JPH1131570A - コネクタ検査装置の検査部 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】プローブピン１２０をブロック体１１と相対的
に変位させる際に、プローブピン１２０とリード線２５
との接続状態を良好に維持すること。 【解決手段】ブロック体１１に固定側導通部材３０を設
ける。この固定側導通部３０にリード線２５を接続す
る。さらに、この固定側導通部３０とプローブピン１２
０とを電気的に導通可能な状態で相対変位可能に連結す
る。上記プローブピン１２０は、スライダ２１を介し
て、ブロック体１１と相対的に変位可能に保持されてい
る。 【効果】検査時にプローブピン１２０をブロック体１１
と相対的に変位している場合においても、リード線２５
の接続部位は、定位置のままで変位の影響を受けない。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はコネクタ検査装置の
検査部に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般にワイヤハーネスやワイヤハーネス
を構成するサブアセンブリ（以下、「ワイヤアセンブ
リ」と総称する）等の電気配線システムに使用されるコ
ネクタは、樹脂製のハウジング内に複数のキャビティー
を形成しており、このキャビティー内に、電線と接続さ
れた端子金具を挿入している。

【０００３】上記コネクタの電気的な配線状態や接続状
態等を検査する際に使用される検査装置としては、検査
対象となるコネクタを保持するコネクタ保持部と、保持
されたコネクタの端子金具に対応するプローブピンが取
り付けられたブロック体を有する検査部とを備え、検査
部をコネクタに接近させて各端子金具にプローブピンを
当接させるものが一般的である。

【０００４】そのような導通検査装置においては、検査
時にコネクタ（主として端子金具や端子金具を止定して
いるランスの状態）の良否検出のためのスイッチ機能を
持たせるために、上記プローブピンがコネクタ保持部と
の対向方向に沿ってブロック体と相対的に変位可能なス
ライダに取り付けられ、所定の付勢力でコネクタ保持部
の方へ付勢されているものがある。そして、この種の検
査装置では、ブロック体をコネクタ保持部に近接させて
プローブピンを端子金具に当接させる際、スライダが変
位するか否かによってコネクタの良否を判別できるよう
に構成されていた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上述のようにブロック
体と相対的に変位するスライダを介してプローブピンを
検査部に取り付けている検査装置においては、スライダ
がブロック体と相対的に変位するのに伴って、プローブ
ピンに接続されたリード線も従動することになる。この
ため、使用を継続するに連れて、リード線とプローブピ
ンとの接続部位が疲労し、断線しやくすなるという不具
合があった。

【０００６】本発明は上記不具合に鑑みてなされたもの
であり、プローブピンをブロック体と相対的に変位させ
る際に、プローブピンとリード線との接続状態を良好に
維持することのできるコネクタ検査装置の検査部を提供
することを課題としている。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明は、複数の端子金具が止定されているコネクタ
を検査するコネクタ検査装置に設けられ、当該コネクタ
の端子金具の導通を検査するためにリード線を介して導
通検査装置と接続されるプローブピンと、プローブピン
を担持するスライダと、スライダをコネクタ検査装置に
保持されているコネクタに対し相対変位可能に担持する
ブロック体とを備え、上記ブロック体とコネクタとを相
対的に変位させることにより、コネクタの検査を行なう
コネクタ検査装置の検査部において、上記ブロック体に
固定され、上記リード線が電気的および機械的に接続さ
れる固定側導通部材と、固定側導通部材と上記プローブ
ピンとを電気的に導通可能な状態で相対変位可能に連結
する連結部とを設けていることを特徴とするコネクタ検
査装置の検査部である。

【０００８】この特定事項を含む発明では、スライダを
ブロック体と相対的に変位させることによりプローブピ
ンを変位させている場合においても、リード線の接続部
位は、定位置のまま変位しないことになる。ここで、
「プローブピンを担持するスライダ」は、プローブピン
が一体に固定されているスライダである他、その用途に
応じて、ある方向ではプローブピンと一体に変位し、逆
の方向へはプローブピンと相対的に変位可能に連結され
ているスライダであってもよい。

【０００９】より具体的な実施の形態において、上記連
結部は、プローブピンを介してスライダをコネクタ側に
付勢する付勢部材を含んでいる。その場合において、上
記付勢部材は、プローブピンが端子金具と衝合したとき
の衝撃を緩衝する緩衝部材を兼ねるものである。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照しながら、
本発明の好ましい実施の形態について詳述する。図１は
本発明の実施の一形態における検査部１０の分解斜視図
であり、図２および図３は図１の実施の形態における検
査部１０の作用を示す断面図である。

【００１１】これらの図を参照して、図示の実施の形態
では、上下に延びるブロック体１１を有している。ブロ
ック体１１は、平面視略「凸」字形に形成された樹脂成
形品であり、前端面（図１に示されている面）１２に矩
形の収容部１３を区画しているとともに、後端側に段部
１４を区画し、この段部１４を図示しないコネクタ検査
装置のレバー機構に取り付けて、上記コネクタ検査装置
に保持されているコネクタＣ（図２、図３）を検査可能
な検査位置とコネクタＣを解放する解放位置との間で相
対的に変位できるように構成されるものである。

【００１２】上記収容部１３内には、ピンユニット２０
（図中１セットのみ図示）が収容され、上記前端面１２
にビス１６で固定される矩形の枠状のカバー部材１５に
よって、収容部１３からの離脱が阻止されている。図２
によく示すように、ピンユニット２０は、矩形に形成さ
れて収容部１３内で前後に変位可能なスライダ２１と、
スライダ２１に一体的に担持され、コネクタＣの端子金
具Ｔの導通検査を行なうプローブピン２２と、スライダ
２１に設けられたランス検査用部材としての突起２３と
を有するものである。

【００１３】上記スライダ２１と上記突起２３とは樹脂
の一体成形品である。突起２３は、コネクタＣのキャビ
ティーＣ１内に入り込むことにより、コネクタＣに形成
されたランスＣ２が係止不良を来している場合にのみ当
該ランスＣ２に当接可能な外形および寸法に設定されて
おり、この突起２３によって、先行技術と同様にランス
の係止不良を検出可能に構成されている。

【００１４】そして、この実施の形態において特筆すべ
きことは、ピンユニット２０のプローブピン２２が、ブ
ロック体１１に固定された連結ピン３０を介してリード
線２５に接続されている点である。図２および図３を参
照して、上記連結ピン３０は、図示の例において固定側
導通部材と連結部とを兼ねるものであり、筒体３１と、
筒体３１の一端側に一部が突出した状態で固定される接
続子３２と、筒体３１内に摺動可能に収容される摺動子
３３と、摺動子３３と接続子３２との間に縮設される圧
縮コイルばね３４とを備えている。

【００１５】上記筒体３１は、保持されたコネクタＣと
対向する方向に沿ってブロック体１１の後部に固定され
ている金属部材であり、その後端部（コネクタＣと反対
側の端部）がつらいちになっている。上記接続子３２
は、筒体３１の後端部にスポット溶接等によって固着さ
れた金属製部材であり、一部が後方に突出して、リード
線２５の接続部位を構成している。そして、この接続子
３２にリード線２５をはんだ付けすることにより、後述
のように、筒体３１を介してプローブピン２２と電気的
に接続されることになる。

【００１６】上記摺動子３３は、金属製の略円柱体形状
に形成された部材であり、その先端側（コネクタＣに対
向する側）は球面状に面取りされている。上記圧縮コイ
ルばね３４は、所定の付勢力で摺動子３３をコネクタＣ
に向かって押圧するものであり、この圧縮コイルばね３
４により、摺動子３３は、後述の通り、プローブピン２
２と常時当接することになる。図示の実施の形態では、
摺動子３３が筒体３１から抜け落ちるのを防止するため
に、筒体３１の先端部近傍周壁に絞り部３１Ａが形成さ
れている。

【００１７】そして、図２に示すように、スライダ２１
をブロック体１１に組み付けることにより、プローブピ
ン２２の後端部を摺動子３３に当接させ、圧縮コイルば
ね３４の付勢力で自由状態においてスライダ２１がカバ
ー部材１５側に押付けられるとともに、コネクタＣから
プローブピン２２または突起２３が荷重を受けた際、上
記圧縮コイルばね３４の付勢力に抗してスライダ２１が
後方に変位できるように、スライダ２１、プローブピン
２２、連結ピン３０等の諸元が設定される。

【００１８】次に上述した実施の形態における作用につ
いて、図２および図３を参照しながら説明する。図２を
参照して、検査対象となるコネクタＣが正規である場
合、内部に収容された端子金具Ｔには、それぞれランス
Ｃ２が正規に入り込んでいる結果、ランスＣ２は、キャ
ビティ内には突出していない。この状態でコネクタＣを
図示の実施の形態の検査部１０で検査すると、スライダ
２１に一体形成された突起２３は、ランスＣ２と衝合す
ることなく、コネクタＣの内部に入り込むので、スライ
ダ２１は、連結ピン３０の圧縮コイルばね３４の付勢力
により、端子金具Ｔに当接可能な位置まで伸長してい
る。これにより、端子金具Ｔとプローブピン２２とが電
気的に接続され、さらに、摺動子３３から筒体３１を介
してリード線２５と接続されるので、導通検査が可能と
なり、ランスＣ２の係止状態も正常と判別される。

【００１９】他方、図３に示すように、何れか一方のラ
ンスＣ２が係止不良を来している場合、ブロック体１１
とコネクタＣとを近接させる過程で突起２３が係止不良
を来したランスＣ２と当接するので、ブロック体１１と
コネクタＣとを正規の検査位置まで近接させると、スラ
イダ２１がブロック体１１と相対的に変位し、プローブ
ピン２２が端子金具Ｔと接触しなくなる。この結果、導
通検査ができなくなるので、検査作業者は、まず、ラン
スの異常をチェックすることにより、ランスの不良を検
出することが可能になる。

【００２０】ここで、リード線２５は、筒体３１に接続
されることにより、スライダ２１が変位する場合におい
ても、リード線２５の接続部位（接続子３２）は、定位
置で停止したままである。このように図示の実施の形態
では、プローブピン２２をブロック体１１と相対的に変
位させる際においても、リード線２５の接続部位を定位
置に維持することができる結果、上記接続部位は、プロ
ーブピン２２の変位による影響を全く受けなくなる。こ
れにより、プローブピン２２とリード線２５との接続状
態を良好に維持することができるという顕著な効果を奏
する。

【００２１】上述した実施の各形態は本発明の好ましい
具体例を例示したものに過ぎず、本発明は上述した実施
の形態に限定されない。例えば、上述したプローブピン
２２は、それ自身が連結ピン３０の圧縮コイルばね３４
とは別個にコイルばねを有するものであってもよく、圧
縮コイルばね３４を端子金具Ｔとの衝合時の緩衝を兼ね
るものとするものであってもよい。

【００２２】さらに、図４以下の実施の形態を採用する
ことも可能である。図４は本発明の別の実施の形態にか
かる検査部の要部を示す一部破断斜視図であり、図５お
よび図６は図４の実施の形態における検査部の作用を示
す断面図である。なお、以下の説明において、上述した
図１ないし図３の実施の形態と同等の部材については同
一の符号を付し、説明を省略している。

【００２３】図４ないし図６を参照して、これらの図に
示す実施の形態では、スライダ２１で一体的に担持され
るプローブピンの別の態様として、プローブピン１２０
を備えている。このプローブピン１２０は、スライダ２
１からコネクタＣ側へ突出する接触部１２１と、接触部
１２１よりも大径に形成された大径部１２２と、大径部
１２２よりも小径に形成され、連結ピン３０に接続され
る接続部１２３とを同心且つ一体に備えたものである。
他方、上記スライダ２１は、接触部１２１を摺接可能に
コネクタＣ側に開口する小径部２１Ａと、大径部１２２
に摺接可能にコネクタＣと反対側に開口する大径部２１
Ｂとを同心に区画する挿通孔２１０を有しており、この
挿通孔２１０の大径部２１Ｂの開口側からプローブピン
１２０の接触部１２２を導入して、組付けるようにして
いる。そして、図５および図６に示すように、接続部１
２３を連結ピン３０に連結することにより、連結ピン３
０の圧縮コイルばね３４を端子金具Ｔとの衝合時の緩衝
部材として兼用している。スライダ２１でプローブピン
１２０を一体的に担持するに当たり、上述の構成を採用
している場合には、プローブピン１２０の接触部１２１
と大径部１２２との段差によって区画される環状端面１
２２Ａが、スライダ２１の小径部２１Ａと大径部２１Ｂ
との段差によって区画される環状端面２１Ｃと衝合可能
な状態で両者が相対的に変位可能に連結されるため、プ
ローブピン１２０がコネクタＣ側へ変位する場合、また
はスライダ２１がコネクタＣと反対側に変位する場合に
は、両者は一体に連結されて変位するとともに、その逆
方向に関しては、両者は相対的に変位することができる
ようになる。

【００２４】図４ないし図６の形態では、検査対象とな
るコネクタＣが正規である場合、図５に示すように、ス
ライダ２１は、図１ないし図３の実施の形態と同様に、
連結ピン３０の圧縮コイルばね３４の付勢力により、端
子金具Ｔに当接可能な位置まで伸長している。これによ
り、端子金具Ｔとプローブピン１２０とが衝合する結
果、プローブピン１２０は、その衝撃を緩衝可能な程度
に弾性的に後退した状態で端子金具Ｔと電気的に接続さ
れ、図２の場合と同様に、連結ピン３０を介してリード
線２５と接続される。

【００２５】他方、図６に示すように、何れか一方のラ
ンスＣ２が係止不良を来している場合、ブロック体１１
とコネクタＣとを近接させる過程で突起２３が係止不良
を来したランスＣ２と当接するので、図３の場合と同様
に導通検査ができなくなり、ランスの不良を検出するこ
とが可能になる。そして、この図４ないし図６の実施の
形態においても、リード線２５は、定位置で停止したま
まである。

【００２６】加えて、図示の実施の形態では、圧縮コイ
ルばね３４を端子金具Ｔとの衝合時の緩衝部材として兼
用していることにより、プローブピン１２０の部品点数
を低減でき、しかも、軸方向の長さを短く設定して、コ
ンパクト化を図ることが可能になる。また、部品点数が
少なくなることにより、組付けも容易になり、加工精度
の許容度も高くなる。

【００２７】さらに、プローブピン１２０を一体的にス
ライダ２１に担持するに当たり、上述のような連結構造
を採用した場合には、図示のように、一つのスライダ２
１で複数のプローブピン１２０を担持している場合に圧
縮コイルばね３４を緩衝部材として兼用しているときに
おいても、個別にプローブピン１２０を端子金具Ｔから
退避させることが可能になるので、こじれ等が生じにく
くなるという利点がある。

【００２８】また、上述した各実施の形態において、ス
ライダ２１を介してプローブピン２２をブロック体１１
に対し相対的に変位させる構成は、上述した実施の形態
のようにスライダ２１にランス検査用の突起を設けてラ
ンスの係止不良を検出する目的の他、本件出願人が特願
平４−３３８４９３号（特開平６−１８６２７２号）に
おいて先に提案しているように、端子金具の止定位置を
チェックすることを目的とするものであってもよい。

【００２９】スライダ２１を複数個用意して、複数のピ
ンユニット２０を設けるに当たり、個々のスライダ２１
は、２本１組のプローブピンを担持するものであっても
よく、１本のみ担持するものであってもよい。その他、
本発明の特許請求の範囲内で種々の設計変更が可能であ
ることは云うまでもない。

【００３０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
プローブピンをブロック体と相対的に変位させる際にお
いても、リード線の接続部位を定位置に維持することが
できる結果、上記接続部位はプローブピンの変位による
影響を全く受けなくなる。これにより、プローブピンと
リード線との接続状態を良好に維持することができると
いう顕著な効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の一形態における検査部の分解斜
視図である。

【図２】図１の実施の形態における検査部の作用を示す
断面図である。

【図３】図１の実施の形態における検査部の作用を示す
断面図である。

【図４】本発明の別の実施の形態にかかる検査部の要部
を示す一部破断斜視図である。

【図５】図４の実施の形態における検査部の作用を示す
断面図である。

【図６】図４の実施の形態における検査部の作用を示す
断面図である。

【符号の説明】

Ｃ コネクタ Ｃ１ キャビティー Ｃ２ ランス Ｔ 端子金具 １０ 検査部 １１ ブロック部 ２０ ピンユニット ２１ スライダ ２２ プローブピン ２３ 突起 ２５ リード線 ３０ 連結ピン ３１ 筒部 ３２ 接続子 ３３ 摺動子 ３４ 圧縮コイルばね １２０ プローブピン

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】複数の端子金具が止定されているコネクタ
   を検査するコネクタ検査装置に設けられ、当該コネクタ
   の端子金具の導通を検査するためにリード線を介して導
   通検査装置と接続されるプローブピンと、 プローブピンを担持するスライダと、 スライダをコネクタ検査装置に保持されているコネクタ
   に対し相対変位可能に担持するブロック体とを備え、上
   記ブロック体とコネクタとを相対的に変位させることに
   より、コネクタの検査を行なうコネクタ検査装置の検査
   部において、 上記ブロック体に固定され、上記リード線が電気的およ
   び機械的に接続される固定側導通部材と、 固定側導通部材と上記プローブピンとを電気的に導通可
   能な状態で相対変位可能に連結する連結部とを設けてい
   ることを特徴とするコネクタ検査装置の検査部。
2. 【請求項２】請求項１記載のコネクタ検査装置の検査部
   において、 上記連結部は、プローブピンを介してスライダをコネク
   タ側に付勢する付勢部材を含んでいるコネクタ検査装置
   の検査部。
3. 【請求項３】請求項２記載のコネクタ検査装置の検査部
   において、 上記付勢部材は、プローブピンが端子金具と衝合したと
   きの衝撃を緩衝する緩衝部材を兼ねるものであるコネク
   タ検査装置の検査部。