JP2013003144A - デュアル・プロービング・チップ・システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】可動基盤部材32は、フレーム34の上に保持される。基盤部材32には、ラックの線形な歯66と、1対の角度付レール70がある。中間運搬部26の夫々の底面29にはスロット73があり、レール70と係合する。中間運搬部26の夫々には支柱58があり、ピニオン・ギアのあるサム・ホイール64の回転軸62を受ける。ピニオン・ギアは、基盤部材32上の歯66と係合する。サポート部材14には、軸方向のスロット33があり、中間運搬部26のスロット50と係合する。サポート部材14には、圧縮ばね28があり、サポート部材の同軸方向の追従性を提供する。
【選択図】図1
Description
フレーム上に移動可能に装着され、その上表面上に一端部への向きに対して角度を付けて配置される第1及び第2レールを有する基盤部材と、
底面及び上表面を夫々有し、上記底面の夫々には一方の端部への向きに対して角度を付けたスロットが形成された第1及び第2中間運搬部とを具え、
上記第1及び第2中間運搬部夫々の上記スロットは、上記基盤部材の角度付き上記第1及び第2レールの一方と係合し、移動可能な上記基盤部材の一方向への動きによって、上記第1及び第2中間運搬部間の距離が近くなり、他方向への動きによって、上記第1及び第2中間運搬部間の距離が広くなることを特徴としている。
14 第1及び第2サポート部材
15 第1及び第2サポート部材の長手軸
16 台座部
17 第1及び第2サポート部材の上面
18 凹部領域
19 第1及び第2サポート部材の下面
20 連動追従機構
21 第1及び第2サポート部材の上面の先端部
22 台形タブ
23 長手側面
24 台形凹部
25 第1及び第2サポート部材の後端部
26 中間運搬部
27 中間運搬部の長手軸
28 圧縮ばね
29 中間運搬部の底面
30 横断壁
31 中間運搬部の上表面
32 可動基盤部材
33 第1及び第2サポート部材のスロット
34 フレーム
36 カバー
38 カバーのスロット
40 カバーの半円形ポケット
50 中間運搬部のレール
54 装着部品
56 横断壁の開口
58 直立支柱
59 中間運搬部の後端部
60 直立支柱のスロット
61 中間運搬部の第1側面
62 ピニオン・サム・ホイールの回転軸
63 中間運搬部の第2側面
64 ピニオン・サム・ホイール
65 中間運搬部の先端部
66 ラックの線形な歯
67 基盤部材の後端部
68 基盤部材の上表面
69 基盤部材の長手軸
70 基盤部材の角度付きレール
76 フレームのオープン後端部
72 フレームの横レール
73 可動基盤部材のスロット
74 フレームの前レール
78 フレームの直立壁
80 スロット
82 留め部材
86 直立壁の穴
88 装着部材(ねじ)
Claims (5)
- フレーム上に移動可能に装着され、その上表面上に一端部への向きに対して角度を付けて配置される第1及び第2レールを有する基盤部材と、
底面及び上表面を夫々有し、上記底面の夫々には一方の端部への向きに対して角度を付けたスロットが形成された第1及び第2中間運搬部とを具え、
上記第1及び第2中間運搬部夫々の上記スロットは、上記基盤部材の角度付き上記第1及び第2レールの一方と係合し、移動可能な上記基盤部材の一方向への動きによって、上記第1及び第2中間運搬部間の距離が近くなり、他方向への動きによって、上記第1及び第2中間運搬部間の距離が広くなることを特徴とするデュアル・プロービング・チップ・システム。 - 上記第1及び第2中間運搬部が、その上表面に上記長手軸と平行に形成されたレールと、第1及び第2サポート部材とを有し、該第1及び第2サポート部材の夫々は、長手軸、底面及び上表面を有し、上記第1及び第2サポート部材の夫々の底面に形成された上記長手軸と平行なスロットが、上記第1及び第2中間運搬部の一方の上記上表面の上記レールと係合することを特徴とする請求項1記載のデュアル・プロービング・チップ・システム。
- 上記第1及び第2中間運搬部が、その後端部に間隔を開けて配置された複数の隙間付き支柱を更に有し、一方の上記隙間付き支柱が上記中間運搬部の一方の側面から伸び、他方の上記隙間付き支柱が上記中間運搬部の他方の側面から伸び、横断壁が前端部方向を向いて配置されると共に複数の上記隙間付き支柱が接続されることを特徴とする請求項1記載のデュアル・プロービング・チップ・システム。
- 外周に軸上に配置されたピニオン・ギアを形成する複数の歯を有するサム・ホイールを更に具え、
上記軸が上記第1及び第2中間運搬部の上記隙間付き支柱に配置され、上記ピニオン・ギアが、上記基盤部材の上記長手軸に平行な上記基盤部材の上記上表面上に配置された線形な歯の領域と係合することを特徴とする請求項3記載のデュアル・プロービング・チップ・システム。 - 上記第1及び第2サポート部材の夫々は、その後端部と上記第1及び第2中間運搬部の一方の上記横断壁の間に配置される関連する圧縮ばねを有し、装着部材が上記横断壁の開口と上記圧縮ばねを通過して、上記サポート部材に固定されることを特徴とする請求項3記載のデュアル・プロービング・チップ・システム。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201161495647P | 2011-06-10 | 2011-06-10 | |
US61/495,647 | 2011-06-10 | ||
US13/487,069 | 2012-06-01 | ||
US13/487,069 US8860449B2 (en) | 2011-06-10 | 2012-06-01 | Dual probing tip system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013003144A true JP2013003144A (ja) | 2013-01-07 |
JP6034064B2 JP6034064B2 (ja) | 2016-11-30 |
Family
ID=46581721
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012132092A Expired - Fee Related JP6034064B2 (ja) | 2011-06-10 | 2012-06-11 | デュアル・プロービング・チップ・システム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8860449B2 (ja) |
EP (1) | EP2533055B1 (ja) |
JP (1) | JP6034064B2 (ja) |
CN (1) | CN102998490B (ja) |
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- 2012-06-01 US US13/487,069 patent/US8860449B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2012-06-10 CN CN201210249238.9A patent/CN102998490B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2012-06-11 EP EP12171512.2A patent/EP2533055B1/en not_active Not-in-force
- 2012-06-11 JP JP2012132092A patent/JP6034064B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6034064B2 (ja) | 2016-11-30 |
EP2533055B1 (en) | 2018-12-26 |
US20120313658A1 (en) | 2012-12-13 |
EP2533055A1 (en) | 2012-12-12 |
CN102998490A (zh) | 2013-03-27 |
CN102998490B (zh) | 2016-08-03 |
US8860449B2 (en) | 2014-10-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A625 | Written request for application examination (by other person) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625 Effective date: 20150515 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
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