KR102424076B1

KR102424076B1 - 동시접촉핀보드

Info

Publication number: KR102424076B1
Application number: KR1020220057613A
Authority: KR
Inventors: 박종현; 백건욱; 한대희
Original assignee: 주식회사 프로이천
Priority date: 2022-05-11
Filing date: 2022-05-11
Publication date: 2022-07-25

Abstract

본 발명은, 핀보드바디, 핀보드바디와 결합하는 인쇄회로기판, 핀보드바디와 결합하는 AVI블록 및 핀보드바디와 결합하는 TSP블록을 포함하고, AVI블록은 AVI프로브핀을 포함하고, TSP블록은 TSP프로브핀을 포함하고, 인쇄회로기판은, AVI프로브핀 및 TSP프로브핀과 전기적 연결을 이루고, 핀보드바디(110)에는 구동지그가 결합되는 자리가 마련되고, 핀보드바디는 결합된 구동지그의 동작에 따라 AVI프로브핀 및 TSP프로브핀을 피검사체에 동시 접촉하는 동시접촉핀보드를 개시한다. 본 발명에 따르면, 화소검사 용도의 AVI프로브핀과 터치검사 용도의 TSP프로브핀이 슬릿에 안정적으로 고정될 수 있다.

Description

동시접촉핀보드{SIMULTANEOUS CONTACT PIN BOARD}

본 발명은 동시접촉핀보드에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 영상검사 및 터치검사를 위해 피검사체에 동시접촉할 수 있는 핀보드에 관한 것이다.

프로브장치(probe device)는 피검사체(test subject), 예를 들어 디스플레이패널과 같은 전자부품에 검사신호(test signal)를 입력하여, 피검사체의 품질 및 성능을 검사하는 장치를 말한다. 프로브장치는 프로브핀(probe pin)을 이용하여 피검사체의 단자를 접촉하도록 구성된다.

프로브장치의 일종인 핀보드는, 검사신호를 생성하는 인쇄회로기판, 검사신호를 입력하는 프로브핀을 포함하는 장치로서, 핀보드어댑터를 통해 구동장치에 해당하는 지그와 결합되여 구동될 수 있다.

피검사체에 해당하는 디스플레이패널은 출력기능 외에 입력기능을 포함할 수 있는데, 터치스크린패널이 이에 해당한다. 터치스크린패널(touch screen panel, TSP)에 대한 성능검사는 화소검사(automotive vision inspection, AVI) 및 터치(TSP)검사를 포함한다. AVI는 화소검사를 뜻하고, TSP검사는 터치검사를 뜻한다.

본 발명과 관련된 기술로서, 대한민국 등록특허 공보에 개시된, 평판표시패널 검사용 프로브 장치는, 제1접촉부, 제2접촉부, 복수의 니들 및 제1가이드블록과 제2가이드블록을 갖는 프로브블록을 포함하나, 이 관련 기술에서 복수의 니들은 화소검사를 위해 모두 동일 단자에 접촉되어 전기적 신호를 전달하는 것으로서, 화소검사 및 터치검사에 모두 적합하도록 구성된 본 발명과 발명의 목적, 구성, 및 효과 면에서 서로 구별된다.

대한민국 등록특허 제10-0602154호 (2006.07.19 공고)

본 발명이 해결하고자 하는 일 과제는, 화소검사 및 터치검사에 모두 적용될 수 있는 프로브장치를 제공하는 것이다.

본 발명이 해결하고자 하는 일 과제는, 프로브핀과 FPC가 안정적으로 접촉할 수 있는 구조의 프로브장치를 제공하는 것이다.

본 발명이 해결하고자 하는 일 과제는, 화소검사 용도의 프로브핀과 터치검사 용도의 프로브핀을 안정적으로 고정시키는 슬릿이 구비된 프로브장치를 제공하는 것이다.

본 발명이 해결하고자 하는 일 과제는, 완충기능에 적합한 형상의 프로브핀이 구비된 프로브장치를 제공하는 것이다.

본 발명의 일 실시 예에 따른 동시접촉핀보드는, 핀보드바디(pin board body)(110); 핀보드바디(110)와 결합하는 인쇄회로기판(120); 핀보드바디(110)와 결합하는 AVI블록(130); 및 핀보드바디(110)와 결합하는 TSP블록(140)을 포함하고, AVI블록(130)은 AVI프로브핀(131)을 포함하고, TSP블록(140)은 TSP프로브핀(141)을 포함하고, 인쇄회로기판(120)은, AVI프로브핀(131) 및 TSP프로브핀(141)과 전기적 연결을 이루고, 핀보드바디(110)에는 구동지그가 결합되는 자리가 마련되고, 핀보드바디(110)는 결합된 구동지그의 동작에 따라 AVI프로브핀(131) 및 TSP프로브핀(141)을 피검사체에 동시 접촉하도록 구성될 수 있다.

또한, 동시접촉핀보드는, TSP프로브핀(141)과 인쇄회로기판(120)을 전기적으로 연결하는 TSP연성회로(FPC)가 안착되는 FPC베이스(142); 및 FPC베이스(142)와 TSP연성회로 사이에 배치되어 탄성을 이용하여 TSP연성회로의 단자를 TSP프로브핀(141)에 전기적으로 접촉시키는 FPC스프링(144)을 더 포함하도록 구성될 수 있다.

또한, AVI블록(130) 및 TSP블록(140)은, 핀보드바디(110)의 탑면 및 저면 중에서 어느 하나의 면과 각각 결합하도록 구성될 수 있다.

또한, AVI블록(130)은, AVI프로브핀(131)이 안착하는 AVI슬롯(133)을 더 포함하고, AVI블록(130)은 핀보드바디(110)의 저면과 결합하고, AVI프로브핀(131)은 AVI슬롯(133)의 하측에서 상방으로 AVI슬롯(133)에 끼워지도록 구성될 수 있다.

또한, AVI슬롯(133)은, 하방으로 개방된 수평AVI슬롯(133d)과 후방으로 개방된 수직AVI슬롯(133b)을 포함하도록 구성될 수 있다.

또한, AVI프로브핀(131)은, AVI슬롯(133)의 수직과 수평의 교차면에 끼워져 상방 및 전방 이탈을 방지하는 ㄱ자형의 걸쇠(latch)(131f); 및 AVI슬롯(133)의 수직면에 저항하여 AVI프로브핀(131)의 후방 이탈을 방지하는 돌기(131s)가 형성되게 구성될 수 있다.

또한, 핀보드바디(110)는, AVI프로브핀(131)이 인쇄회로기판(120)과 전기적 연결을 이루는 AVI연성회로(FPC)와 전기적 접촉을 이루도록, AVI프로브핀(131)의 후방의 이탈을 방지하는 위치에서 AVI연성회로(FPC)를 가압하도록 구성될 수 있다.

또한, TSP블록(140)은, TSP프로브핀(141)이 안착하는 TSP슬롯(143)을 더 포함하고, TSP블록(140)은 핀보드바디(110)의 탑면과 결합하고, TSP프로브핀(141)은 TSP슬롯(143)의 상측에서 하방으로 TSP슬롯(143)에 끼워지도록 구성될 수 있다.

또한, TSP슬롯(143)은, 상방으로 개방된 수평TSP슬롯(143u)과 전방으로 개방된 수직TSP슬롯(143f)을 포함하도록 구성될 수 있다.

또한, TSP블록(140)은, TSP슬롯(143)에서 TSP프로브핀(141)의 상방 이탈을 방지하는 커버(145u) 및 전방 이탈을 방지하는 커버(145f) 중에서 적어도 하나를 더 포함하도록 구성될 수 있다.

기타 실시 예의 구체적인 사항은 "발명을 실시하기 위한 구체적인 내용" 및 첨부 "도면"에 포함되어 있다.

본 발명의 이점 및/또는 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 각종 실시 예를 참조하면 명확해질 것이다.

그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 각 실시 예의 구성만으로 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로도 구현될 수도 있으며, 단지 본 명세서에서 개시한 각각의 실시 예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구범위의 각 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐임을 알아야 한다.

본 발명에 의하면, 하나의 프로브장치를 이용하여 화소검사 및 터치검사가 모두 수행될 수 있다.

또한, 프로브핀과 FPC가 안정적으로 접촉될 수 있다.

또한, 화소검사 용도의 프로브핀과 터치검사 용도의 프로브핀이 슬릿에 안정적으로 고정될 수 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 동시접촉핀보드의 분해도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 동시접촉핀보드의 예시도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 동시접촉핀보드의 우측면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 동시접촉핀보드의 AVI블록 및 TSP블록의 예시도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 동시접촉핀보드의 TSP블록의 예시도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 동시접촉핀보드의 슬롯 및 프로브핀의 예시도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 동시접촉핀보드의 AVI블록의 예시도이다.

본 발명을 상세하게 설명하기 전에, 본 명세서에서 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 무조건 한정하여 해석되어서는 아니 되며, 본 발명의 발명자가 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해서 각종 용어의 개념을 적절하게 정의하여 사용할 수 있고, 더 나아가 이들 용어나 단어는 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야 함을 알아야 한다.

즉, 본 명세서에서 사용된 용어는 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명하기 위해서 사용되는 것일 뿐이고, 본 발명의 내용을 구체적으로 한정하려는 의도로 사용된 것이 아니며, 이들 용어는 본 발명의 여러 가지 가능성을 고려하여 정의된 용어임을 알아야 한다.

또한, 본 명세서에서, 단수의 표현은 문맥상 명확하게 다른 의미로 지시하지 않는 이상, 복수의 표현을 포함할 수 있으며, 유사하게 복수로 표현되어 있다고 하더라도 단수의 의미를 포함할 수 있음을 알아야 한다.

본 명세서의 전체에 걸쳐서 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소를 "포함"한다고 기재하는 경우에는, 특별히 반대되는 의미의 기재가 없는 한 임의의 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 임의의 다른 구성 요소를 더 포함할 수도 있다는 것을 의미할 수 있다.

더 나아가서, 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소의 "내부에 존재하거나, 연결되어 설치된다"라고 기재한 경우에는, 이 구성 요소가 다른 구성 요소와 직접적으로 연결되어 있거나 접촉하여 설치되어 있을 수 있고, 일정한 거리를 두고 이격되어 설치되어 있을 수도 있으며, 일정한 거리를 두고 이격되어 설치되어 있는 경우에 대해서는 해당 구성 요소를 다른 구성 요소에 고정 내지 연결하기 위한 제 3의 구성 요소 또는 수단이 존재할 수 있으며, 이 제 3의 구성 요소 또는 수단에 대한 설명은 생략될 수도 있음을 알아야 한다.

반면에, 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소에 "직접 연결"되어 있다거나, 또는 "직접 접속"되어 있다고 기재되는 경우에는, 제 3의 구성 요소 또는 수단이 존재하지 않는 것으로 이해하여야 한다.

마찬가지로, 각 구성 요소 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 " ~ 사이에"와 "바로 ~ 사이에", 또는 " ~ 에 이웃하는"과 " ~ 에 직접 이웃하는" 등도 마찬가지의 취지를 가지고 있는 것으로 해석되어야 한다.

또한, 본 명세서에서 "일면", "타면", "일측", "타측", "제 1", "제 2" 등의 용어는, 사용된다면, 하나의 구성 요소에 대해서 이 하나의 구성 요소가 다른 구성 요소로부터 명확하게 구별될 수 있도록 하기 위해서 사용되며, 이와 같은 용어에 의해서 해당 구성 요소의 의미가 제한적으로 사용되는 것은 아님을 알아야 한다.

또한, 본 명세서에서 "상", "하", "좌", "우" 등의 위치와 관련된 용어는, 사용된다면, 해당 구성 요소에 대해서 해당 도면에서의 상대적인 위치를 나타내고 있는 것으로 이해하여야 하며, 이들의 위치에 대해서 절대적인 위치를 특정하지 않는 이상은, 이들 위치 관련 용어가 절대적인 위치를 언급하고 있는 것으로 이해하여서는 아니된다.

또한, 본 명세서에서는 각 도면의 각 구성 요소에 대해서 그 도면 부호를 명기함에 있어서, 동일한 구성 요소에 대해서는 이 구성 요소가 비록 다른 도면에 표시되더라도 동일한 도면 부호를 가지고 있도록, 즉 명세서 전체에 걸쳐 동일한 참조 부호는 동일한 구성 요소를 지시하고 있다.

본 명세서에 첨부된 도면에서 본 발명을 구성하는 각 구성 요소의 크기, 위치, 결합 관계 등은 본 발명의 사상을 충분히 명확하게 전달할 수 있도록 하기 위해서 또는 설명의 편의를 위해서 일부 과장 또는 축소되거나 생략되어 기술되어 있을 수 있고, 따라서 그 비례나 축척은 엄밀하지 않을 수 있다.

또한, 이하에서, 본 발명을 설명함에 있어서, 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 구성, 예를 들어, 종래 기술을 포함하는 공지 기술에 대해 상세한 설명은 생략될 수도 있다.

이하, 본 발명의 실시 예에 대해 관련 도면들을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.

각 도면에 표시된 xyz 좌표축에서 x축방향을 동시접촉핀보드(100)의 폭방향으로, y축방향을 길이방향으로, 그리고 z축방향을 높이방향으로 각각 정하기로 한다.

본 발명의 일 실시 예에 따른 동시접촉핀보드(100)는 터치스크린패널(touch screen panel, TSP)에 대한 화소검사 및 터치검사에 모두 적용될 수 있는 것을 특징으로 한다.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 동시접촉핀보드의 분해도이다.

도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 동시접촉핀보드의 예시도이다.

도 1은 동시접촉핀보드(100)의 구성요소를 분해된 상태에서 독립적으로 묘사하고, 도 2는 서로 결합된 상태의 구성요소를 묘사한다.

도 1 및 도 2를 함께 참조하면, 동시접촉핀보드(100)는 골격(frame)에 해당하는 핀보드바디(pin board body)(110), 검사신호를 출력하는 인쇄회로기판(printed circuit board, PCB)(120), 화소검사 기능의 AVI블록(automotive vision inspection block)(130) 및 터치검사 기능의 TSP블록(touch screen panel block)(140)을 포함하도록 구성될 수 있다.

핀보드바디(110)에 폭(X축)방향으로 정렬된 AVI블록(130) 및 TSP블록(140)의 다수 개가 결합될 수 있다. 따라서 핀보드바디(110)는 폭(X축)방향으로 길게 형성될 수 있다. 핀보드바디(110)는 강성이 높은 소재, 예를 들어 금속합금 또는 합성수지로 구현될 수 있다. 핀보드바디(110)는 핀보드어댑터(미도시)를 매개로 구동지그(미도시)에 연결될 수 있다.

PCB(120)는 피검사체, 예를 들어 터치스크린패널(touch screen panel, TSP)에 대한 검사신호를 생성하는 기능을 갖는다. 터치스크린패널에 대한 검사는 픽셀에 대한 화소검사 및 터치패널에 대한 터치검사를 포함할 수 있다. 따라서 검사용 신호로 화소(AVI)검사신호 및 터치(TSP)검사신호가 필요하고, PCB(120)는 AVI검사신호 및 TSP검사신호를 생성할 수 있다. PCB(120)는 하나 또는 두 개의 유닛으로 구성될 수 있다. 즉 하나의 유닛의 PCB(120)에서 AVI신호와 TSP신호가 모두 출력되거나, 두 개의 유닛의 PCB, 즉 AVI PCB에서 AVI검사신호가 출력되고, TSP PCB에서 TSP신호가 출력될 수 있다. 이하 한 개 유닛의 PCB(120)를 포함하는 동시접촉핀보드(100)에 대해 설명하기로 한다.

핀보드바디(110)의 저면에는 비전검사용도의 얼라인마크가 표시될 수 있다. 카메라를 통해 동시접촉핀보드(100) 및 AVI프로브핀(131) 및 TSP프로브핀(141)의 XY 평면에서 위치가 확인될 수 있다.

PCB(120)가 두 개의 유닛으로 구성될 경우, AVI PCB 및 TSP PCB는 핀보드바디(110)의 탑면 및 저면에 각각 나뉘어 결합될 수 있다.

PCB(120)의 위치는 검사블록의 위치와 관련이 있다. 즉 동시접촉핀보드(110)는, 탑면과 저면 중에서, AVI블록(130)과 관련된 부품은 핀보드바디(110)의 저면에 배치되고, TSP블록(140)과 관련된 부품은 핀보드바디(110)의 탑면에 배치되도록 구성될 수 있다. 물론 위와 반대의 조합도 가능하다. 따라서 AVI PCB 및 TSP PCB는 핀보드바디(110)의 탑면 및 저면 중에서 AVI블록(130) 및 TSP블록(140)이 결합된 면에 대응하여 각각 배치될 수 있다.

PCB(120)가 하나의 유닛으로 구성될 경우, PCB(120)는 핀보드바디(110)의 탑면 또는 저면과 결합하게 배치될 수 있다. 이 경우, TSP연성회로(FPC)는 PCB(120)의 탑면을 이용하여, PCB(120)와 TSP프로브핀(141)의 전기적 연결을 도울 수 있다. 그리고 AVI연성회로(FPC)는 PCB(120)의 저면을 이용하여, PCB(120)와 AVI연성회로(FPC)의 전기적 연결을 도울 수 있다.

AVI블록(130)은 PCB(120)에서 출력된 AVI신호를 피검사체, 즉 피감사체 상의 AVI패널에 입력하는 기능을 갖는다. AVI블록(130)은 핀보드바디(110)의 저면에 결합될 수 있다. 그리고 AVI블록(130)은 AVI FPC(미도시)를 매개로 PCB(120)와 전기적으로 연결될 수 있다.

AVI블록(130)은 피검사체 상에 접촉하는 AVI프로브핀(131), AVI프로브핀이 안착하는 AVI슬롯(133)을 포함하도록 구성될 수 있다.

TSP블록(140)은 PCB(120)에서 출력된 TSP신호를 피검사체, 측 피검사체의 TSP패드에 입력하는 기능을 갖는다. TSP블록(140)은 핀보드바디(110)의 탑면에 결합될 수 있다. 그리고 TSP블록(140)은 TSP연성회로(FPC)(미도시)를 매개로 PCB(120)와 전기적으로 연결될 수 있다.

TSP블록(140)은 피검사체 상에 접촉하는 TSP프로브핀(141) 및 TSP프로브핀(141)이 안착하는 TSP슬롯(143)을 포함하도록 구성될 수 있다.

AVI패드 및 TSP패드는 피검사체에 해당하는 터치스크린패널 상에 배치된 입력단자의 집합에 해당한다. 적어도 하나 이상의 AVI입력단자가 하나의 AVI패드를 형성하고, AVI패드는 복수 개가 터치스크린패널 상에 배치될 수 있다. 마찬가지로 적어도 하나 이상의 TSP입력단자가 TSP패드를 형성하고, TSP패드 복수 개가 터치스크린패널 상에 배치될 수 있다. 복수의 AVI패드 및 TSP패드는 대응되는 터치스크린패널의 XY좌표와 관계가 있으므로, AVI패드와 TSP패드의 수는 터치스크린패널의 면적에 비례할 수 있다.

AVI블록(130) 및 TSP블록(140)의 위치는 피검사체 상의 패드의 위치와 관련된다. 피검사체 상에는 AVI신호가 입력되는 AVI패드 및 TSP신호가 입력되는 TSP패드가 복수 개로 나뉘어 배치될 수 있다. 복수 개의 AVI패드와 TSP패드의 위치에 대응되게 AVI블록(130) 및 TSP블록(140)의 위치가 결정될 수 있다.

도 2를 다시 참조하면, 동시접촉핀보드(100)의 핀보드바디(110)에는 복수의 AVI블록(130) 및 복수의 TSP블록(140)이 결합될 수 있다. AVI블록(130) 및 TSP블록(140)은 AVI패드 및 TSP패드의 위치에 대응되게 동시접촉핀보드(100) 상의 면에 배치되어 결합할 수 있다.

피검사체에 해당하는 터치스크린패널에서 AVI패드 및 TSP패드의 위치가 서로 근접하게 배치되는 경향이 있으며, 이에 따라 AVI블록(130) 및 TSP블록(140)은 핀보드바디(110)에서 서로 근접되게 배치될 수 있다.

도 2를 다시 참조하면, 복수의 AVI블록(130)이 핀보드바디(110)의 저면에 일정 간격을 두고 결합되고, TSP블록(140)은 폭방향과 높이방향에서 AVI블록(130)과 서로 오버랩되게 배치될 수 있다. 즉 AVI블록(130)은 핀보드바디(110) 중에서, 전면에 형성된 X축방향의 에지에 접하도록, 핀보드바디(110)의 저면에 배치되고, TSP블록(140)은 AVI블록(130)의 전면과 핀보드바디(110)의 탑면에 동시에 접하도록 배치될 수 있다.

만약에 피검사체 상의 AVI패드와 TSP패드가 같은 높이에 있지 않다면, AVI블록에 포함된 AVI프로브핀 및 TSP블록에 포함된 TSP프로브핀의 각각의 첨두의 높이는 서로 차이가 나도록, AVI블록 및 TSP블록이 핀보드바디(110)와 결합되어야 한다.

도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 동시접촉핀보드의 우측면도이다.

도 3을 참조하면, AVI블록(130)을 구성하는 AVI프로브핀(131), AVI슬롯(133)과 TSP블록(140)을 구성하는 TSP프로브핀(141) 및 TSP슬롯(143)의 상대적 위치가 드러나도록 핀보드바디(110)가 투명하게 묘사되어 있다.

동시접촉핀보드(100)는, AVI슬롯(133)이 핀보드바디(110)의 전면의 이면인 내측면 및 저면(113)과 공통으로 결합하고, TSP슬롯(143)은 핀보드바디(110)의 탑면(111) 및 전면과 공통으로 결합하도록, 구성될 수 있다. 따라서 AVI슬롯(133)에 끼워지는 AVI프로브핀(131)과 TSP슬롯(143)에 끼워지는 TSP프로브핀(141)은 서로 근접하게 배치될 수 있다. PCB(120)는, 핀보드바디(110)의 저면(113) 또는 탑면(111)과 결합할 수 있다.

하이브르드 핀보드(100)는, TSP슬롯(143)을 위에서 덮는 상측커버(upper cover)(145u) 및 앞에서 덥는 전면커버(front cover)(145f)를 포함하도록 구성될 수 있다.

도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 동시접촉핀보드의 AVI블록 및 TSP블록의 예시도이다.

도 4를 참조하면, 상측커버(upper cover)(145u) 및 전면커버(front cover)(145f)가 덮인 상태의 TSP슬롯(143)이 묘사되어 있다. 복수의 AVI블록(130)이 X축방향으로 핀보드바디(110)의 저면에 배열되고, 이 중에서 하나의 AVI블록(130)과 Z축방향 및 Y축방향으로 중첩되게 TSP블록(140)이 핀보드바디(110)의 탑면 및 전면에 걸쳐 배치될 수 있다.

도 4를 다시 참조하면, FPC베이스(142) 및 FPC스프링(144)이 적어도 일부가 TSP블록(140)의 X좌표값과 같은 X좌표값을 갖도록 핀보드바디(110)의 탑면에 배치될 수 있다. FPC베이스(142) 상에 TSP블록(140)과 인쇄회로기판(120)을 전기적으로 연결하는 TSP연성회로(FPC)가 안착된다. 그리고 FPC스프링(144)은 FPC베이스(142)와 TSP연성회로 사이에 배치되어 탄성을 이용하여 TSP연성회로의 단자를 TSP블록(140)에 전기적으로 접촉시킬 수 있다. 즉 Y축방향에서 PCB(120)에 가깝게 배치된 후단의 결합부위는, FPC스프링(144)을 FPC베이스(142)에 고정시키고, FPC스프링(144)의 전단은 수평인 후단보다 높게 형성되어 있어서 TSP연성회로와 TSP프로브핀(141)을 간극없이 접촉시킬 수 있다.

도 4를 다시 참조하면, 탑홀(112)이 핀보드바디(110)의 탑면에 형성될 수 있다. 탑홀(112)을 통해 AVI프로브핀(131)이 핀보드바디(100)의 면에 의해 AVI연성회로(FPC)와 접촉하는 접촉면이 상방으로 노출되므로 비전 카메라 또는 육안을 통해 접촉부(131c)의 접촉 불량 여부가 모니터링 될 수 있다.

도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 동시접촉핀보드의 TSP블록의 예시도이다.

도 5를 참조하면, 상측커버(upper cover)(145u)와 전면커버(front cover)(145f)가 벗겨져서 TSP프로브핀(141)과 TSP슬롯(143)이 노출된 상태의 TSP블록(140)이 묘사되어 있다. TSP블록(140)과 AVI블록(130)은 각각이 따로따로 핀보드바디(110)와 결합하거나, TSP블록(140)과 AVI블록(130) 중에서 어느 하나가 핀보드바디(110)와 결합하고 나머지 하나가 핀보드바디(110)와 결합한 개체와 결합하는 것도 가능하다.

TSP프로브핀(141)은 끼움 결합을 통해 TSP슬롯(143)에 고정될 수 있다. 동시접촉핀보드(100)는, TSP프로브핀(141)이 TSP슬롯(143)의 상측에서 하방으로 TSP슬롯(143)에 끼워지도록 구성될 수 있다. 즉 TSP프로브핀(141)을 고정하기 위해 TSP슬롯(143)은, 수평슬롯(143u) 및 수직슬롯(143f)을 포함하도록 구성될 수 있다. 수평슬롯(143u)에는 TSP프로브핀(141)의 수직부위가 끼워지고, 수직슬롯(143f)에는 TSP프로브핀(141)의 수평부위가 끼워질 수 있다. TSP슬롯(143)은, 수평슬롯(143u)이 상방으로 개방되고, 수직슬롯(143f)이 전방을 향해 개방되도록, 형성될 수 있다. 따라서 TSP프로브핀(141)은 TSP블록(140)의 상측에서 하방으로 TSP슬롯(143)과 결합할 수 있다.

도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 동시접촉핀보드의 슬롯 및 프로브핀의 예시도이다.

AVI블록(130)은 핀보드바디(110)의 저면과 결합하고, AVI프로브핀(131)은 AVI슬롯9133)의 하측에서 상방으로 AVI슬롯(133)에 끼워지도록 구성될 수 있다. 그리고 AVI슬롯(133)은 하방으로 개방된 수평AVI슬롯(133d)과 후방으로 개방된 수직AVI슬롯(133d)을 포함하도록 구성될 수 있다.

도 6을 참조하면, 피검사체 상의 TSP패널과 접촉하는 TSP프로브핀(141)의 첨두와 피검사체의 AVI패널과 접촉하는 AVI프로브핀(131)의 첨두는 전후(Y축)방향으로 소정의 간격(w)만큼 이격되어 배치될 수 있다.

또한, TSP프로브핀(141)과 AVI프로브핀(131)의 첨두는 상하(Z축)방향으로 소정의 높이 차(h)를 두고 서로 다른 높이에 배치될 수 있다. 이는 전후(Y축)방향으로 이격되어 배치되고, 상하(Z축)방향으로 높이 차를 두고 배치되는 TSP패널과 AVI패널의 상대적 위치에 따른 것이다.

피검사체의 화소와 관련된 동작을 검사하는 AVI검사신호가 AVI프로브핀(131)을 통해서 터치스크린패널 상의 AVI패드에 입력된다. 같은 방법으로 피검사체의 터치와 관련된 동작을 검사하는 TSP검사신호가 TSP프로브핀(141)을 통해서 터치스크린패널 상의 TSP패드에 입력된다. AVI검사신호 및 TSP검사신호는 동시 입력 또는 이시 입력되어도 상관없다.

본 발명의 일 실시 예에 따른 동시접촉핀보드(100)는 핀보드의 교체 과정 없이, AVI검사신호 및 TSP검사신호 모두를 피검사체의 AVI패드 및 TSP패드에 입력시킬 수 있는 것이 특징이다. 따라서 동시접촉핀보드(100)를 이용하는 검사에서, 하나의 검사과정에서 화소검사 및 터치검사가 모두 진행될 수 있어서 검사속도가 향상될 수 있다.

AVI프로브핀(131)은 크게 첨두(tip)(131t), 바디(131h, 131v) 및 접촉부(131c)로 구성될 수 있다. AVI프로브핀(131)은 첨두(131t)를 AVI패드에 접촉시키고, 바디(131h, 131v)를 이용하여 수직 및 수평 방향의 탄성을 이용하여 첨두(131t)에서 전달되는 충격을 완충하고, 접촉부(131c)를 이용하여 FPC와 접촉한다. AVI프로브핀(131)의 바디(131h, 131v)는 수평부(131h) 및 수직부(131v)로 구성될 수 있다. 수평부(131h)는 팁(131t)과 접촉부(131c)를 수평방향으로 연결시키고, 수직부(131v)는 팁(131t)과 접촉부(131c)를 수직방향으로 연결시킨다.

도 6을 다시 참조하면, AVI프로브핀(131)은, AVI슬롯(133)의 수직과 수평의 교차면에 끼워져 상방 및 전방 이탈을 방지하는 ㄱ자형의 걸쇠(latch)(131f)가 형성되게 구성될 수 있다. ㄱ자형의 걸쇠(131f)와 AVI슬롯(133)에 형성된 ㄴ자형의 골이 결합함으로써 AVI프로브핀(131)이 상방, 하방 및 전방 쪽으로 AVI슬롯(133)에 고정될 수 있다.

또한, AVI프로브핀(131)은 AVI슬롯(133)의 수직면에 저항하여 AVI프로브핀(1311)의 후방 이탈을 방지하는 돌기(131s)가 형성되게 구성될 수 있다. 돌기(131s)는, AVI프로브핀(131)이 AVI슬롯(133)에 끼워진 상태에서 상방으로 돌출되고, AVI슬롯(133)의 저면에 형성된 골에 끼워지도록 구성될 수 있다. 따라서 돌기(131s)는 AVI프로브핀(131)이 후방으로 AVI슬롯(133)에서 분리되는 것을 방지한다.

또한, AVI프로브핀(131)은 접촉부(131c)로부터 절개된 영역으로 래치(131L)를 포함하도록 구성될 수 있다. 래치(131L)는 AVI슬롯(133)의 탑면과 접촉하여 AVI프로브핀(131)을 하방으로 고정시킨다.

종합적으로 AVI프로브핀(131)은 X축방향에서는 AVI슬롯(133)의 수평슬롯(133d) 및 수직슬롯(133b)에 의해 고정되고, Y축방향 중에서 전방으로 걸쇠(131f)에 의해 고정되고, 후방으로 돌기(131s)에 의해 고정되고, 그리고 Z축방향으로는 AVI슬롯(133) 및 래치(131L)에 의해 고정될 수 있다.

도 6을 참조하면, AVI프로브핀(131) 및 TSP프로브핀(141)은 첨두에서 전달되는 충격을 완충하기 위해 다양한 형태의 절개 패턴을 형성하도록 구성될 수 있다.

AVI프로브핀(131)은 첨두(131t), 수평부(131h), 수직부(131v) 및 접촉부(131c)를 포함하고, 첨두(131t)와 수평부(131h) 사이에 절곡부(1)가 형성되고, 수평부(131h)와 수직부(131v) 사이에 절곡부(2)가 형성되고, 수직부(131v)와 접촉부(131c) 사이에 절곡부(3)가 형성될 수 있다. 즉 수직 방향의 첨두(131t)는 3개의 절곡부(1, 2, 3)를 거쳐 수평방향의 접촉부(131c)와 연결될 수 있다.

AVI프로브핀(131)의 수평부(131h)는 수평 및 수직방향의 절개 패턴을 통해, 수직방향 및 수평방향 즉 Z축방향 및 Y축방향에서 충격을 완충할 수 있다. 예를 들어 AVI프로브핀(131)은 첨두(131t)와 이어지는 영역에서 원호 모양의 절개 패턴을 포함하도록 형성될 수 있다. 원호 모양의 절개 패턴은 수평패턴(13), 수직패턴(14), 내부 홀(15) 및 원호중심(11)을 포함하도록 구성될 수 있다. 수평패턴(13)은 수직방향의 충격을 완충하고, 수직패턴(14)은 수평방향의 충격을 완충할 수 있다. 내부 홀(15)도 수평방향 및 수직방향, 즉 원호 모양으로 형성될 수 있다. 원호중심(11)을 기준으로 수평패턴(13)과 수직패턴(14)이 부드럽게 이어질 수 있다.

AVI프로브핀(131)의 수직부(131v)는 Z축방향의 수직패턴(19)을 통해, 수평 방향, 즉 Y축방향에서 충격을 완충할 수 있다. 수직부(131v)는 수직패턴(19)을 이용하여 접촉부(131c)와 이어지므로 FPC와 수직 접촉하는 접촉부(131c)에 전달되는 충격을 완충하도록 구성될 수 있다.

TSP프로브핀(141)도, AVI프로브핀(131)과 마찬가지로 첨두(141t), 수직부(141v), 수평부(141h) 및 접촉부(141c)를 포함하도록 형성될 수 있다. TSP프로브핀(141)의 수평부(141h)는, 첨두(141t)에서 전달되는 Z축방향의 충격을 완충하기 위해서, Y축방향으로 형성된 수평패턴(17)을 포함하도록 구성될 수 있다.

접촉부(141c)는 수평절개(18)를 사이에 두고 날개(141w)가 형성될 수 있다. 날개(141w)는 접촉부(141c)의 강성을 높이는 역할을 한다. 날개(141w)는 역방향으로도 돌출되게 형성됨으로써 수평부(141h)가 굽어지는데 필요한 공간을 절개패턴을 통해 형성할 수 있다.

도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 동시접촉핀보드의 AVI블록의 예시도이다.

도 7을 참조하면, 피검사체 상의 AVI패드에 접촉하는 AVI프로브핀(131), AVI프로브핀(131)이 안착되는 AVI슬롯(133)을 포함하는 AVI블록(130)의 저면이 묘사되어 있다.

AVI프로브핀(131)의 수평부(131h)는 수평슬롯(133d)에 끼워져, 상방(upward) 이탈이 방지되고, 수직부(131v)는 수직슬롯(133b)에 끼워져, 전방(frontward) 이탈이 방지될 수 있다.

이와 같이 본 발명의 일 실시 예에 따르면, 하나의 프로브장치를 이용하여 화소검사 및 터치검사가 모두 수행될 수 있다.

또한, 프로브핀과 FPC가 안정적으로 접촉될 수 있다.

이상, 일부 예를 들어서 본 발명의 바람직한 여러 가지 실시 예에 대해서 설명하였지만, 본 "발명을 실시하기 위한 구체적인 내용" 항목에 기재된 여러 가지 다양한 실시 예에 관한 설명은 예시적인 것에 불과한 것이며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이상의 설명으로부터 본 발명을 다양하게 변형하여 실시하거나 본 발명과 균등한 실시를 행할 수 있다는 점을 잘 이해하고 있을 것이다.

또한, 본 발명은 다른 다양한 형태로 구현될 수 있기 때문에 본 발명은 상술한 설명에 의해서 한정되는 것이 아니며, 이상의 설명은 본 발명의 개시 내용이 완전해지도록 하기 위한 것으로 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것일 뿐이며, 본 발명은 청구범위의 각 청구항에 의해서 정의될 뿐임을 알아야 한다.

100: 동시접촉핀보드
110: 핀보드바디
111: 탑면
112: 탑홀
113: 저면
114: 전면
115: 얼라인마크
120: 인쇄회로기판
130: AVI블록
131: AVI프로브핀
132: 걸쇠
134: 돌기
133: AVI슬롯
133d: 하방슬롯
133b: 후방슬롯
140: TSP블록
142: FPC베이스
144: FPC스프링
141: TSP프로브핀
143: TSP슬롯
143u: 상방슬롯
143f: 전방슬롯
145: 커버
145u: 상방커버
145f: 전방커버

Claims

핀보드바디(pin board body)(110);
상기 핀보드바디(110)와 결합하는 인쇄회로기판(120);
상기 핀보드바디(110)와 결합하는 AVI블록(130); 및
상기 핀보드바디(110)와 결합하는 TSP블록(140)을 포함하고,
상기 AVI블록(130)은 AVI프로브핀(131)을 포함하고,
상기 TSP블록(140)은 TSP프로브핀(141)을 포함하고,
상기 인쇄회로기판(120)은, 상기 AVI프로브핀(131) 및 상기 TSP프로브핀(141)과 전기적 연결을 이루고,
상기 핀보드바디(110)에는 구동지그가 결합되는 자리가 마련되고,
상기 핀보드바디(110)는 결합된 상기 구동지그의 동작에 따라 상기 AVI프로브핀(131) 및 상기 TSP프로브핀(141)을 피검사체에 동시 접촉하도록 구성되는,
동시접촉핀보드.
청구항 1에 있어서, 상기 동시접촉핀보드는,
상기 TSP프로브핀(141)과 상기 인쇄회로기판(120)을 전기적으로 연결하는 TSP연성회로(FPC)가 안착되는 FPC베이스(142); 및
상기 FPC베이스(142)와 상기 TSP연성회로 사이에 배치되어 탄성을 이용하여 상기 TSP연성회로의 단자를 상기 TSP프로브핀(141)에 전기적으로 접촉시키는 FPC스프링(144)을 더 포함하도록 구성되는,
동시접촉핀보드.
청구항 1에 있어서, 상기 AVI블록(130) 및 TSP블록(140)은,
상기 핀보드바디(110)의 탑면 및 저면 중에서 어느 하나의 면과 각각 결합하도록 구성되는,
동시접촉핀보드.
청구항 1에 있어서, 상기 AVI블록(130)은,
상기 AVI프로브핀(131)이 안착하는 AVI슬롯(133)을 더 포함하고,
상기 AVI블록(130)은 상기 핀보드바디(110)의 저면과 결합하고,
상기 AVI프로브핀(131)은 상기 AVI슬롯(133)의 하측에서 상방으로 상기 AVI슬롯(133)에 끼워지도록 구성되는,
동시접촉핀보드.
청구항 4에 있어서, 상기 AVI슬롯(133)은,
하방으로 개방된 수평AVI슬롯(133d)과 후방으로 개방된 수직AVI슬롯(133b)을 포함하도록 구성되는,
동시접촉핀보드.
청구항 4에 있어서, 상기 AVI프로브핀(131)은,
상기 AVI슬롯(133)의 수직과 수평의 교차면에 끼워져 상방 및 전방 이탈을 방지하는 ㄱ자형의 걸쇠(latch)(131f); 및
상기 AVI슬롯(133)의 수직면에 저항하여 상기 AVI프로브핀(131)의 후방 이탈을 방지하는 돌기(131s)가 형성되게 구성되는,
동시접촉핀보드.
청구항 4에 있어서,
상기 핀보드바디(110)는, 상기 AVI프로브핀(131)이 상기 인쇄회로기판(120)과 전기적 연결을 이루는 AVI연성회로(FPC)와 전기적 접촉을 이루도록, 상기 AVI프로브핀(131)의 후방의 이탈을 방지하는 위치에서 상기 AVI연성회로(FPC)를 가압하도록 구성되는,
동시접촉핀보드.
청구항 1에 있어서, 상기 TSP블록(140)은,
상기 TSP프로브핀(141)이 안착하는 TSP슬롯(143)을 더 포함하고,
상기 TSP블록(140)은 상기 핀보드바디(110)의 탑면과 결합하고,
상기 TSP프로브핀(141)은 상기 TSP슬롯(143)의 상측에서 하방으로 상기 TSP슬롯(143)에 끼워지도록 구성되는,
동시접촉핀보드.
청구항 8에 있어서, 상기 TSP슬롯(143)은,
상방으로 개방된 수평TSP슬롯(143u)과 전방으로 개방된 수직TSP슬롯(143f)을 포함하도록 구성되는,
동시접촉핀보드.
청구항 8에 있어서, 상기 TSP블록(140)은,
상기 TSP슬롯(143)에서 상기 TSP프로브핀(141)의 상방 이탈을 방지하는 커버(145u) 및 전방 이탈을 방지하는 커버(145f) 중에서 적어도 하나를 더 포함하도록 구성되는,
동시접촉핀보드.