KR101970782B1 - 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치 - Google Patents

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이문선
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Abstract

본 발명은 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치에 관한 것이다. 본 발명의 실시예들에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치는, 유기 발광 다이오드 패널의 하부면 일측에 구비된 복수의 단자에 전기적으로 연결되는 복수의 제1 배선과, 복수의 제1 배선에 유기 발광 다이오드 패널을 검사하기 위한 테스트 신호를 인가하는 구동 칩(Driver IC)이 구비된 검사 필름; 일단이 검사 필름의 타단에 전기적으로 연결되며, 타단을 통해 전송 받은 테스트 신호를 구동 칩에 인가하는 복수의 제2 배선이 형성된 연성 필름; 일측에 복수의 단자를 향하는 경사면이 형성되고, 경사면에 검사 필름의 일단이 접합되며, 검사 필름의 일단을 통해 복수의 제1 배선이 복수의 단자에 접촉할 때에 검사 필름의 일단에 완충력을 제공하는 탄성 블록; 전단 상부에 탄성 블록이 결합되는 고정 홈이 형성된 프로브 블록; 및 프로브 블록의 상부에 결합되며, 검사 필름의 타단과 연성 필름의 일단을 프로브 블록에 고정시키는 고정 블록을 포함하며, 검사 필름은, 복수의 제1 배선이 복수의 단자에 접촉하도록 일단이 복수의 단자를 향하는 상부 방향으로 접힌 구성을 가지는 것을 특징으로 한다.

Description

유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치{Probing apparatus for testing of organic light-emitting display panel}
본 발명은 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 유기 발광 다이오드 패널 검사 장치의 구조를 단순화하고 유기 발광 다이오드 패널 검사 장치의 제조 비용 및 유지 보수 비용을 절감할 수 있는 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치에 관한 것이다.
일반적으로 액정 디스플레이 패널(Liquid crystal display panel, LCD 패널), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma display panel, PDP), 유기 발광 다이오드 패널(Organic light-emitting display panel, OLED 패널) 등과 같은 디스플레이 패널의 제조 공정은 디스플레이 패널을 제작하는 셀(Cell) 공정과, 제조된 디스플레이 패널을 드라이버(Driver) 등의 부품과 조립하여 완제품을 만드는 모듈(module) 조립 공정으로 나눌 수 있다.
이러한 디스플레이 패널은 소스 전극 및 게이트 전극이 각각 형성되어 있는 면을 기판 상에 마주 대하도록 배치한 화상 표시 장치로서, 셀 공정을 거쳐 제조된 디스플레이 패널은 제조 공정상 발생할 수 있는 결함의 유무를 검사할 필요가 있다.
디스플레이 패널에 대한 검사를 수행하는 디스플레이 패널 검사 장치는 디스플레이 패널에 구비된 복수의 단자에 테스트 신호를 인가하여 디스플레이 패널의 픽셀 에러 모드(Pixel error mode), 즉, 컬러(Color), 해상도(Resolution), 밝기(Brightness) 등을 확인할 수 있다. 최근에는 고화질의 디스플레이 패널이 지속적으로 증가하고 있으며, 그에 따라 고밀도의 디스플레이 패널을 검사하기 위해 고밀도의 미세 패턴이 형성된 디스플레이 패널 검사 장치의 개발이 활발하게 이루어지고 있다.
특히, 최근에는 얇은 두께와 유연성, 그리고 뛰어난 화질 재현성이 우수한 유기 발광 다이오드 패널이 증가하는 추세인데, 유기 발광 다이오드 패널은 기존 액정 디스플레이 패널, 플라즈마 디스플레이 패널 등과는 다른 구조로 인해 종래의 디스플레이 패널 검사 장치를 그대로 적용할 수 없다는 문제점이 있었다.
특히, 유기 발광 다이오드 패널은 검사를 위한 복수의 단자가 패널의 하부면에 구비되어 복수의 단자에 접촉하는 프로브 장치가 액정 디스플레이 패널과는 반대로 접촉해야 하므로, 기존의 액정 디스플레이 패널 검사 장치를 그대로 적용할 수 없다는 문제점이 있었다.
따라서, 기존의 액정 디스플레이 패널 검사 장치를 유기 발광 다이오드 패널에 그대로 적용하기 위해서는 프로브 장치에 구비된 구동 칩(Driver IC) 또는 검사 필름(범프 필름 포함)을 반대로 접촉시키기 위한 추가 필름 등 별도의 추가 구성 요소를 구비해야 하거나, 기존의 구성 요소에 비아 홀(Via hole) 등을 통해 별도의 다층 배선을 형성해야 하는 등 별도의 추가 제조 공정이 필요하므로, 유기 발광 다이오드 패널 검사 장치의 제조 비용 및 유지 보수 비용이 증가한다는 문제점이 있었다.
따라서, 유기 발광 다이오드 패널 검사 장치의 구조를 단순화하고 유기 발광 다이오드 패널 검사 장치의 제조 비용 및 유지 보수 비용을 절감할 수 있는 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치가 요구된다.
본 발명은 상기한 문제점을 개선하기 위해 발명된 것으로, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 복수의 제1 배선이 형성된 검사 필름의 일단을 접어 유기 발광 다이오드 패널(D)의 하부면 일측에 구비된 복수의 단자(P)에 접촉하도록 구성함으로써, 유기 발광 다이오드 패널 검사 장치의 구조를 단순화하고 유기 발광 다이오드 패널 검사 장치의 제조 비용 및 유지 보수 비용을 절감할 수 있는 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 기술적 과제는 이상에서 언급한 것들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제는 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 과제를 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치는, 유기 발광 다이오드 패널의 하부면 일측에 구비된 복수의 단자에 전기적으로 연결되는 복수의 제1 배선과, 상기 복수의 제1 배선에 상기 유기 발광 다이오드 패널을 검사하기 위한 테스트 신호를 인가하는 구동 칩(Driver IC)이 구비된 검사 필름; 일단이 상기 검사 필름의 타단에 전기적으로 연결되며, 타단을 통해 전송 받은 상기 테스트 신호를 상기 구동 칩에 인가하는 복수의 제2 배선이 형성된 연성 필름; 일측에 상기 복수의 단자를 향하는 경사면이 형성되고, 상기 경사면에 상기 검사 필름의 일단이 접합되며, 상기 검사 필름의 일단을 통해 상기 복수의 제1 배선이 상기 복수의 단자에 접촉할 때에 상기 검사 필름의 일단에 완충력을 제공하는 탄성 블록; 전단 상부에 상기 탄성 블록이 결합되는 고정 홈이 형성된 프로브 블록; 및 상기 프로브 블록의 상부에 결합되며, 상기 검사 필름의 타단과 상기 연성 필름의 일단을 상기 프로브 블록에 고정시키는 고정 블록을 포함하며, 상기 검사 필름은, 상기 복수의 제1 배선이 상기 복수의 단자에 접촉하도록 일단이 상기 복수의 단자를 향하는 상부 방향으로 접힌 구성을 가지는 것을 특징으로 한다.
이 때, 상기 검사 필름은, 상기 복수의 제1 배선 각각의 일단에 형성되며, 상기 복수의 단자에 접촉하는 복수의 범프를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 검사 필름은, 상기 구동 칩이 COF(Chip on film) 방식에 의해 실장된 것을 특징으로 한다.
특히, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치는, 상기 검사 필름은, 상기 고정 블록에 의해 상기 프로브 블록에 고정되는 제1 구간; 상기 고정 블록으로부터 노출되어 상기 프로브 블록의 전단 상부를 향하도록 연장되는 제2 구간; 상기 복수의 제1 배선이 형성된 상기 검사 필름의 제1 면이 상기 경사면에 접합되는 제3 구간; 및 상기 제1 면이 상기 복수의 단자를 향하도록 접혀진 제4 구간으로 구성된 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치는, 상기 검사 필름은, 상기 고정 블록에 의해 상기 프로브 블록에 고정되는 제1 구간; 상기 고정 블록으로부터 노출되어 상기 프로브 블록의 전단에 형성된 관통 홈을 통해 상기 프로브 블록의 전단 방향으로 연장되는 제2 구간; 상기 복수의 제1 배선이 형성된 상기 검사 필름의 제1 면이 상기 프로브 블록의 전단을 향하도록 상기 프로브 블록의 전단 상부로 연장되는 제3 구간; 및 상기 제1 면의 반대 면인 상기 검사 필름의 제2 면이 상기 경사면에 접합되고, 상기 제1 면이 상기 복수의 단자를 향하도록 접혀진 제4 구간으로 구성된 것을 특징으로 한다.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치에 따르면, 복수의 제1 배선이 형성된 검사 필름의 일단을 접어 유기 발광 다이오드 패널(D)의 하부면 일측에 구비된 복수의 단자(P)에 접촉하도록 구성함으로써, 별도의 추가 구성 요소를 필요로 하지 않으므로, 유기 발광 다이오드 패널 검사 장치의 구조를 단순화하고 유기 발광 다이오드 패널 검사 장치의 제조 비용 및 유지 보수 비용을 절감할 수 있다.
본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 청구범위의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치의 구조를 나타내는 사시도이다.
도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치의 구조를 나타내는 분해 사시도이다.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치를 구성하는 검사 필름 및 연성 필름의 구조를 나타내는 평면도이다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치가 프로브 블록에 설치된 모습을 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치를 구성하는 검사 필름의 구조를 나타내는 도면이다.
도 6은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치의 구조를 나타내는 사시도이다.
도 7은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치의 구조를 나타내는 분해 사시도이다.
도 8은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치가 프로브 블록에 설치된 모습을 나타내는 도면이다.
도 9는 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치를 구성하는 검사 필름의 구조를 나타내는 도면이다.
이하, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.
실시예를 설명함에 있어서 본 발명이 속하는 기술 분야에 익히 알려져 있고 본 발명과 직접적으로 관련이 없는 기술 내용에 대해서는 설명을 생략한다. 이는 불필요한 설명을 생략함으로써 본 발명의 요지를 흐리지 않고 더욱 명확히 전달하기 위함이다.
마찬가지 이유로 첨부 도면에 있어서 일부 구성요소는 과장되거나 생략되거나 개략적으로 도시되었다. 또한, 각 구성요소의 크기는 실제 크기를 전적으로 반영하는 것이 아니다. 각 도면에서 동일한 또는 대응하는 구성요소에는 동일한 참조 번호를 부여하였다.
또한, 장치 또는 요소 방향(예를 들어 "전(front)", "후(back)", "위(up)", "아래(down)", "상(top)", "하(bottom)", "좌(left)", "우(right)", "횡(lateral)")등과 같은 용어들에 관하여 본원에 사용된 표현 및 술어는 단지 본 발명의 설명을 단순화하기 위해 사용되고, 관련된 장치 또는 요소가 단순히 특정 방향을 가져야 함을 나타내거나 의미하지 않는다는 것을 알 수 있을 것이다.
이하, 본 발명의 실시예들에 의하여 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치를 설명하기 위한 도면들을 참고하여 본 발명에 대해 설명하도록 한다.
먼저, 도 1 내지 도 5를 참조하여, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치(100)의 구조에 대해 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치의 구조를 나타내는 사시도이고, 도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치의 구조를 나타내는 분해 사시도이다.
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치(100)는, 검사 필름(110), 연성 필름(120), 탄성 블록(130), 프로브 블록(140) 및 고정 블록(150)을 포함하여 구성될 수 있다.
본 발명에서 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치(100)는 외부의 테스터(도시되지 않음)에서 전송 받은 테스트 신호를 유기 발광 다이오드 패널(도 4의 D)에 전송하고, 다시 유기 발광 다이오드 패널(D)로부터 출력되는 신호를 전달 받아 유기 발광 다이오드 패널(D)의 상태를 검사할 수 있다.
예를 들어, 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치(100)는 유기 발광 다이오드 패널(D)에 구비된 복수의 단자(도 4의 P)에 RGB 색상 신호 등 데이터 신호(Data signal)와 게이트 신호(Gate signal)로 이루어진 테스트 신호를 인가하여 유기 발광 다이오드 패널(D)의 픽셀 에러 모드(Pixel error mode), 즉, 컬러(Color), 해상도(Resolution), 밝기(Brightness) 등을 검사할 수 있다.
검사 필름(110)은 유기 발광 다이오드 패널(D)의 하부면 일측에 구비된 복수의 단자(P)에 전기적으로 연결되며 테스트 신호를 인가할 수 있다. 또한, 연성 필름(120)은 검사 필름(110)의 타단에 전기적으로 연결되며, 테스터(도시되지 않음)로부터 전송 받은 테스트 신호를 검사 필름(110)에 전송할 수 있다.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치를 구성하는 검사 필름 및 연성 필름의 구조를 나타내는 평면도이다.
설명의 편의상, 도 3에서는 검사 필름(110)과 연성 필름(120)을 도 2의 하부 방향에서 바라본 모습을 도시하고 있다.
도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 검사 필름(110)은 얇은 필름 형태의 제1 필름 몸체(111)에 유기 발광 다이오드 패널(D)의 하부면 일측에 구비된 복수의 단자(P)에 전기적으로 연결되는 복수의 제1 배선(112)과, 복수의 제1 배선(112)에 유기 발광 다이오드 패널(D)을 검사하기 위한 테스트 신호를 인가하고 그에 따른 출력을 검출하는 구동 칩(Driver IC)(113)이 구비될 수 있다.
바람직하게는, 복수의 제1 배선(112)은 구리, 구리 합금 등과 같이 전도성이 우수한 재질로 이루어질 수 있으며, 포토리소그래피 공정(photolithography process)을 이용하여 제1 필름 몸체(111)의 제1 면(도 4의 111a)에 형성될 수 있다. 또한, 구동 칩(113)은 COF(Chip on film) 방식에 의해 검사 필름(110)에 실장될 수 있다.
연성 필름(120)은 일단이 검사 필름(110)의 타단에 전기적으로 연결되며, 얇은 필름 형태의 제1 필름 몸체(121)에 테스터(도시되지 않음)로부터 전송 받은 테스트 신호를 구동 칩(113)에 인가하는 복수의 제2 배선(122)이 형성될 수 있다. 이러한 연성 필름(120)은 잘 알려진 연성 회로 기판(Flexible printed circuit, FPC 또는 FPCB)을 사용할 수 있다.
한편, 도 3에 도시된 바와 같이, 필요에 따라, 검사 필름(110)은 복수의 제1 배선(112) 각각의 일단에 형성되며, 유기 발광 다이오드 패널(D)의 하부면 일측에 구비된 복수의 단자(P)에 접촉하는 복수의 범프(114)를 더 포함할 수도 있다. 이 때, 복수의 범프(114) 각각은 구리, 구리 합금, 금, 금 합금, 은, 은 합금 등과 같이 전도성이 우수한 재질로 이루어지며, 복수의 제1 배선(112)과 마찬가지로 포토리소그래피 공정을 이용하여 복수의 제1 배선(112)의 일단에 돌출되도록 형성될 수 있다.
다시 도 1 및 도 2를 참조하면, 탄성 블록(130)은 일측에 유기 발광 다이오드 패널(D)의 하부면 일측에 구비된 복수의 단자(P)를 향하는 경사면(131)이 형성되고, 프로브 블록(140)은 대략 직육면체 형상을 가지고 전단 상부에 탄성 블록(130)이 결합되는 고정 홈(141)이 형성될 수 있다.
따라서, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 탄성 블록(130)은 프로브 블록(140)의 고정 홈(141)에 결합된 상태에서 경사면(131)에 검사 필름(110)의 일단이 접합될 수 있다. 이러한 탄성 블록(130)은 검사 필름(110)의 일단을 통해 복수의 제1 배선(112)이 복수의 단자(P)에 접촉할 때에 검사 필름(110)의 일단에 완충력을 제공할 수 있다. 이 때, 탄성 블록(130)은 우레탄(Urethane) 재질로 이루어지는 것이 바람직하다.
고정 블록(150)은 프로브 블록(140)의 상부에 결합되며, 검사 필름(110)의 타단과 연성 필름(120)의 일단을 프로브 블록(140)에 고정시킬 수 있다. 비록 자세히 도시되지는 않았으나, 고정 블록(150)은 볼트 등 체결 부재에 의해 프로브 블록(140)의 상부에 직접 결합될 수 있다. 또한, 비록 도시되지는 않았으나, 고정 블록(150)은 검사 필름(110)의 타단 및 연성 필름(120)의 일단을 일정한 압력으로 가압하여 복수의 제1 배선(112) 및 복수의 제2 배선(122)이 안정적으로 접촉되도록 하기 위해 별도의 가압 블록(도시되지 않음)을 더 구비할 수도 있다.
한편, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치(100)를 구성하는 검사 필름(110)은 일단이 접힌 구성을 가질 수 있다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치가 프로브 블록에 설치된 모습을 나타내는 도면이고, 도 5는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치를 구성하는 검사 필름의 구조를 나타내는 도면이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 검사 필름(110)은 제1 필름 몸체(111)의 제1 면(111a)(도 4의 상세도 A에서 하부면)에 복수의 제1 배선(112)이 형성되고, 복수의 제1 배선(112)에 연결된 구동 칩(113)이 형성될 수 있다.
이 때, 제1 필름 몸체(111)의 제1 면(111a)(도 4의 상세도 A에서 하부면)에 형성된 복수의 제1 배선(112)이 유기 발광 다이오드 패널(D)의 하부면 일측에 구비된 복수의 단자(P)에 접촉하기 위해, 제1 필름 몸체(111)의 제1 면(111a)(도 4의 상세도 B에서 상부면)이 유기 발광 다이오드 패널(D)을 향하도록, 검사 필름(110)의 일단은 복수의 단자(P)를 향하는 상부 방향으로 접히는 구성을 가질 수 있다.
따라서, 도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치(100)를 구성하는 검사 필름(110)은, 고정 블록(150)에 의해 프로브 블록(140)에 고정되는 제1 구간(110A), 고정 블록(150)으로부터 노출되어 프로브 블록(140)의 전단 상부를 향하도록 경사지게 연장되는 제2 구간(110B), 복수의 제1 배선(112)이 형성된 검사 필름(110)의 제1 면(111a)이 경사면(131)에 접합되는 제3 구간(110C), 검사 필름(110)의 제1 면(111a)이 복수의 단자(P)를 향하도록 접혀진 제4 구간(110D)으로 구성될 수 있다.
즉, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치(100)를 구성하는 검사 필름(110)의 일단은 경사면(131)에 접합되는 제3 구간(110C)과 복수의 단자(P)를 향하도록 접혀진 제4 구간(110D)으로 인해 전체적으로 "U" 자형 또는 "V" 자형 형태로 형성될 수 있다.
이와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치(100)는, 복수의 제1 배선(112)이 형성된 검사 필름(110)의 일단을 접어 유기 발광 다이오드 패널(D)의 하부면 일측에 구비된 복수의 단자(P)에 접촉하도록 구성함으로써, 기존 디스플레이 패널 검사 장치의 검사 필름(110)을 일부 변형하면 될 뿐, 별도의 추가 구성 요소를 필요로 하지 않으므로, 유기 발광 다이오드 패널 검사 장치의 구조를 단순화하고 유기 발광 다이오드 패널 검사 장치의 제조 비용 및 유지 보수 비용을 절감할 수 있다.
이하, 도 6 내지 도 9를 참조하여, 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치(200)의 구조에 대해 설명하기로 한다. 설명의 편의상, 도 1 내지 도 5에 도시된 제1 실시예와 동일한 구조 및 기능에 대한 설명은 생략하며, 이하 차이점 만을 위주로 설명하기로 한다.
도 6은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치의 구조를 나타내는 사시도이고, 도 7은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치의 구조를 나타내는 분해 사시도이다.
도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치(200)는, 검사 필름(210), 연성 필름(220), 탄성 블록(230), 프로브 블록(240) 및 고정 블록(250)을 포함하여 구성될 수 있다. 도 6 및 도 7에 도시된 제2 실시예는 프로브 블록(240)의 구조 및 검사 필름(210)의 형태에 있어서 도 1 내지 도 5에 도시된 제1 실시예와 차이가 있다.
즉, 도 7에 도시된 바와 같이, 프로브 블록(240)은 전단 상부에 탄성 블록(230)이 결합되는 고정 홈(241)이 형성될 뿐 아니라, 전단에 검사 필름(210) 및 연성 필름(220)의 길이 방향을 따라 관통된 관통 홈(242)이 형성될 수 있다.
따라서, 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치(200)를 구성하는 검사 필름(210)은 프로브 블록(240)에 형성된 관통 홈(242)을 통해 연장된 후 일단이 접힌 구성을 가질 수 있다.
도 8은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치가 프로브 블록에 설치된 모습을 나타내는 도면이고, 도 9는 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치를 구성하는 검사 필름의 구조를 나타내는 도면이다.
도 8에 도시된 바와 같이, 검사 필름(210)은 프로브 블록(240)에 형성된 관통 홈(242)을 통해 연장된 후, 다시 프로브 블록(240)의 전단과 탄성 블록(230)의 경사면(231)을 따라 연장될 ?에, 제1 필름 몸체(211)의 제1 면(211a)(도 8의 상세도 C에서 상부면)이 유기 발광 다이오드 패널(D)을 향하여 유기 발광 다이오드 패널(D)의 하부면 일측에 구비된 복수의 단자(P)에 접촉할 수 있다.
따라서, 도 9에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치(200)를 구성하는 검사 필름(210)은, 고정 블록(250)에 의해 프로브 블록(240)에 고정되는 제1 구간(210A), 고정 블록(250)으로부터 노출되어 프로브 블록(240)의 전단에 형성된 관통 홈(242)을 통해 프로브 블록(240)의 전단 방향으로 연장되는 제2 구간(210B), 복수의 제1 배선(212)이 형성된 검사 필름(210)의 제1 면(211a)이 프로브 블록(240)의 전단을 향하도록 프로브 블록(240)의 전단 상부로 연장되는 제3 구간(210C), 제1 면(211a)의 반대 면인 검사 필름(210)의 제2 면(211b)이 경사면(231)에 접합되고, 제1 면(211a)이 복수의 단자(P)를 향하도록 접혀진 제4 구간(210D)으로 구성될 수 있다.
즉, 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치(200)를 구성하는 검사 필름(210)은 프로브 블록(240)의 전단 방향으로 연장되는 제2 구간(210B), 프로브 블록(240)의 전단 상부로 연장되는 제3 구간(210C), 경사면(231)에 접합되는 제4 구간(210D)으로 인해 전체적으로 "ㄷ" 자형 또는 완만한 "U" 자형 형태로 형성될 수 있다.
이 경우, 도 9에 도시된 검사 필름(210)은 도 5에 도시된 검사 필름(110)에 비해 단선 및 크랙의 가능성이 적어 검사 필름(210)의 교체 주기를 늘릴 수 있으므로, 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치(200)의 유지 보수 비용을 절감시키고 유기 발광 다이오드 패널(D)에 대한 검사 효율을 향상시킬 수 있다.
이와 같이, 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치(200)는, 복수의 제1 배선(212)이 형성된 검사 필름(210)의 일단을 프로브 블록(240)에 형성된 관통 홈(242)을 통해 접어 유기 발광 다이오드 패널(D)의 하부면 일측에 구비된 복수의 단자(P)에 접촉하도록 구성함으로써, 기존 디스플레이 패널 검사 장치의 검사 필름(210) 및 프로브 블록(240)을 일부 변형하면 될 뿐, 별도의 추가 구성 요소를 필요로 하지 않으므로, 유기 발광 다이오드 패널 검사 장치의 구조를 단순화하고 유기 발광 다이오드 패널 검사 장치의 제조 비용 및 유지 보수 비용을 절감할 수 있다.
한편, 본 명세서와 도면에는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 개시하였으며, 비록 특정 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명의 기술 내용을 쉽게 설명하고 발명의 이해를 돕기 위한 일반적인 의미에서 사용된 것이지, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시예 외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형예들이 실시 가능하다는 것은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100, 200: 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치
110, 210: 검사 필름
120, 220: 연성 필름
130, 230: 탄성 블록
140, 240: 프로브 블록
150, 250: 고정 블록

Claims (5)

  1. 유기 발광 다이오드 패널의 하부면 일측에 구비된 복수의 단자에 전기적으로 연결되는 복수의 제1 배선과, 상기 복수의 제1 배선에 상기 유기 발광 다이오드 패널을 검사하기 위한 테스트 신호를 인가하는 구동 칩(Driver IC)이 구비된 검사 필름;
    일단이 상기 검사 필름의 타단에 전기적으로 연결되며, 타단을 통해 전송 받은 상기 테스트 신호를 상기 구동 칩에 인가하는 복수의 제2 배선이 형성된 연성 필름;
    일측에 상기 복수의 단자를 향하는 경사면이 형성되고, 상기 경사면에 상기 검사 필름의 일단이 접합되며, 상기 검사 필름의 일단을 통해 상기 복수의 제1 배선이 상기 복수의 단자에 접촉할 때에 상기 검사 필름의 일단에 완충력을 제공하는 탄성 블록;
    전단 상부에 상기 탄성 블록이 결합되는 고정 홈이 형성된 프로브 블록; 및
    상기 프로브 블록의 상부에 결합되며, 상기 검사 필름의 타단과 상기 연성 필름의 일단을 상기 프로브 블록에 고정시키는 고정 블록을 포함하며,
    상기 검사 필름은,
    상기 복수의 제1 배선이 상기 복수의 단자에 접촉하도록 일단이 상기 복수의 단자를 향하는 상부 방향으로 접힌 구성을 가지되,
    상기 검사 필름은,
    상기 고정 블록에 의해 상기 프로브 블록에 고정되는 제1 구간;
    상기 고정 블록으로부터 노출되어 상기 프로브 블록의 전단 상부를 향하도록 경사지게 연장되는 제2 구간;
    상기 복수의 제1 배선이 형성된 상기 검사 필름의 제1 면이 상기 경사면에 접합되는 제3 구간; 및
    상기 제1 면이 상기 복수의 단자를 향하도록 상기 제3 구간으로부터 접혀지며, 상기 복수의 단자에 접촉하는 제4 구간으로 구성된 것을 특징으로 하는 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 검사 필름은,
    상기 복수의 제1 배선 각각의 일단에 형성되며, 상기 복수의 단자에 접촉하는 복수의 범프를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 검사 필름은,
    상기 구동 칩이 COF(Chip on film) 방식에 의해 실장된 것을 특징으로 하는 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치.
  4. 삭제
  5. 유기 발광 다이오드 패널의 하부면 일측에 구비된 복수의 단자에 전기적으로 연결되는 복수의 제1 배선과, 상기 복수의 제1 배선에 상기 유기 발광 다이오드 패널을 검사하기 위한 테스트 신호를 인가하는 구동 칩(Driver IC)이 구비된 검사 필름;
    일단이 상기 검사 필름의 타단에 전기적으로 연결되며, 타단을 통해 전송 받은 상기 테스트 신호를 상기 구동 칩에 인가하는 복수의 제2 배선이 형성된 연성 필름;
    일측에 상기 복수의 단자를 향하는 경사면이 형성되고, 상기 경사면에 상기 검사 필름의 일단이 접합되며, 상기 검사 필름의 일단을 통해 상기 복수의 제1 배선이 상기 복수의 단자에 접촉할 때에 상기 검사 필름의 일단에 완충력을 제공하는 탄성 블록;
    전단 상부에 상기 탄성 블록이 결합되는 고정 홈이 형성되고, 상기 고정 홈의 하부에 상기 검사 필름 및 상기 연성 필름의 길이 방향을 따라 관통 홈이 형성된 프로브 블록; 및
    상기 프로브 블록의 상부에 결합되며, 상기 검사 필름의 타단과 상기 연성 필름의 일단을 상기 프로브 블록에 고정시키는 고정 블록을 포함하며,
    상기 검사 필름은,
    상기 복수의 제1 배선이 상기 복수의 단자에 접촉하도록 일단이 상기 복수의 단자를 향하는 상부 방향으로 접힌 구성을 가지되,
    상기 검사 필름은,
    상기 고정 블록에 의해 상기 프로브 블록에 고정되는 제1 구간;
    상기 고정 블록으로부터 노출되어 상기 관통 홈을 통해 상기 프로브 블록의 전단 방향으로 연장되는 제2 구간;
    상기 복수의 제1 배선이 형성된 상기 검사 필름의 제1 면이 상기 프로브 블록의 전단을 향하도록 상기 프로브 블록의 전단 상부로 연장되는 제3 구간; 및
    상기 제1 면의 반대 면인 상기 검사 필름의 제2 면이 상기 경사면에 접합되고, 상기 제1 면이 상기 복수의 단자를 향하도록 상기 제3 구간으로부터 접혀지며, 상기 복수의 단자에 접촉하는 제4 구간으로 구성된 것을 특징으로 하는 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치.
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