JP2002134243A - プローブピン - Google Patents
プローブピンInfo
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- lance
- probe pin
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 折れや破損を防止して検査を容易かつ的確に
できること。 【解決手段】 プローブピンのランス姿勢検知ピン１２
が金属製であるので、端子２がコネクタ１に不正確な位
置に差し込まれることにより、プローブピンのランス姿
勢検知ピン１２がランス１ｂと当たっても、折れたり破
損したりすることがなくなり、その上、高精度に形成で
きる。そのため、コネクタ端子孔１ａにプローブピンを
容易にかつ的確に差し込むことができるので、端子２の
組み付けの良否を的確に検査できるばかりでなく、導通
検査をも的確に行うことができ、それだけ検査作業が向
上する。しかも安価にできる。
できること。 【解決手段】 プローブピンのランス姿勢検知ピン１２
が金属製であるので、端子２がコネクタ１に不正確な位
置に差し込まれることにより、プローブピンのランス姿
勢検知ピン１２がランス１ｂと当たっても、折れたり破
損したりすることがなくなり、その上、高精度に形成で
きる。そのため、コネクタ端子孔１ａにプローブピンを
容易にかつ的確に差し込むことができるので、端子２の
組み付けの良否を的確に検査できるばかりでなく、導通
検査をも的確に行うことができ、それだけ検査作業が向
上する。しかも安価にできる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、コネクタと端子と
の組み付け状態を検査するプローブピンに係り、特に車
両に搭載されるワイヤーハーネスを検査するのに好適な
プローブピンに関するものである。
の組み付け状態を検査するプローブピンに係り、特に車
両に搭載されるワイヤーハーネスを検査するのに好適な
プローブピンに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、車両等に搭載されるワイヤーハー
ネスの製造工場にあっては、図７に示すように、コネク
タａにリード線ｃの端子ｂを差込むことによって組み付
けられる。この場合、図８に示すように、コネクタａ内
ではこれに設けられているランスｄに対し端子ｂが抜け
ることがないように係止される。そして、端子ｂがコネ
クタにａに組み付けられると、今度は端子ｂが抜けるお
それがないか否かを検査すると共に、その導通の有無も
検査するようにしている。
ネスの製造工場にあっては、図７に示すように、コネク
タａにリード線ｃの端子ｂを差込むことによって組み付
けられる。この場合、図８に示すように、コネクタａ内
ではこれに設けられているランスｄに対し端子ｂが抜け
ることがないように係止される。そして、端子ｂがコネ
クタにａに組み付けられると、今度は端子ｂが抜けるお
それがないか否かを検査すると共に、その導通の有無も
検査するようにしている。
【０００３】検査に際しては、プローブピンｅが用いら
れ、端子ｂの差し込まれたコネクタａにプローブピンｅ
を挿入し、これに適度の荷重を加えてプローブピンｅの
ランス姿勢検知ピンｆがコネクタランスｄに突き当たる
と共に、プローブピンｅの導通ピンｇが端子ｂと接する
ことにより、導通を確認し、これによって端子の抜け止
めの確認と導通とを検査できるものである。但し、この
場合、図９に示すように、コネクタａに対し端子ｂが正
確に組み付けられていないと、即ち、端子ｂが所定位置
に差し込まれず、端子ｂの上にランスｄが載っているよ
うな場合には、プローブピンｅがコネクタａ内の端子ｂ
と接することができず、導通しないように構成されてい
る。このようなプローブピンｅは、多数本がコネクタａ
に対し一括的に同時に挿入されるように構成され、しか
も一カ所でも端子抜けが発生している場合には、対応す
るプローブピンのみが後退するように構成されている。
プローブピンｅのピン先端ｇは導電材からなり、またラ
ンス姿勢検知ピンｆは射出成形された合成樹脂製となっ
ている。
れ、端子ｂの差し込まれたコネクタａにプローブピンｅ
を挿入し、これに適度の荷重を加えてプローブピンｅの
ランス姿勢検知ピンｆがコネクタランスｄに突き当たる
と共に、プローブピンｅの導通ピンｇが端子ｂと接する
ことにより、導通を確認し、これによって端子の抜け止
めの確認と導通とを検査できるものである。但し、この
場合、図９に示すように、コネクタａに対し端子ｂが正
確に組み付けられていないと、即ち、端子ｂが所定位置
に差し込まれず、端子ｂの上にランスｄが載っているよ
うな場合には、プローブピンｅがコネクタａ内の端子ｂ
と接することができず、導通しないように構成されてい
る。このようなプローブピンｅは、多数本がコネクタａ
に対し一括的に同時に挿入されるように構成され、しか
も一カ所でも端子抜けが発生している場合には、対応す
るプローブピンのみが後退するように構成されている。
プローブピンｅのピン先端ｇは導電材からなり、またラ
ンス姿勢検知ピンｆは射出成形された合成樹脂製となっ
ている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来技
術では、検査を行うプローブピンｅのランス姿勢検知ピ
ンｆが、合成樹脂製であるので強度的な不足を招き、そ
のため、ランス姿勢検知ピンｆの先端部がランスｄに突
き当たったときに折れたり欠けたりすることがあり、検
査を行うことができなくなるという問題があった。
術では、検査を行うプローブピンｅのランス姿勢検知ピ
ンｆが、合成樹脂製であるので強度的な不足を招き、そ
のため、ランス姿勢検知ピンｆの先端部がランスｄに突
き当たったときに折れたり欠けたりすることがあり、検
査を行うことができなくなるという問題があった。
【０００５】また、導通検査時、端子ｂとコネクタａ間
において一カ所でも端子抜けが発生していた場合、対応
のプローブピンが後退するものの、前述の如くプローブ
ピンｅがコネクタａに対し多数本が一括的に同時に挿入
される構成であるので、多数本の中から一本のプローブ
ピンが後退していても、瞬時に判りにくいものとなり、
品質を確保する上での問題となっていた。
において一カ所でも端子抜けが発生していた場合、対応
のプローブピンが後退するものの、前述の如くプローブ
ピンｅがコネクタａに対し多数本が一括的に同時に挿入
される構成であるので、多数本の中から一本のプローブ
ピンが後退していても、瞬時に判りにくいものとなり、
品質を確保する上での問題となっていた。
【０００６】本発明は、上記従来技術の問題点に鑑み、
折れや破損を防止して検査を容易にかつ的確に行うこと
ができ、また端子抜けが発生した場合にそれを瞬時に判
定することできるプローブピンを提供するのを課題とす
る。
折れや破損を防止して検査を容易にかつ的確に行うこと
ができ、また端子抜けが発生した場合にそれを瞬時に判
定することできるプローブピンを提供するのを課題とす
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明においては、以下の手段を採用した。
に本発明においては、以下の手段を採用した。
【０００８】請求項１記載の本発明では、コネクタの端
子孔に対しリード線の端子が差し込まれているか否かを
検査すると共に、端子とコネクタとの導通の可否を検査
するプローブピンであって、端子導通検査用の導通ピン
と、該導通ピンの先端部に該導通ピンより前方に突出し
た状態で取付けられるランス姿勢検知ピンとを有し、か
つ該ランス姿勢検知ピンを金属によって形成したことを
特徴とするものである。本発明は、上述の如く、プロー
ブピンのランス姿勢検知ピンが金属製であるので、端子
がコネクタに対し不正確な位置に差し込まれることによ
って、プローブピンのランス姿勢検知ピンがランスと当
たっても、折れたり破損したりすることがなくなり、そ
の上高精度に形成することができる。そのため、コネク
タの端子孔に容易にかつ確実に差し込むことができ、端
子の組み付けの良否を的確に検査することができるばか
りでなく、導通検査をも的確に行うことができ、それだ
け検査作業が向上する。また、コネクタ１の各端子孔に
対しプローブピンを単体で差し込むことによって検査す
るので、従来技術のように多数本のプローブピンを同時
に一括的に差し込むものに比較すると、検査結果を瞬時
に判定することができ、品質を容易に確保することがで
きる。
子孔に対しリード線の端子が差し込まれているか否かを
検査すると共に、端子とコネクタとの導通の可否を検査
するプローブピンであって、端子導通検査用の導通ピン
と、該導通ピンの先端部に該導通ピンより前方に突出し
た状態で取付けられるランス姿勢検知ピンとを有し、か
つ該ランス姿勢検知ピンを金属によって形成したことを
特徴とするものである。本発明は、上述の如く、プロー
ブピンのランス姿勢検知ピンが金属製であるので、端子
がコネクタに対し不正確な位置に差し込まれることによ
って、プローブピンのランス姿勢検知ピンがランスと当
たっても、折れたり破損したりすることがなくなり、そ
の上高精度に形成することができる。そのため、コネク
タの端子孔に容易にかつ確実に差し込むことができ、端
子の組み付けの良否を的確に検査することができるばか
りでなく、導通検査をも的確に行うことができ、それだ
け検査作業が向上する。また、コネクタ１の各端子孔に
対しプローブピンを単体で差し込むことによって検査す
るので、従来技術のように多数本のプローブピンを同時
に一括的に差し込むものに比較すると、検査結果を瞬時
に判定することができ、品質を容易に確保することがで
きる。
【０００９】請求項２記載の本発明では、前記導通ピン
及びランス姿勢検知ピン間に絶縁層を介設していること
を特徴とする。このように、プローブピンの導通ピンと
ランス姿勢検知ピン間に絶縁層が介設されていると導通
ピンが端子と当接する前にランス姿勢検知ピンにより誤
って導通してしまうというおそれを解消することができ
る。
及びランス姿勢検知ピン間に絶縁層を介設していること
を特徴とする。このように、プローブピンの導通ピンと
ランス姿勢検知ピン間に絶縁層が介設されていると導通
ピンが端子と当接する前にランス姿勢検知ピンにより誤
って導通してしまうというおそれを解消することができ
る。
【００１０】請求項３記載の本発明では、前記絶縁層
は、絶縁材料からなる絶縁体であることを特徴とし、ま
た前記絶縁層は、少なくとも導通ピンとランス姿勢検知
ピンとの何れか一方にアルマイト等の絶縁処理によって
形成していることを特徴とするものである。本発明は、
絶縁層が絶縁体そのもので形成されることにより、請求
項２の効果をいっそう確実なものとすることができ、ま
たアルマイト等の絶縁処理によって形成されることによ
り、その分だけ部品が不要となり、部品管理の面からも
有効となり得る。
は、絶縁材料からなる絶縁体であることを特徴とし、ま
た前記絶縁層は、少なくとも導通ピンとランス姿勢検知
ピンとの何れか一方にアルマイト等の絶縁処理によって
形成していることを特徴とするものである。本発明は、
絶縁層が絶縁体そのもので形成されることにより、請求
項２の効果をいっそう確実なものとすることができ、ま
たアルマイト等の絶縁処理によって形成されることによ
り、その分だけ部品が不要となり、部品管理の面からも
有効となり得る。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図１
〜図６に基づいて説明する。図１〜図４は本発明のプロ
ーブピンの一実施形態を示している。本発明を説明する
前に、本発明で取り扱うコネクタ１について述べると、
該コネクタ１は図１に示すように、端子孔１ａの所定位
置に端子２が差し込まれたとき、その端子２を係止する
ためのランス１ｂを有している。ランス１ｂは図１（図
８も参照）に示すように、コネクタ１の端子孔１ａ内で
常態では斜め下方に向かう形態をなしており、ここに端
子２が差し込まれたとき、該端子２の挿入を許容するよ
う上方に押し上げられ、端子２がコネクタ１内の所定位
置に差し込まれた時点で、図１に示す如く自身の弾性復
元力により下がり、端子２を係止するように構成されて
いる。端子２はリード線３の先端部に圧着することによ
って取付けられている。そして、コネクタ１に端子２が
組み付けられると、プローブピン１０が治具４によりコ
ネクタ１に挿入され、検査する。
〜図６に基づいて説明する。図１〜図４は本発明のプロ
ーブピンの一実施形態を示している。本発明を説明する
前に、本発明で取り扱うコネクタ１について述べると、
該コネクタ１は図１に示すように、端子孔１ａの所定位
置に端子２が差し込まれたとき、その端子２を係止する
ためのランス１ｂを有している。ランス１ｂは図１（図
８も参照）に示すように、コネクタ１の端子孔１ａ内で
常態では斜め下方に向かう形態をなしており、ここに端
子２が差し込まれたとき、該端子２の挿入を許容するよ
う上方に押し上げられ、端子２がコネクタ１内の所定位
置に差し込まれた時点で、図１に示す如く自身の弾性復
元力により下がり、端子２を係止するように構成されて
いる。端子２はリード線３の先端部に圧着することによ
って取付けられている。そして、コネクタ１に端子２が
組み付けられると、プローブピン１０が治具４によりコ
ネクタ１に挿入され、検査する。
【００１２】本発明の一実施形態に係るプローブピン１
０は、導通検査用の導通ピン１１と、この導通ピン１１
に取付けられたランス姿勢検知ピン１２とを有して構成
されている。具体的に述べると、プローブピン１０の導
通ピン１１は、図３及び図４に示すように、端子２と当
接するためのプランジャー部１１ａと、この後端部外周
に軸方向に沿い摺動可能に取付けられたバレル部１１ｂ
と、該バレル部１１ｂ内に縮設されたスプリング１１ｃ
とからなり、スプリング１１ｃのばね力により、プラン
ジャー部１１ａとバレル部１１ｂとが互いに最大ストロ
ークとなるように付勢されている。ランス姿勢検知ピン
１２は、プローブピン１０がコネクタに挿入される際、
導通ピン１１より先んじてコネクタ１に差し込まれるも
のであって、プランジャー部１１ａの先端部に取付けら
れ、その一端部が軸方向に沿いプランジャー部１１ａの
先端部より前方に平行に延びるように形成されている。
なお、このランス姿勢検知ピン１２は、アルミ，黄銅，
鉄鋼等の金属製である。
０は、導通検査用の導通ピン１１と、この導通ピン１１
に取付けられたランス姿勢検知ピン１２とを有して構成
されている。具体的に述べると、プローブピン１０の導
通ピン１１は、図３及び図４に示すように、端子２と当
接するためのプランジャー部１１ａと、この後端部外周
に軸方向に沿い摺動可能に取付けられたバレル部１１ｂ
と、該バレル部１１ｂ内に縮設されたスプリング１１ｃ
とからなり、スプリング１１ｃのばね力により、プラン
ジャー部１１ａとバレル部１１ｂとが互いに最大ストロ
ークとなるように付勢されている。ランス姿勢検知ピン
１２は、プローブピン１０がコネクタに挿入される際、
導通ピン１１より先んじてコネクタ１に差し込まれるも
のであって、プランジャー部１１ａの先端部に取付けら
れ、その一端部が軸方向に沿いプランジャー部１１ａの
先端部より前方に平行に延びるように形成されている。
なお、このランス姿勢検知ピン１２は、アルミ，黄銅，
鉄鋼等の金属製である。
【００１３】またランス姿勢検知ピン１２とプランジャ
ー部１１ａとの間には絶縁層１３が介設されている。こ
の絶縁層１３は、本例ではランス姿勢検知ピン１２とプ
ランジャー部１１ａとの間に設けられた絶縁性材料から
なる絶縁体（ジュラコン）で構成されている。但し、こ
れに限らず例えば、ランス姿勢検知ピン１２とプランジ
ャー部１１ａとの何れか一方もしくは両方にアルマイト
等のような絶縁処理を施すことによって形成されてもよ
い。
ー部１１ａとの間には絶縁層１３が介設されている。こ
の絶縁層１３は、本例ではランス姿勢検知ピン１２とプ
ランジャー部１１ａとの間に設けられた絶縁性材料から
なる絶縁体（ジュラコン）で構成されている。但し、こ
れに限らず例えば、ランス姿勢検知ピン１２とプランジ
ャー部１１ａとの何れか一方もしくは両方にアルマイト
等のような絶縁処理を施すことによって形成されてもよ
い。
【００１４】上記の如き構成のプローブピンは、コネク
タ１の端子孔１ａにリード線３の端子２が一方から所定
数差し込まれた後、その組み付け検査及び導通検査を行
うために用いられる。即ち、コネクタ１の所望の端子孔
１ａに端子２の挿入方向と反対方向からプローブピン１
０を挿入する。このとき、コネクタ１の端子孔１ａに対
しまず、プローブピン１０のランス姿勢検知ピン１２の
先端部が先に入り、図１に示すように、ランス１ｂとコ
ネクタ内壁１ｃとの間に差し込まれ、これに続いて導通
ピン１１の先端が端子孔１ａに入った時点で、コネクタ
１内の端子２と当接して導通させることが可能となる。
タ１の端子孔１ａにリード線３の端子２が一方から所定
数差し込まれた後、その組み付け検査及び導通検査を行
うために用いられる。即ち、コネクタ１の所望の端子孔
１ａに端子２の挿入方向と反対方向からプローブピン１
０を挿入する。このとき、コネクタ１の端子孔１ａに対
しまず、プローブピン１０のランス姿勢検知ピン１２の
先端部が先に入り、図１に示すように、ランス１ｂとコ
ネクタ内壁１ｃとの間に差し込まれ、これに続いて導通
ピン１１の先端が端子孔１ａに入った時点で、コネクタ
１内の端子２と当接して導通させることが可能となる。
【００１５】一方、コネクタ１に対し、端子２が正確に
差し込まれていない場合には、例えば図２に示すよう
に、端子２が所定位置に到達しない状態で差し込まれて
いる場合には、ランス１ｂが端子２上に位置することと
なるので、プローブピン１のランス姿勢検知ピン１２が
ランス１ｂと当接してしまい、それ以上差し込むことが
できず、端子２と導通ピン１１とが接触しないので、端
子２の導通検査が不可能となる。従って、コネクタ端子
孔１ａの所定位置に端子２が正確に差し込まれている
と、プローブピン１０を奥まで挿入できるので、端子２
が正確に組み付けられていることが判り、その際、導通
ピン１１が端子２と当接することによって導通検査も可
能となる。
差し込まれていない場合には、例えば図２に示すよう
に、端子２が所定位置に到達しない状態で差し込まれて
いる場合には、ランス１ｂが端子２上に位置することと
なるので、プローブピン１のランス姿勢検知ピン１２が
ランス１ｂと当接してしまい、それ以上差し込むことが
できず、端子２と導通ピン１１とが接触しないので、端
子２の導通検査が不可能となる。従って、コネクタ端子
孔１ａの所定位置に端子２が正確に差し込まれている
と、プローブピン１０を奥まで挿入できるので、端子２
が正確に組み付けられていることが判り、その際、導通
ピン１１が端子２と当接することによって導通検査も可
能となる。
【００１６】その結果、プローブピン１０のランス姿勢
検知ピン１２が金属製であるので、端子２がコネクタ１
に不正確な位置に差し込まれることにより、プローブピ
ン１０のランス姿勢検知ピン１２がランス１ｂと当たっ
ても、折れたり破損したりすることがなくなり、その
上、高精度に形成することができる。そのため、コネク
タ端子孔１ａにプローブピン１０を容易にかつ確実に差
し込むことができるので、端子２の組み付けの良否を的
確に検査することができるばかりでなく、導通検査をも
的確に行うことができ、それだけ検査作業が向上する。
しかも、従来のような樹脂製のものに比較すると、それ
だけ安価にできる。
検知ピン１２が金属製であるので、端子２がコネクタ１
に不正確な位置に差し込まれることにより、プローブピ
ン１０のランス姿勢検知ピン１２がランス１ｂと当たっ
ても、折れたり破損したりすることがなくなり、その
上、高精度に形成することができる。そのため、コネク
タ端子孔１ａにプローブピン１０を容易にかつ確実に差
し込むことができるので、端子２の組み付けの良否を的
確に検査することができるばかりでなく、導通検査をも
的確に行うことができ、それだけ検査作業が向上する。
しかも、従来のような樹脂製のものに比較すると、それ
だけ安価にできる。
【００１７】また、コネクタ１の各端子孔１ａに対しプ
ローブピン１０を単体で差し込むことによって検査する
ので、従来技術のように多数本のプローブピンを同時に
一括的に差し込むものに比較すると、検査結果を瞬時に
判定することができ、ワイヤーハーネスとしての品質を
容易に確保することができる。
ローブピン１０を単体で差し込むことによって検査する
ので、従来技術のように多数本のプローブピンを同時に
一括的に差し込むものに比較すると、検査結果を瞬時に
判定することができ、ワイヤーハーネスとしての品質を
容易に確保することができる。
【００１８】さらに、プローブピン１０は導通ピン１１
とランス姿勢検知ピン１２間に絶縁層１３が介設されて
いるので、導通ピン１１が端子２と当接する前にランス
姿勢検知ピン１２により誤って導通してしまうというお
それを解消することができる。しかも、絶縁層１３とし
て、絶縁体そのものでもよいし、その代わりとして絶縁
処理されたアルマイトのように絶縁処理によって形成さ
れた場合には、その分だけ部品が不要となるので、部品
管理の面からも有効となるものである。
とランス姿勢検知ピン１２間に絶縁層１３が介設されて
いるので、導通ピン１１が端子２と当接する前にランス
姿勢検知ピン１２により誤って導通してしまうというお
それを解消することができる。しかも、絶縁層１３とし
て、絶縁体そのものでもよいし、その代わりとして絶縁
処理されたアルマイトのように絶縁処理によって形成さ
れた場合には、その分だけ部品が不要となるので、部品
管理の面からも有効となるものである。
【００１９】図５及び図６はプローブピンの他の実施形
態を示している。この実施形態において前述した実施形
態と異なるのは、数本のプローブピン１０が一体的に形
成された点にあり、本例では四本が一体化されている。
なお、それぞれのプローブピンにおいて導通ピン１１の
先端部が膨出形成されると共に、該膨出部の先端が端子
２に食い込めるよう波形形状をなしており、それ以外は
前述の一実施形態とほぼ同様の構成であるので、ここで
は詳細な説明を省略する。
態を示している。この実施形態において前述した実施形
態と異なるのは、数本のプローブピン１０が一体的に形
成された点にあり、本例では四本が一体化されている。
なお、それぞれのプローブピンにおいて導通ピン１１の
先端部が膨出形成されると共に、該膨出部の先端が端子
２に食い込めるよう波形形状をなしており、それ以外は
前述の一実施形態とほぼ同様の構成であるので、ここで
は詳細な説明を省略する。
【００２０】このように数本のプローブピン１０を一体
的に形成すると、検査時、これを一括的にコネクタ１の
下段の列の端子や上段の列の端子に一括的に差し込むこ
とができ、しかも差し込んだ場合、従来技術のように多
数本が一括的に差し込んだときと異なり、何れのプロー
ブピンが押されているのか否か明確に識別することがで
きる。従って、数本程度のプローブピン１０を一体化し
た場合には一本で構成した場合と同様に検査を良好に行
うことができ、前記一実施形態と同様の作用効果を得る
ことができる。
的に形成すると、検査時、これを一括的にコネクタ１の
下段の列の端子や上段の列の端子に一括的に差し込むこ
とができ、しかも差し込んだ場合、従来技術のように多
数本が一括的に差し込んだときと異なり、何れのプロー
ブピンが押されているのか否か明確に識別することがで
きる。従って、数本程度のプローブピン１０を一体化し
た場合には一本で構成した場合と同様に検査を良好に行
うことができ、前記一実施形態と同様の作用効果を得る
ことができる。
【００２１】
【発明の効果】以上述べたように、本発明の請求項１に
よれば、プローブピンのランス姿勢検知ピンを金属で形
成したので、ランス姿勢検知ピンが折れたり破損したり
するのを防止し、その上高精度に形成するできる結果、
コネクタの端子孔に容易にかつ確実に差し込むことがで
き、端子の組み付けの良否を的確に検査することができ
るばかりでなく、導通検査をも的確に行うことができ、
それだけ検査作業が向上するという効果がある。
よれば、プローブピンのランス姿勢検知ピンを金属で形
成したので、ランス姿勢検知ピンが折れたり破損したり
するのを防止し、その上高精度に形成するできる結果、
コネクタの端子孔に容易にかつ確実に差し込むことがで
き、端子の組み付けの良否を的確に検査することができ
るばかりでなく、導通検査をも的確に行うことができ、
それだけ検査作業が向上するという効果がある。
【００２２】請求項２によれば、プローブピンの導通ピ
ンとランス姿勢検知ピン間に絶縁層が介設されているの
で、導通ピンが端子と当接する前にランス姿勢検知ピン
により誤って導通してしまうというおそれを解消するこ
とができるという効果がある。
ンとランス姿勢検知ピン間に絶縁層が介設されているの
で、導通ピンが端子と当接する前にランス姿勢検知ピン
により誤って導通してしまうというおそれを解消するこ
とができるという効果がある。
【００２３】特に請求項３によれば、絶縁層が絶縁体そ
のもので形成されることにより、請求項２の効果をいっ
そう確実なものとすることができ、また請求項４によれ
ば、アルマイト等の絶縁処理によって形成されることに
より、その分だけ部品が不要となり、部品管理の面から
も有効になり得るという効果がある。
のもので形成されることにより、請求項２の効果をいっ
そう確実なものとすることができ、また請求項４によれ
ば、アルマイト等の絶縁処理によって形成されることに
より、その分だけ部品が不要となり、部品管理の面から
も有効になり得るという効果がある。
【図１】 本発明のプローブピンの一実施形態であっ
て、良好な組み付け時におけるプローブピンの挿入状態
を示す説明図である。
て、良好な組み付け時におけるプローブピンの挿入状態
を示す説明図である。
【図２】 同じく不良組み付け時におけるプローブピン
の挿入状態を示す説明図である。
の挿入状態を示す説明図である。
【図３】 プローブピンの正面図である。
【図４】 同じくプローブピンの一部破断の平面図であ
る。
る。
【図５】 本発明のプローブピンの他の実施形態を示す
正面図である。
正面図である。
【図６】 同じくプローブピンの底面図である。
【図７】 コネクタと端子とを示す説明用斜視図であ
る。
る。
【図８】 コネクタに端子が正確に組み付けられたとき
の要部拡大図である。
の要部拡大図である。
【図９】 コネクタに端子が不正確に組み付けられたと
きの要部拡大図である。
きの要部拡大図である。
１…コネクタ、１ａ…端子孔、２…端子、１０…プロー
ブピン、１１…導通ピン、１２…ランス姿勢検知ピン
ブピン、１１…導通ピン、１２…ランス姿勢検知ピン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 安部 真一 山形県米沢市八幡原１丁目１番３号 米沢 電線株式会社八幡原事業所内 Ｆターム(参考） 2G011 AA10 AB06 AB07 AC06 AC21 AE04 AF07 2G014 AA01 AB60 AC10 5E051 GB09
Claims (4)
- 【請求項１】 コネクタとその端子孔に組み付けられた
端子との組み付け状態を検査するプローブピンであっ
て、導通検査用の導通ピンと、該導通ピンの先端部に該
導通ピンより前方に突出した状態で取付けられるランス
姿勢検知ピンとを有し、かつ該ランス姿勢検知ピンを金
属によって形成したことを特徴とするプローブピン。 - 【請求項２】 前記導通ピン及びランス姿勢検知ピン間
に絶縁層を介設していることを特徴とする請求項１に記
載のプローブピン。 - 【請求項３】 前記絶縁層は、絶縁材料からなる絶縁体
であることを特徴とする請求項２に記載のプローブピ
ン。 - 【請求項４】 前記絶縁層は、少なくとも導通ピンとラ
ンス姿勢検知ピンとの何れか一方にアルマイト等の絶縁
処理によって形成していることを特徴とする請求項２に
記載のプローブピン。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000329553A JP2002134243A (ja) | 2000-10-27 | 2000-10-27 | プローブピン |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000329553A JP2002134243A (ja) | 2000-10-27 | 2000-10-27 | プローブピン |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002134243A true JP2002134243A (ja) | 2002-05-10 |
Family
ID=18806209
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000329553A Pending JP2002134243A (ja) | 2000-10-27 | 2000-10-27 | プローブピン |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002134243A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014160598A (ja) * | 2013-02-20 | 2014-09-04 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | コネクタ検査装置 |
-
2000
- 2000-10-27 JP JP2000329553A patent/JP2002134243A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014160598A (ja) * | 2013-02-20 | 2014-09-04 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | コネクタ検査装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030506 |