KR102599359B1 - 프로브 교체형 핀보드 및 핀보드의 프로브교체방법 - Google Patents
프로브 교체형 핀보드 및 핀보드의 프로브교체방법 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은, 핀보드바디 및 핀보드바디와 결합 및 해제가 가능한 프로브를 포함하고, 핀보드바디는, 핀보드플레이트, 핀보드플레이트와 결합하면서, 프로브와 기계적인 체결과 해제가 가능한 핀보드체결부 및 핀보드플레이트와 결합하면서 프로브와 전기적인 연결과 분리가 가능한 핀보드연결부를 포함하고, 프로브는, 프로브블록, 프로브블록과 결합하면서 상기 핀보드체결부와 기계적 체결과 해제가 가능한 프로브체결부 및 프로브블록과 결합하면서, 핀보드연결부와 전기적인 연결과 분리가 가능한 프로브연결부를 포함하는 핀보드를 개시한다. 본 발명에 따르면, 검사의 종류 및 설비에 따라 프로브가 교체되어 핀보드가 사용될 수 있다.
Description
본 발명은 프로브 교체형 핀보드 및 핀보드의 프로브교체방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 용도에 맞는 프로브를 교체하여 사용할 수 있는 핀보드 및 이의 프로브교체방법에 관한 것이다.
프로브장치(probe device)는 피검사체(test subject), 예를 들어 디스플레이패널과 같은 전자부품에 검사신호(test signal)를 입력하여, 피검사체의 품질 및 성능을 검사하는 장치를 말한다. 프로브장치는 프로브핀(probe pin)을 이용하여 피검사체의 패드를 접촉하도록 구성된다.
프로브장치의 일종인 핀보드는, 검사신호를 생성하는 인쇄회로기판, 검사신호를 입력하는 프로브핀을 포함하는 장치로서, 핀보드어댑터를 통해 구동장치에 해당하는 지그와 결합하여 구동될 수 있다.
피검사체에 해당하는 디스플레이패널은 출력기능 회에 입력기능을 포함할 수 있는데, 터치스크린패널이 이에 해당한다. 터치스크린패널(touch screen panel, TSP)에 대한 성능검사는 화소검사(automotive vision inspection, AVI) 및 터치스크린패널(TSP)검사를 포함한다. AVI는 화소검사를 뜻하고, TSP검사는 터치스크린패널검사를 뜻하는 용어로 자주 사용된다.
본 발명과 관련된 기술로서, 대한민국 등록특허공보에 개시된, 평판표시패널 검사용 프로브장치는, 제1접촉부, 제2접촉부, 복수의 니들 및 제1가이드블록과 제2가이드블록을 갖는 프로브블록을 포함하나, 이 관련 기술에서 복수의 니들은 화소검사를 위해 모두 동일 단자에 접촉되어 전기적 신호를 전달하는 것으로서, 화소검사 및 터치검사에 모두 적용될 수 있는 본 발명과 발명의 목적, 구성, 및 효과 면에서 서로 구별된다.
본 발명이 해결하고자 하는 일 과제는, 검사의 종류 및 설비에 따라 핀보드의 타입을 변경할 수 있는 핀보드 및 프로브를 교체하는 방법을 제공하는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 일 과제는, 검사의 종류 및 설비에 따라 프로브의 교체가 가능한 핀보드를 제공하는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 일 과제는, 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제는 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 기술적 사상에 의한 일 실시 예에 따르면, 핀보드바디; 및 핀보드바디와 결합 및 해제가 가능한 프로브를 포함하고, 핀보드바디는, 핀보드플레이트; 핀보드플레이트와 결합하면서, 프로브와 기계적인 체결과 해제가 가능한 핀보드체결부; 및 핀보드플레이트와 결합하면서 프로브와 전기적인 연결과 분리가 가능한 핀보드연결부를 포함하고, 프로브는, 프로브블록; 프로브블록과 결합하면서, 핀보드체결부와 기계적 체결과 해제가 가능한 프로브체결부; 및 프로브블록과 결합하면서, 핀보드연결부와 전기적인 연결과 분리가 가능한 프로브연결부를 포함하도록 구성되는, 프로브 교체형 핀보드가 개시된다.
또한, 프로브 교체형 핀보드는, 핀보드연결부가 제1FPC를 포함하고, 제1FPC는 제1-1면 및 제1-2면을 포함하고, 제1-2면에 제1FPC의 제1케이블이 노출된 제1접촉면이 형성되고, 프로브연결부는 제2FPC를 포함하고, 제2FPC는 제2-1면 및 제2-2면을 포함하고, 제2-1면에 제2FPC의 제2케이블이 노출된 제2접촉면이 형성되고, 제1접촉면의 노출된 제1케이블과 제2접촉면의 노출된 제2케이블이 전기적으로 접촉하도록 구성될 수 있다.
또한, 프로브 교체형 핀보드는, 핀보드연결부가 제1-1면을 지지하는 제1베이스를 포함하고, 프로브연결부는 제2-2면을 지지하는 제2베이스를 포함하고, 제1베이스 및 제2베이스 중에서 적어도 하나는 탄성체로 구성될 수 있다.
또한, 프로브 교체형 핀보드는, 제1베이스 및 제2베이스 중에서 하나는 평면이고, 나머지 하나는 곡면을 포함하고, 제1접촉면과 제2접촉면은 곡면 및 평면의 형태로 서로 전기적으로 접촉하도록 구성될 수 있다.
또한, 프로브 교체형 핀보드는, 핀보드연결부 및 프로브연결부의 전기적 연결을 유도하는 가이드부를 더 포함하도록 구성될 수 있다.
또한, 프로브 교체형 핀보드는, 가이드부가 핀보드플레이트 및 프로브블록 중에서 어느 하나와 결합하는 기준핀; 및 핀보드플레이트 및 프로브블록 중에서 나머지 하나와 결합하고, 기준핀에 슬라이딩 체결하는 기준블록을 포함하도록 구성될 수 있다.
또한, 프로브 교체형 핀보드는, 제1베이스가 곡면을 포함하고, 제2베이스가 평면인 경우, 기준블록이 기준핀에 슬라이딩 시에, 제2베이스는 제1베이스에 대해 경사진 사면으로 이동하여 제1접촉면과 제2접촉면이 서로 접촉하도록 구성될 수 있다.
또한, 프로브 교체형 핀보드는, 가이드부가, 핀보드플레이트와 결합하는 제1마그넷; 및 프로브블록과 결합하는 제2마그넷을 포함하고, 제1마그넷과 제2마그넷이 자기력에 의해 서로 체결하도록 구성될 수 있다.
또한, 프로브 교체형 핀보드는, 제1접촉면과 제2접촉면이 서로 접촉 시에, 제1마그넷과 제2마그넷은, 제1마그넷의 면적과 제2마그넷의 면적의 일부가 오버랩되지 않은 상태에서 서로 체결하도록 구성될 수 있다.
또한, 프로브 교체형 핀보드는, 핀보드체결부가 체결핀을 포함하고, 프로브체결부는 체결핀과 체결할 수 있는 후크조립체를 포함하도록 구성될 수 있다.
또한, 프로브 교체형 핀보드는, 후크조립체가, 레버 및 후크를 포함하는 후크레버; 후크레버에 탄성력을 제공하는 탄성체; 및 후크레버의 회동 중심에 해당하는 회전축을 포함하도록 구성될 수 있다.
또한, 프로브 교체형 핀보드는, 후크가, 체결핀과 체결하는 메인후크; 및 메인후크에 작용하는 탄성력과 역방향의 탄성력이 작용하는 보조후크를 포함하도록 구성될 수 있다.
또한, 프로브 교체형 핀보드는, 핀보드플레이트가 기준핀을 포함하고, 제1FPC는 기준핀과 결합하는 기준홀을 포함하고, 핀보드연결부는, 제3마그넷을 이용하여 제1FPC를 기준핀에 고정시키는 FPC스프링강을 더 포함하도록 구성될 수 있다.
또한, 프로브 교체형 핀보드는, 프로브가, AVI테스트 용도의 제1프로브 및 MVI테스트 용도의 제2프로브를 포함하고, 테스트의 종류에 따라 제1프로브 및 제2프로브 중에서 하나의 프로브가 핀보드바디를 기계적으로 체결하고, 전기적으로 연결하도록 구성될 수 있다.
또한, 프로브 교체형 핀보드는, 프로브가, 프로브블록과 결합하는 슬릿; 슬릿에 끼워지는 블레이드; 블레이드를 보호하는 블레이드커버를 더 포함하도록 구성될 수 있다.
또한, 프로브 교체형 핀보드는, 프로브가, 블레이드가 임계높이 이하로 낮아지는 것을 방지하는 스토퍼를 더 포함하도록 구성될 수 있다.
또한, 프로브 교체형 핀보드는, 프로브가, 블레이드의 첨두를 비롯하여 프로브를 보호하는 프로브커버를 더 포함하도록 구성될 수 있다.
또한, 프로브 교체형 핀보드는, 프로브가, 슬릿의 위치를 안내하는 광판을 더 포함하되, 블레이드커버는 광판에서, 슬릿과 이어지는 부분을 받혀서 광판의 처짐을 방지하도록 구성될 수 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 기술적 사상에 의한 일 실시 예에 따르면, 프로브 및 핀보드바디를 포함하는 핀보드에서 프로브를 교체함에 있어서, 프로브를 핀보드바디에 설치된 가이드부에 밀어 넣는 단계; 핀보드바디에 설치된 제1마그넷과 프로브에 설치된 제2마그넷을 이용하여 프로브를 핀보드바디에 1차체결하는 단계; 1차체결과 동시에 핀보드바디에 설치된 제1FPC의 케이블과 프로브에 설치된 제2FPC의 케이블이 전기적으로 서로 접촉하는 단계; 및 핀보드에 설치된 후크레버를 핀보드바디에 설치된 체결핀에 체결한 상태로 잠그는 기계적체결단계를 포함하도록 구성되는, 핀보드의 프로브교체방법이 개시된다.
또한, 핀보드의 프로브교체방법은, 프로브니들에 해당하는 블레이드 보호용도의 프로브커버를 프로브로부터 벗기는 단계를 더 포함하도록 구성될 수 있다.
기타 실시 예의 구체적인 사항은 "발명을 실시하기 위한 구체적인 내용" 및 첨부 "도면"에 포함되어 있다.
본 발명의 이점 및/또는 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 각종 실시 예를 참조하면 명확해질 것이다.
그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 각 실시 예의 구성만으로 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로도 구현될 수도 있으며, 단지 본 명세서에서 개시한 각각의 실시 예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구범위의 각 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐임을 알아야 한다.
본 발명에 의하면, 검사의 종류 및 설비에 따라 핀보드의 타입이 변경될 수 있다.
또한, 검사의 종류 및 설비에 따라 프로브의 교체가 가능하다.
또한, 일부 오버랩되는 마그넷을 통해 프로브가 핀보드바디에 안정적으로 체결될 수 있다.
또한, 곡면의 FPC가 평면의 FPC에 안정적으로 접촉할 수 있다.
또한, 제1베이스 및 제2베이스가 접촉면의 마찰력을 완화시켜 FPC의 수명이 연장될 수 있다.
본 발명의 기술적 사상에 따른 프로브 교체형 핀보드 및 핀보드의 프로브교체방법이 얻을 수 있는 효과는 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드조립체의 예시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드조립체의 분해도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드바디의 분해도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드바디의 예시도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 프로브의 분해도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드조립체의 평면도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드의 저면도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 광판의 예시도이다.
도 9는 본 발명의 일 실시 예에 따른 광판의 예시도이다.
도 10은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드의 우측면도이다.
도 11은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드연결부 및 프로브연결부의 우측면도이다.
도 12는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1접촉면과 제2접촉면의 확대도이다.
도 13은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드의 프로브교체방법의 흐름도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드조립체의 분해도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드바디의 분해도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드바디의 예시도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 프로브의 분해도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드조립체의 평면도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드의 저면도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 광판의 예시도이다.
도 9는 본 발명의 일 실시 예에 따른 광판의 예시도이다.
도 10은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드의 우측면도이다.
도 11은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드연결부 및 프로브연결부의 우측면도이다.
도 12는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1접촉면과 제2접촉면의 확대도이다.
도 13은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드의 프로브교체방법의 흐름도이다.
본 발명을 상세하게 설명하기 전에, 본 명세서에서 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 무조건 한정하여 해석되어서는 아니 되며, 본 발명의 발명자가 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해서 각종 용어의 개념을 적절하게 정의하여 사용할 수 있고, 더 나아가 이들 용어나 단어는 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야 함을 알아야 한다.
즉, 본 명세서에서 사용된 용어는 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명하기 위해서 사용되는 것일 뿐이고, 본 발명의 내용을 구체적으로 한정하려는 의도로 사용된 것이 아니며, 이들 용어는 본 발명의 여러 가지 가능성을 고려하여 정의된 용어임을 알아야 한다.
또한, 본 명세서에서, 단수의 표현은 문맥상 명확하게 다른 의미로 지시하지 않는 이상, 복수의 표현을 포함할 수 있으며, 유사하게 복수로 표현되어 있다고 하더라도 단수의 의미를 포함할 수 있음을 알아야 한다.
본 명세서의 전체에 걸쳐서 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소를 "포함"한다고 기재하는 경우에는, 특별히 반대되는 의미의 기재가 없는 한 임의의 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 임의의 다른 구성 요소를 더 포함할 수도 있다는 것을 의미할 수 있다.
더 나아가서, 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소의 "내부에 존재하거나, 연결되어 설치된다"라고 기재한 경우에는, 이 구성 요소가 다른 구성 요소와 직접적으로 연결되어 있거나 접촉하여 설치되어 있을 수 있고, 일정한 거리를 두고 이격되어 설치되어 있을 수도 있으며, 일정한 거리를 두고 이격되어 설치되어 있는 경우에 대해서는 해당 구성 요소를 다른 구성 요소에 고정 내지 연결하기 위한 제 3의 구성 요소 또는 수단이 존재할 수 있으며, 이 제 3의 구성 요소 또는 수단에 대한 설명은 생략될 수도 있음을 알아야 한다.
반면에, 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소에 "직접 연결"되어 있다거나, 또는 "직접 접속"되어 있다고 기재되는 경우에는, 제 3의 구성 요소 또는 수단이 존재하지 않는 것으로 이해하여야 한다.
마찬가지로, 각 구성 요소 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 " ~ 사이에"와 "바로 ~ 사이에", 또는 " ~ 에 이웃하는"과 " ~ 에 직접 이웃하는" 등도 마찬가지의 취지를 가지고 있는 것으로 해석되어야 한다.
또한, 본 명세서에서 "일면", "타면", "일측", "타측", "제 1", "제 2" 등의 용어는, 사용된다면, 하나의 구성 요소에 대해서 이 하나의 구성 요소가 다른 구성 요소로부터 명확하게 구별될 수 있도록 하기 위해서 사용되며, 이와 같은 용어에 의해서 해당 구성 요소의 의미가 제한적으로 사용되는 것은 아님을 알아야 한다.
또한, 본 명세서에서 "상", "하", "좌", "우" 등의 위치와 관련된 용어는, 사용된다면, 해당 구성 요소에 대해서 해당 도면에서의 상대적인 위치를 나타내고 있는 것으로 이해하여야 하며, 이들의 위치에 대해서 절대적인 위치를 특정하지 않는 이상은, 이들 위치 관련 용어가 절대적인 위치를 언급하고 있는 것으로 이해하여서는 아니된다.
또한, 본 명세서에서는 각 도면의 각 구성 요소에 대해서 그 도면 부호를 명기함에 있어서, 동일한 구성 요소에 대해서는 이 구성 요소가 비록 다른 도면에 표시되더라도 동일한 도면 부호를 가지고 있도록, 즉 명세서 전체에 걸쳐 동일한 참조 부호는 동일한 구성 요소를 지시하고 있다.
본 명세서에 첨부된 도면에서 본 발명을 구성하는 각 구성 요소의 크기, 위치, 결합 관계 등은 본 발명의 사상을 충분히 명확하게 전달할 수 있도록 하기 위해서 또는 설명의 편의를 위해서 일부 과장 또는 축소되거나 생략되어 기술되어 있을 수 있고, 따라서 그 비례나 축척은 엄밀하지 않을 수 있다.
또한, 이하에서, 본 발명을 설명함에 있어서, 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 구성, 예를 들어, 종래 기술을 포함하는 공지 기술에 대해 상세한 설명은 생략될 수도 있다.
이하, 본 발명의 실시 예에 대해 관련 도면들을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
각 도면에 표시된 xyz 좌표축에서 x축 방향을 핀보드(100)의 폭 방향으로, y축 방향을 길이 방향으로, 그리고 z축 방향을 높이 방향으로 각각 정하기로 한다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드(100)는 검사대상, 예를 들어 전자디바이스의 PCB, 디스플레이패널에 검사신호를 입력시키는 기능을 갖는다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드조립체의 예시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드조립체의 분해도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드조립체(300)는 핀보드(100), 커버(185) 및 핀보드어댑터(200)를 포함하도록 구성될 수 있다.
핀보드(100)는 프로브장치의 한 종류로서, 검사대상에 검사신호를 입력시키는 기능을 갖는다.
핀보드어댑터(200)는 핀보드(100)와 검사시스템의 지그 사이를 연결하는 기능을 갖는다.
프로브커버(197)는 핀보드(100), 그 중에서도 프로브(150)의 블레이드(181)를 보호하는 기능을 갖는다. 프로브커버(197)는 핀보드(100)의 프로브(150), 프로브(150)의 프로브블록(151)에 설치된 커버볼트(196)와 슬라이딩 체결할 수 있다.
핀보드어댑터(200)는 어댑터바디(210), 한 쌍의 체결블록(220), 한 쌍의 플런저(230), 한 상의 락커(240)를 포함하도록 구성될 수 있다. 체결블록(220)에 형성된 체결핀(221)과 핀보드(100)의 핀보드플레이트(111)에 형성된 체결홀(111a)이 서로 결합한 상태에서, 락커(240)의 회동에 따라 플런저(230)가 전진 또는 후진함으로써 핀보드플레이트(111)를 압박 또는 해제할 수 있다. 플런저(230)가 전지하여 경사면을 이용하여 핀보드플레이트(111)를 x축 방향으로 압박하면, 핀보드플레이트(111)는 x축 방향, y축 방향 및 z축 방향의 움직임 없이 체결블록(220)에 고정될 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드바디의 분해도이다.
도 3을 참조하면, 핀보드바디(110)는 핀보드플레이트(111), 핀보드연결부(120), 핀보드체결부(130) 및 가이드부(140)를 포함하도록 구성될 수 있다.
핀보드플레이트(111)는 핀보드바디(110)의 골격에 해당한다. 따라서 핀보드연결부(120), 핀보드체결부(130)가 핀보드바디(110)와 결합할 수 있다.
핀보드연결부(120)는 프로브연결부(160)와 전기적으로 연결 및 분리하는 기능을 갖는다. 핀보드연결부(120)는 제1FPC(121) 및 제1베이스(122)를 포함할 수 있다. 제1FPC(121)는 PCB(127)와 제2FPC(161) 사이를 연결하는 기능을 갖는다. 제1베이스(122)는 제1FPC(121)을 지지하는 기능을 갖는다.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드바디의 예시도이다.
도 4를 참조하면, 핀보드플레이트(111)의 저면에 기준핀(113)이 형성될 수 있다. 기준핀(113)은 제1FPC(121)의 위치를 결정하는 지표이다. 제1FPC(121)에 복수 개, 예를 2개의 제1기준홀(121a)이 형성되고, 제1FPC스프링강(124)에 2개의 제2기준홀(125)이 형성될 수 있다. 기준핀(113)에 제1FPC(121)의 기준홀(121a)이 끼워지고, 그 위로 제2기준홀(125)의 제1FPC스프링강(124)이 끼워질 수 있다.
제1FPC(121)의 하면에 제1접촉면(1-3)이 형성될 수 있다. 제1접촉면(1-3)은 제1베이스(122)에 의해 지지될 수 있다. 제1베이스(122)와 핀보드플레이트(111) 사이에, 예를 들어 고무 소재의 쿠션(123)이 배치될 수 있다.
전기적 신호는 커넥터(128)를 통해 PCB(127)에 입력된 전기적 신호는 제1FPC(121) 및 제2FPC(161)를 통해 블레이드(181)로 전달된다.
핀보드체결부(130)는 프로브체결부(170)와 기계적으로 체결 및 해제하는 기능을 갖는다. 핀보드체결부(130)는 체결핀(131) 및 스프링플런저(132)를 포함할 수 있다.
체결핀(131)은 프로브(150)의 후크조립체(171)와 체결하는 기능을 갖는다.
스프링플런저(132)는 핀보드플레이트(111)의 양측에 설치되고, 프로브(150)가 핀보드바디(110)에서 해제 및 분리 시, 탄성력을 이용하여 프로브(150)를 밀어 내는 기능을 갖는다. 따라서 프로브(150)가 핀보드바디(110)로부터 용이하게 분리될 수 있다.
가이드부(140)는, 프로브(150)가 핀보드바디(110)와 체결 및 연결 시, 프로브(150)의 제2접점(2-3)을 핀보드바디(110)의 제1접점(1-3)으로 올바르게 안내하는 기능을 갖는다. 가이드부(140)는 슬롯(142)이 형성된 슬라이딩기준블록(141) 및 제1마그넷(143)을 포함할 수 있다. 가이드부(140)는 도 6에서 상세히 설명하기로 한다.
프로브(150)의 슬라이딩핀(178)이 슬롯(142)과 체결하고, 제2마그넷(179)이 제1마그넷(143)과 체결할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 프로브의 분해도이다.
도 5를 참조하면, 프로브(150)는 프로브블록(151), 프로브연결부(160), 프로브체결부(170) 및 슬릿(180)을 포함하도록 구성될 수 있다.
프로브블록(151)은 프로브(150)의 골격에 해당한다. 따라서 프로브연결부(160) 및 프로브체결부(170) 및 슬릿(180) 등이 프로브블록(151)과 결합할 수 있다.
프로브연결부(160)는 핀보드연결부(120)와 전기적인 연결 및 분리의 기능을 갖는다. 프로브연결부(160)는 제2FPC(161) 및, 제2FPC(161)를 지지하는 제2베이스(162)에 해당하는 제2FPC스프링강을 기본적으로 포함하고, FPC블록(163) 및 FPC커버(164)를 더 포함할 수 있다.
제2FPC(161)는 PCB(127)와 제1FPC(121) 사이를 전기적으로 연결하는 기능을 갖는다. 제2FPC(161)는 상면(2-1) 및 하면(2-2)을 포함하고, 상면(2-2)에 제2접촉면(2-3)이 형성될 수 있다.
제2FPC(161)는 필름에 싸여진 제2케이블을 포함할 수 있다. 일부의 필름이 벗겨진 제2접촉면(2-3)에서 제2케이블이 노출될 수 있다.
제2베이스(162)는 제2FPC(161)의 일단이 제1FPC(121)과 전기적으로 접촉하기 위해, 제2FPC(161)를 지지하고, 접촉에 필요한 탄성력을 제공하는 기능을 갖는다.
FPC블록(163)은 제2FPC(161)의 타단을 블레이드(181)와 전기적으로 접촉시키는 기능을 갖는다.
FPC커버(164)는 제2FPC(161)를 보호하는 기능을 갖는다.
프로브체결부(170)는 핀보드체결부(130)와 기계적인 체결 및 해제의 기능을 갖는다. 프로브체결부(170)는 후크조립체(171), 슬라이딩핀(178) 및 제2마그넷(179)을 포함할 수 있다.
후크조립체(171)는 핀보드플레이트(111)의 체결핀(131)과 체결함으로써, 핀보드바디(110)와 프로브(150)를 체결하는 기능을 갖는다. 후크조립체(171)는 도 10에서 상세히 설명하기로 한다.
프로브(150)의 슬라이딩핀(178)이 슬롯(142)과 체결하고, 제2마그넷(179)이 제1마그넷(143)과 체결할 수 있다.
슬릿(180)은 블레이드(181)를 제2FPC(161)와 연결시키고, 블레이드(181)의 첨두를 피검사체의 패드에 접촉시키는 기능을 갖는다.
프로브(150)는 스토퍼(191), 광판(192) 및 커버볼트(196)를 추가로 포함하도록 구성될 수 있다.
스토퍼(191)는 블레이드(181)의 높이를 임계높이로 제한하는 기능을 갖는다. 즉 프로브(150)의 위치가 임계높이 이하로 낮아지려 할 경우, 이를 방지함으로써 블레이드(181)가 손상되는 것이 방지될 수 있다. 스토퍼(191)는 프로브(150)의 저면에 설치될 수 있다.
광판(192)은 핀보드(100)의 프로브(150)의 위치를 제어하는 데 기표로 이용될 수 있다. 광판은 프로브(150)의 저면에 설치될 수 있다. 광판(192)은 도 7 내지 도 9에서 상세히 설명하기로 한다.
커버볼트(196)는 프로브커버(197)와 슬라이딩 체결하는 기능을 갖는다. 프로브커버(197)는 블레이드(181)의 첨두를 비롯하여 프로브(150)를 보호, 특히 저면을 보호하는 기능을 갖는다.
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드조립체의 평면도이다.
도 6을 참조하면, 가이드부(140)는 프로브(150)의 프로브블록(151)과 체결 시, 프로브블록(151)의 진입을 안내하는 기능을 갖는다. 가이드부(140)는 핀보드플레이트(111)에 설치된 슬라이딩기준블록(141) 및 제1마그넷(143)을 포함할 수 있다. 프로브(150)와 핀보드바디(110)의 체결 시, 슬라이딩기준블록(141)은 프로브블록(151)에 설치된 슬라이딩핀(178)과 체결하고, 제1마그넷(143)과 제2마그넷(179)은 자기력을 통해 서로 체결한다. 이 경우 제1마그넷(143)과 제2마그넷(179)은 완전히 오버랩되지 않은 상태, 즉 제1마그넷(143)의 면적과 제2마그넷(179)의 면적의 일부가 오버랩되지 않은 상태에서 서로 체결할 수 있다. 이 경우 더 진입하려는 제2마그넷(179)은 제1마그넷(143)으로부터 인력을 강하게 받고 있는 상태이므로, 이 인력에 의해 프로브(150)가 핀보드바디(110)로부터 분리가 방지되는 효과가 더 커질 수 있다.
도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드의 저면도이다.
도 7을 참조하면, 광판(192)은 핀보드(100)의 위치를 감지하는 지표로 사용될 수 있다. 광판(192)에는 복수 개의 얼라인홀(194), 기준핀홀(193) 및 고정홀(195)이 형성될 수 있다. 고정홀(195)을 통해 광판(192)은 프로브블록(151)에 고정될 수 있다. 기준핀홀(193)이 프로브블록(151)에 형성된 기준핀(113)에 끼워질 수 있다.
제1FPC(121)는 일단이, 핀보드플레이트(111)의 상부에서 PCB(127)의 커넥터(128)를 통해 PCB(127)를 전기적으로 연결하고, 핀보드플레이트(111)에 형성된 FPC홀(112)을 통과하고, 타단이, 핀보드플레이트(111)의 하부에서 제2FPC(161)를 전기적으로 연결할 수 있다.
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 광판의 저면도이다.
도 8을 참조하면, 기준핀홀(193)은 슬릿(180)과 광판(192)의 x축 방향 및 y축 방향의 어림의 상대위치를 정하는데 사용된다. 슬릿(180)의 에지와 광판(192)의 얼라인홀(194)은 직선(A)에 맞게 정렬될 수 있다. 즉 얼라인홀(194)은 슬릿(180)과 광판(192)의 x축 방향 및 y축 방향의 정확한 상대위치를 정하는데 사용된다.
제1FPC(121)는 제1FPC스프링강(124)에 의해 핀보드플레이트(111)에 고정될 수 있다. 그리고 제2FPC(161)는 제2베이스(162)에 해당하는 제2FPC스프링강에 의해 지지되고, 프로브블록(151)에 고정될 수 있다.
고정홀(195)을 통해 광판(192)이 프로브블록(151)에 고정될 수 있으나, 광판(192)이 수평 범위에서 벗어나 처지는 형상이 발생할 수 있다.
도 9는 본 발명의 일 실시 예에 따른 광판의 확대도이다.
도 9를 참조하면, 광판(192)의 처짐을 방지하기 위해서 블레이드커버(182)가 일부 영역이 광판(192)의 저면을 지지하도록 배치될 수 있다. 또한, 광판(192)과 슬릿(180)은 상대적위치를 위해 서로 접촉영역(B)을 형성할 수 있다.
도 10은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드의 우측면도이다.
도 10을 참조하면, 핀보드바디(110)에 포함된 핀보드플레이트(111)와 프로브(150)에 포함된 프로브블록(151)의 기계적 결합관계가 묘사되어 있다.
핀보드플레이트(111)에 체결핀(131)이 설치될 수 있다. 프로브블록(151)에 후크조립체(171)가 설치될 수 있다. 후크조립체(171)는 메인후크(174)를 체결핀(131)에 걸어 잠금설정할 수 있다. 후크조립체(171)는 후크레버(172), 탄성체(176) 및 회전축(177)을 포함하도록 구성될 수 있다.
레버(173)에 작용하는 압력에 의해 회전축(177)을 중심으로 메인후크(174)가 회동함에 따라 메인후크(174)와 체결핀(131)이 체결 및 해제할 수 있다.
후크레버(172)는 손잡이에 해당하는 레버(173), 메인후크(174), 메인후크(174)에 형성된 홀(174a) 및 보조후크(175)를 포함하도록 구성될 수 있다. 보조후크(175)는 프로브블록(151)에 형성된 후크스토퍼(152)를 체결할 수 있다. 탄성체(176), 예를 들어 압축된 스프링에 의한 인장력에 저항하여 후크레버(172)의 위치를 고정하는 기능을 갖는다.
핀보드플레이트(111)에 설치된 스프링플런저(132)의 탄성력에 의해 프로브(150)와 핀보드바디(110)가 쉽게 분리될 수 있다. 스프링플런저(132)는 핀보드바디(110)의 양 측에 각각 설치될 수 있다.
도 11은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드연결부 및 프로브연결부의 우측면도이다.
도 11을 참조하면, 핀보드플레이트(111) 및 프로브블록(151)이 투명하게 묘사되어 있다.
도 1 및 도 11을 참조하면, PCB(127)는 2개의 커넥터, 즉 커넥터(128) 및 커넥터(126)를 포함할 수 있다. 커넥터(128)에는 외부 입력을 위한 케이블이 연결될 수 있다. 그리고 커넥터(126)에는 제1FPC(121)가 연결될 수 있다. 제1FPC(121)는 제1FPC스프링강(124)에 의해 핀보드플레이트(111)에 고정되고, 제1베이스(122)에 의해 지지될 수 있다. 제2FPC(161)는 제2베이스(162)에 해당하는 제2FPC스프링강에 의해 지지 및 고정될 수 있다. 제1FPC(121)와 제2FPC(161)는 접촉부(D)에서 전기적으로 연결될 수 있다.
제2FPC(161)는 접촉부(E)에서 FPC블록(163)의 도움을 받아, 슬릿(180)에 끼워진 블레이드(181)와 전기적으로 연결될 수 있다.
도 12는 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1접촉면과 제2접촉면의 확대도이다.
도 11 및 도 12을 참조하면, 핀보드연결부(120)에 포함된 제1FPC(121) 및 프로브연결부(160)에 포함된 제2FPC(161)의 전기적인 연결을 묘사하고 있다. 제1FPC(121)는, 상면(1-1)과 하면(1-2)을 포함하고, 제2FPC(161)도 상면(2-1)과 하면(2-2)을 포함할 수 있다. 제1접촉면(1-3)에서 제1FPC(121)의 필름의 일부가 벗겨져 제1케이블이 노출될 수 있다. 제2접촉면(2-3)에서 제2FPC(161)의 필름의 일부가 벗겨져 제2케이블이 노출될 수 있다. 제1접촉면(1-3)은 제1FPC(121)의 하면(1-2)에, 제2접촉면(2-3)은 제2FPC(161)의 상면(2-1)에 형성될 수 있다.
제1FPC(121)는 제1베이스(122)에 의해, 제2FPC(161)는 제2베이스(162)에 의해 지지될 수 있다. 제1베이스(122)는 복록한 형상이고, 제2베이스(162) 평평한 형상이다. 제1베이스(122)는 PEEK 소재의 실린더 형상의 부재로 핀보드플레이트(111)에 삽입될 수 있다. 추가로 제1베이스(122)와 핀보드플레이트(111) 사이에 고무 소재의 실린더 형상의 쿠션(123)이 삽입될 수 있다. PEEK 소재 및 고무 소재를 이용하여 제1베이스(122)를 구성할 경우, 마착력 및 압력이 완화되어 제1FPC(121) 및 제2FPC(161)의 수명이 연장될 수 있다.
제2베이스(162)는 FPC스프링강 형태로 구현될 수 있다. 따라서 제1접촉면(1-3)은 볼록면(10)에 형성되고, 제2접촉면(2-3)은 평면(20)에 형성되어, 제1접촉면(1-3)은 제2접촉면(2-3)에 밀착할 수 있다. 도 9에 묘사된 제1접촉면(1-3)과 제2접촉면(2-3)의 위치는 실제와 다르며, 실제로는 제1FPC(121)의 탄성력으로 인해 제2FPC(161) 상의 제2접촉면(2-3)과 제1FPC(121) 상의 제1접촉면(1-3)이 서로 접촉하게 된다.
핀보드바디(110)에 프로브(150)가 체결 시, 제2베이스(162)와 제2FPC(161)가 수평에 대해 θ의 각도로 진입하면서, 제2FPC(161) 상의 제2접촉면(2-3)이 제1FPC(121) 상의 제1접촉면(1-3)과 접하게 된다. θ 각도의 경사면 구성으로 인해 제1접촉면(1-3)과 제2접촉면(2-3)이 안정적이고, 오차 없이 전기적 접촉이 가능하다.
이하 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드의 프로브교체방법(S100)에 대해 설명하기로 한다. 핀보드의 프로브교체방법(S100)은, 프로브 교체형 핀보드(100)를 이용하여 프로브를 교체하는 방법에 관한 것이며, 사람 또는 자동화기계에 의해 수행될 수 있다.
도 13은 본 발명의 일 실시 예에 따른 핀보드의 프로브교체방법의 흐름도이다.
도 13을 참조하면, 핀보드의 프로브교체방법(S100)은, 프로브를 핀보드바디의 가이드부에 밀어 넣기(S110), 핀보드바디의 제1마그넷과 프로브의 제2마그넷의 1차체결(S120), 1차체결과 동시에, 제1FPC(121)의 제1케이블과 제2FPC(161)의 제2케이블이 서로 접촉(S130), 및 프로브(150)의 후크레버(172)를 핀보드바디(110)의 체결핀(131)에 체결한 상태에서 잠그기(S140)를 포함하도록 구성될 수 있다.
구체적으로 살펴보면, 프로브(150)를 핀보드바디(110)에 설치된 가이드부(140)에 밀어 넣을 수 있다(S110). 가이드부(140)에는 슬롯(142)이 형성된 슬라이딩기준블록(141) 및 제1마그넷(143)이 포함된다. 프로브(150)의 슬라이딩핀(178)이 슬롯(142)을 따라 슬라이딩기준블록(141)과 체결할 수 있다.
다음으로, 핀보드바디(110)에 설치된 제1마그넷(143)과 프로브(150)에 설치된 제2마그넷(179)을 이용하여 프로브(150)를 핀보드바디(110)에 1차체결할 수 있다(S120).
여기서, 1차체결과 동시에 핀보드바디(110)에 설치된 제1FPC(121)의 제1케이블과 프로브(150)에 설치된 제2FPC(161)의 케이블이 전기적으로 서로 접촉할 수 있다(S130).
다음으로 프로브(150)에 설치된 후크레버(172)를 핀보드바디(110)에 설치된 체결핀(131)에 체결한 상태로 잠글 수 있다. 이는 기계적체결단계(S140)에 해당한다.
추가적으로, 프로브니들(probe needle)에 해당하는 블레이드(blade) 보호용도의 프로브커버(probe cover)(197)가 프로브(probe)(150)로부터 제거될 수 있다(S150). 프로브 교체형 핀보드(100)의 프로브(150) 교체 후 검사 전에, 프로브(150)를 감싸는 프로브커버(197)가 제거될 수 있다.
이와 같이 본 발명의 일 실시 예에 따르면, 검사의 종류 및 설비에 따라 핀보드의 타입이 변경될 수 있다.
또한, 검사의 종류 및 설비에 따라 프로브의 교체가 가능하다.
또한, 일부 오버랩되는 마그넷을 통해 프로브가 핀보드바디에 안정적으로 체결될 수 있다.
또한, 곡면의 FPC가 평면의 FPC에 안정적으로 접촉할 수 있다.
또한, 제1베이스 및 제2베이스가 접촉면의 마찰력을 완화시켜 FPC의 수명이 연장될 수 있다.
이상, 일부 예를 들어서 본 발명의 바람직한 여러 가지 실시 예에 대해서 설명하였지만, 본 "발명을 실시하기 위한 구체적인 내용" 항목에 기재된 여러 가지 다양한 실시 예에 관한 설명은 예시적인 것에 불과한 것이며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이상의 설명으로부터 본 발명을 다양하게 변형하여 실시하거나 본 발명과 균등한 실시를 행할 수 있다는 점을 잘 이해하고 있을 것이다.
또한, 본 발명은 다른 다양한 형태로 구현될 수 있기 때문에 본 발명은 상술한 설명에 의해서 한정되는 것이 아니며, 이상의 설명은 본 발명의 개시 내용이 완전해지도록 하기 위한 것으로 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것일 뿐이며, 본 발명은 청구범위의 각 청구항에 의해서 정의될 뿐임을 알아야 한다.
100: 핀보드, 110: 핀보드바디, 111; 핀보드플레이트, 111: 체결홀, 112: FPC홀, 113: 기준핀, 114: 제2마그넷, 120: 핀보드연결부, 121: 제1FPC, 121a: 제1기준홀, 122: 제1베이스, 123: 쿠션, 124: 제1FPC스프링강, 125: 제2기준홀, 126: 커넥터, 127: PCB, 128: 커넥터, 130: 핀보드체결부, 131: 체결핀, 132: 스프링플런저, 133: 후크스토퍼, 134: 제1마그넷, 140: 가이드부, 141: 슬라이딩기준블록, 142: 슬롯, 151: 프로브블록, 160: 프로브연결부, 161: 제2FPC, 162: 제2베이스(제2FPC스프링강), 163: FPC블록, 164: FPC커버, 170: 프로브체결부, 171: 후크조립체, 172: 후크레버, 173: 레버, 174: 메인후크, 174a: 홀, 175: 보조후크, 176: 탄성체, 177: 회전축, 178: 제3마그넷, 179: 슬라이딩핀, 180: 슬릿, 181: 블레이드, 183: 블레이드커버, 191: 스토퍼, 192: 광판, 193: 기준핀홀, 194: 얼라인홀, 195: 고정홀, 196: 커버볼트, 197: 프로브커버, 200: 어댑터, 210: 어댑터바디, 220: 체결블록, 221: 체결핀, 230: 플런저, 240: 락커
Claims (20)
- 핀보드바디; 및
피검사체의 검사의 종류에 따라 상기 핀보드바디와 결합 및 해제를 통해 교체가 가능한 프로브를 포함하고,
상기 핀보드바디는, 핀보드플레이트; 상기 핀보드플레이트와 결합하면서, 상기 프로브와 기계적인 체결과 해제가 가능한 핀보드체결부; 및 상기 핀보드플레이트와 결합하면서 상기 프로브와 전기적인 연결과 분리가 가능한 핀보드연결부를 포함하고,
상기 프로브는, 프로브블록; 상기 프로브블록과 결합하면서, 상기 핀보드체결부와 기계적 체결과 해제가 가능한 프로브체결부; 및 상기 프로브블록과 결합하면서, 상기 핀보드연결부와 전기적인 연결과 분리가 가능한 프로브연결부를 포함하고,
상기 핀보드연결부는 제1FPC를 포함하고, 상기 제1FPC는 제1-1면 및 제1-2면을 포함하고, 상기 제1-2면에 상기 제1FPC의 제1케이블이 노출된 제1접촉면이 형성되고,
상기 프로브연결부는 제2FPC를 포함하고, 상기 제2FPC는 제2-1면 및 제2-2면을 포함하고, 상기 제2-1면에 상기 제2FPC의 제2케이블이 노출된 제2접촉면이 형성되고,
상기 핀보드바디 및 상기 프로브가 결합 시, 상기 제1접촉면의 노출된 제1케이블과 상기 제2접촉면의 노출된 제2케이블이 전기적으로 접촉하도록 구성되는,
프로브 교체형 핀보드. - 삭제
- 청구항 1항에 있어서,
상기 핀보드연결부는 상기 제1-1면을 지지하는 제1베이스를 포함하고,
상기 프로브연결부는 상기 제2-2면을 지지하는 제2베이스를 포함하고,
상기 제1베이스 및 상기 제2베이스 중에서 적어도 하나는 탄성체로 구성되는,
프로브 교체형 핀보드. - 청구항 3항에 있어서,
상기 제1베이스 및 상기 제2베이스 중에서 하나는 평면이고, 나머지 하나는 곡면을 포함하고,
상기 제1접촉면과 상기 제2접촉면은 곡면 및 평면의 형태로 서로 전기적으로 접촉하도록 구성되는,
프로브 교체형 핀보드. - 청구항 4항에 있어서,
상기 핀보드연결부 및 상기 프로브연결부의 전기적 연결을 유도하는 가이드부를 더 포함하도록 구성되는,
프로브 교체형 핀보드. - 청구항 5항에 있어서,
상기 가이드부는 상기 핀보드플레이트 및 상기 프로브블록 중에서 어느 하나와 결합하는 기준핀; 및
상기 핀보드플레이트 및 상기 프로브블록 중에서 나머지 하나와 결합하고, 상기 기준핀에 슬라이딩 체결하는 기준블록을 포함하도록 구성되는,
프로브 교체형 핀보드. - 청구항 6항에 있어서,
상기 제1베이스가 곡면을 포함하고, 상기 제2베이스가 평면인 경우,
상기 기준블록이 상기 기준핀에 슬라이딩 시에, 상기 제2베이스는 상기 제1베이스에 대해 경사진 사면으로 이동하여 상기 제1접촉면과 상기 제2접촉면이 서로 접촉하도록 구성되는,
프로브 교체형 핀보드. - 청구항 5항에 있어서, 상기 가이드부는,
상기 핀보드플레이트와 결합하는 제1마그넷; 및
상기 프로브블록과 결합하는 제2마그넷을 포함하고,
상기 제1마그넷과 상기 제2마그넷이 자기력에 의해 서로 체결하도록 구성되는,
프로브 교체형 핀보드. - 청구항 8에 있어서,
상기 제1접촉면과 상기 제2접촉면이 서로 접촉 시에,
상기 제1마그넷과 상기 제2마그넷은,
상기 제1마그넷의 면적과 상기 제2마그넷의 면적의 일부가 오버랩되지 않은 상태에서 서로 체결하도록 구성되는,
프로브 교체형 핀보드. - 청구항 1에 있어서,
상기 핀보드체결부는 체결핀을 포함하고,
상기 프로브체결부는 상기 체결핀과 체결할 수 있는 후크조립체를 포함하도록 구성되는,
프로브 교체형 핀보드. - 청구항 10에 있어서, 상기 후크조립체는,
레버 및 후크를 포함하는 후크레버;
상기 후크레버에 탄성력을 제공하는 탄성체; 및
상기 후크레버의 회동 중심에 해당하는 회전축을 포함하도록 구성되는,
프로브 교체형 핀보드. - 청구항 11에 있어서, 상기 후크는,
상기 체결핀과 체결하는 메인후크; 및
상기 메인후크에 작용하는 탄성력과 역방향의 탄성력이 작용하는 보조후크를 포함하도록 구성되는,
프로브 교체형 핀보드. - 청구항 1에 있어서,
상기 핀보드플레이트는 기준핀을 포함하고,
상기 제1FPC는 상기 기준핀과 결합하는 기준홀을 포함하고,
상기 핀보드연결부는, 제3마그넷을 이용하여 상기 제1FPC를 상기 기준핀에 고정시키는 FPC스프링강을 더 포함하도록 구성되는,
프로브 교체형 핀보드. - 청구항 1항에 있어서, 상기 프로브는,
AVI테스트 용도의 제1프로브 및 MVI테스트 용도의 제2프로브를 포함하고,
테스트의 종류에 따라 상기 제1프로브 및 상기 제2프로브 중에서 하나의 프로브가 상기 핀보드바디를 기계적으로 체결하고, 전기적으로 연결하도록 구성되는,
프로브 교체형 핀보드. - 청구항 1항에 있어서, 상기 프로브는,
상기 프로브블록과 결합하는 슬릿;
상기 슬릿에 끼워지는 블레이드;
상기 블레이드를 보호하는 블레이드커버를 더 포함하도록 구성되는,
프로브 교체형 핀보드. - 청구항 15항에 있어서, 상기 프로브는,
상기 블레이드가 임계높이 이하로 낮아지는 것을 방지하는 스토퍼를 더 포함하도록 구성되는,
프로브 교체형 핀보드. - 청구항 15에 있어서, 상기 프로브는,
상기 블레이드의 첨두를 비롯하여 상기 프로브를 보호하는 프로브커버를 더 포함하도록 구성되는,
프로브 교체형 핀보드. - 청구항 17항에 있어서, 상기 프로브는,
상기 슬릿의 위치를 안내하는 광판을 더 포함하되,
상기 블레이드커버는 상기 광판에서, 상기 슬릿과 이어지는 부분을 받혀서 상기 광판의 처짐을 방지하도록 구성되는,
프로브 교체형 핀보드. - 프로브 및 핀보드바디를 포함하는 핀보드에서 프로브를 교체함에 있어서,
프로브를 핀보드바디에 설치된 가이드부에 밀어 넣는 단계;
상기 핀보드바디에 설치된 제1마그넷과 상기 프로브에 설치된 제2마그넷을 이용하여 상기 프로브를 상기 핀보드바디에 1차체결하는 단계;
상기 1차체결과 동시에 상기 핀보드바디에 설치된 제1FPC의 케이블과 상기 프로브에 설치된 제2FPC의 케이블이 전기적으로 서로 접촉하는 단계;
상기 핀보드에 설치된 후크레버를 상기 핀보드바디에 설치된 체결핀에 체결한 상태로 잠그는 기계적체결단계를 포함하도록 구성되는,
핀보드의 프로브교체방법. - 청구항 19에 있어서,
프로브니들에 해당하는 블레이드 보호용도의 프로브커버를 상기 프로브로부터 벗기는 단계를 더 포함하도록 구성되는,
핀보드의 프로브교체방법.
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