KR100898408B1 - 피씨비 모듈용 테스트 커넥터 - Google Patents

Abstract

본 발명은 PCB 모듈용 테스트 커넥터에 관한 것으로, PCB 모듈의 연결단자 표면과 나란한 접촉면을 가지며, 상기 접촉면에 수직한 관통구멍을 가지는 디바이더, 상기 디바이더의 관통구멍에 일단이 삽입되어 상기 접촉면의 표면으로 상기 일단의 끝단이 돌출하고, 타단은 상기 PCB 모듈의 연결단자 표면과 나란한 접촉면에 나란하게 절곡되어 ㄱ자 형상을 가지는 도전 접촉핀 및, 상기 도전 접촉핀 타단에 연결되어 위치하고, 상기 PCB 모듈을 수직하게 수용하여 상기 PCB 모듈의 일단을 고정하는 고정부와 상기 도전 접촉핀의 타단이 관통하여 그 끝단이 하부로 돌출하게 상기 도전 접촉핀을 수용하는 수용구멍을 가지는 피치가이드를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB 모듈용 테스트 커넥터에 관한 것이다.

이를 통하여 커넥터의 제작 시에 다수의 절곡부위를 가지는 도전 접촉핀을 제작할 필요가 없고, 종래와 같은 다수의 도전 접촉핀을 일일이 조립하여야 하는 번거로움을 제거하여 커넥터의 제작이 용이하고, 저렴하게 이를 생산할 수 있는 장점이 있다.

PCB 모듈, 커넥터

Description

피씨비 모듈용 테스트 커넥터 {TEST CONNECTOR FOR PCB MODULE}

도 1은 본 발명의 PCB 모듈용 테스트 커넥터의 일 실시예를 개략적으로 도시한 사시도이다.

도 3는 본 발명의 PCB 모듈용 테스트 커넥터의 다른 실시예를 개략적으로 도시한 정면도 및 이의 부분 확대도이다.

도 4은 도 3에 도시한 본 발명의 PCB 모듈용 테스트 커넥터의 다른 실시예의 일부 단면도이다.

도 5는 도 3에 도시한 본 발명의 PCB 모듈용 테스트 커넥터의 다른 실시예에 결합하는 테스터용 커넥터의 일 실시예를 도시한 도면과 이의 a-a 단면도이다.

도 6는 본 발명의 PCB 모듈용 테스트 커넥터의 결합과정을 도시한 개략도로서 좌측은 전기적 접촉을 표시하기 위하여 나타낸 단면이고, 우측은 결합시 정렬관계를 표시하기 위하여 나타낸 단면이다.

도 7은 도 6의 결합과정 다음 단계의 결합과정을 도시한 개략도로서 좌측은 전기적 접촉을 표시하기 위하여 나타낸 단면이고, 우측은 결합시 정렬관계를 표시하기 위하여 나타낸 단면이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *

5: PCB 모듈 10: 디바이더

12: 접촉면 14: 관통구멍

20: 도전 접촉부 30: 피치가이드

32: 고정부 34: 수용구멍

36: 정렬핀 100: PCB 모듈용 테스트 커넥터

200: 테스터용 커넥터 210: 정렬홈

220: 삽입구 230: 프로브 핀

본 발명은 PCB 모듈용 테스트 커넥터에 관한 것으로, 커넥터의 제작 시에 다수의 절곡부위를 가지는 도전 접촉핀을 제작할 필요가 없고, 종래와 같은 다수의 도전 접촉핀을 일일이 조립하여야 하는 번거로움을 제거하여 커넥터의 제작이 용이하고, 저렴하게 이를 생산할 수 있는 PCB 모듈용 테스트 커넥터에 관한 것이다.

일반적으로 PCB 모듈은 PCB에 특정한 기능을 가지는 집적회로가 다수 개 실장된 것을 말하는 것으로, 이에는 메모리 모듈, Mother 보드, 그래픽 카드, 사운드 카드 등이 이에 속할 수 있다. 이러한 PCB 모듈은 제작이후에 전기적 테스트를 거치게 되는데, 이를 위하여 테스트 보드 또는 테스트 장비와 테스트의 대상이 되는 PCB 모듈을 서로 전기적으로 연결하고, 이를 고정하는 커넥터가 요구되어진다.

이러한 PCB 모듈용 테스트 커넥터는 일반적으로 절곡되어진 다수의 도전 접촉핀이 하우징에 끼워지는 형태의 형상을 갖는 것으로 이에 대해서는 본 출원인을 포함하여 다수의 개발자들이 다양한 형상의 도전 접촉핀을 개발하여왔고, 이에 대한 예로는 대한민국 공개특허 제2007-2272호, 대한민국 등록실용신안 제422611호, 대한민국 등록실용신안 제339645호, 대한민국 등록실용신안 제372432호 등이 있다.

그러나 이러한 다양하게 개발된 PCB 모듈용 테스트 커넥터는 모두 일정한 형상으로 절곡되는 다수의 도전 접촉핀을 하우징에 일일이 끼우는 형태로 구성되어 다수의 절곡부위를 가지는 도전 접촉핀의 제작이 어려울 뿐만 아니라, 제작된 도전 접촉핀을 일일이 하우징의 결합홈에 차례차례 끼워야 하므로 제작이 어렵고, 제작비용이 증가하며, 도전 접촉핀의 절곡부위가 내구수명을 떨어뜨리는 문제점이 있으며, 이러한 절곡부위의 결함이 육안으로 발견되지 않아 커넥터의 불량이 PCB모듈의 불량으로 오인되어 양품을 불량 처리하는 문제점이 있다.

따라서 기존의 방식과 달리 이러한 문제점을 획기적으로 개선하는 PCB 모듈용 테스트 커넥터의 개발이 절실한 실정이다.

상기와 같은 문제점을 해결하고자, 본 발명은 커넥터의 제작 시에 다수의 절곡부위를 가지는 도전 접촉핀을 제작할 필요가 없고, 종래와 같은 다수의 도전 접촉핀을 일일이 조립하여야 하는 번거로움을 제거하여 커넥터의 제작이 용이하고, 저렴하게 이를 생산할 수 있는 PCB 모듈용 테스트 커넥터를 제공하는 것을 목적으로 한다.

또한 본 발명은 도전 접촉부의 결함 발생률이 낮으며, 결함 발생시에 육안으로 이를 바로 확인할 수 있는 PCB 모듈용 테스트 커넥터를 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은

PCB 모듈의 연결단자 표면과 나란한 접촉면을 가지며, 상기 접촉면에 수직한 관통구멍을 가지는 디바이더;

상기 디바이더의 관통구멍에 일단이 삽입되어 상기 접촉면의 표면으로 상기 일단의 끝단이 돌출하고, 타단은 상기 PCB 모듈의 연결단자 표면과 나란한 접촉면에 나란하게 절곡되어 ㄱ자 형상을 가지는 도전 접촉핀; 및,

상기 도전 접촉핀 타단에 연결되어 위치하고, 상기 PCB 모듈을 수직하게 수용하여 상기 PCB 모듈의 일단을 고정하는 고정부와 상기 도전 접촉핀의 타단이 관통하여 그 끝단이 하부로 돌출하게 상기 도전 접촉핀을 수용하는 수용구멍을 가지는 피치가이드를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB 모듈용 테스트 커넥터를 제공한다.

또한 본 발명은

상기 PCB 모듈용 테스트 커넥터에서 상기 피치가이드의 하부에는 하부로 돌출한 정렬핀을 더 포함하는 PCB 모듈용 테스트 커넥터; 및,

상기 정렬핀에 결합하는 정렬홈과 상기 도전 접촉핀의 타단을 수용하는 삽입구를 상부에 가지고, 상기 삽입구의 내부에는 상기 PCB 모듈용 테스트 커넥터와 결합시 상기 도전 접촉핀의 타단과 접촉하는 프로브 핀을 내장한 테스터용 커넥터를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB 모듈용 테스트 커넥터 조립체를 제공한다.

이하 본 발명을 도면을 참고하여 상세히 설명한다.

본 발명은 PCB 모듈용 테스트 커넥터(100)에 관한 것으로 PCB 모듈(5)의 연결단자 표면과 나란한 접촉면(12)을 가지며, 상기 접촉면(12)에 수직한 관통구멍(14)을 가지는 디바이더(10), 상기 디바이더(10)의 관통구멍(14)에 일단이 삽입되어 상기 접촉면(12)의 표면으로 상기 일단의 끝단이 돌출하고, 타단은 상기 PCB 모듈(5)의 연결단자 표면과 나란한 접촉면(12)에 나란하게 절곡되어 ㄱ자 형상을 가지는 도전 접촉핀(20) 및, 상기 도전 접촉핀(20) 타단에 연결되어 위치하고, 상기 PCB 모듈(5)을 수직하게 수용하여 상기 PCB 모듈(5)의 일단을 고정하는 고정부(32)와 상기 도전 접촉핀(20)의 타단이 관통하여 그 끝단이 하부로 돌출하게 상기 도전 접촉핀(20)을 수용하는 수용구멍(34)을 가지는 피치가이드(30)를 포함하여 구성된다.

이에 대한 구체적인 실시예는 도 1 내지 도 7에 도시한 바와 같다. 즉, 종래의 방식과 달리 본 발명에서는 도전 접촉핀(20)이 외부로 노출되어 전체적으로 '기역'자 형상을 가져 핀의 탄성변형에 따라 도전 접촉핀이 PCB 모듈의 연결단자와 접촉하는 구조로서, 각각의 도전 접촉핀은 도전체로 이루어지고, 바람직하게는 금속재로서 PCB 모듈의 연결단자별로 대응하는 구조를 가진다. 또한 이들 각각은 전기적으로 분리되어져야 하므로 절연체로 이루어진 디바이더(10)의 관통구멍에 각각 하나씩 대응되어 삽입되어진다. 상기 디바이더는 접촉핀이 PCB모듈의 연결단자에 각각 전기적으로 접촉하도록 하는 역할을 하므로 상기 연결단자의 표면에 나란한 접촉면을 가진다. 상기 접촉핀을 수용하는 관통구멍은 접촉핀의 형상에 따라 도 1에 도시한 바와 같이 사각형일 수도 있고, 원형일 수도 있으며, 관통구멍의 배열방식도 도 1에 도시한 바와 같이 나란한 형태일 수도 있다. 또한, 핀 간의 피치를 여유롭게 구성하기 위하여 도 3 내지 도 4에 도시한 바와 같이 서로 엇갈리는 형태로 구성할 수도 있다. 이와 같이 구성하는 경우에 피치가이드에서의 피치에 비하여 디바이더에서의 접촉핀 사이의 피치는 이를 2배정도 늘릴 수 있으므로 상대적으로 여유로운 구성을 가질 수 있다.

이와 같이 상기 디바이더의 관통구멍에 각각 삽입되어 전기적으로 분리된 각각의 도전 접촉핀은 PCB모듈의 각 연결단자를 테스트 보드나 테스트 장비의 각 연결단자와 전기적으로 연결하여야 하므로 일측은 디바이더 접촉면으로 돌출하고, 타측은 상기 기술한 피치가이드의 수용구멍을 통과하여 이의 하부로 연장되는 구성을 가지고, 접촉핀의 자유로운 탄성변형이 확실한 전기적 접촉을 얻어내므로 도시한 바와 같이 상기 도전 접촉핀은 상기 디바이더 및 상기 피치가이드의 관통구멍 및 수용구멍에만 제작되어지고 나머지는 자유로운 탄성변형이 가능한 상태로 고정되어진다. 또한 상기 접촉핀의 기역자 형상은 반드시 도 1에 도시한 바와 같은 직각만을 의미하는 것이 아니고, 측면에서 나와 아래로 꺾여지는 구조를 가지면 모두 이에 해당하는 것으로 그 형상에 제한을 받지 않는다.

상기 도전 접촉핀은 일단은 PCB 모듈의 연결단자에 연결되므로 그 끝단이 상기 디바이더의 접촉면에서 일정량 돌출하고, 타단은 테스터의 연결단자에 연결되므로 상기 피치가이드의 하부로 연장되어 돌출되어진다.

이를 통하여 PCB 모듈용 커넥터의 제작 시에 다수의 절곡부위를 가지는 도전 접촉핀을 제작할 필요가 없어 커넥터의 제작이 용이하고, 저렴하게 이를 생산할 수 있으며, 도전 접촉부의 절곡부위 및 절곡량이 적으므로 결함 발생률이 낮으며, 결 함 발생시에 육안으로 이를 바로 확인할 수 있다.

또한 상기 피치가이드는 도전 접촉핀을 일정한 피치를 유지하면서 가이드 하여 테스터의 연결단자와 연결되도록 하는 역할을 할 뿐만 아니라 디바이더와 PCB 모듈이 정확한 위치에 서로 결합하게 하고 이러한 결합을 계속적으로 안정되게 유지하도록 하는데, 이를 위하여 고정부를 가진다. 상기 고정부는 도 1에 도시한 바와 같이 홈부를 가지고 이에 PCB가 끼워지도록 할 수도 있고, 이에 추가하여 도시한 고정부의 구멍에 볼트를 끼워 PCB를 더욱 고정할 수도 있으며, 이외에도 통상 적용되는 다양한 고정장치를 이에 적용할 수 있음은 물론이다.

바람직하게는 근래의 PCB 모듈은 PCB의 전면 및 후면에 모두 연결단자를 자기는 경우가 많으므로 이에 대응하기 위하여 상기 디바이더(10)는 PCB 모듈(5)을 기준으로 전면 및 후면에 각각 대칭으로 또는 상하로 엇갈리게 쌍으로 배치되도록 하는 것이 좋다. 이를 통하여 전면 및 후면에서 압축압력을 가하여 전기적 접촉력을 높일 수 있고, 다수의 연결단자를 한꺼번에 연결할 수 있다. 이에 대한 구체적인 실시예는 도 1 내지 도 7에 도시한 바 있으며, 전면 및 후면에 각각 대칭으로 배치된 경우는 도 2에, 전면 및 후면에 각각 상하로 엇갈리게 쌍으로 배치되도록 한 것은 도 1 및 도 3 내지 도 7에 도시한 것이고, 이외의 다른 방법으로 디바이더를 배치할 수도 있음은 물론이다.

또한 상기 피치가이드(30)는 그 하부에 이의 하부로 돌출하는 정렬핀(36)을 더 포함도록 구성할 수도 있다. 이는 도 1 및 도 6와 도 7에 도시한 바와 같이 테스트용 커넥터(200)를 더 결합하는 경우에 이의 정렬을 위한 것으로, 이를 통하여 테스트용 커넥터가 결합한 PCB 모듈용 테스트 커넥터 조립체를 구성할 수 있다. 즉, 본 발명은 상기 정렬핀(36)을 더 포함하는 상기 PCB 모듈용 테스트 커넥터(100) 및, 상기 정렬핀(36)에 결합하는 정렬홈(210)과 상기 도전 접촉핀(20)의 타단을 수용하는 삽입구(220)를 상부에 가지고, 상기 삽입구(220)의 내부에는 상기 PCB 모듈용 테스트 커넥터(100)와 결합시 상기 도전 접촉핀(20)의 타단과 접촉하는 프로브 핀(230)을 내장한 테스터용 커넥터(200)를 포함하는 PCB 모듈용 테스트 커넥터 조립체를 제공하는 바, 이와 같은 테스트용 커넥터의 구체적인 예는 도 5에 도시한 바와 같다.

상기 도 5에 도시한 테스트용 커넥터가 결합하는 과정은 도 6 내지 도 7에 도시한 바와 같다. 이에 따르면, 왼쪽 및 오른쪽 디바이더 각각에 별도의 테스트용 커넥터가 연결되어 상기 정렬핀에 및 정렬홈을 통하여 정확히 정렬되어 테스트용 커넥터가 삽입되어지고, 삽입이 진행됨에 따라 도 7에 도시한 바와 같이 도전 접촉핀과 프로브 핀의 접촉이 이루어진다. (여기서 상기 정렬핀과 정렬홈의 관계를 그 상하관계가 뒤바뀐 경우도 가능함은 물론이다.)

여기서 상기 프로브 핀은 바람직하게는 도시한 바와 같이, 포고 핀인 것이 좋고, 이 경우에 상기 테스터용 커넥터(200)는 도시한 바와 같이 하부에서 상기 포고 핀의 고정부 측을 수용하고, 상부는 상부로 개방된 상기 삽입구(220)를 가지고, 상기 포고 핀의 탄성 변형부 측이 상기 삽입구(220) 측을 향하도록 수용하는 것이 바람직하다. 이를 통하여 포고 핀의 탄성변형을 수반한 접촉이 이루어져 충분한 접촉압력과 정확한 정렬이 함께 이루어지며, 불완전 정렬시의 파손을 방지할 수 있 다.

본 발명의 PCB 모듈용 테스트 커넥터 및 이의 조립체에 따르면, 커넥터의 제작 시에 다수의 절곡부위를 가지는 도전 접촉핀을 제작할 필요가 없고, 종래와 같은 다수의 도전 접촉핀을 일일이 조립하여야 하는 번거로움을 제거하여 커넥터의 제작이 용이하고, 저렴하게 이를 생산할 수 있는 장점이 있다.

또한 본 발명에 따르면 도전 접촉부의 절곡부위가 최소화되고, 절곡양도 최소화되므로 절곡 및 테스트의 반복에 따른 결함 발생률을 낮출 수 있을 뿐만 아니라, 결함 발생시에 육안으로 이를 바로 확인할 수 있는 장점이 있다.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의하여 한정되는 것은 아니고, 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 해당 기술분야의 당업자가 다양하게 수정 및 변경시킨 것 또한 본 발명의 범위 내에 포함됨은 물론이다.

Claims (5)

1. PCB 모듈의 연결단자 표면과 나란한 접촉면을 가지며, 상기 접촉면에 수직한 관통구멍을 가지는 디바이더;

   상기 디바이더의 관통구멍에 일단이 삽입되어 상기 접촉면의 표면으로 상기 일단의 끝단이 돌출하고, 타단은 상기 PCB 모듈의 연결단자 표면과 나란한 접촉면에 나란하게 절곡되어 ㄱ자 형상을 가지는 도전 접촉핀; 및,

   상기 도전 접촉핀 타단에 연결되어 위치하고, 상기 PCB 모듈을 수직하게 수용하여 상기 PCB 모듈의 일단을 고정하는 고정부와 상기 도전 접촉핀의 타단이 관통하여 그 끝단이 하부로 돌출하게 상기 도전 접촉핀을 수용하는 수용구멍을 가지는 피치가이드를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB 모듈용 테스트 커넥터.
2. 제1항에 있어서,

   상기 디바이더는 PCB 모듈을 기준으로 전면 및 후면에 각각 대칭으로 또는 상하로 엇갈리게 쌍으로 배치되는 것을 특징으로 하는 PCB 모듈용 테스트 커넥터.
3. 제1항에 있어서,

   상기 피치가이드의 하부에는 하부로 돌출한 정렬핀을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB 모듈용 테스트 커넥터.
4. 제3항의 PCB 모듈용 테스트 커넥터; 및,

   제3항의 정렬핀에 결합하는 정렬홈과 상기 도전 접촉핀의 타단을 수용하는 삽입구를 상부에 가지고, 상기 삽입구의 내부에는 상기 PCB 모듈용 테스트 커넥터와 결합시 상기 도전 접촉핀의 타단과 접촉하는 프로브 핀을 내장한 테스터용 커넥터를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB 모듈용 테스트 커넥터 조립체.
5. 제4항에 있어서,

   상기 프로브 핀은 포고 핀이고,

   상기 테스터용 커넥터는 하부에서 상기 포고 핀의 고정부 측을 수용하고, 상부는 상부로 개방된 상기 삽입구를 가지고, 상기 포고 핀의 탄성 변형부 측이 상기 삽입구 측을 향하도록 수용하는 것을 특징으로 하는 PCB 모듈용 테스트 커넥터 조립체.

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