JP2002340965A - コネクタピン検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【課題】 コネクタピンから離反した退避位置におい
て、全てのプローブがコネクタピン非検知位置に復帰し
ているか否かを自己診断できるようにして検査装置の信
頼性向上を図る。 【解決手段】 プローブケース１が退避位置にある間、
プローブ３は第１スライド位置にあり、プローブケース
１が検査位置にあってプローブ３がコネクタピン４１に
接触している間は第２スライド位置にスライドする。第
１検出手段４ｂ、５ｂはプローブ３の全てが第１スライ
ド位置にあることを検出する。第２検出手段４ａ，５ａ
はプローブ３の全てが第２スライド位置にあることを検
出する。プローブ３の全てが第１スライド位置にあるこ
とをまず検出し、その第１スライド位置にあったプロー
ブ３がコネクタピンに接触して第２スライド位置にスラ
イドしたことを検出する。 【効果】誤判定を防止する

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はコネクタピンの検査
装置に関し、詳しくは、複数のコネクタピンが取付けら
れているはずの部材（例えばプリント基板）に、予定さ
れているすべてのコネクタピンが取付けられているか否
か、あるいは、コネクタピンが正しく取付けられている
か否かを検査するコネクタピン検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば「プレスフィットコネクタ」と呼
ばれる無ハンダ圧入型のコネクタは、プリント基板の挿
入孔にコネクタピンが圧入されてなるもので、挿入孔と
コネクタピンの数が極めて多数に及ぶことがある。この
場合、予定されているコネクタピンのすべてが取付けら
れているか否か、あるいは、コネクタピンが正しく取付
けられているか否かを検査する必要があり、コネクタピ
ン検査装置が利用されている。コネクタピン検査装置の
一例が、特開平８−１８４６３２に開示されている。

【０００３】従来のコネクタピン検査装置は、図８と９
に示すように、プローブケース３１と、プローブ群３３
・・と、１つの検出手段３４，３５を備えている。プロ
ーブケース３１は、図９に示されるように、検査対象で
あるコネクタピン群４１・・に接近する検査位置と、図
８に示されるように、コネクタピン群４１・・から離反
する退避位置との間を移動可能である。プローブ群３３
・・は、コネクタピン群４１・・の配列と同じ配列で配
置され、プローブケース３１に対してスライド可能にセ
ットされており、プローブケース３１が退避位置にある
間は（図８）第1スライド位置にあり、プローブケース
３１が検査位置にあってプローブ３３の先端３３ａがコ
ネクタピン４１に接触している間は（図９）第2スライ
ド位置にスライドする。検出手段は、プローブ群３３・
・の左側に設置された投光器３４と右側に設置された受
光器３５の対で構成されている。プローブ３３が第２ス
ライド位置にあるときに（図９）、検出手段３４，３５
の存在レベルに対応する位置において、各プローブ３３
には透光部３３ｄが設けられている。透光部３３ｄの上
下は、非透光部３３ｂ、３３ｃとなっており、全部のプ
ローブ３３が第２スライド位置にあるときにのみ（図
９）、投光器３４から出射された光が透光部３３ｄを通
って受光器３５に達する。コネクタピン４１によって押
し上げられていないプローブ３３が１本でもあると、投
光器３４から出射された光は遮光部３３ｂによって遮断
されるために受光器３５に到達することができない。受
光器３５が受光するか否かによって、全てのプローブ３
３に対応する位置においてコネクタピン４１が正しく取
付けられているか否かを検査することができる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記のコネクタピン検
査装置の場合、異物等の影響によってプローブ３３がス
ライド不能となることがある。ときにはプローブ３３が
第２スライド位置でスライド不能となってしまうことが
ある。プローブ３３が第２スライド位置でスライド不能
となってしまうと、対応するコネクタピンが正しく取付
けられていないのにも係わらず、それを検出するプロー
ブが第２スライド位置にロックされていることから、コ
ネクタピンが正しく取付けられているものと誤検査して
しまう。

【０００５】本発明は、上記の問題に鑑みてなされたも
のであり、その目的とするところは、検査装置のプロー
ブ群が正常であって正しく検査できる状態にあるか否か
を自己診断できるようにし、もって検査結果の信頼性向
上を図ることにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記課題は、請求項１に
記載したコネクタピン検査装置によって解決される。こ
の検査装置は、プローブケースとプローブ群と第１と第
２検出手段を備える。プローブケースは、検査対象であ
るコネクタピン群に接近する検査位置と、コネクタピン
群から離反する退避位置との間を移動可能である。プロ
ーブ群は、コネクタピン群の配列と同じ配列で配置さ
れ、プローブケースに対してスライド可能にセットされ
ており、プローブケースが退避位置にある間は第1スラ
イド位置にあり、プローブケースが検査位置にあってプ
ローブがコネクタピンに接触している間は第2スライド
位置にスライドする。第1検出手段は、プローブ群の全
てが第1スライド位置にあることを検出する。第2検出手
段は、プローブ群の全てが第２スライド位置にあること
を検出する。

【０００７】この検査装置によると、第1検出手段によ
ってプローブ群の全てが第1スライド位置にあることを
まず検出し、その後に、第１スライド位置にあったプロ
ーブがコネクタピンに接触して第2スライド位置にスラ
イドしたことを検出する。この検査装置によると、プロ
ーブが第２スライド位置でスライド不能となって正しい
検査ができない状態になっていれば、そのことが第１検
出手段によって判明し、正しい検査ができない検査装置
を用いて検査して不合格品を合格品と誤判定することが
防止される。本発明の検査装置によって、すべてのコネ
クタピンが正常であると検査されるのは、それを検査す
るプローブが正常にスライドすることが確認された上で
のことであり、誤判定を確実に防止することができる。

【０００８】請求項２に記載されたコネクタピン検査装
置では、プローブ群の両側に対をなして設置された投光
器と受光器とで第１検出手段と第２検出手段が構成され
る。各プローブには透光部が設けられている。透光部
は、プローブが第1スライド位置にあるときに第1検出手
段の存在レベルに対応する位置と、プローブが第２スラ
イド位置にあるときに第２検出手段の存在レベルに対応
する位置に設けられている。この場合、第１検出手段に
よって全てのプローブ群が第1スライド位置にあること
が検出され、第２検出手段によって全てのプローブ群が
第２スライド位置にあることが検出される。第1検出手
段と第２検出手段を、第1スライド位置と第２スライド
位置との間の移動距離に等しい距離だけ離して配置して
おくと、第1スライド位置にあることを確認するための
透光部を、第２スライド位置にあることを確認するため
の透光部と兼用させることができる。

【０００９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図に
基づいて説明する。図１は実施形態に係るコネクタピン
検査装置を示す断面図である。コネクタピン検査装置の
プローブケース１には、縦に長い多数の収容室２が互い
に平行に形成されている。それぞれの収容室２にはプロ
ーブ３が長手方向にスライド自在に収容されており、プ
ローブ３はスプリング４によってプローブ先端の接触部
３ａがプローブケース１の下壁部から突出するように付
勢されている。図１に示すプローブケース１に対するプ
ローブ３の位置を第１スライド位置という。収容室２の
配列、即ちプローブ３の配列は、検査対象物であるプリ
ント基板に設けられたコネクタピン（後述する）の配列
に同じである。

【００１０】各プローブ３は、図２に示すように、接触
部３ａより大径の遮光部３ｂと、収容室２に沿って摺動
する案内部３ｃと、遮光部３ｂと案内部３ｃとの間に設
けられた溝部３ｄ，３ｅとを有している。溝部３ｄ，３
ｅは透光部でもあり、以下では透光部という。透光部３
ｄ，３ｅは溝内の空間を光が通るようにするものである
から、光が通過するプラスチックなどの透光部材に置き
換えることもできる。

【００１１】プローブケース１には、プローブ３が第１
スライド位置（図１）にあるときに透光部３ｅに対応す
る高さ位置においてプローブケース１を横方向に貫通す
る光軸１ｂと、プローブ３が一定距離押し上げられたと
きに（第２スライド位置であり、図３に示される）、透
光部３ｄに対応する高さ位置においてプローブケース１
を横方向に貫通する光軸１ａとが互いに平行に形成され
ている。プローブケース１の左右両側には、光軸孔１
ａ，１ｂに臨む位置に投光器４ａ，４ｂと受光器５ａ，
５ｂが配設されている。図１に示すように、投光器４ｂ
から出射された光は、全てのプローブ３が第１スライド
位置にあって透光部３ｅの位置が光軸孔１ｂと合致した
ときに、透光部３ｅを通過することができ、プローブケ
ース１とプローブ群３・・を貫通して受光器５ｂに達す
る。プローブ群３・・のうちの１個でも第１スライド位
置になければ、受光器５ｂは受光しない。同様に、図３
に示すように、投光器４ａから出射された光は、全ての
プローブ３が第２スライド位置にあって透光部３ｄの位
置が光軸１ａと合致したときに、プローブケース１とプ
ローブ３を貫通して受光器５ａに達することができるよ
うになっている。プローブ群３のうちの１個でも第２ス
ライド位置になければ、受光器５ａは受光しない。本発
明でいう、第１および第２の検出手段は上記のように構
成されている。

【００１２】上記のプローブケース１は、シャンク１ｃ
を介して図示省略の昇降手段に接続されて上下方向に移
動できるようになっている。また、受光器５ａ，５ｂは
図示省略の制御装置に、投光器４ａ，４ｂからの光を受
光したか否かの信号を伝達するようになっている。受光
器５ａ，５ｂに光を受光したか否かを表示する表示手段
を備えても構わない。なお、検査対象のコネクタピン４
１はプリント基板４０の挿入孔に圧入されたものであ
る。

【００１３】次に、上記のように構成されたコネクタピ
ン検査装置の作用を図５のフローチャートを参照して説
明する。下記工程は、上記の制御装置により実行され
る。先ず、図１に示すように、多数のコネクタピン４１
が起立しているはずのプリント基板４０を検査台にセッ
トする。このとき、検査台上に載置されたプリント基板
４０の上方には、プローブ群３・・を備えたプローブケ
ース１が退避位置におかれた状態となっており、プロー
ブ群３・・とコネクタピン群４１・・は接触しない（ス
テップＳ１）。この場合、プローブ群３・・はスプリン
グ群４・・の作用で押し下げられ、図１に示す第１スラ
イド位置にあるはずである。即ち、第１検出装置の受光
部５ｂが受光しているはずである。

【００１４】この状態で、投光器４ｂから出射された光
が受光器５ｂで受光されているか否かを判断する（ステ
ップＳ２）。光が達していないときは、少なくとも１本
のプローブ３に異常があるので（本来あるはずの第１ス
ライド位置に復帰していない）ので、設備異常の警報を
出して検査を中止させる（ステップＳ３）。光が達して
いれば、異常なしとして次の検査ステップに進む。

【００１５】次に、プローブケース１を所定高さ位置
（検査位置であり図３の位置）にまで下降させる（ステ
ップＳ４）。検査位置では、プローブ群３・・とコネク
タピン群４１・・が接触し、プローブ群３・・が第２ス
ライド位置に押し上げられるはずである。

【００１６】この状態で、投光器４ａから出射された光
が受光器５ａで受光されているか否かを判断する（ステ
ップＳ５）。受光されていなければ、図４に例示するよ
うに、コネクタピン４１によって押し上げられていない
プローブ３が少なくても１本存在するので、コネクタピ
ンの圧入異常の警報を出す（ステップＳ６）。光が達し
ていれば、検査したすべてのコネクタピン４１が正常に
配設されている良品であるから、プローブケース１を所
定高さ位置（退避位置）まで上昇させる。このとき、ス
テップＳ２で、すべてのプローブが第１スライド位置に
あったことが確認されており、そのプローブが第２スラ
イド位置にスライドしたことが確認されることから（ス
テップＳ５）、誤検査は生じない。

【００１７】続いて、検査が済んだプリント基板を次工
程へ搬送し、後続の未検査のプリント基板を搬入する。

【００１８】上記したコネクタピン検査装置の検出手段
は、投光器と受光器を用いた非接触方式であり、簡素で
故障し難いものとなっている。本検査装置では、プロー
ブ群の全てが第1スライド位置にあることを検出し、そ
の後に、プローブ群の全てが第２スライド位置にスライ
ドしたことを検出するから、第２スライド位置でロック
されたプローブを用いて誤った検査をすることが防止さ
れる。図８に示した従来の方式では、全部のプローブが
第２スライド位置でロックされた場合のみがわかり、１
本でも第１スライド位置に復帰すれば残りのプローブが
第２スライド位置でロックされていてもわからない。

【００１９】次に、コネクタピン検査装置の別例、詳し
くは、検出手段の別例を説明する。図６および図７に示
したコネクタピン検査装置は、プローブ１３の形状が前
述のプローブ３の形状と異なっている。この他の構成に
ついては前述のコネクタピン検査装置と同様である。こ
のプローブ１３には、１つの透光部１３ｄしか用意され
ていない。プローブ群１３・・が第１スライド位置に揃
ったことを検出する第１検出装置は、光軸１１ａ上に配
置された投光器１４ａと受光器１５ａの対で構成され、
第２スライド位置に揃ったことを検出する第２検出装置
は、光軸１１ｂ上に配置された投光器１４ｂと受光器１
５ｂの対で構成されている。第１検出装置と第２検出装
置は、プローブ１３の第１スライド位置と第２スライド
位置の間の移動距離に等しい距離だけ離れており、１つ
の透光部１３ｄによって、プローブ群１３・・が第１ス
ライド位置に揃ったことと、第２スライド位置に揃った
ことの両者が検出可能となっている。この形式にする
と、プローブ１３を簡素な形状で構成でき、装置の小型
化やコストダウンに寄与できるものとなる。

【００２０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明のコネクタ
ピン検査装置は、すべてのプローブが正常にスライド可
能であって、自然状態で復帰する第１スライド位置に揃
ったことを検出し、その後に、プローブがコンタクトピ
ンによって押されて第２スライド位置にスライドしたこ
とが確認されていることから、異常のものを正常のもの
と誤判定することがない。検査結果の信頼性が向上す
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】 実施形態に係るコネクタピン検査装置を示す
断面図である。

【図２】 プローブの斜視図である。

【図３】 コネクタピン検査装置による検査状態を説明
する図である。

【図４】 コネクタピン検査装置による検査状態を説明
する図である。

【図５】 検査工程を説明するフローチャート図であ
る。

【図６】 別例に係るコネクタピン検査装置を説明する
図である。

【図７】 別例に係るコネクタピン検査装置を説明する
図である。

【図８】 従来例に係るコネクタピン検査装置を説明す
る図である。

【図９】 従来例に係るコネクタピン検査装置を説明す
る図である。

【符号の説明】

１：プローブケース １ａ，１ｂ：光軸 ３：プローブ ３ａ：接触部 ３ｂ：遮光部 ３ｃ：案内部 ３ｄ，３ｅ：透光部 ４：スプリング ４ａ，４ｂ：投光器 ５ａ，５ｂ：受光器

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 プローブケースとプローブ群と第１と第
   ２検出手段を備え、 プローブケースは、検査対象であるコネクタピン群に接
   近する検査位置と、コネクタピン群から離反する退避位
   置との間を移動可能であり、 プローブ群は、コネクタピン群の配列と同じ配列で配置
   され、プローブケースに対してスライド可能にセットさ
   れており、プローブケースが退避位置にある間は第1ス
   ライド位置にあり、プローブケースが検査位置にあって
   プローブがコネクタピンに接触している間は第2スライ
   ド位置にあり、 第1検出手段は、プローブ群の全てが第1スライド位置に
   あることを検出し、 第2検出手段は、プローブ群の全てが第２スライド位置
   にあることを検出するものであることを特徴とするコネ
   クタピン検査装置。
2. 【請求項２】 前記第１検出手段と第２検出手段のそれ
   ぞれはプローブ群の両側に対をなして設置された投光器
   と受光器で構成され、各プローブの、第1スライド位置
   にあるときに第1検出手段の存在レベルに対応する位置
   と、第２スライド位置にあるときに第２検出手段の存在
   レベルに対応する位置に、透光部が設けられていること
   を特徴とする請求項１に記載のコネクタピン検査装置。
3. 【請求項３】 第1検出手段と第２検出手段は、第1スラ
   イド位置と第２スライド位置との間の移動距離に等しい
   距離だけ離れており、第1スライド位置にあるときに第1
   検出手段の存在レベルに設けられている透光部と、第２
   スライド位置にあるときに第２検出手段の存在レベルに
   設けられている透光部が兼用されていることを特徴とす
   る請求項２に記載のコネクタピン検査装置。