JP2020034299A - 導通検査装置及び導通検査方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】接続端子の軸方向への変形を抑えつつ良好に導通検査を行うことが可能な導通検査装置及び導通検査方法を提供すること。【解決手段】メスハウジング20を保持する保持部72と、保持部72に保持されたメスハウジング20に対して相対的に近接及び離間される導通検査部73と、導通検査部73に支持され、メスハウジング20に導通検査部73が近接されることで、メス端子25の箱部31の端部に接触して導通する接触子82を有する導通検査プローブ80と、を備え、接触子82は、箱部31へ近接する方向へ向かって次第に箱部31の中心軸Xから離れる方向へ傾斜した接触面83を有する。【選択図】図8
Description
本発明は、導通検査装置及び導通検査方法に関する。
コネクタのハウジングに収容されている接続端子の導通検査を行う装置として、弾性部材によって前方へ付勢された導通検査ピンを、コネクタのハウジングの端子収容室に収容された接続端子に突き当てて導通させるものが知られている(例えば、特許文献1参照)。
ところで、相手側の接続端子と電気的に接続される電気接続部が中空の筒状に形成された接続端子を備えるコネクタに対して上記の導通検査装置で導通検査を行う場合、導通検査ピンを電気接続部である筒状部位に突き当てた際に、軸方向に作用する押圧力によって筒状部位が軸方向に変形して開いてしまうおそれがある。すると、相手側コネクタとの接続時における相手側の接続端子との接続信頼性が低下するおそれがある。
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、接続端子の軸方向への変形を抑えつつ良好に導通検査を行うことが可能な導通検査装置及び導通検査方法を提供することにある。
前述した目的を達成するために、本発明に係る導通検査装置及び導通検査方法は、下記(1)〜(7)を特徴としている。
(1) 導電性金属材料からなる板材を折り曲げることで形成された筒状部位を有する接続端子をハウジングに収容したコネクタに対して、前記接続端子の導通検査を行う導通検査装置であって、
前記ハウジングを保持する保持部と、
前記保持部に保持された前記ハウジングに対して相対的に近接及び離間される導通検査部と、
前記導通検査部に支持され、前記ハウジングに前記導通検査部が近接されることで、前記接続端子の前記筒状部位の端部に接触して導通する接触子を有する導通検査プローブと、
を備え、
前記接触子は、前記筒状部位へ近接する方向へ向かって次第に前記筒状部位の中心軸から離れる方向へ傾斜した接触面を有する
ことを特徴とする導通検査装置。
(2) 前記接触子は、湾曲した板状に形成されている
ことを特徴とする(1)に記載の導通検査装置。
(3) 前記筒状部位は、接続相手の接続端子に設けられたタブが挿し込まれる箱部であり、
前記接触子の前記接触面は、前記箱部の先端における角部に当接される
ことを特徴とする(1)または(2)に記載の導通検査装置。
(4) 前記筒状部位は、接続相手の接続端子に設けられた箱部に挿し込まれるタブであり、
前記接触子の前記接触面は、前記タブの先端における角部に当接される
ことを特徴とする(1)または(2)に記載の導通検査装置。
(5) 前記導通検査プローブは、一対の前記接触子を有し、それぞれの前記接触子の前記接触面が互いに対向位置に配置され、前記接触面が前記タブの先端における角部にそれぞれ当接される
ことを特徴とする(4)に記載の導通検査装置。
(6) 前記一対の接触子は、前記タブを挟持可能とされている
ことを特徴とする(5)に記載の導通検査装置。
(7) (1)から(6)のいずれか一つに記載の導通検査装置を用いて前記接続端子の導通検査を行う導通検査方法であって、
前記保持部に前記ハウジングを保持させ、
前記保持部に保持させた前記ハウジングに対して前記導通検査部を近接させ、
前記接続端子の前記筒状部位の端部に前記導通検査プローブの前記接触子に設けられた前記接触面を接触させる
ことを特徴とする導通検査方法。
(1) 導電性金属材料からなる板材を折り曲げることで形成された筒状部位を有する接続端子をハウジングに収容したコネクタに対して、前記接続端子の導通検査を行う導通検査装置であって、
前記ハウジングを保持する保持部と、
前記保持部に保持された前記ハウジングに対して相対的に近接及び離間される導通検査部と、
前記導通検査部に支持され、前記ハウジングに前記導通検査部が近接されることで、前記接続端子の前記筒状部位の端部に接触して導通する接触子を有する導通検査プローブと、
を備え、
前記接触子は、前記筒状部位へ近接する方向へ向かって次第に前記筒状部位の中心軸から離れる方向へ傾斜した接触面を有する
ことを特徴とする導通検査装置。
(2) 前記接触子は、湾曲した板状に形成されている
ことを特徴とする(1)に記載の導通検査装置。
(3) 前記筒状部位は、接続相手の接続端子に設けられたタブが挿し込まれる箱部であり、
前記接触子の前記接触面は、前記箱部の先端における角部に当接される
ことを特徴とする(1)または(2)に記載の導通検査装置。
(4) 前記筒状部位は、接続相手の接続端子に設けられた箱部に挿し込まれるタブであり、
前記接触子の前記接触面は、前記タブの先端における角部に当接される
ことを特徴とする(1)または(2)に記載の導通検査装置。
(5) 前記導通検査プローブは、一対の前記接触子を有し、それぞれの前記接触子の前記接触面が互いに対向位置に配置され、前記接触面が前記タブの先端における角部にそれぞれ当接される
ことを特徴とする(4)に記載の導通検査装置。
(6) 前記一対の接触子は、前記タブを挟持可能とされている
ことを特徴とする(5)に記載の導通検査装置。
(7) (1)から(6)のいずれか一つに記載の導通検査装置を用いて前記接続端子の導通検査を行う導通検査方法であって、
前記保持部に前記ハウジングを保持させ、
前記保持部に保持させた前記ハウジングに対して前記導通検査部を近接させ、
前記接続端子の前記筒状部位の端部に前記導通検査プローブの前記接触子に設けられた前記接触面を接触させる
ことを特徴とする導通検査方法。
上記(1)の構成の導通検査装置によれば、接続端子の筒状部位に接触する接触子が、筒状部位へ近接する方向へ向かって次第に筒状部位の中心軸から離れる方向へ傾斜した接触面を有する。したがって、接続端子の導通検査を行うために接触子の接触面を接続端子の筒状部位に接触させた際に、筒状部位が接触面から受ける押圧力の一部が、筒状部位の中心軸へ向かう分力となって筒状部位に作用することとなる。したがって、筒状部位に対して軸方向に作用する押圧力を低減させることができ、軸方向に作用する押圧力によって筒状部位を構成する板材が軸方向に変形して筒状部位が開いて接続信頼性が低下するような不具合を抑制できる。また、単に筒状部材の端部に接触子を軸方向に突き合わせるものと比べ、接触面が筒状部位に接触して摺動するので、接触圧が小さくても良好な導通状態を得ることができる。つまり、接続端子の変形を抑えつつ良好に導通検査を行うことができる。
上記(2)の構成の導通検査装置によれば、接触子が湾曲した板状に形成されているので、接続端子の筒状部位に当接される際の押圧力を接触子が弾性変形することによって吸収することができ、接続端子の筒状部位の押圧力による軸方向への変形をより抑えることができる。また、弾性変形する接触子からの弾性力によって接続端子の筒状部位に対して接触面を導通検査に必要十分な接触圧で接触させ、良好に導通検査を行うことができる。
上記(3)の構成の導通検査装置によれば、接続相手の接続端子に設けられたタブが挿し込まれる箱部を有する接続端子に対して、その箱部の先端における角部に接触子の接触面を当接させることで、箱部を軸方向へ変形させることなく良好に導通検査を行うことができる。
上記(4)の構成の導通検査装置によれば、接続相手の接続端子に設けられた箱部に挿し込まれるタブを有する接続端子に対して、そのタブの先端における角部に接触子の接触面を当接させることで、タブを軸方向へ変形させることなく良好に導通検査を行うことができる。
上記(5)の構成の導通検査装置によれば、タブの先端における角部に対して導通検査プローブの一対の接触子のそれぞれの接触面を当接させることで、タブを軸方向へ変形させることなくさらに確実に導通検査を行うことができる。
上記(6)の構成の導通検査装置によれば、導通検査プローブの一対の接触子によってタブを挟持させることで、タブを軸方向へ変形させることなくさらに良好に導通検査を行うことができる。
上記(7)の導通検査方法によれば、接続端子の筒状部位に対して、その軸方向に作用する押圧力を抑えつつ導通検査プローブの接触子を接触させることができる。これにより、筒状部位を構成する板材が軸方向に変形して筒状部位が開いて接続信頼性が低下するような不具合を抑制しつつ良好に導通検査を行うことができる。
上記(2)の構成の導通検査装置によれば、接触子が湾曲した板状に形成されているので、接続端子の筒状部位に当接される際の押圧力を接触子が弾性変形することによって吸収することができ、接続端子の筒状部位の押圧力による軸方向への変形をより抑えることができる。また、弾性変形する接触子からの弾性力によって接続端子の筒状部位に対して接触面を導通検査に必要十分な接触圧で接触させ、良好に導通検査を行うことができる。
上記(3)の構成の導通検査装置によれば、接続相手の接続端子に設けられたタブが挿し込まれる箱部を有する接続端子に対して、その箱部の先端における角部に接触子の接触面を当接させることで、箱部を軸方向へ変形させることなく良好に導通検査を行うことができる。
上記(4)の構成の導通検査装置によれば、接続相手の接続端子に設けられた箱部に挿し込まれるタブを有する接続端子に対して、そのタブの先端における角部に接触子の接触面を当接させることで、タブを軸方向へ変形させることなく良好に導通検査を行うことができる。
上記(5)の構成の導通検査装置によれば、タブの先端における角部に対して導通検査プローブの一対の接触子のそれぞれの接触面を当接させることで、タブを軸方向へ変形させることなくさらに確実に導通検査を行うことができる。
上記(6)の構成の導通検査装置によれば、導通検査プローブの一対の接触子によってタブを挟持させることで、タブを軸方向へ変形させることなくさらに良好に導通検査を行うことができる。
上記(7)の導通検査方法によれば、接続端子の筒状部位に対して、その軸方向に作用する押圧力を抑えつつ導通検査プローブの接触子を接触させることができる。これにより、筒状部位を構成する板材が軸方向に変形して筒状部位が開いて接続信頼性が低下するような不具合を抑制しつつ良好に導通検査を行うことができる。
本発明によれば、接続端子の軸方向への変形を抑えつつ良好に導通検査を行うことが可能な導通検査装置及び導通検査方法を提供できる。
以上、本発明について簡潔に説明した。更に、以下に説明される発明を実施するための形態(以下、「実施形態」という。)を添付の図面を参照して通読することにより、本発明の詳細は更に明確化されるであろう。
以下、本発明に係る導通検査装置及び導通検査方法の実施の形態の例を、図面を参照して説明する。
まず、本実施形態に係る導通検査装置によって導通検査が行われるコネクタの一例を説明する。
図1は、本実施形態に係る導通検査装置及び導通検査方法が適用されるコネクタのメスハウジングとオスハウジングの斜視図である。
まず、本実施形態に係る導通検査装置によって導通検査が行われるコネクタの一例を説明する。
図1は、本実施形態に係る導通検査装置及び導通検査方法が適用されるコネクタのメスハウジングとオスハウジングの斜視図である。
図1に示すように、コネクタ10は、メスハウジング20と、メスハウジング20が嵌合されるオスハウジング50とを備えている。メスハウジング20及びオスハウジング50は、それぞれ合成樹脂から成形されている。メスハウジング20は接続部20aを有し、オスハウジング50は嵌合部50aを有している。コネクタ10は、メスハウジング20の接続部20aをオスハウジング50の嵌合部50aに嵌合させることで、メスハウジング20とオスハウジング50とが互いに接合される。メスハウジング20は、その上部にロック部21を有しており、ロック部21は、嵌合したオスハウジング50の上部に設けられた係止部51を係止する。これにより、メスハウジング20とオスハウジング50との接合状態が維持される。
図2は、メスハウジングの接合方向に沿う縦断面図である。図3は、メスハウジングの一部の縦断面図である。図4は、メス端子の電気接続部の斜視図である。
図2及び図3に示すように、メスハウジング20は、複数の端子収容室22を有している。これらの端子収容室22には、電線23の端部に接続されたメス端子25が収容されており、電線23は、メスハウジング20の後端から引き出されている。端子収容室22に収容されたメス端子25は、ランス24によって係止されている。これにより、端子収容室22に収容されたメス端子25は、メスハウジング20の後端側への移動が規制されて端子収容室22に収容された状態に維持される。
メスハウジング20の前面には、端子収容室22の前方側に、端子収容室22と連通する開口部27が形成されている。また、メスハウジング20の前面には、開口部27の上方位置に、端子収容室22と連通する窓部28が形成されている。
メス端子25には、電線23が圧着されて接続されている。メス端子25は、例えば、銅または銅合金等の導電性金属材料からなる板材を加工することで形成されたもので、電気接続部26を有している。電気接続部26には、オスハウジング50の嵌合部50aにメスハウジング20の接続部20aが嵌合されることで、オスハウジング50に設けられた後述するオス端子55のタブ62が挿し込まれる。これにより、メスハウジング20のメス端子25とオスハウジング50のオス端子とが電気的に接続される。
図3及び図4に示すように、メス端子25の電気接続部26は、中空の角筒状に形成された箱部31を備えている。箱部31は、底板部32と、側板部33,34と、上板部35と、固定板部36とを備えている。側板部33,34は、底板部32の両側縁から立ち上げられている。上板部35は、側板部33,34の上端を繋ぐように設けられている。固定板部36は、上板部35における箱部31の内側に沿って設けられている。
底板部32には、二つの接点40が隆起形成されている。上板部35は、箱部31の先端において、箱部31の軸方向に沿う中心である中心軸Xへ向けて屈曲された屈曲部35aを有している。固定板部36には、箱部31の先端側に、バネ接点42が連設されている。バネ接点42は、箱部31の先端において、固定板部36に対して箱部31の内側へ屈曲され、箱部31の後端側へ折り返されている。そして、このバネ接点42は、箱部31内において、底板部32との対向位置に配置されている。バネ接点42は、底板部32側へ向かって突出する押圧接点43を有している。
そして、メスハウジング20とオスハウジング50とを接合することで、オスハウジング50のオス端子55のタブ62が開口部27からメス端子25の箱部31内に挿し込まれる。すると、タブ62は、固定板部36のバネ接点42の付勢力によって接点40とバネ接点42の押圧接点43とで挟まれる。これにより、タブ62に対して接点40及び押圧接点43が接触し、メス端子25とオス端子とが電気的に接続される。
次に、本実施形態に係る導通検査装置について説明する。
ここでは、上記のメスハウジング20のメス端子25に対して導通検査を行う場合について説明する。
図5は、導通検査装置の全体構成を示す斜視図である。図6は、導通検査装置の導通検査プローブとメスハウジングとの位置関係を示すメスハウジングの一部の縦断面図である。
ここでは、上記のメスハウジング20のメス端子25に対して導通検査を行う場合について説明する。
図5は、導通検査装置の全体構成を示す斜視図である。図6は、導通検査装置の導通検査プローブとメスハウジングとの位置関係を示すメスハウジングの一部の縦断面図である。
図5に示すように、導通検査装置70は、フレーム71に設けられた保持部72と、保持部72に対して進退自在に配置された導通検査部73と、リンク74を介して導通検査部73を駆動する操作レバー75とを備えている。
保持部72は、コネクタ10のメスハウジング20を保持する。メスハウジング20は、保持部72に保持されることで、接続部20aが導通検査部73へ向けられた状態に配置される。
導通検査部73は、保持部72側に嵌合室76を有している。図6に示すように、嵌合室76内には、メスハウジング20に設けられたメス端子25に対応した複数の導通検査プローブ80が支持されている。導通検査プローブ80は、図示しないバネによって先端方向である保持部72側に付勢されている。
操作レバー75は、フレーム71に対して回動可能に支持されている。操作レバー75は、リンク74を介して導通検査部73に連結されている。導通検査部73は、操作レバー75が回動されることで、その回動力がリンク74を介して伝達されてスライドされる。つまり、操作レバー75を回動させることで、導通検査部73が保持部72に対して近接及び離間される。
この導通検査装置70では、保持部72にコネクタ10のメスハウジング20を保持させた状態で、操作レバー75を回動させると、導通検査部73が保持部72へ向かって移動する。すると、メスハウジング20の先端が嵌合室76内に嵌合され、これにより、導通検査プローブ80がメスハウジング20の窓部28に挿し込まれ、メス端子25の箱部31に接触して導通し、メス端子25の導通検査が行われる。
図7は、導通検査プローブを示す図であって、図7(a)は側面図、図7(b)は先端側から視た斜視図である。
図7(a)及び図7(b)に示すように、本実施形態に係る導通検査装置70に設けられた導通検査プローブ80は、プローブ本体81と、このプローブ本体81の先端に設けられた接触子82とを有している。接触子82は、その先端部に接触面83が設けられており、この接触面83がメス端子25の箱部31に当接される。この接触子82の接触面83は、箱部31へ近接する方向へ向かって次第に箱部31の中心軸Xから離れる方向へ傾斜したテーパ面とされている。
図7(a)及び図7(b)に示すように、本実施形態に係る導通検査装置70に設けられた導通検査プローブ80は、プローブ本体81と、このプローブ本体81の先端に設けられた接触子82とを有している。接触子82は、その先端部に接触面83が設けられており、この接触面83がメス端子25の箱部31に当接される。この接触子82の接触面83は、箱部31へ近接する方向へ向かって次第に箱部31の中心軸Xから離れる方向へ傾斜したテーパ面とされている。
図8は、導通検査プローブによるメス端子の導通検査の仕方を説明するメスハウジングの一部の縦断面図である。
図8に示すように、接触面83を有する接触子82を備えた導通検査プローブ80では、接触子82がメスハウジング20の窓部28に挿し込まれることで、テーパ面からなる接触面83がメス端子25の箱部31の先端における角部の屈曲部35aに当接される。すると、中心軸Xに沿う接触子82からの押圧力は、その一部が、箱部31の中心軸Xへ向かう分力となって箱部31に作用することとなる。なお、窓部28に挿し込まれた導通検査プローブ80の接触子82は、テーパ面からなる接触面83が箱部31の角部に当接され、先端部82aが、箱部31と端子収容室22の内面との隙間Gに導かれる。したがって、接触子82の先端部82aが箱部31の先端に突き当たることはない。また、箱部31と端子収容室22の内面とに隙間Gを有することで、接触子82の先端部82aが端子収容室22の内面に接触することによる損傷が抑制される。
図8に示すように、接触面83を有する接触子82を備えた導通検査プローブ80では、接触子82がメスハウジング20の窓部28に挿し込まれることで、テーパ面からなる接触面83がメス端子25の箱部31の先端における角部の屈曲部35aに当接される。すると、中心軸Xに沿う接触子82からの押圧力は、その一部が、箱部31の中心軸Xへ向かう分力となって箱部31に作用することとなる。なお、窓部28に挿し込まれた導通検査プローブ80の接触子82は、テーパ面からなる接触面83が箱部31の角部に当接され、先端部82aが、箱部31と端子収容室22の内面との隙間Gに導かれる。したがって、接触子82の先端部82aが箱部31の先端に突き当たることはない。また、箱部31と端子収容室22の内面とに隙間Gを有することで、接触子82の先端部82aが端子収容室22の内面に接触することによる損傷が抑制される。
以上、説明したように、本実施形態に係る導通検査装置70及び導通検査方法によれば、メス端子25の箱部31に接触する接触子82が、箱部31へ近接する方向へ向かって次第に箱部31の中心軸Xから離れる方向へ傾斜した接触面83を有する。したがって、メス端子25の導通検査を行うために接触子82の接触面83をメス端子25の箱部31に接触させた際に、箱部31が接触面83から受ける押圧力の一部が、箱部31の中心軸Xへ向かう分力となって箱部31に作用することとなる。したがって、箱部31に対して軸方向に作用する押圧力を低減させることができ、軸方向に作用する押圧力によって箱部31を構成する板材が軸方向に変形して箱部31が開いて接続信頼性が低下するような不具合を抑制できる。また、単に箱部31の先端部に接触子を軸方向に突き合わせるものと比べ、接触面83が箱部31に接触して摺動するので、接触圧が小さくても良好な導通状態を得ることができる。つまり、メス端子25の変形を抑えつつ良好に導通検査を行うことができる。
次に、変形例について説明する。
(変形例1)
図9は、変形例1に係る導通検査プローブを示す図であって、図9(a)は側面図、図9(b)は先端側から視た斜視図である。図10は、変形例1に係る導通検査プローブによるメス端子の導通検査の仕方を説明するメスハウジングの一部の縦断面図である。
(変形例1)
図9は、変形例1に係る導通検査プローブを示す図であって、図9(a)は側面図、図9(b)は先端側から視た斜視図である。図10は、変形例1に係る導通検査プローブによるメス端子の導通検査の仕方を説明するメスハウジングの一部の縦断面図である。
図9(a)及び図9(b)に示すように、変形例1では、導通検査装置70が、導電性金属材料からなる板材から形成された導通検査プローブ90を備えている。この導通検査プローブ90は、角筒状に形成されたプローブ本体91と、このプローブ本体91の先端から延びる接触子92とを有している。接触子92は、板状に形成されており、その先端部分が湾曲されている。そして、この湾曲部分の先端側が接触面93とされている。
変形例1では、導通検査プローブ90の接触子92は、湾曲部分の先端側の接触面93がメス端子25の箱部31に当接される。この接触子92の接触面93は、箱部31へ近接する方向へ向かって次第に箱部31の中心軸Xから離れる方向へ傾斜したテーパ面とされている。
この接触面93を有する接触子92を備えた導通検査プローブ90では、図10に示すように、接触子92がメスハウジング20の窓部28に挿し込まれることで、テーパ面からなる接触面93がメス端子25の箱部31の先端における角部の屈曲部35aに当接される。すると、接触面93からの押圧力は、その一部が、箱部31の中心軸Xへ向かう分力となって箱部31に作用することとなる。
このように、変形例1の場合も、箱部31に対して、その軸方向に作用する押圧力を抑えつつ導通検査プローブ90の接触子92を接触させることができる。これにより、箱部31を構成する板材が軸方向に変形して箱部31が開いて接続信頼性が低下するような不具合を抑制しつつ良好に導通検査を行うことができる。
特に、変形例1では、接触子92が湾曲した板状に形成されているので、メス端子25の箱部31に当接される際の押圧力を接触子92が弾性変形することによって吸収することができ、メス端子25の箱部31の押圧力による軸方向への変形をより抑えることができる。また、弾性変形する接触子92からの弾性力によってメス端子25の箱部31に対して接触面93を導通検査に必要十分な接触圧で接触させ、良好に導通検査を行うことができる。
なお、窓部28に挿し込まれた導通検査プローブ90の接触子92は、テーパ面からなる接触面93が箱部31の角部に当接され、先端部92aが、箱部31と端子収容室22の内面との隙間Gに導かれる。したがって、接触子92の先端部92aが箱部31の先端に突き当たることはない。また、箱部31と端子収容室22の内面とに隙間Gを有することで、接触子82の先端部82aが端子収容室22の内面に接触することによる損傷が抑制される。
次に、コネクタ10のオスハウジング50の接続端子に対して導通検査プローブ90を備えた変形例1の導通検査装置70で導通検査を行う場合について説明する。
まず、コネクタ10のオスハウジング50について説明する。
図11は、オスハウジングの接合方向に沿う縦断面図である。図12は、オスハウジングの一部の縦断面図である。図13は、オス端子の電気接続部の斜視図である。図14は、変形例1に係る導通検査プローブによるオス端子の導通検査の仕方を説明するオス端子のタブの縦断面図である。
まず、コネクタ10のオスハウジング50について説明する。
図11は、オスハウジングの接合方向に沿う縦断面図である。図12は、オスハウジングの一部の縦断面図である。図13は、オス端子の電気接続部の斜視図である。図14は、変形例1に係る導通検査プローブによるオス端子の導通検査の仕方を説明するオス端子のタブの縦断面図である。
図11及び図12に示すように、オスハウジング50は、複数の端子収容室52を有している。これらの端子収容室52には、電線53の端部に接続されたオス端子55が収容されており、電線53は、オスハウジング50の後端から引き出されている。端子収容室52に収容されたオス端子55は、ランス54によって係止されている。これにより、端子収容室52に収容されたオス端子55は、オスハウジング50の後端側への移動が規制されて端子収容室52に収容された状態に維持される。
オスハウジング50の前面には、端子収容室52の前方側に、端子収容室52と連通する開口部57が形成されている。なお、オスハウジング50の前面には、開口部57の上方位置に、端子収容室52と連通する窓部58が形成されている。
オス端子55には、電線53が圧着されて接続されている。オス端子55は、例えば、銅または銅合金等の導電性金属材料からなる板材を加工することで形成されたもので、電気接続部56を有している。電気接続部56は、角筒状の箱部61と、この箱部61の先端部から前方へ突出するタブ62とを有している。オス端子55は、端子収容室52に収容されることで、タブ62がオスハウジング50の前面に形成された開口部57から突出される。電気接続部56のタブ62は、オスハウジング50の嵌合部50aにメスハウジング20の接続部20aが嵌合されることで、メス端子25の電気接続部26の箱部31に挿し込まれる。これにより、メスハウジング20のメス端子25とオスハウジング50のオス端子55とが電気的に接続される。
図12及び図13に示すように、オス端子55のタブ62は、4つの側面板64を有する角筒状に形成されている。上下の側面板64は、前方へ突出されており、それぞれ互いに近接する方向へ屈曲されて突き合わされている。
上記のオスハウジング50のオス端子55に対して導通検査プローブ90を備えた導通検査装置70によって導通検査を行う場合、保持部72にコネクタ10のオスハウジング50を保持させた状態で、操作レバー75を回動させる。すると、導通検査部73が保持部72へ向かって移動し、オスハウジング50の先端が嵌合室76内に嵌合され、図14に示すように、オス端子55のタブ62に対して導通検査プローブ90の接触子92が近接される。すると、テーパ面からなる接触面93がオス端子55のタブ62の先端における角部に当接される。これにより、オス端子55に対して導通検査プローブ90が導通されて導通検査が可能となる。また、接触子92の接触面93がオス端子55のタブ62の先端における角部に当接されると、接触面93からの押圧力は、その一部が、タブ62の中心軸Xへ向かう分力となってタブ62に作用することとなる。
このように、変形例1の導通検査プローブ90を備えた導通検査装置70でオスハウジング50のオス端子55の導通検査を行う場合も、タブ62に対して、その軸方向に作用する押圧力を抑えつつ導通検査プローブ90の接触子92を接触させることができる。これにより、タブ62を構成する板材が軸方向に変形してタブ62が開いて接続信頼性が低下するような不具合を抑制しつつ良好に導通検査を行うことができる。
しかも、オス端子55のタブ62に当接される際の押圧力が、接触子92が弾性変形することによって吸収されるので、オス端子55のタブ62の押圧力による軸方向への変形をより抑えることができる。また、弾性変形する接触子92からの弾性力によってオス端子55のタブ62に対して接触面93を導通検査に必要十分な接触圧で接触させ、良好に導通検査を行うことができる。また、単にタブ62の先端部に接触子を軸方向に突き合わせるものと比べ、接触面93がタブ62に接触して摺動するので、接触圧が小さくても良好な導通状態を得ることができる。
なお、オス端子55の導通検査を行う際にも、オスハウジング50に形成された窓部58から導通検査プローブ90の接触子92を挿入し、接触面93をオス端子55の箱部61の角部に接触させてもよい。この場合、接触面93からの押圧力は、その一部が、箱部61の中心軸へ向かう分力となって箱部61に作用することとなり、箱部61が広がって変形するような不具合を抑制できる。
(変形例2)
図15は、変形例2に係る導通検査プローブを示す図であって、図15(a)は平面図、図15(b)は先端側から視た斜視図である。図16は、変形例2に係る導通検査プローブによるオス端子の導通検査の仕方を説明する図であって、図16(a)及び図16(b)は、それぞれタブ及び導通検査プローブの平面図である。
図15は、変形例2に係る導通検査プローブを示す図であって、図15(a)は平面図、図15(b)は先端側から視た斜視図である。図16は、変形例2に係る導通検査プローブによるオス端子の導通検査の仕方を説明する図であって、図16(a)及び図16(b)は、それぞれタブ及び導通検査プローブの平面図である。
図15(a)及び図15(b)に示すように、変形例2では、導通検査装置70が、一対の接触子92を有する導通検査プローブ90Aを備えている。この導通検査プローブ90Aでは、互いに対向位置に形成された一対の接触子92がプローブ本体91の先端から延在されており、それぞれの接触子92の接触面93が互いに向き合わされて対向位置に配置されている。
導通検査プローブ90Aによってオスハウジング50のオス端子55に対して導通検査を行う場合、図16(a)に示すように、一対の接触子92がオスハウジング50の幅方向に配置された導通検査プローブ90Aを、オス端子55のタブ62に対して近接させる。すると、導通検査プローブ90Aのそれぞれの接触子92のテーパ面からなる接触面93がオス端子55のタブ62の先端における角部に当接される。これにより、オス端子55に対して導通検査プローブ90Aが導通され、導通検査が可能となる。また、一対の接触子92の接触面93がオス端子55のタブ62の先端における角部に当接されると、それぞれの接触面93からの押圧力は、その一部が、タブ62の中心軸Xへ向かう分力となってタブ62に作用することとなる。
このように、変形例2によれば、タブ62の先端における角部に対して導通検査プローブ90Aの一対の接触子92のそれぞれの接触面93を当接させることで、タブ62を軸方向へ変形させることなくさらに確実に導通検査を行うことができる。
なお、導通検査プローブ90Aによってオス端子55に対して導通検査を行う場合、図16(b)に示すように、接触面93をタブ62の先端に接触させた状態から、さらにオス端子55側へ押し込み、一対の接触子92によってタブ62を挟持してもよい。
このように、一対の接触子92でタブ62を挟持することで、タブ62を軸方向へ変形させることなく、導通検査プローブ90Aとオス端子55とをさらに確実に導通させて良好に導通検査を行うことができる。この場合、一対の接触子92によって挟持する位置としては、タブ62におけるメス端子25の電気接続部26との接触位置から外れた位置とするのが好ましい。このようにすれば、タブ62におけるメス端子25の電気接続部26との接触位置に対する導通検査による傷の付着を抑制できる。
尚、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、適宜、変形、改良、等が可能である。その他、上述した実施形態における各構成要素の材質、形状、寸法、数、配置箇所、等は本発明を達成できるものであれば任意であり、限定されない。
ここで、上述した本発明に係る導通検査装置及び導通検査方法の実施形態の特徴をそれぞれ以下[1]〜[7]に簡潔に纏めて列記する。
[1] 導電性金属材料からなる板材を折り曲げることで形成された筒状部位(箱部31,タブ62)を有する接続端子(メス端子25,オス端子55)をハウジング(メスハウジング20,オスハウジング50)に収容したコネクタ(10)に対して、前記接続端子(メス端子25,オス端子55)の導通検査を行う導通検査装置(70)であって、
前記ハウジング(メスハウジング20,オスハウジング50)を保持する保持部(72)と、
前記保持部(72)に保持された前記ハウジング(メスハウジング20,オスハウジング50)に対して相対的に近接及び離間される導通検査部(73)と、
前記導通検査部(73)に支持され、前記ハウジング(メスハウジング20,オスハウジング50)に前記導通検査部(73)が近接されることで、前記接続端子(メス端子25,オス端子55)の前記筒状部位(箱部31,タブ62)の端部に接触して導通する接触子(82,92)を有する導通検査プローブ(80,90,90A)と、
を備え、
前記接触子(82,92)は、前記筒状部位(箱部31,タブ62)へ近接する方向へ向かって次第に前記筒状部位(箱部31,タブ62)の中心軸(X)から離れる方向へ傾斜した接触面(83,93)を有する
ことを特徴とする導通検査装置。
[2] 前記接触子(82,92)は、湾曲した板状に形成されている
ことを特徴とする[1]に記載の導通検査装置。
[3] 前記筒状部位は、接続相手の接続端子(オス端子55)に設けられたタブ(62)が挿し込まれる箱部(31)であり、
前記接触子(82,92)の前記接触面(83,93)は、前記箱部(31)の先端における角部に当接される
ことを特徴とする[1]または[2]に記載の導通検査装置。
[4] 前記筒状部位は、接続相手の接続端子(メス端子25)に設けられた箱部(31)に挿し込まれるタブ(62)であり、
前記接触子(82,92)の前記接触面(83,93)は、前記タブ(62)の先端における角部に当接される
ことを特徴とする[1]または[2]に記載の導通検査装置。
[5] 前記導通検査プローブ(90A)は、一対の前記接触子(92)を有し、それぞれの前記接触子(92)の前記接触面(93)が互いに対向位置に配置され、前記接触面(93)が前記タブ(62)の先端における角部にそれぞれ当接される
ことを特徴とする[4]に記載の導通検査装置。
[6] 前記一対の接触子(92)は、前記タブ(62)を挟持可能とされている
ことを特徴とする[5]に記載の導通検査装置。
[7] [1]から[6]のいずれか一つに記載の導通検査装置(70)を用いて前記接続端子(メス端子25,オス端子55)の導通検査を行う導通検査方法であって、
前記保持部(72)に前記ハウジング(メスハウジング20,オスハウジング50)を保持させ、
前記保持部(72)に保持させた前記ハウジング(メスハウジング20,オスハウジング50)に対して前記導通検査部(73)を近接させ、
前記接続端子(メス端子25,オス端子55)の前記筒状部位(箱部31,タブ62)の端部に前記導通検査プローブ(80,90,90A)の前記接触子(82,92)に設けられた前記接触面(83,93)を接触させる
ことを特徴とする導通検査方法。
[1] 導電性金属材料からなる板材を折り曲げることで形成された筒状部位(箱部31,タブ62)を有する接続端子(メス端子25,オス端子55)をハウジング(メスハウジング20,オスハウジング50)に収容したコネクタ(10)に対して、前記接続端子(メス端子25,オス端子55)の導通検査を行う導通検査装置(70)であって、
前記ハウジング(メスハウジング20,オスハウジング50)を保持する保持部(72)と、
前記保持部(72)に保持された前記ハウジング(メスハウジング20,オスハウジング50)に対して相対的に近接及び離間される導通検査部(73)と、
前記導通検査部(73)に支持され、前記ハウジング(メスハウジング20,オスハウジング50)に前記導通検査部(73)が近接されることで、前記接続端子(メス端子25,オス端子55)の前記筒状部位(箱部31,タブ62)の端部に接触して導通する接触子(82,92)を有する導通検査プローブ(80,90,90A)と、
を備え、
前記接触子(82,92)は、前記筒状部位(箱部31,タブ62)へ近接する方向へ向かって次第に前記筒状部位(箱部31,タブ62)の中心軸(X)から離れる方向へ傾斜した接触面(83,93)を有する
ことを特徴とする導通検査装置。
[2] 前記接触子(82,92)は、湾曲した板状に形成されている
ことを特徴とする[1]に記載の導通検査装置。
[3] 前記筒状部位は、接続相手の接続端子(オス端子55)に設けられたタブ(62)が挿し込まれる箱部(31)であり、
前記接触子(82,92)の前記接触面(83,93)は、前記箱部(31)の先端における角部に当接される
ことを特徴とする[1]または[2]に記載の導通検査装置。
[4] 前記筒状部位は、接続相手の接続端子(メス端子25)に設けられた箱部(31)に挿し込まれるタブ(62)であり、
前記接触子(82,92)の前記接触面(83,93)は、前記タブ(62)の先端における角部に当接される
ことを特徴とする[1]または[2]に記載の導通検査装置。
[5] 前記導通検査プローブ(90A)は、一対の前記接触子(92)を有し、それぞれの前記接触子(92)の前記接触面(93)が互いに対向位置に配置され、前記接触面(93)が前記タブ(62)の先端における角部にそれぞれ当接される
ことを特徴とする[4]に記載の導通検査装置。
[6] 前記一対の接触子(92)は、前記タブ(62)を挟持可能とされている
ことを特徴とする[5]に記載の導通検査装置。
[7] [1]から[6]のいずれか一つに記載の導通検査装置(70)を用いて前記接続端子(メス端子25,オス端子55)の導通検査を行う導通検査方法であって、
前記保持部(72)に前記ハウジング(メスハウジング20,オスハウジング50)を保持させ、
前記保持部(72)に保持させた前記ハウジング(メスハウジング20,オスハウジング50)に対して前記導通検査部(73)を近接させ、
前記接続端子(メス端子25,オス端子55)の前記筒状部位(箱部31,タブ62)の端部に前記導通検査プローブ(80,90,90A)の前記接触子(82,92)に設けられた前記接触面(83,93)を接触させる
ことを特徴とする導通検査方法。
10:コネクタ
20:メスハウジング(ハウジング)
25:メス端子(接続端子)
31:箱部(筒状部位)
50:オスハウジング(ハウジング)
55:オス端子(接続端子)
62:タブ(筒状部位)
70:導通検査装置
72:保持部
73:導通検査部
80,90,90A:導通検査プローブ
82,92:接触子
83,93:接触面
X:中心軸
20:メスハウジング(ハウジング)
25:メス端子(接続端子)
31:箱部(筒状部位)
50:オスハウジング(ハウジング)
55:オス端子(接続端子)
62:タブ(筒状部位)
70:導通検査装置
72:保持部
73:導通検査部
80,90,90A:導通検査プローブ
82,92:接触子
83,93:接触面
X:中心軸
Claims (7)
- 導電性金属材料からなる板材を折り曲げることで形成された筒状部位を有する接続端子をハウジングに収容したコネクタに対して、前記接続端子の導通検査を行う導通検査装置であって、
前記ハウジングを保持する保持部と、
前記保持部に保持された前記ハウジングに対して相対的に近接及び離間される導通検査部と、
前記導通検査部に支持され、前記ハウジングに前記導通検査部が近接されることで、前記接続端子の前記筒状部位の端部に接触して導通する接触子を有する導通検査プローブと、
を備え、
前記接触子は、前記筒状部位へ近接する方向へ向かって次第に前記筒状部位の中心軸から離れる方向へ傾斜した接触面を有する
ことを特徴とする導通検査装置。 - 前記接触子は、湾曲した板状に形成されている
ことを特徴とする請求項1に記載の導通検査装置。 - 前記筒状部位は、接続相手の接続端子に設けられたタブが挿し込まれる箱部であり、
前記接触子の前記接触面は、前記箱部の先端における角部に当接される
ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の導通検査装置。 - 前記筒状部位は、接続相手の接続端子に設けられた箱部に挿し込まれるタブであり、
前記接触子の前記接触面は、前記タブの先端における角部に当接される
ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の導通検査装置。 - 前記導通検査プローブは、一対の前記接触子を有し、それぞれの前記接触子の前記接触面が互いに対向位置に配置され、前記接触面が前記タブの先端における角部にそれぞれ当接される
ことを特徴とする請求項4に記載の導通検査装置。 - 前記一対の接触子は、前記タブを挟持可能とされている
ことを特徴とする請求項5に記載の導通検査装置。 - 請求項1から6のいずれか一項に記載の導通検査装置を用いて前記接続端子の導通検査を行う導通検査方法であって、
前記保持部に前記ハウジングを保持させ、
前記保持部に保持させた前記ハウジングに対して前記導通検査部を近接させ、
前記接続端子の前記筒状部位の端部に前記導通検査プローブの前記接触子に設けられた前記接触面を接触させる
ことを特徴とする導通検査方法。
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JP2018158625A JP2020034299A (ja) | 2018-08-27 | 2018-08-27 | 導通検査装置及び導通検査方法 |
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Cited By (2)
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JP2020191260A (ja) * | 2019-05-23 | 2020-11-26 | 株式会社オートネットワーク技術研究所 | コネクタ |
KR20220039112A (ko) * | 2020-09-21 | 2022-03-29 | 디와이오토 주식회사 | 단자 변형 방지 구조가 구비된 차량용 모터 커넥터 |
-
2018
- 2018-08-27 JP JP2018158625A patent/JP2020034299A/ja active Pending
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