JP2003133025A - ワイヤハーネス用検査治具の検査ピン - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 コネクタの端子と確実に電気的に接続できる
ワイヤハーネス用検査治具の検査ピンを提供する。 【解決手段】 ワイヤハーネス用検査治具の検査ピン１
はワイヤハーネス用検査治具に取り付けられる本体部２
０と端子と接触する接触部２２とコイルばね２３を備え
ている。本体部２０は円管状に形成されている。接触部
２２は円柱状に形成されている。接触部２２は本体部２
０に収容される大径部２５を備えかつ本体部２０に突没
自在に支持されている。接触部２２の接触面２２ａは端
子と相対する。接触面２２ａには凹溝３０が形成されて
いる。コイルばね２３は接触部２２を本体部２０外即ち
端子に向かって付勢している。大径部２５には外表面２
５ａから凹の溝２７が形成されている。溝２７は螺線状
である。本体部２０には溝２７内に侵入する突起２４が
設けられている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ワイヤハーネスに
導通検査を施す際に、該ワイヤハーネスのコネクタを保
持して端子との導通を確保するワイヤハーネス用検査治
具の検査ピンに関する。

【０００２】

【従来の技術】複数の電線と、これらの電線の端部それ
ぞれに接続された端子を収容するコネクタと、を備えた
ワイヤハーネスは、前記端子それぞれについて、他の端
子との導通の有無をチェックすることによって、良否が
判定されてきた。

【０００３】従来この種のワイヤハーネスの検査方法
は、以下に示す手順に沿って行われてきた。ワイヤハー
ネスの端子のうち一つの端子を選択して、この選択した
端子に印加して、他の端子の電位の高・低を判定する。
全ての端子に順番に印加して、それぞれの場合の印加し
た端子以外の全ての端子の電位を順番に判定する。そし
て、全ての端子の相互の導通状況を把握する。

【０００４】前述したように把握した端子相互の導通状
況と、前記ワイヤハーネスが正常である場合の端子相互
の導通状況と、を対比することによって、前記ワイヤハ
ーネスの良否、及び異常がある場合には異常箇所を把握
してきた。

【０００５】前述したようにワイヤハーネスを検査する
ために、従来から前記コネクタを保持する検査治具を用
いてきた。この種の検査治具は、前記コネクタを保持し
た際に、前記端子と接触して電気的に接続する（導通を
確保する）検査ピンを備えている。一例として、例え
ば、特開昭６０−１２７４６６号公報に検査ピン１００
（図１３に示す）が示されている。

【０００６】図１３に例示された検査ピン１００は、前
記検査治具に取り付けられた本体部１０１と、前記本体
部１０１から突没自在に設けられかつ前記端子と接触可
能な接触部１０２と、前記接触部１０２を前記本体部１
０１外に付勢するコイルばね１０３と、を備えている。
本体部１０１は、円管状に形成されかつ一端が塞がれて
いるとともに、他端に接触部１０２の後述する支持片１
０４を内側に通す通し孔１０５を設けている。通し孔１
０５は、図１４に示すように、平面形状が矩形状に形成
されている。

【０００７】接触部１０２は、接触片１０６と、支持片
１０４と、を備えている。接触片１０６は前記端子と接
触する。支持片１０４は、ねじられた帯状に形成されて
おり、一端に前記接触片１０６を取り付けているととも
に、前記本体部１０１内に収容される。コイルばね１０
３は、前記本体部１０１に収容されて、前記支持片１０
４の他端部を通し孔１０５に向かって即ち本体部１０１
外に付勢する。すなわち、コイルばね１０３は、接触片
１０６を本体部１０１外に付勢する。

【０００８】前述した検査治具は、前記コネクタを保持
すると、前記検査ピン１００の接触部１０２の接触片１
０６が本体部１０１外に付勢されているので、接触片１
０６が端子と接触する。そして、検査ピン１００を介し
て端子に順に印加して、端子相互の導通状況を確認す
る。こうして、ワイヤハーネスに導通検査を施す。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら前述した
検査ピン１００は、前記支持片１０４が帯状に形成され
ているとともにねじられているので、該支持片１０４自
体の剛性が低くなる傾向であった。このため、接触片１
０６の位置が定まらずに、該接触片１０６が端子に接触
できなくなる虞があった。したがって、検査ピン１００
は、コネクタの端子と電気的に接続しない虞があった。

【００１０】また、前記本体部１０１の他端に支持片１
０４を通す通し孔１０５を設けている。このため、ゴミ
や埃などが支持片１０４に付着すると、前記支持片１０
４がスムーズに本体部１０１から突没しなくなる虞があ
った。したがって、該接触片１０６が端子により接触で
きなくなることが考えられる。したがって、検査ピン１
００は、コネクタの端子と電気的に接続しないことが考
えられる。

【００１１】したがって、本発明の目的は、コネクタの
端子と確実に電気的に接続できるワイヤハーネス用検査
治具の検査ピンを提供することにある。

【００１２】

【課題を解決するための手段】前記課題を解決し目的を
達成するために、請求項１に記載の本発明のワイヤハー
ネス用検査治具の検査ピンは、端子を備えたワイヤハー
ネスに導通検査を行うために用いられるワイヤハーネス
用検査治具の検査ピンであって、前記ワイヤハーネス用
検査治具に取り付けられる本体部と、前記本体部に突没
自在に支持されかつ前記端子に接触可能な接触部と、前
記接触部を前記本体部から突出する方向に付勢する付勢
手段と、を備え、前記本体部と接触部とのうち一方が円
管状に形成されているとともに、他方が前記一方内に挿
入される円柱状に形成されており、前記他方の外表面
に、該外表面から凹でかつ螺線状に延びた溝が形成され
ているとともに、前記一方には、内側に向かって凸でか
つ前記溝内に侵入する突起が設けられていることを特徴
としている。

【００１３】請求項２に記載の本発明のワイヤハーネス
用検査治具の検査ピンは、請求項１に記載のワイヤハー
ネス用検査治具の検査ピンにおいて、前記本体部が円管
状に形成されかつ前記接触部が円柱状に形成されている
ことを特徴としている。

【００１４】請求項３に記載の本発明のワイヤハーネス
用検査治具の検査ピンは、請求項１または請求項２記載
のワイヤハーネス用検査治具の検査ピンにおいて、前記
接触部が前記端子に相対しかつ該端子に接触する接触面
を備え、前記接触面に、該接触面から凹の凹溝が形成さ
れていることを特徴としている。

【００１５】請求項４記載の本発明のワイヤハーネス用
検査治具の検査ピンは、請求項３記載のワイヤハーネス
用検査治具の検査ピンにおいて、前記凹溝は、互いに平
行な複数の第１の凹溝と、互いに平行な複数の第２の凹
溝と、を備え、前記第１の凹溝と第２の凹溝が互いに交
差していることを特徴としている。

【００１６】請求項１に記載した本発明のワイヤハーネ
ス用検査治具の検査ピンによれば、本体部と接触部のう
ち一方が円管状でかつ他方が円柱状である。このため、
接触部の剛性を高くすることができる。また、他方の外
表面に螺線状の溝が形成され一方に前記溝に侵入する突
起が設けられている。このため、接触部を軸芯周りに回
転させることにより、該接触部を本体部から確実に突没
できる。

【００１７】請求項２に記載した本発明のワイヤハーネ
ス用検査治具の検査ピンによれば、本体部が円管状でか
つ接触部が円柱状である。このため、接触部の剛性をよ
り高くすることができる。

【００１８】請求項３に記載した本発明のワイヤハーネ
ス用検査治具の検査ピンによれば、接触部の接触面に凹
溝が形成されている。このため、端子と接触面との摩擦
係数が高くなる。

【００１９】請求項４に記載した本発明のワイヤハーネ
ス用検査治具の検査ピンによれば、凹溝が、複数の第１
の凹溝と、該第１の凹溝に交差する複数の第２の凹溝
と、を備えている。このため、端子と接触面との摩擦係
数がより確実に高くなる。

【００２０】

【発明の実施の形態】以下、本発明の第１の実施形態に
かかるワイヤハーネス用検査治具の検査ピンを図１ない
し図１０を参照して説明する。図１などに示されたワイ
ヤハーネス用検査治具の検査ピン（以下単に検査ピンと
呼ぶ）１は、図３に示すワイヤハーネス用検査治具（以
下単に検査治具と呼ぶ）２を構成している。検査治具２
は、ワイヤハーネス３に導通検査を施す際に用いられ
る。ワイヤハーネス３は、図３に示すように、複数の電
線４と、複数のコネクタ５（図３中には一つのみ示す）
と、を備えている。

【００２１】電線４は、導電性の芯線と、該芯線を被覆
する絶縁性の被覆部と、を備えた所謂被覆電線である。
コネクタ５は、端子６（図４に示す）と、コネクタハウ
ジング７と、を備えている。端子６は、導電性の板金な
どが折り曲げられて得られる。端子６は、電線４の端部
などに取りつけられて、前記芯線と電気的に接続する。
コネクタハウジング７は、絶縁性の合成樹脂からなり、
かつ箱状に形成されている。コネクタハウジング７は、
図４に示すように、端子収容室８を複数備えている。端
子収容室８は、前記端子６を収容する。

【００２２】このような構成のワイヤハーネス３は、自
動車に配索される。ワイヤハーネス３のコネクタ５は、
前記自動車に搭載される電子機器のコネクタにコネクタ
結合する。ワイヤハーネス３は、バッテリなどの電源か
らの電力や、制御装置などからの制御信号を、前記電子
機器に伝える。

【００２３】検査治具２は、図３に示すように、台など
の上に設置される基部１０と、操作レバー１１と、導通
検査部１２と、コネクタ受け部１３と、を備えている。
基部１０は、互いに平行な一対の側壁１４などを備えて
いる。操作レバー１１と、導通検査部１２と、コネクタ
受け部１３とは、前記一対の側壁１４間に設けられてい
る。

【００２４】操作レバー１１は、前記側壁１４の一端部
に回転自在に支持されている。コネクタ受け部１３は、
前記側壁１４の他端部に設けられている。コネクタ受け
部１３は、端子収容室８の開口部が、前記操作レバー１
１に相対する状態で、前記コネクタ５を保持する。図示
例では、コネクタ受け部１３には、鉛直方向に沿ってコ
ネクタ５が出し入れ自在となっている。

【００２５】導通検査部１２は、側壁１４の中央部に設
けられている。導通検査部１２は、図４に示すように、
検査部本体１５と、複数の検査ピン１と、を備えてい
る。検査部本体１５は、方体状に形成されている。検査
部本体１５は、コネクタ受け部１３に近づいたり離れた
りする方向にスライド自在（コネクタ受け部１３に接離
自在）に、一対の側壁１４間に配されている。

【００２６】検査ピン１は、検査部本体１５内に埋設さ
れている。検査ピン１は、コネクタ受け部１３に保持さ
れるコネクタ５の端子収容室８と同数設けられている。
検査ピン１は、後述する接触部２２が前記検査部本体１
５から突出している。接触部２２は、コネクタ受け部１
３に相対している。検査ピン１は、後述する基部２１が
前記検査部本体１５から突出している。基部２１には、
電線１６が取り付けられている。該電線１６は、図示し
ないコンピュータなどに接続している。また、検査ピン
１は、接触部２２の後述する接触面２２ａが、前記端子
収容室８即ち端子６に相対する。

【００２７】また、検査治具２は、リンク１７を備えて
いる。リンク１７は、一端部が操作レバー１１と回転自
在に連結しているとともに、他端部が導通検査部１２の
検査部本体１５に回転自在に連結している。操作レバー
１１が回転操作されると、前記リンク１７によって、コ
ネクタ受け部１３に接離するように導通検査部１２がス
ライド移動する。なお、図３に示す状態では、導通検査
部１２はコネクタ受け部１３から離れた状態となってい
る。図３中に示す矢印Ｋに沿って操作レバー１１を回転
すると、導通検査部１２がコネクタ受け部１３に近づ
く。

【００２８】検査ピン１は、図１、図２、図５及び図６
に示すように、導電性の本体部２０と、導電性の基部２
１と、導電性の接触部２２と、付勢手段としての導電性
のコイルばね２３（図２及び図６に示す）と、を備えて
いる。本体部２０は、円管状に形成されている。本体部
２０は、図４に示すように、検査治具２の検査部本体１
５に取り付けられる。本体部２０の中央には、突起２４
が設けられている。突起２４は、図７に示すように、本
体部２０の内周面から該本体部２０に内側に向かって凸
に形成されている。突起２４は、後述する溝２７に侵入
する。基部２１は、円柱状に形成されている。一端部が
本体部２０内に侵入した格好で、基部２１は本体部２０
に取り付けられている。

【００２９】接触部２２は、互いに外径の異なる大径部
２５と小径部２６とを一体に備えている。大径部２５と
小径部２６とは、それぞれ円柱状に形成されており、互
いに同軸的に連結している。勿論、大径部２５の外径が
小径部２６の外径より大きい。大径部２５は、本体部２
０内に挿入されている。接触部２２は、本体部２０と同
軸的に配されている。接触部２２は、その軸芯に沿って
スライド自在に、前記本体部２０に取り付けられてい
る。即ち、接触部２２は、本体部２０に突没自在に支持
されている。また、大径部２５と小径部２６との段差に
よって、接触部２２は、本体部２０内から抜け出ない。

【００３０】大径部２５の外表面２５ａには、図７など
に示すように、溝２７が形成されている。溝２７は、大
径部２５の外表面２５ａから凹である。溝２７は、大径
部２５の軸芯方向と周方向との双方に対し傾いて、螺線
状に延びている。溝２７内には、前記突起２４が侵入す
る。

【００３１】また、接触部２２の先端面（以下接触面と
呼ぶ）２２ａは、検査ピン１が検査部本体１５に取り付
けられると、コネクタ受け部１３に保持されるコネクタ
５の端子６と相対する。接触面２２ａは、導通検査を施
す際に、前記端子６と接触する。即ち、接触部２２は、
前記端子６と接触可能である。接触面２２ａには、図８
に示すように、凹溝３０が形成されている。凹溝３０
は、複数の第１の凹溝３１（図８ないし図１０に示す）
と、複数の第２の凹溝３２（図８及び図１０に示す）
と、複数の第３の凹溝３３（図８及び図９に示す）と、
を備えている。

【００３２】第１の凹溝３１と第２の凹溝３２と第３の
凹溝３３とは、それぞれ、前記接触面２２ａから凹であ
る。第１の凹溝３１と第２の凹溝３２と第３の凹溝３３
とは、それぞれ、直線状である。複数の第１の凹溝３１
は、互いに平行である。複数の第２の凹溝３２は、互い
に平行である。複数の第３の凹溝３３は、互いに平行で
ある。これらの第１の凹溝３１と第２の凹溝３２と第３
の凹溝３３は、互いに交差している。

【００３３】コイルばね２３は、本体部２０内に収容さ
れており、基部２１と接触部２２との間に設けられてい
る。コイルばね２３は、基部２１と接触部２２とを互い
に離す方向に付勢している。このため、コイルばね２３
は、接触部２２を本体部２０から突出する方向に付勢し
ている。即ち、コイルばね２３は、接触部２２をコネク
タ受け部１３に保持されるコネクタ５の端子６に向かっ
て付勢している。

【００３４】前述した構成の検査ピン１を備えた検査治
具２を用いて、ワイヤハーネス３に導通検査を施す際に
は、ます検査治具２のコネクタ受け部１３にコネクタ５
を取り付ける（保持する）。操作レバー１１を回転し
て、導通検査部１２をコネクタ受け部１３即ちコネクタ
５に近づける。

【００３５】すると、前記接触部２２がコイルばね２３
によって付勢されているため、図４に示すように、接触
部２２の接触面２２ａとコネクタ５の端子６とが互いに
接触する。コネクタ５の端子６と検査ピン１との導通を
確保する。前述したコンピュータなどが、前記電線１６
や検査ピン１を介して、前記端子６に順番に印加する。
コンピュータが、端子６相互の導通状況を把握する。把
握した導通状況と、良品の場合の導通状況とを比較し
て、ワイヤハーネス３の良否を判定する。

【００３６】本実施形態によれば、本体部２０が円管状
でかつ接触部２２が円柱状である。このため、接触部２
２の剛性を高くすることができる。したがって、接触部
２２の位置が定まり、該接触部２２の接触面２２ａを端
子６に確実に接触させることができる。

【００３７】また、接触部２２の大径部２５の外表面２
５ａに螺線状の溝２７が形成され、本体部２０に前記溝
２７に侵入する突起２４が設けられている。このため、
接触部２２を軸芯周りに回転させることにより、該接触
部２２を本体部２０から確実に突没できる。したがっ
て、検査ピン１は、端子６と確実に電気的に接続する。

【００３８】接触部２２の接触面２２ａに凹溝３０が形
成されている。凹溝３０が、複数の第１の凹溝３１と、
複数の第２の凹溝３２と、複数の第３の凹溝３３とを備
えている。これらの第１の凹溝３１と第２の凹溝３２と
第３の凹溝３３とは、互いに交差している。このため、
コネクタ５の端子６と前記接触面２２ａとの摩擦係数が
高くなる。したがって、接触部２２の接触面２２ａと端
子６とを確実に接触させることができる。したがって、
検査ピン１は、端子６とより確実に電気的に接続する。

【００３９】次に、本発明の第２の実施形態にかかるワ
イヤハーネス用検査治具の検査ピン１を図１１及び図１
２を参照して説明する。なお、前述した第１の実施形態
と同一構成部分には、同一符号を付して説明を省略す
る。

【００４０】本実施形態では、図１１及び図１２に示す
ように、本体部２０と基部２１とが一体となっていると
ともに円柱状に形成されている、接触部２２の大径部２
５が円管状に形成されている。接触部２２の大径部２５
に前記突起２４が設けられている。接触部２２の大径部
２５内に本体部２０が侵入している。本体部２０の外表
面２０ａに前記溝２７が形成されている。コイルばね２
３は、大径部２５内に収容されかつ接触部２２と本体部
２０との間に設けられている。

【００４１】本実施形態によれば、本体部２０が円柱状
でかつ接触部２２が円管状である。このため、接触部２
２の剛性を高くすることができる。したがって、接触部
２２の位置が定まり、該接触部２２の接触面２２ａを端
子６に確実に接触させることができる。

【００４２】また、本体部２０の外表面２０ａに螺線状
の溝２７が形成され、接触部２２の大径部２５に前記溝
２７に侵入する突起２４が設けられている。このため、
接触部２２を軸芯周りに回転させることにより、該接触
部２２を本体部２０から確実に突没できる。したがっ
て、検査ピン１は、端子６と確実に電気的に接続する。

【００４３】接触部２２の接触面２２ａに凹溝３０が形
成されている。凹溝３０が、複数の第１の凹溝３１と、
複数の第２の凹溝３２と、複数の第３の凹溝３３とを備
えている。これらの第１の凹溝３１と第２の凹溝３２と
第３の凹溝３３とは、互いに交差している。このため、
コネクタ５の端子６と前記接触面２２ａとの摩擦係数が
高くなる。したがって、接触部２２の接触面２２ａと端
子６とを確実に接触させることができる。したがって、
検査ピン１は、端子６とより確実に電気的に接続する。

【００４４】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１に記載の
本発明によれば、本体部と接触部のうち一方が円管状で
かつ他方が円柱状である。このため、接触部の剛性を高
くすることができる。したがって、接触部の位置が定ま
り、該接触部を端子に確実に接触させることができる。
また、他方の外表面に螺線状の溝が形成され一方に前記
溝に侵入する突起が設けられている。このため、接触部
を軸芯周りに回転させることにより、該接触部を本体部
から確実に突没できる。したがって、端子と確実に電気
的に接続する。

【００４５】請求項２に記載の本発明によれば、本体部
が円管状でかつ接触部が円柱状である。このため、接触
部の剛性をより高くすることができる。したがって、接
触部の位置が定まり、該接触部を端子により確実に接触
させることができる。したがって、端子と確実に電気的
に接続する。

【００４６】請求項３に記載の本発明によれば、接触部
の接触面に凹溝が形成されている。このため、端子と接
触面との摩擦係数が高くなる。したがって、接触部の接
触面と端子とを確実に接触させることができる。したが
って、端子と確実に電気的に接続する。

【００４７】請求項４に記載の本発明によれば、凹溝
が、複数の第１の凹溝と、該第１の凹溝に交差する複数
の第２の凹溝と、を備えている。このため、端子と接触
面との摩擦係数がより確実に高くなる。したがって、接
触部の接触面と端子とをより確実に接触させることがで
きる。したがって、端子とより確実に電気的に接続す
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施形態にかかるワイヤハーネ
ス用検査治具の検査ピンを示す斜視図である。

【図２】図１に示されたワイヤハーネス用検査治具の検
査ピンを一部断面にして示す斜視図である。

【図３】図１に示されたワイヤハーネス用検査治具の検
査ピンを備えたワイヤハーネス用検査治具を示す斜視図
である。

【図４】図３に示されたワイヤハーネス用検査治具の導
通検査部などを示す断面図である。

【図５】図１に示されたワイヤハーネス用検査治具の検
査ピンの側面図である。

【図６】図１中のＶＩ−ＶＩ線に沿う断面図である。

【図７】図１中のＶＩＩ−ＶＩＩ線に沿う断面図であ
る。

【図８】図１に示されたワイヤハーネス用検査治具の検
査ピンの接触面の平面図である。

【図９】図８中のＩＸ−ＩＸ線に沿う断面図である。

【図１０】図８中のＸ−Ｘ線に沿う断面図である。

【図１１】本発明の第２の実施形態にかかるワイヤハー
ネス用検査治具の検査ピンを一部断面にして示す斜視図
である。

【図１２】図１１中のＸＩＩ−ＸＩＩ線に沿う断面図で
ある。

【図１３】従来の検査ピンを一部断面にして示す側面図
である。

【図１４】図１３中のＸＩＶ−ＸＩＶ線に沿う断面図で
ある。

【符号の説明】

１ ワイヤハーネス用検査治具の検査ピン ２ ワイヤハーネス用検査治具 ３ ワイヤハーネス ６ 端子 ２０ 本体部 ２０ａ 外表面 ２２ 接触部 ２２ａ 接触面 ２３ コイルばね（付勢手段） ２４ 突起 ２５ａ 外表面 ２７ 溝 ３０ 凹溝 ３１ 第１の凹溝 ３２ 第２の凹溝

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 日詰 寛美 東京都千代田区岩本町１−４−４ 株式会 社エスケイ工機内 Ｆターム(参考） 2G011 AA01 AB01 AC14 AE22 AF06 2G014 AA13 AB60 AC08 5E051 GA09 GB07 GB09

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 端子を備えたワイヤハーネスに導通検査
   を行うために用いられるワイヤハーネス用検査治具の検
   査ピンであって、 前記ワイヤハーネス用検査治具に取り付けられる本体部
   と、 前記本体部に突没自在に支持されかつ前記端子に接触可
   能な接触部と、 前記接触部を前記本体部から突出する方向に付勢する付
   勢手段と、を備え、 前記本体部と接触部とのうち一方が円管状に形成されて
   いるとともに、他方が前記一方内に挿入される円柱状に
   形成されており、 前記他方の外表面に、該外表面から凹でかつ螺線状に延
   びた溝が形成されているとともに、 前記一方には、内側に向かって凸でかつ前記溝内に侵入
   する突起が設けられていることを特徴とするワイヤハー
   ネス用検査治具の検査ピン。
2. 【請求項２】 前記本体部が円管状に形成されかつ前記
   接触部が円柱状に形成されていることを特徴とする請求
   項１記載のワイヤハーネス用検査治具の検査ピン。
3. 【請求項３】 前記接触部が前記端子に相対しかつ該端
   子に接触する接触面を備え、 前記接触面に、該接触面から凹の凹溝が形成されている
   ことを特徴とする請求項１または請求項２記載のワイヤ
   ハーネス用検査治具の検査ピン。
4. 【請求項４】 前記凹溝は、互いに平行な複数の第１の
   凹溝と、互いに平行な複数の第２の凹溝と、を備え、前
   記第１の凹溝と第２の凹溝が互いに交差していることを
   特徴とする請求項３記載のワイヤハーネス用検査治具の
   検査ピン。