JP2950153B2 - コネクタ検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、端子金具が挿入された
コネクタをその端子金具とプローブとの間の電気的導通
の有無に基づいて検査するコネクタ検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】この種のコネクタ検査装置としては、例
えば特公平４−４０６６９号公報に記載されたものが知
られている。これは、コネクタホルダを基台に固定して
設けると共にプローブホルダをコネクタホルダに対して
接近及び離間方向に移動可能に設け、そのプローブホル
ダには複数本のプローブを配設した構成である。

【０００３】このコネクタ検査装置では、キャビティ内
に端子金具が挿入されてワイヤーハーネスを構成してい
るコネクタをコネクタホルダに装着し、プローブホルダ
をコネクタホルダ側へ移動させると、プローブがコネク
タハウジングのキャビティ内に進入してその内部の端子
金具に接触するようになっている。このときに、端子金
具が正しいキャビティに挿入されていればその端子金具
とプローブとの間には正しい電気的導通が生じるのであ
るが、端子金具が正しいキャビティに挿入されていない
場合には端子金具とプローブとの間の電気的導通は所定
の状態にはならない。このことから、端子金具が正しい
キャビティに挿入されているか否かが判断され、ワイヤ
ーハーネスの導通検査が行われるのである。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記構成では、プロー
ブの先端がコネクタハウジングのキャビティ内に進入
し、プローブはキャビティ内の端子金具のうち相手側の
端子金具と接触する部分に接触することになる。ところ
が、この種の端子金具では、相手側の端子金具との間に
安定した電気接触状態を確保するために、接触部に例え
ば金メッキが施されているものがある。このため、上述
のようにプローブの先端が端子金具の接触部に接触して
しまうものではプローブがメッキ部分に傷を付けてしま
うことがあり、電気接触状態の信頼性に問題を生ずるお
それがあった。

【０００５】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は、導通検査のためにプローブを接触させ
ながら、端子金具の接触部に傷を付けることを防止でき
るコネクタ検査装置を提供するところにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明のコネクタ検査装
置は、コネクタハウジングのキャビティに端子金具が挿
入され、そのキャビティに隣接するランス撓み空間に向
かって撓み可能なランスにて端子金具を抜け止め状態と
したコネクタを、その端子金具とプローブとの間の電気
的導通の有無に基づいて検査する装置であって、コネク
タを保持するコネクタホルダと、このコネクタホルダに
保持されたコネクタに対向して設けられコネクタの各端
子金具に対応するプローブを備えたプローブホルダと、
コネクタホルダ及びプローブホルダの一方又は双方を互
いに接近する方向に移動させることによりプローブを前
記ランス撓み空間内に進入させるプローブ駆動機構と、
このプローブ駆動機構によるプローブホルダの移動に伴
いプローブを先端がランス撓み空間内で端子金具に接触
するように偏移させるプローブ偏移機構とを備えたとこ
ろに特徴を有する（請求項１の発明）。

【０００７】また、基台に固定的に設けられてコネクタ
を保持するコネクタホルダと、基台にコネクタホルダに
対して接近及び離間方向にスライド可能に設けられたス
ライドブロックと、このスライドブロックにそのスライ
ド方向と直交する方向に偏移可能に設けられコネクタの
端子金具に対応するプローブを備えたプローブホルダ
と、スライドブロックに設けられてプローブホルダをス
ライドブロックの移動方向とは直交する方向に偏移させ
る偏移カムと、プローブホルダをプローブがコネクタハ
ウジングのランス撓み空間に対応する位置に付勢する付
勢手段と、スライドブロックに移動可能に設けられ、そ
の移動により偏移カムを回動させてプローブをランス撓
み空間内から端子金具に接触するように偏移させるカム
押圧子と、基台のうちコネクタホルダとは反対側のスラ
イドブロックの近傍に回動操作可能に設けられ、その回
動によりスライドブロックを移動させてプローブをコネ
クタハウジングのランス撓み空間に進入させた後にカム
押圧子を移動させて偏移カムを回動させるカムハンドル
とを備えた構成としてもよい（請求項２の発明）。

【０００８】

【作用】請求項１のコネクタ検査装置では、検査すべき
コネクタをコネクタホルダにセットしてプローブ駆動機
構を作動させると、コネクタホルダ及びプローブホルダ
の一方又は双方が互いに接近する方向に移動されてプロ
ーブがコネクタハウジングのランス撓み空間内に進入さ
れる。そして、これと共に、プローブ偏移機構によって
プローブの先端がランス撓み空間内で端子金具に接触す
るように偏移されるから、プローブの先端はランス撓み
空間側から端子金具に接触し、相手側の端子金具との接
触が予定されている接触部にはプローブは接触しないこ
とになる。

【０００９】また、請求項２のコネクタ検査装置では、
検査すべきコネクタをコネクタホルダにセットし、カム
ハンドルを回動操作する。すると、そのカム部によって
スライドブロックが押圧され、これに設けられたプロー
ブホルダのプローブがコネクタ側に進出する。そのプロ
ーブの先端部がコネクタのランス撓み空間内に進入する
ようになると、今度は、カムハンドルのカム部がカム押
圧子を押圧して偏移カムを回動させることになり、プロ
ーブホルダがスライドブロックの移動方向とは直交する
方向に偏移されるから、ここに設けられたプローブがラ
ンス撓み空間内から端子金具に接触するようになる。

【００１０】

【発明の効果】以上述べたように、本発明のコネクタ検
査装置によれば、プローブの先端は端子金具のうち相手
方の端子金具との接触が予定されている接触部には接触
することなく導通検査を行うことができるから、端子金
具の接触部に傷を付けることを確実に防止して電気的導
通の信頼性を高めることができるという効果が得られ
る。

【００１１】

【実施例】以下、本発明を具体化した一実施例について
図面を参照して説明する。

【００１２】＜コネクタの概説＞まず、本実施例のコネ
クタ検査装置１０によって検査されるコネクタ１につい
て説明する。これは、ほぼ直方体状をなす合成樹脂製の
コネクタハウジング２を備え、図７に示すように、その
内部に形成された複数のキャビティ３にそれぞれ雌型の
端子金具４を収容した周知の構造であり、端子金具４は
キャビティ３の後方（図７において右側）から挿入され
てキャビティ３内部にコネクタハウジング２と一体に設
けられたランス５によって抜け止めされる。電線６に接
続された端子金具４がキャビティ３内に後方から挿入さ
れると、ランス５はキャビティ３と隣接して形成された
ランス撓み空間７側に一時的に撓んでその通過を許容
し、端子金具４が正規位置に納まるとランス５が端子金
具４と係合するようになる。なお、コネクタハウジング
２の前面側において、キャビティ３とランス撓み空間７
とは区画枠８にて区画されている。また、端子金具４の
先端側は図示しない相手方の雄端子金具と接触するため
の接触部となっており、ここに金メッキが施されてい
る。

【００１３】＜コネクタ検査装置＞さて、本実施例のコ
ネクタ検査装置１０は、図１に示すように基台１１上の
図示右側にコネクタホルダ１２を有する。コネクタホル
ダ１２は上記コネクタ１を保持するためのものであり、
合成樹脂材料からなる前後両方向及び上方に開放したＵ
字形断面をなすホルダ本体１３と、その後端面に固着し
たＵ字形のストッパプレート１４とから構成される。ホ
ルダ本体１３の上方及び前後両方向に開放した空間はコ
ネクタ保持部１５となっており、そのコネクタ保持部１
５を構成する互いに平行な左右両側壁の間隔はコネクタ
１のコネクタハウジング２の幅とほぼ同じ寸法であっ
て、コネクタ１はこのコネクタ保持部１５内に上方から
挿入されて後方への移動がストッパプレート１４にて阻
止された状態で保持される。なお、そのコネクタ１の保
持状態で、コネクタハウジング２のキャビティ３とこれ
に対応するランス撓み空間７とは横並び状態となる。

【００１４】一方、基台１１上には上記コネクタホルダ
１２と対向してスライドブロック１６が設けられてい
る。このスライドブロック１６は基台１１の上面に設け
た２本のレール１７に沿ってコネクタホルダ１２に対し
接近及び離間する方向にスライド移動自在に支持されて
おり、全体として枠状をなして内部に前記コネクタハウ
ジング２を挿入可能な開口部１８を有する。このスライ
ドブロック１６とホルダ本体１３との間は、図２に示す
ようにガイドシャフト１９が設けられ、スライドブロッ
ク１６がコネクタホルダ１２側に移動すると、ガイドシ
ャフト１９に装着した第１の圧縮スプリング２０が圧縮
される。

【００１５】図４に明瞭に示されるように、上記スライ
ドブロック１６の開口部１８内には、これよりも僅かに
小さなプローブホルダ２１が設けられている。このプロ
ーブホルダ２１はスライドブロック１６内を横方向に貫
通して設けた２本のガイドピン２２に嵌合して左右移動
可能に設けられており、各ガイドピン２２に装着した付
勢部材に相当するコイルスプリング２３にて常には左側
（図４において下側）に押し付けられている。プローブ
ホルダ２１には、スライドブロック１６の移動方向に沿
って延びる複数本のプローブ２４が検査すべきコネクタ
１の各端子金具４に対応して設けられており、その先端
がコネクタホルダ１２側に向いている。各プローブ２４
は、プローブホルダ２１に固定したスリーブ２５内にプ
ローブピン２６を軸方向に移動自在に挿入して構成され
ており、プローブピン２６はスリーブ２５内に設けたコ
イルスプリング２７によって常に突出方向に付勢されて
いる。なお、スリーブ２５にはストッパ２５ａが内側に
突出して設けられ、ここにプローブピン２６に設けた鍔
部２６ａが当接して前方への突出位置が規制されてい
る。また、各プローブピン２６にはそれぞれ電線２８が
接続されており、これらが図示しないワイヤーハーネス
の導通検査回路に接続されている。この導通検査回路に
はワイヤーハーネスとして組み上げられたコネクタ１の
電線６も接続されるようになっており、端子金具４とプ
ローブピン２６との間の電気的導通の有無が検出され、
それに基づいて電線６の接続の適否がランプの点灯やブ
ザーの鳴動等により報知されるようになっている。

【００１６】一方、スライドブロック１６の側部には前
記開口部１８に連なる補助開口部２９が形成されると共
に、その補助開口部２９内に断面が扇形をなす偏移カム
３０が回動可能に設けられ、これが回動することにより
前記プローブホルダ２１をコイルスプリング２７の弾発
力に抗して右方向（図４中上方向）に移動させるように
なっている。そして、スライドブロック１６にはその移
動方向に沿って空洞部３１が形成され、ここにカム押圧
子３２が一部を突出させて移動可能に収容されている。
このカム押圧子３２には押圧突起３３が補助開口部２９
内に突出するように設けられており、これが偏移カム３
０を押圧する。このカム押圧子３２の突出端部は下側ほ
ど突出量が大きくなる傾斜状をなしており、その傾斜面
３２ａに後述するカムハンドル３５のカム部３５ａが接
触する。また、カム押圧子３２と空洞部３１底部との間
には、第２の圧縮スプリング３４が設けられてカム押圧
子３２を突出方向に常に付勢しており、カム押圧子３２
が空洞部３１内側に押圧されると第２の圧縮スプリング
３４を圧縮しながら偏移カム３０を押圧する。

【００１７】そして、基台１１のうちコネクタホルダ１
２とは反対側でスライドブロック１６を挟む位置にカム
ハンドル３５が支軸３６を中心に回動操作可能に設けら
れ、ハンドル部３５ｂを握って回動操作すると、カム部
３５ａがスライドブロック１６及び偏移カム３０を押圧
するようになっている。そのカム部３５ａの形状は、カ
ムハンドル３５の回動当初はカム部３５ａがスライドブ
ロック１６の後面を押圧し、その結果、プローブピン２
６がランス撓み空間７内に進入する位置までスライドブ
ロック１６が移動されるに至ると、今度は、カム部３５
ａが前記カム押圧子３２に接触してこれを押圧するよう
になっている。このカムハンドル３５のカム部３５ａ及
びこれを受けるスライドブロック１６はプローブホルダ
２１をコネクタホルダ１２側に移動させるプローブ駆動
機構を構成し、また、上記スライドブロック１６に保持
されたカム押圧子３２及びこれに押圧される偏移カム３
０はプローブ駆動機構によるプローブホルダ２１の移動
方向とは直交する方向にプローブ２４を偏移させるため
のプローブ偏移機構を構成する。

【００１８】＜実施例の作用＞次に、本実施例の作用を
説明する。ワイヤハーネスとして組み立てられたコネク
タ１を検査する場合、まず、そのコネクタ１をコネクタ
検査装置１０のコネクタ保持部１５に上方からセットし
て保持させる。すると、コネクタハウジング２のランス
撓み空間７はキャビティ３の左側（図７で下側）に位置
することになる。

【００１９】次いで、カムハンドル３５のハンドル部３
５ｂを握って上方に回動させると、これが支軸３６を中
心に回動するため、カム部３５ａがまずスライドブロッ
ク１６を押圧するようになる。この結果、スライドブロ
ック１６が図中右方向に移動し、スライドブロック１６
の開口部１８内にコネクタ１のコネクタハウジング２が
進入するようになる。なお、このときカム部３５ａはカ
ム押圧子３２には当接せず、偏移カム３０は回動しない
から、プローブホルダ２１は図４に示すようにコイルス
プリング２３にて左側（図４において下側）に押し付け
られた状態にある。

【００２０】従って、この状態で、プローブ２４のプロ
ーブピン２６の先端部はコネクタハウジング２のランス
撓み空間７に対応し、図７に示すように、プローブピン
２６の先端部はランス撓み空間７内に進入する。そし
て、この段階になると、カムハンドル３５のカム部３５
ａがカム押圧子３２の傾斜面３２ａを押圧し始めるよう
になるため、カム押圧子３２が第２の圧縮スプリング３
４の弾発力に抗して奥に押し込まれるようになり、この
結果、図８に示すように、偏移カム３０が回動してプロ
ーブホルダ２１が同図中上方に偏移することになる。こ
のため、プローブピン２６も上方へ並行移動し、プロー
ブピン２６の先端部が端子金具４の側面部に接触するこ
とになり、これと電気的な導通が得られて導通検査回路
にて導通検査が行われる。

【００２１】＜実施例の効果＞このように本実施例のコ
ネクタ検査装置１０によれば、プローブピン２６は端子
金具４に対して、その側部から接触することになるか
ら、相手方の端子金具に接触が予定されていて金メッキ
が施されている接触部にはプローブピン２６は接触する
ことがない。このため、端子金具４の接触部の金メッキ
部分に傷を付けてしまうことを確実に防止することがで
き、コネクタとしての電気接触状態の信頼性を十分に高
めることができる。しかも、プローブを端子金具の接触
舌片に押し当てる従来の検査装置では、コネクタ及びプ
ローブ側双方の加工誤差によってはプローブが端子金具
の接触舌片に強く当たってこれを変形させてしまうこと
もあった。しかし、本実施例のコネクタ検査装置１０に
よれば、プローブピン２６は相手方の端子金具との接触
が予定されている接触舌片には接触しないため、これを
変形させてしまうおそれは全くなく、検査が原因となっ
てコネクタの接触舌片を損傷させてしまうという不合理
な事態を確実に防止できる。また、従来の検査装置で
は、万一、プローブピンが変形して収縮変位ができなく
なった場合にも、やはり端子金具の接触舌片を変形させ
てしまうことがあったが、本実施例によれば、かかる事
態も生じない。もちろん、プローブを使用せず、例えば
実際の雄形端子を検査用端子として利用してコネクタの
雌形端子に接触させる従来のコネクタ検査装置と比較し
ても、同様に、接触舌片のメッキ部の摩耗・剥がれや接
触舌片自体の変形を確実に防止することができるので、
端子金具の機能維持を図ることができる。加えて、特
に、基台１１にカムハンドル３５を設け、そのカム部３
５ａにてスライドブロック１６を押圧すると共に、カム
押圧子３２を押圧して偏移カム３０にてプローブホルダ
２１を偏移させる構成とした本実施例では、１本のカム
ハンドル３５を回動操作するという１動作でプローブホ
ルダ２１をコネクタ１側に進出させた後にそれとは直交
する方向に偏移させることができ、検査のための必要な
動作が単純であり、能率的な検査を行うことができる。

【００２２】＜他の実施例＞本発明は上記記述及び図面
によって説明した実施例に限定されるものではなく、例
えば次のような実施態様も本発明の技術的範囲に含まれ
る。 （１）上記実施例では、カムハンドル３５のカム部３５
ａの形状を工夫してプローブピン２６が直線的に進出し
た後に横方向に偏移する構成としたが、これに限らず、
カムハンドルを回動操作するとプローブホルダがコネク
タホルダ側に進出し、その後に例えばスライドブロック
の側部に設けた押しボタンを押せばプローブホルダが横
方向に偏移する構成としてもよい。

【００２３】（２）また、直線的な進出動作と、その後
の横方向への偏移とを１動作で実現するにしても、例え
ばバネ係数の相違を利用した次のような構成であっても
良い。すなわち、コネクタホルダ１２、スライドブロッ
ク１６、偏移カム３０及びカム押圧子３２は上記実施例
と同様に構成する。一方、カムハンドルのカム部は常に
カム押圧子３２に接触し、カムハンドルの回動操作に応
じてこれを押圧するような形状とすると共に、プローブ
ピン２６がコネクタハウジング２のランス撓み空間７内
に進入したところでスライドブロック１６の移動を阻止
するストッパを設ける。そして、スライドブロック１６
がコネクタホルダ１２に接近する方向にスライドするこ
とにより押し縮められる第１の圧縮スプリング２０のバ
ネ係数を、カム押圧子３２がカムハンドルのカム部に押
圧されて移動することにより押し縮められる第２の圧縮
スプリング３４のバネ係数よりも小さくなるように設定
しておく。

【００２４】上記構成とすると、検査すべきコネクタ１
をコネクタホルダ１２にセットした状態でカムハンドル
を回動操作すると、そのカム部によって直ちにカム押圧
子３２が押圧される。ここで、カム押圧子３２が移動す
ることにより押し縮められる第２の圧縮スプリング３４
は、スライドブロック１６がコネクタホルダ１２に接近
する方向にスライドすることにより押し縮められる第１
の圧縮スプリング２０よりも硬いから、第２の圧縮スプ
リング３４は押し縮められることなく、まず第１の圧縮
スプリング２０が押し縮められてスライドブロック１６
がコネクタホルダ１２に接近する方向にスライドし、そ
の結果、これに設けられたプローブホルダ２１のプロー
ブ２４がコネクタ１側に進出する。そして、プローブピ
ン２６の先端部がコネクタハウジング２のランス撓み空
間７内に進入するようになると、スライドブロック１６
がストッパに当接し、それ以上の進出が規制されるか
ら、第２の圧縮スプリング３４が押し縮められることに
なり、今度は、カム押圧子３２が移動して偏移カム３０
を回動させるようになり、結局、プローブホルダ２１が
スライドブロック１６の移動方向とは直交する方向に変
位されてプローブピン２６の先端部がランス撓み空間７
内から端子金具４に接触するようになる。従って、この
ような構成でも前記実施例と同様な効果が得られる。

【００２５】（３）前記実施例ではプローブ２４を丸軸
のピン形状のものとしたが、これに限らず、例えば細い
帯状導電板を使用してもよい。この場合には、その帯状
導電板の先端部を端子金具の側面側に向けて折り返して
先端が太くなる形状とすることが好ましい。

【００２６】（４）上記実施例では、コネクタホルダ１
２を移動させる構成としたが、これに限らず、逆に、カ
ムハンドルを回動操作すると、コネクタホルダがプロー
ブホルダ側に移動したり、双方が移動したりする構成で
あってもよい。

【００２７】その他、本願発明は上記記述及び図面によ
って説明した実施例に限定されるものではなく、端子金
具に金メッキが施されていないコネクタの検査に利用す
る等、要旨を逸脱しない範囲内で種々変更して実施する
ことができるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示す全体の斜視図

【図２】同じく縦断面図

【図３】スライドブロックの側面図

【図４】図３のIV−IV線に沿う横断面図

【図５】図３のV−V線に沿う横断面図

【図６】図５のVI−VI線に沿う縦断面図

【図７】検査途中であってプローブピンがランス撓み空
間内に進入した状態を示す全体の横断面図

【図８】検査途中であってプローブピンがランス撓み空
間内から端子金具に接触した状態を示す全体の横断面図

【符号の説明】

４…端子金具 ５…ランス ７…ランス撓み空間 １０…コネクタ検査装置 １１…基台 １２…コネクタホルダ １５…コネクタ保持部 １６…スライドブロック １７…レール ２１…プローブホルダ ２３…コイルスプリング（付勢部材） ２４…プローブ ２６…プローブピン ３０…偏移カム ３２…カム押圧子 ３５…カムハンドル

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) G01R 31/02 - 31/04 H01R 43/00

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 コネクタハウジングのキャビティに端子
   金具が挿入され、そのキャビティに隣接するランス撓み
   空間に向かって撓み可能なランスにて前記端子金具を抜
   け止め状態としたコネクタを、その端子金具とプローブ
   との間の電気的導通の有無に基づいて検査する装置であ
   って、 前記コネクタを保持するコネクタホルダと、このコネク
   タホルダに保持されたコネクタに対向して設けられ前記
   コネクタの端子金具に対応するプローブを備えたプロー
   ブホルダと、前記コネクタホルダ及び前記プローブホル
   ダの一方又は双方を互いに接近する方向に移動させるこ
   とにより前記プローブを前記ランス撓み空間内に進入さ
   せるプローブ駆動機構と、このプローブ駆動機構による
   プローブホルダの移動に伴い前記プローブを先端が前記
   ランス撓み空間内から前記端子金具に接触するように偏
   移させるプローブ偏移機構とを備えてなるコネクタ検査
   装置。
2. 【請求項２】 コネクタハウジングのキャビティに端子
   金具が挿入され、そのキャビティに隣接するランス撓み
   空間に向かって撓み可能なランスにて前記端子金具を抜
   け止め状態としたコネクタを、その端子金具とプローブ
   との間の電気的導通の有無に基づいて検査する装置であ
   って、 基台に固定的に設けられて前記コネクタを保持するコネ
   クタホルダと、 前記基台に前記コネクタホルダに対して接近及び離間方
   向にスライド可能に設けられたスライドブロックと、 このスライドブロックにそのスライド方向と直交する方
   向に偏移可能に設けられ前記コネクタの端子金具に対応
   するプローブを備えたプローブホルダと、 前記スライドブロックに設けられて前記プローブホルダ
   をスライドブロックの移動方向とは直交する方向に偏移
   させる偏移カムと、 前記プローブホルダを前記プローブが前記コネクタハウ
   ジングのランス撓み空間に対応する位置に付勢する付勢
   手段と、 前記スライドブロックに移動可能に設けられ、その移動
   により前記偏移カムを回動させて前記プローブを前記ラ
   ンス撓み空間内から前記端子金具に接触するように偏移
   させるカム押圧子と、 前記基台のうち前記コネクタホルダとは反対側の前記ス
   ライドブロックの近傍に回動操作可能に設けられ、その
   回動により前記スライドブロックを移動させて前記プロ
   ーブを前記コネクタハウジングのランス撓み空間に進入
   させた後に前記カム押圧子を移動させて前記偏移カムを
   回動させるカムハンドルとを備えてなるコネクタ検査装
   置。