데, 여러 가지의 다른 치수의 피검사측 커넥터(38)에 본 발명의 중계 커넥터를 대응시키기 위해서는 우선 플로팅 가이드(26)의 가이드 구멍(26b)의 크기와 그 깊이를 피검사측 커넥터(38)에 따라 적절하게 조정 설정한다. 가이드 구멍(26b)의 깊이의 조정은 기판 탑재면(26a)을 적절하게 절삭하는 등에 의해 행할 수 있다. 또한, 핀 블록(24)측에 있어서도 위치 조정 블록(48)의 고정 위치를 삽입 구멍(50) 안에서 적정하게 설정함으로써, 2열의 프로브 구멍(46, 52) 사이의 거리를 피검사측 커넥터(38)의 2열 단자(38a) 사이의 거리(d)에 일치시킨다. 이것에는 위치 조정 핀(56)을 삽입하는 구멍의 위치를 적정하게 형성함으로써 행할 수 있다. 또한, 프로브 구멍(46, 52)에 대하여 피검사측 커넥터(38)의 단자(38a)를 향하도록 프로브(54)를 삽입하는 것은 물론이다. 이와 같이, 여러 가지의 다른 치수의 피검사측 커넥터(38)에 본 발명의 중계 커넥터를 대응시키기 위한 작업은 최종 가공 직전의 각 부재를 미리 준비해 두면 비교적 간단하며 각 부재를 신규로 가공 제작하는 데 비해서 신속히 대응할 수 있다.
그리고, 플로팅 가이드(26)가 핀 블록(24)으로부터 분리 방향으로 벗어나는 거리는 플로팅 핀(30)에 의해 임의로 조정할 수 있지만, 사용에 의해 플로팅 가이드(26)가 핀 블록(24)으로부터 분리 방향으로 벗어나는 거리가 변화된 경우에는 가압 조작 부재(14)에 형성한 조정용 구멍(14d)으로부터 적절히 공구를 삽입하여 플로팅 핀(32)의 조정 나사(32a)의 나사 결합 삽입 상태를 조정하면 좋다. 또한, 프로브(54)가 파손되어 교환하는 경우에는 가압 조작 부재(14)가 붙은 상태에서 힌지 부재(12)를 베이스 부재(10)로부터 제거하고, 플로팅 가이드(26)에 형성한 구멍(26e)으로부터 공구를 삽입하여 나사(24a)를 베이스 부재(10)로부터 제거한다. 또한, 제거한 핀 블록(24)을 배선 기판(28)을 위로 하여 나사(28a)를 제거하고, 핀 블록(24)으로부터 배선 기판(28)을 제거한다. 그리고, 파손되어 교환이 필요한 프로브(54)만을 프로브 구멍(46, 52)으로부터 빼내어 교환할 수 있다.
배선 기판(28)은 핀 블록(24)에 나사(28a)에 의해 고정되어 있지만, 납땜의 열 등에 의해 구부러짐이 발생하고, 그 후 후단측이 베이스 부재(10)로부터 부상한 상태가 될 우려가 있다. 그래서, 힌지 부재(12)에 설치한 리브(12a)에 의해 배선 기판(28)을 베이스 부재(10)측으로 꽉 누르도록 형성되어 있다. 또한, 피검사 기판(36)이 카메라 모듈이면, 피검사 기판(36)의 타단측, 즉 피검사측 커넥터(38)가 설치된 것과 반대측에, CCD 카메라 소자(58)가 배치된다. 그리고, 피검사측 커넥터(38)와 CCD 카메라 소자(58)가 배치되는 위치가 도 14에 도시하는 바와 같이 비교적 근접하여 있는 것도 있다. 그래서, 가압 조작 부재(14)의 플로팅 가이드(26)측의 선단 외측부를 모따기형의 경사면(14b)으로 형성함으로써, CCD 카메라 소자(58)의 상측 시계가 크고 넓게 개방되고, 시계 내에 어떠한 장해물도 없이, 이 CCD 카메라 소자(58)를 검사하기 위한 검사 장치(60)에 설치한 렌즈(62)와 대향시킬 수 있다.
다음에, 본 발명의 제2 실시예를 도 15 내지 도 21를 참조하여 설명한다. 도 15는 본 발명의 중계 커넥터의 제2 실시예의 가압 상태의 측면도이다. 도 16은 도 15의 종단면도이다. 도 17은 도 15의 개구 상태의 측면도이다. 도 18은 도 17의 종단면도이다. 도 19는 도 15의 분해 사시도이다. 도 20은 제2 실시예에서 개구 상태로 피검사 기판을 삽입한 주요부 종단면 확대도이다. 도 21은 제2 실시예에서 피검사 기판이 삽입되어 가압 상태로 한 주요부 종단면 확대도이다. 도 15 내지 도 21에 있어서, 도 1 내지 도 14에 도시하는 부재와 동일한 또는 균등한 것에는 동일한 부호를 부여하여 중복하는 설명을 생략한다.
도 15 내지 도 21에 있어서, 본 발명의 제2 실시예의 중계 커넥터는 이하와 같이 구성되어 있다. 절연재로 이루어지는 베이스 부재(70)에 대하여 베이스 부재(70)에 설치된 선형 가이드(72, 72)에 의해, 절연재로 이루어지는 플로팅 가이드(74)가 베이스 부재(70)의 선단측에 설치한 기판 탑재면(70a)에 대하여 수직 방향으로 접촉 분리할 수 있게 배치된다. 또한, 배선 기반(28)을 끼워 절연재로 이루어지는 가압 조작 부재(76)의 선단측에 핀 블록(24)이 비스(vis) 등에 의해 배치 고정되고, 후단측에 절연재로 이루어지는 힌지 블록(78)이 비스 등에 의해 배치 고 정된다. 그리고, 베이스 부재(70)에 설치한 제1 요동축(80)을 힌지 블록(78)에 관통시켜 가압 조작 부재(76)가 요동할 수 있게 배치된다. 여기서, 핀 블록(24)은 베이스 부재(70)에 배치한 플로팅 가이드(74)를 향하는 위치가 되게 된다. 또한, 힌지 블록(78)과 베이스 부재(70) 사이에 가압 스프링(82, 82)이 압축 설치되어 있으며, 핀 블록(24)이 플로팅 가이드(74)에 접촉하는 방향으로 탄성 압박되어 있다. 또한, 베이스 부재(70)에 제1 요동축(80)과 평행하게 배치된 제2 요동축(84)에 의해 레버 부재(86)가 요동할 수 있게 배치되어 있다. 이 레버 부재(86)는 일단부가 플로팅 가이드(74)의 결합 오목부(74c)에 결합되고, 타단부가 핀 블록(24)을 플로팅 가이드(74)로부터 분리 방향으로 요동시키는 가압 조작 부재(76)의 요동에 의해, 힌지 블록(78)에 가압되어 레버 부재(86)가 요동된다. 또한, 레버 부재(86)와 베이스 부재(70) 사이에 레버 가압 스프링(88)이 압축 설치되고, 플로팅 가이드(74)가 베이스 부재(70)에 접촉하는 방향으로 탄성 압박되어 있다. 또한, 가압 조작 부재(76)의 핀 블록(24)이 배치된 측의 선단 외측부에 모따기형의 경사면(76a)이 설치되어 있다.
베이스 부재(70)의 기판 탑재면(70a)에는 피검사 기판(36)의 삽입측 선단 부분의 형상을 구비한 기판 위치 결정 오목부(70b)가 가장자리부로부터 설치되어 있다. 이 기판 위치 결정 오목부(70b)의 가장자리부측은 폭이 테이퍼 형상으로 확대되어 있고, 피검사 기판(36)의 삽입이 용이하게 이루어진다. 그리고, 이 기판 위치 결정 오목부(70b)에 의해 삽입 치수와 측방으로 어긋나는 것이 규제되어 베이스 부재(70)에 대하여 위치 결정된 피검사 기판(36)에 상측을 향하여 배치된 피검사측 커넥터(38)를 향하고, 플로팅 가이드(74)에 피검사측 커넥터(38)가 끼워 맞춤 삽입될 수 있는 가이드 구멍(74a)이 형성되어 있다. 그리고, 이 가이드 구멍(74a)을 대략 중심으로 하여 플로팅 가이드(74)의 핀 블록(24)측의 면에 오목부(74b)가 설치되어 있다. 여기서, 가이드 구멍(74a)의 깊이가 피검사측 커넥터(38)의 높이와 일치하도록 형성된다. 핀 블록(24)의 구조는 제1 실시예와 마찬가지지만, 프로브(54, 54 …)가 플로팅 가이드(74)측을 향하여 돌출하도록 가압 조작 부재(76)에 배치되어 있는 점에서, 제1 실시예와 상이하다. 또한, 핀 블록(24)에 플로팅 가이드(76)에 설치된 오목부(76b)에 끼워 맞춰지는 볼록부(42a)가 설치되어 있는 것은 제1 실시예와 동일하다.
이러한 구성으로 이루어지는 제2 실시예에 있어서, 가압 조작 부재(76)의 후단측 힌지 블록(78)을 가압 스프링(82, 82)의 탄력에 대항하여 가압하면, 가압 조작 부재(76)가 요동하고, 선단측의 핀 블록(24)이 베이스 부재(70)로부터 분리 방향으로 이동된다. 이에 따라서, 레버 부재(86)의 타단부가 힌지 블록(78)에 가압되어 레버 가압 스프링(88)의 탄력에 대항하여 요동되고, 레버 부재(86)의 일단부가 결합하는 플로팅 가이드(74)를 베이스 부재(70)로부터 분리 방향으로 이동시키며, 그에 의해 개구 상태가 된다. 그래서, 도 20과 같이, 베이스 부재(70)와 플로팅 가이드(74) 사이에 피검사 기판(36)을 삽입하고, 기판 위치 결정 오목부(70b)에 의해 그 위치 결정이 이루어진다. 여기서, 피검사측 커넥터(38)는 플로팅 가이드(74)를 향하여 배치된 상태이다. 이러한 상태에서 가압 조작 부재(76)의 가압을 해제하면, 가압 스프링(82, 82)의 탄력에 의해 가압 조작 부재(76)가 요동하여 선단측의 핀 블록(24)이 플로팅 가이드(74)에 접촉하고, 이와 동시에, 레버 가압 스프링(88)의 탄력에 의해 레버 부재(86)도 요동하여 플로팅 가이드(74)가 이동해서 베이스 부재(70)에 접촉된다. 그래서, 피검사 기판(36)에 배치된 피검사측 커넥터(38)가 플로팅 가이드(74)의 가이드 구멍(74a)에 끼워 맞춤 삽입되고, 피검사측 커넥터(38)의 단자(38a, 38a …)에 핀 블록(24)의 프로브(54, 54 …)가 접촉하여 전기적으로 접속이 이루어진다.
이 제2 실시예에 있어서는 베이스 부재(70)를 아래쪽에 배치하면, 피검사측 커넥터(38)를 피검사 기판(36)의 상측에 배치한 상태에서 검사할 수 있다. 그리고, 베이스 부재(70)의 기판 탑재면(70a)에 설치한 기판 위치 결정 오목부(70b)에 의해 피검사 기판(36)의 삽입 치수와 측방으로 어긋나는 것이 규제되고, 베이스 부재(70)에 대하여 피검사 기판(36)의 위치 결정이 이루어진다. 그리고, 기판 탑재면(70a)에 대하여 선형 가이드(72, 72)에 의해 수직 방향으로 접촉 분리할 수 있게 플로팅 가이드(74)가 배치되어 있기 때문에, 피검사 기판(36)에 배치된 피검사측 커넥터(38)에 대하여 플로팅 가이드(74)의 가이드 구멍(74a)이 상대적으로 위치 결정되며, 플로팅 가이드(74)의 접근 및 접촉에 의해 그 가이드 구멍(74a)에 피검사측 커넥터(38)가 정확하게 끼워 맞춤 삽입된다. 여기서, 플로팅 가이드(74)가 기판 탑재면(70a)에 대하여 수직 방향으로 접근 분리되기 때문에 가이드 구멍(74a)에 피검사측 커넥터(38)가 끼워 맞춤 삽입될 때에, 피검사측 커넥터(38)를 측방으로 어긋나게 하는 힘이 작동하지 않고, 피검사 기판(36)에 대하여 상대적으로 피검사측 커넥터(38)를 측방으로 어긋나게 하는 힘이 작용하지 않는다. 또한, 가압 조작 부재(76)가 베이스 부재(70)에 대하여 요동할 수 있게 구성되어 있고, 그 구조가 간단하다. 또한, 피검사 기판(36)을 삽입하여 가압 조작 부재(76)의 가압을 해제하면 가압 스프링(82, 82)의 탄력에 의해 피검사측 커넥터(38)에 핀 블록(24)을 가압한 가압 상태가 되고, 측정중에 가압 조작을 필요로 하지 않으며, 그 조작이 용이하다. 또한, 가압 조작 부재(76)를 가압하여 요동시키면, 이 요동에 따라서, 플로팅 가이드(74)가 베이스 부재(70)로부터 분리되는 방향으로 연동하여 이동하기 때문에, 피검사 기판(36)의 삽입이 용이하다. 또한, 가압 조작 부재(76)를 가압 조작하고 있는 동안에는 레버 부재(86)의 작용에 의해, 플로팅 가이드(74)가 베이스 부재(70)측으로 이동하는 것을 확실하게 규제할 수 있다.
또한, 제2 실시예에 있어서는 가압 조작 부재(76)를 가압 조작하고 있는 개구 상태에서 레버 부재(86)에 의해 플로팅 가이드(74)가 베이스 부재(70)측으로 이동하지 않도록 규제하고 있지만, 이것에 한정되지 않고, 플로팅 가이드(74)를 베이스 부재(70)로부터 분리 방향으로 탄성 압박하는 스프링을 플로팅 가이드(74)와 베이스 부재(70) 사이에 압축 설치하여, 가압 조작 부재(76)가 개구 상태가 되면, 이 스프링의 탄력으로 플로팅 가이드(74)가 베이스 부재(70)로부터 분리 방향으로 이동하도록 하여 플로팅 가이드(74)와 베이스 부재(70) 사이에 피검사 기판(36)의 삽입을 허용하도록 하여도 좋다.
도 1은 본 발명의 중계 커넥터의 제1 실시예에 있어서의 가압 상태의 측면도.
도 2는 도 1의 평면도.
도 3은 도 1의 개구 상태의 측면도.
도 4는 도 1의 분해 사시도.
도 5는 상측, 하부 핀 블록과 플로팅 가이드의 분해 사시도.
도 6은 핀 블록의 분해 사시도.
도 7은 하부 핀 블록과 배선 기판 및 베이스 부재의 분해 사시도.
도 8은 본 발명의 중계 커넥터로 검사하는 피검사 기판에 설치된 피검사측 커넥터의 외관 사시도.
도 9는 핀 블록의 종단면도.
도 10은 배선 기판에 설치되는 단자 패턴을 도시한 도면.
도 11은 가압 조작 부재와 힌지 부재 및 베이스 부재의 분해 사시도.
도 12는 도 2의 화살표 A-A에서 본 단면도.
도 13a와 도 13b는 힌지 부재에 설치한 리브로 배선 기판을 베이스 부재에 누르는 구조를 도시하는 도면으로서, 도 13a는 일부를 제거한 측면도이며, 도 13b는 배면도.
도 14는 가압 조작 부재의 선단 상부가 모따기형의 경사면에서 제거되어 있는 것에 의한 작용을 설명하는 도면.
도 15는 본 발명의 중계 커넥터의 제2 실시예의 가압 상태의 측면도.
도 16은 도 15의 종단면도.
도 17은 도 15의 개구 상태의 측면도.
도 18은 도 17의 종단면도.
도 19는 도 15의 분해 사시도.
도 20은 제2 실시예에서, 개구 상태로 피검사 기판을 삽입한 주요부 종단면 확대도.
도 21은 제2 실시예에서, 피검사 기판이 삽입되어 가압 상태로 한 주요부 종단면 확대도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
10, 70 : 베이스 부재 12 : 힌지 부재
12a : 리브 14, 76 : 가압 조작 부재
14a : 결합 돌기 14b : 경사면
14d : 조정용 구멍 16 : 요동축
18, 82 : 가압 스프링 20 : 제2 요동축
22 : 가압 블록 24 : 핀 블록
26, 74 : 플로팅 가이드 26a, 70a : 기판 탑재면
26b, 74a : 가이드 구멍 26c, 74b : 오목부
26f : 결합 지지부 28 : 배선 기판
28a : 나사 28b : 단자 패턴
30, 72 : 선형 가이드 30a : 선형 샤프트
30b : 선형 통 부재 32 : 플로팅 핀
32a : 조정 나사 34 : 플로우트 스프링
36 : 피검사 기판 38 : 피검사측 커넥터
38a : 단자 40 : 하부 핀 블록
42 : 상부 핀 블록 42a : 볼록부
46, 52 : 프로브 구멍 48a : 하측 위치 조정 블록
48b : 상측 위치 조정 블록 50 : 삽입 구멍
54 : 프로브 56 : 위치 조정 핀
58 : CCD 카메라 소자 60 : 검사 장치
62 : 렌즈 70b : 기판 위치 결정 오목부
74c : 결합 오목부 78 : 힌지 블록
80 : 제1 요동축 84 : 제2 요동축
86 : 레버 부재 88 : 레버 가압 스프링

Claims (15)

  1. 피검사 기판에 배치된 피검사측 커넥터의 단자에 프로브를 접촉시켜 측정기에 전기적으로 접속시키기 위한 중계 커넥터로서,
    절연재로 이루어지는 핀 블록에 대하여 절연재로 이루어지는 플로팅 가이드를 접근 분리할 수 있고, 분리 방향으로 탄성 압박하여 배치하며, 상기 플로팅 가이드에 상기 피검사측 커넥터를 상기 핀 블록측을 향하여 끼워 맞춤 삽입하여 위치 결정하는 가이드 구멍을 형성하고, 이 가이드 구멍에 끼워 맞춤 삽입된 상기 피검사측 커넥터의 단자를 향하여 상기 핀 블록에 상기 플로팅 가이드의 접근 분리 방향을 축 방향으로 하여 프로브를 배치하고, 상기 플로팅 가이드의 상기 가이드 구멍에 상기 피검사측 커넥터를 끼워 맞춤 삽입하는 것을 허용하는 개구 상태와, 상기 플로팅 가이드에 끼워 맞춤 삽입된 상기 피검사측 커넥터를 상기 핀 블록측에 가압한 가압 상태로 조작되는 가압 조작 부재를 설치하여 구성한 것을 특징으로 하는 중계 커넥터.
  2. 제1항에 있어서, 상기 가압 조작 부재에 결합 돌기를 설치하고, 상기 플로팅 가이드에 결합 지지부를 설치하고, 상기 가압 조작 부재의 개구 상태에서 상기 결합 돌기가 상기 결합 지지부와 결합하여, 상기 플로팅 가이드가 상기 핀 블록측으로 이동하는 것을 규제하도록 구성한 것을 특징으로 하는 중계 커넥터.
  3. 제1항에 있어서, 상기 가압 조작 부재를, 상기 가이드 구멍에 끼워 맞춤 삽입된 상기 피검사측 커넥터의 상기 핀 블록측을 향하는 면과 평행한 면에 배치한 요동 축에 의해 상기 개구 상태와 상기 가압 상태로 요동할 수 있게 설치하고, 상기 피검사측 커넥터를 가압하는 선단측에 상기 요동축과 평행한 제2 요동축에 의해 가압 블록을 요동할 수 있게 배치하여 구성한 것을 특징으로 하는 중계 커넥터.
  4. 제1항에 있어서, 양단에 확장부를 갖는 플로팅 핀을 상기 플로팅 가이드와 상기 핀 블록에 상기 플로팅 가이드의 접근 분리 방향으로 관통 배치하여, 상기 양단의 확장부에 의해 상기 플로팅 가이드가 상기 핀 블록으로부터 분리 방향으로 이동할 수 있는 거리를 규제하고, 상기 플로팅 핀에 플로우트 스프링을 유동할 수 있게 끼우고 상기 플로팅 가이드와 상기 핀 블록 사이에 압축 설치하여 구성한 것을 특징으로 하는 중계 커넥터.
  5. 제4항에 있어서, 상기 플로팅 핀은 그 일단측에 나사 결합하는 조정 스프링에 의해 상기 분리 방향으로 이동할 수 있는 거리를 조정하며, 상기 조정 스프링을 향하여 상기 가압 조작 부재에 조정용 구멍을 형성하여 외부로부터 상기 조정 스프링을 조정할 수 있도록 구성한 것을 특징으로 하는 중계 커넥터.
  6. 제1항에 있어서, 상기 피검사측 커넥터를 상기 핀 블록측을 향하여 상기 가이드 구멍에 끼워 맞춤 삽입하는 상기 플로팅 가이드의 기판 탑재면에는, 상기 피검사 기판보다도 큰 평면이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 중계 커넥터.
  7. 제2항에 있어서, 요동 가능한 상기 가압 조작 부재의 상기 개구 상태측에서의 요동을 규제하는 규제부를 설치하고, 상기 규제부에서 상기 가압 조작 부재가 규제되어 있는 상태에서, 상기 결합 돌기가 상기 결합 지지부에 결합되도록 구성한 것을 특징으로 하는 중계 커넥터.
  8. 피검사 기판에 배치된 피검사측 커넥터의 단자에 프로브를 접촉시켜 측정기에 전기적으로 접속시키기 위한 중계 커넥터로서,
    절연재로 이루어지는 베이스 부재에 대하여 절연재로 이루어지는 플로팅 가이드를 접촉 분리할 수 있게 배치하고, 상기 베이스 부재와 상기 플로팅 가이드 사이에 상기 피검사 기판을 삽입한 상태에서 상기 플로팅 가이드에 상기 피검사측 커넥터를 끼워 맞춤 삽입하여 위치 결정하는 가이드 구멍을 형성하며, 상기 베이스 부재에 상기 플로팅 가이드를 끼우고, 상기 플로팅 가이드측이 접근 분리할 수 있도록 가압 조작 부재를 배치하고, 상기 가압 조작 부재에 상기 플로팅 가이드를 향하여 절연재로 이루어지는 핀 블록을 배치하며, 상기 플로팅 가이드에 상기 핀 블록을 접속시킨 상태에서 상기 가이드 구멍에 끼워 맞춤 삽입한 상기 피검사측 커넥터의 단자에 접속하도록 상기 핀 블록에 프로브를 배치하고, 상기 핀 블록을 상기 플로팅 가이드로부터 분리하는 방향의 상기 가압 조작 부재의 조작에 연동하여 상기 플로팅 가이드가 상기 베이스 부재로부터 분리되도록 하며, 상기 베이스 부재와 상기 플로팅 가이드 사이에 상기 피검사 기판의 삽입을 허용하는 개구 상태와, 상기 플로팅 가이드의 상기 가이드 구멍에 끼워 맞춤 삽입된 상기 피검사측 커넥터측에 상기 핀 블록을 가압한 가압 상태로 상기 가압 조작 부재를 조작하도록 구성한 것을 특징으로 하는 중계 커넥터.
  9. 제8항에 있어서, 상기 플로팅 가이드의 상기 가이드 구멍을 향하여 상기 베이스 부재에 설치한 기판 탑재면에, 상기 피검사 기판의 삽입측 선단 부분의 형상을 구비한 기판 위치 결정 오목부를 가장자리부로부터 설치하고, 상기 기판 위치 결정 오목부에 의해 상기 피검사 기판의 삽입 치수 및 측방으로의 어긋남을 규제하여 상기 피검사 기판을 위치 결정하도록 구성한 것을 특징으로 하는 중계 커넥터.
  10. 제8항에 있어서, 상기 플로팅 가이드가 상기 베이스 부재에 설치된 선형 가이드에 안내되고, 상기 베이스 부재의 기판 탑재면에 대하여 수직 방향으로 접촉 분리되도록 구성한 것을 특징으로 하는 중계 커넥터.
  11. 제8항에 있어서, 상기 가압 조작 부재를 상기 베이스 부재에 대하여 상기 플로팅 가이드측이 접근 분리되도록 요동할 수 있게 배치하고, 상기 가압 조작 부재의 상기 플로팅 가이드측이 접근하는 방향으로 탄성 압박하도록 상기 가압 조작 부재와 상기 베이스 부재 사이에 가압 스프링을 압축 설치하여 구성한 것을 특징으로 하는 중계 커넥터.
  12. 제8항에 있어서, 상기 가압 조작 부재를 상기 베이스 부재에 대하여 상기 플로팅 가이드측이 접근 분리되도록 요동할 수 있게 배치하고, 상기 베이스 부재에 대하여 레버 부재를 상기 가압 조작 부재의 요동축과 평행한 요동축에 의해 요동할 수 있게 배치하고, 상기 레버 부재의 일단부를 상기 플로팅 가이드에 결합시키고, 타단부가 상기 가압 조작 부재의 조작에 의해 가압되어, 상기 가압 조작 부재의 상기 플로팅 가이드측이 상기 베이스 부재로부터 분리 방향으로 요동함에 따라서, 상기 플로팅 가이드가 상기 베이스 부재로부터 분리 방향으로 요동하여 상기 개구 상태가 되도록 구성한 것을 특징으로 하는 중계 커넥터.
  13. 제1항 또는 제8항에 있어서, 상기 플로팅 가이드에 형성된 상기 가이드 구멍의 깊이를 상기 피검사측 커넥터의 높이와 일치하도록 구성한 것을 특징으로 하는 중계 커넥터.
  14. 제1항 또는 제8항에 있어서, 상기 플로팅 가이드의 상기 핀 블록측의 면에 오목부를 설치하고, 상기 핀 블록의 상기 플로팅 가이드측의 면에 상기 오목부에 끼워 맞춰지는 볼록부를 형성하여 상기 오목부와 상기 볼록부의 결합에 의해, 상기 플로팅 가이드와 상기 핀 블록을 상대적으로 위치 결정하도록 구성한 것을 특징으로 하는 중계 커넥터.
  15. 제1항 또는 제8항에 있어서, 상기 가압 조작 부재의 상기 플로팅 가이드측의 선단 외측부를 모따기형의 경사면으로 형성하여 구성한 것을 특징으로 하는 중계 커넥터.
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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101016391B1 (ko) * 2008-08-11 2011-02-21 티에스씨멤시스(주) 평판 표시 소자 검사용 프로브 유닛, 그리고 이를 포함하는평판 표시 소자 검사 장치
JP5393498B2 (ja) * 2010-01-19 2014-01-22 株式会社ヨコオ 中継コネクタ
JP5579547B2 (ja) * 2010-09-07 2014-08-27 株式会社ヨコオ コネクタ接続用検査治具
CN105269588B (zh) * 2015-11-11 2017-03-08 无锡市福克斯煤矿机械制造有限公司 编制混合链机械手的夹爪
CN105467176A (zh) * 2015-12-10 2016-04-06 苏州世纪福智能装备股份有限公司 双层浮动式高密度连接器
KR101734283B1 (ko) 2017-03-27 2017-05-11 위드시스템 주식회사 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록
CN108365434B (zh) * 2018-02-28 2019-09-24 京东方(河北)移动显示技术有限公司 连接器、治具
CN108288787B (zh) * 2018-03-29 2023-11-03 江南大学 一种插座式轨道取电装置
KR101963723B1 (ko) * 2018-04-27 2019-08-01 주식회사 메카텍시스템즈 카메라 모듈용 테스트 소켓
CN109490680B (zh) * 2019-01-02 2024-03-19 珠海市运泰利自动化设备有限公司 一种pcba公头连接器的测试机构
CN110118939B (zh) * 2019-02-14 2024-07-16 株洲福德轨道交通研究院有限公司 Eol测试设备
KR102698227B1 (ko) * 2019-05-16 2024-08-27 삼성디스플레이 주식회사 커넥터
CN112217066A (zh) * 2019-07-11 2021-01-12 长春设备工艺研究所 轨道移动设备取电装置
CN111293454B (zh) * 2020-03-02 2021-08-06 瑞声精密制造科技(常州)有限公司 传输线测试装置
CN113497391B (zh) * 2020-04-08 2023-06-20 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 测试连接器组件及与之对接的电连接器

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11183521A (ja) 1997-12-22 1999-07-09 Yokowo Co Ltd クリップ式中継コネクタ
KR100314586B1 (ko) 1999-05-17 2001-11-15 이석행 액정디스플레이 검사용 프로브장치
JP2005062076A (ja) 2003-08-19 2005-03-10 Eight Kogyo:Kk 電気的接続装置
JP2006234639A (ja) 2005-02-25 2006-09-07 Rika Denshi Co Ltd 電気回路検査用プローブ装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0935792A (ja) * 1995-07-17 1997-02-07 Sony Corp フレキシブル基板用クリップ装置
JP4215888B2 (ja) * 1999-03-05 2009-01-28 株式会社ヨコオ 基板用コネクタ
JP4050582B2 (ja) * 2002-09-19 2008-02-20 株式会社ヨコオ クリップ式中継コネクタ
JP2004356057A (ja) * 2003-05-30 2004-12-16 Jst Mfg Co Ltd 中継接続回路及び中継コネクタ
JP2006059539A (ja) * 2004-08-17 2006-03-02 Nec Corp 中継コネクタ
JP2006196211A (ja) * 2005-01-11 2006-07-27 Nec Saitama Ltd 基板コネクタ装置および治具

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11183521A (ja) 1997-12-22 1999-07-09 Yokowo Co Ltd クリップ式中継コネクタ
KR100314586B1 (ko) 1999-05-17 2001-11-15 이석행 액정디스플레이 검사용 프로브장치
JP2005062076A (ja) 2003-08-19 2005-03-10 Eight Kogyo:Kk 電気的接続装置
JP2006234639A (ja) 2005-02-25 2006-09-07 Rika Denshi Co Ltd 電気回路検査用プローブ装置

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