KR101734283B1 - 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록 - Google Patents

피치간격을 조절할 수 있는 핀블록 Download PDF

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Abstract

본 발명은 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록에 관한 것으로서, 피검사체의 커넥터와 접촉할 수 있도록 다수의 프로브 핀이 삽입된 복수 개의 핀모듈과, 상기 핀모듈의 양측에 각각 결합되어 상기 핀모듈 사이의 간격을 조절할 수 있도록 형성된 지지블록과, 상기 핀모듈과 상기 지지블록이 삽입될 수 있도록 삽입홀이 형성되어 있으며 상기 피검사체의 커넥터를 향해 이동되는 지그와, 상기 핀모듈의 상부에 결합되어 상기 프로브 핀이 빠지지 않도록 고정시키는 커버를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

피치간격을 조절할 수 있는 핀블록{the pin block with adjustable pitch control}
본 발명은 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 핀모듈에 형성된 핀의 위치를 피검사체의 커넥터에 맞춰 피치간격을 조절함으로써 핀모듈을 공용으로 사용할 수 있도록 하는 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록에 관한 것이다.
일반적으로 복수 개의 전자부품이 실장된 인쇄회로기판 또는 피검사체는 전자부품을 실장하는 과정에서 회로의 단락이나 단선이 발생하거나 실장되는 전자부품이 파손되는 불량이 발생될 수 있다.
이에 따라, 전자부품을 실장하는 과정 중 또는 실장이 완료된 후 피검사체의 결함 여부를 확인하기 위해 검사를 진행하게 된다.
피검사체의 결함을 확인하기 위해 육안 또는 전원을 인가하여 동작을 확인하는 방법을 사용하여 단락이나 단선을 검사할 수 있었으나, 실장되는 과정에서 전자부품이 완전히 파손되지 않고, 성능이 저하된 결함 또는 실장 품질에 따른 결함에 대해서는 확인할 수 없는 문제점이 있었다.
이러한 문제점을 해결하기 위한 한국특허 등록번호 제10-1148669호는 기판 검사 장치에 관한 것으로서, 인쇄회로기판을 지지하는 클램프, 인쇄회로기판에 실장된 칩의 각 지점에 부착되어 전류를 인가하는 복수개의 핀, 클램프 및 복수개의 핀들과 전기적으로 연결되어 전류를 공급하는 전류 공급부 및 클램프에 부착되어, 지지된 인쇄회로기판의 하면과 접촉하는 금속 태그를 포함하는 것으로 클램프에 부착된 금속 태그를 통하여 인쇄회로기판의 하면에 전류를 인가함으로써 별도의 설비 개조 없이도, 간편한 방식으로 칩 바로 아래에 있는 기판면의 이물에 의한 전류 공급부 불량을 검출할 수 있는 특징이 있었다.
그러나 상기와 같은 종래 기술의 경우 전류를 인가하는 핀이 피검사체의 커넥터에 대응되는 형상과 다를 경우 접촉이 불가능하여 검사가 불가능하다는 문제점이 있었다.
또한 상기와 같은 종래 기술의 경우 핀의 배열을 피검사체의 커넥터 형상에 맞춰 제작되어야 하기 때문에 피검사체의 커넥터 종류에 따라 별도로 검사 장치를 제조해야 하는 문제점이 있었다.
또한 상기와 같은 종래 기술의 경우 핀모듈이 특정 커넥터에만 사용이 가능하기 때문에 제조단가가 높아지고 활용성이 떨어진다는 문제점이 있었다.
한국특허 등록번호 제10-1148669호
상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은 핀모듈을 피검사체의 커넥터 형상에 관계없이 공용으로 사용할 수 있도록 하여 제조단가를 줄이고 활용성을 높일 수 있는 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록을 제공하는 것이다.
또한 본 발명의 다른 목적은 복수 개의 핀모듈을 이용하여 각각의 핀모듈 사이의 간격을 조정함으로써 피검사체의 커넥터에 핀모듈의 위치를 맞출 수 있는 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록을 제공하는 것이다.
또한 본 발명의 다른 목적은 핀모듈의 규격이 동일하게 형성되어 있으므로 어느 하나의 핀모듈이 파손되는 경우 피검사체의 커넥터 형상에 관계없이 예비 핀모듈을 바로 교체하여 사용할 수 있는 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록을 제공하는 것이다.
상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록은 피검사체의 커넥터와 접촉할 수 있도록 다수의 프로브 핀이 삽입된 복수 개의 핀모듈과, 상기 핀모듈의 양측에 각각 결합되어 상기 핀모듈 사이의 간격을 조절할 수 있도록 형성된 지지블록과, 상기 핀모듈과 상기 지지블록이 삽입될 수 있도록 삽입홀이 형성되어 있으며 상기 피검사체의 커넥터를 향해 이동되는 지그와, 상기 핀모듈의 상부에 결합되어 상기 프로브 핀이 빠지지 않도록 고정시키는 커버를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 상기 커버의 상부면에는 상기 프로브 핀의 상단만 노출되도록 하는 홀이 형성되어 있으며, 상기 홀을 통해 상기 커버 외부로 상기 프로브 핀의 상단이 노출되어 검사모듈과 접촉될 수 있는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 상기 커버는 상기 핀모듈의 상부에서 내부로 파여진 복수 개의 삽입홀에 대응되는 고정구를 더 포함하며, 상기 고정구는 상기 삽입홀에 삽입되거나 분리되어 상기 커버를 상기 핀모듈로부터 탈부착할 수 있는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 상기 커버는 양측면에는 상기 핀모듈의 양측에 돌출된 제1돌출단에 대응되는 제2돌출단을 더 포함하며, 상기 제2돌출단은 상기 지지블록에 결합되어 상기 커버를 고정시키는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 상기 핀모듈과 상기 커버는 상기 프로브 핀을 상기 피검사체의 커넥터의 형상에 대응되도록 수량 및 위치를 조정할 수 있는 것을 특징으로 한다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록에 의하면 핀모듈을 피검사체의 커넥터 형상에 관계없이 공용으로 사용할 수 있도록 하여 제조단가를 줄이고 활용성을 높일 수 있는 효과가 있다.
또한 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록에 의하면 복수 개의 핀모듈을 이용하여 각각의 핀모듈 사이의 간격을 조정함으로써 피검사체의 커넥터에 핀모듈의 위치를 맞출 수 있는 효과가 있다.
또한 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록에 의하면 핀모듈의 규격이 동일하게 형성되어 있으므로 어느 하나의 핀모듈이 파손되는 경우 피검사체의 커넥터 형상에 관계없이 예비 핀모듈을 바로 교체하여 사용할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록에 핀모듈이 결합된 모습을 나타낸 사시도.
도 2는 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 핀모듈이 고정되는 모습을 나타낸 사시도.
도 3은 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 지그를 나타낸 사시도.
도 4는 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 핀모듈이 지지블록에 결합되는 모습을 나타낸 사시도.
도 5는 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록에 핀모듈이 삽입된 모습을 나타낸 측면도 및 단면도.
도 6은 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 핀모듈 사이의 간격이 조절된 모습을 나타낸 평면도.
도 7은 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 핀모듈 상부에 커버가 결합된 모습을 나타낸 전면 사시도.
도 8은 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 핀모듈로부터 커버가 분리된 모습을 나타낸 후면 사시도.
도 9는 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 핀이 삽입된 부위를 절단시켜 나타낸 단면도.
도 10은 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 커버가 결합된 모습을 절단시켜 나타낸 단면도.
본 발명의 구체적 특징 및 이점들은 이하에서 첨부도면을 참조하여 상세히 설명한다. 이에 앞서 본 발명에 관련된 기능 및 그 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 구체적인 설명을 생략하기로 한다.
본 발명은 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 핀모듈에 형성된 핀의 위치를 피검사체의 커넥터에 맞춰 피치간격을 조절함으로써 핀모듈을 공용으로 사용할 수 있도록 하는 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록에 관한 것이다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부한 도면을 참고로 상세하게 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록에 핀모듈(500)이 결합된 모습을 나타낸 사시도이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록은 피검사체의 커넥터와 접촉할 수 있도록 핀이 형성된 복수 개의 핀모듈(500)과, 핀모듈(500)의 양측에 각각 결합되어 핀모듈(500) 사이의 간격을 조절할 수 있도록 형성된 지지블록(400)과, 핀모듈(500)과 지지블록(400)이 삽입될 수 있도록 삽입홈(310)이 형성되어 있으며 피검사체의 커넥터를 향해 이동되는 지그(300)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한 하부면이 바닥이나 테이블 등에 거치될 수 있도록 평면으로 형성되어 상부에 장착되는 장치를 지지하는 지지체(100)와, 지지체(100)와 축 결합되어 회동이 가능하여 지지체(100)의 전면 또는 후면 방향으로 회동되는 회동체(200)를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
지지체(100)는 하부면이 평면으로 형성되어 있으며 볼트를 이용하여 바닥이나 테이블에 위치를 고정시키거나 별도의 고정장치에 장착하여 고정한 후 사용할 수 있다.
지지체(100)의 양측은 돌출되어 있으며 돌출된 사이에 회동체(200)가 삽입된 후 회동축(110)에 의해 결합되게 된다.
회동축(110)에 의해 축 결합된 회동체(200)는 지지체(100)의 전면 또는 후면을 향해 회동축(110)을 중심으로 회동될 수 있게 되며, 지지체(100)의 후면에는 탄성부재(도시되지 않음)가 지지체(100)와 회동체(200) 사이에 형성되어 있어 회동체(200)의 후면을 상부 방향으로 가압하여 회동체(200)의 전면이 지지체(100)의 전면으로 회동된 상태가 되도록 한다.
지그(300)는 지지체(100)의 전면 양측에 형성된 승강축(320)에 삽입되어 있어 승강축(320)을 따라 상부 또는 하부 방향으로 이송될 수 있도록 구성되며, 지그(300)의 하부에는 회동체(200)의 전면으로 돌출된 가압봉(도시되지 않음)이 형성되어 있다.
회동체(200)의 후면을 가압하면 회동축(110)을 중심으로 회동체(200)의 전면이 상부 방향으로 회동하게 되고, 이때 회동체(200)의 전면에 형성된 가압봉이 회동체(200)를 따라 상승하면서 지그(300)를 상부 방향으로 가압하게 된다.
가압된 지그(300)는 지지체(100) 양측에 형성된 승강축(320)에 의해 구속되어 있으므로 수직하게 상승하게 되며, 지그(300) 하부에 피검사체의 커넥터를 위치시킬 수 있게 된다.
회동체(200)의 후면에 하중이 가해지지 않으면 회동체(200)의 후면과 지지체(100) 후면 사이에 형성된 탄성부재가 복원되면서 회동체(200)를 상부 방향으로 가압하게 되고 이로 인해 회동체(200)의 전면이 지지체(100)의 하부 방향으로 회동될 수 있게 된다.
이때 회동체(200)의 전면 양측에 형성된 하강대(210)가 지그(300)의 상부를 가압하여 지그(300)가 지지체(100) 방향으로 하강할 수 있게 되며 지그(300)가 피검사체의 커넥터에 밀착될 수 있게 된다.
지그(300)에는 피검사체의 커넥터와 접촉되어 전류를 공급하거나 신호를 전달할 수 있도록 금속 핀이 형성된 핀모듈(500)이 삽입되게 되며, 각각의 핀모듈(500) 사이의 간격을 고정시킬 수 있도록 양측에 각각 지지블록(400)이 형성되어 각각의 핀모듈(500)을 고정시키게 된다.
도 2는 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 핀모듈(500)이 고정되는 모습을 나타낸 사시도이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 지그(300) 하부에는 피검사체의 커넥터와 밀착되어 결합되며, 핀모듈(500)의 핀이 피검사체의 커넥터와 접촉되도록 다수의 홀이 형성된 결합판(600)을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
결합판(600)은 지그(300)의 하부면에 결합되어 있으며 중앙에 결합홈(610)이 형성되어 있어 돌출된 지그(300)의 하부면에 밀착될 수 있도록 구성되어 있으며, 결합판(600)은 피검사체의 커넥터에 직접 밀착되어 결합되므로 결합판(600)의 형상은 피검사체의 커넥터 구조에 대응되는 형상으로 이루어지는 것이 바람직하다.
또한 결합판(600)의 결합홈(610)에는 핀모듈(500)에 형성된 핀이 결합판(600)을 관통하여 피검사체의 커넥터와 접촉될 수 있도록 다수의 홀이 형성되어 있는 것이 바람직하다.
지그(300)의 상부면에는 지지블록(400)과 핀모듈(500)이 삽입될 수 있도록 삽입홈(310)이 형성되어 있으며 삽입홈(310)은 다단으로 단차가 형성되어 있어 지지블록(400)과 핀모듈(500)이 삽입홈(310)을 통해 하부로 빠지지 않도록 구성되어 있다.
복수 개의 핀모듈(500)은 양측에 각각 위치한 지지블록(400) 사이에 위치하며 지지블록(400)에 의해 위치가 고정되어 핀모듈(500) 사이의 피치간격을 지지블록(400)에 의해 고정될 수 있게 된다.
도 3은 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 지그(300)를 나타낸 사시도이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 지그(300)에 형성된 삽입홈(310)은 도 2의 지지블록(400)이 하부로 빠지지 않도록 삽입홈(310)의 양측에 각각 형성되는 제1단차(311)와, 제1단차(311) 사이에 형성되며 도 2의 지지블록(400)에 의해 간격이 고정되어 있는 도 2의 핀모듈(500)이 하부로 빠지지 않도록 형성되는 제2단차(312)로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
제1단차(311)와 제2단차(312)는 서로 다른 높낮이로 형성되어 있어 도 2의 지지블록(400)과 도 2의 핀모듈(500)이 삽입홈(310)에 삽입되면 도 2의 지지블록(400)과 도 2의 핀모듈(500)의 상부면이 지그(300) 상부로 돌출되지 않도록 구성되어 있다.
제1단차(311)는 도 2의 지지블록(400)의 크기에 대응되는 넓이를 가지고 있고, 제2단차(312)는 도 2의 핀모듈(500)의 크기에 대응되는 넓이를 가지고 있으며 제2단차(312)는 삽입홈(310)의 전면과 후면에 각각 형성되고 중앙에는 도 2의 핀모듈(500)의 돌출된 하부가 삽입될 수 있도록 개구되어 있는 것이 바람직하다.
도 4는 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 핀모듈(500)이 지지블록(400)에 결합되는 모습을 나타낸 사시도이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 핀모듈(500)은 양측면에 각각 형성되며 외부로 돌출되는 제1돌출단(510)과, 지지블록(400)의 내측면에 형성되며 제1돌출단(510)에 대응되는 형상의 지지홈(410)을 더 포함하며, 지지홈(410)에 제1돌출단(510)이 삽입되면 핀모듈(500)의 위치를 고정시킬 수 있는 것을 특징으로 한다.
핀모듈(500)의 양측에는 각각 외면으로 돌출되는 제1돌출단(510)이 형성되어 있으며 제1돌출단(510)은 지지블록(400)의 내측면으로 파여진 지지홈(410)에 삽입되어 고정될 수 있도록 구성되어 있다.
즉, 복수 개의 핀모듈(500)은 양측에 각각 위치한 지지블록(400)의 지지홈(410)에 삽입되어 위치가 고정되며 지지블록(400)에 삽입되는 각각의 핀모듈(500)은 지지홈(410)의 간격에 따라 이격되게 되므로 피검사체의 커넥터의 규격에 맞춰 핀모듈(500) 사이의 피치간격을 조절할 수 있게 된다.
이때 핀모듈(500)은 피치간격을 조절할 수 있도록 다수의 핀이 1열로 삽입되어 있는 것이 바람직하다.
또한 피치간격을 조절할 수 있으므로 핀모듈(500)을 피검사체의 커넥터 규격에 맞출 필요가 없어져 제작 단가를 낮출 수 있고 파손시 핀모듈(500)의 규격이 동일하므로 쉽게 교체가 가능하고 다른 검사장치에서 임시로 핀모듈(500)을 교체하여 사용할 수 있으므로 활용성이 높아지게 된다.
지지블록(400)에 형성된 지지홈(410)은 핀모듈(500)에 형성된 제1돌출단(510)에 대응되는 형태로 구성되어 있으며, 피검사체의 커넥터 규격에 따라 피치간격을 조절할 수 있도록 피치간격이 서로 다르게 제작한 후 피검사체에 따라 지지블록(400)을 교체하여 사용할 수 있게 된다.
또한 지지블록(400)에 형성된 지지홈(410)을 복수 개로 형성시킴으로써 피검사체의 커넥터 규격에 따라 피치간격을 조정할 때 지지블록(400)을 교체하지 않고 핀블럭의 제1돌출단(510)을 피검사체의 규격에 맞는 지지홈(410)에 삽입하여 피치간격을 조절할 수도 있다.
핀모듈(500)의 상부는 제1돌출단(510)이 형성될 수 있도록 두께가 하부에 비해 두껍게 형성되어 있고, 하부는 상부에 비해 두께가 얇게 형성되어 있어 도 3의 제2단차(312)에 상부는 걸리고 하부는 도 3의 지그(300)를 관통할 수 있도록 구성되게 된다.
또한 핀모듈(500)에 형성된 핀은 프로브(520) 타입 또는 블레이드(530) 타입으로 구성되어 있는 것을 특징으로 한다.
핀모듈(500)에는 피검사체의 커넥터와 접촉되어 전류를 인가하거나 전기적 신호를 전달하기 위해 금속으로 구성된 다수의 핀이 형성되어 있으며, 도 4-A와 같이 프로브(520) 형식의 핀이 장착되어 있거나 도 4-B와 같이 블레이드(530) 형식의 핀이 장착되어 있을 수 있다.
도 5는 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록에 핀모듈(500)이 삽입된 모습을 나타낸 측면도 및 단면도이다.
도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 지그(300) 상부에는 PCB로 형성된 검사모듈(도시되지 않음)이 장착되어 핀모듈(500)에 형성된 핀의 상부면과 접촉되어 연결되는 것을 특징으로 한다.
핀모듈(500)이 삽입된 지그(300)의 상부에는 검사모듈(도시되지 않음)이 장착되게 되며 검사모듈은 핀모듈(500)의 상부로 돌출된 프로브(520) 타입의 핀과 접촉되어 연결되게 된다.
이때 핀모듈(500)의 하부에 돌출된 프로브(520) 타입의 핀은 피검사체의 커넥터와 결합된 결합판(600)을 관통하여 돌출되게 되어 커넥터의 단자와 접촉된 상태가 되므로 검사모듈과 피검사체는 서로 연결될 수 있게 된다.
핀모듈(500)은 지그(300)에 형성된 도 3의 제2단차(312)에 지지되어 있으며, 지지블록(400)은 도 3의 제1단차(311)에 지지되어 있도록 구성되어 있다.
즉, 핀모듈(500)과 지지블록(400)의 높낮이는 서로 다르게 형성되어 있으므로 지그(300)에 삽입된 후 핀모듈(500)과 지지블록(400)이 지그(300)의 상부면으로 돌출되지 않도록 도 3의 제1단차(311)와 제2단차(312)의 높이가 조정되는 것이 바람직하다.
또한 결합판(600)에는 핀모듈(500)의 프로브(520) 타입의 핀만 외부로 돌출될 수 있도록 프로브(520)의 크기 및 수량에 맞춰 홀이 형성되어 있는 것이 바람직하다.
도 6은 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 핀모듈(500) 사이의 간격이 조절된 모습을 나타낸 평면도이다.
도 6에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 핀모듈(500)은 지지블록(400)에 형성된 복수 개의 지지홈(410)에 결합되며 지지홈(410)에 결합되는 위치에 따라 핀모듈(500)의 피치간격이 조절될 수 있는 것을 특징으로 한다.
또한 핀모듈(500)은 설정된 간격으로 배치된 핀이 1열로 형성되어 있고, 복수 개의 핀모듈(500)의 위치를 조절함으로써 피검사체의 커넥터에 맞춰 공용으로 사용될 수 있는 것을 특징으로 한다.
하나의 핀모듈(500)에는 다수의 핀이 1열로 배치되어 있고 핀모듈(500)의 양측에 형성된 제1돌출단(510)을 지지블록(400)에 형성된 지지홈(410)에 삽입함으로써 각각의 핀모듈(500) 위치를 조절할 수 있게 된다.
이때 지지블록(400)에 형성된 지지홈(410)의 간격을 서로 달리 함으로써 지지홈(410)에 삽입되는 핀모듈(500)과 핀모듈(500) 사이의 간격을 조절할 수 있게 되며, 핀모듈(500) 사이의 간격이 조정됨에 따라 핀과 핀 사이의 피치간격을 조절될 수 있게 된다.
즉, 2개의 핀모듈(500)을 이용하여 핀과 핀 사이의 피치간격을 서로 다르게 구현할 수 있게 되며, 제조시간이 오래 걸리는 핀모듈(500) 대신 구조가 간단한 지지블록(400)을 피치간격에 따라 종류별로 제작하여 피검사체의 커넥터에 맞게 핀모듈(500)의 위치를 조절할 수 있게 된다.
도 7은 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 핀모듈(500) 상부에 커버(700)가 결합된 모습을 나타낸 전면 사시도이다.
도 7에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록은 피검사체의 커넥터와 접촉할 수 있도록 다수의 프로브(520) 핀이 삽입된 복수 개의 핀모듈(500)과, 핀모듈(500)의 양측에 각각 결합되어 핀모듈(500) 사이의 간격을 조절할 수 있도록 형성된 지지블록(400)(도2 참조)과, 핀모듈(500)과 지지블록(400)이 삽입될 수 있도록 삽입홀(540)이 형성되어 있으며 피검사체의 커넥터를 향해 이동되는 지그(300)(도2 참조)와, 핀모듈(500)의 상부에 결합되어 프로브(520) 핀이 빠지지 않도록 고정시키는 커버(700)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한 커버(700)는 양측면에는 핀모듈(500)의 양측에 돌출된 제1돌출단(510)에 대응되는 제2돌출단(710)을 더 포함하며, 제2돌출단(710)은 지지블록(400)에 결합되어 커버(700)를 고정시키는 것을 특징으로 한다.
커버(700)는 핀모듈(500)에 삽입된 프로브(520) 타입의 핀을 고정시키기 위해 핀모듈(500) 상부에 결합되도록 형성되며, 커버(700)의 양측면에는 핀모듈(500)의 양측면에 형성된 제1돌출단(510)에 대응되는 형상의 제2돌출단(710)이 형성되어 있어 도 4의 지지블록(400)에 결합될 때 커버(700)와 핀블록이 도 4의 지지블록(400)에 고정될 수 있게 된다.
프로브(520) 핀의 하단은 피검사체의 커넥터와 접촉될 수 있도록 핀모듈(500) 하부로 노출되고, 상단은 검사모듈(도시되지 않음)과 접촉될 수 있도록 커버(700)의 상부로 노출되게 된다.
이때 프로브(520) 핀의 중단은 핀모듈(500)과 커버(700) 사이에 고정되게 되므로 핀모듈(500)이 뒤집어 지더라도 프로브(520) 핀이 핀모듈(500)로부터 분리되지 않도록 방지할 수 있게 되며, 이에 대한 상세한 설명은 도 9와 함께 후술하기로 한다.
도 8은 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 핀모듈(500)로부터 커버(700)가 분리된 모습을 나타낸 후면 사시도이다.
도 8에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 커버(700)는 핀모듈(500)의 상부에서 내부로 파여진 복수 개의 삽입홀(540)에 대응되는 고정구(720)를 더 포함하며, 고정구(720)는 삽입홀(540)에 삽입되거나 분리되어 커버(700)를 핀모듈(500)로부터 탈부착할 수 있는 것을 특징으로 한다.
커버(700)에 형성된 고정구(720)는 핀모듈(500)에 형성된 삽입홀(540)과 대응되는 위치 및 형상으로 커버(700)의 하부면에 돌출되게 되며, 삽입홀(540)에 고정구(720)가 삽입되면 고정구(720)는 삽입홀(540)에 의해 구속되어 커버(700)가 회전되거나 분리되는 것을 방지하게 된다.
즉, 고정구(720)의 크기와 삽입구의 지름이 서로 대응되도록 형성시켜 고정구(720)가 삽입구에 결합되면 고정구(720)가 삽입구에 억지끼움맞춤 되어 커버(700)가 핀모듈(500)로부터 분리되지 않게 된다.
또한 삽입홀(540)에 고정구(720)가 삽입되면 커버(700)가 회전되지 않도록 하기 위해 고정구(720)와 삽입홀(540)은 2개 이상으로 구성하는 것이 바람직하며, 커버(700)를 핀모듈(500)로부터 분리시킬 때 힘을 가할 수 있도록 커버(700)의 후면에는 내측으로 파여진 가압홈(750)이 형성되어 있는 것이 바람직하다.
가압홈(750)은 커버(700)의 후면에 중앙에 형성시켜 커버(700)를 분리시킬 때 가하는 수직력이 커버(700) 전체에 균일하게 가해질 수 있게 되며, 가압홈(750)을 통해 핀모듈(500)로부터 커버(700)를 쉽게 분리시킬 수 있게 된다.
또한 핀모듈(500)과 커버(700)는 프로브(520) 핀을 피검사체의 커넥터의 형상에 대응되도록 수량 및 위치를 조정할 수 있는 것을 특징으로 한다.
커버(700)는 핀모듈(500)의 상부에 결합되거나 분리될 수 있도록 구성되어 있기 때문에 핀모듈(500)에 삽입되는 프로브(520) 타입의 핀을 피검사체의 커넥터 위치에 맞춰 조정할 수 있게 된다.
즉, 프로브(520) 핀을 고정하는 커버(700)를 핀모듈(500)로부터 분리시키면 핀모듈(500)에 삽입된 프로브(520) 핀의 수량, 위치를 피검사체의 커넥터 종류 및 특성에 맞게 조정할 수 있으며, 프로브(520) 핀이 파손된 경우 이를 교체함으로써 쉽게 보수할 수 있게 된다.
또한 프로브(520) 핀의 수량이나 위치를 피검사체의 커넥터에 맞게 변경할 수 있기 때문에 하나의 핀블록으로 서로 다른 형상의 커넥터에 적용하여 사용할 수 있게 된다.
도 9는 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 핀이 삽입된 부위를 절단시켜 나타낸 단면도이다.
도 9에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 커버(700)의 상부면에는 프로브(520) 핀의 상단만 노출되도록 하는 홀이 형성되어 있으며, 홀을 통해 커버(700) 외부로 프로브(520) 핀의 상단이 노출되어 검사모듈(도시되지 않음)과 접촉될 수 있는 것을 특징으로 한다.
프로브(520) 핀은 상단과 하단은 각각 검사모듈(도시되지 않음)과 피검사체의 커넥터에 접촉될 수 있도록 지름이 작게 형성되어 있으며, 중단은 프로브(520) 핀이 핀모듈(500)과 커버(700) 내부에서 지지될 수 있도록 하기 위해 상단과 하단에 비해 지름이 크게 형성되어 있다.
핀모듈(500)은 이러한 프로브(520) 핀이 삽입될 수 있도록 프로브(520) 핀의 중단 지름에 대응되는 크기의 제1지지홀(560)이 상부에서 내부로 형성되어 있으며, 프로브(520) 핀의 하단이 핀모듈(500)의 하부를 향해 돌출되도록 하기 위해 하부면에는 프로브(520) 핀의 하단 지름에 대응되는 제1관통홀(550)이 제1지지홀(560)을 향해 관통되어 형성되게 된다.
즉, 핀모듈(500)의 제1지지홀(560)에 프로브(520) 핀을 삽입하면 제1관통홀(550)이 형성된 부위의 지름차에 의해 프로브(520) 핀이 걸리게 되고, 프로브(520) 핀의 하단은 제1관통홀(550)을 통해 외부로 돌출되어 피검사체의 커넥터와 접촉될 수 있게 된다.
커버(700)는 프로브(520) 핀의 상단이 외부로 돌출되어 검사모듈(도시되지 않음)과 접촉될 수 있도록 하기 위해 하부면에서 내부를 향해 프로브(520) 핀의 중단 지름에 대응되는 크기의 제2지지홀(740)이 형성되고, 상부면에는 프로브(520) 핀의 상단 지름에 대응되는 제2관통홀(730)이 제2지지홀(740)을 향해 관통되어 형성되게 된다.
즉, 커버(700)가 핀모듈(500)에 결합되면 프로브(520) 핀은 커버(700)의 하부면에 위치한 제2지지홀(740)을 통해 삽입되면서 제2관통홀(730)이 형성된 부위의 지름차에 의해 프로브(520) 핀이 고정되고, 프로브(520) 핀의 상단은 제2관통홀(730)을 통해 커버(700) 상부면으로 노출되어 검사모듈(도시되지 않음)과 접촉될 수 있게 된다.
또한 제1지지홀(560)에서부터 제2관통홀(730)까지의 길이는 프로브(520) 핀의 중단 길이에 대응되도록 구성되도록 함으로써 프로브(520) 핀이 삽입되었을 때 프로브(520) 핀이 상하로 이동되는 유격을 최소화하는 것이 바람직하다.
따라서, 프로브(520) 핀의 중단은 커버(700)와 핀모듈(500) 사이에 고정되어 프로브(520) 핀이 핀모듈(500)로부터 분리되지 않도록 방지할 수 있게 된다.
도 10은 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 커버(700)가 결합된 모습을 절단시켜 나타낸 단면도이다.
도 10에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록의 커버(700)는 고정구(720)가 삽입홀(540)에 삽입되어 핀모듈(500)과 결합되며, 커버(700)의 후면에 형성된 가압홈(750)에 수직력을 가하여 커버(700)를 핀모듈(500)로부터 쉽게 분리할 수 있는 것을 특징으로 한다.
고정구(720)는 커버(700)의 하부면에서 돌출되어 있으며 삽입홀(540)의 지름에 대응되는 크기로 형성되어 있다.
이때 고정구(720)가 삽입홀(540)에 쉽게 삽입될 수 있도록 하기 위해 고정구(720)의 끝단 지름은 삽입홀(540)의 지름보다 작게 형성하여 삽입홀(540)에 고정구(720)를 쉽게 인입시킬 수 있도록 하는 것이 바람직하다.
또한 삽입홀(540)의 상부 지름은 하부 지름보다 크게 형성시킨 후 라운딩처리 하여 고정구(720)를 인입시킬 때 라운딩 처리된 상부를 따라 삽입홀(540) 중심으로 이동되도록 하는 것이 바람직하다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록에 의하면 핀모듈을 피검사체의 커넥터 형상에 관계없이 공용으로 사용할 수 있도록 하여 제조단가를 줄이고 활용성을 높일 수 있고, 복수 개의 핀모듈을 이용하여 각각의 핀모듈 사이의 간격을 조정함으로써 피검사체의 커넥터에 핀모듈의 위치를 맞출 수 있으며, 핀모듈의 규격이 동일하게 형성되어 있으므로 어느 하나의 핀모듈이 파손되는 경우 피검사체의 커넥터 형상에 관계없이 예비 핀모듈을 바로 교체하여 사용할 수 있는 효과가 있다.
이상과 같이 본 발명은, 바람직한 실시 예를 중심으로 설명하였지만 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 특허청구범위에 기재된 기술적 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 또는 변형하여 실시할 수 있다. 따라서 본 발명의 범주는 이러한 많은 변형의 예들을 포함하도록 기술된 청구범위에 의해서 해석되어야 한다.
100 : 지지체 110 : 회동축
200 : 회동체 210 : 하강대
300 : 지그 310 : 삽입홈
311 : 제1단차 312 : 제2단차
320 : 승강축 400 : 지지블록
410 : 지지홈 500 : 핀모듈
510 : 제1돌출단 520 : 프로브
530 : 블레이드 540 : 삽입홀
550 : 제1관통홀 560 : 제1지지홀
600 : 결합판 610 : 결합홈
700 : 커버 710 : 제2돌출단
720 : 고정구 730 : 제2관통홀
740 : 제2지지홀 750 : 가압홈

Claims (5)

  1. 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록에 있어서,
    피검사체의 커넥터와 접촉할 수 있도록 다수의 프로브 핀이 삽입된 복수 개의 핀모듈과;
    상기 핀모듈의 양측에 각각 결합되어 상기 핀모듈 사이의 간격을 조절할 수 있도록 형성된 지지블록과;
    상기 핀모듈과 상기 지지블록이 삽입될 수 있도록 삽입홀이 형성되어 있으며 상기 피검사체의 커넥터를 향해 이동되는 지그와;
    상기 핀모듈의 상부에 결합되어 상기 프로브 핀이 빠지지 않도록 고정시키는 커버;를 포함하는 것을 특징으로 하는
    피치간격을 조절할 수 있는 핀블록.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 커버의 상부면에는 상기 프로브 핀의 상단만 노출되도록 하는 홀이 형성되어 있으며, 상기 홀을 통해 상기 커버 외부로 상기 프로브 핀의 상단이 노출되어 검사모듈과 접촉될 수 있는 것을 특징으로 하는
    피치간격을 조절할 수 있는 핀블록.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 커버는 상기 핀모듈의 상부에서 내부로 파여진 복수 개의 삽입홀에 대응되는 고정구;를 더 포함하며,
    상기 고정구는 상기 삽입홀에 삽입되거나 분리되어 상기 커버를 상기 핀모듈로부터 탈부착할 수 있는 것을 특징으로 하는
    피치간격을 조절할 수 있는 핀블록.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 커버는 양측면에는 상기 핀모듈의 양측에 돌출된 제1돌출단에 대응되는 제2돌출단;을 더 포함하며,
    상기 제2돌출단은 상기 지지블록에 결합되어 상기 커버를 고정시키는 것을 특징으로 하는
    피치간격을 조절할 수 있는 핀블록.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 핀모듈과 상기 커버는 상기 프로브 핀을 상기 피검사체의 커넥터의 형상에 대응되도록 수량 및 위치를 조정할 수 있는 것을 특징으로 하는
    피치간격을 조절할 수 있는 핀블록.
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