KR970019779A - 인쇄회로기판의 자삽불량 검사장치 및 방법 - Google Patents

인쇄회로기판의 자삽불량 검사장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

이 발명은 슬릿(SLIT)광을 이용하여 용이하고 신속하게 자삽유무를 검출할 수 있도록한 새로운 방식의 PCB의 자삽불량검사장치 및 방법에 관한 것이다.
이 발명은 피검사용 PCB로 슬릿광을 조사하고 이의 반사광을 수광하는 광검출장치; 상기 광검출장치를 구동시키는 광검출장치구동부; 상기 광검출장치구동부로 광검출장치의 동작을 위한 명령을 전송하고, 상기 광검출장치구동부를 통해 입력되는 수광신호의 특성을 판별하여 자삽불량에 관한 정보를 호스트컴퓨터부로 전송하여 주는 주제어부; 상기 주제어부에서 전송하는 자삽불량에 대한 데이터를 저장하는 호스트컴퓨터; 상기 주제어부로부터 컨베이어 및 X-Y테이블의 구동제어를 위한 명령을 전송받는 PLC부; 상기 PLC부의 출력에 의해 컨베이어를 구동시키는 컨베이어제어부; 및 상기 PLC부의 출력에 의해 X-Y테이블을 구동시키는 X-Y테이블제어부;를 포함하여 된 장치와 컨베이어를 통해 PCB가 X-Y테이블에 안착되면 광검출장치를 PCB의 소정구역으로 1스텝 이동하여 광검출장치를 동작시켜 PCB를 통해 반사되는 광량을 검출하는 광량검출과정; 상기 수광된 광신호의 특성을 해독 및 분석하여 그에 따른 자삽불량여부를 유형별로 판별하는 판별과정; 및 광검출장치를 1스텝씩 구동하여 최종스텝에 이를때가지 PCB의 자삽불량여부를 판별한 후 그에 따른 정보를 호스트컴퓨터로 전송하는 정보처리과정;을 포함하는 방법을 제공한다. 따라서, 이 발명은 PCB의 자삽불량유무를 검사하기 위하여 종래에 사용되던 검사용 지그를 사용하지 않고, 새로운 슬릿광방식의 검사장치를 제공함으로서, 종래, 검사를 위한 신호인가시와 핀접촉시 발생되던 노이즈나 신호인가시의 부정확성을 배제할 수 있는 효과가 있다.

Description

인쇄회로기판의 자삽불량 검사장치 및 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제5도는 본 발명에 따른 회로 블럭도,
제7도의 (가) 내지 (마)는 제6도의 상태를 판별할 수 있는 알고리즘을 설명하기 위한 수광상태를 나타내는 도면,
제8도는 본 발명에 따른 제어 수순이다.

Claims (7)

  1. 피검사용 PCB로 슬릿광을 조사하고 이의 반사광을 수광하는 광검출장치; 상기 광검출장치를 구동시키는 광검출장치구동부; 상기 광검출장치구동부로 광검출장치의 동작을 위한 명령을 전송하고, 상기 광검출장치구동부를 통해 입력되는 수광신호의 특성을 판별하여 자삽불량에 관한 정보를 호스트컴퓨터부로 전송하여 주는 주제어부; 상기 주제어부에서 전송되는 자삽불량에 대한 데이터를 저장하는 호스트컴퓨터; 상기 주제어부로 부터 컨베이어 및 X-Y테이블의 구동제어를 위한 명령을 전송받는 PLC부; 상기 PLC부의 출력에 의해 컨베이어를 구동시키는 컨베이어제어부; 및 상기 PLC부의 출력에 의해 X-Y테이블을 구동시키는 X-Y테이블제어부;를 포함하여 된 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 자삽불량검사장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 광검출장치는 소정의 직선광을 슬릿으로 조사하는 광원부; 상기 광원부에서 조사된 빛을 규칙적으로 배열 형성된 다수개의 홀을 통해 PCB로 조사하는 슬릿; 및 상기 PCB를 통해 반사되는 빛을 수광하는 수광부;로 구성된 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 자삽불량검사장치.
  3. 제1항 내지 제2항에 있어서, 상기 광검출장치는 컨베이어상에 설치된 X-Y테이블에 설치되어 X-Y축으로 이동가능하고 동시에 360°자체회전에 가능하도록 된 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 자삽불량검사장치.
  4. 컨베이어를 통해 PCB가 X-Y테이블에 안착되면 광검출장치를 PCB의 소정구역으로 1스텝 이동하여 광검출장치를 동작시켜 PCB를 통해 반사되는 광량을 검출하는 광량 검출과정; 상기 수광된 광신호의 특성을 해독 및 분석하여 그에 따른 자삽불량여부를 유형별로 판별하는 판별과정; 및 광검출장치를 1스템식 구동하여 최종스텝에 이를때가지 PCB의 자삽불량여부를 판별한후 그에 따른 정보를 호스트컴퓨터로 전송하는 정보처리과정;을 포함하여 된 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 자삽불량검사방법.
  5. 제4항에 있어서, 상기 광량검출과정은 컨베이어 구동으로 PCB가 X-Y테이블의 소정 검사위치에 도착하면, X-Y테이블을 구동시켜 PCB의 X-Y원점보정을 수행하는 단계; 상기 원점보정단계가 완료되면 PCB의 자삽유무를 검사하기 위하여 X-Y테이블의 광검출장치를 스텝1로 이동하는 단계; 광원부를 구동시켜 슬릿광을 PCB로 조사하는 단계; 수광부를 구동하여 PCB를 통해 반사되는 광량을 수광하는 단계; 및 상기 수광부를 통해 수광되는 광검출신호를 전송받는 단계; 로 구성된 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 자삽불량검사방법.
  6. 제4항에 있어서, 상기 판별과정은 상기 검출된 광산호의 특성을 소정의 알고리즘을 이용해 분석하는 단계; 상기 알고리즘 분석결과 PCB상의 양쪽홀부위 반사되는 광량이 없는 경우에는 미삽으로 판별되는 단계; 한쪽홀 부위에는 비교적 많은 광량이 검출되고 한쪽홀에는 광량이 없는 경우에는 오삽으로 판별하는 단계; 양쪽홀 부위에는 비교적 큰 광량이 검출되고 그 사이에는 소폭의 광량이 검출되거나 양쪽홀 부위에는 비교적 많은 광량이 검출되고 그 사이에 큰 광량이 검출되면 쇼트로 판별하는 단계; 및 양쪽홀 부위에는 비교적 큰 광량이 검출되고 그 사이에는 소폭의 광량이 다수개 검출되면 정상상태로 판별하는 단계; 로 구성된 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 자삽불량검사방법.
  7. 제4항에 있어서, 상기 정보처리과정은 상기 자삽상태의 판별이 완료되면 PCB상의 또 다른 구역으로 자삽검사를 위해 광검출장치를 1스텝 이동하는 단계; 이미 설정된 상기 스텝의 수가 초과되었다는가를 판별하는 단계; 상기 스텝이 완료되면 PCB를 배출하는 단계; 및 상기 PCB의 자삽불량상태검사에 대한 정보를 호스트컴퓨터로 전송하는 단계; 로 구성된 것을 특징으로 하는 자삽불량검사방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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