JP2020176837A - コネクタ導通検査具 - Google Patents

Abstract

【課題】導通検査ピンを接触させた際の端子の変形を防止できるコネクタ導通検査具を提供する。【解決手段】コネクタ導通検査具１１は、コネクタハウジング２７に設けられた端子収容室２９に連通する端子開口部３３に嵌合して蓋をする端子開口挿入部１３と、端子開口挿入部１３によって端子開口部３３が蓋をされた端子収容室２９に連通する検査ピン開口部３９に挿入され、端子収容室２９内の端子３５と電気的に接続される導通検査ピン１５と、を備える。【選択図】図８

Description

本発明は、コネクタ導通検査具に関する。

ワイヤハーネスのコネクタ内に挿入係止された端子に対して、導通の有無を検知するコネクタ導通検査を実施することがある。コネクタ導通検査には、例えば特許文献１に開示されるコネクタ導通検査具が用いられる。

このコネクタ導通検査具は、コネクタを嵌合する第一のブロック内に、コネクタ内の端子に一端部を接触させる進退自在な導通検査ピンと、端子を係止するコネクタの可撓係止ランス（可撓係止片）の撓み空間内に一端部を進入可能な絶縁性の挿入検査ピンとをオフセットして備える。第一のブロックと第二のブロックとの間に回路基板が挟まれて配置される。第二のブロック内に導電性の可動ピンが端子方向に弾性付勢されて設けられる。回路基板に導通検査ピンと可動ピンとの間でオフセット方向に回路導体が設けられる。
そして、導通検査ピンの他端部が第一のブロック内で弾性部材を介して回路導体の一端部に接触する。回路導体の他端部が可動ピンに接触する。回路導体の他端部に沿って挿入検査ピンの他端部が回路基板の挿通部を通過して可動ピンに当接する。可動ピンに外部から通電され、挿入検査ピンの一端部が可撓係止ランスに当接した際に、挿入検査ピンの他端部が可動ピンを回路導体に対して接触解除方向に押圧する。

特開２００１−１５９６５４号公報

しかしながら、従来のコネクタ導通検査具は、コネクタハウジング内に収容された端子の端子バネ部に導通検査ピンを誤挿入できてしまい、その結果、端子バネ部を変形させてしまう虞があった。端子バネ部が変形した端子は、相手コネクタとの嵌合時、相手端子に端子バネ部が適正に接触しない場合があり、導通不良の原因となる虞がある。

本発明は上記状況に鑑みてなされたもので、その目的は、導通検査ピンを接触させた際の端子の変形を防止できるコネクタ導通検査具を提供することにある。

本発明に係る上記目的は、下記構成により達成される。
（１） コネクタハウジングに設けられた端子収容室に連通する端子開口部に嵌合して蓋をする端子開口挿入部と、前記端子開口挿入部によって前記端子開口部が蓋をされた前記端子収容室に連通する検査ピン開口部に挿入され、前記端子収容室内の端子と電気的に接続される導通検査ピンと、を備えることを特徴とするコネクタ導通検査具。

上記（１）の構成のコネクタ導通検査具によれば、導通検査時には、端子開口挿入部と導通検査ピンとが、導通検査位置に移動してコネクタハウジングの嵌合先端壁部に接近する。コネクタハウジングの嵌合先端壁部に接近した端子開口挿入部と導通検査ピンとは、先ず、端子開口挿入部が、端子収容室に連通する端子開口部に嵌合する。端子開口挿入部により端子開口部が蓋をされた端子収容室は、端子開口部からの導通検査ピンや異物の進入ができなくなる。その後、導通検査ピンは、端子開口挿入部により端子開口部が蓋をされた端子収容室に連通する検査ピン開口部に挿入される。検査ピン開口部に挿入された導通検査ピンは、端子へ接触することにより、導通検査を行える。このため、端子開口部から導通検査ピンが誤って端子収容室に進入し、端子を変形させる可能性がなくなる。
また、端子開口挿入部が端子開口部に嵌合することで、コネクタ導通検査具とコネクタハウジングとを位置決めすることができる。コネクタ導通検査具において、端子開口挿入部と導通検査ピンとの相対位置は定まっている。また、コネクタハウジングにおいて、端子開口部と検査ピン開口部との相対位置も定まっている。従って、端子開口挿入部が端子開口部に嵌合されることにより、導通検査ピンを検査ピン開口部内の端子へ位置決めすることができる。
この端子開口挿入部を利用した導通検査ピンの位置決め作用により、コネクタ導通検査具には、コネクタハウジングの位置決め機構を別途設ける必要がなくなる。このため、コネクタ導通検査具の構造を簡略化でき、コネクタ導通検査具を安価に製作できるようになる。

（２） 前記端子開口挿入部が、前記端子開口部に形成されたテーパ穴に一致する先細のテーパ部を有することを特徴とする上記（１）に記載のコネクタ導通検査具。

上記（２）の構成のコネクタ導通検査具によれば、端子開口挿入部が有するテーパ部は、端子開口部に形成された狭窄形状のテーパ穴に一致する先細形状となる。先細形状は、導通検査ピン移動方向に垂直な断面が、導通検査ピン移動方向の前方に向かうに従って、徐々に相似形で小さくなる。なお、端子開口挿入部の断面形状は、円形でも多角形でもよい。端子開口挿入部のテーパ部は、例えばこの断面が四角形の場合、頂部が底面と平行な面で平坦となった四角錐台形状とすることができる。この場合、端子開口部も、入口が四角錐台形状の空間となったテーパ穴となる。このように、端子開口挿入部と端子開口部が同一のテーパ面で嵌合することにより、嵌合中心軸を一致させる調芯作用が得られる。これにより、導通検査ピンと端子とをより高精度に位置決めすることができる。

（３） 前記端子開口挿入部が突設された検査具本体には、前記導通検査ピンが進退自在に設けられ、前記導通検査ピンは、前記検査具本体から突出した前記端子開口挿入部の前記テーパ部における大径端にピン先端が一致させられた待機位置から進出可能に設けられていることを特徴とする上記（２）に記載のコネクタ導通検査具。

上記（３）の構成のコネクタ導通検査具によれば、端子開口挿入部と導通検査ピンとが、検査具本体に設けられる。導通検査ピンは、検査具本体に対して導通検査ピン移動方向に進退自在に設けられる。ここで、検査具本体は、端子開口挿入部が端子開口部に蓋をした後、導通検査ピンを遅延して進出させる機構を備えることができる。この導通検査ピンの遅延進出機構は、例えば周知のリンク機構を用いて実現することができる。この遅延進出機構において、導通検査ピンは、端子開口部に対する端子開口挿入部の嵌合が完了するまで、待機位置に待機している。この待機位置において、導通検査ピンは、ピン先端がテーパ部における大径端（断面が最大の端部）と一致する。即ち、導通検査ピンは、端子開口挿入部の未嵌合状態では、テーパ部の基端である大径端まで後退した位置で待機する。これにより、導通検査ピンは、端子開口挿入部が端子開口部に嵌合するより先に端子に接触することが確実に防止される。

本発明に係るコネクタ導通検査具によれば、導通検査ピンを接触させた際の端子の変形を防止できる。

以上、本発明について簡潔に説明した。更に、以下に説明される発明を実施するための形態（以下、「実施形態」という。）を添付の図面を参照して通読することにより、本発明の詳細は更に明確化されるであろう。

本発明の一実施形態に係るコネクタ導通検査具の斜視図である。 コネクタ導通検査具により導通検査されるコネクタの斜視図である。 端子開口部に端子開口挿入部が嵌合される直前のコネクタ導通検査具とコネクタの斜視図である。 図２に示したコネクタの正面図である。 図４に示した端子開口部近傍の要部拡大正面図である。 図１に示したコネクタ導通検査具の正面図である。 図６におけるＡ−Ａ断面図である。 端子開口挿入部と導通検査ピンとの位置関係及び導通検査ピンの先端と端子のピン当接部との位置関係を表した断面図である。 端子開口挿入部の嵌合完了直後の状態を表す動作説明図である。 導通検査ピンが進出した状態を表す動作説明図である。

以下、本発明に係る実施形態を、図面を参照して説明する。
図１は本発明の一実施形態に係るコネクタ導通検査具１１の斜視図である。
本実施形態に係るコネクタ導通検査具１１は、検査具本体１７に突設された端子開口挿入部１３と、検査具本体１７に進退自在に設けられた導通検査ピン１５と、を主要な構成として有する。

コネクタ導通検査具１１は、図１に示すように、検査具本体１７が、扁平な略直方体で形成される。検査具本体１７は、横長の矩形面となる一つの面が、検査具先端面１９となる。検査具先端面１９には、端子開口挿入部１３が突設される。また、検査具本体１７の下面２１（図６参照）には、導通検査ピン１５を収容するピン収容部２３が、端子開口挿入部１３の突出方向と反対方向に延在して設けられている。ピン収容部２３には、導通検査ピン１５が端子開口挿入部１３の突出方向に進退自在に設けられている。

図２はコネクタ導通検査具１１により導通検査されるコネクタ２５の斜視図である。
コネクタ導通検査具１１により導通検査が行われるコネクタ２５は、図２に示すように、例えば雌コネクタとなる。このコネクタ２５は、コネクタハウジング２７に、複数の雌端子をそれぞれに収容する複数の端子収容室２９（図８参照）が形成されている。本実施形態では、３つの端子収容室２９が、コネクタハウジング２７の横方向に並んで形成されている。

それぞれの端子収容室２９には、コネクタハウジング２７の嵌合先端壁部３１において、端子開口部３３が連通している。この端子開口部３３には、相手コネクタ（雄コネクタ）の雄端子が進入する。それぞれの端子収容室２９は、コネクタハウジング２７の後端に、端子装着口が開口している。端子装着口からは、端子３５（図８参照）に接続された電線３７が導出される。

図３は端子開口部３３に端子開口挿入部１３が嵌合される直前のコネクタ導通検査具１１とコネクタ２５の斜視図である。
本実施形態のコネクタ導通検査具１１は、図３に示したように、導通検査時には、端子開口挿入部１３と導通検査ピン１５とが、導通検査位置に移動してコネクタハウジング２７の嵌合先端壁部３１に接近させられる。そして、端子３５が収容されたコネクタハウジング２７の複数の端子収容室２９にそれぞれ連通する端子開口部３３に対し、端子開口挿入部１３を挿入した状態で導通検査を行う。コネクタハウジング２７の端子開口部３３は、横長の矩形穴で形成されている。端子開口挿入部１３が嵌合された端子開口部３３は、蓋をされた状態となり、導通検査ピン１５やその他の異物の進入が不能となる。

図４は図２に示したコネクタ２５の正面図、図５は図４示した端子開口部３３近傍の要部拡大正面図である。
図４に示すように、コネクタハウジング２７の嵌合先端壁部３１における端子開口部３３の下方には、検査ピン開口部３９が開口している。端子収容室２９に収容された端子３５は、これら端子開口部３３と検査ピン開口部３９とを介して外部からの接触が可能となる。

図５に示すように、検査ピン開口部３９の奥には、端子収容室２９に収容された端子３５のピン当接部４１（図８参照）が配置される。検査ピン開口部３９は、端子開口部３３よりも横方向の距離が小さい略正方形の開口穴となって、端子開口部３３の左右方向中央位置に形成されている。後述する導通検査ピン１５のピン先端４７が当接するピン当接部４１は、端子先端で折り返された端子バネ部の折り返し部であり、比較的強度が高い部分である。

図６は図１に示したコネクタ導通検査具１１の正面図、図７は図６におけるＡ−Ａ断面図である。
コネクタ導通検査具１１の端子開口挿入部１３は、コネクタハウジング２７の端子開口部３３に応じた形状で形成される。本実施形態では、図６及び図７に示すように、端子開口部３３が横長の矩形状となる。このため、端子開口挿入部１３も横長の矩形状に形成されて検査具先端面１９から突出している。

端子開口挿入部１３には、テーパ部４３が形成される。テーパ部４３は、端子開口部３３に形成されるテーパ穴４５と同一のテーパ面を有して形成される。本実施形態において、テーパ部４３は、端子開口部３３に形成された狭窄形状のテーパ穴４５に一致する先細のテーパ面を有している。検査具本体１７の下面２１に設けられたピン収容部２３に収容された導通検査ピン１５は、ピン先端４７がテーパ部４３の基端である大径端４９と一致する図７に示す位置が、待機位置となる。検査具本体１７に進退自在に設けられた導通検査ピン１５は、待機位置から、端子開口挿入部１３の突出方向に向かって進出する。

検査具本体１７は、導通検査装置（図示略）に着脱自在に装着される。即ち、コネクタ導通検査具１１は、検査対象となるコネクタ２５に対応した端子開口挿入部１３や導通検査ピン１５を備えた複数種類のものを製作することができる。これにより、導通検査装置は、異なる仕様のコネクタ２５に対して、コネクタ導通検査具１１のみを適宜交換して導通検査を行うことができる。

図８は端子開口挿入部１３と導通検査ピン１５との位置関係及び導通検査ピン１５の先端と端子３５のピン当接部４１との位置関係を表した断面図である。
導通検査ピン１５は、図８に示すように、待機位置において、ピン先端４７から端子開口挿入部１３の先端までの距離Ｌが設定される。即ち、待機位置の導通検査ピン１５は、ピン先端４７が端子開口挿入部１３の先端から距離Ｌだけ後退している。

一方、コネクタ２５のコネクタハウジング２７は、端子開口部３３が形成される嵌合先端壁部３１の肉厚が厚みＴで形成される。端子３５は、この嵌合先端壁部３１の背部に、ピン当接部４１が配置される位置で端子収容室２９に収容されている。

ここで、端子開口挿入部１３の先端から後退している導通検査ピン１５のピン先端４７の距離Ｌは、嵌合先端壁部３１の厚みＴよりも大きく設定されている（Ｌ＞Ｔ）。コネクタ導通検査具１１は、端子開口挿入部１３の先端から後退している導通検査ピン１５のピン先端４７の距離Ｌが、嵌合先端壁部３１の厚みＴよりも大きく設定されることにより、端子開口挿入部１３が端子開口部３３に未嵌合の状態では、導通検査ピン１５が端子３５のピン当接部４１に干渉しないように構成されている。

次に、上記した構成の作用を説明する。
図９は端子開口挿入部１３の嵌合完了直後の状態を表す動作説明図である。
本実施形態に係るコネクタ導通検査具１１では、導通検査時には、端子開口挿入部１３と導通検査ピン１５とを備えた検査具本体１７が、導通検査位置に向ってＢ方向に移動してコネクタハウジング２７の嵌合先端壁部３１に接近する。コネクタハウジング２７の嵌合先端壁部３１に接近した端子開口挿入部１３と導通検査ピン１５とは、先ず、図９に示すように、端子開口挿入部１３が、端子収容室２９に連通する端子開口部３３に嵌合する。端子開口挿入部１３により端子開口部３３が蓋をされた端子収容室２９は、端子開口部３３からの導通検査ピン１５や異物の進入ができなくなる。

図１０は導通検査ピン１５が進出した状態を表す動作説明図である。
その後、図１０に示すように、導通検査ピン１５は、待機位置から導通検査ピン移動方向Ｃへ移動し、端子開口挿入部１３により端子開口部３３が蓋をされた端子収容室２９に連通する検査ピン開口部３９に挿入される。検査ピン開口部３９に挿入された導通検査ピン１５は、端子３５のピン当接部４１へ接触することにより、導通検査を行える。このため、端子開口部３３から導通検査ピン１５が誤って端子収容室２９に進入し、端子３５の端子バネ部を変形させる可能性がなくなる。

また、端子開口挿入部１３が端子開口部３３に嵌合することで、コネクタ導通検査具１１とコネクタ２５とを位置決めすることができる。コネクタ導通検査具１１において、端子開口挿入部１３と導通検査ピン１５との相対位置は定まっている。また、コネクタ２５のコネクタハウジング２７において、端子開口部３３と検査ピン開口部３９との相対位置も定まっている。従って、端子開口挿入部１３が端子開口部３３に嵌合されることにより、導通検査ピン１５を検査ピン開口部３９内における端子３５のピン当接部４１へ位置決めすることができる。

この端子開口挿入部１３を利用した導通検査ピン１５の位置決め作用により、コネクタ導通検査具１１には、コネクタハウジング２７の位置決め機構を別途設ける必要がなくなる。このため、コネクタ導通検査具１１の構造を簡略化でき、コネクタ導通検査具１１を安価に製作できるようになる。

また、本実施形態のコネクタ導通検査具１１では、端子開口挿入部１３が有するテーパ部４３は、端子開口部３３に形成された狭窄形状のテーパ穴４５に一致する先細形状となる。先細形状は、導通検査ピン移動方向Ｃに垂直な断面が、導通検査ピン移動方向Ｃの前方に向かうに従って、徐々に相似形で小さくなる。端子開口挿入部１３の断面形状は、円形でも多角形でもよい。端子開口挿入部１３のテーパ部４３は、例えばこの断面が四角形の場合、頂部が底面と平行な面で平坦となった四角錐台形状とすることができる。この場合、端子開口部３３も、入口が四角錐台形状の空間となったテーパ穴４５となる。このように、端子開口挿入部１３と端子開口部３３が同一のテーパ面で嵌合することにより、嵌合中心軸を一致させる調芯作用が得られる。これにより、導通検査ピン１５と端子３５のピン当接部４１とをより高精度に位置決めすることができる。

更に、本実施形態のコネクタ導通検査具１１では、端子開口挿入部１３と導通検査ピン１５とが、検査具本体１７に設けられている。導通検査ピン１５は、検査具本体１７に対して導通検査ピン移動方向Ｃに進退自在に設けられる。ここで、検査具本体１７は、端子開口挿入部１３が端子開口部３３に蓋をした後、導通検査ピン１５を遅延して進出させる機構を備えることができる。この導通検査ピン１５の遅延進出機構は、例えば周知のリンク機構を用いて実現することができる。この遅延進出機構において、導通検査ピン１５は、端子開口部３３に対する端子開口挿入部１３の嵌合が完了するまで、待機位置に待機している。この待機位置において、導通検査ピン１５は、ピン先端４７がテーパ部４３における大径端４９（断面が最大の端部）と一致する。即ち、導通検査ピン１５は、端子開口挿入部１３の未嵌合状態では、テーパ部４３の基端である大径端４９まで後退した位置で待機する。これにより、導通検査ピン１５は、端子開口挿入部１３が端子開口部３３に勘合するより先に端子３５のピン当接部４１に接触することが確実に防止される。

従って、本実施形態に係るコネクタ導通検査具１１によれば、導通検査ピン１５を接触させた際の端子３５の変形を防止できる。

尚、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、適宜、変形、改良、等が可能である。その他、上述した実施形態における各構成要素の材質、形状、寸法、数、配置箇所、等は本発明を達成できるものであれば任意であり、限定されない。

例えば上記実施形態の構成例では、検査具本体１７に一つの端子開口挿入部１３及び導通検査ピン１５が設けられる例を説明したが、本発明の検査具本体には、コネクタの複数の端子開口部及び検査ピン開口部３９に応じた複数の端子開口挿入部及び導通検査ピンが設けられてもよい。

ここで、上述した本発明に係るコネクタ導通検査具の実施形態の特徴をそれぞれ以下［１］〜［３］に簡潔に纏めて列記する。
［１］ コネクタハウジング（２７）に設けられた端子収容室（２９）に連通する端子開口部（３３）に嵌合して蓋をする端子開口挿入部（１３）と、
前記端子開口挿入部（１３）によって前記端子開口部（３３）が蓋をされた前記端子収容室（２９）に連通する検査ピン開口部（３９）に挿入され、前記端子収容室（２９）内の端子（３５）と電気的に接続される導通検査ピン（１５）と、
を備えることを特徴とするコネクタ導通検査具（１１）。
［２］ 前記端子開口挿入部（１３）が、前記端子開口部（３３）に形成されたテーパ穴（４５）に一致する先細のテーパ部（４３）を有することを特徴とする上記［１］に記載のコネクタ導通検査具（１１）。
［３］ 前記端子開口挿入部（１３）が突設された検査具本体（１７）には、前記導通検査ピン（１５）が進退自在に設けられ、
前記導通検査ピン（１５）は、前記検査具本体（１７）から突出した前記端子開口挿入部（１３）の前記テーパ部（４３）における大径端（４９）にピン先端（４７）が一致させられた待機位置から進出可能に設けられていることを特徴とする上記［２］に記載のコネクタ導通検査具（１１）。

１１…コネクタ導通検査具
１３…端子開口挿入部
１５…導通検査ピン
１７…検査具本体
２７…コネクタハウジング
２９…端子収容室
３３…端子開口部
３５…端子
３９…検査ピン開口部
４３…テーパ部
４５…テーパ穴
４７…ピン先端
４９…大径端

Claims (3)

1. コネクタハウジングに設けられた端子収容室に連通する端子開口部に嵌合して蓋をする端子開口挿入部と、
   前記端子開口挿入部によって前記端子開口部が蓋をされた前記端子収容室に連通する検査ピン開口部に挿入され、前記端子収容室内の端子と電気的に接続される導通検査ピンと、
   を備えることを特徴とするコネクタ導通検査具。
2. 前記端子開口挿入部が、前記端子開口部に形成されたテーパ穴に一致する先細のテーパ部を有することを特徴とする請求項１に記載のコネクタ導通検査具。
3. 前記端子開口挿入部が突設された検査具本体には、前記導通検査ピンが進退自在に設けられ、
   前記導通検査ピンは、前記検査具本体から突出した前記端子開口挿入部の前記テーパ部における大径端にピン先端が一致させられた待機位置から進出可能に設けられていることを特徴とする請求項２に記載のコネクタ導通検査具。

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