KR102487517B1 - 플러그 장치 및 그를 포함하는 테스트 시스템 - Google Patents
플러그 장치 및 그를 포함하는 테스트 시스템 Download PDFInfo
- Publication number
- KR102487517B1 KR102487517B1 KR1020220007667A KR20220007667A KR102487517B1 KR 102487517 B1 KR102487517 B1 KR 102487517B1 KR 1020220007667 A KR1020220007667 A KR 1020220007667A KR 20220007667 A KR20220007667 A KR 20220007667A KR 102487517 B1 KR102487517 B1 KR 102487517B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- connector
- plug housing
- insulating member
- terminal pin
- plug
- Prior art date
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 32
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 240000005561 Musa balbisiana Species 0.000 description 1
- 235000018290 Musa x paradisiaca Nutrition 0.000 description 1
- 229910000639 Spring steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/648—Protective earth or shield arrangements on coupling devices, e.g. anti-static shielding
- H01R13/658—High frequency shielding arrangements, e.g. against EMI [Electro-Magnetic Interference] or EMP [Electro-Magnetic Pulse]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/62—Means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts or for holding them in engagement
- H01R13/629—Additional means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts, e.g. aligning or guiding means, levers, gas pressure electrical locking indicators, manufacturing tolerances
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
- H01R2201/20—Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes
Landscapes
- Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
Abstract
본 발명은 플러그 장치 및 그를 포함하는 테스트 시스템에 관한 것으로, 본 발명의 일 실시 예에 따른 테스트 시스템은 복수개의 제1 소켓 및 복수개의 제2 소켓이 일렬로 배치된 단자대 모듈과; 상기 복수개의 제1 소켓과 결합되는 복수개의 제1 커넥터와; 상기 복수개의 제2 소켓과 결합되는 복수개의 제2 커넥터와; 상기 제1 커넥터 및 상기 제2 커넥터를 연결하는 케이블을 포함하며, 상기 제1 커넥터는 상기 제1 소켓에 삽입되는 제1 단자핀과; 상기 제1 단자핀과 결합되는 제1 플러그 하우징을 포함하며, 상기 제2 커넥터는 상기 제2 소켓에 삽입되는 제2 단자핀과; 상기 제2 단자핀과 결합되는 제2 플러그 하우징을 포함하며, 상기 제1 소켓에 삽입된 상기 제1 커넥터의 제1 플러그 하우징은 상기 제2 소켓에 삽입된 상기 제2 커넥터의 제2 플러그 하우징과 서로 엇갈리게 배치될 수 있다.
Description
본 발명은 플러그 장치 및 그를 포함하는 테스트 시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는 커넥터들 간의 상호 간섭을 방지할 수 있는 플러그 장치 및 그를 포함하는 테스트 시스템에 관한 것이다.
각종 전기 기기나 전자 기기는 물론 제어나 통신 분야에 이르기 까지, 거의 모든 산업분야에서 다양한 방식의 신호 전달용 커넥터가 사용되고 있다. 이러한 커넥터는, 전원과 장비(전기장비, 전자장비, 제어장비, 통신 장비 또는 시험 장비 등)를 접속시키거나, 장비들을 서로 간에 연결하여 신호를 주고받을 수 있게 하는 역할을 한다. 이를 위해, 커넥터의 일단(예: 플러그 하우징 또는 몸체)은 장비의 단자대에 연결될 수 있으며, 커넥터의 타단은 케이블에 연결될 수 있다.
그러나, 플러그 하우징이 체적이 단자대의 소켓보다 큰 경우, 플러그 하우징들 간의 상호 간섭이 생겨 커넥터를 단자대에 연결하기 힘들 수 있다. 또한, 플러그 하우징과 단자대의 체적 차이에 의해 플러그 하우징들 사이에 발생되는 상호작용의 힘에 의해, 커넥터가 단자대에서 접촉되지 못하고 이탈하는 불량이 발생될 수 있다. 특히, 테스트시 커넥터가 단자대에서 분리되면 전기적 사고나 기기의 손상이 발생될 수 있다. 뿐만 아니라, 커넥터와 커넥터를 연결하는 케이블이 일체형으로 형성되는 경우, 케이블이 단선 되거나 파손시 교체가 쉽지 않으며 수리가 힘들며 단선 위치를 찾기 어려울 수 있다.
본 발명의 실시예는 커넥터들 간의 상호 간섭을 방지할 수 있는 플러그 장치 및 그를 포함하는 테스트 시스템을 제공하고자 한다.
본 발명의 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재들로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 테스트 시스템은 복수개의 제1 소켓 및 복수개의 제2 소켓이 일렬로 배치된 단자대 모듈과; 상기 복수개의 제1 소켓과 결합되는 복수개의 제1 커넥터와; 상기 복수개의 제2 소켓과 결합되는 복수개의 제2 커넥터와; 상기 제1 커넥터 및 상기 제2 커넥터를 연결하는 케이블을 포함하며, 상기 제1 커넥터는 상기 제1 소켓에 삽입되는 제1 단자핀과; 상기 제1 단자핀과 결합되는 제1 플러그 하우징을 포함하며, 상기 제2 커넥터는 상기 제2 소켓에 삽입되는 제2 단자핀과; 상기 제2 단자핀과 결합되는 제2 플러그 하우징을 포함하며, 상기 제1 소켓에 삽입된 상기 제1 커넥터의 제1 플러그 하우징은 상기 제2 소켓에 삽입된 상기 제2 커넥터의 제2 플러그 하우징과 서로 엇갈리게 배치될 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 커넥터는 적어도 일부가 상기 제1 단자핀과 상기 제1 플러그 하우징 사이에 배치되는 제1 절연 부재를 더 포함하며, 상기 제2 커넥터는 적어도 일부가 상기 제2 단자핀과 상기 제1 플러그 하우징 사이에 배치되는 제2 절연 부재를 더 포함하며, 상기 제2 절연 부재의 길이는 상기 제1 절연 부재의 길이보다 길게 형성될 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 절연 부재는 상기 제1 플러그 하우징보다 돌출된 영역이 제1 길이를 가지며, 상기 제2 절연 부재는 상기 제2 플러그 하우징보다 돌출된 영역이 제1 길이보다 긴 제2 길이를 가질 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 커넥터는 상기 제1 단자핀과 전기적으로 연결되며 상기 제1 절연 부재에 의해 감싸지는 제1 도전 부재를 더 포함하며, 상기 제2 커넥터는 상기 제2 단자핀과 전기적으로 연결되며 상기 제2 절연 부재에 의해 감싸지는 제2 도전 부재를 더 포함하며, 상기 제2 도전 부재의 길이는 상기 제1 도전 부재의 길이보다 길게 형성될 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 제2 절연 부재의 길이는 상기 제1 플러그 하우징 및 상기 제2 플러그 하우징의 길이보다 길게 형성될 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 플러그 하우징의 최대폭은 상기 제2 플러그 하우징의 최대폭과 동일하며, 상기 제1 플러그 하우징의 최대폭은 상기 제2 절연 부재의 외경보다 크게 형성되며, 상기 제2 플러그 하우징의 최대폭은 상기 제1 절연 부재의 외경보다 크게 형성될 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 소켓에 삽입된 제1 커넥터의 제1 플러그 하우징들 사이에는 제2 소켓에 삽입된 제2 커넥터의 제2 절연 부재가 배치되며, 상기 제2 소켓에 삽입된 제2 커넥터의 제1 플러그 하우징들 사이에는 상기 케이블이 배치될 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 커넥터 및 상기 제2 커넥터 중 적어도 어느 하나는 상기 케이블이 삽입되는 접속홈을 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 플러그 장치는 케이블과; 상기 케이블과 연결되는 제1 커넥터와; 상기 케이블과 연결되는 제2 커넥터를 포함하며, 상기 제1 커넥터는 상기 케이블이 삽입되는 제1 접속홈을 가지는 제1 플러그 하우징과; 상기 제1 플러그 하우징과 결합되는 제1 단자핀과; 적어도 일부가 상기 제1 단자핀과 상기 제1 플러그 하우징 사이에 배치되는 제1 절연 부재를 포함하며, 상기 제2 커넥터는 상기 케이블이 삽입되는 제2 접속홈을 가지는 제2 플러그 하우징과; 상기 제2 플러그 하우징과 결합되는 제2 단자핀과; 적어도 일부가 상기 제2 단자핀과 상기 제1 플러그 하우징 사이에 배치되는 제2 절연 부재를 포함하며, 상기 제2 절연 부재의 길이는 상기 제1 절연 부재의 길이보다 길게 형성될 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따르면, 제1 플러그 하우징 및 제2 플러그 하우징 간의 상호 간섭없이 제1 커넥터 및 제2 커넥터 각각과 단자대 모듈은 용이하게 연결될 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따르면, 제1 커넥터 및 제2 커텍터의 탈부착이 용이해질 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따르면, 케이블은 제1 커넥터 및 제2 커넥터 각각과 개별 구성으로 형성될 수 있다. 이에 따라, 케이블의 파손시 케이블을 용이하게 교체할 수 있으므로, 리워크 공정의 편리성과 안정성이 높아질 수 있다.
이 외에, 본 문서를 통해 직접적 또는 간접적으로 파악되는 다양한 효과들이 제공될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 테스트 시스템의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1에 도시된 본 발명의 일 실시 예에 따른 플러그 장치를 나타내는 사시도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1 커넥터를 나타내는 사시도이다.
도 4a 및 도 4b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1 커넥터를 나타내는 단면도들이다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제2 커넥터를 나타내는 사시도이다.
도 6a 및 도 6b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제2 커넥터를 나타내는 단면도들이다.
도 7a 내지 도 7c는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1 커넥터 및 제2 커넥터를 후면에서 바라본 도면이며, 도 7d 내지 도 7f는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1 커넥터 및 제2 커넥터를 측면에서 바라본 도면이며, 도 7g 내지 도 7i는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1 커넥터 및 제2 커넥터를 전면에서 바라본 도면이다.
도 8a 및 도 8b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1 및 제2 커넥터와 단자대 모듈의 연결 관계를 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 도 1에 도시된 본 발명의 일 실시 예에 따른 플러그 장치를 나타내는 사시도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1 커넥터를 나타내는 사시도이다.
도 4a 및 도 4b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1 커넥터를 나타내는 단면도들이다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제2 커넥터를 나타내는 사시도이다.
도 6a 및 도 6b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제2 커넥터를 나타내는 단면도들이다.
도 7a 내지 도 7c는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1 커넥터 및 제2 커넥터를 후면에서 바라본 도면이며, 도 7d 내지 도 7f는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1 커넥터 및 제2 커넥터를 측면에서 바라본 도면이며, 도 7g 내지 도 7i는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1 커넥터 및 제2 커넥터를 전면에서 바라본 도면이다.
도 8a 및 도 8b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1 및 제2 커넥터와 단자대 모듈의 연결 관계를 설명하기 위한 도면이다.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명의 실시예를 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 실시예에 대한 이해를 방해한다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
본 발명의 실시예의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 또한, 다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가진 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
이하, 도 1 내지 도 10을 참조하여, 본 발명의 실시예들을 구체적으로 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 테스트 시스템을 설명하기 위한 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 테스트 시스템은 플러그 장치(100)를 이용한 계전기 테스트 시스템일 수 있다. 일 실시 예에 따른 계전기 테스트 시스템을 통해 전기설비 수배 전반의 각종 계기류의 점검이나 계전기 시험이 수행될 수 있다. 이를 위해, 테스트 시스템은 테스트 장치(102), 단자대 모듈(110) 및 플러그 장치(100)를 포함할 수 있다.
테스트 장치(102)는 테스트용 전류 또는 테스트용 전압을 생성할 수 있다.
단자대 모듈(110)은 플러그 장치(100)와 전기적으로 접속될 수 있는 복수개의 소켓을 포함할 수 있다. 단자대 모듈(110)은 변류기(104) 및 변압기(106) 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 일 예로, 단자대 모듈(110)은 전류계의 측정 범위를 확대하기 위한 변류기(104)를 포함할 수 있다. 다른 예로, 단자대 모듈(110)은 변류기(104) 대신에 전압을 변환시켜주는 변압기(106)를 포함할 수 있다.
플러그 장치(100)는 테스트 장치(102)와 단자대 모듈(110) 사이에 배치되어 테스트 장치(102)와 단자대 모듈(110)를 전기적으로 연결할 수 있다. 플러그 장치(100)는 테스트 장치(102)에서 생성된 테스트용 전류 또는/및 테스트용 전압을 단자대(100)로 전송할 수 있다.
플러그 장치(100)는 도 2에 도시된 바와 같이 제1 커넥터(200) 및 제2 커넥터(300)를 포함할 수 있다. 플러그 장치(100)는 제1 커넥터(200) 및 제2 커넥터(300)를 연결하는 케이블(400)을 포함할 수 있다. 플러그 장치(100)에 대해, 도 3 내지 도 6b를 이용하여 구체적으로 설명하기로 한다.
도 3 내지 도 4b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1 커넥터를 나타내는 도면이며, 도 5 내지 도 6b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제2 커넥터를 나타내는 도면이다. 이하에서는 설명의 편의를 위해, 사시도인 도 3 및 도 5를 기준으로 했을 때, x축 방향(또는 제2 방향)은 커넥터의 폭 방향으로, y축 방향(또는 제1 방향)은 커넥터의 길이 방향으로, z축 방향(또는 제3 방향)은 커넥터의 높이 방향으로 설명하기로 한다.
도 3 내지 도 6b를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 플러그 장치는 제1 커넥터(200) 및 제2 커넥터(300)를 포함할 수 있다.
제1 커넥터(200)는 도 3 내지 도 4b에 도시된 바와 같이 제1 플러그 하우징(202)과, 제1 단자핀(204)과, 제1 버튼 부재(208)와, 제1 절연 부재(206)와, 적어도 하나의 제1 접속홈(210) 및 제1 도전 부재(220)를 포함할 수 있다.
제1 플러그 하우징(202)은 실리콘과 같은 절연 재질로 형성되어 감전을 방지할 수 있다. 제1 플러그 하우징(202)은 제1 도전 부재(220), 제1 버튼 부재(208) 및 제1 절연 부재(206) 중 적어도 어느 하나의 적어도 일부를 수용할 수 있는 공간을 마련할 수 있다. 제1 플러그 하우징(202) 내에는 적어도 하나의 접속홈(210)이 배치될 수 있다.
적어도 하나의 접속홈(210)은 제1 플러그 하우징(202)의 타측면(예: -y축을 향하는 면)에 형성될 수 있다. 적어도 하나의 접속홈(210)은 제1 서브 접속홈(211) 및 제2 서브 접속홈(212)을 포함할 수 있다.
제1 서브 접속홈(211)은 제1 플러그 하우징(202)의 타측면(예: -y축 방향을 향하는 면)으로부터 일측면(예: +y축 방향을 향하는 면)을 향해 오목하게 형성될 수 있다. 제1 서브 접속홈(211)의 수직 단면은 다각형 형태로 형성될 수 있다. 제1 서브 접속홈(211) 내에는 제1 커넥터(200)와 제2 커넥터(300)를 연결하는 케이블(400)이 삽입될 수 있다. 케이블(400)은 제1 커넥터(300) 및 제2 커넥터(400) 각각과 일체화되지 않고, 제1 커넥터(300) 및 제2 커넥터(400) 각각과 별개의 구성으로 형성될 수 있다.
제2 서브 접속홈(212)은 제1 플러그 하우징(202)의 타측면(예: -y축 방향을 향하는 면)으로부터 일측면(예: +y축 방향을 향하는 면)을 향해 오목하게 형성될 수 있다. 제2 서브 접속홈(212)은 제1 서브 접속홈(211)과 상하로 배치되거나 좌우로 형성될 수 있다. 예를 들어, 제2 서브 접속홈(212)은 제1 서브 접속홈(211)과 제3 방향(예: +z축 방향)과 나란하게 상하로 배치될 수 있다. 제2 서브 접속홈(212)의 수직 단면은 원형 또는 타원형으로 형성될 수 있다. 제2 서브 접속홈(212) 내에는 제1 커넥터(200) 및 제2 커넥터(300) 중 적어도 어느 하나와 동일 형태의 커넥터 또는 다른 형태의 커넥터의 단자핀이 삽입될 수 있다. 이와 같이, 제2 서브 접속홈(212)을 통해 복수개의 커넥터들이 다단 결합될 수 있으므로, 단자대 모듈(110)과 테스트 장치(102) 사이의 배선 길이를 보다 확장 또는 증설시킬 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 제2 서브 접속홈(212)을 통해 제1 커넥터(200)는 타장비 단자 및 계측 장비와 전기적으로 연결될 수 있으므로, 즉각(또는, 실시간으로) 계측값이 확인될 수 있다. 제2 서브 접속홈(212)에는 타 장비 단자 및 계측 장비 중 어느 하나의 접속 부재(예: 단자핀)가 삽입되고, 제1 커넥터(200)의 제1 단자핀(204)은 타 장비 단자 및 계측 장비 중 나머지 하나에 삽입될 수 있다.
제1 단자핀(204)은 제1 플러그 하우징(202)의 일측면(예: +y축을 향하는 면)으로부터 제1 방향을 향해 외부로 돌출되어 외부 장비인 단자대 모듈(110)에 형성된 소켓(미도시)에 삽입될 수 있다. 제1 단자핀(204)은 구리, 주석 또는 이들의 합금을 이용하여 형성될 수 있다. 예를 들어, 제1 단자핀(204)은 구리 표면에 주석을 도금함으로써 형성될 수 있다. 제1 단자핀(204)은 제1 도전 부재(220)와 체결되거나 일체화될 수 있다. 예를 들어, 제1 단자핀(204)은 탄성력을 가지는 바나나잭 타입으로 형성되어 제1 도전 부재(220)와 결합될 수 있다.
제1 단자핀(204)은 복수개의 절개 영역(203)을 포함할 수 있다. 복수개의 절개 영역(203) 각각은 제1 단자핀(204)의 길이 방향으로 절개될 수 있다. 복수개의 절개 영역(203)은 제1 단자핀(204)의 둘레 방향으로 일정 간격씩 이격될 수 있다. 제1 단자핀(204)은 절개 영역들(203) 사이에서 외측으로 구부러진 형태로 형성될 수 있다.
제1 도전 부재(220)는 제1 도전 영역(221), 제2 도전 영역(222) 및 제3 도전 영역(223)을 포함할 수 있다. 제1 도전 영역(221)은 제1 서브 접속홈(211) 내에 형성되어 케이블(400)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제1 도전 영역(221)은 제1 버튼 부재(208)와 물리적으로 결합될 수 있다. 제1 도전 영역(221)은 제1 버튼 부재(208)에서 제1 서브 접속홈(211)의 입구를 향해 경사지게 형성될 수 있다.
제2 도전 영역(222)은 제2 서브 접속홈(212) 내에 형성되어 별도의 제1 커넥터와 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 도전 영역(222)은 제2 서브 접속홈(212)을 둘러싸도록 형성될 수 있다. 제3 도전 영역(223)은 제1 단자핀(204)과 동일하게 길이 방향으로 신장될 수 있다. 제3 도전 영역(223)의 일부 영역은 제1 플러그 하우징(202)의 일측면보다 외부로 돌출되어 제1 단자핀(204)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제3 도전 영역(223)의 나머지 영역은 제1 플러그 하우징(202)의 내부에 배치되어 제1 도전 영역(221) 및 제2 도전 영역(222)과 전기적으로 연결될 수 있다.
제1 도전 영역(221), 제2 도전 영역(222) 및 제3 도전 영역(223)은 서로 다른 재질로 형성되거나, 제1 도전 영역(221)은 제2 도전 영역(222) 및 제3 도전 영역(223) 중 적어도 어느 하나와 동일한 재질로 형성될 수 있다. 예를 들어, 제1 도전 영역(221)은 크롬 또는/및 니켈을 이용한 스프링 스틸 재질로 형성될 수 있다. 제1 도전 영역(221)은 케이블(400)의 삽입과 교체가 용이하도록 제2 도전 영역(222) 및 제3 도전 영역(223) 중 적어도 어느 하나보다 강성이 높거나 동일한 재질로 형성될 수 있다.
제1 도전 부재(220)는 신호의 전송 경로를 제공할 수 있다. 일 예로, 제1 도전 부재(220)는 제1 서브 접속홈(211)에 삽입되는 케이블(400) 및 제2 서브 접속홈(212)에 삽입되는 외부 커넥터 중 적어도 어느 하나를 통해 공급되는 동작 신호를 제1 단자핀(204)을 통해 단자대 모듈(110)에 전송할 수 있다. 다른 예로, 제1 도전 부재(220)는 제1 단자핀(204)을 통해 공급된 동작 신호를 제1 서브 접속홈(211)에 삽입되는 케이블(400) 및 제2 서브 접속홈(212)에 삽입된 외부 커넥터 중 적어도 어느 하나에 전송할 수 있다.
제1 절연 부재(206)는 제1 단자핀(204)과 전기적 및 물리적으로 결합되는 제1 도전 부재(220)의 적어도 일부를 감싸도록 형성될 수 있다. 제1 절연 부재(206)는 외부로 노출되는 제3 도전 영역(223)의 적어도 일부를 감싸도록 형성됨으로써 감전을 방지할 수 있다. 제1 절연 부재(206)는 실리콘과 같은 절연 재질로 형성될 수 있다.
제1 버튼 부재(208)는 제1 플러그 하우징(202)의 내부로 인입가능하도록 형성될 수 있다. 제1 버튼 부재(208)는 예를 들어 폴리카보네이트 등과 같은 플라스틱 재질로 형성될 수 있다. 제1 버튼 부재(208)의 일단은 제1 도전 부재(220)의 제1 도전 영역(221)과 접촉하고, 제1 버튼 부재(208)의 타단은 제1 플러그 하우징(202)의 상부면(예: +z축을 향하는 면)으로 돌출될 수 있다. 제1 버튼 부재(208)를 제1 플러그 하우징(202)의 하부면(예: -z축을 향하는 면)을 향하는 방향으로 누르면, 제1 버튼 부재(208)와 연결된 제1 도전 영역(221)이 의해 압축될 수 있다. 이에 따라, 제1 서브 접속홈(211)의 공간이 넓어져 케이블(400)은 제1 서브 접속홈(211) 내로 쉽게 삽입될 수 있다. 또한, 제1 서브 접속홈(211) 내에 삽입된 케이블(300)이 파손되거나 단선시, 제1 버튼 부재(208)를 누르면, 케이블(400)과 제1 커넥터(200)와의 결합이 쉽게 해제될 수 있다. 이에 따라, 파손되거나 단선된 케이블(400)은 빠르게 교체될 수 있다.
제2 커넥터(300)는 도 5 내지 도 6b에 도시된 바와 같이 제2 플러그 하우징(302)과, 제2 단자핀(304)과, 제2 버튼 부재(308)와, 제2 절연 부재(306)와, 적어도 하나의 제2 접속홈(310) 및 제2 도전 부재(320)를 포함할 수 있다. 제2 커넥터(300)에 대한 설명은 전술한 제1 커넥터(200)에 대한 설명을 준용할 수 있다. 예를 들어, 제2 커넥터(300)의 제2 플러그 하우징(302)과, 제2 절개 영역(303)을 가지는 제2 단자핀(304)과, 제2 버튼 부재(308)와, 제2 절연 부재(306)와, 적어도 하나의 제2 접속홈(310) 및 제2 도전 부재(320) 각각의 설명은 제1 커넥터(200)의 제1 플러그 하우징(202)과, 제1 절개 영역(203)을 가지는 제1 단자핀(204)과, 제1 버튼 부재(208)와, 제1 절연 부재(206)와, 적어도 하나의 제1 접속홈(210) 및 제1 도전 부재(220) 각각에 대한 설명을 준용할 수 있다. 제1 커넥터(200) 및 제2 커넥터(300)는 서로 동일하거나 대칭되는 형상 및/또는 동일한 소재로 형성될 수 있으나 이에 제한되는 것은 아니다. 예를 들어, 제3 서브 접속홈(311) 및 제4 서브 접속홈(312)을 포함하는 제2 접속홈(310)의 설명은 제1 서브 접속홈(211) 및 제2 서브 접속홈(212)을 포함하는 제1 접속홈(210)에 대한 설명을 준용할 수 있으나, 서로 형상이 다를 수 있다. 또한, 제2 절연 부재(306)의 설명은 제1 절연 부재(206)의 설명을 준용할 수 있으나, 서로 다른 길이로 형성될 수 있다. 뿐만 아니라, 제4 도전 영역(321), 제5 도전 영역(322) 및 제6 도전 영역(323)을 포함하는 제1 도전 부재(220)에 대한 설명은 제1 도전 영역(221), 제2 도전 영역(222) 및 제3 도전 영역(223)을 포함하는 제1 도전 부재(220)에 대한 설명을 준용할 수 있으나, 제3 도전 영역(223) 및 제6 도전 영역(323)은 서로 다른 길이로 형성될 수 있다.
도 7a 내지 도 7c는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1 커넥터 및 제2 커넥터를 후면에서 바라본 도면이며, 도 7d 내지 도 7f는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1 커넥터 및 제2 커넥터를 측면에서 바라본 도면이며, 도 7g 내지 도 7i는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1 커넥터 및 제2 커넥터를 전면에서 바라본 도면이다.
도 7a 내지 도 7i를 참조하면, 제1 커넥터(200)의 제1 플러그 하우징(202)은 제2 커넥터(300)의 제2 플러그 하우징(302)과 크기가 서로 동일하거나 유사할 수 있다. 예를 들어, 제1 커넥터(200)의 제1 플러그 하우징(202)은 제2 커넥터(300)의 제2 플러그 하우징(302)과 폭, 길이 및 두께가 서로 동일할 수 있다.
제1 커넥터(200)의 제1 플러그 하우징(202)의 제1 최대폭(W1)은 제2 커넥터(300)의 제2 절연 부재(306)의 제2 외경(Wb)보다 크게 형성될 수 있다. 제2 커넥터(300)의 제2 플러그 하우징(302)의 제2 최대폭(W2)은 제1 커넥터(200)의 제1 절연 부재(206)의 제1 외경(Wa)보다 크게 형성될 수 있다. 제2 외경(Wb)은 제1 외경(Wa)과 동일하거나 유사할 수 있다.
제2 커넥터(300)의 제2 절연 부재(306)의 길이는 제1 커넥터(200)의 제1 절연 부재(206)의 길이보다 길게 형성될 수 있다. 예를 들어, 제2 플러그 하우징(302)보다 돌출된 제2 절연 부재(306)의 제2 길이(L2)는 제1 플러그 하우징(202)보다 돌출된 제1 절연 부재(206)의 제1 길이(L1)보다 길게 형성될 수 있다. 제2 길이(L2)는 제1 플러그 하우징(202) 및 제2 플러그 하우징(302) 중 적어도 어느 하나의 제3 길이(L3) 및 폭 중 적어도 어느 하나보다 길게 형성될 수 있다. 제1 길이(L1)는 제3 길이(L3)보다 짧게 형성될 수 있다.
도 8a 및 도 8b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1 및 제2 커넥터와 단자대 모듈의 연결 관계를 설명하기 위한 도면이다.
도 8a 및 도 8b를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 단자대 모듈(110)은 복수개의 제1 커넥터(200)가 삽입될 복수개의 제1 소켓(111)과, 복수개의 제2 커넥터(300)가 삽입될 복수개의 제2 소켓(112)을 포함할 수 있다. 복수개의 제1 소켓(111) 및 복수개의 제2 소켓(112)은 동일 선상에 배치될 수 있다. 복수개의 제1 소켓(111) 각각은 복수개의 제2 소켓(112) 각각과 교번되게 배치될 수 있다. 제1 소켓(111)과 제2 소켓(112)은 크기 및 형태 면에서 서로 동일하거나 유사할 수 있다.
제1 소켓(111)에는 제1 커넥터(200)의 제1 단자핀(204)이 삽입되며, 제2 소켓(112)에는 제2 커넥터(300)의 제2 단자핀(304)이 삽입될 수 있다. 이 때, 제1 커넥터(200)의 제1 플러그 하우징(202)과, 제2 커넥터(300)의 제2 플러그 하우징(302)은 서로 엇갈리게 배치될 수 있다.
제1 플러그 하우징들(202) 사이에는 제2 커넥터(300)의 제2 절연 부재(306)가 배치될 수 있다. 인접한 제1 플러그 하우징들(202)의 이격 거리는 제2 절연 부재(306)의 제2 외경(Wb)보다 크게 형성될 수 있다. 이에 따라, 제2 커넥터(300)는 제1 플러그 하우징들(202) 사이의 이격 공간을 통해 단자대 모듈(110)에 용이하게 삽입될 수 있다.
제2 플러그 하우징들(302) 사이에는 케이블(400)이 배치될 수 있다. 인접한 제2 플러그 하우징들(302)의 이격 거리는 케이블(400)의 외경보다 크게 형성될 수 있다. 인접한 제2 절연 부재들(306)의 이격 거리는 제1 플러그 하우징(202)의 최대폭보다 크게 형성될 수 있다. 이에 따라, 제1 커넥터(200)는 제2 플러그 하우징들(302) 사이의 이격 공간과, 제2 커넥터(300)의 제2 절연 부재들(306) 사이의 이격 공간을 통해 단자대 모듈(110)에 용이하게 삽입될 수 있다.
제2 플러그 하우징(302)보다 돌출된 제2 절연 부재(306)의 길이는 제1 플러그 하우징(202) 및 상기 제2 플러그 하우징(302)의 길이보다 길게 형성될 수 있다. 이에 따라, 제1 플러그 하우징(202) 및 제2 플러그 하우징(302)은 서로 중첩없이 지그재그 형태로 배치될 수 있다.
이와 같이, 본 발명의 일 실시 예에 따르면, 제1 소켓(111)에 삽입된 제1 커넥터(200)의 제1 플러그 하우징(202)은 제2 소켓(112)에 삽입된 제2 커넥터(300)의 제2 플러그 하우징(302)과 서로 엇갈리게 배치될 수 있다. 이에 따라, 제1 커넥터(200) 및 제2 커넥터(300) 각각은 제1 플러그 하우징(202) 및 제2 플러그 하우징(302) 간의 상호 간섭없이 단자대 모듈(110)에 용이하게 연결될 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시 예는 상대적으로 짧은 제1 절연 부재(206)를 가지는 제1 커넥터(200)와, 상대적으로 긴 제2 절연 부재(306)를 가지는 제2 커텍터(300)를 구비할 수 있다. 이에 따라, 단자대 모듈의 좁은 공간에서 제1 커넥터 및 제2 커넥터의 탈부착이 용이해질 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시 예에 따르면, 케이블(400)은 제1 커넥터 및 제2 커넥터 각각과 별개의 구성으로 형성되므로, 케이블(400)의 파손시 케이블(400)을 용이하게 교체할 수 있어 리워크 공정의 편리성과 안정성을 높일 수 있다.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
Claims (13)
- 복수개의 제1 소켓 및 복수개의 제2 소켓이 일렬로 배치된 단자대 모듈과;
상기 복수개의 제1 소켓과 결합되는 복수개의 제1 커넥터와;
상기 복수개의 제2 소켓과 결합되는 복수개의 제2 커넥터와;
상기 제1 커넥터 및 상기 제2 커넥터를 연결하는 케이블을 포함하며,
상기 제1 커넥터는
상기 제1 소켓에 삽입되는 제1 단자핀과;
상기 제1 단자핀과 결합되는 제1 플러그 하우징과;
적어도 일부가 상기 제1 단자핀과 상기 제1 플러그 하우징 사이에 배치되는 제1 절연 부재를 포함하며,
상기 제2 커넥터는
상기 제2 소켓에 삽입되는 제2 단자핀과;
상기 제2 단자핀과 결합되는 제2 플러그 하우징과;
적어도 일부가 상기 제2 단자핀과 상기 제1 플러그 하우징 사이에 배치되는 제2 절연 부재를 포함하며,
상기 제2 절연 부재의 길이는 상기 제1 절연 부재의 길이보다 긴, 테스트 시스템. - 제 1 항에 있어서,
상기 제1 플러그 하우징은 상기 제2 플러그 하우징과 서로 엇갈리게 배치되는 테스트 시스템. - 제 1 항에 있어서,
상기 제1 절연 부재는 상기 제1 플러그 하우징보다 돌출된 영역이 제1 길이를 가지며,
상기 제2 절연 부재는 상기 제2 플러그 하우징보다 돌출된 영역이 제1 길이보다 긴 제2 길이를 가지는, 테스트 시스템. - 제 1 항에 있어서,
상기 제1 커넥터는
상기 제1 단자핀과 전기적으로 연결되며 상기 제1 절연 부재에 의해 감싸지는 제1 도전 부재를 더 포함하며,
상기 제2 커넥터는
상기 제2 단자핀과 전기적으로 연결되며 상기 제2 절연 부재에 의해 감싸지는 제2 도전 부재를 더 포함하며,
상기 제2 도전 부재의 길이는 상기 제1 도전 부재의 길이보다 긴, 테스트 시스템. - 제 1 항에 있어서,
상기 제2 절연 부재의 길이는 상기 제1 플러그 하우징 및 상기 제2 플러그 하우징의 길이보다 길게 형성되는, 테스트 시스템. - 제 1 항에 있어서,
상기 제1 플러그 하우징의 최대폭은 상기 제2 플러그 하우징의 최대폭과 동일하며,
상기 제1 플러그 하우징의 최대폭은 상기 제2 절연 부재의 외경보다 크게 형성되며,
상기 제2 플러그 하우징의 최대폭은 상기 제1 절연 부재의 외경보다 크게 형성되는, 테스트 시스템. - 제 1 항에 있어서,
상기 제1 소켓에 삽입된 제1 커넥터의 제1 플러그 하우징들 사이에는 제2 소켓에 삽입된 제2 커넥터의 제2 절연 부재가 배치되며,
상기 제2 소켓에 삽입된 제2 커넥터의 제1 플러그 하우징들 사이에는 상기 케이블이 배치되는 테스트 시스템. - 제 1 항에 있어서,
상기 제1 커넥터 및 상기 제2 커넥터 중 적어도 어느 하나는 상기 케이블이 삽입되는 접속홈을 더 포함하는 테스트 시스템. - 케이블과;
상기 케이블과 연결되는 제1 커넥터와;
상기 케이블과 연결되는 제2 커넥터를 포함하며,
상기 제1 커넥터는
상기 케이블이 삽입되는 제1 접속홈을 가지는 제1 플러그 하우징과;
상기 제1 플러그 하우징과 결합되는 제1 단자핀과;
적어도 일부가 상기 제1 단자핀과 상기 제1 플러그 하우징 사이에 배치되는 제1 절연 부재를 포함하며,
상기 제2 커넥터는
상기 케이블이 삽입되는 제2 접속홈을 가지는 제2 플러그 하우징과;
상기 제2 플러그 하우징과 결합되는 제2 단자핀과;
적어도 일부가 상기 제2 단자핀과 상기 제1 플러그 하우징 사이에 배치되는 제2 절연 부재를 포함하며,
상기 제2 절연 부재의 길이는 상기 제1 절연 부재의 길이보다 긴, 플러그 장치. - 제 9 항에 있어서,
상기 제1 절연 부재는 상기 제1 플러그 하우징보다 돌출된 영역이 제1 길이를 가지며,
상기 제2 절연 부재는 상기 제2 플러그 하우징보다 돌출된 영역이 제1 길이보다 긴 제2 길이를 가지는, 플러그 장치. - 제 9 항에 있어서,
상기 제1 커넥터는
상기 제1 단자핀과 전기적으로 연결되며 상기 제1 절연 부재에 의해 감싸지는 제1 도전 부재를 더 포함하며,
상기 제2 커넥터는
상기 제2 단자핀과 전기적으로 연결되며 상기 제2 절연 부재에 의해 감싸지는 제2 도전 부재를 더 포함하며,
상기 제2 도전 부재의 길이는 상기 제1 도전 부재의 길이보다 긴, 플러그 장치. - 제 9 항에 있어서,
상기 제2 절연 부재의 길이는 상기 제1 플러그 하우징 및 상기 제2 플러그 하우징의 길이보다 길게 형성되는, 플러그 장치. - 제 9 항에 있어서,
상기 제1 플러그 하우징의 최대폭은 상기 제2 플러그 하우징의 최대폭과 동일하며,
상기 제1 플러그 하우징의 최대폭은 상기 제2 절연 부재의 외경보다 크게 형성되며,
상기 제2 플러그 하우징의 최대폭은 상기 제1 절연 부재의 외경보다 크게 형성되는, 플러그 장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020220007667A KR102487517B1 (ko) | 2022-01-19 | 2022-01-19 | 플러그 장치 및 그를 포함하는 테스트 시스템 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020220007667A KR102487517B1 (ko) | 2022-01-19 | 2022-01-19 | 플러그 장치 및 그를 포함하는 테스트 시스템 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR102487517B1 true KR102487517B1 (ko) | 2023-01-12 |
Family
ID=84923620
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020220007667A KR102487517B1 (ko) | 2022-01-19 | 2022-01-19 | 플러그 장치 및 그를 포함하는 테스트 시스템 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102487517B1 (ko) |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20080027132A (ko) * | 2006-09-22 | 2008-03-26 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 전자부품 시험장치용 인터페이스 장치 |
KR20080109528A (ko) * | 2007-06-13 | 2008-12-17 | 주식회사 오킨스전자 | 피씨비 모듈용 테스트 커넥터 |
KR20090067640A (ko) * | 2007-12-21 | 2009-06-25 | 한국단자공업 주식회사 | 협피치 커넥터 |
US20120307981A1 (en) * | 2011-06-01 | 2012-12-06 | Larkin Kevin B | Switched Multi-Lead Test Adapter |
JP2015165478A (ja) * | 2014-02-06 | 2015-09-17 | 株式会社オートネットワーク技術研究所 | 積層コネクタ |
KR20170002895A (ko) * | 2015-06-30 | 2017-01-09 | 세메스 주식회사 | 프로브 카드와 테스터를 연결하기 위한 접속 장치 |
JP2018137119A (ja) * | 2017-02-22 | 2018-08-30 | タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 | コネクタユニット |
-
2022
- 2022-01-19 KR KR1020220007667A patent/KR102487517B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20080027132A (ko) * | 2006-09-22 | 2008-03-26 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 전자부품 시험장치용 인터페이스 장치 |
KR20080109528A (ko) * | 2007-06-13 | 2008-12-17 | 주식회사 오킨스전자 | 피씨비 모듈용 테스트 커넥터 |
KR20090067640A (ko) * | 2007-12-21 | 2009-06-25 | 한국단자공업 주식회사 | 협피치 커넥터 |
US20120307981A1 (en) * | 2011-06-01 | 2012-12-06 | Larkin Kevin B | Switched Multi-Lead Test Adapter |
JP2015165478A (ja) * | 2014-02-06 | 2015-09-17 | 株式会社オートネットワーク技術研究所 | 積層コネクタ |
KR20170002895A (ko) * | 2015-06-30 | 2017-01-09 | 세메스 주식회사 | 프로브 카드와 테스터를 연결하기 위한 접속 장치 |
JP2018137119A (ja) * | 2017-02-22 | 2018-08-30 | タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 | コネクタユニット |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6846189B2 (en) | Connector | |
US7413478B2 (en) | Electric contact for contacting a protecting conductor with conductive housing | |
US7311539B2 (en) | Duplex plug adapter module | |
CN109782034B (zh) | 一种多通道探针 | |
CN102197469A (zh) | 探针块组件 | |
US20090167287A1 (en) | Method for distinguishing a first group of wires from other wires of a multi-wire cable, test connector for use in this method and a kit comprising such a multi-wire cable and test connector | |
KR102095769B1 (ko) | 일체형 갈바닉 분리부를 갖는 플러그 커넥터 그리고 차폐 요소 | |
US20070059973A1 (en) | Hot plug wire contact and connector assembly | |
JP6729657B2 (ja) | 接続切換装置 | |
CN109643873A (zh) | 具有端子的电源连接器 | |
US20220069526A1 (en) | Connector with a Position Assurance Element Having a Contact Receptacle | |
US20050159050A1 (en) | Device interface apparatus | |
KR102487517B1 (ko) | 플러그 장치 및 그를 포함하는 테스트 시스템 | |
WO2021149494A1 (ja) | ワイヤハーネス | |
CN111684671B (zh) | 具有防浪涌功能的连接器和包括该连接器的电路板 | |
CN115036755B (zh) | 用于高速线模组的测试系统 | |
US20210344133A1 (en) | Electrical connector assembly having identical electrical connectors | |
US8313341B1 (en) | Guide element for a connector device | |
CN112864764A (zh) | 用于将绝缘体套筒附接到电导体的装置 | |
JPWO2004109308A1 (ja) | デバイスインターフェース装置 | |
US20240022021A1 (en) | Plug, connector, and receptacle | |
CN110959230B (zh) | 具有辅助触头的插头连接 | |
US10283921B1 (en) | Adapter for use with one or more connectors | |
JPH07280864A (ja) | 導通検査方法及び導通検査装置 | |
KR20230066864A (ko) | 전기 커넥터 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |